JP3022476B2 - 接着強度が測定できるリード保護テープ及びリードフレーム - Google Patents

接着強度が測定できるリード保護テープ及びリードフレーム

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JP3022476B2
JP3022476B2 JP10097491A JP9749198A JP3022476B2 JP 3022476 B2 JP3022476 B2 JP 3022476B2 JP 10097491 A JP10097491 A JP 10097491A JP 9749198 A JP9749198 A JP 9749198A JP 3022476 B2 JP3022476 B2 JP 3022476B2
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佳暁 瀬羅
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置のリー
ドフレームに設けられているリードを固定するためのリ
ード保護テープ及び該リード保護テープを有するリード
フレームに関し、特に、接着強度測定用のダミーテープ
が設けられているリード保護テープ及び該リード保護テ
ープを有するリードフレームに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、リードが長い製品、特に、リード
幅が小さいファインピッチのフラットパッケージは、軽
微な衝撃でリードが曲がったり、選別等の工程でリード
が“ばらけ”てしまうことがあった。そのためリードの
“ばらけ”を防ぐためにリードを固定するためのテー
プ、即ち、リード保護テープを使用し、熱圧着等により
固定していた。
【0003】しかしながら、リード保護テープのリード
への接着強度(以下、「テープ接着強度」という。)は
必ずしも一様ではなく、その接着強度について測定する
ことが必要であった。通常は、そのようなテープ接着強
度の測定は、テープ接着強度測定専用パッケージを用い
て測定するという手法が取られていた。しかし、この手
法では製品とは異なるパッケージを使用するのでロット
を完全に代表しているとは言えないという問題があっ
た。また、実際のパッケージを使用しようとしても、フ
ァインピッチケースでは現実的ではないという問題もあ
った。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明は、上
記の問題点に鑑みてなされたものであって、その目的の
一つは、完全にランダムサンプリングでき、また、テー
プ接着強度を測定したいときにいつでも測定できるリー
ド保護テープ及び該リード保護テープを有するリードフ
レームを提供することである。本発明の他の目的は、テ
ープ接着強度の測定が容易なリード保護テープ及び該リ
ード保護テープを有するリードフレームを提供すること
である。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、a.テー
プ接着強度の測定が容易、b.強度測定用専用治具が不
要、C.測定したい時に抜き取り測定が可能、という観
点からリード保護テープ、リードフレームの構成につい
て検討し、本発明を完成したものである。即ち、本発明
に係るリード保護テープは、「リードフレームに設けら
れているリードを固定するためのリード保護テープにお
いて、リード保護テープに少なくとも1個以上の接着強
度測定用のダミーテープを設けたことを特徴とするリー
ド保護テープ。」(請求項1)、を要旨(発明を特定す
る事項)とし、 ・「前記リード保護テープの端部に少なくとも1個以上
の前記接着強度測定用のダミーテープを設けたこと」
(請求項2)、 ・「前記リード保護テープの両端部に少なくとも1個以
上の前記接着強度測定用のダミーテープを設けたこと」
(請求項3)、 ・「前記接着強度測定用のダミーテープが、易切断部を
介して前記リード保護テープの端部に接続されているこ
と」(請求項4)、 ・「前記易切断部が、切れ目又は切り欠きを有するこ
と」(請求項5)、により、ダミーテープをリード保護
テープの端部から容易に分離でき、リード保護テープの
端部から影響を受けることなくテープ接着強度の測定が
できること、を特徴とするものである。
【0006】また、本発明に係るリードフレームは、
「リードを固定するためのリード保護テープが設けられ
ているリードフレームにおいて、少なくとも1個以上の
接着強度測定用のダミーテープを設けたリード保護テー
プを有することを特徴とするリードフレーム。」(請求
項6)、を要旨(発明を特定する事項)とし、 ・「前記接着強度測定用のダミーテープが、リードフレ
ームのコーナー部に配置されていること」(請求項
7)、 ・「前記接着強度測定用のダミーテープが、リードフレ
ームの各コーナー部に1又は2個配置されること」(請
求項8)、により、測定したい時に抜き取り測定が可能
となること、を特徴とするものである。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明は、リードを固定するテー
プであるリード保護テープの接着強度を、完全にランダ
ムサンプリングで、テープ接着強度を測定したい時にい
つでも、容易に測定することが可能なリード保護テー
プ、及びそのリード保護テープを有するリードフレーム
である。即ち、本発明のリード保護テープは、その端部
に、接着強度を測定するためのダミーテープ(以下、単
に「ダミーテープ」という。)を設けたリード保護テー
プ、及びそのリード保護テープを有するリードフレーム
である。
【0008】リード保護テープは、絶縁性のテープで、
