JP4531429B2 - 電子製品材料の精製方法 - Google Patents

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Description

本発明は、電子写真方式の複写機、プリンターなどに用いられる電子写真用感光体の材料、あるいは有機電界発光素子の材料として使用される電荷輸送材料、およびそれらの中間体を純度高く製造する方法に関する。
従来、電子写真感光体や有機電界発光素子に使用される電荷輸送材料およびその中間体として、スチルベン誘導体が有用な化合物として知られている。これらの化合物は最終段階であるWittig反応や、中間段階ではUllmann反応によって製造されているのが通常である。
スチルベン誘導体を合成する反応としては、一般式(2)で表される芳香族ホスホン酸ジアルキルと、
Figure 0004531429
(式中、Ar1は置換もしくは無置換のフェニル基を表し、Ar2は置換もしくは無置換のフェニル基または水素原子を表し、R3は脂肪族炭化水素基を表す。)
一般式(3)で表される芳香族アルデヒド化合物とを、
Figure 0004531429
(式中、Ar3は置換もしくは無置換のフェニレン基を表し、R1、R2はそれぞれ置換もしくは無置換のフェニル基を表し、R1とR2は同一でも異なっていても良い。)
溶媒中で塩基の存在下において縮合する方法が挙げられる(例えば、特許文献1および特許文献2参照。)。
特公昭63−19867号公報 特公平2−24864号公報
あるいは一般式(1)で表されるスチルベン誘導体において、Ar2が水素原子でn=1の場合の合成反応として、一般式(4)で表される芳香族ホスホン酸ジアルキルと、
Figure 0004531429
(式中、Ar1は置換もしくは無置換のフェニル基を表し、R3は脂肪族炭化水素基を表す。)
一般式(3)で表される芳香族アルデヒド化合物とを、やはり溶媒中で塩基の存在下において縮合する方法が挙げられる(例えば、特許文献2および特許文献3参照。)。
特公平5−47533号公報
以上のようにスチルベン誘導体を得る反応においては、一般式(3)で表される芳香族アルデヒド化合物が反応原料として多用されているが、これら一般式(3)で表される芳香族アルデヒド化合物は第三級アミンであることから、一般式(3)に至るまでの前段階の製造工程において、途中でUllmann反応を経由することが多い。
以上述べたような合成反応は、反応条件が過酷なため副反応を伴い、電子写真用感光体及び有機電界発光素子に求められる電荷輸送剤の性能を阻害するような副生物が生成する。これらの副生物除去のために行われていた精製方法は、当初は再結晶のみであったので(例えば、特許文献1および特許文献2参照。)、電子写真用感光体や有機電界発光素子に使用される電荷輸送材料に要求される電気特性を満足させるために、十分な純度を得ることができなかった。このような電気特性を満足させるために十分な純度を得るための精製方法として、活性白土や活性炭による吸着精製方法が開示されており、現在では当該技術分野において他の吸着剤とともに一般化されている(例えば、特許文献4参照。)。しかし吸着剤による吸着精製方法は1段階のみの実施では満足する純度が得られないため、吸着精製工程を複数回組み合せることになり、収率低下、コスト増加、廃棄物量の増加という問題点を有している。
特開平7−56365号公報
以上述べた精製方法以外の方法として蒸留があるが、ジアミノジフェニル化合物をアルカリ塩基の存在下に減圧蒸留する精製方法が開示されている(例えば、特許文献5参照。)。しかしこの精製方法は、ジアミノジフェニル化合物が精製の難しい化合物であるが故に適用される方法であって、高純度品を得るために蒸留を粗蒸留と精密蒸留の2段階に分けて行っていて、精密蒸留では理論段数10〜50段の蒸留装置を必要としている。
