JP3225855B2 - 薄膜形成装置 - Google Patents
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- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
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- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
- C23C16/511—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using microwave discharges
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- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3266—Magnetic control means
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/46—Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、保護膜を成膜する
薄膜形成装置に関する。
薄膜形成装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、磁気記録媒体は基板上に磁気記
録用の磁性体層を成膜し、さらにその磁性体層上に保護
膜を成膜して形成している。保護膜は磁性体層を外部環
境から保護する膜である。
録用の磁性体層を成膜し、さらにその磁性体層上に保護
膜を成膜して形成している。保護膜は磁性体層を外部環
境から保護する膜である。
【０００３】従来、基板に対して両面に磁性体層を備え
る磁気記録媒体に保護膜を形成する場合、磁性体層を形
成した基板に対してスパッタリング法による薄膜形成装
置を用いて両面同時に成膜を行っている。
る磁気記録媒体に保護膜を形成する場合、磁性体層を形
成した基板に対してスパッタリング法による薄膜形成装
置を用いて両面同時に成膜を行っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】磁気記録媒体に対する
磁気記録の書き込みや読み出しは、磁気ヘッドを保護膜
を介して磁性体層と対向配置させて行っている。磁気ヘ
ッドの書込みや読み出しの特性は磁性体層と磁気ヘッド
との距離に依存するため、磁気記録システムの磁気記録
特性を向上させるには磁気ヘッドを磁性体層に接近させ
る必要がある。そのため、磁気記録特性の高まりに伴っ
てより薄い膜厚の保護膜が要求されている。
磁気記録の書き込みや読み出しは、磁気ヘッドを保護膜
を介して磁性体層と対向配置させて行っている。磁気ヘ
ッドの書込みや読み出しの特性は磁性体層と磁気ヘッド
との距離に依存するため、磁気記録システムの磁気記録
特性を向上させるには磁気ヘッドを磁性体層に接近させ
る必要がある。そのため、磁気記録特性の高まりに伴っ
てより薄い膜厚の保護膜が要求されている。
【０００５】しかしながら、従来のスパッタリング法に
よって成膜した保護膜は、膜厚が１０ｎｍ程度以下，実
用的には１２．５ｎｍ程度以下の膜厚になると耐電圧や
耐腐食性，耐磨耗性等の膜特性が低下し、保護膜として
の機能を充分に発揮することができないという問題点が
ある。
よって成膜した保護膜は、膜厚が１０ｎｍ程度以下，実
用的には１２．５ｎｍ程度以下の膜厚になると耐電圧や
耐腐食性，耐磨耗性等の膜特性が低下し、保護膜として
の機能を充分に発揮することができないという問題点が
ある。
【０００６】そこで、本発明は前記した従来の薄膜形成
装置の問題点を解決し、１２．５ｎｍ以下の膜厚であっ
ても良好な膜特性を備えた保護膜を基板両面に形成する
ことができる薄膜形成装置を提供することを目的とす
る。
装置の問題点を解決し、１２．５ｎｍ以下の膜厚であっ
ても良好な膜特性を備えた保護膜を基板両面に形成する
ことができる薄膜形成装置を提供することを目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の薄膜形成装置
は、マイクロ波導入手段と磁場コイルを備えた二つのＥ
ＣＲプラズマ発生機構と調整機構とを備え、反応室を挟
んで対向配置する二つのＥＣＲプラズマ発生機構の間の
距離を調整機構によって調整する。反応室内には磁場コ
イルによって発散磁界が形成される。本発明の調整機構
は、二つのＥＣＲプラズマ発生機構の間の距離を調整す
ることによって発散磁界の形状を調整する。発散磁界の
