JP3140157B2 - 面状欠陥の超音波探傷方法 - Google Patents
面状欠陥の超音波探傷方法Info
- Publication number
- JP3140157B2 JP3140157B2 JP04089152A JP8915292A JP3140157B2 JP 3140157 B2 JP3140157 B2 JP 3140157B2 JP 04089152 A JP04089152 A JP 04089152A JP 8915292 A JP8915292 A JP 8915292A JP 3140157 B2 JP3140157 B2 JP 3140157B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- defect
- wave
- flaw detection
- detection method
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/042—Wave modes
- G01N2291/0428—Mode conversion
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、海洋構造物や陸上構
造物などの溶接構造物の溶接部肉厚方向に発生した割れ
や溶込み不良などの面状の欠陥を精度よく検出する超音
波探傷方法に関する。
造物などの溶接構造物の溶接部肉厚方向に発生した割れ
や溶込み不良などの面状の欠陥を精度よく検出する超音
波探傷方法に関する。
【０００２】
【従来技術とその課題】従来、肉厚方向に発生した縦割
れなどの面状の欠陥の検出には、図９に示すような一探
触子法が用いられることもある。図９中、１は検査対象
物、１ａは探傷面、２は溶接部、２ａは溶接線、３は欠
陥、４は斜角探触子を示す。しかし、一探触子法におけ
る超音波の受信音圧は、欠陥面に垂直な方向から超音波
が入射する場合に最も大きく得られるために、肉厚方向
に発生した面状の欠陥の場合には、欠陥面に垂直に超音
波を入射することが困難なために受信音圧が高く得られ
ないという欠点があった。尚、以下の図中の同一態様部
分は同一符号を用いて説明するものとする。
れなどの面状の欠陥の検出には、図９に示すような一探
触子法が用いられることもある。図９中、１は検査対象
物、１ａは探傷面、２は溶接部、２ａは溶接線、３は欠
陥、４は斜角探触子を示す。しかし、一探触子法におけ
る超音波の受信音圧は、欠陥面に垂直な方向から超音波
が入射する場合に最も大きく得られるために、肉厚方向
に発生した面状の欠陥の場合には、欠陥面に垂直に超音
波を入射することが困難なために受信音圧が高く得られ
ないという欠点があった。尚、以下の図中の同一態様部
分は同一符号を用いて説明するものとする。
【０００３】上記の一探触子法以外の方法として、特開
昭５４−１４０５８６号公報発明のような送受信を分割
した方法があるが、垂直探触子では溶接部の余盛のため
に溶接金属中の縦割れなどの検出は困難であるという欠
点があった。
昭５４−１４０５８６号公報発明のような送受信を分割
した方法があるが、垂直探触子では溶接部の余盛のため
に溶接金属中の縦割れなどの検出は困難であるという欠
点があった。
【０００４】従って、斜角探触子を用いた送受信を分割
した方法として、図１０に示すタンデム探傷法が多く用
いられており、送信の探触子と受信の探触子を溶接線と
直交方向に同一線上に並べて配置して探傷を行ってい
る。
した方法として、図１０に示すタンデム探傷法が多く用
いられており、送信の探触子と受信の探触子を溶接線と
直交方向に同一線上に並べて配置して探傷を行ってい
る。
【０００５】しかしながら、このタンデム探傷法では、
図１１に示すように、肉厚が薄い試験体では２個の探触
子同士が干渉するために、送受信位置を一定距離までし
か接近できず、従来のタンデム探傷の実施可能な検査対
象物の肉厚には限界があるという欠点があった。
図１１に示すように、肉厚が薄い試験体では２個の探触
子同士が干渉するために、送受信位置を一定距離までし
か接近できず、従来のタンデム探傷の実施可能な検査対
象物の肉厚には限界があるという欠点があった。
【０００６】さらに、送受信の探触子配置を逆の位置に
設定したい場合には、探触子の前後走査だけでは設定が
