JP2937627B2 - Icの製造方法 - Google Patents

Icの製造方法

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JP2937627B2
JP2937627B2 JP4152926A JP15292692A JP2937627B2 JP 2937627 B2 JP2937627 B2 JP 2937627B2 JP 4152926 A JP4152926 A JP 4152926A JP 15292692 A JP15292692 A JP 15292692A JP 2937627 B2 JP2937627 B2 JP 2937627B2
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剛 仁藤
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NEC Yamagata Ltd
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NEC Yamagata Ltd
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、SOP(Smale Outlin
e Package )タイプICの製造方法に関し、特にモール
ド部分の寸法において、外部引き出しリードの引き出し
方向と直角方向寸法であるモールド長が、外部引き出し
リードの引き出し方向と同方向の寸法であるモールド幅
よりも短い形状のSOPタイプICの製造方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来のSOPタイプIC(以下、単にI
Cと記す)の製造方法は、先ず、IC素子をリードフレ
ームにダイボンディングし、かつ個々のIC素子を樹脂
でモールドした後、リードフレームから一個ずつのIC
に切り離して、IC個片の状態で組み立てを行ってい
る。リードフレームから一個ずつのICを切り離した後
は、それ以降の工程で個片状態のICを搬送する必要が
あるが、その搬送はICのモールド幅方向の断面形状を
ガイドするレールを利用している場合が多い。例えば、
IC特性の測定装置における測定部位へのICの供給及
び測定部位からのICを排出搬送する為のレールがあ
る。又、多数個の個片状態のICを収納するチューブの
場合は、チューブの内形そのものがレールとなって、I
Cのチューブへの収納及びチューブからの排出がなされ
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】高密度実装タイプのI
Cの形状は、外部引き出しリードのピッチを狭くした
り、外部引き出しリードそのものの幅を細くした分だ
け、外部引き出しリードを引き出しているモールド側面
の長さが短くなることから、同本数の外部引き出しリー
ドを有する高密度化前のICに比較してモールド長が短
くなる。その為、特に小数本の外部引き出しリードを有
する高密度タイプのICの場合は、モールド長がモール
ド幅より短くなり、横長の形状となる場合がある。横長
のICの組み立ては、リードフレーム状態で組み立てを
行う工程では問題にならないが、リードフレームから一
個ずつのICに切り離した後の組み立て工程において問
題を生ずる。即ち、モールド幅方向の断面形状をガイド
するレールで個片状態のICを搬送しようとすると、横
長の形状のICにおいては、ICがレールのガイド方向
に対して斜めになった場合、方向修正の自助性が小さい
為、レール上でICが引っ掛かり易くなりICのレール
搬送が困難になるという問題があった。
【0004】この問題について、図面を参照して説明す
る。図4には、8本の外部引き出しリードを持つ横長の
形状のIC1が、レールガイド方向に対し斜めになっ
て、レール5,5の途中に引っ掛かった状態の概略図を
示す。又、図5には、モールド長がモールド幅より長い
縦長の形状のIC2の同様な状態の概略図を示す。これ
らの図を比較して判るように、レール5,5のガイド幅
3は、モールド幅4より若干広い寸法にしてあるが、I
Cが斜めになってガイド5,5に接触しても、レールの
ガイド方向とモールド長方向の角度に違いが生ずる。縦
長のIC2においてはその角度6が小さい為、方向修正
の自助性が大きく、レール内のIC搬送が容易である。
一方、横長のIC1においては、その角度7が大きいこ
とから方向修正の自助性が小さく、レール内のIC搬送
が困難である。本発明の目的は、幅方向の寸法が長さ方
向よりも大きなICのレール搬送を容易にしたICの製
造方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、長方形をした
封止樹脂の短辺側にリードを有するICの製造方法にお
いて、リードフレームに搭載されたIC素子を長方形状
に樹脂封止し、その短辺側にリードを有しかつその長辺
側が互いに対向配置された複数の長方形状の封止樹脂を
形成するとともに、前記複数の封止樹脂をリードがない
前記長辺側で連結し、連結された複数の封止樹脂の前記
リードを有する短辺側の全体の長さが前記リードのない
長辺側より長くなるよう連結する連結部を形成する工程
と、前記リードフレームから前記連結部で連結された複
数の封止樹脂を含むICを切り離す工程と、前記連結さ
れたICをリードが形成された辺に沿ってレールで搬送
した後、前記連結部を切断する工程を有することを特徴
