JP4980922B2 - マイクロリソグラフィ投影露光装置及びマイクロリソグラフィ投影露光装置の像面湾曲を修正するための方法 - Google Patents

マイクロリソグラフィ投影露光装置及びマイクロリソグラフィ投影露光装置の像面湾曲を修正するための方法 Download PDF

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Description

関連出願
本出願は2004年11月18日に提出された米国特許仮出願番号60/629126号の優先権を主張するものである。この米国特許出願の全内容は参照で本出願の主題事項に組み入れられる。
本発明は、集積回路や他の微細構造部品の生産のために使用される投影対物レンズなど、マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズに関する。
大規模集積型電気回路や他の微細構造部品の生産のために、複数の構造層が例えばシリコン・ウェハなどである適切な基板の上に設けられる。これらの層を構造化するために、これらは最初に特定の波長範囲の光、例えば遠紫外(DUV)スペクトル範囲の光に感受性のあるフォトレジストで被覆される。このようにコーティングされたウェハが引き続いて投影露光装置内で露光される。マスク上に配置される構造のパターンが、このように照射システムによって照射され、投影対物レンズによってフォトレジスト上に結像される。結像縮尺比は概して1未満であるので、そのような投影対物レンズはしばしば縮小対物レンズとも呼ばれている。
フォトレジストが現像された後、最上層がマスク上のパターンに従って構造化されるようにウェハがエッチングまたは堆積処理を受ける。その後、残ったフォトレジストが層の他の部分から除去される。すべての層がウェハ上に形成されるまでこの処理が繰り返される。
構造の形成できるサイズは使用される投影対物レンズの解像度によって主に決まる。投影対物レンズの解像度は投影光の波長が短くなるにつれて上がるので、解像度を上げる一つの方法はより短い波長の投影光を使用することである。現在使用される最短の波長は遠紫外(DUV)スペクトル範囲、すなわち193nmと157nmである。
解像度を上げる別の方法は、投影対物レンズの像側にある最終レンズとフォトレジストまたは他の露光される光感受性の層の間に残る空間の中に高い屈折率を備えた浸漬媒質を導入する発想に基づいている。浸漬操作のために特別に設計され、したがって液浸対物レンズとも呼ばれている投影対物レンズは像側で1を超える開口数(NA)、例えば1.3または1.4を達成することができる。さらに、浸漬は高い開口数、したがって向上した解像度を可能にするばかりでなく、焦点深度にも有利な効果を有する。投影対物レンズの像平面内でのウェハの正確な位置決めのための必要条件は焦点深度が大きいときに相応して厳密ではなくなる。
浸漬媒質は概して液体である。それでもやはり、固体の浸漬媒質も同様に検討されてきた(固体浸漬)。固体の浸漬媒質は光感受性層と直接接触せず、分離される。その間隔は使用される投影光の波長の数分の一に過ぎず、極めて狭い。単純にするため、以下では浸漬媒質が浸漬液体であるとする。しかし、相当する考えは固体の浸漬媒質にもやはり当てはまる。
屈折率が像側にある最終レンズの材料の屈折率よりも大きい浸漬液体の使用が現在では確立されている。この方式では、像側でこのレンズ材料の屈折率よりも大きい開口数を達成することが可能である。レンズ材料が、例えば、193nmの波長で約1.56の屈折率nSiO2を有する石英ガラスであれば、像側で1.6以上の開口数を達成することが可能である。これはしばしば高屈折率液浸リソグラフィ(HIIL)とも呼ばれている。
HIILの液浸対物レンズでは、最終レンズの像側の表面は凹面をなしていなければならない。このときにのみ、像側の最終レンズと浸漬液体の界面での全反射が原因で起こる大きな光損失を伴わずに投影光を高屈折率浸漬媒質の中に結合させることが可能である。像側にある最終表面の凹面の湾曲の効果は、浸漬液体がウェハと投影対物レンズの間で正の屈折力を備えた液体レンズを形成することである。
像側でそのような凹面になった最終表面を備えた液浸対物レンズの構造の例は国際公開第2005/081067号パンフレット、国際公開第2005/081067号パンフレット、国際公開第2005/059617号パンフレット、国際公開第2005/059654号パンフレットに見られる。
しかしながらそのようなHIIL液浸対物レンズを使用すると、投影操作中に安定した高い結像品質を確実に得ることが困難であることが見出された。その上、投影対物レンズの内側にある液体レンズを備えた投影対物レンズにも同様の問題が起こる。
HIIL液浸対物レンズ、または液体レンズが配置される投影対物レンズにおいて高い結像品質を確実にする手法を提供することが本発明の目的である。特に、これらの手法は投影操作中の結像品質の変動が許容限度の中に留まることを確実にすることを意図している。
この目的は、
a)対象を像片平面に結像させる、曲面を備えたレンズを有する投影対物レンズ、
b)対象を結像するために使用可能な領域にわたってこの曲面に直接接する液体または固体の媒質、および
c)投影操作中の媒質の加熱によって引き起こされる像面湾曲を減少させる、調節可能なマニピュレータを有するマイクロリソグラフィ投影露光装置によって達成される。
結像品質の変動が投影操作中の媒質の温度変化であることを発明人らは発見した。この媒質は液体であり、また固体浸漬のケースでは固形物である。この媒質は概して、投影光が通過するときに投影対物レンズの他の屈折要素よりも多く加熱される。これは、適切な媒質が投影光に対して一層高い吸収率を有するという事実に関連付けられる。投影光による比較的強い加熱は媒質の屈折率の変化につながり、これは比較的大きい。例えば、水は波長λ=193で約−1.0×10-4-1の屈折率温度依存性を有し、1.5よりも大きい屈折率を備えた液体の媒質に対しては、この温度依存性は同じオーダーの大きさであるはずである。これと比較すると、同じ波長において石英ガラスの屈折率の温度依存性は+1.94×10-5-1に過ぎず、フッ化カルシウム(CaF2)のそれはわずか−2.9×10-6-1でさえある。
大部分の媒質に対して、この温度依存性は負である。これは、媒質の温度が上昇すると屈折率が低下することを意味する。浸漬液体におけるHIILのケースのように、媒質によって形成されるレンズが例えば正の屈折力を有する場合、これは相応して低下する。
媒質中で調節されるべき温度は投影操作の持続時間や処理パラメータばかりでなく投影されるマスクによっても左右され、そのため容易に予測することは不可能である。したがって、温度で誘起される屈折力の変化を投影対物レンズの設計の中に織り込むことは不可能である。
液浸対物レンズの光学要素に反射的に作用する表面屈折力がペッツヴァル和に寄与するので、温度で誘起される媒質の屈折力変化は投影対物レンズのペッツヴァル和に影響を及ぼす。ペッツヴァル和の値は像面湾曲の指標である。像面湾曲という用語は、頂点の湾曲がペッツヴァル湾曲と呼ばれている曲面の上に光軸に直角な物体平面が結像される結像誤差を意味する。ペッツヴァル湾曲はペッツヴァル和と最終表面の材料の像側屈折率の積によって与えられる。
国際公開第2005/071491A2号パンフレットは、制御された方式で浸漬液体中の温度分布を調節できる策を開示している。その目標は概して均一な、または少なくとも回転対称の温度分布である。これは光の縞の形成を妨げる。浸漬液体の温度分布が操作時間を通して像面湾曲は生じないように一定に保たれることが可能となっても、未解決で残る。
さらに、わずかな像面湾曲を修正するために投影対物レンズ内の投影光の波長を低い開口数で調整することが当該技術で知られている。レンズ材料のばらつきのせいで、これは界面における屈折率の比、したがってペッツヴァル和を変える。さらに、波長の調整によって誘起された結像誤差を修正するために追加のZマニピュレータが操作されなければならない。
しかしながら、日常的に光源として使用されるレーザの波長は極めて限られた量しか調整できない。さらに、大きな波長変化はまた、投影対物レンズの光学要素の透過率を許容不可能な程に低下させる。したがって、単に波長を変えることによって、通常では媒質の温度変化によって引き起こされるようなペッツヴァルの大きな変化を補償することは不可能である。
投影対物レンズ内の像面湾曲を修正するために、光軸に直角な方向に沿って2つの非球面で非回転対称の光学要素を移動させることは欧州特許第0851304号明細書から知られている。
その上、最終レンズの材料の屈折率よりも小さい開口数を備えた液浸対物レンズでは、温度で誘起される像面湾曲の変化は生じない。これは、最終レンズの像側にある表面がそこでは平面であり、したがって浸漬媒質が屈折力を伴わない平面平行のプレートを形成することが原因である。加熱が原因で生じる平面の屈折率の変化はテレセントリックである光線経路内の球面収差を対象物側で生じるに過ぎず、これらは従来のZマニピュレータで十分に修正される。
既に述べられたように、正の屈折力を備えた媒質の温度変化は概してペッツヴァル和の減少を引き起こす。マニピュレータの補助によってペッツヴァル和の減少が達成されるに過ぎないとすれば、投影対物レンズの基本状態にマニピュレータを展開すること、および媒質が加熱されるときにマニピュレータの展開を減少させることが有利である。
マニピュレータの制御は概して、それ自体知られているセンサを使用した像面湾曲の反復測定によって、または動作状態を表情報と整合させることによって実施される。そのため、例えば、投影露光装置の操作中の媒質の加熱が判定される。特に、媒質の温度の直接測定、または照射角度分布や運転時間などのパラメータに基づいた推定がそのために適している。見出される加熱から、表に保持される情報との比較によって像面湾曲が判定される。
必要な修正は測定によって事前に判定され、照射角度分布、マスクの透過率、ダイヤフラムの開口、走査速度、その他の動作パラメータなどのパラメータによって決まる。
しかしながら、温度で誘起される像面湾曲を修正するために、投影対物レンズ内の媒質の温度および/または屈折率が測定される制御ループを使用することも可能である。マニピュレータは測定された値の関数として調節される。測定については光線経路内で、さらに温度および/または屈折率の勾配の形成のせいで複数の位置で実施されることが必然的に最も有利である。しかしながら大きな容積にわたってこれらの量を測定することは比較的多大な費用を必要とする。したがって、屈折率分布を判定するときにシミュレーションまたは表に保持された実験に基づく値を使用するようにしてもよい。これの代替策として、測定することが容易な、例えば投影対物レンズの外側での定量値から媒質の温度と屈折率の分布を推定することが可能である。
