JP5347325B2 - 液体吐出装置、及び、液体吐出方法 - Google Patents

Description

本発明は、液体吐出装置、及び、液体吐出方法に関する。

インクジェット式のプリンタ（以下、単にプリンタともいう）のような液体吐出装置には、吐出パルスを用いるものがある。吐出パルスは、液体滴をノズルから吐出させるための電位の変化パターンであり、液体滴を吐出させるための動作を行う素子に印加される。この種の液体吐出装置では、同じ量のインク滴を連続的に吐出させる場合、電位の変化パターンが同じ吐出パルスを素子へ連続的に印加している（例えば、特許文献１を参照）。

また、液体滴の飛行速度と重量に基づいて、電位の変化パターンの最適化を図る技術が提案されている。この技術では、或る吐出パルスにおける電位の変化パターンの最適化に際して、電位の変化パターンが同じ吐出パルスを一定の間隔で素子へ印加している（例えば、特許文献２を参照）。
特開２００２−１０３６１９号公報 特開２００３−９４６２９号公報

単位時間あたりの液体滴の吐出数（吐出周波数）は、吐出パルスが素子へ印加される間隔で定まる。この吐出周波数が高いほど印刷等の処理を高速で行えるので好ましい。しかし、吐出パルス同士の間隔を短くし過ぎると、液体滴の吐出が不安定になってしまう。例えば、飛行速度が過度に速くなったり、飛行方向が定まらなくなってしまったりする。そこで、従来の装置では、液体滴の吐出が安定している範囲で、吐出パルス同士の間隔（吐出周波数）を定めている。

しかしながら、液体吐出装置に対する要求は高く、吐出周波数のさらなる高周波化が求められている。本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、吐出周波数を高めても液体滴を安定的に吐出させることにある。

前記目的を達成するための主たる発明は、
ノズルに連通された圧力室と、
前記圧力室内の液体に圧力変化を与える動作を、電位の変化に応じて行う素子と、
前記電位の変化パターンが定められた吐出パルスを生成する吐出パルス生成部であって、第１液体滴を前記ノズルから吐出させる際に前記素子へ印加される第１吐出パルス、及び、前記第１液体滴に続いて第２液体滴を前記ノズルから吐出させる際に吐出量が前記第１液体滴と等しくなるように前記素子へ印加される第２吐出パルスを生成する吐出パルス生成部と、
を有する液体吐出装置であって、
前記第１吐出パルスは、
前記圧力室内の液体に圧力振動を励起させる第１励振要素と、
前記第１励振要素よりも後に生成され、前記圧力室内の液体が所定圧力になったタイミングで、前記ノズルから液体滴を吐出させるための動作を前記素子に行わせる第１吐出要素とを有し、
前記第２吐出パルスは、
前記圧力室内の液体に圧力振動を励起させる第２励振要素と、
前記第２励振要素よりも後に生成され、前記圧力室内の液体が前記所定圧力よりも低くなっている期間の或るタイミングで、前記ノズルから前記液体滴を吐出させるための動作を前記素子に行わせる第２吐出要素とを有し、
前記第１励振要素は、
基準電位から最高電位と最低電位の一方まで電位を変化させるものであり、
前記第１吐出要素は、
前記最高電位と前記最低電位の一方から他方まで電位を変化させるものであり、
前記第２励振要素は、
前記基準電位から前記最高電位と前記最低電位の一方まで電位を変化させるものであり、
前記第２吐出要素は、
前記最高電位と前記最低電位の一方から他方まで電位を変化させるものである、液体吐出装置である。
本発明の他の特徴は、本明細書、及び添付図面の記載により、明らかにする。

本明細書の記載、及び添付図面の記載により、少なくとも次のことが明らかにされる。
すなわち、ノズルに連通された圧力室と、前記圧力室内の液体に圧力変化を与える動作を、電位の変化に応じて行う素子と、前記電位の変化パターンが定められた吐出パルスを生成する吐出パルス生成部であって、第１液体滴を前記ノズルから吐出させる際に前記素子へ印加される第１吐出パルス、及び、前記第１液体滴に続いて第２液体滴を前記ノズルから吐出させる際に前記素子へ印加される第２吐出パルスを生成する吐出パルス生成部と、を有する液体吐出装置であって、
前記第１吐出パルスは、前記圧力室内の液体に圧力振動を励起させる第１励振要素と、前記第１励振要素よりも後に生成され、前記圧力室内の液体が所定圧力になったタイミングで、前記ノズルから液体滴を吐出させるための動作を前記素子に行わせる第１吐出要素とを有し、
前記第２吐出パルスは、前記圧力室内の液体に圧力振動を励起させる第２励振要素と、前記第２励振要素よりも後に生成され、前記圧力室内の液体が前記所定圧力よりも低くなっている期間の或るタイミングで、前記ノズルから前記液体滴を吐出させるための動作を前記素子に行わせる第２吐出要素とを有する液体吐出装置を実現できることが明らかにされる。
このような液体吐出装置によれば、第２液体滴を吐出させる動作を行う際において、圧力室内の液体圧力が過度に高くなってしまうことを抑制できる。これにより、第１液体滴と第２液体滴の吐出間隔を短くして吐出周波数を高めても、第２液体滴を安定的に吐出させることができる。

かかる液体吐出装置であって、前記第１励振要素は、基準電位から最高電位と最低電位の一方まで電位を変化させるものであり、前記第１吐出要素は、前記最高電位と前記最低電位の一方から他方まで電位を変化させるものであり、前記第２励振要素は、前記基準電位から前記最高電位と前記最低電位の一方まで電位を変化させるものであり、前記第２吐出要素は、前記最高電位と前記最低電位の一方から他方まで電位を変化させるものであることが好ましい。
このような液体吐出装置によれば、素子の動作量を最大にできるので、圧力室内の液体に大きな圧力変化を与えることができる。

かかる液体吐出装置であって、前記第２励振要素は、単位時間あたりの電位変化量が前記第１励振要素における単位時間あたりの電位変化量よりも小さいことが好ましい。
このような液体吐出装置によれば、第２励振要素に起因する圧力振動の強さを容易に抑制できる。

かかる液体吐出装置であって、前記第１吐出パルスは、前記第１励振要素の終端と前記第１吐出要素の始端とを一定の電位で接続する第１定電位要素を有し、前記第２吐出パルスは、前記第２励振要素の終端と前記第２吐出要素の始端とを一定の電位で接続する第２定電位要素であって、生成期間が前記第１定電位要素の生成期間よりも長い第２定電位要素を有することが好ましい。
このような液体吐出装置によれば、第２定電位要素の生成期間を第１定電位要素の生成期間よりも長く定めることで、第２吐出要素に基づく素子の動作タイミングにおける、圧力室内の液体圧力を容易に調整できる。

