JP2572500B2 - ドライバ回路、低ノイズドライバ回路及び低ノイズ低電圧スイングドライバ・レシーバ回路 - Google Patents

ドライバ回路、低ノイズドライバ回路及び低ノイズ低電圧スイングドライバ・レシーバ回路

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JP2572500B2
JP2572500B2 JP4049518A JP4951892A JP2572500B2 JP 2572500 B2 JP2572500 B2 JP 2572500B2 JP 4049518 A JP4049518 A JP 4049518A JP 4951892 A JP4951892 A JP 4951892A JP 2572500 B2 JP2572500 B2 JP 2572500B2
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    • H03K17/16Modifications for eliminating interference voltages or currents
    • H03K17/161Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
    • H03K17/162Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches without feedback from the output circuit to the control circuit
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    • HELECTRICITY
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は概して集積回路デバイ
ス、詳細には、信号の電圧スイングや電源外乱が少な
く、且つ基板効果のないCMOSオフ・チップドライバ
回路に関する。
【0002】
【従来の技術】マルチチップ実装技術は高性能且つ高度
集積システムを実現する上で望ましい。この技術におい
て、チップ間の配線を提供する基板は、シングルチップ
モジュールパッケージに比べて相互接続長が短く寄生度
が低減されている。システム性能を制限することの多い
チップ間の相互接続遅延は、さらに最小化が可能であ
る。他方、オフ・チップドライバ(OCD)の数は集積
レベルの向上とともに増加する。従って、これらのドラ
イバによって発生されるノイズは、特にドライバの多く
が同時に切り換えられる場合に極めて重大な関心事とな
る。このノイズは同時スイッチングノイズ(di/dt
ノイズ)として知られ、電源バスの寄生インダクタンス
を横切る高速電流変化によって生じる。このノイズは偽
信号を生成し、スプリアス(疑似)スイッチングを引き
起こすことがある。
【0003】チップ間から信号を送り出すことに対応付
けられる遅延は、チップ間の相互接続を要するコンピュ
ータ及びその他のデバイスにおける最長の遅延である。
この遅延の中には、信号反射(リンギングとも称する)
等の効果を含む伝送ラインに属されているものもある。
オフ・チップドライバは、新しい状態に対して伝送ライ
ンを超高速に充電するために大量電流を高速に発生させ
ることによって、かかる遅延を最小限にするために使用
される。然しながら、そうすることによって電流の時間
に対する変化率(di/dt)は非常に高くなる。マル
チチップ実装技術の場合、同時に多数のオフ・チップド
ライバのスイッチングが行なわれる。この結果、同時に
大きなスイッチングノイズ(Ldi/dt)、ここでは
Lは電源バスの寄生インダクタンスである、が発生する
ことになる。送信チップのノイズ供給源に存在するオフ
・チップドライバは、オフ・チップレシーバ(OCR)
に給電する信号ラインへこのノイズを伝送し、偽信号と
スプリアス(疑似)スイッチングを引き起こす。このよ
うに、同時スイッチングノイズを軽減したOCDを開発
する必要が生じる。
【0004】更に、同時スイッチングノイズ(Ldi/
dt)によって電源電圧変動が発生し、回路は所期目的
より低い電源電圧で過渡的に動作しているので性能低下
を引き起こす。インダクタンスの値であるLには制約が
あって、この値はチップ実装によって設定される。電源
電圧変動を最小限にするために、同時スイッチングノイ
ズを低減することが望ましい。従って、同時スイッチン
グノイズの小さいOCDを開発する必要が更に生じる。
【0005】チップ間で信号を送り出す際の遅延のもう
一つの原因は伝送ライン反射によるものである。信号反
射は信号ドライバーの設計において、特に、より長い相
互接続ラインを使用して超高周波信号を伝送する場合
に、重要な問題となる。従来のフルスイングドライバ/
レシーバ設計において、OCDの出力インピーダンスが
伝送ライン特性インピーダンスに整合されていないため
に過度の伝送ラインリンギングが発生する。この外部リ
ンギングがオフ・チップレシーバ(OCR)のしきい値
と交差する場合、ダブルスイッチングが生じることもあ
る。この理由によって、受信レベルが有効であると仮定
される前に遅延加算器を使用して適切な整定時間を考慮
する必要がある。整定時間は正味長さと装荷形態の双方
によって決まる。このように、伝送ライン特性インピー
ダンスに整合する出力インピーダンスを有するOCDを
開発する必要がある。
【0006】出力が共通ソースノードから取り出される
pチャネル上にnチャネルを形成するトーテムポール構
成を使用する回路に関するもう一つの問題は、基板効果
である。基板電圧に対してソースが変化し、その結果、
しきい値が出力電圧と共に変化することによって、かか
る回路配列の性能を低下させる。このように、基板効果
を除去したpチャネル回路上にnチャネルを形成する
要がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、OC
D出力ノイズを最小限にするために低減された出力電圧
スイングを利用する改良型OCD回路を提供することで
ある。
【0008】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明のOCD
は従来のOCDとは異なり、pチャネル上にnチャネル
を形成するトーテムポール形態に配列された2個のソー
スフォロアから構成される。ドライバ出力は共通ソース
ノードから取り出される。本発明の一実施例において、
正の電源電圧とアースとの間でスイングする入力信号は
両トランジスタのゲートへ印加される。nチャネルトラ
ンジスタは出力をnチャネルトランジスタを横切るしき
い値の降下値よりも小さな正の電源電圧へ引き上げるた
めに使用され、pチャネルデバイスは、逆遷移に対して
出力をアース上の電圧しきい値の降下値内へ引き下げる
ために使用され、これによって出力スイングが低減され
る。電源とアース上で誘導されるノイズが電圧スイング
に比例するので、本発明のOCD回路によってかかるノ
イズを減少させることになる。さらに、本発明のOCD
回路は出力信号の立ち上がり及び立ち下がり時間を制御
し、これは電源電圧変動を軽減する際に更に有益であ
る。
【0009】本発明のOCD回路はpチャネル上にnチ