本発明の他の特徴および利点は図面を参照した以下の例となる実施形態の説明の中で見出されるであろう。
図1は全体として10で示されるマイクロリソグラフィ投影露光装置を通る経線方向の断面を極めて概略的な表現で示している。投影露光装置10は投影光13を発生させるための照射装置12を有し、これが光源14、16で示される照射光学要素と視野絞り18を含む。表わされている例の実施形態では、投影光は193nmの波長を有する。もちろん、他の波長、例えば157nmまたは248nmを使用することも可能である。
投影露光装置10はさらに、レンズ、ミラー、またはフィルタ素子などの多数の光学要素を含む投影対物レンズ20を有する。これらの例として3つのレンズL1、L2、L3が図1に表わされている。投影対物レンズ20は、投影対物レンズ20の物体平面22内に配置されるマスク24を、例えばフォトレジストで構成されるであろう光感受性層26の上に結像させるために使用される。層26は投影対物レンズ20の像平面28内に配置され、支持体30上に設けられている。
支持体30は、平たい箱状で上部の開いた容器32の底に固定され、これが移動デバイスの補助で像平面28に平行に(詳細に表わされていない方式で)移動させられる。容器32は浸漬液体34で満たされており、それにより、投影露光装置10の操作中に投影対物レンズ20の、像側にある最終レンズL3が浸漬液体34の中に浸される。表わされている例の実施形態では、像側にある最終レンズL3は193nmの波長で屈折率nCaF2=1.5014を有するフッ化カルシウム(CaF2)で構成される。
浸漬液体は1.5よりも大きい屈折率nLを備えた特に高屈折率の浸漬液体である。そのような浸漬液体の例は85重量%のリン酸(H3PO4)と15重量%の水の混合物である。193nmの波長でこの混合物は屈折率nL=1.54を有する。このさらなる詳細は「Phosphoric Acid as a High−Index Immersion Fluid」という表題の文献(K.R.Wolf,22nd Annual Microelectronic Engineering Conference,May 2004,pp.40〜43)の中に見られる。1.6よりも大きい屈折率を備えた浸漬液体は国際公開第2005/074606号パンフレットに述べられている。したがって、浸漬液体34は像側にある最終レンズL3よりも高い屈折率を有する。
供給管路36と放出管路38を介して容器32は循環ポンプ、浸漬液体34を清浄化するためのフィルタ、温度調節器を含む処理ユニット40に接続される(それ自体知られている方式であり、したがって詳細に表わされない)。
容器32はまた、先行技術でそれ自体知られているように、供給管路36と放出管路38が像側にある最終レンズL3へ直接延ばされれば除外されてもよい。
表わされている例の実施形態では、レンズL3は像平面28に向かって凹面になった表面Sを有する厚い凹凸レンズである。したがって、図1では真の縮尺で表わされていない空洞が表面Sと光感受性層26の間に形成される。
最終表面Sの凹面湾曲のせいで、比較的小さい光線入射角度のみがそこに生じる。したがって、表面Sにおける反射損失は相応して小さい。したがって投影対物レンズ20の光軸OAに対して大きい開口角を備えた光線でさえも結像に寄与し、それにより、最大で浸漬液体34の屈折率nLまで広がる開口数が投影対物レンズ20で達成される。
一方で浸漬液体34の屈折率が物体側にあってこれに隣接するレンズL3の屈折率よりも高く、他方でレンズL3と浸漬液体34の間の界面が凹面になっているので、空洞の中の浸漬液体34は正の屈折力を備えた液体レンズ44を形成する。投影操作中に液体レンズ44の加熱が起こる。浸漬液体34の比較的高い吸収のせいで、液体レンズ44は像側にある最終レンズL3よりも一層強く加熱される。さらに、液体レンズ44内の屈折率の温度依存性(波長λ=193において約−1.0×10-4-1nm)はフッ化カルシウムのそれ(−2.9×10-6-1)よりも大きい。
この加熱によって浸漬液体34の屈折率が低下する。したがって液体レンズ44の屈折力もやはり下がる。液浸対物レンズ20のすべての屈折作用光学要素の屈折力がペンツヴァル和に寄与するので、液体レンズ44の屈折力のこの低下は。液浸対物レンズ20のペンツヴァル和に影響を及ぼす。
液体レンズ44の温度上昇によって引き起こされるペンツヴァル和の変化を防ぐために、温度変化にもかかわらず屈折力が変化しないように、液体レンズ44自体が影響を受ける。これの代替策として、逆の正負記号を備えた一つまたは複数の屈折光学要素の屈折力を変えることによって液体レンズ44の屈折力の変動を補償することが可能である。2つの前述の可能性が組み合わされることもやはり可能である。これは、液低レンズ44の屈折力の変化が完全ではないが部分的にのみ妨げられることを意味する。その後、残りの屈折力変化は一つまたは複数の光学要素の逆の屈折力変化によって補償される。
「液体レンズ」という用語が以下で使用されるとき、これは浸漬液体34によって形成される液体レンズ44を意味することが第1に意図される。それでもなお、同じ対策が固体の浸漬媒質または投影対物レンズの内側の液体レンズにも同様に適用できることは理解されるべきである。この投影対物レンズの内側の液体レンズは、浸漬液体または投影対物レンズの内側の別の液体レンズの加熱から結果として生じる像面湾曲を修正するように意図されてもよい。
液体レンズまたは別の光学要素の屈折力を制御された方式で変えるために原理として2つの実行可能な方法があり、必要であればこれらを組み合わせることも可能である。一方で、屈折作用界面における屈折率の比の変化を介して屈折率に影響を与えることが可能である。他方で、屈折または反射作用界面の形状を変えてもよい。
作用が前記2つの原理に基づくマニピュレータの様々な例の実施形態が以下で詳細に説明される。これらのマニピュレータは多様なサブグループに組み合わされてもよい。各々のマニピュレータは像面湾曲の完全または部分的な修正のために独自または他のマニピュレータとの組み合わせで使用されてもよい。さらに、原理として、各々のマニピュレータは投影対物レンズ内で温度で誘起される以外の像面湾曲の修正のためにも使用できる。
1.屈折率の変化
1.1 液体中への塩の導入
液体の屈折率を塩を導入することによって変えることが可能である。例えば、液体レンズ44の温度が上昇し、したがって屈折率が低下すれば、屈折率がその本来の値に戻るように屈折率を上げる塩が浸漬液体に添加される。極めて一般的に、液体の屈折率が温度変化にかかわらず不変を保つように塩の添加がこのように制御される。
図1に示された投影露光装置では、塩は処理ユニット40内の浸漬液体34に添加される。
温度で誘起される像面湾曲を修正するように屈折力を変えるために浸漬液体34中だけではなく、液浸対物レンズの内側の他の液体レンズ内に塩を添加することも可能である。
1.2 混じり合わない浸漬液体
M1で示される図2に示されたマニピュレータでは、異なる屈折率を有して互いに混じり合わない2つ以上の浸漬液体34a、34bを液体レンズ44に対して使用する。液体レンズ44の平均屈折率、したがって屈折力が、温度で誘起される像面湾曲が修正されるように変えられる。
混じり合わない浸漬液体34a、34bはこれらの間に界面46を形成し、これは図2に強調して示されるように概して緩やかに曲がっている。したがって屈折表面はこの割合によって変えられた形状を同時に有し、これは下記の2.1でさらに詳細に説明されるであろう。液体レンズ44全体の屈折力はこのようにして2つの浸漬液体34a、34bの屈折率、それらの量、界面46の形状によって決定される。
温度で誘起される像面湾曲を修正するように屈折力を変えるために、この手法は浸漬液体に対してのみ可能なのではなく、液浸対物レンズの内側の他の液体レンズに対しても同様に使用できる。
1.3 浸漬液体を形成するための少なくとも2つの液体の均一な混合
異なる屈折率を備えた少なくとも2つの液体の均一な混合物を、浸漬液体34として使用する。温度で誘起される屈折率の変化を補償するように、浸漬液体の屈折率が2つの液体の混合比を変えることによって変えられる。したがって、混合物の組成を、操作中に状態を変えるように構成させれば、液体レンズ44の光学的特性を露光時間全体にわたって一定に保つことが可能である。
図1に示された投影露光装置では、少なくとも2つの液体は処理ユニット40の中で一体に混合される。
温度で誘起される像面湾曲を修正するように屈折力を変えるために、2つの液体の混合は浸漬液体に対してのみ可能であるだけなく、液浸対物レンズの内側の他の液体レンズに対しても使用可能である。
最終レンズL3の曲面Sは、操作中に乱れた流れが生じることもあるという危険性を伴う。これは浸漬液体34の粘度の制御された変更によって回避できる。この変更は、例えば、特定の屈折率を備えた液体が等しい屈折率であるが異なる粘度の2つの構成要素を順次含めることで実施可能である。液体の粘度は2つの構成要素の混合比を変えることによって変更される。
1.4 気体の混合
投影対物レンズ10内の少なくとも一つの曲面レンズの表面に隣接して気体があれば、この気体の屈折率を変えて屈折力変化を引き起こすことができる。したがってそのようなマニピュレータは像面湾曲を修正するために使用できる。
屈折力の変更は第1の気体を第2の気体で完全または部分的に置換することによって達成できる。これらの気体はそれらの屈折率で違いがある。部分的な置換は第1の気体と第2の気体の混合比を変えることに相当する。もちろん、2つを超える気体が混合されてもよく、または相互に完全に置換されてもよい。これらの気体は、例えば窒素、ヘリウム、または酸素であってもよい。
場合によっては、または追加として、中間の空間の屈折率もやはり気体の圧力を変えることによって影響を受けることがある。
異なる屈折率を備えた2つの気体のための2つの加圧気体容器41aと41bが図1に概略的に配置されている。これらの気体はバルブ制御型供給部42a、42bを経由してレンズL1とL2の間の気密性の中間空間43の中に導入されている。2つの気体の混合比はバルブを使用して調節される。中間空間43の内側の圧力は、例えば、気体出口45内のバルブを使用して調節される。
1.5 液体の温度変化
原理では、光学要素(特にレンズやミラー)または光学要素間にある気体の温度を変えることによって屈折力の変化を作ることもやはり可能である。この目的のために、例えば、光学要素の光学的に使用される領域の近辺、特に周囲に加熱または冷却素子が配置されてもよい。これらは、例えば、先行技術でそれ自体知られているように層流の気体を光学要素の上に方向付ける。