かかる液体吐出装置であって、前記第１吐出パルスは、前記第１吐出要素よりも後に生成され、前記最高電位と前記最低電位の他方から前記基準電位まで電位を復帰させることで、前記圧力室内の液体の圧力変化を抑制する第１復帰部分を有し、前記第２吐出パルスは、前記第２吐出要素よりも後に生成され、前記最高電位と前記最低電位の他方から前記基準電位まで電位を復帰させることで、前記圧力室内の液体の圧力変化を抑制する第２復帰部分を有することが好ましい。
このような液体吐出装置によれば、第１復帰部分及び第２復帰部分により、液体滴の吐出後における圧力室内の圧力振動を抑えることができる。これにより、液体滴の吐出周波数を高めることができる。

かかる液体吐出装置であって、前記第２復帰部分の電位の変化パターンは、前記第１復帰部分の電位の変化パターンと同じであることが好ましい。
このような液体吐出装置によれば、圧力振動を抑えるための素子の動作が、各吐出パルスで同じになる。このため、或る液体滴の吐出後、次の液体滴を吐出させる際の、圧力室内の液体圧力のばらつきを抑制できる。

かかる液体吐出装置であって、前記素子は、前記第１吐出パルス及び前記第２吐出パルスによって定まる電位に応じて変形し、前記圧力室の容積を変化させるものであることが好ましい。
このような液体吐出装置によれば、第１吐出パルス及び第２吐出パルスによって液体滴を効率よく吐出させることができる。

また、次の液体吐出方法を実現できることも明らかにされる。
すなわち、圧力室内の液体に圧力変化を与える動作を電位の変化に応じて行う素子に、第１励振要素を印加して前記圧力室内の液体に圧力振動を励起させるステップと、
前記第１励振要素が前記素子へ印加された後、前記圧力室内の液体が所定圧力になったタイミングで第１吐出要素を前記素子に印加して、前記圧力室に連通されたノズルから液体滴を吐出させるための動作を前記素子に行わせるステップと、
前記ノズルから前記液体滴が吐出された後、第２励振要素を前記素子に印加して前記圧力室内の液体に圧力振動を励起させるステップと、
前記第２励振要素が前記素子へ印加された後、前記圧力室内の液体が前記所定圧力よりも低くなっている期間の或るタイミングで第２吐出要素を前記素子に印加して、前記ノズルから液体滴を吐出させるための動作を前記素子に行わせるステップと、を有する液体吐出方法を実現できることも明らかにされる。

＝＝＝第１実施形態＝＝＝
＜プリンタ１の全体構成について＞
図１Ａは、プリンタ１の構成を説明するブロック図である。図１Ｂは、プリンタ側コントローラ６０が有するメモリ６３の記憶領域を説明する概念図である。プリンタ１は、液体吐出装置の一種であり、液体状のインクを吐出させることで画像を媒体に記録する。ここで、インクには水性インクと油性インクの両方が含まれる。また、媒体は、吐出された液体が着弾する対象物であり、例えば用紙である。

図１Ａに示すように、プリンタ１は、用紙搬送機構１０、キャリッジ移動機構２０、ヘッドユニット３０、駆動信号生成回路４０、検出器群５０、及び、プリンタ側コントローラ６０を有する。用紙搬送機構１０は、媒体を搬送する媒体搬送部に相当し、媒体としての用紙を搬送する。キャリッジ移動機構２０は、ヘッドユニット３０が取り付けられたキャリッジをキャリッジ移動方向に移動させる。キャリッジ移動方向は、搬送方向と交差する方向であり、例えば搬送方向と直交する紙幅方向である。なお、ヘッドユニット３０はヘッドＨＤを有するので、キャリッジ移動方向はヘッド移動方向に相当する。

ヘッドユニット３０は、ヘッドＨＤとヘッド制御部ＨＣとを有する。このヘッドユニット３０は、キャリッジに取り付けられている。ヘッドＨＤは、液体のインクを滴状にして吐出するものである。ヘッド制御部ＨＣは、ヘッドＨＤによるインクの吐出を制御する。なお、ヘッドＨＤについては、後で詳しく説明する。駆動信号生成回路４０は、インク滴を吐出させる際に用いられる駆動信号を、ＤＡＣデータに基づいて生成する。ＤＡＣデータは、駆動信号における電位の変化パターンを時系列で示すデータである。このプリンタ１では、第１駆動信号ＣＯＭ_Ａと第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂ（図４を参照）を生成する。これらの第１駆動信号ＣＯＭ_Ａ及び第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂは、インク滴を吐出させるための吐出パルスＰＳ２を含む。このため、駆動信号生成回路４０は、吐出パルスＰＳ２を生成する吐出パルス生成部に相当する。なお、駆動信号生成回路４０、及び、生成される駆動信号ＣＯＭについては後述する。

検出器群５０は、プリンタ１内の状況を監視する複数の検出器を有する。これらの検出器は、検出結果をプリンタ側コントローラ６０に出力する。プリンタ側コントローラ６０は、プリンタ１の動作を制御する。すなわち、プリンタ側コントローラ６０は、制御対象部としての、用紙搬送機構１０、キャリッジ移動機構２０、ヘッドＨＤ、ヘッド制御部ＨＣ、駆動信号生成回路４０を制御する。このプリンタ側コントローラ６０は、インタフェース部６１と、ＣＰＵ６２と、メモリ６３とを有する。インタフェース部６１は、外部装置であるコンピュータＣＰとの間でデータの受け渡しを行う。ＣＰＵ６２は、プリンタ１の全体的な制御を行うための演算処理装置である。メモリ６３は、ＣＰＵ６２のプログラムを格納する領域や作業領域等を確保する。例えば、図１Ｂに示すように、メモリ６３の一部領域は、ファームウェアを記憶するファームウェア記憶領域、第１駆動信号ＣＯＭ_Ａ用の第１ＤＡＣデータを記憶する第１ＤＡＣデータ記憶領域、及び、第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂ用の第２ＤＡＣデータを記憶する第２ＤＡＣデータ記憶領域として用いられている。

＜ヘッドＨＤについて＞
ヘッドＨＤは、例えば図２Ａに示すように、ケース３１と、流路ユニット３２と、ピエゾ素子ユニット３３とを有する。ケース３１は、ピエゾ素子ユニット３３を内部に収容するブロック状の部材であり、用紙に対向する先端面には流路ユニット３２が接合されている。

