JP2806559B2 - 合焦装置および方法 - Google Patents
合焦装置および方法Info
- Publication number
- JP2806559B2 JP2806559B2 JP1148167A JP14816789A JP2806559B2 JP 2806559 B2 JP2806559 B2 JP 2806559B2 JP 1148167 A JP1148167 A JP 1148167A JP 14816789 A JP14816789 A JP 14816789A JP 2806559 B2 JP2806559 B2 JP 2806559B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- focusing
- reflected light
- light
- optical disk
- error information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、光ディスクへの光の焦点を合せる合焦装
置および光ディスクの状態を判別する光ディスク判別装
置に関するものである。
置および光ディスクの状態を判別する光ディスク判別装
置に関するものである。
［従来の技術］ 従来の合焦装置および光ディスク判別装置の動作を、
第４図〜第10図を用いて説明する。第４図は、この装置
の光学系を示したものである。２は光ディスクであり、
2aはピットである。光ディスク２の下面には、レーザ光
源４が設けられ、光ディスク２に向けてレーザ光が出さ
れている。このレーザ光は、対物レンズ６によって、光
ディスク２上に集光される。
第４図〜第10図を用いて説明する。第４図は、この装置
の光学系を示したものである。２は光ディスクであり、
2aはピットである。光ディスク２の下面には、レーザ光
源４が設けられ、光ディスク２に向けてレーザ光が出さ
れている。このレーザ光は、対物レンズ６によって、光
ディスク２上に集光される。
光ディスク２において反射したレーザ光は、ハーフミ
ラー８によりシリンドリカルレンズ10に向けられる。シ
リンドリカルレンズ10の焦点付近には、４分割フォトダ
イオード12が設けられている。シリンドリカルレンズ10
は、縦断面が平行四辺形であるため、上下方向に関して
は屈折は起こらない。横断面は、凸レンズ状であるた
め、左右方向に関しては屈折が起こる。したがって、シ
リンドリカルレンズ10のフォーカスは縦線となる（焦線
と呼ばれる）。
ラー８によりシリンドリカルレンズ10に向けられる。シ
リンドリカルレンズ10の焦点付近には、４分割フォトダ
イオード12が設けられている。シリンドリカルレンズ10
は、縦断面が平行四辺形であるため、上下方向に関して
は屈折は起こらない。横断面は、凸レンズ状であるた
め、左右方向に関しては屈折が起こる。したがって、シ
リンドリカルレンズ10のフォーカスは縦線となる（焦線
と呼ばれる）。
光ディスク２に焦点が合っている時には、反射光は平
行ビームとなって戻ってきて、４分割フォトダイオード
12上で円形のビーム像を生じる。この状態を示したのが
第６図Ａであり、その時の４分割フォトダイオード12の
位置を示したのが第５図のαである。この時、４分割フ
ォトダイオード12の各ダイオードの受光量は等
しく、FE信号は０となる。
行ビームとなって戻ってきて、４分割フォトダイオード
12上で円形のビーム像を生じる。この状態を示したのが
第６図Ａであり、その時の４分割フォトダイオード12の
位置を示したのが第５図のαである。この時、４分割フ
ォトダイオード12の各ダイオードの受光量は等
しく、FE信号は０となる。
また、ディスク２との距離が近すぎる場合（第５図の
βに対応）には、発散ビームとなり焦線が後方にずれて
像が縦長楕円となる（第６図Ｂ参照）。この時、４分割
フォトダイオード12の各ダイオードの受光量が
変化し、FE信号は＋となる。
βに対応）には、発散ビームとなり焦線が後方にずれて
像が縦長楕円となる（第６図Ｂ参照）。この時、４分割
フォトダイオード12の各ダイオードの受光量が
変化し、FE信号は＋となる。
また、ディスク２との距離が通すぎる場合（第５図の
γに対応）には、収束ビームとなり焦線が前方にずれて
像が横長楕円となる（第６図Ｃ参照）。この時、FE信号
は−となる。
γに対応）には、収束ビームとなり焦線が前方にずれて
像が横長楕円となる（第６図Ｃ参照）。この時、FE信号
は−となる。
なお、極端に近い場合や極端に遠い場合には、焦点ぼ
けにより受光されず、FE信号は０となる。したがって、
対物レンズ６を徐々に遠ざけた場合には、FE信号は第７
図Ａのように表われる。ここで、αがジャストフォーカ
ス点である。また、フォトダイオードの受光量
の合計を示すRF信号は、第７図Ｂのようになる。
けにより受光されず、FE信号は０となる。したがって、
対物レンズ６を徐々に遠ざけた場合には、FE信号は第７