不可能で、容易に前後の配置を逆転できない等の欠点が
あった。
設定したい場合には、探触子の前後走査だけでは設定が
不可能で、容易に前後の配置を逆転できない等の欠点が
あった。
【０００７】また、オーステナイト系ステンレス鋼溶接
部、あるいは母材が９％Ｎｉ鋼で溶接部が約７０％程度
のＮｉを含むような溶接部などのように、オーステナイ
ト組織の粗大な柱状晶が発生するような材料では、材料
中の超音波の減衰が大きいために、縦波が利用される。
この場合には、横波５ａを使った従来のタンデム探傷法
が材料中の超音波の減衰が大きく有効でないために図１
２に示すような検査対象物の表面から送信された縦波５
が欠陥に当たった後に、裏面で縦波５から横波５ａにモ
ード変換した波を受信する方法が考えられるが、この場
合には、タンデム探傷よりもより探触子が接近した配置
が必要であり、検査可能な範囲７が限定されてしまうと
いう欠点があった。
部、あるいは母材が９％Ｎｉ鋼で溶接部が約７０％程度
のＮｉを含むような溶接部などのように、オーステナイ
ト組織の粗大な柱状晶が発生するような材料では、材料
中の超音波の減衰が大きいために、縦波が利用される。
この場合には、横波５ａを使った従来のタンデム探傷法
が材料中の超音波の減衰が大きく有効でないために図１
２に示すような検査対象物の表面から送信された縦波５
が欠陥に当たった後に、裏面で縦波５から横波５ａにモ
ード変換した波を受信する方法が考えられるが、この場
合には、タンデム探傷よりもより探触子が接近した配置
が必要であり、検査可能な範囲７が限定されてしまうと
いう欠点があった。
【０００８】一方、二振動子斜角探触子では、送受信を
左右に分割した構造となっているが、この探触子を用い
た探傷方法としては、直接欠陥から反射して来る欠陥エ
コーを観察する方法のみが実施されており、タンデム探
傷など送信から欠陥までの超音波の伝搬経路と欠陥から
受信部までの超音波の伝搬経路が異なる方法には適用さ
れていない。そのため、仮にタンデム探傷など欠陥まで
の往路と復路が異なる手法に二振動子探触子を適用しよ
うと考えても、送信部と受信部の振動子の配置が欠陥エ
コーの受信効率が高まるように配置してしないなどの欠
点があったと考えられる。
左右に分割した構造となっているが、この探触子を用い
た探傷方法としては、直接欠陥から反射して来る欠陥エ
コーを観察する方法のみが実施されており、タンデム探
傷など送信から欠陥までの超音波の伝搬経路と欠陥から
受信部までの超音波の伝搬経路が異なる方法には適用さ
れていない。そのため、仮にタンデム探傷など欠陥まで
の往路と復路が異なる手法に二振動子探触子を適用しよ
うと考えても、送信部と受信部の振動子の配置が欠陥エ
コーの受信効率が高まるように配置してしないなどの欠
点があったと考えられる。
【０００９】あるいは、特開平０２−６３４４１号及び
特開平０２−６３４４２号に示すような、多数個の振動
子を縦横に配列して１個の振動素子群を形成した探触子
により立体的な情報を得ることを目的とした装置がある
が、この種のアレイ型探触子では、多くの振動子が必要
であり、かつ、対象とする欠陥寸法が小さい場合には１
個の振動子寸法を大きくできず、超音波の材料中の減衰
が大きな材料で充分な音圧レベルを送信できないか、振
動子の配置の自由度が低いか、あるいは採取データの高
度な信号処理などを必要とするために高コストの装置に
なってしまい、溶接部に対し広く適用できないという欠
点があった。
特開平０２−６３４４２号に示すような、多数個の振動
子を縦横に配列して１個の振動素子群を形成した探触子
により立体的な情報を得ることを目的とした装置がある
が、この種のアレイ型探触子では、多くの振動子が必要
であり、かつ、対象とする欠陥寸法が小さい場合には１
個の振動子寸法を大きくできず、超音波の材料中の減衰
が大きな材料で充分な音圧レベルを送信できないか、振
動子の配置の自由度が低いか、あるいは採取データの高
度な信号処理などを必要とするために高コストの装置に
なってしまい、溶接部に対し広く適用できないという欠
点があった。
【００１０】本発明の目的は、溶接部肉厚方向に発生し
た割れや溶込み不良などの面状欠陥を精度よく検出する
超音波探傷方法を提供することにある。
た割れや溶込み不良などの面状欠陥を精度よく検出する
