JP3140105B2 - 電磁誘導型検査装置 - Google Patents

電磁誘導型検査装置

Info

Publication number
JP3140105B2
JP3140105B2 JP25559791A JP25559791A JP3140105B2 JP 3140105 B2 JP3140105 B2 JP 3140105B2 JP 25559791 A JP25559791 A JP 25559791A JP 25559791 A JP25559791 A JP 25559791A JP 3140105 B2 JP3140105 B2 JP 3140105B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coil
detection
induction
inspection
excitation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP25559791A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH052082A (ja
Inventor
和彦 八十濱
博明 小濱
博文 高橋
Original Assignee
偕成エンジニア株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 偕成エンジニア株式会社 filed Critical 偕成エンジニア株式会社
Priority to JP25559791A priority Critical patent/JP3140105B2/ja
Priority to KR1019910018697A priority patent/KR920008489A/ko
Priority to TW084208685U priority patent/TW341328U/zh
Publication of JPH052082A publication Critical patent/JPH052082A/ja
Priority to US08/061,504 priority patent/US5432444A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3140105B2 publication Critical patent/JP3140105B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V3/00Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
    • G01V3/08Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices
    • G01V3/10Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Geology (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、電磁誘導の変化によ
って被検査物の異常などを検出するための電磁誘導を利
用した検査装置に関し、特に、食品、薬品錠剤、合成樹
脂製品、工作物などの被検査物を励磁コイルによる磁界
中におき、それによる電磁誘導の変化によって被検査物
に混入した異物などを検出する検査装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】交流磁界中に物体をおくと磁束に変化が
生じ、同じ磁場中におかれたコイルのインダクタンスが
変化する。このインダクタンスは、磁場中の物体の誘電
率、透磁率、大きさ、磁場中の位置などの因子に比例し
て変化する。これらのうちのいくつかの既知の因子を一
定にして、物体を磁場中におくと、他の未知因子を正確
に認識することができる。この原理を利用して検体の同
定、物質の在否を認知するなどの非破壊検査機能をもつ
電磁誘導検査装置が多く提案されている。
【0003】この種の従来の検査装置の典型例を図10
に従って説明すると、交流電流の印加によって磁界を発