ャネルを形成するトーテムポール構成に接続され、出力
は共通ソースノードから取り出されるので、これらのト
ランジスタは基板効果を有するであろう。本発明はpチ
ャネルデバイスのnウェル及びnチャネルデバイスのp
ウェルの内の少なくともどちらか一方を出力ノードへ接
続することによって何れか一方のトランジスタ、又は両
方のトランジスタの基板効果を除去するものである。
【0010】本発明のOCDのpチャネル上にnチャネ
ルを形成する構成はまた、OCDの出力のインピーダン
スを伝送ラインの特性インピーダンスに整合するために
も使用される。ターンオン中の一方の相補形金属酸化膜
半導体(CMOS)トランジスタの出力インピーダンス
は、約1/gm によって示される。OCDの出力インピ
ーダンスは、それぞれのソースフォロアトランジスタの
サイズ(W/L)を調節することによって伝送ラインの
特性インピーダンスに整合されて、適切なgmの値を得
ることができる。このように、ライン上の多重反射を除
去するために、本発明のOCDによって出力伝送ライン
をドライバエンドで終端させることを可能にする。
【0011】上記第1の実施例の利点を全て備えた本発
明のもう一つの実施例において、プリ・ドライバが上記
OCDに接続されて使用される。この実施例の出力電流
のランプ率は、電源ノイズを決定するものであるが、入
力波形の立ち上がり(立ち下がり)時間に従う。このド
ライバーのdi/dtを最小限にするために、その入力
信号の線形立ち上がり(立ち下がり)は、そのドライバ
ーの入力キャパシタンスを一定の電流源から駆動するこ
とによって得られる。一定の電流プリ・ドライバ出力を
提供するプリ・ドライバ回路が設けられる。このプリ・
ドライバ回路によってドライバは線形モードで動作する
従来のドライバとは異なり、飽和状態で動作することが
可能である。このため、任意の速度に対するdi/dt
を最小限にすることによって、ドライバのソースフォロ
ア構成と結合されて、電源上に発生されるノイズを最小
限にするOCD出力電流が得られる。
【0012】プリ・ドライバ回路はバッファとしての働
きをし、且つ高速の電圧変化率を有する出力波形を提供
する入力インバータを含む。インバータの出力とドライ
バ回路の2個のゲート間には、それぞれ一対の電流ミラ
ー回路が接続される。電流ミラー回路は一定の電流入力
をドライバのそれぞれのゲートへ供給する。さらに、電
流ミラー回路はインバータに付与される波形の変化率よ
りも少ない電圧変化率を有する波形を提供する。また、
この回路は発生された波形の各々の立ち上がりが対応す
るOCDドライバデバイスをターンオフするために十分
な電圧レベルにおいて生じるように設計される。さら
に、電流ミラー回路は、スイングの小さい出力が上昇し
たり下降したりするのに必要な遅延が入力信号の立ち上
がりと立ち下がりに必要とされる遅延時間と等しくなる
ように、出力の上昇及び下降速度を減速させる。かくし
て、同一の遅延時間についてノイズの軽減が達成され
る。同様に、プリ・ドライバ回路はトライステート動作
のためにドライバn及びpチャネルトランジスタに対し
適切なオフ・レベルを設定する。
【0013】この改良されたOCDのもう一つの重要な
特徴は、出力電圧レベルが活動状態の(オン)OCDト
ランジスタ上の入力信号に従うと共に、そのトランジス
タのドレインに接続される電源の電圧とは相対的に独立
している点である。OCDトランジスタの一つにおける
電流di/dtの変化によって生成されるノイズは、電
流がこれらのライン内を流れ、寄生インダクタンスがO
CDによって駆動されるオフ・チップ回路ループにおけ
るこれらのラインと直列であるために、2個の出力トラ
ンジスタのドレインに接続される電源又はアースライン
上に現われる。このように、OCDの入力信号がノイズ
の少ない別個の電源システム(「静」電源)から導出さ
れる場合、OCDの出力レベルはOCDトランジスタの
それぞれのドレイン電圧がこれらトランジスタが依然と
してソースフォロアモードで動作する範囲内にある限
り、スイッチングを行なうOCDによって誘導されるノ
イズとは相対的に別個のものである。1つのチップから
別のチップへのデータ伝送を完成させるために、回路の
検出しきい値レベルがそのチップ上でスイッチングを行
なう任意のOCDドライバによって引き起こされるノイ
ズの影響を受けないようにするために、オフ・チップレ
シーバ(OCR)回路に対して「静」電源システムをま
た使用すべきである。
【0014】
【実施例】図1は低減出力電圧スイングを利用する本発
明のOCD10の概略図である。OCD10は、nチャ
ネルトランジスタN1とpチャネルトランジスタP1か
ら成る一対の相補形電界効果トランジスタ(FET)を
含む。CMOS技術における従来のOCDとは異なり、
OCD10のトランジスタN1及びP1はpチャネル上
にnチャネルを形成する非反転形のトーテムポール構成
に接続されて、ソースフォロアとして作動する。詳細に
は、トランジスタN1とP1のソースは相互接続される
とともに出力ノードAに接続される。トランジスタN1
のドレインは電源電圧VDDに接続される。P1のドレイ
ンはアース電位に接続される。トランジスタP1及びN
1のゲートは入力ノードBに接続される。2個の電圧レ
ベル、即ち、VDD及びアース、はOCD10の動作を説
明するためのものである。然しながら、本発明の範囲は
OCD10の動作において使用可能な任意の2個の電圧
レベルを含み、この場合、VDDは第1の電圧電位の例
で、アースは前記第1の電圧電位より低い電圧レベルの
第2の電圧電位の例である。
【0015】pチャネル上にnチャネルを形成する構成
を使用すると、トランジスタN1及びP1のソースが出
力ノードに接続されるために不都合な基板効果が発生す
ることになる。然しながら、接続12と14によって示
されるようにP1のnウェル及びN1のpウェルのどち
らか少なくとも一方を出力ノードに接続することによっ
て、トランジスタP1及びN1の内の少なくとも一方の
基板効果が除去される。
【0016】トランジスタN1及びP1とは同一のソー
スフォロア構成に接続されるので、同様に出力でもある
これらトランジスタのソースにおける電圧は、トランジ
スタN1及びP1のゲートでの電圧からそれぞれトラン
ジスタN1とP1のしきい値電圧を差し引いたものに従
うことになる。入力が低入力電圧レベル、例えばゼロボ
ルトレベルである場合、トランジスタP1はオンとな
り、トランジスタN1はオフとなる。このように、出力
電圧はトランジスタP1のしきい値電圧(VTP1)に等
しくなる。入力電圧が上昇するとともに、トランジスタ
P1はオフされ、トランジスタN1は、入力電圧が|V
TP1 |+VTN1 (V TN1 はトランジスタN1のしきい値
電圧)と交差する時オンし始めることになる。入力が更
に上昇するにつれて、出力は、入力が入力電圧のピーク
(一般にV DD )からV TN1 を差し引いた電圧に到るま
入力に従うことになる。このように、トランジスタN
1は DD からV TN1 を差し引いた電圧まで出力を引上げ
るために使用され、また、トランジスタP1は逆遷移に
ついてはアースを上廻るレベル|VTP1 |まで出力を引
き下げるために使用される。こうして、2.5ボルトの
入力電圧スイングと、0.6ボルトのVTN1 と、−0.
