JP3317366B2 - 電磁誘導型センサ - Google Patents
電磁誘導型センサInfo
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Description
被検査物の異常などを検査する電磁誘導型検査装置で使
用される電磁誘導型センサに係わり、特に食品、薬品錠
剤、合成樹脂製品、工作物などの被検査物の異常を検査
する電磁誘導型検査装置で使用される電磁誘導型センサ
に関する。
値が変化して磁束に変化が生じ、同じ交流磁界中に置か
れたコイル(受信コイル)に誘導される起電圧の値が変
化することが知られている。
かれた物体の誘電率、透磁率、物理的な大きさ、磁場中
の位置などに応じた値になるため、これらの各既知因子
のうちのいくつかを一定にして、物体を交流磁界中に置
くと、他の未知因子を正確に識別することができる。
の物質の在否を認識するなどの非破壊検査機能を持つ電
磁誘導型検査装置が多く提案されている。
例を示す構成図である。この図に示す電磁誘導型検査装
置は被検査物101の近傍に配置される検査コイル10
2およびインダクタンスバランス用のコイル(インダク
タ)103、2つのバランス用の抵抗104、105に
よって構成されるブリッジ回路106と、このブリッジ
回路106を駆動する交流電源107と、前記ブリッジ
回路106から出力される検知信号(前記ブリッジ回路
106のバランスずれに応じた値の信号)を取り込むと
ともに、これを増幅して出力する増幅回路108とを備
えている。
れる磁界109中に基準となる被検査物(基準物体)を
配置させた状態で、各抵抗104、105およびインダ
クタ103の各値を調整してブリッジ回路106をバラ
ンスさせ、このブリッジ回路106から出力される検知
信号の値をゼロにしておくことにより、前記検査コイル
102によって生成される磁界109中に被検査物10
1が入ってきたとき、この被検査物101が前記基準物
体と異なっていれば、前記検査コイル102によって生
成される磁界109の通り道となる磁気回路の値が変化
して自己インダクタンスが変化する。
ンスがくずれて、このブリッジ回路106から出力され
る検知信号の値がゼロ以外の値になるとともに、増幅回
路108によって前記検知信号が増幅されて外部に出力
される。
れる検知信号の値は基準物体の材質や透磁率、物理的な
大きさ、移動速度などと、被検査物101の材質や透磁
率、物理的な大きさ、移動速度などとの差に応じた値に
なることから、基準物体と被検査物101とが材質や透
磁率、物理的な大きさ、移動速度などの点で異なってい
るとき、これを検出して外部に知らせることができる。
も、例えば、図6に示す電磁誘導型検査装置も知られて
いる。この図に示す電磁誘導型検査装置は交流電流を発
生する交流電源115と、この交流電源115によって
得られた交流電流によって励磁される発信コイル116
と、この発信コイル116と所定距離だけ離間して配置
され、前記発信コイル116によって生成された磁界1
17によって誘導起電圧を発生する第1受信コイル11
8と、この第1受信コイル118と逆方向に巻回される
とともに、前記発信コイル116と所定距離だけ離間し
て配置され、前記発信コイル116によって生成された
磁界117によって誘導起電圧を発生する第2受信コイ
ル119と、この第2受信コイル119の誘導起電圧と
前記第1受信コイル118の誘導起電圧との差信号(検
知信号)を増幅する増幅回路120とを備えている。
受信コイル118、119との間(検査路)122に被
検査物121が無い状態で、第1受信コイル118や第
2受信コイル119の位置などを調整して、これら第1
受信コイル118によって得られる誘導起電圧と、第2
受信コイル119によって得られる誘導起電圧とが相殺
されるようにしておくことにより、前記検査路122中
に被検査物121が入ってきたとき、この被検査物12
1の位置に応じて第1受信コイル118に発生する誘導
起電圧と、第2受信コイル119に発生する誘導起電圧
とがバランスしなくなって、これら第1、第2受信コイ
ル118、119から出力される検知信号の値がゼロ以
外の値になり、これが増幅回路120によって増幅され
て外部に出力される。
119から出力される検知信号の値は被検査物121の
材質や透磁率、物理的な大きさ、移動速度などによって
決まる固有の値になることから、基準となる被検査物の
値を予め測定しておくことにより、被検査物121の材
質や透磁率、物理的な大きさ、移動速度などが基準とな
る被検査物と異なっているとき、これを検知することが
できる。
各電磁誘導型検査装置においては、次に述べるような問
題があった。すなわち、図5に示す電磁誘導型検査装置
では、検査コイル102によって検査される範囲内に被
検査物101を配置しなければならないため、スポット
溶接で作られたナゲット部分の検査を行なう場合、スポ
ット溶接を行なった後、スポット溶接電極を外して検査
コイル102をナゲット部分に取り付けなければなら