特開平1−272558号公報
本発明は、精製工程のために使用する材料を必要とせず、精製工程によって生じる廃棄物量が特に少なく、短い精製工程で済み、しかも大がかりな蒸留装置を必要としない、電気特性の優れた電子製品材料を得るための精製方法を提供することを目的としている。
本発明が目的としている技術分野では、電気特性において優れた高純度品が求められており、それに適した精製方法として吸着精製方法が一般化している。真空蒸留は、精製が難しくて他に精製手段の無い化合物を対象とするものであり、コスト的には不利と考えられているが、本発明者らは、スチルベン誘導体の粗製品に真空蒸留を行うことによって、わずか1段階の蒸留で高純度品が得られることを見出し、本発明を完成するに至った。
すなわち本発明は、一般式(1)で表されるスチルベン誘導体の
Figure 0004531429
(式中、Ar1は置換もしくは無置換のフェニル基を表し、Ar2は置換もしくは無置換のフェニル基または水素原子を表し、Ar3は置換もしくは無置換のフェニレン基を表し、R1、R2はそれぞれ置換もしくは無置換のフェニル基を表し、R1とR2は同一でも異なっていても良く、nは0または1を表す。)
電気特性を向上させるために、10Pa以下の高真空条件下で真空蒸留を行うことを特徴とする、電子製品材料の精製方法である。
本発明の真空蒸留は単蒸留で行えることから、特に大がかりな蒸留装置を必要としない。また蒸留工程以外に他の精製工程を組み合せる必要が無いので、極めて簡便に電気特性に優れた高純度品を得ることができる。また、精製工程のために必要となる溶媒や吸着剤等の種々の材料を必要とせず、精製工程に付随する廃棄物の発生も考慮しなくて良い。一般的には、真空蒸留を精製工程に組み入れることは、コスト的に不利であると考えられているが、本発明の技術分野のように電気特性において優れた高純度品が求められている場合には、1段階の精製でその目的を達成できる本発明の精製方法は、特に適しているものである。
本発明の一般式(1)で表されるスチルベン誘導体の基、Ar1、Ar2、R1、R2において、これらの基は無置換でも置換されていても良く、Ar1とAr2は同一でも異なっていても良く、R1、R2は同一でも異なっていても良い。
一般式(1)で表されるスチルベン誘導体のAr3としては、無置換でも置換されていても良い。
前記したスチルベン誘導体の基、Ar1、Ar2、Ar3、R1、R2がとり得る置換基としては、アルキル基、またはアルコキシ基が挙げられる。
本発明の精製方法が対象としている、一般式(1)で表されるスチルベン誘導体は、電子写真感光体用の材料、あるいは有機電界発光素子の材料として使用される電荷輸送材料である。また本発明の精製方法は、電気特性を向上させる目的であれば、一般式(1)で表されるスチルベン誘導体の中間体段階で精製を行おうとする場合をも対象とするものである。
本発明の真空蒸留装置を使用する精製方法によれば、精製工程のために使用する材料を必要とせず、精製工程によって生じる廃棄物量が殆ど無く、短い精製工程で済み、しかも大がかりな蒸留装置を必要としない、という利点を有する。また、電荷輸送剤の性能を阻害するような不純物を含有しないので、電気特性の優れた電子製品材料を提供することが可能である。
本発明の精製方法が適用される化合物としては、スチルベン誘導体として以下に掲げる化合物が挙げられる。例示した化合物において置換位置の異なる異性体が存在する場合については、単一化合物であっても混合物であっても良い。