場合によっては、または追加として、投影光の波長とは異なる波長を備えた光の第2の放射源を使用してレンズを故意に曝し、その位置で局所的に屈折率を変えるようにしてもよい。屈折率による屈折力の変化が温度で誘起される像面湾曲を低減させるように、屈折率の変更が用意される。
しかしながら、望ましい温度分布は比較的低速で設定されるので、レンズや他の光学要素の加熱で像面湾曲の迅速な修正は不可能である。
したがって、2つの光学要素の間、例えば2つのレンズの間の中間空間にとって液体で満たされることがさらに効果的である。組成の点で見ると、この液体は場合によって提供される浸漬液体と同じ液体であってもよい。この液体に隣接する少なくとも一つの表面はこのとき、この液体が液体レンズを形成するように湾曲を設けられる。中間空間の中の液体の制御された加熱または冷却によって、この液体レンズの屈折力を変えることが可能である。
操作中に投影光が通過すると液体自体が温まるので、温度で誘起される像面湾曲の自己調節型修正もまたこれによって可能である。極めて一般的に、マニピュレータ内の温度上昇は逆の正負記号を有するペッツヴァル和の変化をこのとき生じさせるはずであり、これは修正されるべき媒質中に誘導される。
浸漬液体34によって誘導される像面湾曲の自己修正に関して、これは修正用液体レンズが負の屈折力を有することを意味する。適切に設計するば、修正用液体レンズの負の屈折力の変化はこのとき浸漬液体34によって形成される液体レンズ44の正の屈折力の変化を補償する。これは図3、4に示される一例の実施形態を参照してさらに詳しく下記で説明されるであろう。
図3は、像面湾曲を修正するために使用され、例えば図1のMで示されるような投影対物レンズ20内の位置に配置されてもよいマニピュレータM3を示している。
2つのレンズ48はこれらの間に中間空間を形成し、これが液体50で満たされる。表わされているこの例の実施形態では、2つのレンズ48のうちの上側はフッ化カルシウムで構成され、下側のレンズは非晶質石英ガラスで構成される。これらのレンズ48は周囲の密封要素52によって独自のフレーム51a、51b内にそれぞれ保持される。さらなる密封要素52が2つのフレーム51a、51bを互いに密封する。これらの密封要素52は、液体50が中間空間から表に出ないことを確実にする。密封要素52はさらに、これらがレンズ48のどのような変形も引き起こさないように設計される。
これらのレンズ48の間の中間空間を満たすための第1の通路50がフレーム51b内に設けられる。他方のフレーム51a内の第2の通路56はオーバーフローと通気のために使用される。
中間空間を液体50で満たすためにマニピュレータM3全体が図4に示されるように傾けられる。この方式で、曲面レンズ48の間の中間空間は凹レンズ表面の下に充填中に逃げることのできない気泡を形成することなく満たされる。充填後に、通路54、56は閉じられ、投影操作中では閉じて保たれる。
図3に示されたマニピュレータM3の設計の代替例として、2つのレンズ48が共通のフレーム内に保持されることももちろん可能である。このとき2つの個別フレーム間の密封要素は不要である。
2つのレンズ48の異なる材料、したがって異なる屈折率のせいで、これらのレンズ48の間に液体50によって形成される液体レンズは、上側界面における屈折率の比が下側界面におけるよりも小さければ負の屈折力を有する。液体50が投影光13によって加熱されると、その屈折率が低下し、したがって液体50によって形成される液体レンズの負の屈折力が低下する。この方式で、浸漬液体34によって形成される液体レンズ44の正の屈折力の低下を補償することが可能である。したがってペッツヴァル和は少なくともほぼ一定に保たれ、それにより、温度で誘起される像面湾曲は起こらない。投影対物レンズ20はこのようにして、浸漬液体34の温度および/または屈折率が詳細に知られることを必要とせずに自体を或る一定の程度に修正する。
図5はこの原理に従って動作する別の例のマニピュレータM5を、極めて概略的な表現で示している。浸漬液体34によって形成された液体レンズ44の最上部で凹面で境界を接するレンズL3の上に、中間空間が隣のレンズ48’に向かって形成され、液体50で満たされる。液体50はレンズ48’とL3よりも高い屈折率を有する。したがって液体50によって形成される液体レンズは負の屈折力を有し、その一方で液体レンズ44は正の屈折力を有する。温度上昇の事象で液体50内と浸漬液体34内の両方の屈折率が低下すれば、前述の自己修正が起こる。このとき、浸漬液体34の加熱は許容不可能な像面湾曲につながらない。
図3、4を用いて示された例の実施形態では、レンズ48の位置変化または変形、したがって結像誤差につながると思われる圧力変動を補償するために追加的な対策が設けられることが可能である。実現可能な対策の例は補償用容器、可撓性の密封用膜、および/またはバルブを使用した圧力補償を含む。圧力変動がそのような対策で信頼性良く阻止されることができなければ、圧力変動によって引き起こされる結像誤差を修正するために或る一定の環境下で追加的なマニピュレータが必要とされるであろう。
浸漬液体34の加熱によって作り出される像面湾曲を修正するためにマニピュレータM3が使用されるべきであれば、マニピュレータM3の近接場配置が好ましい。この方式で、投影光は浸漬液体34と同様にレンズ48の間の中間空間内の液体50を通過する。したがって、マニピュレータを図5に示されるマニピュレータM5に関するケースのように像側にある最終レンズL3の直ぐ隣に、または中間の像平面内に配置することが好都合である。しかしながら、しばしば、投影対物レンズはマニピュレータM3が中または近辺に配置されると中間の像平面を有さない。これらのケースでマニピュレータM3を配置するとき、投影光が投影対物レンズ20の物体側の端部で一層高い強度を有することを考慮に入れるべきである。したがって、別の場合の等しい条件で、液体50は投影対物レンズ20の反対側端部の浸漬液体34よりもさらに強く加熱される。
中間空間を充填するとき、および投影露光装置の操作中に脱気するときの両方で気泡が液体50中に形成される。充填時の気泡形成は、中間空間がエッジや粗い表面をより少なくすることで低減される。図4を用いて説明された充填方法は気泡形成も妨げる。液体50からの気体の放出を促進するために、充填するときに第2の通路56にさらに負圧が加えられることもあり得る。
投影露光装置10の耐用年数の間に老朽化や不純物汚染が原因で液体50の屈折率が変化するので、液体50は定期的間隔で入れ換えられるべきである。
上記で説明されたマニピュレータM3、M5では、液体50が循環できないようにレンズ48の間、またはレンズL3と48’の間の中間空間は投影操作の間では閉じられる。これに代わる代替策として、中間空間が液体50で漸次洗い流されるように中間空間が投影操作の間に開かれてもよい。
しかしながら、洗い流される中間空間における圧力変動は閉じた中間空間の中よりも大きい。このとき、圧力変動を抑制するための前述の対策が特に重要となる。
投影操作の間を通して中間空間を洗い流すことは気泡形成の危険性もやはり高める。したがって液体の流れは乱流ではなく層流でなければならない。液体の流路は最初に通気され、その後に外側から空気が入れないように閉じられる。さらに、隣合うレンズ群の表面は、可能性のある空気接続がレンズの表面に付着しないように構成される。例えば、液体に晒されないことがレンズの装着と密封にとって好都合である。流れを導くために、材料の浸食は液体の不純物汚染を阻止するように小さくすべきことをさらに考慮に入れなければならない。
循環する液体50は、閉鎖系内よりもより容易に置換され、かつ投影操作中を通して連続的に置換されるという利点を有する。液体50の一貫した純度はこの方式で確実にされる。
例えば光感受性層26による浸漬液体34の不純物汚染が十分な程度で防止できない場合、いくぶん高い吸収を達成するために液体50を最初にドーパントで意図的に汚染させることが望ましい。このとき液体50のドーピングは液体50と浸漬液体34が全体で一定の透過率を長期にわたって有するように投影操作の経過の中で調節される(概して減らされる)。この対策はさらに、本願明細書で主として取り組まれる温度で誘起される像面湾曲の修正とは無関係に便宜上使用されることもある。
概して、同じ組成を有することが浸漬液体34と液体50にとって最も好都合である。例えば、液体50と浸漬液体34が同じ容器から取られてもよい。これらが異なる容器から取られる場合、これらの容器の温度を確実に等しくすることが望ましい。これは、良好な熱接触を有するように、例えば、2つの容器を互いに直接隣接して置くか、または一方の容器を他方の容器の中に置くことで達成できる。
浸漬液体34と液体50が投影対物レンズ20の内側で比較的遠く離れた位置に配置される場合、これらの液体が異なる温度となることを考慮に入れる必要がある。
加熱される液体によって、隣接するレンズ表面の温度も同様に上昇する。例えば多点装着のケースでは、これによって生じる変形が球面結像誤差を修正するために利用される。少数箇所で装着すれば、低次、例えば二次結像誤差を修正することができる。したがって、液体50に隣接したレンズの装着は意図される効果に従って細心の注意を払って設計されるべきである。
図6は、温度で誘起される像面湾曲が自動的ではなく能動的制御によって修正されるマニピュレータM6の一例の実施形態を示している。ここでは浸漬液体34によって形成される液体レンズ44と、液体50”によって形成される液体レンズの温度が温度センサ60によって記録される。液体50”の温度は加熱または冷却素子62(単に概略的に示されている)の補助で変えられることもある。これには、例えば、層26に感じられない光を液体50”へ向ける外部光源を含む。制御器64は液体50”の温度を、浸漬液体34の温度と所定の比(設定値66)になるように調節する。この比は1:1であることが好ましい。
能動的制御の別の形態では、生じる像面湾曲が測定される。測定された像面湾曲の関数として、投影露光装置10の操作時間とは無関係に像面湾曲が可能な限り小さく留まるように液体50”によって形成される液体レンズの温度が制御される。
図3から5に示される一例の実施形態で起こるような調整なし修正のケースで、設計方針によって温度に影響を与えるために、例えば、適切に設計された受動的ヒート・シンクが支持体30の領域に設けられてもよい。これらは、液体50の修正効果が像面湾曲を小さく保つのに十分となるように浸漬液体34の温度を下げる。ヒート・シンクではなく、追加の外部エネルギー供給を伴わずに液体50”の温度を上げることが可能な器具を使用することもある。適切な例は例えばTa25の吸収層を含む。これは使用されていない投影光(例えば散乱光またはより高次の回折)を吸収し、それによって熱入力に導く。これの代替策または追加として、外部の無調整光源が液体50”の温度を上昇させるようにしてもよい。