ず、その作業が面倒であるとともに、検査コイル102
と、ナゲットとの位置がずれることが多く、十分な検査
精度を確保することができないという問題があった。
査路122全体が検査範囲になるため、スポット溶接で
作られたナゲット部分の検査を行なうことができないと
いう問題があった。本発明は上記の事情に鑑み、スポッ
ト溶接のナゲット部分の検査を行なうとき、スポット溶
接電極を外すことなく、かつ十分な検査精度でナゲット
部分の良否を検査することができる電磁誘導型センサを
提供することを目的としている。
めに本発明による電磁誘導型センサは、磁界を生成する
発信コイルと、スポット溶接の電極および前記発信コイ
ルによって生成された磁界を検査対象となるナゲットに
集中させる磁路として使用される棒状部材と、前記ナゲ
ットを透過した磁界に応じた誘導起電圧を生成する複数
の受信コイルとを備え、前記発信コイルは前記棒状部材
に巻回され、前記複数の受信コイルは前記発信コイルの
外周部に巻回されることを特徴としている。
ト溶接が行なわれてナゲットが作られた後、発信コイル
によって磁界が生成されるとともに、前記棒状部材によ
って前記磁界がナゲットに集中させられ、複数の受信コ
イルによってこのナゲットを透過した磁界が検出されて
各々の誘導起電圧が生成される。各々の誘導起電圧の差
電圧によりナゲットの異常部分が検知される。
施例を使用した電磁誘導型検査装置の一例を示す構成図
である。
ンサ(第1電磁誘導型センサ)5と、一方のスポット溶
接電極10と、第2センサ(第2電磁誘導型センサ)6
と、他方のスポット溶接電極14と、制御装置8とを備
えており、一方のスポット溶接電極10の先端(図1に
おいて下端)を一方の鉄板1aに接触させるとともに、
他方のスポット溶接電極14の先端(図1において上
端)を他方の鉄板1bに接触させてこれらをスポット溶
接した後、制御装置8によって前記第1センサ5および
第2センサ6を駆動するとともに、これら第1センサ5
および第2センサ6の検出結果に基づいてスポット溶接
によって作られたナゲット7部分に異常部分があるかど
うかを検知してこの検知結果を報知する。
ンサ5の中心と、第2センサ6の中心とを貫通するよう
に配置される銅製の棒状部材であり、その一部がプラグ
21によって狭持され、このプラグ21に接続されたコ
ード20を介して電圧が印加されている間、スポット溶
接電極として使用されて、その下端部分が当接している
一方の鉄板1aに電圧を印加する。また、前記電圧の印
加が停止している間、前記第1センサ5および第2セン
サの磁気回路として使用されて、前記第2センサ6によ
って生成される磁束を先端部分(図では、下端部分)に
集中させる。
鉄板1a、1bを介在させた状態で前記一方のスポット
溶接電極10と対向する位置に配置される銅製の棒状部
材であり、その一部がプラグ16によって狭持され、こ
のプラグ16に接続されたコード12を介して電圧が印
加されたとき、上端部分が当接している他方の鉄板1b
に電圧を印加してこの鉄板1aおよび前記鉄板1aをス
ポット溶接し、ナゲット7を作る。
接電極10の上部側に巻回される発信コイル11と、こ
の発信コイル11の外周部に巻回される受信コイル13
とを備えており、前記制御装置8から交流電流が出力さ
れているとき、発信コイル11によって交流磁界を生成
するとともに、受信コイル13によってこの交流磁界の
大きさに応じた誘導起電圧を生成してこれを前記第2セ
ンサ6に供給する。
極10の下部側に巻回される発信コイル15と、この発
信コイル15の外周部に巻回される受信コイル17とを
備えており、前記制御装置8から交流電流が出力されて
いるとき、発信コイル15によって交流磁界を生成し、
これを前記一方のスポット溶接電極10によって先端に
集中させるとともに、受信コイル17によってこの交流
磁界の大きさに応じた誘導起電圧を生成し、さらにこの
誘導起電圧と前記第1センサ5から出力される誘導起電
圧とを逆相で加算して差電圧を生成し、これを検知信号
として前記制御装置8に供給する。
によって鉄板1a、1bをスポット溶接してナゲット7
を作った後、スポット溶接電極10を第1センサ5およ
び第2センサ6の鉄心として使用して前記ナゲット7部
分の検査を行なうので、スポット溶接直後にナゲット7
部分の良否を検査してこの検査結果を差電圧形式で制御
装置8に供給する。
と、アナログ処理部26と、上限値設定スイッチ回路2
7と、下限値設定スイッチ回路28と、リセット回路2
9と、デジタル処理部30と、2つの表示ランプ31、
32と、LED表示器33とを備えており、交流電流を
生成して前記第1センサ5の発信コイル11および第2
センサ6の発信コイル15を励磁するとともに、前記第
1センサ5の受信コイル13の誘導起電圧と前記第2セ
ンサ6の受信コイル17の誘導起電圧との差電圧(検知
信号)を取り込んでこれをデジタル化して検知データを
作成し、これをLED表示器33によって表示するとと
もに、レベル弁別して前記ナゲット7部分に異常がある
かどうかを検査し、この検査結果を各表示ランプ31、