ポリイミド等の合成樹脂から作成されており、その厚さ
は、およそ300μmである。リード保護テープには、
端部若しくは端部以外の所に、少なくとも1個のダミー
テープが設けられている。リード保護テープは、好まし
くは、その端部に少なくとも1個のダミーテープが設け
られている。また、リード保護テープは、その両端部に
少なくとも1個のダミーテープが設けられていてもよ
い。
【0009】ダミーテープは、好ましくは、リード保護
テープの端部に設けられるが、易切断部を介して設けら
れることが好ましい。易切断部は、切れ目を入れるか切
断部両端に切り欠きを設けること等により形成される。
【0010】リードフレームは、端部若しくは端部以外
の所に、少なくとも1個以上の接着強度測定用のダミー
テープを設けた、リードを固定するためのリード保護テ
ープを有する。リードフレームは、好ましくは、端部に
少なくとも1個以上の接着強度測定用のダミーテープを
設けた、リードを固定するためのリード保護テープを有
する。リードフレームは、好ましくは、リードの端部に
設けられているダミーテープが接着されるためのダミー
リードをそのコーナー部に有する。ダミーテープが接着
されるダミーリードは、リードフレームの各コーナー部
に1個づつ配置されてもよいが、勿論、ダミーリードが
リードフレームのコーナー部に配置される数は、4個に
限定されるものではなく、1個以上なら何個でも良い。
好ましくは、4個または8個である。ダミーリードは、
テープ接着強度を測るためにリード間がやや広めに設け
られているのが好ましい。勿論、ダミーリードは、リー
ドフレームのコーナー部以外の部分に設けられてもよい
が、リードフレームのコーナー部に設けられるのが好ま
しい。
【0011】リード保護テープに設けられているダミー
テープは、リードフレームに設けられているダミーリー
ドに接着されるが、接着は、リードにリード保護テープ
が接着される場合とまったく同様に、アクリル系接着剤
等により接着される。なお、ダミーテープが接着される
ダミーリードの設けられているコーナー部を含むリード
フレームの外周部は、製品として使用されるときには切
断される。
【0012】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。図1は、リードフレーム1の平面図
を示す図であり、図2は、図1のAの部分の拡大詳細図
であって、本発明のリード保護テープを使用した場合の
接着強度を測定する手段を説明する図である。図2
(a)は、接着強度測定用のダミーテープ4が、リード
保護テープ3から切断される前の状態を示す図であり、
図2(b)は、ダミーテープ4がリード保護テープ3か
ら切断された後の状態を示す図であり、図2(C)は、
ダミーテープ4のリード接着強度を測定するためにダミ
ーテープ4にフック7をかけた状態を示す図である。
【0013】リード保護テープ3は、図1に示されてい
るように、リード2を固定し、両端がリードフレーム1
のコーナー部まで伸びており、その一端にはダミーテー
プ4が1個設けられている。ダミーテープ4は、図2
(a)に示されているように、切れ目の入った易切断部
5を介してリード保護テープ3に接続されている。
【0014】ダミーテープ4は、図2(a)〜(c)に
拡大して示されているように、リード保護テープ3がリ
ード2に接着されると同様の公知の手段で、リードフレ
ーム1のコーナー部に設けられているダミーリード6に
接着されている。ダミーリード6は、テープ接着強度を
測るためにリード間がやや広めに設けられている。
【0015】次に、テープ接着強度測定について、図2
(a) 〜(c) を参照して説明する。 図2(a)に示さ
れているように、易切断部5を介してリード保護テープ
3に接続されているダミーテープ4は、リードフレーム
1のコーナー部に配置されており、そのダミーテープ4
を、リード保護テープ3に接続している易切断部5のと
ころから、図2(b)に示されているように切断する。
切断は、カッター等の切断具を使用して切断する。勿
論、切断部5に切れ目等が設けられていないときも、同
様に、カッター等の切断具を使用して切断する。
【0016】それから、図2(c)に示されているよう
に、コーナー部に設けられているダミーリード6に接着
されている切断後のダミーテープ4に引っ張り強度測定
治具のフック7を掛けて矢印方向に剥がれるまで引っ張
り、接着強度を測定する。
【0017】このようにして、簡単にダミーテープ4の
接着強度を測ることにより、ダミーリード6へのダミー
テープ4の接着と同じように、リード2へ接着している
リード保護テープ3の接着強度を知ることができる。
【0018】
【発明の効果】本発明は、以上詳記したとおり、リード
フレームに設けられているリードを固定するためのリー
ド保護テープに少なくとも1個以上の接着強度測定用の
ダミーテープを設けたことことにより、完全にランダム
サンプリングができ、また、テープ接着強度を測定した
いときにいつでも測定でき、テープ接着強度の測定が容
易になるという優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のリードフレームを示す平面図である。
【図2】図1のAの部分の拡大詳細図であって、本発明
のリード保護テープを使用した場合の接着強度を測定す
る手段を説明する図であり、(a)は、ダミーテープ切
断前の状態を、(b)は、ダミーテープ切断後の状態
を、(c)は、切断後のダミーテープに引っ張り強度測
定治具のフックを掛けた状態を、示す図である。
【符号の説明】
1 リードフレーム 2 リード 3 リード保護テープ 4 ダミーテープ 5 易切断部 6 ダミーリード 7 フック

