JP2576540B2 - 光学ヘッド - Google Patents

光学ヘッド

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JP2576540B2 JP62282875A JP28287587A JP2576540B2 JP 2576540 B2 JP2576540 B2 JP 2576540B2 JP 62282875 A JP62282875 A JP 62282875A JP 28287587 A JP28287587 A JP 28287587A JP 2576540 B2 JP2576540 B2 JP 2576540B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学式情報記録再生装置に用いられる光学
ヘッドに関する。
〔従来の技術〕
従来、第2図に示されるような差動光学系を構成した
光学ヘッドが広く用いられていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、従来の光学ヘッドは、光量変動の影響を受け
にくい差動光学系を構成するためには、偏光ビーム・ス
プリッターを用いて光路を分割する必要があるため、こ
れが光学ヘッドの小型化、簡素化の妨げとなっていた。
そこで本発明は従来のこのような問題点を解決するた
め、ひとつの光路で光学式情報記録再生装置の光学ヘッ
ドに必要な全ての信号(焦点誤差信号,トラック誤差信
号,情報信号)を検出できる光学ヘッドを提供すること
を目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するために、 本発明の光学ヘッドは、 レーザ光を光磁気記録担体に照射して、前記光磁気記
録担体に記録されている情報を検出して情報信号を出力
する光学ヘッドにおいて、 直交する2本の分割線により分割される4つの領域に
互いに偏光軸の異なる第1、第2の2種類の偏光膜をそ
れぞれ2枚ずつ配置し、1本の分割線がトラック方向に
向いており、前記光磁気記録担体で反射した光の光軸が
前記分割線の交点を通り、かつ偏光膜の面に対して法線
となるように配置される空間分割型検光子と、 前記空間分割型検光子を透過した光の光路中に、前記
空間分割型検光子の4つのそれぞれの領域を透過した光
に対応するようにそれぞれの受光素子が配置され、前記
それぞれの領域を透過した光の強度に対応する信号を出
力する4分割型光検出器と、 を備えたことを特徴とする。
〔作用〕
情報信号を空間分割型検光子の第1の偏光膜を透過し
た前記光の強度の総和と第2の偏光膜を透過した光の強
度の総和の差をとることで検出し、 トラック誤差信号を前記トラック方向を向いている分
割線により2つに分割される偏光膜の領域のそれぞれを
透過する前記光の強度の総和の差をとることにより検出
し、 焦点誤差信号を前記4分割型光検出器の対角の位置関
係にある領域の光の強度の総和と、他方の対角の位置関
係にある領域の光の強度の総和との差をとることにより
検出するか、または、前記トラック方向に対して垂線を
なす分割線により2つに分割される偏光膜の領域のそれ
ぞれを透過する光の強度の総和の差をとることにより検
出し、 上記情報信号、トラック誤差信号、焦点誤差信号を1
つの4分割型光検出器から得ることが可能となる。
〔実施例〕
以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は、本発明にかかる光学ヘッドの構成図であ
る。
対物レンズ4より光磁気情報記録担体5上に直線偏光
を集光すると、前記情報記録担体から対物レンズ4への
反射光は情報ビットの有無により対物レンズ4を出射す
る偏光面を基準として正逆どちらかの向きの回転を受け
ている。前記反射光はビーム・スプリッター3により受
光系へ反射され、空間分割型検光子6に入射する。
空間分割型検光子6は第4図に示すように互いに偏光
透過軸の方向の異なる2枚の偏光膜13,14を並べて一つ
の平板状に成形した検光子であり、2枚の偏光膜13,14
は光学ヘッドの光軸と垂直かつその境界線が情報記録担
体トラック方向Dと垂直に設定されている。特に本実施
例では各々の偏光膜の偏光透過軸は出射直線偏光面に対
して±45度に設定されている。
前記のように設定された空間分割型検光子6による反
射光の検光原理を説明するのが第6図である。対物レン
ズ4を出射する偏光の電場ベクトル0は情報ビット部で
はFのように回転され、情報ビット部外ではEのように
回転されているので、これらを空間分割型検光子6の13
部(偏光透過軸方向A)で検光した場合の電場ベクトル
は各々I,Jとなり、14部(偏光透過軸方向B)で検光し
た場合は各々G,Hとなる。
つまり、情報ピットの有無により生じた偏光面の回転
変動が透過光強度の変動に変換され、さらには空間分割
型検光子6の13部,14部の透過光強度比が情報ピットの