超音波探傷方法を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明による超音波探傷
方法は、検査対象物の表面に、送信用縦波探触子１個及
び受信用探触子１個からなる２個の斜角探触子を溶接線
の片側に溶接線と垂直な方向に対して同一線上にならな
いようにそれぞれ自由に走査可能なように左右に配置
し、該縦波斜角探触子から送信した縦波が肉厚方向の面
状欠陥にあたった後に前記検査対象物の裏面にあたり、
この裏面で縦波から横波にモード変換した波を上記斜角
探触子により受信することにより、しかも送信の探触子
と受信の探触子の超音波の送受信の方向を共に欠陥に向
けて、欠陥からの音圧が高く得られるように、溶接線に
対する超音波の入射角度と溶接線までの距離を調整し、
肉厚方向に発生した面状の欠陥を検出する方法である。
方法は、検査対象物の表面に、送信用縦波探触子１個及
び受信用探触子１個からなる２個の斜角探触子を溶接線
の片側に溶接線と垂直な方向に対して同一線上にならな
いようにそれぞれ自由に走査可能なように左右に配置
し、該縦波斜角探触子から送信した縦波が肉厚方向の面
状欠陥にあたった後に前記検査対象物の裏面にあたり、
この裏面で縦波から横波にモード変換した波を上記斜角
探触子により受信することにより、しかも送信の探触子
と受信の探触子の超音波の送受信の方向を共に欠陥に向
けて、欠陥からの音圧が高く得られるように、溶接線に
対する超音波の入射角度と溶接線までの距離を調整し、
肉厚方向に発生した面状の欠陥を検出する方法である。
【００１２】
【作用】本発明では、検査対象物の表面から送信された
縦波が欠陥に当たった後に、裏面で縦波から横波にモー
ド変換した波を受信する方法、あるいはタンデム探傷法
おいて、送信１個及び受信１個からなる２個の斜角探触
子を溶接線の片側に溶接線と垂直な方向に対して同一線
上にならないように配置するために、従来技術である２
個の探触子を前後に配置する場合よりも、図１と図１２
の検査可能範囲の比較から明らかなように、検査可能な
範囲が広くとることができる。
縦波が欠陥に当たった後に、裏面で縦波から横波にモー
ド変換した波を受信する方法、あるいはタンデム探傷法
おいて、送信１個及び受信１個からなる２個の斜角探触
子を溶接線の片側に溶接線と垂直な方向に対して同一線
上にならないように配置するために、従来技術である２
個の探触子を前後に配置する場合よりも、図１と図１２
の検査可能範囲の比較から明らかなように、検査可能な
範囲が広くとることができる。
【００１３】特に、肉厚が薄い試験体では溶接線と垂直
な同一線上に前後に２個の探触子を配置した場合には、
２個の探触子同士が干渉するために、送受信位置を一定
距離までしか接近できないが、２個の探触子を前後では
なく左右方向に配置することで、実施可能な検査範囲を
広げることができる。
な同一線上に前後に２個の探触子を配置した場合には、
２個の探触子同士が干渉するために、送受信位置を一定
距離までしか接近できないが、２個の探触子を前後では
なく左右方向に配置することで、実施可能な検査範囲を
広げることができる。
【００１４】さらに、２つの探触子を前後に同一線上に
配置した場合には、送受信の探触子配置を逆の位置に容
易に設定が不可能であるが、２つの探触子を同一線上か
らずらして配置すると、探触子を溶接線方向に走査する
ことで、溶接線に対する前後の関係を容易に逆転でき
る。
配置した場合には、送受信の探触子配置を逆の位置に容
易に設定が不可能であるが、２つの探触子を同一線上か
らずらして配置すると、探触子を溶接線方向に走査する
ことで、溶接線に対する前後の関係を容易に逆転でき
る。
【００１５】
【００１６】また、同一線上に前後に配置していないた
めに、欠陥からの高い受信音圧を得るために探触子の片
方あるいは両方を自由に走査して、欠陥の検出能力を向
上させることが可能である。
めに、欠陥からの高い受信音圧を得るために探触子の片
方あるいは両方を自由に走査して、欠陥の検出能力を向
上させることが可能である。
【００１７】さらに、斜角探触子を用いているために、
溶接金属の余盛上から探傷する垂直探傷法に比べて余盛
形状による表面の伝達損失の影響を受けることなく、高
い受信音圧が得られる。
溶接金属の余盛上から探傷する垂直探傷法に比べて余盛
形状による表面の伝達損失の影響を受けることなく、高
い受信音圧が得られる。
