JPH02105357A - 光磁気ディスク装置 - Google Patents

光磁気ディスク装置

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JPH02105357A
JPH02105357A JP25823388A JP25823388A JPH02105357A JP H02105357 A JPH02105357 A JP H02105357A JP 25823388 A JP25823388 A JP 25823388A JP 25823388 A JP25823388 A JP 25823388A JP H02105357 A JPH02105357 A JP H02105357A
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JP
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magneto
light
optical disk
photodetector
optical
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JP25823388A
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Masahiro Takahashi
正博 高橋
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〉 本発明は、磁気カー効果やファラデー効果等の磁気光学
効果を利用して情報の記録、再生を行う光磁気ディスク
装置、特にフォーカスエラー信号、トラックエラー信号
及び光磁気信号の検出方式に関するものである。
(従来の技術) 一般に、光磁気ディスク装置においては、情報の記録、
再生を行うに当り、レーザ等の光源からの光ビームを光
ヘッドの光学系によって光磁気ディスク上に、例えば1
.μ■1程度の径の微小スポットで常に照射できるよう
にする必要がある。この際、光磁気ディスクは回転に伴
なって、回転方向に垂直な方向、即ちディスク面に直交
する方向(フォーカス方向)の而振れ、あるいは半径方
向(ラジアル方向)の偏心が生ずる。そのため、これら
2つのずれ量を補正するために、面振れの動きに対して
光スポットを追従させる焦点制御(フォーカスサーボと
もいう)と、偏心の動きに対して光スポットを追従させ
るトラッキング制御(トラックサーボともいう)とを行
っている。
従来、この種の光磁気ディスク装置としては、■特開昭
59−168951号公報、及び■寺田和男著「光ピツ
クアップシステム設計の要点」、[6] (昭59−1
0−31>日本工業技術センター、P、151−173
に記載されるものがあった。以下、その構成を図を用い
て説明する。
第2図は前記文献■に記載された従来の光磁気ディスク
装置の一構成例を示す図である。
この光磁気ディスク装置では、記録光学系及び再生光学
系を備え、そのうち記録光学系が図面」二省略されて再
生光学系のみが図示されている。記録層である垂直磁化
膜を有する光磁気ディスク1−では、図示しない記録光
学系を用いて垂直磁化膜の磁化方向を反転させることに
より、情報を記録している。情報の再生は、再生光学系
を用いて、直線偏光を垂直磁化膜−1−に照射し、その
透過光あるいは反射光が磁化方向により、左右いずれか
に回転するいわゆるファラデー効果あるいは磁気カー効
果を利用して光磁気信号を読出すようにしている。
即ち、再生光学系において、半導体レーザ2から出射さ
れた光は、レンズ3により平行ビームとされ、回折格子
4により3本のビームに分割された後、ハーフミラ−ら
により光磁気ディスク1側に反射され、対物レンズ6に
より光磁気ディスク]、−1−に集光される。光磁気デ
ィスク1からの反射光は、その光磁気ディスク1におけ
る垂直磁化膜の磁化方向に応して1肩先面が±Δθだけ
回転する。
この反射光は、再び対物レンズ6及びハーフミラ−5を
通り、旋光子7で所定角度θだけ偏光面が回転した後、
中間レンズ8を通して偏光ビームスプリッタ9により、
入射面に平行なP偏光成分の光と、入射面に垂直なS1
扁光成分の光とに分離される。P偏光成分の光は、前記
文献(2に構造が詳しく記載されているようにシリンド
リカルレンズ(円柱レンズ)]0を介して、光/電変換
用の3つの光検出素子11a、llb、llcからなる
光検出器]1に入射され、さらにS@光成分の光が、光
/電変換用の光検出器12に入射される。
光検出素子11bの出力は、フォーカスエラー信号Ef
として利用される。光検出素子11bの出力と光検出器
12の出力とは、差動増幅器13で差動増幅され、光磁