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リードフレームに設けられているリード
    を固定するためのリード保護テープにおいて、リード保
    護テープに少なくとも1個以上の接着強度測定用のダミ
    ーテープを設けたことを特徴とするリード保護テープ。
  2. 【請求項2】 前記リード保護テープの端部に少なくと
    も1個以上の前記接着強度測定用のダミーテープを設け
    たことを特徴とする請求項1に記載のリード保護テー
    プ。
  3. 【請求項3】前記リード保護テープの両端部に少なくと
    も1個以上の前記接着強度測定用のダミーテープを設け
    たことを特徴とする請求項1に記載のリード保護テー
    プ。
  4. 【請求項4】 前記接着強度測定用のダミーテープが、
    易切断部を介して前記リード保護テープの端部に接続さ
    れていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記
    載のリード保護テープ。
  5. 【請求項5】 前記易切断部が、切れ目又は切り欠きを
    有することを特徴とする請求項4に記載のリード保護テ
    ープ。
  6. 【請求項6】 リードを固定するためのリード保護テー
    プを有するリードフレームにおいて、少なくとも1個以
    上の接着強度測定用のダミーテープを設けたリード保護
    テープを有することを特徴とするリードフレーム。
  7. 【請求項7】 前記接着強度測定用のダミーテープが、
    リードフレームのコーナー部に配置されていることを特
    徴とする請求項6に記載のリードフレーム。
  8. 【請求項8】 前記接着強度測定用のダミーテープが、
    リードフレームの各コーナー部に1又は2個配置されて
    いることを特徴とする請求項6又は請求項7に記載のリ
    ードフレーム。
JP10097491A 1998-04-09 1998-04-09 接着強度が測定できるリード保護テープ及びリードフレーム Expired - Lifetime JP3022476B2 (ja)

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JPH11297922A JPH11297922A (ja) 1999-10-29
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6724065B2 (en) 1998-10-05 2004-04-20 Sharp Kabushiki Kaisha Static random access memory and semiconductor device using MOS transistors having channel region electrically connected with gate

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6724065B2 (en) 1998-10-05 2004-04-20 Sharp Kabushiki Kaisha Static random access memory and semiconductor device using MOS transistors having channel region electrically connected with gate

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