【００１８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しながら
説明する。図１(a)(b)に示すように、検査対象物１の溶
接部２には、溶接線２ａ方向とほぼ平行に発生する縦割
れなどの肉厚方向の面状欠陥３が存在している。検査対
象物１の表面１ａに縦波斜角探触子４ａとこれと同一線
上から外れた位置に斜角探触子４ａが配設されている。
本発明の探傷方法は、縦波斜角探触子４ａから送信した
縦波５は、欠陥３にあたった後に裏面１ｂにあたり、裏
面１ｂで縦波５から横波５にモード変換される。この横
波５ａを受信側の斜角探触子４ｂにより検出する二探触
子法である。つまり、送信１個及び受信１個からなる２
個の斜角探触子を溶接線２ａの片側に溶接線２ａと垂直
な方向に対して同一線上にならないように配置し、肉厚
方向に発生した面状の欠陥を検出する超音波探傷方法で
ある。
説明する。図１(a)(b)に示すように、検査対象物１の溶
接部２には、溶接線２ａ方向とほぼ平行に発生する縦割
れなどの肉厚方向の面状欠陥３が存在している。検査対
象物１の表面１ａに縦波斜角探触子４ａとこれと同一線
上から外れた位置に斜角探触子４ａが配設されている。
本発明の探傷方法は、縦波斜角探触子４ａから送信した
縦波５は、欠陥３にあたった後に裏面１ｂにあたり、裏
面１ｂで縦波５から横波５にモード変換される。この横
波５ａを受信側の斜角探触子４ｂにより検出する二探触
子法である。つまり、送信１個及び受信１個からなる２
個の斜角探触子を溶接線２ａの片側に溶接線２ａと垂直
な方向に対して同一線上にならないように配置し、肉厚
方向に発生した面状の欠陥を検出する超音波探傷方法で
ある。
【００１９】検査可能範囲７の裏面側限界において、探
触子を溶接線２ａと直角に同一線上に配置した場合に比
べて、２個の探触子が相互に干渉しないために、広く検
査範囲をとることが可能である（図１と図１２を比較参
照）。つまり、図１(b) に示すように、縦波斜角探触子
４ａは溶接ビードの止端位置Ａまでもって来ても、ま
た、縦波５が裏面１ｂでの反射位置が溶接ビード止端に
くる位置Ｂまでもって来ても、２つの探触子が同一線上
にないため、受信用の探触子を送信用の探触子と無関係
に所定の位置にもってこれ、横波にモード変換された波
を受信できることによるものである。これによって面状
欠陥を精度よく検出できるようになる。尚、この際の振
動子寸法は、上下方向に長く左右方向に短い長方形型の
振動子寸法を採用しており、超音波の肉厚方向の指向性
を鋭く、左右方向の指向性を鈍くするなど指向性の設定
も可能である。
触子を溶接線２ａと直角に同一線上に配置した場合に比
べて、２個の探触子が相互に干渉しないために、広く検
査範囲をとることが可能である（図１と図１２を比較参
照）。つまり、図１(b) に示すように、縦波斜角探触子
４ａは溶接ビードの止端位置Ａまでもって来ても、ま
た、縦波５が裏面１ｂでの反射位置が溶接ビード止端に
くる位置Ｂまでもって来ても、２つの探触子が同一線上
にないため、受信用の探触子を送信用の探触子と無関係
に所定の位置にもってこれ、横波にモード変換された波
を受信できることによるものである。これによって面状
欠陥を精度よく検出できるようになる。尚、この際の振
動子寸法は、上下方向に長く左右方向に短い長方形型の
振動子寸法を採用しており、超音波の肉厚方向の指向性
を鋭く、左右方向の指向性を鈍くするなど指向性の設定
も可能である。
【００２０】図２には、上記記載の送信及び受信用の探
触子４ａ、４ｂにおいて、送信部と受信部を一体枠６に
固定した構造の探触子を用いて、肉厚方向に発生した面
状の欠陥を検出する超音波探傷方法を示している。
触子４ａ、４ｂにおいて、送信部と受信部を一体枠６に
固定した構造の探触子を用いて、肉厚方向に発生した面
状の欠陥を検出する超音波探傷方法を示している。
【００２１】図３には、上記記載の探触子配置におい
て、送信の探触子４ａと受信の探触子４ｂの超音波の送
受信の方向を共に欠陥３に向けて、欠陥３からの音圧が
高く得られるように、溶接線２ａに対する超音波の入射
角度と溶接線２ａまでの距離を調整し、肉厚方向に発生
した面状の欠陥３を検出する超音波探傷方法を示してい
る。
て、送信の探触子４ａと受信の探触子４ｂの超音波の送
受信の方向を共に欠陥３に向けて、欠陥３からの音圧が