図Ａのように表われる。ここで、αがジャストフォーカ
ス点である。また、フォトダイオードの受光量
の合計を示すRF信号は、第７図Ｂのようになる。
第７図A,Bのような性質を利用した合焦回路の一例
を、第２図に示す。その動作は次の通りである。まず、
切換スイッチ20を三角波発振回路22側にし、三角波を出
力する。この三角波は、位相補償ドライブアンプ24、駆
動回路26を通って、対物レンズ駆動コイル28に与えられ
る。これにより、対物レンズ６は徐々に遠ざけられる。
この場合の、FE信号の変化を示したのが第７図Ａであ
り、RF信号の変化を示したものが第７図Ｂである。
を、第２図に示す。その動作は次の通りである。まず、
切換スイッチ20を三角波発振回路22側にし、三角波を出
力する。この三角波は、位相補償ドライブアンプ24、駆
動回路26を通って、対物レンズ駆動コイル28に与えられ
る。これにより、対物レンズ６は徐々に遠ざけられる。
この場合の、FE信号の変化を示したのが第７図Ａであ
り、RF信号の変化を示したものが第７図Ｂである。
このように、対物レンズ６を徐々に遠ざけると、まず
RF信号が０から＋へと立上がり、再び０となり、FE信号
が０→＋→０→−→０と変化する。CPU30は、この変化
を見て、合焦点αを決定する。すなわち、RF信号が所定
のしきい値VTHを超えた後に、FE信号が＋から０へと変
化した点を合焦点と判定する。CPU30は、合焦点αを見
つけ出すと、スイッチ20をフォーカスエラー検出回路32
側に切り換える。フォーカスエラー検出回路32は、前述
の第６図の回路である。したがって、対物レンズコイル
28、フォーカスエラー検出回路32、位相補償ドライブア
ンプ24、駆動回路26によってフィードバック制御回路が
形成される。これにより、回転によってディスク２が上
下しても、ジャストフォーカスが保たれる。
RF信号が０から＋へと立上がり、再び０となり、FE信号
が０→＋→０→−→０と変化する。CPU30は、この変化
を見て、合焦点αを決定する。すなわち、RF信号が所定
のしきい値VTHを超えた後に、FE信号が＋から０へと変
化した点を合焦点と判定する。CPU30は、合焦点αを見
つけ出すと、スイッチ20をフォーカスエラー検出回路32
側に切り換える。フォーカスエラー検出回路32は、前述
の第６図の回路である。したがって、対物レンズコイル
28、フォーカスエラー検出回路32、位相補償ドライブア
ンプ24、駆動回路26によってフィードバック制御回路が
形成される。これにより、回転によってディスク２が上
下しても、ジャストフォーカスが保たれる。
ところで、上記の操作中において、第８図Ａに示すよ
うに、FE信号にノイズＸがのる場合がある。
うに、FE信号にノイズＸがのる場合がある。
このような場合には、CPU30は、ノイズＸの変極点を
合焦点であると判断し、スイッチ20を切り換えてしま
う。このため、フィードバック制御はうまく動作しな
い。
合焦点であると判断し、スイッチ20を切り換えてしま
う。このため、フィードバック制御はうまく動作しな
い。
そこで、このように焦点合わせが失敗した時には、合
焦操作を何回か繰り返すようにしている。焦点合わせが
うまくいかない原因が、突発性のノイズ等である場合に
は、次の回の合焦操作合により焦点合わせが達成され
る。焦点合わせがうまくいかない原因が、ディスク２の
不良（例えば裏返しになっていた場合）やディスク２の
無挿入である場合には、繰り返し合焦操作をしても焦点
合わせは達成できない。したがって、所定回路（通常３
回程度）の繰り返しによっても、焦点合わせが達成でき
な場合には、NO DISC等の表示を行う。
焦操作を何回か繰り返すようにしている。焦点合わせが
うまくいかない原因が、突発性のノイズ等である場合に
は、次の回の合焦操作合により焦点合わせが達成され
る。焦点合わせがうまくいかない原因が、ディスク２の
不良（例えば裏返しになっていた場合）やディスク２の
無挿入である場合には、繰り返し合焦操作をしても焦点
合わせは達成できない。したがって、所定回路（通常３
回程度）の繰り返しによっても、焦点合わせが達成でき
な場合には、NO DISC等の表示を行う。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上記のような従来装置においては、デ
ィスクが挿入されていない場合や、ディスクが不良（裏
返し等）である場合等においても、所定回数の合焦操作
を繰り返す。したがって、ディスク未挿入やディスク不
良であると判断するのに時間を要するという問題があっ
た。
ィスクが挿入されていない場合や、ディスクが不良（裏
返し等）である場合等においても、所定回数の合焦操作
を繰り返す。したがって、ディスク未挿入やディスク不
良であると判断するのに時間を要するという問題があっ
た。
この発明、上記の問題を解決して、ディスク未挿入や
ディスク不良を迅速に判定することのできるディスク判
定装置を提供することを目的とする。さらにディスク未
