JP2885708B2 - 樹脂封止用金型および半導体装置の製造方法 - Google Patents

樹脂封止用金型および半導体装置の製造方法

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JP2885708B2
JP2885708B2 JP20065496A JP20065496A JP2885708B2 JP 2885708 B2 JP2885708 B2 JP 2885708B2 JP 20065496 A JP20065496 A JP 20065496A JP 20065496 A JP20065496 A JP 20065496A JP 2885708 B2 JP2885708 B2 JP 2885708B2
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mold
resin
lead
cut
semiconductor device
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伸之 森
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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、樹脂封止半導体装
置に用いる樹脂封止金型およびこれを用いた半導体装置
の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の樹脂封止半導体装置における樹脂
封止方法は、半導体装置を搭載したリードフレームの吊
りピンや各リードを、上下の封入金型で挟んでクランプ
し、そのキャビティ部に樹脂の流し込んで硬化させると
いう方法であった。また、そのリードフレームのリード
カット方法は、樹脂封止工程の後に、リードフレームの
リードカットしたい個所を上下金型でクランプし固定し
てからカット用パンチにより所定切断部分をカットして
いた。
【0003】例えば、この種の樹脂封止金型として、図
3の断面図および模式的平面図に示されるものがある。
すなわち、図3(a)のように、モールド上金型4と、
モールド下金型5とで半導体チップを搭載したリードフ
レームの吊りピン2の部分を挟み、その間のキャビティ
10に樹脂が注入されて樹脂封止半導体装置がつくられ
る。この金型は、図3(b)のように、キャビティ10
部分がモールト個所11となり、吊りピン部12および
リードフレームのリード部13からリードが取り出され
る。
【0004】この樹脂封止半導体装置は、モールドされ
た後は、図4(a)のように、モールド部1に吊りピン
2がつながった状態にあるので、吊りピン2の根元を吊
りピンカットパット7と吊りピンカットダイ8とで挟ん
で吊りピンカットパンチ9により、図4(b)のように
その先端部が切断される。
【0005】なお、特開平5―326591号公報(以
下公知例という)に示すように、吊りピン固定クランプ
として台形の固定突起があり、このような金型によりリ
ードフレームクランプが吊りピンを固定して、アイラン
ド部が樹脂の影響を受けにくくなり、ステーシフトを防
止する技術がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した樹脂封止金型
では、モールドされた樹脂封止半導体装置の吊りピンを
カットする時、そのモールド欠けを防止することができ
ない。すなわち、近年では樹脂封止半導体装置はその厚
さが薄くなり、またリードの厚さが厚くなり、さらにリ
ードのカット個所が樹脂モールド部1の根元に近くなる
ようになっているので、リードのカット時にリードクラ
ンプによるリード固定が充分になされなくなり、そのカ
ット時にカット部分のリードが変形したり、その変形応
力により樹脂部に直接的ストレスを与えたり、さらにそ
の樹脂部が欠損してしまうような問題がある。また、そ
のために樹脂封止半導体装置のパッケージが規格不良と
なったり、さらにリードと樹脂界面との剥離を生じた
り、水分が入り込んだりして信頼性を低下させるという
問題がある。
【0007】また前述の公知例でも、吊りピンをよりよ
く固定してステーシフトを防止することができるかもし
れないが、吊りピンのカット時に、モールド樹脂部の欠
損を防止することはできない。
【0008】本発明の目的は、樹脂封止した後の加工時
にモールド部の欠損をなくし、パッケージの規格を確保
し、信頼性を高めた樹脂封止金型およびこれを用いた半
導体装置の製造方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の構成は、半導体
チップを載置したリードフレームのリードを上金型と下
金型とにより挟んでその間に樹脂封入を行う樹脂封止用
金型において、前記リードフレームが吊りピンリードを
有し、この吊りピンリードを前記上金型および下金型で
挟んだ時に、前記上金型および下金型の吊りピンリード
の切断部にこれら吊りピンリードを押圧する突起部を
記上金型および下金型の対応個所にそれぞれ設け、前記
突起部は少なくとも一方の突起先端が鋭利になっている
ことを特徴とする。
【0010】また本発明の半導体装置の製造方法の構成
は、前記樹脂封止用金型を用いて、上金型および下金型
により半導体チップを載置したリードフレームの吊りピ
ンリードを挟み、この吊りピンリードの切断部に前記上
金型および下金型の両突起を押圧してこの切断部の両面
凹部を形成し、前記上金型および下金型の間(キャビ
ティ)に樹脂を注入した後、前記凹部の形成された吊り
ピンリードの切断部を押圧して切断し樹脂封止半導体装
置を形成することを特徴とする。
【0011】本発明の構成によれば、半導体装置の樹脂
封入時に、その吊りピン部に凹部を形成することができ
るので、吊りピンのカット時にその樹脂部のモールド欠
損を防止することが出来、信頼性の高い半導体装置を得
ることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下本発明について図面を参照し
て説明する。図1は本発明の樹脂封止用金型の一実施の
形態を示す断面図およびその模式的平面図である。本実
施形態は、従来例の金型の構成に吊りピン切断用の突起
部6を設けたものである。すなわち、図1(a)のよう
に、吊りピン2のあるリードフレームに半導体チップ
(素子)を搭載し、このチップとリードフレームとをワ
イアで結線した半製品を樹脂封止する際、モールド下金
型5の上にリードフレームを置いてモールド上金型4で
挟み込み、これら金型の間のキャビティ10に樹脂を流
し込む。図1(b)のように、キャビティ10がモール
ド個所11となり、リードフレームリード部13や吊り
ピン部12にリードフレームのリードリや吊りピン2が
くるが、吊りピン部12のモールト樹脂の根元に相当す
る部分に突起6の当る切断部14があることになる。
【0013】この樹脂封止用金型を用いて半導体装置を
製造する場合は、図2の断面図に示される。モールド上
金型4とモールド下金型5とでリードフレームを挟んだ
時、図2(a)のように、リードフレームの吊りピン2
が、両金型の突起6に挟まれた圧力で凹部を形成するこ
とになる。すなわち、後工程の吊りピンカット工程で
は、吊りピン2が吊りピンカットパット7と吊りピンカ
ットダイ8とで固定され、図2(b)のように、吊りピ
ンカットパンチ9で吊りピン2の凹部個所をカットす
る。
【0014】なお、上下金型4,5に設けた吊りピン切
断用の突起部6は、一方でもその先端が鋭利になってい
ると、吊りピン2の切断を容易にすることができる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、吊
りピンカット時に半導体装置のリードフレームの吊りピ
ン切断個所に金型の突起により凹部が形成されているた
め、カット時に吊りピンにかかる応力を少なくして切断
できるので、吊りピンカット時に半導体装置の樹脂部の
モールド欠けを防止し、信頼性の高い半導体装置を得る
ことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の樹脂封止金型の実施の形態を示す断面
図および平面図である。
【図2】本発明の半導体装置の製造方法の実施の形態を
説明する断面図である。
【図3】従来例の樹脂封止金型を示す断面図および平面
図である。
【図4】従来例の半導体装置の製造方法を説明する断面
図である。
【符号の説明】
1 モールド部 2 吊りピン 3 リードフレームリード 4 モールド上金型 5 モールド下金型 6 突起部 7 吊りピンカットパット 8 吊りピンカットダイ 9 吊りピンカットパンチ 10 キャビティ 11 モールド個所 12 吊りピン部 13 リードフレームリード部 14 切断部
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/56 H01L 23/28 - 23/30 B29C 45/02 B29C 45/14 B29C 45/26