高く得られるように、溶接線２ａに対する超音波の入射
角度と溶接線２ａまでの距離を調整し、肉厚方向に発生
した面状の欠陥３を検出する超音波探傷方法を示してい
る。
【００２２】図４には、上記記載の探触子配置におい
て、欠陥からの受信音圧が高く得られるように、受信側
４ａ及び送信側４ｂ、あるいはどちらか一方の探触子を
溶接線と直角方向Ｘあるいは超音波入射方向Ｙに走査
し、肉厚方向に発生した面状の欠陥３を検出する超音波
探傷方法を示している。
て、欠陥からの受信音圧が高く得られるように、受信側
４ａ及び送信側４ｂ、あるいはどちらか一方の探触子を
溶接線と直角方向Ｘあるいは超音波入射方向Ｙに走査
し、肉厚方向に発生した面状の欠陥３を検出する超音波
探傷方法を示している。
【００２３】図５には、肉厚方向に発生した溶接割れな
どの面状の欠陥３の検出方法であるタンデム探傷法にお
いて、送信１個及び受信１個からなる２個の斜角探触子
４ａ、４ｂを溶接線２ａの片側に溶接線と垂直な方向に
対して同一線上にならないように配置し、溶接線２ａに
対する超音波の入射角度と溶接線までの距離を所定の値
に設定し、肉厚方向に発生した面状の欠陥３を検出する
超音波探傷方法を示している。
どの面状の欠陥３の検出方法であるタンデム探傷法にお
いて、送信１個及び受信１個からなる２個の斜角探触子
４ａ、４ｂを溶接線２ａの片側に溶接線と垂直な方向に
対して同一線上にならないように配置し、溶接線２ａに
対する超音波の入射角度と溶接線までの距離を所定の値
に設定し、肉厚方向に発生した面状の欠陥３を検出する
超音波探傷方法を示している。
【００２４】図６には、上記記載の送信及び受信用の探
触子４ａ、４ｂにおいて、送信部と受信部を一体枠６に
固定した構造の探触子を用いて、肉厚方向に発生した面
状の欠陥３を検出するようにした超音波探傷方法を示し
ている。
触子４ａ、４ｂにおいて、送信部と受信部を一体枠６に
固定した構造の探触子を用いて、肉厚方向に発生した面
状の欠陥３を検出するようにした超音波探傷方法を示し
ている。
【００２５】図７には、上記記載の探触子配置におい
て、送信の探触子４ａと受信の探触子４ｂの超音波の送
受信の方向を共に欠陥３に向けて、欠陥からの音圧が高
く得られるように、溶接線２ａに対する超音波の入射角
度と溶接線までの距離を調整し、肉厚方向に発生した面
状の欠陥３を検出する超音波探傷方法を示している。
て、送信の探触子４ａと受信の探触子４ｂの超音波の送
受信の方向を共に欠陥３に向けて、欠陥からの音圧が高
く得られるように、溶接線２ａに対する超音波の入射角
度と溶接線までの距離を調整し、肉厚方向に発生した面
状の欠陥３を検出する超音波探傷方法を示している。
【００２６】図８には、上記記載の探触子配置におい
て、欠陥からの音圧が高く得られるように、受信側４ａ
及び送信側４ｂ、あるいはどちらか一方の探触子を溶接
線２ａと直角方向Ｘあるいは超音波入射方向Ｙに走査
し、肉厚方向に発生した面状の欠陥３を検出する超音波
探傷方法を示している。尚、本発明の態様は上記の態様
に限るものではないことは明かである。
て、欠陥からの音圧が高く得られるように、受信側４ａ
及び送信側４ｂ、あるいはどちらか一方の探触子を溶接
線２ａと直角方向Ｘあるいは超音波入射方向Ｙに走査
し、肉厚方向に発生した面状の欠陥３を検出する超音波
探傷方法を示している。尚、本発明の態様は上記の態様
に限るものではないことは明かである。
【００２７】
【発明の効果】 本発明では、検査対象物の表面から
送信された縦波が欠陥に当たった後に、裏面で縦波から
横波にモード変換した波を受信する方法、あるいはタン
デム探傷法おいて、送信１個及び受信１個からなる２個
の斜角探触子を溶接線の片側に溶接線と垂直な方向に対
して同一線上にならないように配置するために、従来技
術である２個の探触子を前後に配置する場合よりも、図
１と図１２の検査可能範囲の比較から明らかなように、
検査可能な範囲を肉厚方向に広くとることができる。特
に、肉厚が薄い検査体では溶接線と垂直な同一線上に前
後に２個の探触子を配置した場合には、２個の探触子同
士が干渉するために、送受信位置を一定距離までしか接
近できないが、２個の探触子を前後ではなく左右方向に
配置することで、実施可能な検査範囲を広げることがで
きる。
送信された縦波が欠陥に当たった後に、裏面で縦波から