32によって表示する。
ている周波数で発振して交流信号を生成する発振回路3
5と、この発振回路35から出力される交流信号を取り
込こんで増幅する増幅回路36と、ゼロ調整を行なうと
きに操作されるゼロ調整用の可変抵抗37と、前記増幅
回路36から出力される交流信号を取り込んで2つの交
流信号を生成するとともに、一方の交流信号の大きさを
前記可変抵抗37によって設定されている大きさにする
電圧制限回路38と、この電圧制限回路38から出力さ
れる2つの交流信号を取り込んで電力増幅する電力増幅
回路39とを備えており、2つの交流電流を生成して前
記第1センサ5の発信コイル11および第2センサ6の
発信コイル15を各々、同相で励磁するとともに、前記
交流電流に同期した同期信号(交流信号)を生成してこ
れを前記アナログ処理部26に供給する。
受信コイル13の誘導起電圧と前記第2センサ6の受信
コイル17の誘導起電圧との差電圧(検知信号)を取り
込んで前置増幅する前置増幅回路40と、この前置増幅
回路40から出力される検知信号を取り込むとともに、
前記駆動部25から出力される同期信号に基づいて前記
検知信号を同期整流する位相検出回路41と、スパン調
整を行なうときに操作されるスパン調整用の可変抵抗4
2と、前記位相検出回路41から出力される検知信号を
取り込むとともに、前記可変抵抗42によって設定され
ているスパンに基づいて前記検知信号中の高周波成分を
カットするローパスフィルタ回路43と、このローパス
フィルタ回路43から出力される検知信号を取り込むと
ともに、前記デジタル処理部30から出力されるサンプ
リング信号に同期して、取り込んだ検知信号をデジタル
化して検知データを生成するA/D変換回路44とを備
えている。
3の誘導起電圧と前記第2センサ6の受信コイル17の
誘導起電圧との差電圧(検知信号)を取り込むととも
に、前記駆動部25から出力される同期信号に基づいて
前記検知信号を同期整流した後に、ローパスフィルタリ
ングを行なって高周波成分をカットし、前記デジタル処
理部30からサンプリング信号が出力される毎に、高周
波成分をカットした検知信号をA/D変換して検知デー
タを生成し、これをデジタル処理部30に供給する。
設定されているビット数の上限値データを設定するのに
必要なスイッチを備えており、このスイッチによって設
定されているデータ、すなわち検査対象となっているナ
ゲット7部分に異常があるかどうかを判定するのに必要
な上限値データをデジタル処理部30に供給する。ま
た、下限値設定スイッチ回路28は予め設定されている
ビット数の下限値データを設定するのに必要なスイッチ
を備えており、このスイッチによって設定されているデ
ータ、すなわち検査対象となっているナゲット7部分に
異常があるかどうかを判定するのに必要な下限値データ
をデジタル処理部30に供給する。
ットを行なうときに操作されるスイッチを備えており、
このスイッチが操作されたとき、リセット信号を生成し
てこれを前記デジタル処理部30に供給する。
置を起動させるときに操作される起動用スイッチ50
と、前記上限値設定スイッチ回路27および前記下限値
設定スイッチ回路28に設定されている各データを読み
込ませるときに操作される設定用スイッチ51と、この
設定用スイッチ51の出力および前記起動用スイッチ5
0の出力、前記リセット回路29の出力に基づいて各種
のデータ処理を行なうマイクロプロセッサ52と、この
マイクロプロセッサ52から出力される選択データを取
り込んでデコードし、選択信号を生成するデコード回路
53とを備えている。
セット回路29からリセット信号が出力されたとき、リ
セットされ、前記アナログ処理部26から出力される検
知データおよび前記上限値設定スイッチ回路27から出
力される上限値データ、前記下限値設定スイッチ回路2
8から出力される下限値データを取り込むとともに、こ
れら検知データ、上限値データ、下限値データのうち、
前記デコード回路53から出力される選択信号によって
指定されたデータを選択してこれを前記マイクロプロセ
ッサ52に供給する選択回路54と、前記マイクロプロ
セッサ52から出力されるアドレスデータによって指定
された番地に格納されている定数データなどを読出し、
これを前記マイクロプロセッサ52に供給する紫外線消
去可能なEP−ROM回路55と、前記マイクロプロセ
ッサ52から出力されるコントロール信号に基づいて前
記マイクロプロセッサ52から出力される数値データを
取り込むとともに、これをデコードしてLED駆動デー
タを生成するLEDデコードドライバ回路56とを備え
ている。
よび前記起動用スイッチ50の出力、前記リセット回路
29の出力に基づいてマイクロプロセッサ52が動作し
て選択回路54を制御し、前記アナログ処理部26から
出力される検知データおよび前記上限値設定スイッチ回
路27から出力される上限値データ、前記下限値設定ス
イッチ回路28から出力される下限値データのいずれか
を選択的に取り込んで、LEDデコーダドライバ回路5