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップを載置したリードフレーム
    のリードを上金型と下金型とにより挟んでその間に樹脂
    封入を行う樹脂封止用金型において、前記リードフレー
    ムが吊りピンリードを有し、この吊りピンリードを前記
    上金型および下金型で挟んだ時に、前記上金型および下
    金型の吊りピンリードの切断部にこれら吊りピンリード
    を押圧する突起部を前記上金型および下金型の対応個所
    それぞれ設け、前記突起部は少なくとも一方の突起先
    端が鋭利になっていることを特徴とする樹脂封止用金
    型。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の樹脂封止用金型を用いて
    上金型および下金型により半導体チップを載置したリー
    ドフレームの吊りピンリードを挟み、この吊りピンリー
    ドの切断部に前記上金型および下金型の両突起を押圧し
    この切断部の両面に凹部を形成し、前記上金型および
    下金型の間に樹脂を注入した後、前記凹部の形成された
    吊りピンリードの切断部を押圧して切断し樹脂封止半導
    体装置を形成することを特徴とする半導体装置の製造方
    法。
JP20065496A 1996-07-30 1996-07-30 樹脂封止用金型および半導体装置の製造方法 Expired - Lifetime JP2885708B2 (ja)

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JPH1050744A JPH1050744A (ja) 1998-02-20
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