挿入やディスク不良を迅速に判定することができるとと
もに、ディスクが正常な場合には合焦操作を繰り返し行
うことのできる合焦装置を提供することを目的とする。
ディスク不良を迅速に判定することのできるディスク判
定装置を提供することを目的とする。さらにディスク未
挿入やディスク不良を迅速に判定することができるとと
もに、ディスクが正常な場合には合焦操作を繰り返し行
うことのできる合焦装置を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 請求項１に係る合焦装置の全体構成を、第１図に示
す。
す。
この合焦装置は、 光ディスク２に向けて光を照射する発光手段42、 入力された信号に基づいて、発光手段42から照射され
た光の焦点位置を移動させる焦点位置移動手段70、 光ディスク２から反射された光を受けて、該反射光の
強度を表わす反射光情報を出力する反射光情報検出手段
62、 反射光情報を受けて、反射光の強度を所定のしきい値
によりレベル判別し、レベル判別情報を出力するレベル
判別手段64、 光ディスクから反射された光を受けて、焦点ずれを表
わす誤差情報を出力する誤差情報検出手段60、 連続変化信号を出力する連続変化信号出力手段22、 誤差情報と連続変化信号とを入力し、何れか一方を焦
点位置移動手段に与える切換手段20、 焦点位置移動手段70、誤差情報検出手段60、切換手段
20によって構成される制御ループの状態を見て、該制御
ループが的確にロックされたか否かを判別し、成否判別
情報を出力するロック成否判別手段68、 レベル判別情報、ロック成否判別情報および誤差情報
を受けて、処理を行う判断制御手段66、 を備えている。
た光の焦点位置を移動させる焦点位置移動手段70、 光ディスク２から反射された光を受けて、該反射光の
強度を表わす反射光情報を出力する反射光情報検出手段
62、 反射光情報を受けて、反射光の強度を所定のしきい値
によりレベル判別し、レベル判別情報を出力するレベル
判別手段64、 光ディスクから反射された光を受けて、焦点ずれを表
わす誤差情報を出力する誤差情報検出手段60、 連続変化信号を出力する連続変化信号出力手段22、 誤差情報と連続変化信号とを入力し、何れか一方を焦
点位置移動手段に与える切換手段20、 焦点位置移動手段70、誤差情報検出手段60、切換手段
20によって構成される制御ループの状態を見て、該制御
ループが的確にロックされたか否かを判別し、成否判別
情報を出力するロック成否判別手段68、 レベル判別情報、ロック成否判別情報および誤差情報
を受けて、処理を行う判断制御手段66、 を備えている。
請求項２にかかるディスク情報検出を備えた合焦方法
においては、焦点位置を移動させながら光ディスクに向
けて照射光を照射し、前記光ディスクにて反射された反
射光を検出して、前記反射光の強度が所定のしきい値を
越える場合には、焦点ずれを表す誤差情報を検出して、
光ディスク上に焦点位置が合うように合焦処理を行う合
焦方法であって、前記合焦処理を行うか否かを決定する
反射光強度が前記しきい値を越えない場合には、前記合
焦処理を行わずに、前記光ディスクが不良または光ディ
スクが未挿入である旨を検出する。
においては、焦点位置を移動させながら光ディスクに向
けて照射光を照射し、前記光ディスクにて反射された反
射光を検出して、前記反射光の強度が所定のしきい値を
越える場合には、焦点ずれを表す誤差情報を検出して、
光ディスク上に焦点位置が合うように合焦処理を行う合
焦方法であって、前記合焦処理を行うか否かを決定する
反射光強度が前記しきい値を越えない場合には、前記合
焦処理を行わずに、前記光ディスクが不良または光ディ
スクが未挿入である旨を検出する。
［作用］ 請求項１にかかる合焦装置においては、判断制御手段
は、連続変化信号出力中に、前記制御ループを形成する
か否かを判定する反射光強度が前記しきい値を越えない
場合には、前記制御ループ形成処理を行わずに、ディス
ク状態不良と判断する。したがって、前記制御ループを
形成するか否かを決定する反射光強度に基づいてディス
ク状態不良を判断することができる。
は、連続変化信号出力中に、前記制御ループを形成する
か否かを判定する反射光強度が前記しきい値を越えない
場合には、前記制御ループ形成処理を行わずに、ディス
ク状態不良と判断する。したがって、前記制御ループを
形成するか否かを決定する反射光強度に基づいてディス
ク状態不良を判断することができる。
請求項２にかかるディスク状態検出を備えた合焦方法
においては、前記合焦処理を行うか否かを決定する反射
光強度が前記しきい値を越えない場合には、前記合焦処
理を行わずに、前記光ディスクが不良または光ディスク
が未挿入である旨を検出する。これにより、前記合焦処
理を行うか否かを決定する反射光強度に基づいて、光デ
ィスクが不良または光ディスクが未挿入である旨を検出
することができる。
においては、前記合焦処理を行うか否かを決定する反射