流路ユニット３２は、共通インク室３２１からインク供給路３２２及び圧力室３２３を通ってノズル３２４に至る一連のインク流路を複数有する部材である。このインク流路は、プリンタ１の使用時においてインクで満たされている。ノズル３２４は、滴状のインク（液体滴に相当する）が吐出される部分である。例えば図２Ｂに示すように、ノズル３２４は、用紙の搬送方向に並んだ状態で複数設けられ、ノズル列を構成する。そして、前述のインク流路は、複数のノズル３２４のそれぞれに対して設けられる。すなわち、インク供給路３２２や圧力室３２３は、ノズル３２４毎に設けられる。

圧力室３２３は、インクを吐出させる際にインクに対して圧力変化を与える部分であり、ノズル３２４に連通されている。この圧力室３２３は、ノズル３２４の並び方向に対して交差する方向に細長い空間である。そして、圧力室３２３の一部は、ダイヤフラム部３２５によって区画されている。このダイヤフラム部３２５は、弾性体膜３２５ａと島部３２５ｂとを有する。弾性体膜３２５ａは、弾性を有する樹脂製の膜であり、ノズル３２４とは反対側で圧力室３２３の一部を区画する。島部３２５ｂは、ピエゾ素子ユニット３３が有するピエゾ素子ＰＺＴの先端面が接合される部分である。この島部３２５ｂは、圧力室３２３とは反対側となる弾性体膜３２５ａの表面に設けられている。そして、島部３２５ｂの周囲には、弾性体膜３２５ａのみの弾性領域が設けられている。このダイヤフラム部３２５では、弾性体膜３２５ａの弾性によって、島部３２５ｂが圧力室３２３の方へ移動したり、反対方向へ移動したりできる。圧力室３２３の容積は、島部３２５ｂが圧力室３２３の方へ移動すると小さくなり、島部３２５ｂが反対側へ移動すると大きくなる。このような圧力室３２３の容積変化によって、圧力室３２３内のインクに圧力変化を与えることができる。このような圧力室３２３の容積変化は、ピエゾ素子ＰＺＴの変形によってなされる。このため、吐出パルスＰＳ２における電位の変化パターンに基づき、インク圧力を精度良く制御できる。

インク供給路３２２は、共通インク室３２１と圧力室３２３との間を連通する部分である。このインク供給路３２２の形状は、圧力室３２３へのインクの供給が過不足なく行われ、かつ、圧力室３２３内のインクに与えられた圧力変化がインクの吐出に効率よく用いられるように定められる。共通インク室３２１は、インクカートリッジ（図示せず）等から供給されたインクを、各インク流路に供給する前に一旦貯留する部分である。

このインク流路では、圧力室３２３に対してノズル３２４及びインク供給路３２２がそれぞれ連通している。このため、インクの流れなどの特性を解析する場合、ヘルムホルツの共鳴器の考え方が適用される。すなわち、ノズル３２４からインクを吐出させる場合に、圧力室３２３内のインクに圧力変化を与える。このとき、圧力室３２３、インク供給路３２２、及び、ノズル３２４は、ヘルムホルツの共鳴器のように機能する。このため、圧力室３２３内のインクに圧力が加わると、この圧力の大きさはヘルムホルツ周期と呼ばれる固有の周期で変化する。言い換えると、圧力室３２３内のインクには、固有振動周期の圧力振動が生じる。例示したヘッドＨＤにおいて、固有振動周期は６．７μｓである。そして、圧力室３２３内のインクの圧力変化に伴って、メニスカス（ノズル３２４で露出しているインクの自由表面）が移動する。例えば、インクの圧力が上昇している場合、メニスカスはノズル３２４内を吐出方向へ移動する。一方、インクの圧力が下降している場合、メニスカスはノズル３２４内を圧力室３２３方向へ移動する。

ピエゾ素子ユニット３３は、ピエゾ素子群３３１と、接着用基板３３２と、ヘッド側配線部材３３３とを有する。ピエゾ素子群３３１は櫛歯状をしており、１つ１つの櫛歯状部分がピエゾ素子ＰＺＴである。このピエゾ素子群３３１は、ノズル３２４に対応する数のピエゾ素子ＰＺＴを有する。また、接着用基板３３２は矩形状の板であり、一方の表面にピエゾ素子群３３１が接着され、他方の表面がケース３１に接着されている。素子用配線基板には、各ピエゾ素子ＰＺＴへの配線やヘッド制御部ＨＣが設けられている。ピエゾ素子ＰＺＴは、対向する電極間に電位差を与えることにより変形する。この例では、素子の長手方向に伸縮する。この伸縮量は、ピエゾ素子ＰＺＴの電位に応じて定まる。そして、ピエゾ素子ＰＺＴの電位は、印加された駆動信号ＣＯＭの電位で定まる。すなわち、ピエゾ素子ＰＺＴは、駆動信号ＣＯＭの印加によって充放電されて伸縮する。ピエゾ素子ＰＺＴの伸縮に伴ってダイヤフラム部３２５が変形するので、圧力室３２３内のインクに圧力変化を与えることができる。

このようなピエゾ素子ＰＺＴは、駆動信号ＣＯＭ（吐出パルスＰＳ２）によって充放電される素子であって、インク（液体）を吐出させるための動作を行う素子に相当する。そして、このピエゾ素子ＰＺＴをインクの吐出に用いると、駆動信号ＣＯＭの電位に応じてピエゾ素子ＰＺＴの変形状態を制御できるので、インクの吐出動作をきめ細かく制御できる。

＜駆動信号生成回路４０について＞
図３に示すように、吐出パルス生成部としての駆動信号生成回路４０は、第１駆動信号生成回路４０Ａと第２駆動信号生成回路４０Ｂとを有する。第１駆動信号生成回路４０Ａは、第１ＤＡＣデータ（第１電位情報）に基づいて第１駆動信号ＣＯＭ_Ａを生成する。この第１駆動信号生成回路４０Ａは、第１波形生成回路４１Ａと第１電流増幅回路４２Ａを有する。また、第２駆動信号生成回路４０Ｂは、第２ＤＡＣデータ（第２電位情報）に基づいて第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂを生成する。この第２駆動信号生成回路４０Ｂは、第２波形生成回路４１Ｂと第２電流増幅回路４２Ｂを有する。

第１波形生成回路４１Ａは、第１ＤＡＣデータに対応する第１波形信号を生成する部分であり、第１デジタルアナログ変換器４１１Ａと第１プリアンプ４１２Ａとを有する。第１デジタルアナログ変換器４１１Ａは、第１ＤＡＣデータに応じた電位のアナログ信号を出力する電気回路である。第１ＤＡＣデータは、メモリ６３の第１ＤＡＣデータ記憶領域に記憶されており、ＣＰＵ６２から出力される。第１プリアンプ４１２Ａは、第１デジタルアナログ変換器４１１Ａから出力されたアナログ信号の電位を、ピエゾ素子ＰＺＴの動作に適したレベルまで増幅し、第１波形信号として出力する。第１電流増幅回路４２Ａは、第１波形生成回路４１Ａで生成された第１波形信号の電流を増幅し、第１駆動信号ＣＯＭ_Ａとして出力する。この第１電流増幅回路４２Ａは、例えば相補的に接続されたＰＮＰ型トランジスタとＮＰＮ型トランジスタの組（トランジスタ対）を有する。