形状を調整することによって、発散磁界内に配置する基
板の両面に形成するイオンフラックス密度分布を均一と
し、均一な膜厚分布の薄膜を形成する。これによって、
ＥＣＲ−ＣＶＤ法によって良質な膜特性の保護膜を基板
の両面に形成することができる。
は、マイクロ波導入手段と磁場コイルを備えた二つのＥ
ＣＲプラズマ発生機構と調整機構とを備え、反応室を挟
んで対向配置する二つのＥＣＲプラズマ発生機構の間の
距離を調整機構によって調整する。反応室内には磁場コ
イルによって発散磁界が形成される。本発明の調整機構
は、二つのＥＣＲプラズマ発生機構の間の距離を調整す
ることによって発散磁界の形状を調整する。発散磁界の
形状を調整することによって、発散磁界内に配置する基
板の両面に形成するイオンフラックス密度分布を均一と
し、均一な膜厚分布の薄膜を形成する。これによって、
ＥＣＲ−ＣＶＤ法によって良質な膜特性の保護膜を基板
の両面に形成することができる。
【０００８】ＥＣＲプラズマ発生機構は、マイクロ波導
入手段によるマイクロ波放電と磁場コイルによる磁界に
よって電子サイクロトロン共鳴（ＥＣＲ）を形成し、活
性な電子サイクロトロン共鳴プラズマを発散磁界で反応
室に導き、このプラズマによって生じるイオンフラック
スを用いて基板上に保護膜等の薄膜を形成する機構であ
り、このＥＣＲプラズマ発生機構を用いたＥＣＲ−ＣＶ
Ｄ法によって形成する薄膜は、スパッタリング法によっ
て形成する薄膜と比較して耐電圧や耐腐食性，耐磨耗性
等の膜特性において良好な薄膜となる。
入手段によるマイクロ波放電と磁場コイルによる磁界に
よって電子サイクロトロン共鳴（ＥＣＲ）を形成し、活
性な電子サイクロトロン共鳴プラズマを発散磁界で反応
室に導き、このプラズマによって生じるイオンフラック
スを用いて基板上に保護膜等の薄膜を形成する機構であ
り、このＥＣＲプラズマ発生機構を用いたＥＣＲ−ＣＶ
Ｄ法によって形成する薄膜は、スパッタリング法によっ
て形成する薄膜と比較して耐電圧や耐腐食性，耐磨耗性
等の膜特性において良好な薄膜となる。
【０００９】本発明の薄膜形成装置は、二つのＥＣＲプ
ラズマ発生機構を反応室を挟んで対向配置する構成と
し、この装置構成とすることにより、ＥＣＲ−ＣＶＤ法
を用いて反応室に配置した基板の両面に成膜を施すこと
ができる。
ラズマ発生機構を反応室を挟んで対向配置する構成と
し、この装置構成とすることにより、ＥＣＲ−ＣＶＤ法
を用いて反応室に配置した基板の両面に成膜を施すこと
ができる。
【００１０】なお、ＥＣＲプラズマ発生機構の磁場コイ
ルは、電子サイクロトロン共鳴を起こすＥＣＲ条件を満
足させるとともに、基板近傍に高密度のイオンフラック
スを形成するよう制御することができる。
ルは、電子サイクロトロン共鳴を起こすＥＣＲ条件を満
足させるとともに、基板近傍に高密度のイオンフラック
スを形成するよう制御することができる。
【００１１】本発明の第１の実施態様は、反応室内にお
いてＥＣＲプラズマ発生機構と基板位置との間にシール
ド板と絶縁板を備え、シールド板によって基板以外への
成膜を制御し、絶縁板によって基板とシールド板との放
電を防止する。
いてＥＣＲプラズマ発生機構と基板位置との間にシール
ド板と絶縁板を備え、シールド板によって基板以外への
成膜を制御し、絶縁板によって基板とシールド板との放
電を防止する。
【００１２】本発明の第２の実施態様は、発散磁界の制
御を行う制御コイルを備え、これによって、基板近傍に
均一な密度分布のイオンフラックスを形成するよう反応
室内の発散磁界の制御を行う。制御コイルは反応室の内
側あるいは外側に配置することができる。
御を行う制御コイルを備え、これによって、基板近傍に
均一な密度分布のイオンフラックスを形成するよう反応
室内の発散磁界の制御を行う。制御コイルは反応室の内
側あるいは外側に配置することができる。
【００１３】本発明の第３の実施態様は、二つのＥＣＲ
プラズマ発生機構の距離を調整する調整機構を備え、こ
れによって、基板近傍に均一な密度分布のイオンフラッ
クスを形成するよう反応室内の発散磁界の制御を行う。
プラズマ発生機構の距離を調整する調整機構を備え、こ
れによって、基板近傍に均一な密度分布のイオンフラッ
クスを形成するよう反応室内の発散磁界の制御を行う。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照しながら詳細に説明する。本発明の実施の形態の構
成例について、図１の本発明の薄膜形成装置の一実施形
態を説明する概略図を用いて説明する。図１において、
薄膜形成装置１は二つのＥＣＲプラズマ発生機構１０，
２０を備え、両ＥＣＲプラズマ発生機構を反応室１６，
２６に対して対向配置して構成している。なお、ＥＣＲ
