JP2549574C - - Google Patents
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- JP2549574C JP2549574C JP2549574C JP 2549574 C JP2549574 C JP 2549574C JP 2549574 C JP2549574 C JP 2549574C
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semi
- insulating substrate
- substrate
- circuit
- passive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、衛星通信,移動体通信,レーダ等において、増幅器,移相器,ス
イッチ,ミクサ,てい倍器などに使用するモノリシック集積回路に関するもので
ある。 [従来の技術] 第2図は例えば高木直他’帰還抵抗内蔵分割形FETを用いたL帯広域帯高出
力モノリシック増幅器’電子情報通信学会春季全国大会,C−724,P2−5
33,1989に示された従来のモノリシック集積回路を示す等価回路図、第3
図はモノリシックマイクロ波集積回路の具体的横成を示す構成図であり、図にお
いて、16は信号の入力端子、17は出力端子、18は第1のゲートバイアス印
加端子、19は第2のゲートバイアス印加端子、20は第3のゲートバイアス印
加端子、21はドレインバイアス印加端子、22は1段目半導体素子、23は2
段目半導体素子、24は3段目半導体素子、25は第1のインダクタ、26は第
2のインダクタ、27は第3のインダクタ、28はキャパシタであり、これらは
半導体プロセス技術を用いて、半絶縁体基板29上に形成される。また、各半導
体素子22〜24は能動回路素子を構成し、各インダクタ25〜27やキャパシ
タ28などは受動回路素子を構成している。 次に動作について説明する。 第1のゲートバイアス印加端子18,第2のゲートバイアス印加端子19,第
3のゲートバイアス印加端子20およびドレインバイアス印加端子21には、1
段目半導体素子22,2段目半導体素子23および3段目半導体素子24を動作
させるための直流電圧が印加される。このとき、第1のインダクク25,第2の
インダクク26,第3のインダクタ27およびキャパシタ28は整合回路素子と
しての投割とともに、信号が各バイアス印加端子18〜21にもれ込むことを防
止する。また、入力端子16から入力した信号は、1段目半導体素子22,2段
目半導体素子23,3段目半導体素子24で増幅され、出力端子17から出力さ
れる。 [発明が解決しようとする課題] 従来のモノリシック集積回路は以上のように構成されているので、各半導体素
子22〜24や各インダクク25〜27,キャパシタ28などの受動回路素子の
数が増大すると、半絶縁体基板29が大形化し、歩留りが悪くなるほか、コスト
が高くなり、また、半絶縁体基板29が割れたり反ったりするなどの課題があっ
た。 この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、歩留りを高く
維持し、コストを安くすることができるとともに、半導体基板の割れおよび反り
等を防止できるモノリシック集積回路を得ることを目的とする。 [課題を解決するための手段] この発明に係るモノリシック集積回路は、能動素子およびその能動素子に対す
る接続線路と外部との電気接続を行う接続部からなる第1の半絶縁体基板と、集
中定数回路素子を含む受動素子およびその受動素子と上記第1の半絶縁体基板の
接続部との電気接続を行う接続部からなる第2の半組縁体基板と、上記第1の半
絶縁体基択の接続部と上記第2の半絶縁体基板の接続部同士を接続する接続手段
とを備え、上記第1の半絶縁体基板と上記第2の半絶縁体基板は共に上向きにし
たものである。 [作用] この発明におけるモノリシック集積回路は、第1の半絶縁体基板と第2の半絶 縁体基板とに分割したことにより、半絶縁体基板を小型化し、その割れや反りを
防止して歩留りを向上する。また、第2の半絶縁体基板は受動素子のみを有する
ことから、半導体プロセスに要するマスクの枚数低減による大幅な歩留り向上を
実現する。これにより、第1の半絶縁体基板と第2の半絶縁体基板で構成される
モノリシックマイクロ波集積回路の歩留りを向上し、コストを大幅に低減可能に
する。 [発明の実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1図において、1はFE
T,ダイオード,トランジスク等の能動回路素子(能動素子)22〜24と受動