6ボルトのVTP1 の場合、OCD10の出力は1/2
近い低下率の、0.6乃至1.9ボルトの間でのみスイ
ングすることになる。出力電圧スイングを低減すると、
任意の種類の出力負荷を所与の時間で駆動するために必
要な電流は減少される。それゆえに、di/dtは減少
され、その結果、同時スイッチングノイズは低減され
る。
【0017】このため、スイングの少ない低ノイズの出
力を有するOCDを使用する利点の一つに、それが電源
電圧変動を最小限にするということがある。電源電圧変
は時間に対する電流の変化率(di/dt)を乗じた
電源の寄生インダクタンス(L)に等しい。Lの値はそ
れ自体に課せられた設計制約を有し、低下させることは
できない。従って、電源電圧変動を最小限にするため
に、di/dtを低下させることが望ましい。前述した
ように、OCD10はdi/dtの低下を達成すること
によって電源電圧変動を最小限にするものである。
【0018】pチャネル上にnチャネルを形成するソー
スフォロア構成を設けることによるOCD10のもう一
つの利点は、OCD10の出力インピーダンスが伝送ラ
インの特性インピーダンスと整合するように設計できる
ことによって、従来のフルスイングOCDに存在する信
号の反射を除去することができることにある。ソースフ
ォロアの出力インピーダンスは1/gm であり、これは
飽和速度効果のために広範囲の入出力電圧にわたってn
チャネルデバイスN1についてはほとんど一定である。
pチャネルデバイスP1は理想的とは言えないにして
も、依然としてかなり一定の出力インピーダンスを有す
る。N1とP1のトランジスタのサイズ(W/L)を調
節し、gm の値をRO =1/gm 、但し、RO は伝送ラ
インの特性インピーダンスである、となるように選択す
ることによって、OCD10は伝送ライン上での信号の
リンギングを抑止する。
【0019】本発明のもう一つの実施例において、出力
電流のランプ率を制御することによって同時スイッチン
グノイズを低減するプリ・ドライバ回路が構成される。
また、ドライバ回路電源で発生されるノイズによって影
響されることのないスイングの小さいOCD出力が得ら
れる。これは、プリ・ドライバ回路電源がスイングの小
さいドライバ電源から分離されているために達成され
る。大部分はノイズの存在しないプリ・ドライバからの
出力は、ソースフォロア構成によるスイングの小さい
ライバ電源上のノイズから独立した低スイングドライバ
の出力レベルを制御する。
【0020】図2は、電流ミラー回路18と20を含む
定電流プリ・ドライバ回路を組み込んだOCD16の概
略図である。OCD16は、nチャネル上にpチャネル
を形成する反転形トーテムポール構成に配列されたnチ
ャネルトランジスタN2とpチャネルトランジスタP2
から成る入力CMOSインバータを含む。トランジスタ
P2ならびにN2のドレインはノードBで共に接続され
る。トランジスタP2のソースは正電圧VDDQ に接続さ
れ、この電圧VDDQ は同一の公称電圧VDDを有するが、
但し、出力ドライバを電源に配線するために使用される
パスから別個のパスを介して電源へ配線させることによ
って比較的「静かな」、又は、低減したノイズレベルを
有する電源である。トランジスタN2のソースはアース
電位に接続される。入力信号はトランジスタP2ならび
にN2のゲートに印加される。OCD16はさらに、入
力インバータの出力とドライバ回路22のゲートとの間
に接続される一対の電流ミラー回路18ならびに20を
含む。電流ミラー回路18は3個のpチャネルトランジ
スタP3、P4、及びP5と、1個のnチャネルトラン
ジスタN3と、を含む。トランジスタP3ならびにP4
のソースはVDDQ に接続される。トランジスタP3なら
びにP4のゲートはノードCで共に接続される。トラン
ジスタP3ならびにN3のドレインもまた、ノードCで
共に接続される。トランジスタN3のゲートはVDDQ
接続され、トランジスタN3のソースはアースに接続さ
れる。トランジスタP4のドレインはノードDでトラン
ジスタP5のソースに接続される。トランジスタP5の
ゲートはノードBで入力インバータの出力に結合され、
トランジスタP5のドレインはアースに接続される。電
流ミラー回路20は3個のnチャネルデバイスN4、N
5、ならびにN6と、1個のpチャネルデバイスP6、
とを有する。トランジスタN4のドレインとトランジス
タP6のソースはVDDQ に接続される。トランジスタN
4のゲートはノードBに結合され、トランジスタP6の
ゲートはアースに接続される。トランジスタN4のソー
スはノードEでトランジスタN5のドレインに接続され
る。トランジスタN5のゲートと、トランジスタN6な
らびにP6のドレインとはノードFで互いに結合され
る。トランジスタN6のドレインはトランジスタN6の
ゲートに接続される。トランジスタN5ならびにN6の
ソースはアースに結合される。OCD16は、pチャネ
ル上にnチャネルを形成するトーテムポール形態に配列
されたnチャネルトランジスタN7ならびにpチャネル
トランジスタP7を含むドライバ回路22を有する。電
流ミラー回路18の出力は、トランジスタN7のゲート
に印加され、電流ミラー回路20の出力はトランジスタ
P7のゲートに印加される。トランジスタN7ならびに
P7のソースは、出力ノードGで互いに結合される。ト
ランジスタN7のドレインは、比較的「ノイズの大き
い」電源となり得るVDDN に接続され、トランジスタP
7のドレインはアースに接続される。トランジスタP7
のnウェルならびにN7のpウェルとの少なくともどち
らか一方は、接続部24と26によってそれぞれ示され
るようにノードGに接続されて、トランジスタP7なら
びにN7の少なくともどちらか一方の基板効果を除去す
る。電圧レベルVDDN 、VDDQ 及びアースはOCD16
の動作を説明するためのものである。然しながら、本発
明の範囲にはOCD16の動作に使用可能な任意の2個
の電圧レベルを含まれる。この場合、VDDQ とVDDN
は第1の電圧電位の例であり、アースは前記第1の電圧
電位より低電圧レベルの第2の電圧電位の例である。
【0021】OCD16の同時スイッチングノイズを減
少させる上で2つの考慮すべき事柄がある。まず、従来
のフルスイングOCDにおいてと同一のチップ間遅延時
間に対するOCD16の出力の同時スイッチングノイズ
を軽減することが望ましい。第2に、トランジスタN7
中へ流入する電流Iは、トランジスタN7のソースにお
ける電圧がその目的値に対して立ち上がる時間とともに
線形に変化する。この条件は最小のdi/dt設計を付
与する。即ち、di/dtは一定である。
【0022】高出力電圧から低出力電圧へと下降する間
におけるOCD16の出力の動作は、低出力電圧から高
出力電圧へと立ち上がる間の動作と対称して逆となるこ
とは当業者によって理解されるであろう。さらに、トラ
ンジスタP7と電流ミラー回路20の動作はそれぞれト
ランジスタN7と電流ミラー回路18の動作の対称した
補数になることも理解される。このように、後述する説
明において、OCD16の動作は、出力の立ち上がり、
電流ミラー回路18、及びnチャネルトランジスタN7
に関してのみ説明される。
【0023】ノードGにおける出力が低出力電圧から高
出力電圧へと上昇する際に掛かる時間と比較してゼロボ
ルトからVDDへ実質的にゼロ時間で立ち上がることにな
るプリ・ドライバ回路(ノードB)に対するステップ入
力信号を有することが望ましい。後者は、プリ・ドライ
バ回路18のパラメータによって決定される制御された
立ち上がり時間τC を有する。ノードBにおける電圧が
ゼロボルトの時、トランジスタN7はオフであり、トラ