生する電磁コイル1をブリッジ回路2の一辺に介在させ
た構成のものがある。この検査装置では、コイル1が定
常状態の場合、交流電源3によって励磁される電磁コイ
ル1とこれに対応する辺のインダクタLはインダクタン
スが等しく、且つ、他の2辺の抵抗R1、R2を同一に
設定して平衡を維持している。つまり、平衡状態におい
てブリッジ回路2の出力点a、bの差動電圧をとる差動
増幅器4からの出力Voutは理論的に零になる。
【0004】ところが、電磁コイル1が形成する磁界
(磁束f)に物体Sが入ると、電磁コイル1の自己誘導
インダクタンスが変化する。結果として、ブリッジ回路
2におけるインダクタLと電磁コイル1の平衡が崩れて
出力点a、bに電位差が生じ、物体Sの誘導係数に応じ
た出力Voutが得られる。これによる出力Voutの変化を予
めデータ化しておけば、物体Sの材質、大きさ、更に
は、磁界中を移動する速度などを認識することが可能と
なる。また、既知の検体に対して、その中に混入する異
物も容易に検出できる。この場合、予め規定した基準物
体をインダクタLに対向させておき、正常な被検査物を
電磁コイル1に接近させた時に基準物体と被検査物とが
平衡な定常状態を呈するように設定されている。
【0005】更に、図11に示すような相互インダクタ
ンスを利用した検査装置も提案されている。この従来装
置は、交流電源5に励磁される励磁コイル(一次コイ
ル)6と、励磁コイル6の磁束を受けて起電力を生じる
一対の検出コイル(2次コイル)7a、7bと差動増幅
器8とからなる。検出コイル7a、7bは逆方向に巻回
されて直列に差動接続され、定常状態において励磁コイ
ル6の磁束fを均等に受けて起電力を相殺する構成にな
っている。つまり、定常状態では検出コイル7a、7b
の出力点a、bの差動電圧(差動増幅器8の出力Vout)
は理論的に零である。
【0006】この検査装置では通常、励起コイル6と検
出コイル7a、7bとの間に検査路9を形成し、ここに
物体Sを通過させる。物体Sが励起コイル6からの磁束
fを切ることで検出コイル7a、7bが受ける磁束鎖交
数が変化し、検出コイル7a、7bの夫々の起電力が非
平衡になり、差動出力Voutが現れる。これにより、物体
Sの材質、大きさ、あるいは、工作物の欠陥などを検出
することができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の装置の構成
からも明らかなように、この種の電磁誘導検査装置で
は、誘導コイルを含む平衡回路における誘導インダクタ
ンスの非平衡状態を差動電圧として検出するので、検出
精度を向上させるためには、検体が磁束を鎖交すること
による起電力の変化を高感度に検出する必要がある。
【0008】ところが、前者の自己インダクタンス型の
検査装置では、自己インダクタンスの変化率(基底イン
ダクタンスに対する変化時のインダクタンスとの差)が
極めて小さく、被検査物が十分に大きい誘電率を持つ
か、あるいは、強磁性体などのように大きな磁場変化を
もたらすものでなければ検出が不可能であった。つま
り、検出感度が極めて低く、被検査物の材質の識別ある
いは非金属の検出などのようにインダクタンス変化率が
小さい検査物には対応できなかった。
【0009】一方、後者の相互インダクタンス型の電磁
誘導型検査装置は、励磁コイル(一次コイル)6と検出
コイル(二次コイル)7a、7bの間に検査路9が存在
し、検出コイル7a、7bの誘導効率は検査路9の大き
さ(励磁コイルから検出コイルまでの距離d)に反比例
するので、励磁コイルと検出コイルの間隔(検査路)を
大きくするのにも限界があった。つまり、検査路9を必
要とするために装置の大型化を伴ないながらも、検査対
象の物体の大きさが制限され、実質的に大型の対象物を
検査することは不可能であった。また、励磁コイル6の
励磁性能を高めて検査路9を広げると分解能が低下し、
微小な変化が検出不能である。
【0010】ほかに、相互インダクタンス型の検査装置
が不可避的に内在する欠点がある。たとえば、図11に
示すように、検査時に検出コイル7aの近傍に検体Sが
存在して検出コイル7aに鎖交する磁束に変化を及ぼす
と検出コイル7aのインダクタンスが変化するが、この