回路素子の一部を有する第1の半絶縁体基板、2はスパイラルインダクタ(集中
定数回路素子),ループインダクタ,多層コンデンサ(集中定数回路素子),イ
ンタディジタルキャパシタ(集中定数回路素子),折れ曲がり線路,抵抗(集中
定数回路素子)等の受動回路素子(受動素子)25〜28のみを有する第2の半
絶縁体基板,3〜6はそれぞれ能動回路素子22〜24に接続された第1のボン
ディングパッド(接続部)、7〜10はそれぞれ受動回路素子25〜28に接続
された第2のボンディングパッド(接続部)、11,12,13,14はそれぞ
れ対応する第1,第2のボンディングパッド同士を接続する金ワイヤ,金リボン
等の接続手段、15はソース抵抗である。また、第1のボンディングパッド3〜
6は第1の半絶縁体基板1に形成され、第2のボンディングパッド7〜10は第
2の半絶縁体基板2に形成される。なお、ソース抵抗15は第2の半絶縁体基板
2上にユピ抵抗あるいはイオン注入抵抗などとして生成される。 次に動作について説明する。 この発明のマイクロ波集積回路は、上記のような2分割構造をなすが、基本的
に第2図に示すものと同一の等価回路を実現しており、従来と同様の動作を実行
する。すなわち、第1のゲートバイアス印加端子18,第2のゲートバイアス印
加端子19,第3のゲートバイアス印加端子20およびドレインバイア又印加端
子21には、1段目半導体素子22,2段目半導体素子23および3段目半導体
素子24を動作させるための直流電圧が印加される。このとき、第1のインダク
タ25,第2のインダクタ26,第3のインダクタ27およびキャパシタ28は 整合回路素子としての役割とともに、信号が各バイアス印加端子18〜21にも
れ込むことを防止する。また、入力端子16から入力した信号は、1段目半導体
素子22,2段目半導体素子23,3段目半導体素子24で増幅され、出力端子
17から出力される。 また、第1の半絶縁体基板側の半導体素子22〜24を含む能動回路と第2の
半絶縁体基板2側の各インダクタ25〜27,キャパシタ28などを含む受動回
路とは、上記のように第1のボンディングパッド3〜6と第2のボンディングパ
ッド7〜10を介して各金ワイヤ11〜14により接続されており、これらの両
回路間の信号の流れは従来と同様に高能率で行われる。また、特に、受動回路の
みを第2の半絶縁体基板2上に設けることによって、半導体プロセスに要するマ
スクの枚数低減による大幅な歩留り向上を期待でき、これが結果的に、モノリシ
ック集積回路の全体の歩留り向上に寄与することとなる。 さらに、第2の半絶縁体基板2に抵抗を設ける場合には、ユピ抵抗やイオン注
入抵抗を用いることができるので、誘電体基板上に薄膜抵抗を設ける場合と比較
して、その抵抗値の選択範囲が広がる。 また、第1の基板と第2の基板として同じ半絶縁体基板1,2を使用している
ため、各基板のつなぎ目での不達続の影響が少なく、つなぎ目での反射特性の劣
化が少なくなる。歩留り向上効果は使用する半導体素子の数が多いほど、また回
路が大規模化するほど顕著となる。 なお、上記実施例では半導体素子22〜24を3つ含む場合について示したが
、その個数は何個でもよい。 また、上記実施例では入力端子16および出力端子17を第1の半絶縁体基板
1上に設けたものを示したが、両者を第2の半絶縁体基板2上に設けてもよく、
上記実施例と同様の効果を奏する。 [発明の効果] 以上のように、この発明によれば、能動素子と接続部からなる第1の半絶縁体
基板と、集中定数回路素子を含む受動素子と上記第1の半絶縁体基板の接続部と
の電気接続を行う接続部からなる第2の半絶縁体基板と、上記第1の半絶縁体基
板の接続部と上記第2の半絶縁体基板の接続部同士を接続する接綾手段とを備え 、上記第1の半絶縁体基板と上記第2の半絶縁体基板は共に上向きになるように
構成したので、各半絶縁体基板を小型化することができ、その歩留りの向上並び
にコストの低減を図れるとともに、その半絶縁体基板の割れや反りを未然に防止
でき、信頼性の高いモノリシック集積回路を提供できる効果がある。
イッチ,ミクサ,てい倍器などに使用するモノリシック集積回路に関するもので
ある。 [従来の技術] 第2図は例えば高木直他’帰還抵抗内蔵分割形FETを用いたL帯広域帯高出
力モノリシック増幅器’電子情報通信学会春季全国大会,C−724,P2−5
33,1989に示された従来のモノリシック集積回路を示す等価回路図、第3
図はモノリシックマイクロ波集積回路の具体的横成を示す構成図であり、図にお
いて、16は信号の入力端子、17は出力端子、18は第1のゲートバイアス印
加端子、19は第2のゲートバイアス印加端子、20は第3のゲートバイアス印