横波にモード変換した波を受信する方法、あるいはタン
デム探傷法おいて、送信１個及び受信１個からなる２個
の斜角探触子を溶接線の片側に溶接線と垂直な方向に対
して同一線上にならないように配置するために、従来技
術である２個の探触子を前後に配置する場合よりも、図
１と図１２の検査可能範囲の比較から明らかなように、
検査可能な範囲を肉厚方向に広くとることができる。特
に、肉厚が薄い検査体では溶接線と垂直な同一線上に前
後に２個の探触子を配置した場合には、２個の探触子同
士が干渉するために、送受信位置を一定距離までしか接
近できないが、２個の探触子を前後ではなく左右方向に
配置することで、実施可能な検査範囲を広げることがで
きる。
【００２８】 さらに、２つの探触子を前後に同一線
上に配置した場合には、送受信の探触子配置を逆の位置
に容易に設定が不可能であるが、２つの探触子を同一線
上からずらして配置すると、探触子を溶接線方向に走査
することで、溶接線に対する前後の関係を容易に逆転で
きる。
上に配置した場合には、送受信の探触子配置を逆の位置
に容易に設定が不可能であるが、２つの探触子を同一線
上からずらして配置すると、探触子を溶接線方向に走査
することで、溶接線に対する前後の関係を容易に逆転で
きる。
【００２９】 また、同一線上に前後に配置していな
いために、欠陥からの高い受信音圧を得るために探触子
の片方あるいは両方を自由に走査して、欠陥の検出能力
を向上させることが可能である。
いために、欠陥からの高い受信音圧を得るために探触子
の片方あるいは両方を自由に走査して、欠陥の検出能力
を向上させることが可能である。
【００３０】 さらに、斜角探触子を用いているため
に、溶接金属の余盛上から探傷する垂直探傷法に比べて
余盛形状による表面の伝達損失の影響を受けることな
く、高い受信音圧が得られる。
に、溶接金属の余盛上から探傷する垂直探傷法に比べて
余盛形状による表面の伝達損失の影響を受けることな
く、高い受信音圧が得られる。
【図１】(a)(b)は本発明にかかる第１実施例の平面図と
断面図である。
断面図である。
【図２】(a)(b)は本発明にかかる第２実施例の平面図と
断面図である。
断面図である。
【図３】(a)(b)は本発明にかかる第３実施例の平面図と
断面図である。
断面図である。
【図４】(a)(b)は本発明にかかる第４実施例の平面図と
断面図である。
断面図である。
【図５】(a)(b)は本発明にかかる第５実施例の平面図と
断面図である。
断面図である。
【図６】(a)(b)は本発明にかかる第６実施例の平面図と
断面図である。
断面図である。
【図７】(a)(b)は本発明にかかる第７実施例の平面図と
断面図である。
断面図である。
【図８】(a)(b)は本発明にかかる第８実施例の平面図と
断面図である。
断面図である。
【図９】従来の一探触子法の説明図である。
【図１０】従来のタンデム探傷方法の説明図である。
【図１１】従来のいタンデム探傷方法において前後配置
にした場合に、前後の探触子が干渉して探傷ができない
ことの説明図である。
にした場合に、前後の探触子が干渉して探傷ができない
ことの説明図である。
【図１２】(a)(b)は縦波を用いた二探触子による探傷方
法の説明図で前後に探触子を配置しているために検査で
きる領域が限られてしまうことの説明図である。
法の説明図で前後に探触子を配置しているために検査で
きる領域が限られてしまうことの説明図である。
１…検査対象物 １ａ…探傷面 ２…溶接部 ２ａ…溶接線 ３…欠陥 ４…斜角探触子 ４ａ…送信用斜角探触子 ４ｂ…受信用斜角探触子 ５…縦波（超音波） ５ａ…横波（超音波） ６…一体枠 ７…検査可能領域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山川 武人 兵庫県加古郡播磨町新島８番地 川崎重 工業株式会社 播磨工場内 (72)発明者 千田 豊 兵庫県加古郡播磨町新島８番地 川崎重 工業株式会社 播磨工場内 (56)参考文献 特開 昭63−261156（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−191052（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 29/00 - 29/28
Claims (1)