時点で基準インダクタンスとなるべき検出コイル7bの
インダクタンスも多かれ少なかれ変化する。すなわち、
物体Sによって検出コイル7aの起電力を、同時に変化
する検出コイル7bの起電力が打ち消すことになる。こ
の起電力の相殺作用は検体Sのコイルに対する相対位置
によって複雑に変化し、所期の起電力変化量が場合によ
っては無視できないほどの検出誤差をもたらす。
【0011】上述したように、従来の電磁誘導型検査装
置では、検査対象物の大きさが制限され、食品に混入す
る異物あるいは工作物の欠陥等の微小対象物の検出に精
度が劣り、被検査物の材質同定などの微妙な検査には到
底対応できないなどの欠点があった。
【0012】この発明は上記した従来装置の欠点を解消
するためになされたもので、その目的とするところは、
誘電体、磁性体を問わずあらゆる検査対象物を高感度、
高精度で検査、検出できる電磁誘導型検査装置を提供す
ることにある。この発明の他の目的は、食品、薬品錠
剤、合成樹脂製品、工作物などの被検査物の在否のみな
らず、それらの被検査物に含まれる異物乃至欠陥などを
分解能よく検出でき、しかも、被検査物の大きさに関係
なく小型化に対応できる高性能電磁誘導型検査装置を提
供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明による電磁誘導装置は次のような手段を採
用する。
【0014】磁性体と非磁性体を被検査物とし、 a)交流電流を出力する交流電源と、 b)交流電流の印加により励磁して磁場を形成する励磁
コイルと、該励磁コイルの励磁によって電磁誘導して起
電力を発生させる少なくとも一つの誘導コイルとを備
え、該誘導コイルを該励磁コイルの外周面あるいは内周
面に密接に同軸巻回して一体に構成してなる検出コイル
部と、 c)検出コイル部の内部中空孔と一方端に対向する位置
のいずれかに選択可能に設けられる被検査部と、 d)誘導コイルの出力から被検査物による磁場の変化を
検出する検出回路と、からなる検査装置であって、該検
出回路を、該検出コイル部と同一構成のインダクタを該
検出コイル部に直列接続してなる平衡回路と、該平衡回
路からの出力を増幅する増幅器と、該増幅器の出力から
被検査物を判定する判定回路と、で構成してなる。
【0015】
【作用】誘導コイルは励磁コイルの磁場の磁束に鎖交し
て起電力を誘導し、励磁コイルが形成する磁場中に被検
査物をおくことで変化する磁束鎖交数に対応してインダ
クタンスが変化する。検出回路を、検出コイル部と同一
構成のインダクタを備える平衡回路、増幅器、判定回路
で構成し、誘導コイルのインダクタンスの変化を増幅、
判定することで、インダクタンスの変化量を容易に把握
できる。
【0016】誘導コイルを励磁コイルの外周面あるいは
内周面に配設することで、誘導コイルと励磁コイルを同
軸に一体化した検出コイル部が構成される。この際、励
磁コイルの交流磁界による誘導コイルの電磁誘導は、誘
導コイルと励磁コイルを密接に一体化させることで、漏
れ磁束を減らして鎖交率を高め、高い効率で相互インダ
クタンスを起こさせる。また、被検査部として、内部中
空孔と一方端に対向する位置のいずれかを選択可能であ
るため、検査装置における検出部の構成を必要に応じて
小型化でき、しかも被検査物の大きさに制約を与えるこ
ともない。発明の他の目的、特徴は添付図面に基づく以
下の詳しい説明で明らかにする。
【0017】
【実施例】この発明の第1の実施例として図1に概略的
に示す電磁誘導型検査装置は、交流電流を出力する交流
電源11と、被検査物に対向して電磁誘導の変化を形成
する検出コイル部13と、検出コイル部13からの出力
から被検査物の態様を判定する検出回路15とからな
る。
【0018】検出コイル部13は、交流電源11からの
交流電流の印加を受けて励磁し交流磁界(磁束f)を形
成する励磁コイル13aと、励磁コイル13aの外周面
の一方端の一部に密接に同軸巻回され励磁コイル13a
の交流磁界によって電磁誘導して起電力を出力する誘導
コイル13bとからなる。一次側の励磁コイル13aと
二次側の誘導コイル13bが一体になっており、誘導コ
イル13bが励磁コイル13aによる励起磁束fの全て
に鎖交するので、極めて高い効率で誘導コイル13bに