プラズマ発生機構２０の構成はＥＣＲプラズマ発生機構
１０と同様の構成であるため、図１中において、ＥＣＲ
プラズマ発生機構２０の各構成部分に付した符号を、Ｅ
ＣＲプラズマ発生機構１０の対応する部分の符号と下一
桁を共通に示し、以下ではＥＣＲプラズマ発生機構１０
について説明し、ＥＣＲプラズマ発生機構２０について
の説明は省略する。
参照しながら詳細に説明する。本発明の実施の形態の構
成例について、図１の本発明の薄膜形成装置の一実施形
態を説明する概略図を用いて説明する。図１において、
薄膜形成装置１は二つのＥＣＲプラズマ発生機構１０，
２０を備え、両ＥＣＲプラズマ発生機構を反応室１６，
２６に対して対向配置して構成している。なお、ＥＣＲ
プラズマ発生機構２０の構成はＥＣＲプラズマ発生機構
１０と同様の構成であるため、図１中において、ＥＣＲ
プラズマ発生機構２０の各構成部分に付した符号を、Ｅ
ＣＲプラズマ発生機構１０の対応する部分の符号と下一
桁を共通に示し、以下ではＥＣＲプラズマ発生機構１０
について説明し、ＥＣＲプラズマ発生機構２０について
の説明は省略する。
【００１５】ＥＣＲプラズマ発生機構１０は、第１プラ
ズマ窓１７が開けられた第１プラズマ室１５の一端に第
１導波管１４を設け、第１プラズマ室１５の外側に第１
磁場コイル１１を設けて構成する。なお、第１磁場コイ
ル１１は、制御部４からの制御信号によって発生磁界の
強度制御を行って、ＥＣＲ条件の設定や発散磁界分布の
調整等を行うことができる。
ズマ窓１７が開けられた第１プラズマ室１５の一端に第
１導波管１４を設け、第１プラズマ室１５の外側に第１
磁場コイル１１を設けて構成する。なお、第１磁場コイ
ル１１は、制御部４からの制御信号によって発生磁界の
強度制御を行って、ＥＣＲ条件の設定や発散磁界分布の
調整等を行うことができる。
【００１６】このＥＣＲプラズマ発生機構１０におい
て、第１プラズマ室１５内に外部からＣ3 Ｈ8 ，Ｃ2 Ｈ
4 ，ＣＨ4 等の第１ガス６２を導入し、第１導波管１４
を介して周波数２．５４ＧＨｚのマイクロ波を導入して
第１プラズマ室１５でマイクロ波放電を発生させ、第１
磁場コイル１１による磁場によってＥＣＲ条件の磁束密
度８７５Ｇを形成して電子サイクロトロン共鳴を発生さ
せ、活性なＥＣＲプラズマを発生させる。第１プラズマ
室１５内で発生したＥＣＲプラズマは、第１プラズマ窓
１７から発散磁界３１に沿って基板２側に移動する。な
お、第１ガス６２，第２ガス７２は、導入ガス制御手段
６，７によってガス種や導入量および導入比率の制御を
行うことができる。
て、第１プラズマ室１５内に外部からＣ3 Ｈ8 ，Ｃ2 Ｈ
4 ，ＣＨ4 等の第１ガス６２を導入し、第１導波管１４
を介して周波数２．５４ＧＨｚのマイクロ波を導入して
第１プラズマ室１５でマイクロ波放電を発生させ、第１
磁場コイル１１による磁場によってＥＣＲ条件の磁束密
度８７５Ｇを形成して電子サイクロトロン共鳴を発生さ
せ、活性なＥＣＲプラズマを発生させる。第１プラズマ
室１５内で発生したＥＣＲプラズマは、第１プラズマ窓
１７から発散磁界３１に沿って基板２側に移動する。な
お、第１ガス６２，第２ガス７２は、導入ガス制御手段
６，７によってガス種や導入量および導入比率の制御を
行うことができる。
【００１７】反応室１６，２６は、内部に基板２等の試
料を配置する機構（図示していていない）を備え、該基
板配置機構を挟んで配置し、外側にはＥＣＲプラズマ発
生機構１０，２０を両者が対向するよう配置する。反応
室１６，２６の内部に配置した基板２には、基板配置機
構を介して高周波電源３から高周波電力の供給を行う。
ここで、高周波電源の代わりに直流電流又は直流パルス
電流を使用する場合もある。
料を配置する機構（図示していていない）を備え、該基
板配置機構を挟んで配置し、外側にはＥＣＲプラズマ発
生機構１０，２０を両者が対向するよう配置する。反応
室１６，２６の内部に配置した基板２には、基板配置機
構を介して高周波電源３から高周波電力の供給を行う。
ここで、高周波電源の代わりに直流電流又は直流パルス
電流を使用する場合もある。
【００１８】また、反応室１６，２６内には基板２を挟
んで、基板２側の近い方から第１絶縁板１３，第２絶縁
板２３および第１シールド板１２，第２シールド板２２
を設け、シールド板１２，２２によって基板２以外の部
分への成膜形成を防止し、絶縁板１３，２３によってシ
ールド板と基板との間の放電発生を防止している。
んで、基板２側の近い方から第１絶縁板１３，第２絶縁
板２３および第１シールド板１２，第２シールド板２２
を設け、シールド板１２，２２によって基板２以外の部
分への成膜形成を防止し、絶縁板１３，２３によってシ