第２波形生成回路４１Ｂは、第２ＤＡＣデータに対応する第２波形信号を生成する。第２電流増幅回路４２Ｂは、第２波形信号の電流を増幅し、第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂとして出力する。これらの第２波形生成回路４１Ｂ及び第２電流増幅回路４２Ｂの構成は、第１波形生成回路４１Ａ及び第１電流増幅回路４２Ａと同様である。簡単に説明すると、第２波形生成回路４１Ｂは、第２デジタルアナログ変換器４１１Ｂと第２プリアンプ４１２Ｂとを有し、第２電流増幅回路４２Ｂは、相補的に接続されたトランジスタ対を有する。

この駆動信号生成回路４０では、第１駆動信号ＣＯＭ_Ａの電位を時系列で示す第１ＤＡＣデータ及び第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂの電位を時系列で示す第２ＤＡＣデータをアナログ変換し、第１駆動信号ＣＯＭ_Ａ及び第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂを生成しているので、各ＤＡＣデータに基づいて各駆動信号ＣＯＭ_Ａ，ＣＯＭ_Ｂの電位の変化パターンをきめ細かに設定することができる。これにより、吐出されるインク滴の量や飛行速度等を精度良く定めることができる。

第１駆動信号生成回路４０Ａで生成された第１駆動信号ＣＯＭ_Ａ、及び、第２駆動信号生成回路４０Ｂで生成された第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂは、各ピエゾ素子ＰＺＴへ選択的に印加される。このため、ヘッド制御部ＨＣには、第１スイッチ３２６Ａと第２スイッチ３２６Ｂの組がピエゾ素子ＰＺＴ毎に設けられている。第１スイッチ３２６Ａは、第１駆動信号ＣＯＭ_Ａを供給する信号線の途中に設けられ、第１駆動信号ＣＯＭ_Ａをピエゾ素子ＰＺＴへ印加させたり、遮断したりする。第２スイッチ３２６Ｂは、第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂを供給する信号線の途中に設けられ、第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂをピエゾ素子ＰＺＴへ印加させたり、遮断したりする。ヘッド制御部ＨＣは、プリンタ側コントローラ６０からのヘッド制御信号に基づいて第１スイッチ３２６Ａ及び第２スイッチ３２６Ｂを制御し、第１駆動信号ＣＯＭ_Ａと第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂの必要な部分を、ピエゾ素子ＰＺＴへ印加させる。

＜駆動信号ＣＯＭの概要について＞
次に駆動信号ＣＯＭについて説明する。まず駆動信号ＣＯＭの概要について説明する。このプリンタ１における駆動信号ＣＯＭは、インク滴を吐出させる場合にピエゾ素子ＰＺＴへ印加される吐出パルスＰＳ２と、インク滴を吐出させない場合にインクの増粘を抑制する目的でピエゾ素子ＰＺＴへ印加される微振動パルスＰＳ１とを有する。これらの吐出パルスＰＳ２や微振動パルスＰＳ１は、ピエゾ素子ＰＺＴに行わせる動作に応じた電位の変化パターンであり、ピエゾ素子ＰＺＴを駆動するための駆動パルスに相当する。

このプリンタ１では、大ドットの形成時において、インク滴の目標吐出量（１１ｎｇ）が等しい吐出パルスＰＳ２をピエゾ素子ＰＺＴへ連続的に印加する。そして、奇数番目に印加される吐出パルスＰＳ２（第１吐出パルスＰＳ２ａ）における電位の変化パターンと、偶数番目に印加される吐出パルスＰＳ２（第２吐出パルスＰＳ２ｂ）における電位の変化パターンとを異ならせている。後で詳しく説明するが、奇数番目に印加される第１吐出パルスＰＳ２ａでは、圧力室３２３内のインクが所定圧力になったタイミングで、圧力室３２３を急速に収縮させてノズル３２４からインク滴を吐出させる。これに対し、偶数番目に印加される第２吐出パルスＰＳ２ｂでは、圧力室３２３内のインクが所定圧力よりも低い期間の或るタイミングで、圧力室３２３を急速に収縮させてノズル３２４からインク滴を吐出させる。

このような構成を採ることで、奇数番目の第１吐出パルスＰＳ２ａと偶数番目の第２吐出パルスＰＳ２ｂの間隔を短くしても、偶数番目の第２吐出パルスＰＳ２ｂで吐出されるインク滴を安定的に吐出させることができる。その結果、インク滴の吐出周波数を高めることができる。

＜駆動信号ＣＯＭの詳細について＞
図４に示すように、第１駆動信号ＣＯＭ_Ａは、繰り返し期間Ｔ毎に繰り返し生成され、前半期間Ｔ１に生成される第１前半部分と後半期間Ｔ２に生成される第１後半部分とを有する。第１前半部分には微振動パルスＰＳ１が含まれ、第１後半部分には吐出パルスＰＳ２が含まれている。第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂも繰り返し期間Ｔ毎に繰り返し生成され、前半期間Ｔ１に生成される第２前半部分と後半期間Ｔ２に生成される第２後半部分とを有する。第２前半部分には吐出パルスＰＳ２が含まれ、第２後半部分は基準電位としての中間電位ＶＢで一定である。

微振動パルスＰＳ１は、インク滴を吐出させない場合にピエゾ素子ＰＺＴへ印加されるパルスである。例示した微振動パルスＰＳ１は、台形波によって構成されている。すなわち、この微振動パルスＰＳ１は、微振動膨張要素ｖｃと微振動ホールド要素ｖｈと微振動収縮要素ｖｄとを有する。微振動膨張要素ｖｃは、中間電位ＶＢから微振動電位ＶＶまで一定の勾配（単位時間あたりの電位変化量）で電位を上昇させる部分である。この微振動膨張要素ｖｃがピエゾ素子ＰＺＴに印加されるとピエゾ素子ＰＺＴは収縮する。そして、圧力室３２３の容積は、中間電位ＶＢに対応する基準容積から微振動電位ＶＶに対応する微振動容積まで膨張する。微振動ホールド要素ｖｈは、微振動電位ＶＶで一定の部分である。この微振動ホールド要素ｖｈがピエゾ素子ＰＺＴに印加されると、ピエゾ素子ＰＺＴは微振動電位ＶＶに対応する収縮状態を維持し、圧力室３２３は微振動容積を維持する。微振動収縮要素ｖｄは、微振動電位ＶＶから中間電位ＶＢまで一定の勾配で電位を下降させる部分である。この微振動収縮要素ｖｄがピエゾ素子ＰＺＴに印加されると、ピエゾ素子ＰＺＴは伸張する。そして、圧力室３２３の容積は、基準容積まで収縮する。