1.6 液体または固形物の密度変化
液体または固形物の屈折率は、該当する媒質内の圧力に応じて決まる。したがって、誘発される密度変化を使用することによって望ましい方式で屈折率を意図的に変えることが実現可能である。そのような密度変化は媒質に圧力を与えることによって生成される。この方式で、例えば、音響光学変調器から知られているような音波を発生させることが可能である。図1はその例の方式で圧電結晶63、65を示しており、これらはレンズL1の円周の周囲に配置される。圧電結晶63、65は、光源14によって生じるレーザ・パルスと同期してレンズL1の中に圧力波を発生させ、それによって屈折率を変えるように駆動される。
2.光学面の形状変化
上述されたように、光学要素の屈折力を、屈折または反射作用界面の形状を変えることによって変えるようにしてもよい。
2.1 分離表面が可変形状を有する2つの浸漬液体
図7は上記の1.2で述べられた手法をさらに発展させたマニピュレータM7を示している。マニピュレータM7は2つのレンズ67、69を含み、これらの間に液体で満たされた中間空間がある。この中間空間は異なる屈折率を有する2つの液体50a、50bで満たされ、これらは薄い膜70によって互いに分離される。膜70の形状を、図7の72で全体として示されるように電圧を印加することによって変えることができる。電圧を変えることによって、液体50a、50bの間の膜70は、例えば70’で示される形状へ変換させられる。膜の電圧制御型屈曲についての詳細は国際公開第2005/081067A1号パンフレットに述べられている。
液体50a、50bが異なる屈折率を有するので、膜70の変形は屈折力の変化を引き起こし、これによって像面湾曲を修正できる。
液体50a、50bで満たされた中間空間は、図2に示された一例の実施形態におけるケースのように像側にある最終レンズL3と光感受性層26の間の中間空間である。
2つの液体の間の膜を変形させる別の可能な方式はこれらの液体の圧力を変えることである。
図8aは図7に類似した表現でマニピュレータM8を示しており、これは2つのレンズ87、89を含み、これらの間に液体で満たされた中間空間がある。この中間空間は異なる屈折率を有する2つの液体50a、50bで満たされ、これらは薄い膜80によって互いに分離される。レンズ89のためのフレーム88は通路82を有し、これを介して液体50bの圧力を変えることが可能である。この方式では、液体50bの圧力を変えることによって、図8aの点線で示されるように、膜80を変形させることが可能である。
図8bはマニピュレータM8の変形例(M8’で示される)を示しており、ここでは薄い膜80が薄いレンズ80’で置き換えられている。2つの通路82a、82b(これを介して液体50a、50bの圧力を互いに別々に変えることができる)がレンズ80’と平面平行プレート89’のためにフレーム88’内に形成される。
2.2 レンズの変形
レンズを変形させることによって、その屈折力を意図的に変えることが可能である。
張力または圧縮力(接線方向に作用することが好ましい)がレンズの周囲に加えられるフレームを備えたレンズを用いることが最も単純である。
レンズを変形させるために必要とされる圧力を、レンズの隣にある液体によって与えるようにしてもよい。
図9は2つのレンズ90、92を備え、これらのレンズの間に中間空間を形成するマニピュレータM9を示しており、この空間が液体50で満たされ、外部から密封される。液体50の屈折率は、レンズ90、92を構成する材料の屈折率よりもわずかしか異ならないことが好ましい。ここで圧力が液体50に加えられると、レンズ90、92の互いに対向する表面が図9の点線94で示されるように変形する。
液体50に圧力を行使するために、液体50は制御可能な圧力源と通路96を介して連絡していることもある。
2.3 レンズ間の複数の中間空間の可変充填
図10は異なる曲面を備えた4つのレンズ100、102、104、106を有するマニピュレータM10を示している。隣合うレンズの対がそれらの間で中間空間を形成し、これらの空間がバルブVによって制御可能な管路系を介して、レンズ材料の屈折率から大きく異なり過ぎないことが好ましい屈折率の液体で互いに独立に満たされる。図10に示された状態では、レンズ100と102の間およびレンズ102と104の間の中間空間が液体50で満たされ、その一方でレンズ104と106の間の中間空間は気体で満たされている。この管路系は液体供給部108、気体供給部110、液体と気体の共通の出口112を有する。
中間空間のうちのいずれが液体50で満たされたかに応じて、隣合うレンズはペッツヴァル和に異なる寄与を与える。したがって、たとえ連続的ではなくても少なくとも個別の像面湾曲の低減が可能である。
もちろんこのマニピュレータは2つまたは3つ以上の中間空間を有することも可能であり、これらは互いに隣合うことを必要としないが、投影対物レンズ20を横断して分配して配置されてもよい。
2.4 同期して移動させられる非球面
非球面は、光学的に活性な表面にわたってその湾曲が連続的に変化するという特性を有する。非球面の表面がこの表面の外側遠方にある回転軸の周囲で回転させられるように適切に組み合わされ、それにより、これらが異なる頂点半径となれば、そのような配列でペッツヴァル和に影響を与えることが可能であり、したがって像面湾曲を修正することが可能である。同様の原理が、例えば眼球の屈折を判定するために使用されるアルバレス・レンズに使用される。しかしながら、これらのレンズは回転させられないで光軸に直交する平面内で並進で移動させられる。この知られている手法についての詳細は前述の欧州特許第0851304号明細書に見られる。
作用が回転非球面の原理に基づくマニピュレータの一例の実施形態は図11a、11bを参照して下記で説明される。
図11a、11bはマニピュレータM11の極めて単純化された断面を2つの異なる構成で示している。マニピュレータM11は2つの非球面の凹凸メニスカス・レンズL110、L111を有する。2つのメニスカス・レンズL110、L111はそれぞれ非球面110a、111aと球面110b、111bを有する。非球面110a、111aの形状は図12、13を参照して下記でさらに詳細に説明される。
2つのメニスカス・レンズL110、L111の球面110b、111bは、メニスカス・レンズL110、L111が回転軸の周囲でY方向に回転させられるように、玉軸受けまたは転がり軸受け(図示せず)の補助で案内させられる。メニスカス・レンズL110、L111の他の軸受けは図14から20を参照して下記で説明される。回転軸は球面110b、111bの湾曲のそれぞれの中心をそれぞれ含む。メニスカス・レンズL110、L111の回転運動は図11aに矢印114、116で示される。
メニスカス・レンズL110の非球面110aがX座標の増大と共に増大する湾曲を有することが図11aに見られる。下記で図12、13を用いて説明されるように、このケースでは湾曲はX方向に沿ってのみでなく、これに直角の方向、すなわちY方向に沿ってもやはり増大する。第2のメニスカス・レンズL111については逆のことが当てはまり、それにより、湾曲はX座標が減少するにつれてX、Y方向で増大する。
この方式で、2つのメニスカス・レンズL110、L111の全体的行動は少なくとも近似して回転対称である。この近似はメニスカス・レンズL110、L111が薄くなり、Z方向でこれらの互いの間隔が小さくなるにつれてさらに向上する。
ここで2つのメニスカス・レンズL110、L111が湾曲の中心の周囲で矢印114または116で示される方向に回転させられれば、これは非球面110a、111aに影響を及ぼすに過ぎない。球面110b、111bはそれらの効果を変えず、なぜならばそれらの湾曲の中心が回転軸上にあるからである。
しかしながら回転によって、メニスカス・レンズL110の非球面110aは光路を区切るダイヤフラム112に対して、さらに大きな湾曲を備えた領域が光路に入るように移動させられる。具体的例示のために、メニスカス・レンズL110の元の位置は図11bに点線で表わされている。同じことが第2のメニスカス・レンズL111についても当てはまる。2つのメニスカス・レンズL110、L111を図11bに示された様式で回転させることによって、マニピュレータM11はさらに高い屈折力をこのようにして与えられる。この屈折力の変化は2つのメニスカス・レンズL110、L111の段階的な回転によって任意に調節される。
マニピュレータM11は特に、投影対物レンズ20の湾曲した瞳の中に配置されるために適している。これは、マニピュレータM11内の非球面レンズL110、L111が光軸に対して直角に動かされるのではなく光軸に直角な軸の周囲で回転させられるという事実に関連する。レンズL110、L111の表面110a、110bと111a、111bが投影対物レンズ20の瞳の湾曲に最適に適合させられれば、この適合は回転処理の後でもやはり保持される。瞳の湾曲に適合させたそのような光学要素の設計は、光軸に対して直角な平面内で並進で移動させられる非球面のケースでは不可能である。
ここで非球面110a、111aの特定の形状が図12、13を参照してさらに詳細に説明される。
図12は円錐形にされた表面120の部分を示しており、これの対称軸122はX方向に平行に整列させられる。
作成された表面120上を、XZ平面に平行の中央平面と表面120の交差で与えられる線124に沿って移動すると、X方向でのこの線上の湾曲はゼロに等しい。しかしながらこれに直交するYZ平面では、減少するX座標と共に湾曲は連続的に増大する。したがって、表面120はその湾曲が一方向で一定(すなわち無限)であり、これに直角な方向で連続的に減少するという特性を有する。
湾曲がますます大きくなるように円錐形の作成された表面120の対称軸122が曲げられれば、作成表面120は図13に示された表面120’へと変換される。線124に相当する線124’上を移動すると、ここでは湾曲は減少するX座標と共にXZ平面とYZ平面の両方で連続的に増大する。
非球面110a、111aは正確にこの特性を有し、したがって、作成表面120’のセグメント126として記述することが可能である。この点でこの状態はカタツムリの殻の幾何学形状に匹敵し、カタツムリの殻の先端に向かってカタツムリの殻の回旋上を移動するとき、その湾曲は同様に2つの互いに直交する方向で減少する。