4−ジフェニルアミノスチルベン、4−(4−メチルジフェニルアミノ)スチルベン、4−(4,4’−ジメチルジフェニルアミノ)スチルベン、4−(4−メトキシジフェニルアミノ)−4’−メチルスチルベン、4−(4−メトキシジフェニルアミノ)−4’−メトキシスチルベン、4−(3,4−ジメチルジフェニルアミノ)スチルベン、4−(2−メチル−4−メトキシジフェニルアミノ)−4’−メチルスチルベン、α−フェニル−4’−ジフェニルアミノスチルベン、α−フェニル−4’−[ビス(4−メチルフェニル)アミノ]スチルベン、α−フェニル−4’−(4−メトキシジフェニルアミノ)スチルベン、α−(4−メチルフェニル)−4−メチル−4’−(4−メチルジフェニルアミノ)スチルベン、α−フェニル−4’−(3,4−ジメチルジフェニルアミノ)スチルベン、α−フェニル−4’−(2,4−ジメチル−4’−メトキシジフェニルアミノ)スチルベン、α−フェニル−4’−(2−メチル−4−メトキシジフェニルアミノ)スチルベン、α−(4−エトキシフェニル)−4−エトキシ−4’−ジフェニルアミノスチルベン。
1−フェニル−4−(4−ジフェニルアミノフェニル)−1,3−ブタジエン、1−(4−メチルフェニル)−4−(4−ジフェニルアミノフェニル)−1,3−ブタジエン、1−フェニル−4−[4−ビス(4−メチルフェニル)アミノフェニル]−1,3−ブタジエン、1,1−ジフェニル−4−(4−ジフェニルアミノフェニル)−1,3−ブタジエン、1,1−ジフェニル−4−[4−ビス(4−メチルフェニル)アミノフェニル]−1,3−ブタジエン、1,1−ビス(4−メトキシフェニル)−4−(4−ジフェニルアミノフェニル)−1,3−ブタジエン。
本発明の真空蒸留装置は、特に大掛りな設備を必要とするものでは無く、単蒸留装置であっても十分にその目的を達成することができる。真空蒸留時の高真空条件は、10Pa以下、好ましくは0.1〜1Paが採用される。
本発明の真空蒸留は、1段階の精製でその目的を達成できるので、粗製品の段階から出発して、他の精製方法を併用する必要が無く、他の精製工程のために必要となる種々の材料を必要とせず、また他の精製工程に付随する廃棄物の発生も心配しなくて良いことも特徴としている。
以下、実施例により本発明を具体的に説明する。実施例中の部は質量部を表わし、濃度は質量%を表す。
[合成例1]
4−[N,N−ビス(4−メトキシフェニル)アミノ]ベンズアルデヒド66.67g(0.20mol)、フェニルメチルホスホン酸ジエチル50.20g(0.22mol)、溶媒としてテトラヒドロフラン230mlを加え、溶解させた。室温でカリウムターシャリーブトキシド29.17g(0.26mol)を30分かけて添加した。添加後さらに40〜45℃で2時間撹拌した。ホルミル化合物の消失しているのを確認して反応終了とした。30℃に冷却してメタノール690mlを滴下し、0〜5℃で30分撹拌後、ろ過して得られた結晶を60℃で減圧乾燥し、4−[N,N−ビス(4−メトキシフェニル)アミノ]スチルベン73.3g(収率89.9%)を得た。
合成例1で得られた4−[N,N−ビス(4−メトキシフェニル)アミノ]スチルベン500gを、単蒸留装置に仕込み、塔頂圧力0.35Pa、塔底温度230〜255℃の条件で蒸留を行った。主留分として4−[N,N−ビス(4−メトキシフェニル)アミノ]スチルベン420gを得た。LC分析による純度分析結果は99.9%であった。LC分析条件は[HPLC条件1]のとおりとした。
[HPLC条件1]
機種:TOSO UV−8000
カラム:Inertsil、ODS−2、4.6φ×250mm
カラム温度:40℃
移動相:THF/メタノール=1/10
流速 :0.9ml/min
測定波長:254nm
[比較例1]