ールド板と基板との間の放電発生を防止している。
【００１９】反応室１６，および反応室２６の内部は排
気ポンプ８と接続し、これによって、反応室内の排気を
行う。なお、この第１ガス６２，第２ガス７２は、制御
部４で制御される導入ガス制御手段６，７によってガス
種や導入量および導入比率の制御を行うことができる。
気ポンプ８と接続し、これによって、反応室内の排気を
行う。なお、この第１ガス６２，第２ガス７２は、制御
部４で制御される導入ガス制御手段６，７によってガス
種や導入量および導入比率の制御を行うことができる。
【００２０】さらに、薄膜形成装置１は、二つのＥＣＲ
プラズマ発生機構１０，２０の間の距離を調整する調整
機構５を備える。この調整機構５は、反応室内に形成さ
れる発散磁界の形状を調整して、基板２付近のイオンフ
ラックスの密度および密度分布を調整する機構であり、
例えば反応室１６，２６の一部を発散磁界の軸方向にス
ライド可能として長さＬを調整可能とする機構により構
成することができる。
プラズマ発生機構１０，２０の間の距離を調整する調整
機構５を備える。この調整機構５は、反応室内に形成さ
れる発散磁界の形状を調整して、基板２付近のイオンフ
ラックスの密度および密度分布を調整する機構であり、
例えば反応室１６，２６の一部を発散磁界の軸方向にス
ライド可能として長さＬを調整可能とする機構により構
成することができる。
【００２１】上記した二つのＥＣＲプラズマ発生機構を
対向配置する構成によって、反応室内に形成される発散
磁界をミラー磁場として放電を安定させ、さらに基板付
近でイオンフラックス密度分布を均一にし、基板２の両
面に形成される膜厚分布を均一にする。
対向配置する構成によって、反応室内に形成される発散
磁界をミラー磁場として放電を安定させ、さらに基板付
近でイオンフラックス密度分布を均一にし、基板２の両
面に形成される膜厚分布を均一にする。
【００２２】以下、本発明の薄膜形成装置の動作につい
て説明する。薄膜形成装置１の二つのＥＣＲプラズマ発
生機構１０，２０の第１プラズマ室１５，第２プラズマ
室２５に対して、それぞれ第１導波管１４，第２導波管
２４から２．４５ＧＨｚの高周波を導入するととにも，
第１磁場コイル１１，第２磁場コイル２１を励磁してＥ
ＣＲ条件の磁束密度８７５Ｇを形成して電子サイクロト
ロン共鳴を発生させ、活性なＥＣＲプラズマを発生させ
る。また、第１磁場コイル１１，第２磁場コイル２１に
よる磁場によって反応室１６，２６内に発散磁界３１を
発生させミラー磁場を形成する。
て説明する。薄膜形成装置１の二つのＥＣＲプラズマ発
生機構１０，２０の第１プラズマ室１５，第２プラズマ
室２５に対して、それぞれ第１導波管１４，第２導波管
２４から２．４５ＧＨｚの高周波を導入するととにも，
第１磁場コイル１１，第２磁場コイル２１を励磁してＥ
ＣＲ条件の磁束密度８７５Ｇを形成して電子サイクロト
ロン共鳴を発生させ、活性なＥＣＲプラズマを発生させ
る。また、第１磁場コイル１１，第２磁場コイル２１に
よる磁場によって反応室１６，２６内に発散磁界３１を
発生させミラー磁場を形成する。
【００２３】各プラズマ室１５，２５で発生したプラズ
マは、発散磁界３１に沿って反応室内１６、２６内に引
き出され、基板２の近傍Ａ１，Ａ２に均一な密度のイオ
ンフラックスを形成する。イオン化された反応ガスは電
源３による負バイアス電圧により基板２上に薄膜を形成
する。
マは、発散磁界３１に沿って反応室内１６、２６内に引
き出され、基板２の近傍Ａ１，Ａ２に均一な密度のイオ
ンフラックスを形成する。イオン化された反応ガスは電
源３による負バイアス電圧により基板２上に薄膜を形成
する。
【００２４】基板２の両面の成膜形成は、片面づつの成
膜および両面同時の成膜により行うことができる。片面
づつの成膜および両面同時の成膜の何れの成膜において
も、二つの磁場コイル１１，１２を同時に駆動して基板
２に対してミラー磁場の発散磁界３１を形成しておき、
片面づつ成膜を行う場合には、一方の反応室にのみマイ
クロ波と反応ガスを導入して一方の面のみを成膜し、次
に他方の反応室にのみマイクロ波と反応ガスを導入して
他方の面のみの成膜を行う。また、両面同時に成膜を行
う場合には、両反応室にマイクロ波と反応ガスを導入し
て両面の成膜を同時に行う。なお、第１ガス６２および
第２ガス７２の導入は、制御部４によって独立して制御
することができる。
膜および両面同時の成膜により行うことができる。片面
づつの成膜および両面同時の成膜の何れの成膜において
も、二つの磁場コイル１１，１２を同時に駆動して基板
２に対してミラー磁場の発散磁界３１を形成しておき、
片面づつ成膜を行う場合には、一方の反応室にのみマイ
クロ波と反応ガスを導入して一方の面のみを成膜し、次