単に正確を期すために、より良い明瞭化を目的として非球面110a、111aの湾曲が極めて強調して表わされていることが述べられるべきである。回転させるときの湾曲の極めてわずかの変化がマニピュレータM11を用いて像面湾曲を修正可能なために十分である。回転角もやはり図11bに強調して表わされている。或る一定の環境下では、修正効果を達成するためにメニスカス・レンズL110、L111を数分の1度回転させることで十分である。この小さい回転角度が理由で、2つのメニスカス・レンズL110、L111のうちの単に一方を回転させること、または傾けることによって回転運動に近似させることでさえ十分である。たとえマニピュレータが2つではなく一つの非球面レンズのみを有するとしても、像面湾曲はこのレンズによって導入される非点収差が許容可能であるときにこのレンズの運動によって効果的に修正されることが可能であり、または追加的な対策によって修正される。
一つまたは2つの非球面レンズの前述の運動が作り出され得るこの方式のいくつかの変形例が下記で簡単に説明される。より良い明瞭化のために、このケースでは非球面は波のようにうねった表面として示されることがある。
図14に示された変形例では、2つの非球面レンズL141、L142はフレームワーク144を介して互いに堅固に接続される。2つのレンズL141、L142の回転軸146はフレームワーク144を変更することによって可変調節される。これは修正のために利用される追加的な自由度を提供する。
図15は、非球面レンズL151を傾けるために、レンズを保持する内側リングが光軸に平行に整列した3つの直線アクチュエータ152、154、156を介して外側リング(図示せず)に対して動かされる変形例を示している。アクチュエータ152、154、156は光軸に沿ったレンズL151の移動(これ自体は像面湾曲の修正にとって必要ではない)のみでなく、光軸に対する傾斜もやはり可能にする。まさにその原理から回転ポイントはレンズL151に比較的近接して存在するが、しかしこれは像面湾曲の最適な修正にとってしばしば最適ではない。もちろん、第2の非球面レンズもやはりこの方式で動かされる。
図16は、非球面レンズL161、L162から比較的遠く離れた軸の周囲で回転運動が可能である変形例を示している。レンズL161、L162のためのアクチュエータ164a、164bと166a、166bはここでは、これらの経線方向の軸が共通の回転軸168で交差するように設計される。
同様の効果は、図17の側面図と図18の平面図の非球面レンズL171に関して概略的に示されるように板バネ172a、172bを使用して達成させることもやはり可能である。
概して、2つの非球面レンズを回転または傾斜可能なために2つのアクチュエータが必要とされる。それにもかかわらず、運動が機能的に連結されなければならないので、単一のアクチュエータのみを作動させることもある。このとき、これは適切な伝動装置を介して両方の非球面レンズに同時に作用するであろう。
図19に示された変形例では、3つの直線アクチュエータ192、194、196がボールジョイントを介して一方では懸架装置(図示せず)、他方では非球面レンズL191へ接続され、それにより、レンズL191の回転運動は自在に選択可能な回転ポイントの周囲で実施される。もちろん、直線アクチュエータ192、194、196ではなく他のアクチュエータ、例えば電気的に屈曲可能な屈曲ロッドを使用することもやはり可能である。
図20は光軸に対して直角な傾斜軸の周囲で非球面レンズL201を傾ける特に単純な方式を示している。この目的のために、内側リングが固定された関節部202を介して外側リングに対して装着される。調節移動は直線アクチュエータ204によってもたらされる。回転軸は関節部202を調節することによって変更される。
図21に示された変形例では、非球面レンズL211はレンズの円周部を通って延びる回転軸の周囲で回転させられる。この目的のために、レンズL211を保持する内側リングが互いに対向する回転ピン212、214に接続され、これらが玉軸受け216、218の中に保持される。
2.5 能動ミラー
反射屈折投影対物レンズでは、投影対物レンズの設計によって引き起こされる像面湾曲を修正するために曲面ミラーが使用される。そのような曲面ミラーがその(頂点の)湾曲もやはり変えられるように能動ミラーとして設計されれば、温度で誘起される像面湾曲がそのようなミラーによって効果的に修正される。
像面湾曲自体を変えるために、近視野ミラーの湾曲を変えることが有利であろう。しかしながら従来式の投影対物レンズでは、概してそのような近視野ミラーは無い。暗くされていない系では近視野ミラーは軸外で使用されて断片で生成されるのみであり、それにより、変形に関するとこのケースでは単純に半径を変えるのに概して不十分である。そうではなく、このミラーは概して非球面の表面の変更に加えて、変えられた位置もやはり有するべきである。
2.6 他の対策
像面湾曲を修正するためのマニピュレータは屈折光学要素のセットによって、例えば屈折力が互いに異なる複数のフレネル・レンズの方式で形成されることもやはり可能である。この目的のために、マニピュレータは交換ホルダを含み、これでもって意図される屈折光学要素が光路の中に導入される。交換ホルダは例えば回転式ホルダであってもよく、これでもって回転式ホルダによって保持される複数の屈折光学要素のうちの一つがそれぞれ回されて光路の中に入れられる。
もちろん、屈折光学要素ではなく多様な屈折力を備えたペッツヴァル・レンズのセットを使用することもやはり可能である。
さらに、像面湾曲はレチクルを曲げることによって防ぐことも可能である。
3.誘発結像誤差の回避
上記で説明されたこれらのマニピュレータでもって、液体レンズが加熱されると常套的に起こる湾曲などの大幅な像面湾曲でさえ効果的に修正することが可能である。しかしながら、マニピュレータ自体が或る一定の環境下で追加的な修正対策を必要とする新たな結像誤差を導入することもある。
厚さが可変である液体平面プレートを、球面収差を修正するために使用することもある。単純な輪郭表現を用いて図22は、2つの平面平行プレート222、224の間で液体220で満たされる平面平行の中間空間が、供給部(図示せず)を介して液体220を添加または除去することによって変えられる光軸沿いの寸法を有する方式を示している。中間空間内の液体の量の変更を可能にするために、2つの平面平行プレート222、224のうちの少なくとも一つは光軸に沿って動かされるように投影対物レンズ20内で保持されなければならない。
温度で誘起される像面湾曲にとって可能な限り小さくなるように優先順位を保たれることが必然的に最も好都合である。
この目的のために、例えば、以下の対策のうちの一つまたは複数が実施されてもよい。
・回転容器を使用して液体を混合する。
・液体充填される中間空間の形状を、液体が一層良好に混合されるように確立する。
・像側にある最終レンズのケースでは、これとウェハの間の中間空間を、規定された層流が設定されるように浸漬液体が流れる。
・液体の層流のみが可能となるように液体に、隣接するレンズ表面の光学的に使用されない部分を構成させる。通路または一種の排液路がこの目的のために使用されてもよいが、役立たない領域は回避されるべきである。
照射システムと投影対物レンズを備えた投影露光装置の概略の表現を経線方向断面で示す図である。 温度で誘起される像面湾曲を本発明の第1の例示的実施形態に従って修正するためのマニピュレータを経線方向に通る断面図であって、異なる屈折率を備えた2つの混じり合わない浸漬液体が浸漬空間の中に導入される。 温度で誘起される像面湾曲を本発明の第2の例示的実施形態に従って修正するためのマニピュレータを経線方向に通る断面図であって、液体レンズの温度が変えられることが可能である。 液体で満たす間の傾斜した位置で図3のマニピュレータを示す図である。 図3および4に示されたマニピュレータの機能原理を説明するための簡略化された経線方向の断面を示す図である。 図3および4に示されたマニピュレータの変形例を経線方向に通る断面図であって、液体レンズの温度を制御するための制御ループを備えている。 温度で誘起される像面湾曲を本発明の第3の例示的実施形態に従って修正するためのマニピュレータを経線方向に通る断面図であって、電界を発生させることによって2つの液体の間の膜の形状が変えられることが可能である。 温度で誘起される像面湾曲を本発明の第4の例示的実施形態に従って修正するためのマニピュレータを経線方向に通る断面図であって、液体のうちの一方の圧力を変えることによって2つの液体の間の膜の形状が変えられることが可能である。 温度で誘起される像面湾曲を本発明の第5の例示的実施形態に従って修正するためのマニピュレータを経線方向に通る断面図であって、両方の液体の圧力を変えることによって2つの液体の間の薄いレンズの形状が変えられることが可能である。 温度で誘起される像面湾曲を本発明の第6の例示的実施形態に従って修正するためのマニピュレータを経線方向に通る極度に単純化された断面図であって、液体を封入する2つのレンズの形状が液体を変えることによって変えられることが可能である。 温度で誘起される像面湾曲を本発明の第7の例示的実施形態に従って修正するためのマニピュレータを経線方向に通る断面図であって、レンズ間の複数の中間空間が互いに無関係に液体で満たされる。 温度で誘起される像面湾曲を本発明の第8の例示的実施形態に従って修正するためのマニピュレータを経線方向に通る断面図であって、2つの非球面レンズが互いに同期して回転させられることが可能である。 2つの非球面レンズを回転させた後の図11aのマニピュレータを示す図である。 円錐形に作成された表面を示す図である。 図12に示された作成表面から湾曲によって生成される作成表面を示す図である。 2つのレンズを同期して回転させるための関節部のメカニズムの輪郭表現を示す透視図である。 レンズを傾斜させるための関節部のメカニズムの輪郭表現を示す透視図である。 共通の回転軸の周囲で2つのレンズを回転させるための関節部のメカニズムの断面表現を示す図である。 板バネでレンズを回転させるための関節部のメカニズムの断面表現を示す図である。 図17に示された関節部のメカニズムの平面図である。 レンズの回転に関する関節部のメカニズムの概要を表現する透視図である。 単純な傾斜メカニズムの単純化した断面を表現する図である。 レンズの対称軸に対して直角に延びる回転軸の周りでのレンズの回転に関する単純な回転メカニズムの単純化した断面を表現する図である。 球面収差の修正のための修正デバイスを通る単純化した経線方向断面を示す図であって、この修正は像面湾曲を誘起する。

Claims (54)

  1. マイクロリソグラフィ投影露光装置であって、