気信号Soとして出力される。
また、2つの光検出素子11a、llcの出力は、差動
増幅器14で差動増幅され、トラックエラー信号Etと
して出力される。これらのフォーカスエラー信号Ef及
びトラックエラー信号Etは、図示しないフォーカスサ
ーボ回路及びトラックサーボ回路で処理され、フォーカ
スサーボ及びトラックサーボが行われる。
この種の光磁気ディスク装置では、サーボエラー信号検
出系と光磁気信号検出系とが一体化されているなめ、そ
の雨検出系が独立して設けられている装置に比べ、光学
系が簡単になって部品点数が少なく、低コスト化が図れ
るという利点を有している。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記構成の装置では、フォーカスエラー
信号Ef及びl・ラックエラー信号Etを検出するため
に、シリンドリカルレンズ10と、3つの光検出素子]
1a、llb、1]、cからなる光検出器11とを用い
ているが、シリンドリカルレンズ10は横這が複雑なた
めに比較的高価であり、しかも3つの光検出素子11a
]、]、b、llcを必要とするため、その光検出素子
1 ]、a、、  1 ]f+、  1. ]、cの配
置調整等が複雑である。そのため、光磁気ディスク装置
における最大課題の1つであるアクセスタイムの短縮化
という点から見れば、光ヘッドの小型、軽量化という点
で技術的に充分満足てきるものではなく、しかも低コス
ト化という点についても満足できるものではなかっな。
本発明は前記従来技術が持っていた課題として、小型、
軽量化及び低コス1〜化が充分満足できるものではない
という点について解決した光磁気ディスク装置を提供す
るものである。
(課題を解決するための手段) 前記課題を解決するために、請求項1の発明では、光磁
気ディスクからの反射光または透過光を収束レンズを通
してほぼ45度の偏光面で偏光ビームスプリッタに入射
し、その偏光ビームスプリッタで分離したP偏光成分と
S偏光成分の光に基づき、フォーカスエラー信号、トラ
ックエラー信号、及び光磁気信号を検出する光磁気ディ
スク装置において、前記偏光ビームスプリッタは、前記
収束レンズの出射光をP偏光成分とS偏光成分の光に分
離し、該S偏光成分の光を反射させて該P偏光成分の光
と同一方向に出射する構成にする。
さらに、前記収束レンズの焦点より光軸方向に一定距離
だけ近づけた位置に第1の光検出器を設けると共に、前
記収束レンズの焦点より光軸方向に前記一定距離だけ遠
ざけた位置に第2の光検出器を設ける。第1の光検出器
は、前記P偏光成分の光の断面積より小さな第1の受光
面を有し、第2の光検出器は、前記第1の受光面と等し
い面積で、かつ前記sl光成分の光の断面積より小さな
第2の受光面を有している。そして、前記第1.第2の
光検出器の少なくとも一方を分割線を有する2分割光検
出器で構成し、その分割線を前記光磁気ディスクのトラ
ック方向に対して平行に配置したものである。なお、第
1.第2の光検出器は、その両方を2分割光検出器で構
成してもよい。
請求項2の発明では、請求項1において、前記2分割光
検出器で構成さノ仁ノご第1または第2の光検出器の2
出力差を増幅してトラックエラー信号を出力する第1の
差動増幅器と、前記第1と第2の光検出器の出力差を増
幅する第2の差動増幅器と、前記第2の差動増幅器の出
力の周波数分離を行ってフォーカスエラー信号及び光磁
気信号を出勾゛J−るフィルりとを設けたものて゛ある
請求項3の発明では、請求項1まなは2において、前記
第1および第2の光検出器を一体構成にしたものである
(作用) 請求項1の発明によれば、以上のように光磁気ディスク
装置を構成したので、偏光ビームスプリッタは、S偏光
成分とP偏光成分の光を同一方向に出射する。第1の光
検出器は偏光ビームスプリッタからのP偏光成分の光を
直接受光してそれを電気信号に変換し、また第2の光検
出器は偏光ビームスプリッタからのS偏光成分の光を直
接受光してそれを電気信号に変換する。これら第1と第
2の光検出器の出力差より、フォーカスエラー信号及び
光磁気信号の検出が行える。さらに、2分割光検出器で
構成された光検出器は、その2出力差よりトラックエラ
ー信号の検出を可能にさせる。
これにより、部品点数の削減と、構造の簡単化が図れる
請求項2の発明では、第1の差動増幅器カ月・ラックエ
ラー信号を出力し、第2の差動増幅器及びフィルタがフ
ォーカスエラー信号及び光磁気信号を出力する働きをし
、信号検出回路の構成の簡易、的確化を図る。
請求項3の発明では、第1および第2の光検出器を一体
構成にすることにより、その小型、軽量1ヒを向−ヒさ
せる働きをする。
従って、前記課題を解決できるのである。