とする。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の第1実施例を示しており、(a)〜
(c)はそれぞれ平面図,側面図、正面図である。ここ
では8本の外部引き出しリード14を持つ二個のIC1
1,12は、リード14を突出させた長さ方向の寸法よ
りも、これと直角な幅方向の寸法が大きな樹脂モールド
形状とされているが、各IC12,13はその幅方向の
側面一部において樹脂モールドと同じ樹脂で形成した連
結部13で長さ方向に連結させて一体化させている。
【0007】この状態で、リードフレームから切り離し
た後の組み立てを行う。例としては、レール搬送を利用
して測定部位にICを供給したり測定部位からICを排
出したりして行うIC特性の測定や、又組み立て工程間
で使用されるIC収納チューブへの収納及びチューブか
らの排出も、この状態で行う。そして、ICを出荷包装
状態にする前に、連結部13を切断してIC11,12
を切り離し、最終的に1個ずつのICにする。最終的な
IC形状を図2の平面図に示す。
【0008】連結部13を切断する方法としては、金型
による連結部13の抜き落とし加工などが上げられる。
又、連結部13の形状はリードフレームの設計と樹脂封
止金型の設計によって決まることから、最適な形状を選
択することが可能である。連結部13の形状を決める際
の考慮すべき事項としては、連結した状態における全体
の剛性や連結部13から各々のICに分離する際の加工
のし易さなどが上げられる。
【0009】図3は本発明の第2実施例の平面図であ
り、ここでは8本の外部引き出しリード14を持つ3個
のIC15,16,17を樹脂モールドと同じ樹脂から
なる連結部18で連結させてリードフレームから切り離
した状態の平面図である。同側面図及び同底面図は省略
する。リードフレームから切り離した以降の組み立て及
び最終的に1個ずつのICにすることについては第1実
施例と同様である。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、リードフ
レームに搭載されたIC素子を長方形状に樹脂封止し、
その短辺側にリードを有しかつその長辺側が互いに対向
配置された複数の長方形状の封止樹脂を形成するととも
に、前記複数の封止樹脂をリードがない前記長辺側で連
結し、連結された複数の封止樹脂の前記リードを有する
短辺側の全体の長さが前記リードのない長辺側より長く
なるよう連結する連結部を形成する工程と、前記リード
フレームから前記連結部で連結された複数の封止樹脂を
含むICを切り離しているため、連結した状態における
全体形状は、封止樹脂の短辺側の寸法が長辺側の寸法よ
りも大きくなる。これにより、前記封止樹脂の短辺側を
ガイドするレールを用いて前記複数個連結させたICを
搬送する際に、縦長形状のICと同様となり、レール搬
送が容易になり、リードフレームから切り離した以降の
組み立てが縦長のICの場合の搬送方法をそのまま使用
することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示し、(a)〜(c)は
それぞれ平面図、側面図、正面図である。
【図2】図1のICを切断した状態の平面図である。
【図3】本発明の第2実施例の平面図である。
【図4】従来の横長のICのレール搬送状態を示す平面
図である。
【図5】従来の縦長のICのレール搬送状態を示す平面
図である。
【符号の説明】
11,12 IC 13 連結部 14 リード 15〜17 IC 18 連結部

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 長方形をした封止樹脂の短辺側にリード
    を有するICの製造方法において、リードフレームに搭
    載されたIC素子を長方形状に樹脂封止し、その短辺側
    にリードを有しかつその長辺側が互いに対向配置された
    複数の長方形状の封止樹脂を形成するとともに、前記複
    数の封止樹脂をリードがない前記長辺側で連結し、連結
    された複数の封止樹脂の前記リードを有する短辺側の全
    体の長さが前記リードのない長辺側より長くなるよう連
    結する連結部を形成する工程と、前記リードフレームか
    ら前記連結部で連結された複数の封止樹脂を含むICを
    切り離す工程と、前記連結されたICをリードが形成さ
    れた辺に沿ってレールで搬送した後、前記連結部を切断
    する工程を有することを特徴とするICの製造方法。
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JPH05326586A JPH05326586A (ja) 1993-12-10
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5368974A (en) * 1976-12-01 1978-06-19 Mitsubishi Electric Corp Production of resin seal type semiconductor device
JP2682113B2 (ja) * 1989-03-09 1997-11-26 富士通株式会社 Icの帯電防止機構

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JPH05326586A (ja) 1993-12-10

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