ンジスタP7はオンである。このように、出力電圧はト
ランジスタP7のしきい値電圧の大きさ(絶対値)、即
ち、|VTP7 |、に等しくなる。トランジスタP4なら
びにP5は、ノードDにおける電圧をほぼVTN7 +|V
TP7 |のトランジスタN7のオンされた時の電圧をちょ
うど下廻るように維持するためのものである。ノードB
における信号がゼロボルトからVDDへ実質的にゼロ時間
で立ち上がる場合、ノードDにおける電圧は制御された
立ち上がり時間でVTN7 +|VTP7 |からVDDに立ち上
がり始める。出力ノード、即ち、ノードGはさらに、実
質的に同一時間で|VTP7 |からVDD−VTN7 に立ち上
がる。さらに、この上昇の間に、ノードEにおける電圧
は、ゼロボルトからデバイスP7をオフにし、且つ、そ
れをオフ状態に維持するVDD−|VTP7 |−VTN7 まで
上昇することになる。
【0024】ノードB、DならびにE、及び出力ノード
Gにおける各電圧間の関係は、図3乃至図6に示され
る。これらの図から、OCD16の出力立ち上がり時間
はノードDの信号の立ち上がり時間によって制御される
ことが理解できる。
【0025】出力ノードGから抵抗負荷へ流れる電流i
は、トランジスタN7のゲート・ソース間電圧に比例す
る。以下の通りである。
【0026】
【数1】
【0027】この場合、IはトランジスタN7のゲート
に流れる電流を示し、CN7はトランジスタN7の有効入
力キャパシタンスを示す。N7のキャパシタンスは、N
7がオンした後はほとんど一定であるので、望ましく
は、一定のdi/dtを得るためにP4の広範囲なドレ
イン・ソース間電圧(VDSP4)にわたってIは一定であ
るべきである。トランジスタP3ならびにP4への共通
信号は、それ自体でこれらのデバイスを流れる電流をト
ランジスタN3における基準電流に比例させるように調
節する。所望の基準電流は、リトグラフィに対し非感知
性であるように十分大きいものが選択されるトランジス
タN3の寸法によって決定される。基準電流はトランジ
スタP4で再生されて、トランジスタP5内に流れるの
は、トランジスタN7がオフの場合である。トランジス
タP5のゲートにおける信号がトランジスタP5をオフ
にすると、トランジスタP4内の反射された基準電流は
トランジスタN7のゲート内へ流れる。その後、トラン
ジスタN7のゲートにおける電圧は、基準電流とゲート
キャパシタンスとによって決定される速度で立ち上が
る。トランジスタP4を流れる電流は、トランジスタP
3ならびにP4の寸法(W/L)がトランジスタP3な
らびにP4のゲート上の駆動電圧の大きさ(絶対値)が
|VTP4 |をちょうど上廻る値に安定するように選ばれ
るため、VDSP4の広範囲にわたって一定になる。また、
トランジスタP3ならびにP4とが同一のしきい値電圧
を有するようにトランジスタP3ならびにP4のチャネ
ル長が同一であることが必要である。かくして、トラン
ジスタP4は飽和モードで動作することによって、Iが
一定である間は広範囲のVDSP4を提供することになる。
トランジスタP5は、ノードDにおける電圧を、オンす
る前にトランジスタN7のオンした時の電圧をちょうど
下回るように設定するためのものである。
【0028】出力トランジスタN7ならびにP7がとも
に同時的にオフされることが可能であるように別々の入
力信号を電流ミラー回路18と20に印加することによ
って、OCD16のトライステートモードにおける作動
が容易化され得ることは当業者によって理解される。P
5ならびにN4のゲートに印加されたこれら個々の入力
信号はそれぞれ、上記の如きOCD16の正常動作中に
おいては共に同一であるが、但し、P5のゲート上のア
ースならびにN4のゲート上のVDDが、OCD16の両
出力トランジスタをオフにするようにさせる。また、O
CD16内の電源ラインVDDN ならびにVDDQ を分離す
る上で使用される同一原理はアース線に対しても使用さ
れ得ることがさらに理解される。かくして、ドライバ回
路22のアース接続は個別の経路を介してシステムアー
スに提供されることになる。
【0029】低スイングドライバと共働するために、レ
シーバによって幾つかの要求条件を満たす必要がある。
レシーバは低減された入力電圧スイングを検出且つノイ
ズを除去し、フルスイング(0ボルトからVDD)のディ
ジタル出力を有する必要がある。単純なCMOSインバ
ータは、許容差ならびにノイズが適宜に制御される場合
にはこの機能を提供することができる。電圧スイング
軽減によって、インバータデバイスの一方又は他方は電
流を伝導することになるが、これは有害ではない。公称
条件ならびにノイズの存在しない時については、入力信
号が十分とされる時間の半分以上にわたってスイング
る場合に、かかる回路はその出力状態を切り換えること
になる。
【0030】その他の手段として、伝達特性にある程度
のヒステリシスを備えたオフ・チップレシーバ(OC
R)を提供することが上げられる。ヒステリシスを有し
ない単純なインバータと比較すると、この回路は、ライ
ンからの入力信号が一定時間の半分よりも大きな量だけ
スイングする場合にのみその出力状態を切り換えること
になる。かかる回路は図7に示される。OCR回路28
は5個のpチャネルトランジスタT1 、T2 、T5 、T
7 ならびにT9 と、5個のnチャネルトランジスタT
3 、T4 、T6 、T8 ならびにT10とを含む。入力が所
与のレベルにある場合(例えば、1.9Vで「ハイ」レ
ベルにある場合)、第1段階の出力は逆極性(例えば、
0ボルトで「ロー」)を有する。この出力はレシーバデ
バイスT5 又はT6 の一方又は他方(例えば、T5 )を
オンさせる。かかるレシーバデバイスは、入力ライン上
のノイズからは影響を受けないオフ状態にとどまること
を確証するために、T2 又はT3 (例えば、この場合に
はT2 )のどちらか一方のソース電圧を調節するための
フィードバック経路(例えば、T1 、T5 )を提供する
ことによって逆状態へスイッチングすることを回避する
傾向がある。デバイス幅を正確に選択することによっ
て、回路は所望の入力信号レベル(例えば、この場合で
は約1V)でスイッチングを行なうことを可能にする。
この回路は、入力デバイス(T2 とT3 )のスタックに
ある中心のインバータを通るリーク電流をオフするが、
フィードバックデバイスを介して直流電流を若干引き込
むので、このため小量の直流電力を消費する。図7は、
比較的ノイズから解放された電源VDDQ に接続されるO
CR回路を示す。これは、より小さな信号のスイング
検出されるので、望ましい。
【0031】図8ならびに図9は、出力をハイからロー
の論理レベルへスイッチングする際の従来の同時スイッ
チングフルスイングドライバ40個について実際のdi
/dtノイズ測定値を示す。
【0032】図10ならびに図11は、ハイからローの
論理レベルへスイッチングする出力を有する本発明の同
時スイッチング低スイングドライバ40個についての実
際のdi/dtノイズ測定値を示す。
【0033】図8ならびに図9を図10ならびに図11
と比較することによって、従来のフルスイングOCDに
より生成される静止レシーバ入力ノイズとアースノイズ
の大きさは、低スイングOCDのほぼ5乃至6倍である
ことが判る。このデータから、同時にスイッチング可能
なOCDの数は、従来のフルスイング設計の代わりに
スイングOCDが使用される場合に5乃至6倍増加する
ことが結論となり得る。他方、低スイングI/O方式ほ
指示する前提は0.6と1.9ボルトのオフセット論理
レベルであるので、OCR入力に残されるノイズマージ
ンは0.0と2.5ボルトレベルの場合から実質的に半