相互インダクタンスが起り、大きい交流起電力が出力さ
れる。そこで、図示のように、励磁コイル13aによる
磁束fを鎖交するように被検査物Sをおくと誘導コイル
13bのインダクタンスに変化がみられる。このインダ
クタンスの変化は被検査物Sの大きさ、材質などの因子
によって異なる。励磁コイル13aによる磁場に被検査
物Sが存在していない定常状態における誘導コイル13
bのインダクタンスと、同上磁場中に被検査物Sが存在
する場合のインダクタンスとの差を判定することで、単
に被検査物Sの在否乃至大きさのみならず、その材質、
更には被検査物Sに混入する異物の存在をも正確に識別
することができる。
【0019】上記検出コイル部13は、図2に示すよう
に、ボビン16に導電性線材を多重巻回して励磁コイル
13aを形成し、励磁コイル13aの外周面にアルミ箔
などの電磁シールド層17と絶縁シート18を層状に巻
きつけ、更に絶縁シート18の外周面に導電性線材を多
重巻回して誘導コイル13bを形成することで構成でき
る。検出コイル部13として使用する際は、ボビン16
を取り除いてもよい。しかしながら、基本的に励磁コイ
ルと誘導コイルよりなる検出コイル部の製作方法、構成
要素は特にこれに限定するものではなく、様々な方法で
製作できることは言うまでもない。
【0020】
【0021】検出回路15は誘導コイル13bの出力Vo
utの変化を識別する機能を有するものである。図3に示
す第1の実施例では、検出回路15を平衡回路22、増
幅器24、判定回路25で構成している。
【0022】平衡回路22では、定常状態における誘導
コイル13bのインダクタンスを実数部Lとして、これ
に直列接続させるインダクタを虚数部−Lとして、平衡
させておく。このインダクタンス−Lを構成する方法
は、図3に示す平衡回路22のように、検出コイル部1
3に略々同一構造の平衡インダクタ部23を検出コイル
部13と直列接続する。すなわち、平衡インダクタ部2
3を、検出コイル部13の励磁コイル13aと同一構成
の励磁コイル23aと、検出コイル部13の誘導コイル
13bと巻回方向以外は同一構成の誘導コイル23bと
で構成する。
【0023】上記検査装置において励磁コイル13a、
23aを共通の交流電源11で励磁して夫々の誘導コイ
ル13b、23bを電磁誘導させると各コイルで等量の
起電力が発生するが、誘導コイル13b、23bの巻回
方向が逆であるため逆符号のインダクタンスとなる。つ
まり、検出コイル部13が定常状態であるかぎり、誘導
コイル13b、23bで発生する起電力は打ち消しあ
い、差動出力は実質的に零となる。ところが、検出コイ
ル部13における励磁コイル13aの磁場中に被検査物
Sを存在させると、誘導コイル13b、23bのインダ
クタンスが非平衡となり差動出力Voutが現れる。これに
より、被検査物の微妙な変化を検出することができる。
この差動出力Voutは、増幅器24に出力される。これに
より判定回路25での判定が容易になる。また、判定回
路25に差動出力の基準を設定しておけば、被検査物の
規格検査を簡単に実行することができる。
【0024】上記した実施例を利用すると、被検査物中
の混入異物、あるいは、工作物内部の欠陥などの微小異
常の検出を容易に行なうことが可能となる。すなわち、
図4に示すように、基準となる製品Srefを平衡インダク
タ部23の磁場中に常設しておき、検出コイル部13の
磁場中に被検査物Sを置く。この時、基準製品Srefと被
検査物Sが同一である定常状態の場合、つまり、被検査
物Sに異物混入などの異常がなければ、誘導コイル13
b、23bが平衡を保つので差動出力Voutが実質的に零
になる。ところが、被検査物Sの内部に異物eが存在す
ると、誘導コイル13b、23bの誘導平衡が崩れ、差
動出力Voutが現れ、これによって、異物eの存在を認識
することができる。言うまでもなく、基準製品Srefと被
検査物Sは夫々、平衡インダクタ部23と検出コイル部
13に対して同じ相対位置におく必要がある。
【0025】また、被検査物Sがたとえば金属工作物で
ある場合は、図5に示すように、平衡インダクタ部23
に基準製品Srefを配置し、検出コイル部13の被検査物