- 【請求項１】 検査対象物の表面に、送信用縦波探触子
１個及び受信用探触子１個からなる２個の斜角探触子を
溶接線の片側に溶接線と垂直な方向に対して同一線上に
ならないようにそれぞれ自由に走査可能なように左右に
配置し、該縦波斜角探触子から送信した縦波が肉厚方向
の面状欠陥にあたった後に前記検査対象物の裏面にあた
り、この裏面で縦波から横波にモード変換した波を上記
斜角探触子により受信することにより、しかも、送信の
探触子と受信の探触子の超音波の送受信の方向を共に欠
陥に向けて、欠陥からの音圧が高く得られるように、溶
接線に対する超音波の入射角度と溶接線までの距離を調
整し、肉厚方向に発生した面状の欠陥を検出するように
したことを特徴とする面状欠陥の超音波探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04089152A JP3140157B2 (ja) | 1992-04-09 | 1992-04-09 | 面状欠陥の超音波探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04089152A JP3140157B2 (ja) | 1992-04-09 | 1992-04-09 | 面状欠陥の超音波探傷方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05288722A JPH05288722A (ja) | 1993-11-02 |
| JP3140157B2 true JP3140157B2 (ja) | 2001-03-05 |
Family
ID=13962883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04089152A Expired - Lifetime JP3140157B2 (ja) | 1992-04-09 | 1992-04-09 | 面状欠陥の超音波探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3140157B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101844824B1 (ko) * | 2014-09-02 | 2018-04-05 | 한국전력공사 | 핑거형 터빈 루트 검사 장치 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1123613A (ja) | 1997-07-04 | 1999-01-29 | Tokai Rika Co Ltd | ダイアフラム式センサチップを利用したセンサ |
| US6380516B1 (en) | 1999-08-11 | 2002-04-30 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Connecting clamp, connecting apparatus and connecting method |
| JP4632474B2 (ja) * | 2000-03-03 | 2011-02-16 | 東京計器株式会社 | 超音波探傷画像表示方法及び超音波探傷画像表示装置 |
| JP2013019715A (ja) * | 2011-07-08 | 2013-01-31 | Non-Destructive Inspection Co Ltd | 超音波検査方法及び超音波検査装置 |
| JP6026245B2 (ja) * | 2012-11-28 | 2016-11-16 | 非破壊検査株式会社 | 超音波検査方法及び超音波検査装置 |
| JP7353545B2 (ja) | 2018-08-22 | 2023-10-02 | 国立大学法人島根大学 | 接合界面の評価方法および接合界面の評価装置 |
| JP7113428B2 (ja) * | 2018-10-02 | 2022-08-05 | 東海旅客鉄道株式会社 | 構造物用非破壊試験装置 |
-
1992