この圧力室３２３の容積変化に伴い、圧力室３２３内のインクにはインク滴が吐出されない程度の弱い圧力変化が生じる。これにより、メニスカスが圧力室３２３側に引き込まれる方向と反対方向とに移動する。その結果、ノズル３２４の近くに存在するインクが攪拌され、増粘が抑制される。

吐出パルスＰＳ２は、インク滴を吐出させる場合にピエゾ素子ＰＺＴへ印加されるパルスである。この吐出パルスＰＳ２は、インク滴の目標吐出量が等しい一対のパルスによって構成されている。すなわち、第１吐出パルスＰＳ２ａと第２吐出パルスＰＳ２ｂによって構成されている。第１吐出パルスＰＳ２ａは、第１後半部分及び第２前半部分にて先に生成されるパルスである。第２吐出パルスＰＳ２ｂは、第１後半部分及び第２前半部分にて、第１吐出パルスＰＳ２ａに続いて生成されるパルスである。例示した第１駆動信号ＣＯＭ_Ａ及び第２駆動信号ＣＯＭ_Ｂにおいて、第１後半部分が有する第１吐出パルスＰＳ２ａは、微振動吐出パルスＰＳ２の生成が開始されてから所定期間Ｗ１の経過後に生成が開始されている。この例では、３５．５μｓ経過後に第１吐出パルスＰＳ２ａの生成が開始されている。また、第２前半部分が有する第１吐出パルスＰＳ２ａは、微振動吐出パルスＰＳ２と同じタイミングで生成が開始されている。第２吐出パルスＰＳ２ｂは、第１吐出パルスＰＳ２ａの生成が開始されてから所定期間Ｗ２の経過後に生成が開始されている。この例では、第１後半部分が有する第２吐出パルスＰＳ２ｂ及び第２前半部分が有する第２吐出パルスＰＳ２ｂの何れも、先に生成された第１吐出パルスＰＳ２ａの生成開始から１７．６μｓ経過後に生成が開始されている。

大ドットの形成時には、第２前半部分がピエゾ素子ＰＺＴへ印加された後、第１後半部分がピエゾ素子ＰＺＴへ印加される。言い換えれば、全ての吐出パルスＰＳ２がピエゾ素子ＰＺＴへ印加される。この場合、ピエゾ素子ＰＺＴには、最初に第２前半部分が有する第１吐出パルスＰＳ２ａが印加され、次に第２前半部分が有する第２吐出パルスＰＳ２ｂが印加される。その後、第１後半部分が有する第１吐出パルスＰＳ２ａが印加され、最後に第１後半部分が有する第２吐出パルスＰＳ２ｂが印加される。要するに、第１吐出パルスＰＳ２ａと第２吐出パルスＰＳ２ｂとがピエゾ素子ＰＺＴへ交互に印加される。

＜吐出パルスＰＳ２について＞
次に吐出パルスＰＳ２について説明する。まず、吐出パルスＰＳ２が有する各要素について説明する。なお、これらの要素は第１吐出パルスＰＳ２ａと第２吐出パルスＰＳ２ｂとで同じである。図５Ａに示すように、吐出パルスＰＳ２は、第１膨張要素ｃ１と、第１ホールド要素ｈ１と、収縮要素ｄ１と、第２ホールド要素ｈ２と、第２膨張要素ｃ２と、第３ホールド要素ｈ３と、第３膨張要素ｃ３とを有する。

第１膨張要素ｃ１は、中間電位ＶＢから最高電位ＶＨまで一定の勾配で電位を上昇させる部分である。この第１膨張要素ｃ１が印加されると、ピエゾ素子ＰＺＴは収縮する。これに伴い、圧力室３２３は、中間電位ＶＢに対応する基準容積から最高電位ＶＨに対応する最大容積まで膨張する。この圧力室３２３の膨張により、圧力室３２３内に、インクがインク供給路３２２から供給され、後の、収縮要素ｄ１によるインク滴の吐出量を多くすることができる。これと同時に、圧力室３２３内のインクには圧力振動（強制振動）が励起される。この第１膨張要素ｃ１は励振要素に相当する。

第１ホールド要素ｈ１は、最高電位ＶＨを所定時間に亘って維持する部分である。この第１ホールド要素ｈ１は、第１膨張要素ｃ１の終端と収縮要素ｄ１の始端とを一定の電位で接続する定電位要素に相当する。この第１ホールド要素ｈ１が印加されると、ピエゾ素子ＰＺＴは収縮状態を維持する。これに伴って圧力室３２３は最大容積を維持する。第１ホールド要素ｈ１の印加期間において、圧力室３２３内のインク圧力は残留振動によって変化する。

収縮要素ｄ１は、最高電位ＶＨから最低電位ＶＬまで一定の勾配で電位を下降させる部分である。この収縮要素ｄ１が印加されると、ピエゾ素子ＰＺＴは伸張する。これに伴い、圧力室３２３は、最大容積から最小容積まで急速に収縮する。その結果、圧力室３２３内のインクの圧力が高まり、ノズル３２４からインク滴が吐出される。このため、収縮要素ｄ１は、インク滴を吐出させるための吐出要素に相当する。この吐出パルスＰＳ２において、収縮要素ｄ１は最高電位ＶＨから最低電位ＶＬまで電位を下降させるものであるため、素子の変形量を最大にすることができる。これにより、圧力室３２３内のインクの大きな圧力変化を与えることができる。なお、最高電位ＶＨと最低電位ＶＬとの差は３１Ｖ（２５℃）である。

第２ホールド要素ｈ２は、最低電位ＶＬを極めて短い時間に亘って維持する部分であり、第２膨張要素ｃ２による制御へ移行するための制御時間を確保する。この第２ホールド要素ｈ２は、復帰部分の一部を構成する。第２膨張要素ｃ２は、最低電位ＶＬから制振電位ＶＮまで一定の勾配で電位を上昇させるための部分である。この第２膨張要素ｃ２が印加されることにより、ピエゾ素子ＰＺＴは最小容積から制振電位ＶＮに対応する制振容積まで膨張する。ここで、制振電位ＶＮは、最低電位ＶＬと中間電位ＶＢの間に定められる。この制振電位ＶＮは、後述するように、第３膨張要素ｃ３（制振要素）による圧力室３２３の膨張度合いを規定する。従って、この第２膨張要素ｃ２は、圧力室３２３の容積を調整するための容積調整要素に相当する。なお、第２ホールド要素ｈ２も復帰部分の一部を構成する。第３ホールド要素ｈ３は、制振電位ＶＮを一定時間に亘って維持する部分であり、第３膨張要素ｃ３による圧力室３２３の膨張開始のタイミングを定める。このため、第３ホールド要素ｈ３は、制振開始タイミングを調整するタイミング調整要素に相当する。なお、この第３ホールド要素ｈ３も復帰部分の一部を構成する。