合成例1で得られた4−[N,N−ビス(4−メトキシフェニル)アミノ]スチルベン50gを、40℃のトルエン250mlに溶解させ、更にシクロヘキサン250mlを加えて攪拌した後、活性炭10gを加え40℃で30分間攪拌した後、ろ過によって活性炭を除去した。ろ液に活性白土25gを加え40℃で30分間攪拌した後、ろ過によって活性白土を除去した。以後同様の活性白土による吸着精製と活性炭による吸着精製の組み合わせを2回繰り返した後、得られたろ液を濃縮した。濃縮して得られた黄色オイル状物にノルマルプロパノール200mlを加え、80℃加熱溶解後、30℃に放冷、結晶を析出させた。更にメタノール200mlを加えた後、ろ過して得られた結晶を50℃で減圧乾燥し、精製した4−[N,N−ビス(4−メトキシフェニル)アミノ]スチルベン41.5g(収率83%)を得た。[HPLC条件1]によるLC分析結果は純度99.9%であった。
[感光体実施例1]
アルコール可溶性ポリアミド10部をメタノール190部に溶解後、アルミ蒸着PETフィルムのアルミ面上にワイヤーバーを用いて塗布乾燥し、厚さ1μmのアンダーコート層を形成した。
次にCu−KαのX線回折スペクトルにおける回折角2θ±0.2°が9.6、24.1、27.2に強いピークを有するチタニルフタロシアニン(電荷発生剤No.1)
Figure 0004531429
1.5部をポリビニルブチラール樹脂の3%シクロヘキサノン溶液50部に加え、超音波分散機で1時間分散した。得られた分散液を上記アンダーコート層上にワイヤーバーを用いて塗布後、常圧下110℃で1時間乾燥して膜厚0.6μmの電荷発生層を形成した。
一方、電荷輸送剤として実施例1で得られた精製品100部をポリカーボネート樹脂の13.0%テトラヒドロフラン溶液962部に加え超音波をかけて完全に溶解させた。この溶液を前記の電荷発生層上にワイヤーバーで塗布し、常圧下110℃で30分間乾燥して膜厚20μmの電荷輸送層を形成し感光体を作製した。
[感光体比較例1]
実施例3において使用した実施例1の精製品に代えて、比較例1の精製品を使用し、実施例3と同様にして比較用の感光体を作製した。
感光体実施例1および感光体比較例1で作製した感光体を静電複写紙試験装置(商品名「EPA−8100A」)を用いて電子写真特性評価を行った。まず感光体を暗所で−6.5kVのコロナ放電を行い、このときの帯電電位V0(−V)を測定した。次いで1.0μW/cm2の780nmの単色光で露光し、半減露光量E1/2(μJ/cm2)、5秒間露光後の残留電位Vr(−V)を求めた。評価結果を[表1]に示す。
Figure 0004531429
[表1]の結果から、4−[N,N−ビス(4−メトキシフェニル)アミノ]スチルベンの場合は、高真空蒸留品と同等の性能を有する化合物を得るためには6回の吸着精製が必要であることがわかる。
[合成例2]
5リットルフラスコに4−[N,N−ビス(4−メチルフェニル)アミノ]ベンズアルデヒド602.7g(2.0mol)、4−メチルベンジルホスホン酸ジエチル532.9g(2.2mol)、溶媒としてテトラヒドロフラン1.4リットルを加え、溶解させた。45℃以下に保ちながらカリウムターシャリーブトキシド291.7g(2.6モル)を加え、40〜45℃で1時間撹拌した。30℃に冷却しメタノールを滴下し、0〜5℃で30分撹拌後、ろ過して得られた結晶を60℃で減圧乾燥し、4−メチル−4’−[N,N−ビス(4−メチルフェニル)アミノ]スチルベン759.3g(収率97.5%)を得た。
合成例2で得られた4−メチル−4’−[N,N−ビス(4−メチルフェニル)アミノ]スチルベン500gを、単蒸留装置に仕込み、塔頂圧力0.37Pa、塔底温度240〜260℃の条件で蒸留を行った。主留分として4−メチル−4’−[N,N−ビス(4−メチルフェニル)アミノ]スチルベン450g(収率90%)を得た。LC分析による純度分析結果は99.9%であった。LC分析条件は[HPLC条件1]のとおりとした。
[比較例2]