(実施例) 第1図は本発明の一実施例を示す光磁気ディスク装置の
概略構成図、及び第3図はその信号検出回路の構成図で
ある。
第1図の光磁気ディスク装置では、記録光学系が図面−
L省略されて再生光学系のみが図示されている。この再
生光学系では、半導体レーザ等の光源20を有し、その
光源20の出射光路中には、コリメータレンズ21.光
分離用のビームスプリッタ22、及び収束用の対物レン
ズ23を介して反射型の光磁気ディスク24が設けられ
ている。
ビームスプリッタ22の反射光路中には、偏光面をほぼ
45度回転させる]/2波長板25、焦点26aを有す
る光収束用の収束レンズ26、及び偏光ビームスプリッ
タ27が設けられている。
偏光ビームスプリッタ27は、入射光をP偏光成分とS
+=向成分成分に分離し、さらにそのS偏光成分の光を
反射面27aでP偏向成分の光と同一方向へ反射させて
出射する構造になっている。
この偏光ビームスプリッタ27のP偏光成分出射側に第
1の光検出器28が設けられると共に、S偏光成分出射
側に第2の光検出器2つが設けられている。
第1.第2の光検出器28.29は、光を電気に変換す
るもので、例えば円形の受光面を有し、ホトダイオード
等で構成されている。第1の光検出器28は、収束レン
ズ26の焦点26aから距離Xだけその収束レンズ側へ
近づけた位置に配置され、これに対して第2の光検出器
29は収束レンズ26の焦点26aから距離Xだけ遠ざ
けた位置に配置されている。さらに第1.第2の光検出
器28.29の円形受光面は、それぞれ直径が等しく、
かつ第1図の配置位置において入射光の外径より小さい
受光直径になるように設定されている。
第3図に示すように、第1.第2の光検出器28.29
のうち、例えば第1の光検出器28は、分割線28aで
2分割された受光部28b−11]。
28b−2を有する2分割光検出器で構成されている8
分割線28aは、光磁気ディスク24のトラックに対す
るずれを検出するため、そのトラック方向と平行になる
ように配置されている。第1の光検出器28の受光部2
8b−1,28b−2は、増幅器30.31を介して第
1の差動増幅器32の(+)個入力端子及び(−)個入
力端子にそれぞれ接続され、その差動増幅器32の出力
端子よりトラックエラー信号Etが出力される構成にな
っている。また、第2の光検出器29は、第2の差動増
幅器33の(−)個入力端子に接続され、その(+)個
入力端子が増幅器30.31の出力側に共通接続されて
いる。第2の差動増幅器33の出力端子には、周波数分
離用のフィルタ34が接続され、そのフィルタ34から
フォーカスエラー信号Ef及び光磁気信号Soが出力さ
れる構成になっている。
次に、動作を説明する。
光源20から出射された光は、レンズ2]により平行ビ
ームとされ、ビームスプリッタ22を通して対物レンズ
23で収束されて光磁気ディスク24上に照射される。
光磁気ディスク24からの反射光は、その光磁気ディス
ク24における垂直磁化膜の磁化方向に応じて偏光面が
±Δθだけ回転する。この反射光は、ビームスプリッタ
22で往路と分離され、1/′2波長板25により、直
線偏光の偏光面がほぼ45度回転された後、収束レンズ
26で収束される。収束レンズ26で収束された光は、
偏光ビームスプリッタ27により、入射面に平行なP偏
光成分の光と、入射面に垂直なS偏光成分の光とに分離
され、さらにS偏光成分の光が反射面27aでP偏光成
分の光と同一方向に反射された後、そのP偏光成分の光
が第1の光検出器28へ、S偏光成分の光が第2の光検
出器29へ、それぞれ入射される。
第1の光検出器28は、2分割光検出器で構成されてい
るため、光磁気ディスク24のトラックを形成するグル
ープ(c+roove、講)による回折パターンの強度
分布の変化が受光部281)−1゜28b−2により検
出され、その強度分布の変化に応じた2つの電気信号が
出力される。2つの電気信号は各増幅器30.31でそ
れぞれ増幅された後、第1の差動増幅器32の(+)個
入力端子及び(−)個入力端子に供給されると共に、増
幅330.31の出力和が第2の差動増幅器33の(+
)個入力端子に供給される。第1の差動増幅器32は2
人力の差を増幅するため、その差動増幅器32の出力端
子からトラックエラー信号Etが出力されることになる
一方、第2の光検出器29は、S偏光成分の光を電気1
3号に変換し、その電気信号を第2の差動増幅器33の
(−)個入力端子に供給する。第2の差動増幅器33で
は、増幅器30.31の出力和と第2の光検出器29の
出力との差を求め、そσ)稽を増幅してフィルタ3・1
1\与える。フィルタ34は、第2の差動増幅器33の
出力の周波数分離を行い、低周波数帯域のフォーカスエ
ラー信号1’′、fを出力すると共に、高周波帯域の光