6によって前記検知データの値をLED駆動データに変
換させた後、これをLED表示器33に供給させ、さら
に上限値データと、下限値データと、前記検知データと
を比較して前記検知データの値が正しい範囲に入ってい
るかどうかを判定し、前記検知データが正しい範囲に入
っているときには、良好信号を生成してこれを一方の表
示ランプ31に供給し、また前記検知データが正しい範
囲から外れているときには、不良信号を生成してこれを
他方の表示ランプ32に供給する。
部30から良好信号が出力されたとき、点灯するランプ
と、光を透過する青色のランプカバーとを備えており、
前記デジタル処理部30から良好信号が出力されたと
き、点灯して青色の光を出し、操作員等に前記第1セン
サ5および第2センサ6によって検査されているナゲッ
ト7に異常部分がないことを報知する。
処理部30から不良信号が出力されたとき、点灯するラ
ンプと、光を透過する赤色のランプカバーとを備えてお
り、前記デジタル処理部30から不良信号が出力された
とき、点灯して赤色の光を出し、操作員等に前記第1セ
ンサ5および第2センサ6によって検査されているナゲ
ット7に異常部分があることを報知する。
ト表示素子を備えており、前記デジタル処理部30から
出力されるLED駆動データを取り込んでこれを各セグ
メント表示素子によって数字で表示する。
ポット溶接電極10、14によって鉄板1a、1bをス
ポット溶接してナゲット7を作った後、スポット溶接電
極10を第1センサ5および第2センサ6の鉄心として
使用して前記ナゲット7部分の検査を行なうので、スポ
ット溶接直後にナゲット7部分の良否を検査することが
でき、これによってスポット溶接で作られたナゲット部
分の検査を行なうとき、スポット溶接電極10を外すこ
となく、かつ十分な検査精度でナゲット7部分の良否を
検査することができる。
ポット溶接のナゲット部分の検査を行なうとき、スポッ
ト溶接電極を外すことなく、かつ十分な検査精度でナゲ
ット部分の良否を検査することができる。
用した電磁誘導型検査装置の一例を示す構成図である。
ク図である。
な回路構成例を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
例を示す構成図である。
の一例を示す構成図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 磁界を生成する発信コイルと、スポット
溶接の電極および前記発信コイルによって生成された磁
界を検査対象となるナゲットに集中させる磁路として使
用される棒状部材と、前記ナゲットを透過した磁界に応
じた誘導起電圧を生成する複数の受信コイルとを備え、
前記発信コイルは前記棒状部材に巻回され、前記複数の
受信コイルは前記発信コイルの外周部に巻回されること
を特徴とする電磁誘導型センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00104793A JP3317366B2 (ja) | 1993-01-07 | 1993-01-07 | 電磁誘導型センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00104793A JP3317366B2 (ja) | 1993-01-07 | 1993-01-07 | 電磁誘導型センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06201651A JPH06201651A (ja) | 1994-07-22 |
| JP3317366B2 true JP3317366B2 (ja) | 2002-08-26 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00104793A Expired - Fee Related JP3317366B2 (ja) | 1993-01-07 | 1993-01-07 | 電磁誘導型センサ |
Country Status (1)
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Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPH0386382A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-04-11 | Fuji Koon Seisakusho:Kk | 抵抗溶接における溶接検査装置 |
| JP3323546B2 (ja) * | 1992-09-01 | 2002-09-09 | 株式会社神戸製鋼所 | 溶接部診断装置 |
-
1993
- 1993-01-07 JP JP00104793A patent/JP3317366B2/ja not_active Expired - Fee Related
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