合成例2で得られた4−メチル−4’−[N,N−ビス(4−メチルフェニル)アミノ]スチルベン50gを、40℃でトルエン250mlに溶解させ、活性白土25gを加えた。40℃で30分間撹拌した後、ろ過によって活性白土を除去した。ろ液に活性炭10gを加え同様に40℃で30分間撹拌した後、ろ過によって活性炭を除去した。以後同様の活性白土による吸着精製と活性炭による吸着精製を1回繰り返した後、全量を100mlまで濃縮後、メタノール300mlを加えて結晶を析出させた。ろ過して得られた結晶を60℃で減圧乾燥し、4−メチル−4’−[N,N−ビス(4−メチルフェニル)アミノ]スチルベン44.0g(収率88%)を得た。[HPLC条件1]によるLC分析結果は純度99.9%であった。
[感光体実施例2]
電荷発生剤として下記ビスアゾ顔料(電荷発生剤No.2)
Figure 0004531429
1.0部およびポリビニルブチラール樹脂の5%シクロヘキサノン溶液8.6部をシクロヘキサノン83部に加え、ボールミルにて粉砕分散処理を48時間行った。得られた分散液を導電性支持体であるアルミ蒸着PETフィルムのアルミ面上にワイヤーバーを用いて塗布し、常圧下110℃で1時間乾燥して、厚さ0.8μmの電荷発生層を形成した。
一方、電荷輸送剤として実施例5で得られた精製品100部をポリカーボネート樹脂の13.0%テトラヒドフラン溶液962部に加え超音波をかけて完全に溶解させた。この溶液を前記の電荷発生層上にワイヤーバーで塗布し、常圧下110℃で30分間乾燥して膜厚20μmの電荷輸送層を形成し感光体を作製した。
[感光体比較例2]
実施例6において使用した実施例5の精製品に代えて、比較例2の精製品を使用し、実施例6と同様にして比較用の感光体を作製した。
実施例6および感光体比較例2で作製した感光体を静電複写紙試験装置(商品名「EPA−8100A」)を用いて電子写真特性評価を行った。まず感光体を暗所で−6.0kVのコロナ放電を行い、このときの帯電電位V0(−V)を測定した。次いで1.0Luxの白色光で露光し、半減露光量E1/2(Lux・sec)、5秒間露光後の残留電位Vr(−V)を求めた。評価結果を[表2]に示す。
Figure 0004531429
[表2]の結果から、4−メチル−4’−[N,N−ビス(4−メチルフェニル)アミノ]スチルベンの場合は、高真空蒸留品と同等の性能を有する化合物を得るためには4回の吸着精製が必要であることがわかる。
電荷輸送剤の性能を阻害するような物質を含有しない、高純度で電気特性の優れた電子製品材料。



Claims (5)

  1. 一般式(1)で表されるスチルベン誘導体の
    Figure 0004531429
    (式中、Ar1は置換もしくは無置換のフェニル基を表し、Ar2は置換もしくは無置換のフェニル基または水素原子を表し、Ar3は置換もしくは無置換のフェニレン基を表し、R1、R2はそれぞれ置換もしくは無置換のフェニル基を表し、R1とR2は同一でも異なっていても良く、nは0または1を表す。)電気特性を向上させるために、10Pa以下の高真空条件下で真空蒸留を行うことを特徴とする、電子製品材料の精製方法。
  2. 前記した高真空条件が0.1〜1Paであることを特徴とする、請求項1記載の電子製品材料の精製方法。
  3. 前記した高真空条件下で行われる真空蒸留の蒸留装置が、単蒸留装置であることを特徴とする請求項1または請求項2記載の電子製品材料の精製方法。
  4. 一般式(1)で表されるスチルベン誘導体を、粗製品の段階から他の精製方法を使用すること無く、真空蒸留の1段階で精製することを特徴とする、請求項1〜請求項3いずれかの項に記載の電子製品材料の精製方法。
  5. 一般式(1)で表されるスチルベン誘導体が電子製品材料またはその中間体である、請求項1〜請求項4いずれかの項に記載の電子製品材料の精製方法。
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