第３膨張要素ｃ３は、制振電位ＶＮから中間電位ＶＢまで一定の勾配で電位を上昇させる部分である。この第３膨張要素ｃ３が印加されると、ピエゾ素子ＰＺＴは収縮する。そして、圧力室３２３は、制振容積から基準容積まで膨張する。これにより、インク滴が吐出された後の圧力室３２３内のインクの圧力変化が緩和され、次のインク滴の吐出を早期に開始させることができる。つまり、インク滴の吐出周波数を高めることができる。このような第３膨張要素ｃ３は、制振要素に相当する。ここで、第３膨張要素ｃ３による圧力室３２３の膨張度合いは第２膨張要素ｃ２によって調整され、圧力室３２３の膨張を開始するタイミングは第３ホールド要素ｈ３によって定められている。これらの第２膨張要素ｃ２及び第３ホールド要素ｈ３によって、第３膨張要素ｃ３による圧力室３２３の膨張動作が最適化されているので、インクの圧力変化を効果的に抑えることができる。なお、この第３膨張要素ｃ３も復帰部分の一部を構成する。

＜各吐出パルスＰＳ２ａ，ＰＳ２ｂについて＞
前述したように、第１吐出パルスＰＳ２ａ及び第２吐出パルスＰＳ２ｂは、目標吐出量は同じであるが電位の変化パターンが異なっている。すなわち、第２吐出パルスＰＳ２ｂにてインク滴を吐出させるべく圧力室３２３を収縮させるタイミングは、第１吐出パルスＰＳ２ａにてインク滴を吐出させるべく圧力室３２３を収縮させるタイミングよりも、圧力室３２３内のインク圧力が低くなるように定められている。

具体的には、第１膨張要素ｃ１から第３膨張要素ｃ３までの各要素の生成期間が、図５Ｂに示す期間に定められている。第１吐出パルスＰＳ２ａについて説明すると、第１励振要素としての第１膨張要素ｃ１は生成期間が２．７μｓに、第１定電位要素としての第１ホールド要素ｈ１は生成期間が３．１μｓに、第１吐出要素としての収縮要素ｄ１は生成期間が２．５μｓに、それぞれ定められている。第１復帰部分として機能する第２ホールド要素ｈ２、第２膨張要素ｃ２、第３ホールド要素ｈ３、及び、第３膨張要素ｃ３の生成期間は、次の通りである。すなわち、第２ホールド要素ｈ２の生成期間は０．６μｓ、第２膨張要素ｃ２の生成期間は１．０μｓ、第３ホールド要素ｈ３の生成期間は３．０μｓ、第３膨張要素ｃ３の生成期間は２．５μｓである。

これに対し、第２吐出パルスＰＳ２ｂでは、第２励振要素としての第１膨張要素ｃ１は生成期間が３．４μｓに、第２定電位要素としての第１ホールド要素ｈ１は生成期間が２．９μｓに、第２吐出要素としての収縮要素ｄ１は生成期間が２．３μｓに、それぞれ定められている。第２復帰部分として機能する第２ホールド要素ｈ２、第２膨張要素ｃ２、第３ホールド要素ｈ３、及び、第３膨張要素ｃ３の生成期間は、第１吐出パルスＰＳ２ａと同じである。すなわち、第２ホールド要素ｈ２の生成期間は０．６μｓ、第２膨張要素ｃ２の生成期間は１．０μｓ、第３ホールド要素ｈ３の生成期間は３．０μｓ、第３膨張要素ｃ３の生成期間は２．５μｓである。

第１吐出パルスＰＳ２ａと第２吐出パルスＰＳ２ｂとを比較すると、次のことがいえる。第１吐出パルスＰＳ２ａの第１膨張要素ｃ１（第１励振要素）は生成期間が２．７μｓであるのに対し、第２吐出パルスＰＳ２ｂの第１膨張要素ｃ１（第２励振要素）は生成期間が３．４μｓである。図５Ａの波形から判るように、第１膨張要素ｃ１の電位差は、第１吐出パルスＰＳ２ａと第２吐出パルスＰＳ２ｂとで等しい。このため、第２吐出パルスＰＳ２ｂを用いた場合は、圧力室３２３の膨張速度（単位時間あたりの膨張量）が、第１吐出パルスＰＳ２ａを用いた場合よりも小さくなる。これにより、第２吐出パルスＰＳ２ｂの第１膨張要素ｃ１を用いた場合、圧力室３２３内のインクに励起される圧力振動の振幅は、第２吐出パルスＰＳ２ｂの第１膨張要素ｃ１を用いた場合よりも小さくなる。

第１ホールド要素ｈ１の印加期間中に亘って圧力室３２３内のインク圧力は変化する。このとき、圧力室３２３内のインク圧力は周期的に変化するが、その変化の態様は、第１膨張要素ｃ１による圧力室３２３の膨張度合いや膨張速度（励振の度合い）、圧力室３２３内におけるインクの固有振動周期などの要因によって定まる。そして、収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおけるインク圧力は、第１ホールド要素ｈ１の生成期間によって調整できる。

従って、第１膨張要素ｃ１の生成期間の長さと第１ホールド要素ｈ１の生成期間の長さの一方、あるいは両方を変化させる事で、収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおけるインク圧力を調整することができる。

本実施形態では、第２吐出パルスＰＳ２ｂの収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおけるインク圧力が、第１吐出パルスＰＳ２ａの収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおけるインク圧力（所定圧力に相当する。）よりも低くなるように、各第１ホールド要素ｈ１の生成期間を定めている。具体的には、第１吐出パルスＰＳ２ａが有する第１ホールド要素ｈ１（第１定電位要素）の生成期間を３．１μｓに定めているのに対し、第２吐出パルスＰＳ２ｂが有する第１ホールド要素ｈ１（第２定電位要素）の生成期間を２．９μｓに定めている。