分カットされる。かくして、許容可能な同時スイッチン
グの正味増加は2.5乃至3の範囲内にある可能性がよ
り大きい。
【0034】図12は、200個の従来の同時スイッチ
ングフルスイングOCDの電源VDDとアースGNDノイ
ズの疑似プロットを示す図である。図13は、本発明に
よる同時スイッチング低スイングOCD200個に対す
るVDDとアースノイズの疑似プロットを示す図である。
図12ならびに図13を比較することによって判るよう
に、低スイングOCDのdi/dtノイズの最大値は、
従来のフルスイングOCDに比較して約1/4となる。
有効寄生インダクタンスに対するpH値が250である
と仮定した場合、VDDならびにGNDの両方に対する
大電源電圧変動は、従来のフルスイングOCDの2.0
Vに対して、低スイングOCDについては0.5Vであ
る。
【0035】
【発明の効果】本発明は上記のように構成されているの
で、低減した出力電圧スイングを利用してOCD出力ノ
イズを最小限にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に従って低減された出力電圧スイング
利用するOCD回路の概略図である。
【図2】本発明に従って、一定の電流プリ・ドライバ回
路及び低減出力電圧スイングを利用するOCD回路の概
略図である。
【図3】入力が低入力電圧から高入力電圧へ立ち上が
り、その後、低入力電圧へ逆戻りする時の図2のOCD
のノードBにおける電圧図である。
【図4】入力信号が低入力電圧から高入力電圧へ立ち上
がり、その後、低入力電圧へ逆戻りする時の図2のOC
DのノードDにおける電圧図である。
【図5】入力信号が低入力電圧から高入力電圧へ立ち上
がり、その後、低入力電圧へ逆戻りする時の図2のOC
DのノードEにおける電圧図である。
【図6】入力信号が低入力電圧から高入力電圧へ立ち上
がり、その後、低入力電圧へ逆戻りする時の図2のOC
DのノードGにおける出力電圧図である。
【図7】図2の低電圧スイングのOCD回路によって伝
送される2進信号を検出するために使用可能なレシーバ
回路の概略図である。
【図8】出力が高から低の論理レベルへスイッチングす
る時の40個の従来のフルスイングOCDを同時スイッ
チングする際のノイズ測定値の写真図である。
【図9】出力が高から低の論理レベルへスイッチングす
る時の40個の従来のフルスイングOCDを同時スイッ
チングする際のノイズ測定値の写真図である。
【図10】本発明に従って、40個の低スイングOCD
を同時にスイッチングする際のノイズ測定値の写真図で
ある。
【図11】本発明に従って、40個の低スイングOCD
を同時にスイッチングする際のノイズ測定値の写真図で
ある。
【図12】従来の200個のフルスイングOCDを同時
にスイッチングする際の電源VDDとアース(GND)ノ
イズの疑似曲線図である。
【図13】本発明に従って、200個の低スイングOC
Dを同時にスイッチングする際の電源VDDとアース(G
ND)ノイズの疑似曲線図である。
【符号の説明】
10 OCD回路 16 OCD 22 ドライバ回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ロバート ヒース デナード アメリカ合衆国10566、ニューヨーク州 ピークスキル、タマラック ドライヴ 8 (72)発明者 フセイン イブラヒム ハナフィ アメリカ合衆国10526、ニューヨーク州 ゴールデンズ ブリッジ、アパッチ サ ークル 243 (56)参考文献 特開 平2−154461(JP,A) 特開 平1−161916(JP,A) 米国特許4322639(US,A) 米国特許4654548(US,A)

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ソース、ドレインならびにゲート端子を
    それぞれ有した一対の相補形電界効果トランジスタであ
    って、前記一対のトランジスタの各々のソースは出力ノ
    ードにおいて直列接続され、前記一対のトランジスタの
    内の第1のトランジスタのドレインは第1の電圧電位に
    接続され、また前記一対のトランジスタの第2のトラン
    ジスタのドレインは前記第1の電圧電位よりも低電圧レ
    ベルの第2の電圧電位に接続され、前記一対のトランジ
    スタの各々のゲートは入力ノードに接続され、前記一対
    のトランジスタの一方のウェルは前記出力ノードに接続
    されており、前記第1のトランジスタはnチャネルトラ
    ンジスタであり、前記第2のトランジスタはpチャネル
    トランジスタであり、前記pチャネルトランジスタのn
    ウェル及び前記nチャネルトランジスタのpウェルの内
    の少なくとも前記pチャネルトランジスタのnウェルが
    出力ノードに接続されている、一対の相補形電界効果ト
    ランジスタを含むドライバ回路。
  2. 【請求項2】 前記pチャネルトランジスタのnウェル
    及び前記nチャネルトランジスタのpウェルが出力ノー
    ドに接続されている、請求項1記載のドライバ回路。
  3. 【請求項3】 ソース、ドレインならびにゲート端子を
    それぞれ有した一対の相補形電界効果トランジスタであ
    って、前記一対のトランジスタの各々のソースは出力ノ
    ードにおいて直列接続され、前記一対のトランジスタの
    内の第1のトランジスタのドレインは第1の電圧電位に
    接続され、また前記一対のトランジスタの第2のトラン
    ジスタのドレインは前記第1の電圧電位よりも低電圧レ
    ベルの第2の電圧電位に接続され、前記一対のトランジ
    スタの各々のゲートは入力ノードに接続され、前記一対
    のトランジスタの一方のウェルは前記出力ノードに接続
    されており、前記第1のトランジスタはnチャネルトラ
    ンジスタであり、前記第2のトランジスタはpチャネル
    トランジスタであり、前記pチャネルトランジス タのn
    ウェル及び前記nチャネルトランジスタのpウェルの内
    の少なくとも前記pチャネルトランジスタのnウェルが
    出力ノードに接続されている、一対の相補形電界効果ト
    ランジスタと、 前記出力ノードに接続される出力伝送ラインと、 入力端子と、前記入力端子に接続され、所与の電圧変化率を有する入
    力波形を前記入力端子に印加する手段と、 前記入力端子と前記ゲート電極間に接続され、前記所与
    の電圧変化率よりも小さな電圧変化率を有するように生
    成された波形を前記ゲート電極へ印加する手段と、 を含む低ノイズドライバ回路。
  4. 【請求項4】 両電界効果トランジスタのトランジスタ
    サイズ(W/L)がノードと伝送ラインの特性インピー
    ダンスとの間でインピーダンスの整合を行なう請求項3
    記載の低ノイズドライバ回路。
  5. 【請求項5】 入力波形を印加する前記手段がCMOS
    インバータ回路を含む請求項3記載の低ノイズドライバ
    回路。
  6. 【請求項6】 前記入力端子と前記ゲート電極との間に
    接続される手段が一対の電流ミラー回路を含む請求項3
    記載の低ノイズドライバ回路。
  7. 【請求項7】 ソース、ドレインならびにゲート端子を
    それぞれ有した一対の相補形電界効果トランジスタであ
    って、前記一対のトランジスタの各々のソースは出力ノ
    ードにおいて直列接続され、前記一対のトランジスタの
    内の第1のトランジスタのドレインは第1の電圧電位に
    接続され、また前記一対のトランジスタの第2のトラン