光強度が前記しきい値を越えない場合には、前記合焦処
理を行わずに、前記光ディスクが不良または光ディスク
が未挿入である旨を検出する。これにより、前記合焦処
理を行うか否かを決定する反射光強度に基づいて、光デ
ィスクが不良または光ディスクが未挿入である旨を検出
することができる。
［実施例］ 第２図に、この発明の一実施例による合焦装置のハー
ドウエア構成を示す。バスライン40には、I/Oポート3
8、ROM34、RAM36、CPU30が接続されている。CPU30は、R
OM34に記憶されたプログラムに従い、I/Oポート38を介
して、切換手段である切換スイッチ20および連続変化信
号出力手段である三角波発振回路22を制御する。
ドウエア構成を示す。バスライン40には、I/Oポート3
8、ROM34、RAM36、CPU30が接続されている。CPU30は、R
OM34に記憶されたプログラムに従い、I/Oポート38を介
して、切換手段である切換スイッチ20および連続変化信
号出力手段である三角波発振回路22を制御する。
ディスク２は、モータ46によって回転させられる。発
光手段であるレーザダイオード42から出たレーザ光は、
コリメータレンズ44、ハーフミラー48、対物レンズ６を
介して、ディスク２の裏面に照射される。反射光は、ハ
ーフミラー48によって反射され、誤差情報検出手段と反
射光情報検出手段であるフォーカスミラー検出回路32に
与えられる。このフォーカスエラー検出回路32は、第６
図に示すような回路である。FE信号すなわち、フォトダ
イオードの受光量からの受光量を引いたもの
は、切換スイッチ20に与えられる。RF信号すなわち、フ
ォトダイオードの受光量を合計したものは、I/
Oポート38に入力される。
光手段であるレーザダイオード42から出たレーザ光は、
コリメータレンズ44、ハーフミラー48、対物レンズ６を
介して、ディスク２の裏面に照射される。反射光は、ハ
ーフミラー48によって反射され、誤差情報検出手段と反
射光情報検出手段であるフォーカスミラー検出回路32に
与えられる。このフォーカスエラー検出回路32は、第６
図に示すような回路である。FE信号すなわち、フォトダ
イオードの受光量からの受光量を引いたもの
は、切換スイッチ20に与えられる。RF信号すなわち、フ
ォトダイオードの受光量を合計したものは、I/
Oポート38に入力される。
位相補償ドライブアンプ24は、切換スイッチ20からの
信号に位相補償を施した後、駆動回路26に与える。駆動
回路26の出力は、対物レンズ駆動コイル28に与えられ
る。コイル28の周囲には磁石80が配置されており、コイ
ル28に流された電流に応じ対物レンズ６が上下に移動す
る。すなわち、コイル28と磁石80とによって、焦点位置
移動手段が形成されている。
信号に位相補償を施した後、駆動回路26に与える。駆動
回路26の出力は、対物レンズ駆動コイル28に与えられ
る。コイル28の周囲には磁石80が配置されており、コイ
ル28に流された電流に応じ対物レンズ６が上下に移動す
る。すなわち、コイル28と磁石80とによって、焦点位置
移動手段が形成されている。
ROM34に格納されたプログラムのフローチャートを、
第３図に示す。CPU30は、このフローチャートにしたが
って各部に制御するものである。
第３図に示す。CPU30は、このフローチャートにしたが
って各部に制御するものである。
まず、ステップS1において、CPU30は、RFフラグを０
にする。次に、I/Oポート38を介して切換スイッチ20を
制御し、三角波発振回路側に切り換える（ステップ
S2）。次に、ステップS2において、I/Oポート38を介し
て、三角波発振回路22を制御し、三角波を立上げる。こ
の三角波は、位相補償ドライブアンプ24および駆動回路
26を介して、コイル28に与えられる。これにより、対物
レンズ６は、ディスク２から徐々に遠ざかる。この時、
FE信号およびRF信号は第７図A,Bのように変化する。
にする。次に、I/Oポート38を介して切換スイッチ20を
制御し、三角波発振回路側に切り換える（ステップ
S2）。次に、ステップS2において、I/Oポート38を介し
て、三角波発振回路22を制御し、三角波を立上げる。こ
の三角波は、位相補償ドライブアンプ24および駆動回路
26を介して、コイル28に与えられる。これにより、対物
レンズ６は、ディスク２から徐々に遠ざかる。この時、
FE信号およびRF信号は第７図A,Bのように変化する。
CPU30は、I/Oポート38を介して、所定周期でFE信号お
よびRF信号を取込む。そして、RF信号がしきい値VTHを
越えているか否かを判断する（ステップS4）。越えてい
なければ、ステップS9に飛び、再びステップS4に戻る。
これを繰返し、RF信号がしきい値VTHを越えると、ステ
ップS5に進み、RFフラグを立てる。
よびRF信号を取込む。そして、RF信号がしきい値VTHを
越えているか否かを判断する（ステップS4）。越えてい