に他方の反応室にのみマイクロ波と反応ガスを導入して
他方の面のみの成膜を行う。また、両面同時に成膜を行
う場合には、両反応室にマイクロ波と反応ガスを導入し
て両面の成膜を同時に行う。なお、第１ガス６２および
第２ガス７２の導入は、制御部４によって独立して制御
することができる。
【００２５】次に、ミラー磁場を形成する発散磁界３１
の調整について説明する。発散磁界３１の形状によっ
て、基板２の近傍Ａ１，Ａ２のイオンフラックス密度お
よび密度分布は変化する。良好な成膜を行うためには、
基板２の近傍で均一なイオンフラックス密度分布が必要
であるため、発散磁界３１を調整して均一なイオンフラ
ックス密度分布が得られるように調整する必要がある。
の調整について説明する。発散磁界３１の形状によっ
て、基板２の近傍Ａ１，Ａ２のイオンフラックス密度お
よび密度分布は変化する。良好な成膜を行うためには、
基板２の近傍で均一なイオンフラックス密度分布が必要
であるため、発散磁界３１を調整して均一なイオンフラ
ックス密度分布が得られるように調整する必要がある。
【００２６】図２は発散磁界３２が大きく発散した場合
を模式的に示した図であり、この場合には基板２の近傍
のＡ１，Ａ２のイオンフラックス密度分布の均一性は低
下して、良好な膜厚分布による成膜を行うことができな
い。また、図３は発散磁界３３が発散しない場合を模式
的に示した図であり、この場合にはマイクロ波の吸収が
安定して行われず、基板２の近傍のＡ１，Ａ２のイオン
フラックス密度分布の均一性も低下して、良好な膜厚分
布の薄膜を得ることができない。
を模式的に示した図であり、この場合には基板２の近傍
のＡ１，Ａ２のイオンフラックス密度分布の均一性は低
下して、良好な膜厚分布による成膜を行うことができな
い。また、図３は発散磁界３３が発散しない場合を模式
的に示した図であり、この場合にはマイクロ波の吸収が
安定して行われず、基板２の近傍のＡ１，Ａ２のイオン
フラックス密度分布の均一性も低下して、良好な膜厚分
布の薄膜を得ることができない。
【００２７】発散磁界３１の第一の調整方法は、図１に
示す制御部４によって第１磁場コイル１１，第２磁場コ
イル２１を調整するものであり、プラズマ室内のＥＣＲ
条件を満足させながら、第１磁場コイル１１，２１に印
加する電流を制御して調整を行う。また、発散磁界３１
の第二の調整方法は、図１に示す調整機構５によってＥ
ＣＲプラズマ発生機構１０，２０の間の距離を調整する
ものであり、これによって、両者間に形成される発散磁
界の形状の調整を行う。
示す制御部４によって第１磁場コイル１１，第２磁場コ
イル２１を調整するものであり、プラズマ室内のＥＣＲ
条件を満足させながら、第１磁場コイル１１，２１に印
加する電流を制御して調整を行う。また、発散磁界３１
の第二の調整方法は、図１に示す調整機構５によってＥ
ＣＲプラズマ発生機構１０，２０の間の距離を調整する
ものであり、これによって、両者間に形成される発散磁
界の形状の調整を行う。
【００２８】また、図４は本発明の薄膜形成装置の他の
実施形態を説明する概略ブロック図である。発散磁界の
第三の調整方法は、図４に示す制御用第１コイル１８，
１９および制御用第２コイル２８，２９によって発散磁
界を調整するものであり、制御用第１コイル１８，１９
および制御用第２コイル２８，２９に印加する電流を制
御して調整を行う。上記第二および第三の調整方法によ
れば、第１磁場コイル１１，第２磁場コイル２１は、プ
ラズマ室内のＥＣＲ条件を満足する調整を主体とし、発
散磁界を調整するための制御を行う主体は制御用第２コ
イル２８，２９である。なお、図４において、制御用第
１コイル１８，１９および制御用第２コイル２８，２９
は、反応室１６，２６の内側および外側の何れに配置す
ることもできる。
実施形態を説明する概略ブロック図である。発散磁界の
第三の調整方法は、図４に示す制御用第１コイル１８，
１９および制御用第２コイル２８，２９によって発散磁
界を調整するものであり、制御用第１コイル１８，１９
および制御用第２コイル２８，２９に印加する電流を制
御して調整を行う。上記第二および第三の調整方法によ
れば、第１磁場コイル１１，第２磁場コイル２１は、プ
ラズマ室内のＥＣＲ条件を満足する調整を主体とし、発
散磁界を調整するための制御を行う主体は制御用第２コ
イル２８，２９である。なお、図４において、制御用第
１コイル１８，１９および制御用第２コイル２８，２９
は、反応室１６，２６の内側および外側の何れに配置す
ることもできる。
【００２９】なお、発散磁界を制御するための、第１磁
場コイル１１，第２磁場コイル２１を調整、ＥＣＲプラ
ズマ発生機構１０，２０の間の距離を調整、および制御