    ジスタのドレインは前記第1の電圧電位よりも低電圧レ
    ベルの第2の電圧電位に接続され、前記一対のトランジ
    スタの各々のゲートは入力ノードに接続され、前記一対
    のトランジスタの一方のウェルは前記出力ノードに接続
    されており、前記第1のトランジスタはnチャネルトラ
    ンジスタであり、前記第2のトランジスタはpチャネル
    トランジスタであり、前記pチャネルトランジスタのn
    ウェル及び前記nチャネルトランジスタのpウェルの内
    の少なくとも前記pチャネルトランジスタのnウェルが
    出力ノードに接続されている、一対の相補 形電界効果ト
    ランジスタと、 前記出力ノードに接続される出力伝送ラインと、 入力端子と、 前記入力端子に接続され、所与の電圧変化率を有する入
    力波形を前記入力端子に印加する手段と、 前記入力端子と前記ゲート電極間に接続され、前記所与
    の電圧変化率よりも小さな電圧変化率を有するように生
    成された波形を前記ゲート電極へ印加する手段と、 前記出力伝送ラインを介して前記出力ノードへ結合され
    るレシーバ回路と、 を含む低ノイズ低電圧スイングドライバ・レシーバ回
    路。
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Families Citing this family (70)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5594372A (en) * 1989-06-02 1997-01-14 Shibata; Tadashi Source follower using NMOS and PMOS transistors
WO1992012575A1 (fr) * 1991-01-12 1992-07-23 Tadashi Shibata Dispositif a semi-conducteurs
KR940010671B1 (ko) * 1992-07-25 1994-10-24 금성일렉트론 주식회사 Cmos 3-스테이트 버퍼회로 및 그 제어방법
US5491432A (en) * 1992-08-07 1996-02-13 Lsi Logic Corporation CMOS Differential driver circuit for high offset ground
US5371424A (en) * 1992-11-25 1994-12-06 Motorola, Inc. Transmitter/receiver circuit and method therefor
US5438277A (en) * 1993-03-19 1995-08-01 Advanced Micro Devices, Inc. Ground bounce isolated output buffer
US5457433A (en) * 1993-08-25 1995-10-10 Motorola, Inc. Low-power inverter for crystal oscillator buffer or the like
JPH07212211A (ja) * 1994-01-13 1995-08-11 Fujitsu Ltd 出力バッファ回路
EP0678983B1 (en) * 1994-04-22 1998-08-26 STMicroelectronics S.r.l. Output buffer current slew rate control integrated circuit
US5428303A (en) * 1994-05-20 1995-06-27 National Semiconductor Corporation Bias generator for low ground bounce output driver
JP3285109B2 (ja) * 1994-09-12 2002-05-27 直 柴田 半導体装置
US5528190A (en) * 1994-10-03 1996-06-18 Delco Electronics Corporation CMOS input voltage clamp
TW369712B (en) * 1994-10-14 1999-09-11 Ibm Structure and method for connecting to integrated circuitry
US5541535A (en) * 1994-12-16 1996-07-30 International Business Machines Corporation CMOS simultaneous transmission bidirectional driver/receiver
US5814845A (en) * 1995-01-10 1998-09-29 Carnegie Mellon University Four rail circuit architecture for ultra-low power and voltage CMOS circuit design
JP3436632B2 (ja) * 1995-03-23 2003-08-11 エイ・ティ・アンド・ティ・コーポレーション ノイズ耐性低電圧バッファ
US5530377A (en) * 1995-07-05 1996-06-25 International Business Machines Corporation Method and apparatus for active termination of a line driver/receiver
US5629634A (en) * 1995-08-21 1997-05-13 International Business Machines Corporation Low-power, tristate, off-chip driver circuit
JP3190233B2 (ja) * 1995-08-22 2001-07-23 株式会社東芝 出力バッファ回路
US5585744A (en) * 1995-10-13 1996-12-17 Cirrus Logic, Inc. Circuits systems and methods for reducing power loss during transfer of data across a conductive line
US5684415A (en) * 1995-12-22 1997-11-04 Symbios Logic Inc. 5 volt driver in a 3 volt CMOS process
US5764077A (en) * 1996-02-05 1998-06-09 Texas Instruments Incorporated 5 volt tolerant I/O buffer circuit
US5751179A (en) * 1996-04-26 1998-05-12 Crystal Semiconductor Output driver for PCI bus
US6147511A (en) 1996-05-28 2000-11-14 Altera Corporation Overvoltage-tolerant interface for integrated circuits
US5760601A (en) * 1996-08-26 1998-06-02 International Business Machines Corporation Transmission line driver circuit for matching transmission line characteristic impedance