加端子、21はドレインバイアス印加端子、22は1段目半導体素子、23は2
段目半導体素子、24は3段目半導体素子、25は第1のインダクタ、26は第
2のインダクタ、27は第3のインダクタ、28はキャパシタであり、これらは
半導体プロセス技術を用いて、半絶縁体基板29上に形成される。また、各半導
体素子22〜24は能動回路素子を構成し、各インダクタ25〜27やキャパシ
タ28などは受動回路素子を構成している。 次に動作について説明する。 第1のゲートバイアス印加端子18,第2のゲートバイアス印加端子19,第
3のゲートバイアス印加端子20およびドレインバイアス印加端子21には、1
段目半導体素子22,2段目半導体素子23および3段目半導体素子24を動作
させるための直流電圧が印加される。このとき、第1のインダクク25,第2の
インダクク26,第3のインダクタ27およびキャパシタ28は整合回路素子と
しての投割とともに、信号が各バイアス印加端子18〜21にもれ込むことを防
止する。また、入力端子16から入力した信号は、1段目半導体素子22,2段
目半導体素子23,3段目半導体素子24で増幅され、出力端子17から出力さ
れる。 [発明が解決しようとする課題] 従来のモノリシック集積回路は以上のように構成されているので、各半導体素
子22〜24や各インダクク25〜27,キャパシタ28などの受動回路素子の
数が増大すると、半絶縁体基板29が大形化し、歩留りが悪くなるほか、コスト
が高くなり、また、半絶縁体基板29が割れたり反ったりするなどの課題があっ
た。 この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、歩留りを高く
維持し、コストを安くすることができるとともに、半導体基板の割れおよび反り
等を防止できるモノリシック集積回路を得ることを目的とする。 [課題を解決するための手段] この発明に係るモノリシック集積回路は、能動素子およびその能動素子に対す
る接続線路と外部との電気接続を行う接続部からなる第1の半絶縁体基板と、集
中定数回路素子を含む受動素子およびその受動素子と上記第1の半絶縁体基板の
接続部との電気接続を行う接続部からなる第2の半組縁体基板と、上記第1の半
絶縁体基択の接続部と上記第2の半絶縁体基板の接続部同士を接続する接続手段
とを備え、上記第1の半絶縁体基板と上記第2の半絶縁体基板は共に上向きにし
たものである。 [作用] この発明におけるモノリシック集積回路は、第1の半絶縁体基板と第2の半絶 縁体基板とに分割したことにより、半絶縁体基板を小型化し、その割れや反りを
防止して歩留りを向上する。また、第2の半絶縁体基板は受動素子のみを有する
ことから、半導体プロセスに要するマスクの枚数低減による大幅な歩留り向上を
実現する。これにより、第1の半絶縁体基板と第2の半絶縁体基板で構成される
モノリシックマイクロ波集積回路の歩留りを向上し、コストを大幅に低減可能に
する。 [発明の実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1図において、1はFE
T,ダイオード,トランジスク等の能動回路素子(能動素子)22〜24と受動
回路素子の一部を有する第1の半絶縁体基板、2はスパイラルインダクタ(集中
定数回路素子),ループインダクタ,多層コンデンサ(集中定数回路素子),イ
ンタディジタルキャパシタ(集中定数回路素子),折れ曲がり線路,抵抗(集中
定数回路素子)等の受動回路素子(受動素子)25〜28のみを有する第2の半
絶縁体基板,3〜6はそれぞれ能動回路素子22〜24に接続された第1のボン
ディングパッド(接続部)、7〜10はそれぞれ受動回路素子25〜28に接続
された第2のボンディングパッド(接続部)、11,12,13,14はそれぞ
れ対応する第1,第2のボンディングパッド同士を接続する金ワイヤ,金リボン
等の接続手段、15はソース抵抗である。また、第1のボンディングパッド3〜
6は第1の半絶縁体基板1に形成され、第2のボンディングパッド7〜10は第
2の半絶縁体基板2に形成される。なお、ソース抵抗15は第2の半絶縁体基板
2上にユピ抵抗あるいはイオン注入抵抗などとして生成される。 次に動作について説明する。 この発明のマイクロ波集積回路は、上記のような2分割構造をなすが、基本的
に第2図に示すものと同一の等価回路を実現しており、従来と同様の動作を実行
する。すなわち、第1のゲートバイアス印加端子18,第2のゲートバイアス印
加端子19,第3のゲートバイアス印加端子20およびドレインバイア又印加端
子21には、1段目半導体素子22,2段目半導体素子23および3段目半導体
素子24を動作させるための直流電圧が印加される。このとき、第1のインダク
タ25,第2のインダクタ26,第3のインダクタ27およびキャパシタ28は 整合回路素子としての役割とともに、信号が各バイアス印加端子18〜21にも
れ込むことを防止する。また、入力端子16から入力した信号は、1段目半導体
素子22,2段目半導体素子23,3段目半導体素子24で増幅され、出力端子
17から出力される。 また、第1の半絶縁体基板側の半導体素子22〜24を含む能動回路と第2の
半絶縁体基板2側の各インダクタ25〜27,キャパシタ28などを含む受動回
路とは、上記のように第1のボンディングパッド3〜6と第2のボンディングパ
ッド7〜10を介して各金ワイヤ11〜14により接続されており、これらの両
回路間の信号の流れは従来と同様に高能率で行われる。また、特に、受動回路の
みを第2の半絶縁体基板2上に設けることによって、半導体プロセスに要するマ
スクの枚数低減による大幅な歩留り向上を期待でき、これが結果的に、モノリシ
ック集積回路の全体の歩留り向上に寄与することとなる。 さらに、第2の半絶縁体基板2に抵抗を設ける場合には、ユピ抵抗やイオン注
入抵抗を用いることができるので、誘電体基板上に薄膜抵抗を設ける場合と比較
して、その抵抗値の選択範囲が広がる。 また、第1の基板と第2の基板として同じ半絶縁体基板1,2を使用している
ため、各基板のつなぎ目での不達続の影響が少なく、つなぎ目での反射特性の劣
化が少なくなる。歩留り向上効果は使用する半導体素子の数が多いほど、また回
路が大規模化するほど顕著となる。 なお、上記実施例では半導体素子22〜24を3つ含む場合について示したが
、その個数は何個でもよい。 また、上記実施例では入力端子16および出力端子17を第1の半絶縁体基板
1上に設けたものを示したが、両者を第2の半絶縁体基板2上に設けてもよく、
上記実施例と同様の効果を奏する。 [発明の効果] 以上のように、この発明によれば、能動素子と接続部からなる第1の半絶縁体
基板と、集中定数回路素子を含む受動素子と上記第1の半絶縁体基板の接続部と
の電気接続を行う接続部からなる第2の半絶縁体基板と、上記第1の半絶縁体基
板の接続部と上記第2の半絶縁体基板の接続部同士を接続する接綾手段とを備え 、上記第1の半絶縁体基板と上記第2の半絶縁体基板は共に上向きになるように
構成したので、各半絶縁体基板を小型化することができ、その歩留りの向上並び
にコストの低減を図れるとともに、その半絶縁体基板の割れや反りを未然に防止
でき、信頼性の高いモノリシック集積回路を提供できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例によるモノリシック集積回路を示す構成図、第2
図は従来のモノリシック集積回路の等価回路を示す回路図、第3図は従来のモノ
リシック集積回路を示す横成図である。 1は第1の半絶縁体基板、2は第2の半絶縁体基板、3,4,5,6は第1の
ボンディングパッド(接続部)、7,8,9,10は第2のボンディングパッド
(接続部)、11,12,13,14は金ワイヤ(接続手段)、22,23,2
4は能動回路素子(能動素子)、25,26,27は受動回路素子(受動素子)
、28は受動回路素子(受動素子)。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
図は従来のモノリシック集積回路の等価回路を示す回路図、第3図は従来のモノ
リシック集積回路を示す横成図である。 1は第1の半絶縁体基板、2は第2の半絶縁体基板、3,4,5,6は第1の
ボンディングパッド(接続部)、7,8,9,10は第2のボンディングパッド
(接続部)、11,12,13,14は金ワイヤ(接続手段)、22,23,2
4は能動回路素子(能動素子)、25,26,27は受動回路素子(受動素子)
、28は受動回路素子(受動素子)。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 能動素子およびその能動素子に対する接続線路と外部との電気接続を行う接続
部からなる第1の半絶縁体基板と、集中定数回路素子を含む受動素子およびその
受動素子と上記第1の半絶縁体基桟の接続部との電気接続を行う接続部からなる
第2の半絶縁体基板と、上記第1の半絶縁体基板の接続部と上記第2の半絶縁体
基板の接続部同士を接続する接続手段とを備え、上記第1の半絶縁体基板と上記
第2の半絶縁体基板は共に上向きにしたことを特徴とするモノリシック集積回路
。
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