- 1992-04-09 JP JP04089152A patent/JP3140157B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101844824B1 (ko) * | 2014-09-02 | 2018-04-05 | 한국전력공사 | 핑거형 터빈 루트 검사 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05288722A (ja) | 1993-11-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5431054A (en) | Ultrasonic flaw detection device | |
| CN103969341B (zh) | 奥氏体不锈钢管对接环焊缝超声波检测特种探头 | |
| JPH11183446A (ja) | 溶接部の超音波探傷方法および装置 | |
| JPWO1997036175A1 (ja) | 超音波探傷装置及び超音波探傷方法 | |
| WO2007058391A1 (ja) | 管体の超音波探傷装置および超音波探傷方法 | |
| CN101627303A (zh) | 管体的超声波探伤装置和超声波探伤方法 | |
| CN101617222A (zh) | 管体的品质管理方法和制造方法 | |
| CN105004793A (zh) | 一种用于复合材料泡沫结构的超声检测方法 | |
| CN110687205A (zh) | 一种超声波纵波反射法与衍射时差法联合检测方法及其中所应用的tofd探头 | |
| JPWO2020039850A1 (ja) | 接合界面の評価方法および接合界面の評価装置 | |
| JP3671819B2 (ja) | 溶接鋼管の超音波探傷装置 | |
| JP2002062281A (ja) | 欠陥深さ測定方法および装置 | |
| JPH05288722A (ja) | 面状欠陥の超音波探傷方法 | |
| JP3165888B2 (ja) | 超音波探傷方法及び超音波探傷装置 | |
| JP3497984B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JP4175762B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JP3241519B2 (ja) | 超音波探傷方法および装置 | |
| JP2007178186A (ja) | 超音波探傷方法及び装置 | |
| JPH095304A (ja) | 直管とエルボとの溶接部の超音波探傷方法 | |
| JP3612849B2 (ja) | Ｃスキャン超音波探傷方法および装置 | |
| US6158285A (en) | EMAT inspection of welds in thin steel plates of dissimilar thicknesses | |
| Bond | Basic inspection methods (Pulse-echo and transmission methods) | |
| JP4614219B2 (ja) | レーザ溶接継手の検査方法及び検査装置 | |
| JP3456953B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JP2007263956A (ja) | 超音波探傷方法および装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081215 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091215 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101215 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111215 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111215 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121215 Year of fee payment: 12 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121215 Year of fee payment: 12 |