    a)曲面(S)を備えたレンズ(L3)を有し、
    像平面(28)上に対象物(24)を結像させる
    投影対物レンズ(20)と、
    b)前記対象物(24)を結像させるために使用可能な領域にわたって前記曲面(S)に直接隣接する液体または固体の、200nm未満の波長において前記レンズよりも高い屈折率を有する媒質(34)と、
    c)投影操作中に前記媒質(34)の加熱によって引き起こされる像面湾曲を低減させるための調節可能なマニピュレータ(M)と
    を有し、
    前記マニピュレータが、光軸に対して直角な回転軸の周囲で回転運動させられる場合に異なる頂点半径を表わすように形作られる少なくとも一つの非球面レンズ(L110、L111)を有し、
    前記回転軸が前記少なくとも一つの非球面レンズの外側にある投影露光装置。
  2. 前記媒質(34)の前記屈折率が1.5よりも大きく、特に1.6よりも大きい請求項1に記載の投影露光装置。
  3. 前記レンズが前記投影対物レンズ(20)の像側の最終レンズ(L3)であり、前記媒質が像側の最終レンズ(L3)と前記像平面(28)の間に配置される浸漬液体(34)である請求項1または2に記載の投影露光装置。
  4. 前記マニピュレータ(M)が前記媒質以外の光学要素の屈折力に対して作用する請求項1から3のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  5. 前記投影対物レンズが中間の結像を有し、この中またはこの近辺に前記光学要素が配置される請求項4に記載の投影露光装置。
  6. 前記媒質が正の屈折力を有し、前記光学要素が負の屈折力を有する請求項4または5に記載の投影露光装置。
  7. 前記媒質が負の屈折力を有し、前記光学要素が正の屈折力を有する請求項4または5に記載の投影露光装置。
  8. 前記光学要素が液体である請求項4から7のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  9. 前記マニピュレータが前記光学要素の屈折率を変える請求項4から8のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  10. 前記マニピュレータ(63、65)が前記光学要素に対して圧力を加える請求項9に記載の投影露光装置。
  11. 前記光学要素が2つのレンズ(L1、L2)の間の気体で満たされた中間空間(43)によって形成される請求項9に記載の投影露光装置。
  12. 前記気体が異なる成分を備えた少なくとも2つの構成要素で構成され、前記マニピュレータが前記2つの構成要素の混合比を変えるための器具(41、41b、45)を含む請求項11に記載の投影露光装置。
  13. 前記マニピュレータが前記液体の化学組成を変えるための器具を含む請求項8または9に記載の投影露光装置。
  14. 前記マニピュレータ(M3、M5、M6)が前記液体の温度に影響を及ぼす請求項8または9に記載の投影露光装置。
  15. 前記液体(50”)の温度を制御するための制御ループ(60、62、64、66)を有する請求項14に記載の投影露光装置。
  16. 前記制御ループが前記像面湾曲を測定するためのセンサを有する請求項15に記載の投影露光装置。
  17. 前記液体が第1の液体成分と追加的な媒質を含み、前記マニピュレータが、前記第1の液体の中に前記追加的な媒質を導入することのできる供給器具を有する請求項8または9に記載の投影露光装置。
  18. 前記追加的な媒質が前記第1の成分の中に可溶性の物質である請求項17に記載の投影露光装置。
  19. 前記追加的な媒質が異なる屈折率を備えた第2の液体成分である請求項17に記載の投影露光装置。
  20. 前記第1と第2の成分が均質に混ざる請求項19に記載の投影露光装置。
  21. 前記マニピュレータが前記第1と第2の成分の間の混合比に影響を及ぼす請求項20に記載の投影露光装置。
  22. 前記第1と第2の成分が、これらの成分の間に界面が形成されるように混じり合わない請求項19に記載の投影露光装置。
  23. 前記液体の粘度を変えるための器具を有する請求項8に記載の投影露光装置。
  24. 前記液体が同じ屈折率と異なる粘度を備えた2つの成分を含み、前記マニピュレータがこれらの成分の間の混合比を変える請求項23に記載の投影露光装置。
  25. 前記マニピュレータが前記媒質の屈折力に対して作用する請求項1から3のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  26. 前記マニピュレータが前記媒質の屈折率に対して作用する請求項25に記載の投影露光装置。
  27. 前記媒質が液体である請求項26に記載の投影露光装置。
  28. 前記マニピュレータが、前記液体(34)の化学組成を変えるための器具(40)を有する請求項27に記載の投影露光装置。
  29. 前記マニピュレータが前記液体の温度に影響を及ぼす請求項27に記載の投影露光装置。
  30. 前記液体が第1の液体成分(34a)と追加的な媒質(34b)を含み、前記マニピュレータが、前記第1の液体の中に前記追加的な媒質を導入する供給器具(40)を有する請求項27に記載の投影露光装置。
  31. 前記追加的な媒質が前記第1の成分の中に可溶性の物質である請求項30に記載の投影露光装置。
  32. 前記追加的な媒質が異なる屈折率を備えた第2の液体成分(34b)である請求項30に記載の投影露光装置。
  33. 前記第1と第2の成分が均質に混ざる請求項32に記載の投影露光装置。
  34. 前記マニピュレータが前記第1と第2の成分の間の混合比に影響を及ぼす請求項33に記載の投影露光装置。
  35. 前記第1(34a)と第2(34b)の成分が、これらの成分の間に界面が形成されるように混じり合わない請求項32に記載の投影露光装置。
  36. 前記液体の粘度を変えるための器具を有する請求項27に記載の投影露光装置。
  37. 前記液体が同じ屈折率と異なる粘度を備えた2つの成分を含み、前記マニピュレータがこれらの成分の間の混合比を変える請求項36に記載の投影露光装置。
  38. 前記マニピュレータが光学要素の光学表面(70、80)の形状を変える請求項4に記載の投影露光装置。
  39. 前記表面が、一方が第1の媒質、他方が液体または気体の媒質の間の界面である請求項38に記載の投影露光装置。
  40. 前記光学要素が2つのレンズ(90、92)の間の中間空間内の液体(図9中の50)であり、前記マニピュレータ(M9)が、前記2つのレンズ(90、92)のうちの少なくとも一方が変形させられるほど高い圧力を前記液体(50)に加える請求項39に記載の投影露光装置。
  41. 前記マニピュレータ(M10)がレンズ(100、103、104、106)の間に少なくとも2つの中間空間を有し、これらが互いに無関係に気体または液体(50)で満たされる請求項39に記載の投影露光装置。
  42. 投影露光装置が設計される光とは異なる波長を有する光が前記マニピュレータによってレンズ上に向けられる請求項1から41のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  43. 前記少なくとも一つの非球面レンズ(L110、L111)が、前記回転軸(168)上にある湾曲の中心を備えた非球面(110b、110b)を有する請求項1から42のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  44. 前記少なくとも一つの非球面レンズ(L110、L111)が、平面(XZ)で形成される切断線(124’)上の湾曲が前記切断線(124’)に沿って、およびこれに直角な方向で連続的に変わるように形作られる非球面(110a、111a)を有する請求項1から43のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  45. 前記光学要素がミラーである請求項38に記載の投影露光装置。
  46. 前記マニピュレータが交換ホルダを有し、これによって異なる屈折力を備えた屈折光学要素が光路の中に導入される請求項38に記載の投影露光装置。
  47. 前記曲面が規模で0.001mm-1よりも大きい湾曲を有する請求項1から46のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  48. 前記投影対物レンズが少なくとも一つのさらなるマニピュレータ(220、222、224)を有し、これらでもって、前記像面湾曲を小さくするために前記マニピュレータ(M)の調節中に生じる結像誤差を修正することが可能となる請求項1から47のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  49. 前記少なくとも一つのマニピュレータが球面収差を修正する請求項48に記載の投影露光装置。
  50. 前記少なくとも一つの別のマニピュレータが平面平行のプレート(224)を有し、これが光軸に沿って移動させられることが可能となるように配置される請求項48または49に記載の投影露光装置。
  51. 液体(220)が2つの平面平行のプレート(222、224)の間に配置される請求項50に記載の投影露光装置。
  52. 前記マニピュレータ(M3、M5)内の温度上昇が、前記媒質中の温度変化によって誘起されるペッツヴァル和の変化と逆の正負記号を有するペッツヴァル和の変化を生じさせる請求項1から51のいずれか1項に記載の投影露光装置。
  53. マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズ(20)の光学要素(44、50”)内の温度変化によって誘起される像面湾曲を修正するための方法であって、
    a)前記像面湾曲を修正するためにマニピュレータ(M、M6)を用意し、
    b)前記投影露光装置(10)の操作中に前記光学要素(44、50”)の温度を測定し、
    c)前記マニピュレータ(M、M6)を工程b)で測定された温度の関数として調節し、
    前記マニピュレータが、光軸に対して直角な回転軸の周囲で回転運動させられる場合に異なる頂点半径を表わすように形作られる少なくとも一つの非球面レンズ(L110、L111)を有し、
    前記回転軸が前記少なくとも一つの非球面レンズの外側にあることを特徴とする方法。
  54. マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズの光学要素内の温度変化によって誘起される像面湾曲を修正するための方法であって、