なければ、ステップS9に飛び、再びステップS4に戻る。
これを繰返し、RF信号がしきい値VTHを越えると、ステ
ップS5に進み、RFフラグを立てる。
次に、ステップS6に進み、CPU30はI/Oポート８からFE
信号を取り込み、FE信号が立ち下がったか否かを判定す
る。立ち下がっていなければ（例えば、第７図Ａの点α
であれば）、ステップS4に戻り、同様の動作を繰返す。
FE信号が立ち下がると（例えば、第７図Ａの点γであれ
ば）、ステップS6からS7へと進み、スイッチ20をフォー
カスエラー検出回路32の側へ切り換える。これによっ
て、コイル28、フォーカスエラー検出回路32、位相補償
ドライブアンプ24、駆動回路26からなる制御ループが形
成される。この制御ループは、FE信号を０とするように
動作するので、常にジャストフォーカス（すなわち、第
７図Ａの点α）が保たれる。
信号を取り込み、FE信号が立ち下がったか否かを判定す
る。立ち下がっていなければ（例えば、第７図Ａの点α
であれば）、ステップS4に戻り、同様の動作を繰返す。
FE信号が立ち下がると（例えば、第７図Ａの点γであれ
ば）、ステップS6からS7へと進み、スイッチ20をフォー
カスエラー検出回路32の側へ切り換える。これによっ
て、コイル28、フォーカスエラー検出回路32、位相補償
ドライブアンプ24、駆動回路26からなる制御ループが形
成される。この制御ループは、FE信号を０とするように
動作するので、常にジャストフォーカス（すなわち、第
７図Ａの点α）が保たれる。
CPU30は、この制御ループ内のいずれかの信号を見
て、ロックが成功したか否かを判断する。この実施例に
おいては、FE信号を見て、ロックの成否を判断してい
る。ロックが成功していれば、フォーカスの引き込みを
完了し、制御ループによる合焦操作を続ける。このよう
にして、合焦操作が行われる。
て、ロックが成功したか否かを判断する。この実施例に
おいては、FE信号を見て、ロックの成否を判断してい
る。ロックが成功していれば、フォーカスの引き込みを
完了し、制御ループによる合焦操作を続ける。このよう
にして、合焦操作が行われる。
次に、第８図Ａに示すように、ノイズＸがFE信号に乗
った場合の動作を説明する。この場合には、Ｘ点におい
て、スイッチ20が切り換えられ、制御ループが形成され
る。このため、ロックは成功せず、ステップS15におい
てスイッチ20が三角波発振回路側に切り換えられる。そ
して、ステップS9に進み、再び、ステップS4,S5,S6のル
ープを繰り返す。これにより、点γにおいて、スイッチ
20がフォーカスエラー検出回路32側に切り換えられ、正
しい制御ループが形成される。
った場合の動作を説明する。この場合には、Ｘ点におい
て、スイッチ20が切り換えられ、制御ループが形成され
る。このため、ロックは成功せず、ステップS15におい
てスイッチ20が三角波発振回路側に切り換えられる。そ
して、ステップS9に進み、再び、ステップS4,S5,S6のル
ープを繰り返す。これにより、点γにおいて、スイッチ
20がフォーカスエラー検出回路32側に切り換えられ、正
しい制御ループが形成される。
なお、ディスク面の汚れ等によりノイズが大きくて、
制御ループがうまく動作しない場合には、ステップS9か
らステップS10へ行く。ここで、RFフラグがセットされ
ていれば、ステップS11へ行く。ステップS11では、何回
三角波を立上げたかを計数している。今は、１回目であ
るから、ステップS13に進み、三角波を立ちさげる。立
ち下げが終了すると、ステップS1に戻って、同様の動作
を繰り返す。２回目、３回目の三角波の立上げによって
ロックが成功する事もあるので、このような繰り返しは
有効である。しかし、３回繰り返しても、ロックが成功
しない場合には、ステップS11からステップS12へ分岐
し、ディスク不良であると判断する。
制御ループがうまく動作しない場合には、ステップS9か
らステップS10へ行く。ここで、RFフラグがセットされ
ていれば、ステップS11へ行く。ステップS11では、何回
三角波を立上げたかを計数している。今は、１回目であ
るから、ステップS13に進み、三角波を立ちさげる。立
ち下げが終了すると、ステップS1に戻って、同様の動作
を繰り返す。２回目、３回目の三角波の立上げによって
ロックが成功する事もあるので、このような繰り返しは
有効である。しかし、３回繰り返しても、ロックが成功
しない場合には、ステップS11からステップS12へ分岐
し、ディスク不良であると判断する。
次に、ディスクが入っていない場合の動作を説明す
る。この場合には、第９図Ｂに示すように、RF信号が立
ち上がらないので、RFフラグが０であるままステップS9
を抜ける。したがって、ステップS10において、直ちに
ステップS12へ進み、ディスク不良（この場合、ディス
ク無し）であると判断する。すなわち、三角波を１回立
ち上げるだけでディスク不良を判定できる。
る。この場合には、第９図Ｂに示すように、RF信号が立