収縮要素ｄ１の印加に伴って圧力室３２３内のインクは急激に加圧され、ノズル３２４からインク滴として吐出される。ここで、第１吐出パルスＰＳ２ａの収縮要素ｄ１（第１吐出要素）は生成期間が２．５μｓである。これに対し、第２吐出パルスＰＳ２ｂの収縮要素ｄ１（第２吐出要素）は生成期間が２．３μｓである。そして、第１収縮要素ｄ１と第２収縮要素ｄ１の電位差は同じである。このため、第２吐出パルスＰＳ２ｂの収縮要素ｄ１による圧力室３２３の収縮速度は、第１吐出パルスＰＳ２ａによる圧力室３２３の収縮速度よりも高い。このように収縮速度に差をつけたのは、次の理由による。第２吐出パルスＰＳ２ｂを用いる場合、収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおける圧力室３２３内のインク圧力は、第１吐出パルスＰＳ２ａを用いる場合よりも低くなる。このタイミングにおけるインク圧力はインク滴の飛行速度に影響を与える。すなわち、インク圧力が高いほど飛行速度も高くなる。従って、第２吐出パルスＰＳ２ｂの収縮要素ｄ１と第１吐出パルスＰＳ２ａの収縮要素ｄ１の勾配を揃えてしまうと、第２吐出パルスＰＳ２ｂで吐出させたインク滴の飛行速度が過度に遅くなってしまう虞がある。このような事情に鑑み、このプリンタ１では、第２吐出パルスＰＳ２ｂの収縮要素ｄ１の生成期間を第１吐出パルスＰＳ２ａの収縮要素ｄ１の生成期間よりも短く定め、インク滴の飛行速度が遅くなり過ぎないようにしている。

第１復帰部分及び第２復帰部分としての第２ホールド要素ｈ２、第２膨張要素ｃ２、第３ホールド要素ｈ３、及び、第３膨張要素ｃ３の生成期間は、第１吐出パルスＰＳ２ａと第２吐出パルスＰＳ２ｂで同じである。これは次の知見による。前述したように、インク滴の目標吐出量は第１吐出パルスＰＳ２ａと第２吐出パルスＰＳ２ｂで同じである。そして、インク滴の飛行速度は、収縮要素ｄ１の勾配を調整することで大きな差が生じないようにしている。このため、インク滴が吐出された後における圧力室３２３内のインクの圧力変化は、第１吐出パルスＰＳ２ａを用いた場合と第２吐出パルスＰＳ２ｂを用いた場合とで大きな違いはないと考えられる。このため、第１復帰部分及び第２復帰部分である各要素について、電位の変化パターンを第１吐出パルスＰＳ２ａと第２吐出パルスＰＳ２ｂとで同じにすることで、インク滴の吐出後におけるインクの圧力変化を早期に収束させることができ、インク滴の吐出周波数を高めることができる。

＜評価結果について＞
次に、第２吐出パルスＰＳ２ｂと第１吐出パルスＰＳ２ａとの間で電位の変化パターンを異ならせたことによる評価結果について説明する。図６及び図７は、この評価結果を説明するための図である。

図６は、インク滴の規定飛行速度からの変動量を示す図である。詳しくは、３つの吐出パルスＰＳ２を連続的にピエゾ素子ＰＺＴへ印加した場合であって２番目の吐出パルスＰＳ２から３番目の吐出パルスＰＳ２までの間隔を変化させた場合の、３番目の吐出パルスＰＳ２の飛行速度の変動量を示す図である。このため、図６の縦軸はインク滴の飛行速度の変動量を示す。また、図６の横軸は、２番目の吐出パルスＰＳ２から３番目の吐出パルスＰＳ２までの間隔に関し、駆動信号ＣＯＭにおける間隔との差を示す。図６において、正方形の系列で示す線分は、この実施形態の評価結果を説明する図である。すなわち、第１吐出パルスＰＳ２ａに続いて第２吐出パルスＰＳ２ｂをピエゾ素子ＰＺＴへ印加した場合を説明する図である。一方、菱形の系列で示す線分は、比較例を示す図である。具体的には、第１吐出パルスＰＳ２ａを連続的にピエゾ素子ＰＺＴへ印加した場合を説明する図である。

図７は、評価に用いた吐出パルス群を説明する図である。すなわち、図７の上段は、この実施形態を評価するための吐出パルス群を説明する図である。また、図７の下段は、参考例を評価するための吐出パルス群を説明する図である。図７において、縦軸は電位であり、横軸は時間である。そして、本実施形態の吐出パルス群、及び、比較例の吐出パルス群の何れも２番目の吐出パルスＰＳ２の印加開始タイミングは、駆動信号ＣＯＭと同じ間隔（所定期間Ｗ２）に定められている。また、図７において、３番目にピエゾ素子ＰＺＴへ印加される吐出パルスＰＳ２を、実線、一点鎖線、点線の３種類で示している。これは、この吐出パルスＰＳ２の生成タイミングをずらしながら、インク滴の飛行速度を繰り返し測定することを意味する。３番目の吐出パルスＰＳ２の印加開始タイミングは、駆動信号ＣＯＭにおける第１後半部分が有する第１吐出パルスＰＳ２ａの印加開始タイミング（所定期間Ｗ１）を基準としている。そして、この基準のタイミングから所定間隔ずつ長くして測定を行っている。

図６に示すように、本実施形態では、インク滴の飛行速度の変動量が周期的に変化している。この変化は、２番目のインク滴の吐出後における圧力室３２３内のインクの圧力振動によって生じていると考えられる。インク滴が吐出された後、圧力室３２３内のインクには残留振動が生じている。この残留振動を抑制すべく、復帰部分がピエゾ素子ＰＺＴへ印加されるが、この復帰部分を印加しても、インクの圧力振動は残ってしまう。そして、３番目の吐出パルスＰＳ２によるインク滴の飛行速度は、この吐出パルスＰＳ２の印加開始時点におけるインクの圧力に応じて変動すると考えられる。すなわち、印加開始時点におけるインクの圧力が高いほどインク滴の飛行速度は高くなり、圧力が低いほどインク滴の飛行速度は低くなると考えられる。従って、復帰部分の印加後におけるインク圧力の残留振動の振幅が大きいほど、３番目の吐出パルスＰＳ２によるインク滴の飛行速度が大きく変化することになる。

本実施形態の吐出パルス群と比較例の吐出パルス群とで飛行速度の変動幅を比較すると、本実施形態の吐出パルス群の方が、変動幅が小さいことが判る。例えば、本実施形態の吐出パルス群を用いた場合、最大の変動幅は図６に符号ＶＰ１で示す大きさであるのに対し、比較例の吐出パルス群を用いた場合、最大の変動幅は図６に符号ＶＰ２で示す大きさとなる。そして、変動幅ＶＰ１は、変動幅ＶＰ１の約１．５倍程度の大きさになっている。従って、本実施形態の吐出パルス群を用いることで、第２吐出パルスＰＳ２ｂ印加後における圧力振動を抑制することができ、インク滴の高周波吐出を実現できるといえる。