US5767733A (en) * 1996-09-20 1998-06-16 Integrated Device Technology, Inc. Biasing circuit for reducing body effect in a bi-directional field effect transistor
JP3242042B2 (ja) * 1996-10-30 2001-12-25 住友金属工業株式会社 レベルシフト回路
US5777490A (en) * 1996-11-27 1998-07-07 International Business Machines Corporation Circuitry and method for translating voltages
US5815107A (en) * 1996-12-19 1998-09-29 International Business Machines Corporation Current source referenced high speed analog to digitial converter
US5923276A (en) * 1996-12-19 1999-07-13 International Business Machines Corporation Current source based multilevel bus driver and converter
US6326805B1 (en) * 1997-05-07 2001-12-04 California Micro Devices Corporation Termination circuits and methods therefor
US6323676B1 (en) * 1997-05-07 2001-11-27 California Micro Devices Corporation Termination circuits and methods therefor
US6326804B1 (en) * 1997-05-07 2001-12-04 California Micro Devices Termination circuits and methods therefor
US6323675B1 (en) * 1997-05-07 2001-11-27 California Micro Devices Corporation Termination circuits and methods therefor
WO1998051046A1 (en) * 1997-05-07 1998-11-12 California Micro Devices Corporation Active termination circuit and method therefor
US6331787B1 (en) * 1997-05-07 2001-12-18 California Micro Devices Corporation Termination circuits and methods therefor
US6331786B1 (en) * 1997-05-07 2001-12-18 California Micro Devices Corporation Termination circuits and methods therefor
US6329837B1 (en) * 1997-05-07 2001-12-11 California Micro Devices Corporation Termination circuits and methods therefor
US6014046A (en) * 1997-07-31 2000-01-11 International Business Machines Corporation Off chip driver (OCD) with variable drive capability for noise control
US5939937A (en) * 1997-09-29 1999-08-17 Siemens Aktiengesellschaft Constant current CMOS output driver circuit with dual gate transistor devices
US6114895A (en) * 1997-10-29 2000-09-05 Agilent Technologies Integrated circuit assembly having output pads with application specific characteristics and method of operation
SG68690A1 (en) 1997-10-29 1999-11-16 Hewlett Packard Co Integrated circuit assembly having output pads with application specific characteristics and method of operation
US5959475A (en) * 1998-01-13 1999-09-28 Xerox Corporation Complementary push-pull CMOS source follower analog video buffer
US6101561A (en) * 1998-02-06 2000-08-08 International Business Machines Corporation System for providing an increase in digital data transmission rate over a parallel bus by converting binary format voltages to encoded analog format currents
DE19829487C1 (de) * 1998-07-01 1999-09-23 Siemens Ag Ausgangstreiber eines integrierten Halbleiterchips
US6208191B1 (en) * 1998-10-29 2001-03-27 Microchip Technology Incorporated Positive and negative voltage clamp for a wireless communication input circuit
US6408347B1 (en) 1998-12-10 2002-06-18 Cisco Technology, Inc. Integrated multi-function adapters using standard interfaces through single a access point
US6366061B1 (en) 1999-01-13 2002-04-02 Carnegie Mellon University Multiple power supply circuit architecture
US6359464B1 (en) * 2000-05-30 2002-03-19 International Business Machines Corporation Method of use with a terminator and network
KR100391150B1 (ko) * 2000-11-15 2003-07-16 삼성전자주식회사 다단의 상위 코드 선택기를 갖는 반도체 장치의 임피던스콘트롤 출력회로 및 그의 동작방법