Sを対向配置させることで、被検査物Sのクラックなど
の欠陥cの有無を高分解能をもって確実に検出すること
ができる。被検査物Sが金属であり、検査対象がスポッ
ト溶接部分の欠陥である場合、励磁コイル13aが形成
する磁界によって被検査物Sの全体が磁化するが、欠陥
cで発生する渦電流の影響で誘導コイル13bの相互イ
ンダクタンスが変化する。このように、金属の溶接部分
のクラック、ピンホールなど視認検査で発見しにくい欠
陥でも、効果的に欠陥の程度まで検出することができる
など、各種非破壊検査に威力を発揮する。
【0026】評価実験において、長さ2.0cm、内径
5.2cm、厚さ5mmの合成樹脂性のボビンに導線を30
0回巻回して励磁コイル13a、23aを夫々形成し、
更にその上に導線を300回巻回して誘導コイル13
b、23bを夫々形成して検出コイル部13及び平衡イ
ンダクタ部23を構成し、励磁コイル13a、23aに
周波数0.2〜1kHz 、電圧15Vの交流電流を印加し
た。この場合、励磁コイル13a、23aのインダクタ
ンスは5.8mHであり、誘導コイル13b、23bのそ
れは6.5mHであった。この検査装置で対角距離20mm
のナットを被検査物Sとして検査したところ、深さ0.
1mm、長さ3mmの微小クラックが検出できた。
【0027】上記実施例では、検出コイル部13の一次
側励磁コイル13aの外周面の一方端側の一部に誘導コ
イル13bを巻回させた構成であったが、励磁コイルと
誘導コイルを同軸で一部を接触させて一体化させればど
のような構成を採ってもよい。以下に検出コイル部の改
変例を説明する。
【0028】図6の検出コイル部33は、励磁コイル3
3aの外周面の長さ方向の略中央に誘導コイル33bを
設けている。この構成では励磁コイル33aの両端にお
いて同一の相互インダクタンス特性が得られる可逆性を
備えている。ここでは、被検査物Sを励磁コイル33a
の一端部(図中、上端)に対向配置させているが、円筒
形状の励磁コイル33aの内部中空孔34を検査通路と
して被検査物を通過乃至落下させて、その時のインダク
タンス変化を測定するようにしてもよい。
【0029】図7に示す検出コイル部43では励磁コイ
ル43aの内側に誘導コイル43bを密接状に同軸巻回
して設けている。この構成によれば、誘導コイル43b
が励磁コイル43aに内蔵されるため、検出コイル部の
小型化、ひいては、検査装置全体の小型化が可能とな
る。
【0030】図8は、励磁コイル63aの外周面に対を
なす誘導コイル63bを設けた検出コイル部63であ
る。あるいは、図9に示すように逆方向に巻回して直列
結線した一対の誘導コイル73bを励磁コイル73aの
内部に収めて検出コイル部73を構成してもよい。どち
らの実施例でも、双方の誘導コイルを逆方向に巻回して
直列接続することで、単体で差動回路を構成することが
できる。評価実験において、長さ15cm、内径3cm、厚
さ1mmの合成樹脂性のボビンに導線を1000回巻回し
て励磁コイル63aを形成し、更にその上に導線を10
00回巻回して両誘導コイル63bを形成して検出コイ
ル部63を構成し、励磁コイル63aに周波数0.1〜
1kHz 、電圧15Vの交流電流を印加した。この場合、
励磁コイル、誘導コイルのインダクタンスは夫々、10
0mHであった。この検査装置で直径0.1mmの鉄球が検
出できた。
【0031】上記のように検出コイル部を構成する励磁
コイルと誘導コイルの形態を様々に改変させることがで
き、特に図示の実施例のみに限定するものではない。た
とえば、上記したいずれの実施例における誘導コイルも
断面積が励磁コイルより小さいが、反対に誘導コイルの
ほうを大きくしてもよく、導線巻回状態、磁束鎖交条件
などの設計要素によって適宜設定すればよい。
【0032】また、検出コイル部に配置する被検査物
は、励磁コイルの軸方向のいずれか一方端に対向させて
近接させることで磁束鎖交効率を高めることができ、こ
れによって検出感度が高まるが、被検査物の配置位置を
特に限定するものではなく、励磁コイルが形成する磁束
が及ぶ範囲であれば、どの位置に被検査物を置いてもよ
い。たとえば、円筒形状の励磁コイルの内部中空孔を通