    a)前記像面湾曲を修正するためにマニピュレータを用意し、
    b)2つの露光処理の間の休止時間に前記投影対物レンズの像平面内の前記像面湾曲を測定し、
    c)前記マニピュレータを前記b)で測定された前記像面湾曲の関数として調節し、
    前記マニピュレータが、光軸に対して直角な回転軸の周囲で回転運動させられる場合に異なる頂点半径を表わすように形作られる少なくとも一つの非球面レンズ(L110、L111)を有し、
    前記回転軸が前記少なくとも一つの非球面レンズの外側にあることを特徴とする方法。
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Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4980922B2 (ja) 2004-11-18 2012-07-18 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置及びマイクロリソグラフィ投影露光装置の像面湾曲を修正するための方法
JP5055566B2 (ja) * 2005-05-12 2012-10-24 株式会社ニコン 投影光学系、露光装置、および露光方法
DE102005024163A1 (de) * 2005-05-23 2006-11-30 Carl Zeiss Smt Ag Optisches System einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
JP5069232B2 (ja) 2005-07-25 2012-11-07 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズ
EP1936665A4 (en) * 2005-09-21 2010-03-31 Nikon Corp EXPOSURE DEVICE, EXPOSURE METHOD AND COMPONENT MANUFACTURING METHOD
US20070070323A1 (en) * 2005-09-21 2007-03-29 Nikon Corporation Exposure apparatus, exposure method, and device fabricating method
EP1950795A4 (en) * 2005-11-01 2010-06-02 Nikon Corp EXPOSURE DEVICE, EXPOSURE METHOD AND COMPONENT MANUFACTURING METHOD
DE102005056899B4 (de) * 2005-11-28 2007-10-18 Schleifring Und Apparatebau Gmbh Polarisationserhaltende optische Drehkupplung
JP2009521727A (ja) * 2005-12-22 2009-06-04 コーニング インコーポレイテッド 高開口数光学系用の液浸型複レンズ
US8045134B2 (en) 2006-03-13 2011-10-25 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, control system and device manufacturing method
US7969549B2 (en) * 2006-06-30 2011-06-28 Asml Netherlands B.V. Liquid filled lens element, lithographic apparatus comprising such an element and device manufacturing method
TWI439815B (zh) 2006-07-03 2014-06-01 Zeiss Carl Smt Gmbh 校正/修復微影投影曝光裝置中之投影物鏡的方法與此投影物鏡
DE102006045075A1 (de) * 2006-09-21 2008-04-03 Carl Zeiss Smt Ag Steuerbares optisches Element
US7525640B2 (en) 2006-11-07 2009-04-28 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US8045135B2 (en) 2006-11-22 2011-10-25 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus with a fluid combining unit and related device manufacturing method
CN101548240B (zh) 2006-12-01 2014-09-17 卡尔蔡司Smt有限责任公司 具有用于减小像差的可替换、可操纵的校正布置的光学系统
KR100830586B1 (ko) * 2006-12-12 2008-05-21 삼성전자주식회사 기판을 노광하는 장치 및 방법
DE102007013923B4 (de) * 2006-12-22 2012-02-02 Schleifring Und Apparatebau Gmbh Mehrkanaliger optischer Drehübertrager mit hoher Rückflußdämpfung
DE102007012224A1 (de) * 2007-03-12 2008-09-25 Schleifring Und Apparatebau Gmbh Mehrkanalige reflexionsarme optische Drehkupplung
DE102008000968A1 (de) * 2007-04-05 2008-10-09 Carl Zeiss Smt Ag Optisches Korrekturelement und Verfahren zur Korrektur von temperaturinduzierten Abbildungsfehlern in optischen Systemen, Projektionsobjektiv und Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie
DE102008001497A1 (de) 2007-05-07 2008-11-13 Carl Zeiss Smt Ag Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie und Subsystem einer Projektionsbelichtungsanlage
DE102007029503A1 (de) * 2007-06-25 2009-01-02 Schleifring Und Apparatebau Gmbh Optischer Drehübertrager mit kurzer Baulänge
JP5224218B2 (ja) * 2007-07-23 2013-07-03 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学システム
WO2009026970A1 (en) * 2007-08-24 2009-03-05 Carl Zeiss Smt Ag Controllable optical element and method for operating an optical element with thermal actuators and projection exposure apparatus for semiconductor lithography
DE102008023238A1 (de) * 2008-05-10 2009-12-10 Schott Ag Vorrichtung und Verfahren zur Erhöhung der Lichtdurchlässigkeit an optischen Elementen für Licht mit Wellenlängen nahe der Absorptionskante
JP5305128B2 (ja) * 2008-05-14 2013-10-02 株式会社リコー 液滴光学装置
EP2131242A1 (en) * 2008-06-02 2009-12-09 ASML Netherlands B.V. Substrate table, lithographic apparatus and device manufacturing method
JP5277731B2 (ja) * 2008-06-02 2013-08-28 株式会社ニコン 露光装置、露光方法、及びデバイス製造方法
DE102009026632A1 (de) * 2008-06-06 2009-12-10 Schleifring Und Apparatebau Gmbh Linsenanordnung mit Lagejustierung
JP5360530B2 (ja) * 2008-07-01 2013-12-04 株式会社リコー 液膜光学装置
TW201015230A (en) * 2008-10-03 2010-04-16 Univ Nat Chiao Tung Immersion inclined lithography apparatus and tank thereof
EP2219077A1 (en) 2009-02-12 2010-08-18 Carl Zeiss SMT AG Projection exposure method, projection exposure system and projection objective
NL2006458A (en) * 2010-05-05 2011-11-08 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method.
US8634145B2 (en) * 2010-07-29 2014-01-21 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Liquid meniscus lens with concave torus-segment meniscus wall
US8767308B2 (en) * 2010-08-23 2014-07-01 Johnson & Johnson Vision Care, Inc Negative add liquid meniscus lens