用第１コイル１８，１９および制御用第２コイル２８，
２９の調整は、適用する薄膜形成装置の形状や寸法等に
応じて個々に行い、通常、調整後はコイルの駆動電流値
や長さＬを固定して、所定の発散磁界の形状を維持する
ことができる。また、コイルの一部又は全部を永久磁石
にて代用することができる。
場コイル１１，第２磁場コイル２１を調整、ＥＣＲプラ
ズマ発生機構１０，２０の間の距離を調整、および制御
用第１コイル１８，１９および制御用第２コイル２８，
２９の調整は、適用する薄膜形成装置の形状や寸法等に
応じて個々に行い、通常、調整後はコイルの駆動電流値
や長さＬを固定して、所定の発散磁界の形状を維持する
ことができる。また、コイルの一部又は全部を永久磁石
にて代用することができる。
【００３０】本発明の実施形態によれば、基板両面にお
いて、１０ｎｍ程度以下，実用的には１２．５ｎｍ程度
以下の膜厚に成膜した保護膜であっても、従来のスパッ
タリング法による同膜厚に成膜した保護膜と比較して、
耐電圧や耐腐食性，耐磨耗性等の膜特性において良好な
特性を得ることができ、保護膜としての機能を充分に発
揮することができる。
いて、１０ｎｍ程度以下，実用的には１２．５ｎｍ程度
以下の膜厚に成膜した保護膜であっても、従来のスパッ
タリング法による同膜厚に成膜した保護膜と比較して、
耐電圧や耐腐食性，耐磨耗性等の膜特性において良好な
特性を得ることができ、保護膜としての機能を充分に発
揮することができる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、１２．５ｎｍ以下
の膜厚であっても磁気記録媒体の保護膜として良好な膜
特性を備えた薄膜を基板両面に形成することができる。
の膜厚であっても磁気記録媒体の保護膜として良好な膜
特性を備えた薄膜を基板両面に形成することができる。
【図１】本発明の薄膜形成装置の一実施形態を説明する
概略ブロック図である。
概略ブロック図である。
【図２】発散磁界が大きく発散した場合を模式的に示し
た図である。
た図である。
【図３】発散磁界が発散しない場合を模式的に示した図
である。
である。
【図４】本発明の薄膜形成装置の他の実施形態を説明す
る概略ブロック図である。
る概略ブロック図である。
１…薄膜形成装置、２…基板、３…高周波電源、４…制
御部、５…調整機構、６…第１導入ガス制御手段、７…
第２導入ガス制御手段、８…排気ポンプ、１０…第１Ｅ
ＣＲプラズマ発生機構、１１…第１磁場コイル、１２…
第１シールド板、１３…第１絶縁板、１４…第１導入
管、１５…第１プラズマ室、１６…第１反応室、１７…
第１プラズマ窓、１８，１９…第１制御コイル、２０…
第２ＥＣＲプラズマ発生機構、２１…第２磁場コイル、
２２…第２シールド板、２３…第２絶縁板、２４…第２
導入管、２５…第２プラズマ室、２６…第２反応室、２
７…第２プラズマ窓、２８，２９…第２制御コイル、３
１，３２，３３…発散磁界、６２…第１ガス、７２…第
２ガス。
御部、５…調整機構、６…第１導入ガス制御手段、７…
第２導入ガス制御手段、８…排気ポンプ、１０…第１Ｅ
ＣＲプラズマ発生機構、１１…第１磁場コイル、１２…
第１シールド板、１３…第１絶縁板、１４…第１導入
管、１５…第１プラズマ室、１６…第１反応室、１７…
第１プラズマ窓、１８，１９…第１制御コイル、２０…
第２ＥＣＲプラズマ発生機構、２１…第２磁場コイル、
２２…第２シールド板、２３…第２絶縁板、２４…第２
導入管、２５…第２プラズマ室、２６…第２反応室、２
７…第２プラズマ窓、２８，２９…第２制御コイル、３
１，３２，３３…発散磁界、６２…第１ガス、７２…第
２ガス。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) C23C 16/00 - 16/56 G11B 5/84 H01L 21/31 H01L 21/205
Claims (1)
- 【請求項１】 マイクロ波導入手段と磁場コイルを備え
反応室を挟んで対向配置する二つのＥＣＲプラズマ発生
機構と、 前記二つのＥＣＲプラズマ発生機構の間の距離を調整す
る調整機構とを備え、 前記調整機構は、前記磁場コイルが前記反応室内に形成
する発散磁界の形状を調整することを特徴とする薄膜形
成装置。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28389796A JP3225855B2 (ja) | 1996-06-06 | 1996-10-25 | 薄膜形成装置 |