路として被検査物を通過乃至落下させてもよい。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、この発明の電磁誘
導型検出装置は、同軸状に密接に一体化した励磁コイル
と誘導コイルとで検出コイル部を構成し、励磁コイルが
形成する磁界にある被検査物による誘導コイルの相互イ
ンダクタンスの変化を漏れ磁束を減らし、効率よく検出
するようにした。これにより、食品、薬品錠剤、合成樹
脂製品、工作物など誘電体、磁性体、導体−非導体、金
属−非金属を問わず各種対象物の在否乃至材質を判定で
きるだけでなく、それらの被検査物に含まれる微小な異
物乃至欠陥などによる微小な磁束変化をも分解能よく高
感度、高精度で検査、検出できる。
【0034】しかも、検出コイルの外部の被検査部も選
択可能であるため、被検査物の大きさを問わず様々な検
査ができ、しかも、励磁コイルと誘導コイルを一体化し
ているので装置の大きさを自由に変えることができ、小
型化も容易にできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明による電磁誘導型検査装置の第1の実
施例を示す概略図。
【図2】図1における検出コイル部の構成を示す半断面
側面図。
【図3】第1の実施例を示す概略構成図。
【図4】図3の検査装置による検査適用の一例を示す説
明図。
【図5】図3の検査装置による検査適用の他例を示す説
明図。
【図6】第2の実施例を示す概略図。
【図7】第3の実施例を示す概略図。
【図8】第4の実施例を示す概略図。
【図9】第5の実施例を示す概略図。
【図10】従来の電磁誘導型検査装置の一例を示す概略
説明図。
【図11】従来の電磁誘導型検査装置の他例を示す概略
説明図。
【符号の説明】
11…交流電源、15…検出回路、S…被検査物、f…
磁場、 13、33、43、63、73…検出コイル部 13a、33a、43a、63a、73a…励磁コイ
ル、 13b、33b、43b、63b、73b…誘導コイ
ル。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】磁性体と非磁性体を被検査物とし、 a)交流電流を出力する交流電源と、 b)交流電流の印加により励磁して磁場を形成する励磁
    コイルと、該励磁コイルの励磁によって電磁誘導して起
    電力を発生させる少なくとも一つの誘導コイルとを備
    え、該誘導コイルを該励磁コイルの外周面あるいは内周
    面に密接に同軸巻回して一体に構成してなる検出コイル
    部と、 c)検出コイル部の内部中空孔と一方端に対向する位置
    のいずれかに選択可能に設けられる被検査部と、 d)誘導コイルの出力から被検査物による磁場の変化を
    検出する検出回路と、 からなる検査装置であって、 該検出回路を、該検出コイル部と同一構成のインダクタ
    を該検出コイル部に直列接続してなる平衡回路と、該平
    衡回路からの出力を増幅する増幅器と、該増幅器の出力
    から被検査物を判定する判定回路と、で構成した電磁誘
    導型検査装置。
JP25559791A 1990-10-23 1991-10-02 電磁誘導型検査装置 Expired - Lifetime JP3140105B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25559791A JP3140105B2 (ja) 1990-10-23 1991-10-02 電磁誘導型検査装置
KR1019910018697A KR920008489A (ko) 1990-10-23 1991-10-23 전자유도에 의한 검사장치
TW084208685U TW341328U (en) 1991-10-02 1991-10-23 Electromagnetic induction type inspection device
US08/061,504 US5432444A (en) 1990-10-23 1993-05-14 Inspection device having coaxial induction and exciting coils forming a unitary coil unit