ち上がらないので、RFフラグが０であるままステップS9
を抜ける。したがって、ステップS10において、直ちに
ステップS12へ進み、ディスク不良（この場合、ディス
ク無し）であると判断する。すなわち、三角波を１回立
ち上げるだけでディスク不良を判定できる。
また、ディスクが裏返しであった場合も同様である。
この場合にも、第10図Ｂに示すように、RF信号が立ち上
がらないので、RFフラグが０であるままステップS9を抜
ける。したがって、上記同様、三角波を１回立ち上げる
だけでディスク不良を判定できる。
この場合にも、第10図Ｂに示すように、RF信号が立ち上
がらないので、RFフラグが０であるままステップS9を抜
ける。したがって、上記同様、三角波を１回立ち上げる
だけでディスク不良を判定できる。
上記実施例では、連続変化信号として三角波を用いた
が、連続的に変化する信号（ステップ状の変化であっ
て、ステップ幅の小さいものも含む）であればどのよう
なものでもよい。例えば、SIN波等を用いることもでき
る。
が、連続的に変化する信号（ステップ状の変化であっ
て、ステップ幅の小さいものも含む）であればどのよう
なものでもよい。例えば、SIN波等を用いることもでき
る。
また、上記実施例では、対物レンズ６を移動して、焦
点位置を動かしているが、発光手段42やディスク２を移
動するようにしてもよい。
点位置を動かしているが、発光手段42やディスク２を移
動するようにしてもよい。
さらに、非点収差を用いたフォーカスエラー検出回路
32を使用したが、フーコー法、臨界角法を用いたもので
もよい。
32を使用したが、フーコー法、臨界角法を用いたもので
もよい。
なお、上記実施例ではCPU30を用いてソフトウエアに
より第１図の機能を実現したが、その一部または全部を
ハードロジックのみによって構成してもよい。
より第１図の機能を実現したが、その一部または全部を
ハードロジックのみによって構成してもよい。
［発明の効果］ 請求項１にかかる合焦装置においては、判断制御手段
は、連続変化信号出力中に、前記制御ループを形成する
か否かを決定する反射光強度が前記しきい値を越えない
場合には、前記制御ループ形成処理を行わずに、ディス
ク状態不良と判断する。したがって、前記制御ループを
形成するか否かを決定する反射光強度に基づいてディス
ク状態不良を迅速に判断することができる。
は、連続変化信号出力中に、前記制御ループを形成する
か否かを決定する反射光強度が前記しきい値を越えない
場合には、前記制御ループ形成処理を行わずに、ディス
ク状態不良と判断する。したがって、前記制御ループを
形成するか否かを決定する反射光強度に基づいてディス
ク状態不良を迅速に判断することができる。
請求項２にかかるディスク状態検出を備えた合焦方法
においては、前記合焦処理を行うか否かを決定する反射
光強度が前記しきい値を越えない場合には、前記合焦処
理を行わずに、前記光ディスクが不良または光ディスク
が未挿入である旨を検出する。したがって、前記合焦処
理を行うか否かを決定する反射光強度に基づいて、光デ
ィスクが不良または光ディスクが未挿入である旨を迅速
に検出することができる。
においては、前記合焦処理を行うか否かを決定する反射
光強度が前記しきい値を越えない場合には、前記合焦処
理を行わずに、前記光ディスクが不良または光ディスク
が未挿入である旨を検出する。したがって、前記合焦処
理を行うか否かを決定する反射光強度に基づいて、光デ
ィスクが不良または光ディスクが未挿入である旨を迅速
に検出することができる。
第１図はこの発明に係る合焦装置の全体構成を示す図、 第２図は一実施例によるハードウエア構成を示す図、 第３図はROM34に格納されたプログラムのフローチャー
トを示す図、 第４図は光ピックアップ部分を示す斜視図、 第５図は４分割フォトダイオードの受光位置を示す図、 第６図（ＡないしＣ）はフォーカスエラー検出回路32の
詳細を示す図、 第７図A,Bは正常なディスクを入れた場合のFE信号とRF
信号の変化を示す図、 第８図A,BはFE信号にノイズが乗った状態を示す図、 第９図A,Bはディスクが入っていない場合のFE信号とRF
信号の変化を示す図、 第10図A,Bはディスクが裏返しの場合のRF信号とRF信号
の変化を示す図である。 ２……光ディスク 20……切換手段 22……連続変化信号出力手段 42……発光手段 60……誤差情報検出手段 62……反射光情報検出手段 64……レベル判別手段 66……判断制御手段 68……ロック成否判別手段
トを示す図、 第４図は光ピックアップ部分を示す斜視図、 第５図は４分割フォトダイオードの受光位置を示す図、 第６図（ＡないしＣ）はフォーカスエラー検出回路32の
詳細を示す図、 第７図A,Bは正常なディスクを入れた場合のFE信号とRF
信号の変化を示す図、 第８図A,BはFE信号にノイズが乗った状態を示す図、 第９図A,Bはディスクが入っていない場合のFE信号とRF