磁気信号Soを出力する。
ここで、フォーカスエラー検出において、対物レンズ2
3と光磁気ディスク24が合焦状態にある時は、その光
磁気ディスク24の反射光が第1と第2の光検出器28
.29に等光量受光されるため、フォーカスエラー信号
Efの電位が零となる。光磁気ディスク24が合焦位置
より遠ざかると、光磁気ディスク24の反射光は対物レ
ンズ23を透過した後、収束光となり、収束レンズ26
の焦点距離が短くなってその焦点26aが第1の光検出
器28に近ずく。そのため、第1の光検出器28の受光
量が増加してその光検出器28の出力が大きくなる。反
対に、第2の光検出器29は収束レンズ26の焦点26
aよりさらに遠ざかることになるので、受光量が減少し
、出力が小さくなる。従って、第2の差動増幅器33及
びフィルタ34より得られるフォーカスエラー信号Ef
の電位は、例えば(+)側方向に増大する。
一方、光磁気ディスク24が合焦位置より近づくと、第
1の光検出器28の受光量が減少してその出力が小さく
なるのに対し、第2の光検出器29の受光量が増加して
その出力が大きくなるため、フォーカスエラー信号Ef
の電位は(=)側方向に増大する。
以−にのようにして得ちれたフォーカスエラー信号Ef
及びトラックエラー信号Etは、図示しないフォーカス
サーボ回路及びトラックサーボ回路で処理され、フォー
カスサーボ及びトラックサーボが行われる。また、フィ
ルタ34から出力された光磁気信号Soは、図示しない
信号処理回路で処理されて、読出しテ゛−夕として出力
される。
本実施例の光磁気ディスク装置では、次のような利点を
有している。
(a)  偏光ビームスプリッタ27で分離されたP偏
光成分の光を第1の光検出器28で直接に受光する構成
にしたので、従来の第2図の装置で必要であった比較的
高価なシリンドリカルレンズ10が不要になると共に、
第1の光検出器28の構造の簡単化が図れる。従って、
部品点数の削除と構造の簡単化、及びそれによる装置の
小型、軽量化と低コスト化を向上させることができる。
(b)  第1および第2の光検出器28.29は、そ
の円形受光面の直径が等しいなめ、光検出感度が等しく
なり、その再出力の差動をとることにより、高精度なフ
ォーカスエラー信号Efが得られる。その上、第1と第
2の光検出器28.29は、入射光の外径より小さい受
光直径になるような位置に設置されているなめ、光磁気
ディスク24がフォーカス方向に面振れしても、第1.
第2の光検出器28.29の受光面の全面には入射光が
常に入射して光検出感度が一定となるため、フォーカス
エラー信号Efの検出精度がさらに向上する。
(c)  偏光ビームスプリッタ27から出射されるP
偏光成分とS偏光成分の光は、同一方向であるため、第
1と第2の光検出器28.29を例えば同一平面」二に
配置して容易に一体構造にすることが可能になる。第1
および第2の光検出器を一体構造にした場合、1つの光
検出器でP偏光成分及びS偏向成分の光を受光でき、そ
れによって高速アクセスの必須条部である可動部重量の
軽量化と小型化をより向上させることかできる。
なお、本発明は図示の実施例に限定されず、種々の変形
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。
(i>  第3図において、第1の光検出器28に代え
て、第2の光検出器2つを2分割光検出器で構成しても
よい。この場合には、第2の光検出器29の分割線をト
ラック方向と平行に配置し、その光検出器2つの2出力
差を差動増幅器で差動増幅すれば、トラックエラー信号
Etを検出でき、Jtic’¥施例と同様の利点が得ら
れる。
また、第1および第2の光検出器28.29の両方を2
分割光検出器で構成してもよい。この場合には、各2分
割光検出器の分割線をそれぞれトラ・/り方向と平行に
配置する。そして、各々の2分割児検出器の同一・方向
の出力同志の和の差等を差動増幅器で求めるようにすれ
ば、高精度なI・ラックエラー信号E1.が検出できる
(ii)  第1図では、反射型の光磁気ディスク24
を用いたが、透過型の光磁気ディスクを用いてもよい。
この場合には、透過型光磁気ディスクの透過光をコリメ
ータレンズで平行光にした後、その光を1/2波長板2
5を通して収束レンズ26側J\入射すれば、前記実施
例とほぼ同様の作用、効果が得られる。
(iii>  第1図の再生光学系を記録時に用いるこ
ともできる。
(発明の効果) 以上詳細に説明したように、請求項1の発明によれば、
偏光ビームスプリッタから出射されなP偏光成分の光を
直接に第1の光検出器へ入射すると共に、P偏光成分の
光と同一方向のS偏光成分の光を第2の光検出器へ入射
する構成にしなので、第1および第2の光検出器の出力
に基づき、トラックエラー信号、フォーカスエラー信号
及び光磁気信号の高精度な検出が可能になる。そのため
、従来のようなシリンドリカルレンズが不要になると共
に、第1の光検出器の構造を簡単にでき、部品点数の削
減と構造の簡単化による装置の小型、軽量化及び低コス
1〜化を向上させることができる。
請求項2の発明では、2分割光検出器で楢成された第1
または第2の光検出器の2出力差により、I・ラックエ
ラー信号を検出でき、さらに第1と第2の光検出器の出
力差を求めてフィルタで周波数分離を行うことにより、
フォーカスエラー信号及び光磁気信号を検出できるので
、高精度な信号検出回路を、簡単な構造で容易に構成で
きる。
請求項3の発明では、第1および第2の光検出器を一体
構成にしたので、装置の小型、軽量化をより向」ニさせ
ることかで′きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す光磁気ディスク装置の構
成図、第2図は従来の光磁気ディスク装置の構成図、第
3図は第1図の信号検出回路の構成図である。 20・・・・・光源、22・・・・・・ビームスプリッ
タ、23・・・・・・対物レンズ、24・・・・・・光
磁気ディスク、25・・・・・・1/2波長板、26・
・・・・・収束レンズ、26 a・・・・・・焦点、2
7・・・・・・調光ビームスプリッタ、27a・・・・
・・反射面、28.29・・・・・・第1.第2の光検
出器、28a・・・・・・分割線、32.33・・・・
・・第1、第2の差動増幅器、34・・・・・・フィル
タ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光磁気ディスクからの反射光または透過光を収束レ
    ンズを通してほぼ45度の偏光面で偏光ビームスプリッ
    タに入射し、その偏光ビームスプリッタで分離したP偏
    光成分とS偏光成分の光に基づき、フォーカスエラー信
    号、トラックエラー信号、及び光磁気信号を検出する光
    磁気ディスク装置において、 前記偏光ビームスプリッタは、前記収束レンズの出射光
    をP偏光成分とS偏光成分の光に分離し、該S偏光成分
    の光を反射させて該P偏光成分の光と同一方向に出射す
    る構成にし、 前記収束レンズの焦点より光軸方向に一定距離だけ近づ
    けた位置に配設され、前記P偏光成分の光の断面積より
    小さな第1の受光面を有する第1の光検出器と、 前記収束レンズの焦点より光軸方向に前記一定距離だけ
    遠ざけた位置に配設され、前記第1の受光面と等しい面
    積で、かつ前記S偏光成分の光の断面積より小さな第2
    の受光面を有する第2の光検出器とを設け、 前記第1、第2の光検出器の少なくとも一方を分割線を
    有する2分割光検出器で構成し、その分割線を前記光磁
    気ディスクのトラック方向に対して平行に配置したこと
    を特徴とする光磁気ディスク装置。 2、請求項1記載の光磁気ディスク装置において、前記
    2分割光検出器で構成された第1または第2の光検出器
    の2出力差を増幅してトラックエラー信号を出力する第
    1の差動増幅器と、 前記第1と第2の光検出器の出力差を増幅する第2の差
    動増幅器と、 前記第2の差動増幅器の出力の周波数分離を行ってフォ
    ーカスエラー信号及び光磁気信号を出力するフィルタと
    を、 備えた光磁気ディスク装置。 3、請求項1または2記載の光磁気ディスク装置におい
    て、 前記第1および第2の光検出器を一体構成にした光磁気
    ディスク装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5537383A (en) * 1995-03-01 1996-07-16 Eastman Kodak Company Optical data storage system with differential data detection and source noise subtraction for use with magneto-optic, write-once and other optical media
US5586101A (en) * 1995-03-01 1996-12-17 Eastman Kodak Company Magneto-optic data storage system with differential detection channels having separate gain control circuit

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