有無により逆転する。従って情報信号の再生を13部透過
光強度と14部透過光強度の差動で行えば、レーザー光源
の光量変動や情報記録担体の反射率変動のように13部透
過光と14部透過光にほぼ同量生じている光強度変動は取
り除くことができるため情報信号の安定な検出が可能と
なる。
第1図において、前記空間分割型検光子6を通過した
反射光は焦点誤差信号検出用の非点収差光学系7を通過
して4分割型光検出器8に入射して光電変換が行われ
る。
4分割型光検出器8の設定は第7図にようであり、焦
点誤差信号は(8a+8c)−(8b+8d)、トラック誤差信
号はプッシュ・プル法により(8a+8b)−(8c+8d)、
情報信号は(8b+8c)−(8a+8d)の演算にて検出され
る。このとき情報記録担体基板の複屈折による焦点誤差
信号,トラック誤差信号の劣化を避けるために第5図に
示したような空間分割型検光子の設定が適する。
第3図は焦点誤差信号検出手段に臨界角法を用いたも
ので、この場合空間分割型検光子6の設定は第5図、4
分割型光検出器8の設定は第8図のようにして、焦点誤
差信号は(8a+8c)−(8b+8d),トラック誤差信号は
(8b+8c)−(8a+8d),情報信号は(8a+8c)−(8b
+8d)の演算で得ることができる。
〔発明の効果〕
本発明の光学ヘッドは、 直交する2本の分割線により分割される4つの領域に
互いに偏光透過軸の異なる第1、第2の2種類の偏光膜
をそれぞれ2枚ずつ配置し、1本の分割線がトラック方
向に向いており、光磁気記録担体からの反射光の光軸が
前記分割線の交点を通り、かつ偏光膜の面に対して法線
となるように配置される空間分割型検光子と、 前記空間分割型検光子を透過した光の光路中に、前記
空間分割型検光子の4つのそれぞれの領域を透過した光
に対応するようにそれぞれの受光素子が配置され、前記
それぞれの領域を透過した光の強度に対応する信号を出
力する4分割型光検出器と、 を備えたことにより、 1本の光軸の光学系で、情報信号、トラック誤差信
号、焦点誤差信号を検出することが可能となる。従って
これらの信号の検出のために複数の光軸を持つ検出系を
配置する必要がない。また、検出光学系の光軸が1つで
あるので光軸調整や各部品間配置の調節が、検出光学系
として複数の光軸を有する他の光学ヘッドに対して簡略
化できる。その結果部品点数、組立工程が削減され、小
型で安価な光学ヘッドの提供が可能となるという優れた
効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる光学ヘッドの構成図、第2図は
従来の光学ヘッドの構成図、第3図は本発明にかかる光
学ヘッドの構成図、第4図,第5図は空間分割型検光子
の構成図、第6図は空間分割型検光子の検光原理図、第
7図は4分割型光検出器の構成図、第8図は4分割型光
検出器の構成図である。 1……レーザー光源 2……コリメート・レンズ 3……ビーム・スプリッター 4……対物レンズ 5……情報記録担体 6……空間分割型検光子 7……非点収差光学系 8……4分割型光検出器 9……2分の1波長板 10……偏光ビーム・スプリッター 11……4分割型光検出器 12……臨界角プリズム 13……偏光膜 14……偏光膜 15……偏光膜 16……偏光膜 17……2分割型光検出器

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】レーザ光を光磁気記録担体に照射して、前
    記光磁気記録担体に記録されている情報を検出して情報
    信号を出力する光学ヘッドにおいて、 直交する2本の分割線により分割される4つの領域に互
    いに偏光軸の異なる第1、第2の2種類の偏光膜をそれ
    ぞれ2枚ずつ配置し、1本の分割線がトラック方向を向
    いており、前記光磁気記録担体で反射した光の光軸が前
    記分割線の交点を通りかつ偏光膜の面に対して法線とな
    るように配置される空間分割型検光子と、 前記空間分割型検光子を透過した光の光路中に、前記空
    間分割型検光子の4つのそれぞれの領域を透過した光に
    対応するようにそれぞれの受光素子が配置され、前記そ
    れぞれの領域を透過した光の強度に対応する信号を出力
    する4分割型光検出器と、 を備えたことを特徴とする光学ヘッド。
JP62282875A 1987-11-09 1987-11-09 光学ヘッド Expired - Fee Related JP2576540B2 (ja)

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JPS63279448A (ja) * 1987-05-11 1988-11-16 Mitsubishi Electric Corp 光磁気記録再生装置

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