US6876231B2 (en) * 2000-12-05 2005-04-05 Advantest Corp. Driver circuit for use in pin electronics card
JP2002217416A (ja) * 2001-01-16 2002-08-02 Hitachi Ltd 半導体装置
JP4313537B2 (ja) 2001-02-02 2009-08-12 富士通株式会社 低振幅電荷再利用型低電力cmos回路装置、加算器回路及び加算器モジュール
US6388495B1 (en) * 2001-02-23 2002-05-14 Sun Microsystems, Inc. Dynamic termination and clamping circuit
JP2002290224A (ja) * 2001-03-23 2002-10-04 Tdk Corp 半導体素子
US6525569B1 (en) 2001-09-21 2003-02-25 International Business Machines Corporation Driver circuit having shapable transition waveforms
US6784744B2 (en) * 2001-09-27 2004-08-31 Powerq Technologies, Inc. Amplifier circuits and methods
US6859102B2 (en) * 2001-09-27 2005-02-22 Powerq Technologies, Inc. Amplifier circuit and method
US6437611B1 (en) * 2001-10-30 2002-08-20 Silicon Integrated Systems Corporation MOS output driver circuit with linear I/V characteristics
JP2004096702A (ja) * 2002-02-20 2004-03-25 Mitsubishi Electric Corp 駆動回路
JP3935925B2 (ja) * 2002-03-04 2007-06-27 富士通株式会社 出力バッファ回路
US6765430B2 (en) * 2002-07-22 2004-07-20 Yoshiyuki Ando Complementary source follower circuit controlled by back bias voltage
DE10392192T5 (de) * 2002-11-06 2005-01-05 Mitsubishi Denki K.K. Abtast-Halte-Schaltung und Bildanzeigevorrichtung, die diese verwendet
US6847235B2 (en) * 2002-12-18 2005-01-25 Texas Instruments Incorporated Bus driver
US7075343B2 (en) * 2004-12-07 2006-07-11 Analog Devices, Inc. Self-timed switching regulator pre-driver
JP4623286B2 (ja) * 2005-03-25 2011-02-02 日本電気株式会社 デューティ調整回路
KR100668498B1 (ko) * 2005-11-09 2007-01-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 데이터 출력장치 및 방법
JP4804926B2 (ja) * 2006-01-12 2011-11-02 富士通セミコンダクター株式会社 半導体集積回路
US7676953B2 (en) * 2006-12-29 2010-03-16 Signature Control Systems, Inc. Calibration and metering methods for wood kiln moisture measurement
US9761285B1 (en) * 2016-02-26 2017-09-12 Globalfoundries Inc. Sense amplifier and latching scheme

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4322639A (en) 1976-08-26 1982-03-30 Hitachi, Ltd. Voltage detection circuit
US4654548A (en) 1983-07-08 1987-03-31 Fujitsu Limited Complementary logic circuit

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4140930A (en) * 1976-07-30 1979-02-20 Sharp Kabushiki Kaisha Voltage detection circuit composed of at least two MOS transistors
US4354151A (en) * 1980-06-12 1982-10-12 Rca Corporation Voltage divider circuits
GB8420651D0 (en) * 1984-08-14 1984-09-19 British Telecomm Interface circuit
US4785201A (en) * 1986-12-29 1988-11-15 Integrated Device Technology, Inc. High speed/high drive CMOS output buffer with inductive bounce suppression
JPH01161916A (ja) * 1987-12-18 1989-06-26 Toshiba Corp 半導体集積回路
US4883979A (en) * 1988-02-16 1989-11-28 Texas Instruments Incorporated Darlington BiCMOS driver circuit
JPH0282713A (ja) * 1988-09-19 1990-03-23 Fujitsu Ltd スイッチング補助回路
JPH02154461A (ja) * 1988-12-06 1990-06-13 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路の出力バッファ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4322639A (en) 1976-08-26 1982-03-30 Hitachi, Ltd. Voltage detection circuit
US4654548A (en) 1983-07-08 1987-03-31 Fujitsu Limited Complementary logic circuit

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Publication number Publication date
JPH04345317A (ja) 1992-12-01
US5206544A (en) 1993-04-27

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