US8693104B2 (en) * 2010-08-24 2014-04-08 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. Lens with compound linear-convex meniscus wall
DE102011080437A1 (de) 2010-09-30 2012-04-05 Carl Zeiss Smt Gmbh Abbildendes optisches System für die Mikrolithographie
NL2007498A (en) * 2010-12-23 2012-06-27 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and method of modifying a beam of radiation within a lithographic apparatus.
NL2008704A (en) 2011-06-20 2012-12-28 Asml Netherlands Bv Wavefront modification apparatus, lithographic apparatus and method.
NL2009844A (en) * 2011-12-22 2013-06-26 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method.
DE102012211256A1 (de) * 2012-06-29 2014-01-02 Carl Zeiss Smt Gmbh Projektionsbelichtungsanlage für die Projektionslithographie
DE102013100680B4 (de) * 2013-01-23 2015-02-05 Carl Zeiss Ag Wellenfrontmanipulator und Optisches System mit einem Wellenfrontmanipulator
DE102013101711A1 (de) * 2013-02-21 2014-08-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Objektiv und optisches Beobachtungsgerät
KR101668984B1 (ko) * 2013-09-14 2016-10-24 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 마이크로리소그래피 투영 장치의 동작 방법
DE102018221670A1 (de) * 2018-12-13 2020-06-18 Karlsruher Institut für Technologie Vorrichtung und Verfahren zur optischen Charakterisierung oder Bearbeitung eines Objekts
JP7213761B2 (ja) * 2019-06-18 2023-01-27 キヤノン株式会社 露光装置、および物品製造方法
DE102019209764A1 (de) * 2019-07-03 2021-01-07 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Kameragehäuses
CN112666696A (zh) * 2021-01-18 2021-04-16 郑州轻工业大学 焦点扫描方法、焦点扫描装置和共焦显微镜
US12601861B2 (en) * 2022-12-27 2026-04-14 Pixieray Oy Index matching based on gas to liquid phase change

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3305294A (en) * 1964-12-03 1967-02-21 Optical Res & Dev Corp Two-element variable-power spherical lens
GB2183059B (en) * 1985-11-05 1989-09-27 Michel Treisman Suspension system for a flexible optical membrane
US4825247A (en) * 1987-02-16 1989-04-25 Canon Kabushiki Kaisha Projection exposure apparatus
JP2679195B2 (ja) * 1988-12-21 1997-11-19 株式会社ニコン 投影露光装置
JP3341269B2 (ja) * 1993-12-22 2002-11-05 株式会社ニコン 投影露光装置、露光方法、半導体の製造方法及び投影光学系の調整方法
JP3526042B2 (ja) * 1995-08-09 2004-05-10 株式会社ニコン 投影露光装置
US5883704A (en) * 1995-08-07 1999-03-16 Nikon Corporation Projection exposure apparatus wherein focusing of the apparatus is changed by controlling the temperature of a lens element of the projection optical system
EP0851304B1 (en) * 1996-12-28 2004-03-17 Canon Kabushiki Kaisha Projection exposure apparatus and device manufacturing method
JP3817836B2 (ja) * 1997-06-10 2006-09-06 株式会社ニコン 露光装置及びその製造方法並びに露光方法及びデバイス製造方法
JP2000058436A (ja) 1998-08-11 2000-02-25 Nikon Corp 投影露光装置及び露光方法
DE19901295A1 (de) * 1999-01-15 2000-07-20 Zeiss Carl Fa Optische Abbildungsvorrichtung, insbesondere Objektiv, mit wenigstens einem optischen Element
JP4532647B2 (ja) * 2000-02-23 2010-08-25 キヤノン株式会社 露光装置
DE10119861A1 (de) * 2000-05-04 2001-11-08 Zeiss Carl Projektionsobjektiv, insbesondere für die Mikrolithographie
JP2002175964A (ja) * 2000-12-06 2002-06-21 Nikon Corp 観察装置およびその製造方法、露光装置、並びにマイクロデバイスの製造方法
EP1231515B1 (en) * 2001-02-08 2008-11-05 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
EP1231513A1 (en) * 2001-02-08 2002-08-14 Asm Lithography B.V. Lithographic projection apparatus with adjustable focal surface
JP3381257B2 (ja) * 2001-05-31 2003-02-24 株式会社ニコン 投影露光方法
DE10225266A1 (de) * 2001-12-19 2003-07-03 Zeiss Carl Smt Ag Abbildungseinrichtung in einer Projektionsbelichtungsanlage
DE10257766A1 (de) * 2002-12-10 2004-07-15 Carl Zeiss Smt Ag Verfahren zur Einstellung einer gewünschten optischen Eigenschaft eines Projektionsobjektivs sowie mikrolithografische Projektionsbelichtungsanlage
EP1524558A1 (en) * 2003-10-15 2005-04-20 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
EP1700163A1 (en) 2003-12-15 2006-09-13 Carl Zeiss SMT AG Objective as a microlithography projection objective with at least one liquid lens
WO2005059617A2 (en) 2003-12-15 2005-06-30 Carl Zeiss Smt Ag Projection objective having a high aperture and a planar end surface
US7466489B2 (en) * 2003-12-15 2008-12-16 Susanne Beder Projection objective having a high aperture and a planar end surface
CN1938646B (zh) * 2004-01-20 2010-12-15 卡尔蔡司Smt股份公司 曝光装置和用于投影透镜的测量装置
US8852850B2 (en) * 2004-02-03 2014-10-07 Rochester Institute Of Technology Method of photolithography using a fluid and a system thereof
CN101727021A (zh) * 2004-02-13 2010-06-09 卡尔蔡司Smt股份公司 微平版印刷投影曝光装置的投影物镜
JP2006190971A (ja) * 2004-10-13 2006-07-20 Nikon Corp 露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
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