信号の変化を示す図、 第10図A,Bはディスクが裏返しの場合のRF信号とRF信号
の変化を示す図である。 ２……光ディスク 20……切換手段 22……連続変化信号出力手段 42……発光手段 60……誤差情報検出手段 62……反射光情報検出手段 64……レベル判別手段 66……判断制御手段 68……ロック成否判別手段
Claims (2)
- 【請求項１】光ディスクに向けて光を照射する発光手
段、 入力された信号に基づいて、発光手段から照射された光
の焦点位置を移動させる焦点位置移動手段、 光ディスクから反射された光を受けて、該反射光の強度
を表わす反射光情報を出力する反射光情報検出手段、 反射光情報を受けて、反射光の強度を所定のしきい値に
よりレベル判別し、レベル判別情報を出力するレベル判
別手段、 光ディスクから反射された光を受けて、焦点ずれを表わ
す誤差情報を出力する誤差情報検出手段、 連続変化信号を出力する連続変化信号出力手段、 誤差情報と連続変化信号とを入力し、何れか一方を焦点
位置移動手段に与える切換手段、 焦点位置移動手段、誤差情報検出手段、切換手段によっ
て構成される制御ループの状態を見て、該制御ループが
的確にロックされたか否かを判別し、成否判別情報を出
力するロック成否判別手段、 レベル判別情報、ロック成否判別情報および誤差情報を
受けて、以下のｉ）からiv）の処理を行う判断制御手
段、 ｉ）連続変化信号出力手段および切換手段を制御して、
焦点位置移動手段に連続変化信号を与え、当該連続変化
信号出力中にレベル判別情報を見て、反射光強度がしき
い値を越えたか否かを判別し ii）当該連続変化信号出力中に反射光強度がしきい値を
越えれば、誤差情報に基づいて切換手段を制御して、誤
差情報検出手段から出力された誤差情報が焦点位置移動
手段に与えられるように制御ループを形成し、 iii）ロック成否判別情報を見て、該制御ループのロッ
クが的確に行われていれば、合焦完了と判断し、 iv）ロックが的確に行われていなければ、合焦できずと
判断し、上記ｉ）に戻って再び同じ操作を繰り返し、所
定回数繰り返しても合焦できない場合には、合焦失敗と
判断を下す、 を備えた合焦装置において、 前記判断制御手段は、連続変化信号出力中に、前記制御
ループを形成するか否かを決定する反射光強度が前記し
きい値を越えない場合には、前記制御ループ形成処理を
行わずに、ディスク状態不良と判断すること、 を特徴とする合焦装置。 - 【請求項２】焦点位置を移動させながら光ディスクに向
けて照射光を照射し、前記光ディスクにて反射された反
射光を検出して、前記反射光の強度が所定のしきい値を
越える場合には、焦点ずれを示す誤差情報を検出して、
光ディスク上に焦点位置が合うように合焦処理を行う合
焦方法であって、 前記合焦処理を行うか否かを決定する反射光強度が前記
しきい値を越えない場合には、前記合焦処理を行わず
に、前記光ディスクが不良または光ディスクが未挿入で
ある旨を検出すること、 を特徴とするディスク状態検出を備えた合焦方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1148167A JP2806559B2 (ja) | 1989-06-09 | 1989-06-09 | 合焦装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1148167A JP2806559B2 (ja) | 1989-06-09 | 1989-06-09 | 合焦装置および方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0312825A JPH0312825A (ja) | 1991-01-21 |
| JP2806559B2 true JP2806559B2 (ja) | 1998-09-30 |
Family
ID=15446748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1148167A Expired - Lifetime JP2806559B2 (ja) | 1989-06-09 | 1989-06-09 | 合焦装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2806559B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20040024014A (ko) * | 2002-09-12 | 2004-03-20 | 엘지전자 주식회사 | 고밀도 광디스크와 그에 따른 구동방법 |
| KR100944992B1 (ko) * | 2003-06-03 | 2010-03-05 | 엘지전자 주식회사 | 정보 영역의 두께와 클램핑 영역의 두께가 서로 다르게형성된 고밀도 광디스크와, 그에 따른 광디스크 장치 |