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP02283368 1990-10-23
JP2-283368 1990-10-23
JP25559791A JP3140105B2 (ja) 1990-10-23 1991-10-02 電磁誘導型検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH052082A JPH052082A (ja) 1993-01-08
JP3140105B2 true JP3140105B2 (ja) 2001-03-05

Family

ID=26542305

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25559791A Expired - Lifetime JP3140105B2 (ja) 1990-10-23 1991-10-02 電磁誘導型検査装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP3140105B2 (ja)
KR (1) KR920008489A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100849153B1 (ko) * 2002-03-04 2008-07-30 시크파 홀딩 에스.에이. 자기 측정용 프로브 장치, 자화 특징 측정 방법, 인증장치 및 인증 방법

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4809039B2 (ja) 2005-11-07 2011-11-02 偕成エンジニア株式会社 電磁誘導型検査装置および電磁誘導型検査方法
JP5020518B2 (ja) * 2006-02-03 2012-09-05 勝三 川西 計量包装機、計量機、包装機、物品選別装置
JP5203148B2 (ja) * 2008-11-20 2013-06-05 Jfeアドバンテック株式会社 流体含有磁性粉濃度検出装置
JP2019012085A (ja) * 2018-10-22 2019-01-24 株式会社荏原製作所 金属検知用センサー及び該センサーを用いた金属検知方法
CN114460655A (zh) * 2022-02-09 2022-05-10 杭州天纵智慧科技有限责任公司 一种药物片剂的检测装置及方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100849153B1 (ko) * 2002-03-04 2008-07-30 시크파 홀딩 에스.에이. 자기 측정용 프로브 장치, 자화 특징 측정 방법, 인증장치 및 인증 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JPH052082A (ja) 1993-01-08
KR920008489A (ko) 1992-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5432444A (en) Inspection device having coaxial induction and exciting coils forming a unitary coil unit
US3693075A (en) Eddy current system for testing tubes for defects,eccentricity,and wall thickness
US5548214A (en) Electromagnetic induction inspection apparatus and method employing frequency sweep of excitation current
GB2262346A (en) Detecting defects in steel material
Fava et al. Multilayer planar rectangular coils for eddy current testing: Design considerations
US6377040B1 (en) Eddy current probe and process for checking the edges of metal articles
JP4003975B2 (ja) 金属検査方法および金属検査装置
JP3140105B2 (ja) 電磁誘導型検査装置
JPH05149923A (ja) 周波数位相変化による電磁誘導検査装置及びその検査方法
Wei et al. A transducer made up of fluxgate sensors for testing wire rope defects
Zhang et al. Model of ferrite-cored driver-pickup coil probe application of TREE method for eddy current nondestructive evaluation
JP2001318080A (ja) 検出コイルとこの検出コイルを用いた検査装置
JPH0474667B2 (ja)
JPH05142204A (ja) 電磁誘導型検査装置
JPH1038854A (ja) 導電性材料の非破壊検査方法および装置
JPS6232355A (ja) 渦流探傷試験装置
JP3572452B2 (ja) 渦流探傷用プローブ
US4675605A (en) Eddy current probe and method for flaw detection in metals
JPH07198770A (ja) 改良された非接触超伝導臨界電流測定プローブ装置及び方法
JP3055375B2 (ja) 積層セラミックコンデンサの方向識別方法
Tesfaye et al. Improving Flaw Detection through Integration of a Novel Eddy Current Probe with Fluxgate Magnetic Sensor
Touil et al. Simple Giant Magnetoresistance Probe Based Eddy Current System of Defect Characterization for Non-Destructive Testing
JPS61147158A (ja) ストリツプの欠陥検出装置
JP3025684B1 (ja) 渦電流プロ―ブ
SU1427284A1 (ru) Проходной индуктивный преобразователь дл неразрушающего контрол

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081215

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091215

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101215

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111215

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111215

Year of fee payment: 11