| US08/869,200 US6010755A (en) | 1996-06-06 | 1997-06-04 | Method and apparatus for forming thin films using dual ECR plasma generators |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14438496 | 1996-06-06 | ||
| JP8-144384 | 1996-06-06 | ||
| JP28389796A JP3225855B2 (ja) | 1996-06-06 | 1996-10-25 | 薄膜形成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1053875A JPH1053875A (ja) | 1998-02-24 |
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Family
ID=26475806
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28389796A Expired - Fee Related JP3225855B2 (ja) | 1996-06-06 | 1996-10-25 | 薄膜形成装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6010755A (ja) |
| JP (1) | JP3225855B2 (ja) |
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| DE10156615B4 (de) * | 2001-11-17 | 2004-10-07 | Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh | Einrichtung zur Erzeugung eines örtlich variierbaren Elektron-Zyklotron-Resonanz-Mikrowellen-Niederdruckplasmas |
| DE10161469A1 (de) * | 2001-12-13 | 2003-07-03 | Schott Glas | Volumenoptimierter Reaktor zur beidseitig gleichzeitigen Beschichtung von Brillengläsern |
| US6905773B2 (en) * | 2002-10-22 | 2005-06-14 | Schlage Lock Company | Corrosion-resistant coatings and methods of manufacturing the same |
| FR2922358B1 (fr) * | 2007-10-16 | 2013-02-01 | Hydromecanique & Frottement | Procede de traitement de surface d'au moins une piece au moyen de sources elementaires de plasma par resonance cyclotronique electronique |
| US7999479B2 (en) * | 2009-04-16 | 2011-08-16 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Conjugated ICP and ECR plasma sources for wide ribbon ion beam generation and control |
| JP6532360B2 (ja) * | 2015-09-16 | 2019-06-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| JP6579635B1 (ja) | 2018-09-12 | 2019-09-25 | 春日電機株式会社 | 除電装置及びプラズマ発生装置 |
| AT523626B1 (de) * | 2020-05-22 | 2021-10-15 | Anton Paar Gmbh | Hohlleiter-Einkoppeleinheit |
| CN114457323B (zh) * | 2022-04-12 | 2022-08-02 | 成都纽曼和瑞微波技术有限公司 | 一种反应腔装置及微波等离子体气相沉积系统 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0106497B1 (en) * | 1982-09-10 | 1988-06-01 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Ion shower apparatus |
| US4521447A (en) * | 1982-10-18 | 1985-06-04 | Sovonics Solar Systems | Method and apparatus for making layered amorphous semiconductor alloys using microwave energy |
| US4952273A (en) * | 1988-09-21 | 1990-08-28 | Microscience, Inc. | Plasma generation in electron cyclotron resonance |
| US4990229A (en) * | 1989-06-13 | 1991-02-05 | Plasma & Materials Technologies, Inc. | High density plasma deposition and etching apparatus |
| DE3920834A1 (de) * | 1989-06-24 | 1991-02-21 | Leybold Ag | Mikrowellen-kathodenzerstaeubungseinrichtung |
| DE3920835C2 (de) * | 1989-06-24 | 1997-12-18 | Leybold Ag | Einrichtung zum Beschichten von Substraten |
| JP2922223B2 (ja) * | 1989-09-08 | 1999-07-19 | 株式会社日立製作所 | マイクロ波プラズマ発生装置 |
| US5081398A (en) * | 1989-10-20 | 1992-01-14 | Board Of Trustees Operating Michigan State University | Resonant radio frequency wave coupler apparatus using higher modes |
| JP2602336B2 (ja) * | 1989-11-29 | 1997-04-23 | 株式会社日立製作所 | プラズマ処理装置 |
| US5208512A (en) * | 1990-10-16 | 1993-05-04 | International Business Machines Corporation | Scanned electron cyclotron resonance plasma source |
| JPH0562940A (ja) * | 1991-09-03 | 1993-03-12 | Sony Corp | 矩形基板のドライエツチング装置 |
| US5211995A (en) * | 1991-09-30 | 1993-05-18 | Manfred R. Kuehnle | Method of protecting an organic surface by deposition of an inorganic refractory coating thereon |
| US5282899A (en) * | 1992-06-10 | 1994-02-01 | Ruxam, Inc. | Apparatus for the production of a dissociated atomic particle flow |
| US5487785A (en) * | 1993-03-26 | 1996-01-30 | Tokyo Electron Kabushiki Kaisha | Plasma treatment apparatus |
| JPH07335553A (ja) * | 1994-06-08 | 1995-12-22 | Tel Varian Ltd | 処理装置および処理方法 |
-
1996
- 1996-10-25 JP JP28389796A patent/JP3225855B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-06-04 US US08/869,200 patent/US6010755A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6010755A (en) | 2000-01-04 |
| JPH1053875A (ja) | 1998-02-24 |
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