| JP4722203B2 (ja) * | 2009-07-06 | 2011-07-13 | 沖電気工業株式会社 | 媒体カセット |
| JP2011198454A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-10-06 | J&K Car Electronics Corp | ディスク判別装置、方法及びプログラム |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61289534A (ja) * | 1985-06-14 | 1986-12-19 | Toshiba Corp | 光学式記録再生装置におけるドロツプアウト表示装置 |
| JPH0528571Y2 (ja) * | 1987-01-16 | 1993-07-22 | ||
| JPS63255828A (ja) * | 1987-04-10 | 1988-10-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
| JPS643823A (en) * | 1987-06-25 | 1989-01-09 | Hitachi Ltd | Automatic focus control system for optical disk device |
-
1989
- 1989-06-09 JP JP1148167A patent/JP2806559B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0312825A (ja) | 1991-01-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR880002326B1 (ko) | 디스크 재생장치 | |
| EP0539019A1 (en) | Focusing servo apparatus for an optical disc | |
| JPS5821334B2 (ja) | 自動焦点調節装置 | |
| US6411577B1 (en) | Method and apparatus for discrimination between optical discs of different types | |
| JPWO2003063149A1 (ja) | 光ディスク装置及び光ディスク判別方法 | |
| JPH0312825A (ja) | 合焦装置および方法 | |
| JP3765348B2 (ja) | レーザ光投光装置 | |
| JP2001243640A (ja) | トラックジャンプ方法およびトラックジャンプ方法を実施するトラッキング閉ループ制御回路 | |
| EP0546245A1 (en) | Laser diode drive control apparatus | |
| US6215741B1 (en) | Optical recording device having a defect detection system | |
| JP2010250901A (ja) | 光ディスク装置及び多層ディスクに対するフォーカスジャンプ方法 | |
| EP1700299A1 (en) | Optical pick-up unit | |
| US6333818B1 (en) | Optical pickup device | |
| EP1079374A2 (en) | Apparatus for recording/reproducing signal on/from optical disk | |
| JP3545909B2 (ja) | 光ディスク再生装置 | |
| JPH0883432A (ja) | 光ディスク再生装置 | |
| JPH11176072A (ja) | 光ディスク種別判別方法及び光ディスクドライブ装置 | |
| KR970002828B1 (ko) | 광 디스크 구동장치의 초기 포커스 제어장치 및 방법 | |
| JP2580593B2 (ja) | トラツキングエラ−信号検出装置 | |
| KR100251459B1 (ko) | 포커스오프셋 보정장치 | |
| JPH05500578A (ja) | データトラックを計数するための方法及び装置 | |
| JP3091279B2 (ja) | マルチビームオートフォーカス制御装置 | |
| KR100200344B1 (ko) | 광학 시스템에서의 포커스 풀-인 방법 | |
| KR100230236B1 (ko) | 광 디스크의 포커싱 서보 장치 | |
| CN100373473C (zh) | 光盘控制装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090724 Year of fee payment: 11 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |