JP2570880B2 - チップキャリア - Google Patents
チップキャリアInfo
- Publication number
- JP2570880B2 JP2570880B2 JP2042933A JP4293390A JP2570880B2 JP 2570880 B2 JP2570880 B2 JP 2570880B2 JP 2042933 A JP2042933 A JP 2042933A JP 4293390 A JP4293390 A JP 4293390A JP 2570880 B2 JP2570880 B2 JP 2570880B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tabic
- substrate
- chip carrier
- ray shielding
- silicone
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子装置等に使用される配線基板にTABIC
を実装するために用いるチップキャリアに関する。
を実装するために用いるチップキャリアに関する。
従来この種のチップキャリアはα線を防ぐためには、
IC実装前にICの回路面に高粘度のα線遮へい用シリコー
ンをポッティングしていた。
IC実装前にICの回路面に高粘度のα線遮へい用シリコー
ンをポッティングしていた。
上述した従来のチップキャリアはIC上に高粘度のα線
遮へい用シリコーン樹脂をポッティングし、IC上にシリ
コーンが山状に付着するため、基板にICを実装するため
に行うリード成形が困難であるという欠点がある。ま
た、ポッティングしたシリコーン樹脂を硬化する時にIC
に熱がかかりICの信頼性が低下するという欠点がある。
遮へい用シリコーン樹脂をポッティングし、IC上にシリ
コーンが山状に付着するため、基板にICを実装するため
に行うリード成形が困難であるという欠点がある。ま
た、ポッティングしたシリコーン樹脂を硬化する時にIC
に熱がかかりICの信頼性が低下するという欠点がある。
本発明は、基板と、前記基板上にフェイスダウンで実
装されるTABICと、前記TABICの裏面と接着し前記基板と
で前記TABICを封止するキャップとを有するチップキャ
リアにおいて、前記基板および前記TABICの間にそれぞ
れに密着してα線遮へい用ラバーが設けられたことを特
徴とする。
装されるTABICと、前記TABICの裏面と接着し前記基板と
で前記TABICを封止するキャップとを有するチップキャ
リアにおいて、前記基板および前記TABICの間にそれぞ
れに密着してα線遮へい用ラバーが設けられたことを特
徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の縦断面図である。基板1
は上面に複数のパッド2、下面に複数の入出力用バンプ
3を有し、パッド2とバンプ3は内部配線4により接続
されている。基板1のTABIC7と対向する面にはα線遮へ
い用シリコーンラバー5(α線対策用シリコーン樹脂、
例えば東レシリコーン製JCR6110や東芝シリコーンTSJ31
30等をα線管理してラバー成形したもの)が接着剤10で
固定されている。シリコーンラバー5の大きさはTABIC7
の回路面をおおう大きさであり、厚さは、基板1から発
生するα線を遮断できる厚さ(50μ)以上ある。TABIC7
はリード6をシリコーンラバー5の厚みの高さに成形さ
れたのちシリコーンラバー5の上にフェイスダウンでの
せられその後リード6とパッド2は金−金熱圧着法等に
より接続される。そしてキャップ8はTABIC7と接着剤9
で接着される。またキャップ8は基板1とも接着されて
TABIC7を封止する。
は上面に複数のパッド2、下面に複数の入出力用バンプ
3を有し、パッド2とバンプ3は内部配線4により接続
されている。基板1のTABIC7と対向する面にはα線遮へ
い用シリコーンラバー5(α線対策用シリコーン樹脂、
例えば東レシリコーン製JCR6110や東芝シリコーンTSJ31
30等をα線管理してラバー成形したもの)が接着剤10で
固定されている。シリコーンラバー5の大きさはTABIC7
の回路面をおおう大きさであり、厚さは、基板1から発
生するα線を遮断できる厚さ(50μ)以上ある。TABIC7
はリード6をシリコーンラバー5の厚みの高さに成形さ
れたのちシリコーンラバー5の上にフェイスダウンでの
せられその後リード6とパッド2は金−金熱圧着法等に
より接続される。そしてキャップ8はTABIC7と接着剤9
で接着される。またキャップ8は基板1とも接着されて
TABIC7を封止する。
TABIC7の回路面にはα線遮へい用シリコーンラバー5
が密着してあるため、基板1やリード6が発生するα線
は遮断され、TABIC7はα線によるソフトエラーを起こさ
ない。また、シリコーンラバー5を基板1に固定するた
め、TABIC7を基板1に実装する際に行うリード成形は容
易であり、またTABIC7には余計な熱がかからずTABIC7の
信頼性は高い。
が密着してあるため、基板1やリード6が発生するα線
は遮断され、TABIC7はα線によるソフトエラーを起こさ
ない。また、シリコーンラバー5を基板1に固定するた
め、TABIC7を基板1に実装する際に行うリード成形は容
易であり、またTABIC7には余計な熱がかからずTABIC7の
信頼性は高い。
また、シリコーンラバー5はTABIC7と基板1に密着し
ているため、TABIC7とキャップ8を接着する際、TABIC7
のささえとなり接着を完全におこなうことができる。
ているため、TABIC7とキャップ8を接着する際、TABIC7
のささえとなり接着を完全におこなうことができる。
以上説明したように本発明は、基板上のTABICと対向
する部分にα線遮へい用ラバーを設置することにより、
α線によるソフトエラーを起さない信頼性の高いチップ
キャリアを簡単に得ることができる。
する部分にα線遮へい用ラバーを設置することにより、
α線によるソフトエラーを起さない信頼性の高いチップ
キャリアを簡単に得ることができる。
第1図は本発明の一実施例の縦断面図である。 1……基板、2……パッド、3……バンプ、4……内部
配線、5……シリコーンラバー、6……リード、7……
TABIC、8……キャップ、9,10……接着剤。
配線、5……シリコーンラバー、6……リード、7……
TABIC、8……キャップ、9,10……接着剤。
Claims (2)
- 【請求項1】基板と、前記基板上にフェイスダウンで実
装されるTABICと、前記TABICの裏面と接着し前記基板と
で前記TABICを封止するキャップとを有するチップキャ
リアにおいて、前記基板および前記TABICの間にそれぞ
れに密着してα線遮へい用のシリコーンラバーが設けら
れたことを特徴とするチップキャリア。 - 【請求項2】基板と、前記基板上にフェイスダウンで実
装されるTABICと、前記TABICの裏面と接着し前記基板と
で前記TABICを封止するキャップとを有するチップキャ
リアにおいて、前記基板および前記TABICの間にそれぞ
れに密着してα線遮へい用ラバーが設けられたことを特
徴とするチップキャリア。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2042933A JP2570880B2 (ja) | 1990-02-22 | 1990-02-22 | チップキャリア |
| CA002021682A CA2021682C (en) | 1989-07-21 | 1990-07-20 | Chip-carrier with alpha ray shield |
| FR9009314A FR2650121B1 (fr) | 1989-07-21 | 1990-07-20 | Support de puce electronique |
| US07/962,074 US5264726A (en) | 1989-07-21 | 1992-10-16 | Chip-carrier |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2042933A JP2570880B2 (ja) | 1990-02-22 | 1990-02-22 | チップキャリア |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03244145A JPH03244145A (ja) | 1991-10-30 |
| JP2570880B2 true JP2570880B2 (ja) | 1997-01-16 |
Family
ID=12649815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2042933A Expired - Lifetime JP2570880B2 (ja) | 1989-07-21 | 1990-02-22 | チップキャリア |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2570880B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59219942A (ja) * | 1983-05-30 | 1984-12-11 | Nec Corp | チツプキヤリア |
| JPS6314499A (ja) * | 1986-07-04 | 1988-01-21 | 日本電気株式会社 | 電磁遮へい材 |
| JPH01152750A (ja) * | 1987-12-10 | 1989-06-15 | Nec Corp | 半導体装置 |
| JP2590521B2 (ja) * | 1988-03-29 | 1997-03-12 | 日本電気株式会社 | チップキャリア |
-
1990
- 1990-02-22 JP JP2042933A patent/JP2570880B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03244145A (ja) | 1991-10-30 |
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