このように、第２吐出パルスＰＳ２ｂが有する収縮要素ｄ１（第２吐出要素）の印加開始タイミングにおけるインク圧力を、第１吐出パルスＰＳ２ａが有する収縮要素ｄ１（第１吐出要素）の印加開始タイミングにおけるインク圧力よりも低く定めることで、第２吐出パルスＰＳ２ｂの印加後におけるインク圧力の残留振動を小さくすることができる。これにより、インク滴の吐出周波数を高めることができる。

ここで、本実施形態の吐出パルス群では、第２吐出パルスＰＳ２ｂにおける第１膨張要素ｃ１の生成期間を、第１吐出パルスＰＳ２ａにおける第１膨張要素ｃ１の生成期間よりも長くすることで、収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおける圧力室３２３内のインク圧力を低くしている。言い換えれば、第２励振要素の勾配（単位時間あたりの電位変化量）を第１励振要素の勾配よりも小さくすることで、第２吐出要素の印加開始タイミングにおける液体圧力を、第１吐出要素の印加開始タイミングにおける液体圧力（所定圧力）よりも低くしている。

ところで、第１膨張要素ｃ１をピエゾ素子ＰＺＴへ印加すると、圧力室３２３内のインクには圧力振動が励起される。この場合、圧力室３２３内のインク圧力は時間の経過に伴って変化する。このため、収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおける圧力室３２３内のインク圧力は、第１ホールド要素ｈ１の生成期間によっても変化する。このため、第１ホールド要素ｈ１の生成期間を調整しても、同様の効果が得られる。要するに、収縮要素ｄ１の生成期間と第１ホールド要素ｈ１の生成期間の少なくとも一方を調整することで、第２吐出要素の印加開始タイミングにおける液体圧力を、第１吐出要素の印加開始タイミングにおける液体圧力よりも低くできる。

＜吐出パルスＰＳ２の評価について＞
本実施形態の駆動信号ＣＯＭでは、第１吐出パルスＰＳ２ａと第２吐出パルスＰＳ２ｂとで電位の変化パターンが異なっている。ここで、従来の評価装置は、１種類の吐出パルスを用いてインク滴を吐出させるものであった。このため、本実施形態の駆動信号ＣＯＭのように、電位の変化パターンが異なる複数種類の吐出パルスＰＳ２ａ，ＰＳ２ｂによってインク滴を高い周波数で吐出させる場合には、適正な評価が行えなかった。このような事情に鑑み、この実施形態では、図７に示すように、３つの吐出パルスＰＳ２を用いて評価を行っている。

すなわち、１番目にピエゾ素子ＰＺＴへ印加される第１吐出パルスＰＳ２ａ（先行吐出パルス）、２番目にピエゾ素子ＰＺＴへ印加され、評価の対象となる第２吐出パルスＰＳ２ｂ（評価対象吐出パルス）、３番目にピエゾ素子ＰＺＴに印加され、インク滴の飛行速度が計測される第１吐出パルスＰＳ２ａ（後行吐出パルス）によって、インク滴を連続的に吐出させている。そして、２番目の第２吐出パルスＰＳ２ｂと３番目の第１吐出パルスＰＳ２ａの間隔を異ならせて、インク滴の飛行速度を複数回計測する。そして、第２吐出パルスＰＳ２ｂから第１吐出パルスＰＳ２ａまでの間隔とインク滴の飛行速度の関係に基づいて、例えば飛行速度の変動量のばらつきの大きさに基づいて、第２吐出パルスＰＳ２ｂにおける電位の変化パターンを評価する。

このような評価方法を採ると、第２吐出パルスＰＳ２ｂによってインク滴が吐出された後における圧力室３２３内のインク圧力の変化を、第２吐出パルスＰＳ２ｂから第１吐出パルスＰＳ２ａまでの間隔とインク滴の飛行速度の関係に基づいて認識できる。このため、吐出周波数を高めた場合であっても、第２吐出パルスＰＳ２ｂを適正に評価できる。以下、詳細に説明する。

＜吐出パルスの評価装置１００について＞
図８Ａは、吐出パルスの評価装置１００を説明する図である。例示した評価装置１００は、ヘッドＨＤと、ヘッド制御部ＨＣと、駆動信号生成回路１１０と、インク滴検出部１２０と、出力装置１３０と、コントローラ１４０とを有する。これらの中で、ヘッドＨＤ、ヘッド制御部ＨＣ、及び、駆動信号生成回路１１０は、プリンタ１が有するものと同じである。すなわち、ヘッドＨＤは、図２Ａで説明したように、ノズル３２４及びインク供給路３２２に連通した圧力室３２３と、圧力室３２３の容積を変化させることで圧力室３２３内のインクに圧力変化を与えるピエゾ素子ＰＺＴを有する。また、駆動信号生成回路１１０は、吐出パルス生成部として機能し、吐出パルスＰＳ２を含んだ駆動信号ＣＯＭを生成する。なお、これらの各部に関する詳細な説明は省略する。

インク滴検出部１２０は、ヘッドＨＤから吐出されたインク滴を検出するものである。このインク滴検出部１２０は、発光部１２１と受光部１２２とを有する。発光部１２１は半導体レーザによって構成され、受光部１２２はフォトダイオードによって構成される。発光部１２１はレーザ光線を受光部１２２に向けて出力する。受光部１２２は、発光部１２１からのレーザ光線を受光している期間に亘ってＨレベルの信号を出力する。図８Ｂに示すように、インク滴は、レーザ光線を途中で遮る経路で吐出される。このため、図８Ｃに示すように、インク滴がレーザ光線を遮っている期間に亘って受光部１２２からはＬレベルの信号が出力される。例示したインク滴検出部１２０では、発光部１２１と受光部１２２を上下方向に２組設けている。このため、レーザ光線同士の距離と遮光時間とにより、インク滴の飛行速度を計測することができる。図８Ｂ及び図８Ｃの例では、上側のレーザ光線ＬＸｕと下側のレーザ光線ＬＸｄの距離がＬｄであって上側の受光部１２２でインク滴が計測されたタイミングｔ１から下側の受光部１２２でインク滴が計測されたタイミングまでの期間がＷｄである。このため、飛行速度はＬｄ／Ｗｄになる。なお、インク滴検出部１２０は、インク滴を検出できればこの構成に限られない。

コントローラ１４０は、評価装置１００の動作を制御するものであり、ＣＰＵ１４１とメモリ１４２とを有する。ＣＰＵ１４１は、メモリ１４２に記憶されたファームウェアやＤＡＣデータに基づき、ヘッドＨＤや駆動信号生成回路１１０を制御する。また、受光部１２２からの出力信号に基づいてインク滴の飛行速度を求める。従って、コントローラ１４０はインク滴検出部１２０とともに、インク滴の飛行速度を測定する速度測定部として機能する。出力装置１３０は、計測に関わる各種の情報を出力する。例えば、計測条件、吐出パルスＰＳ２における各要素の電位差と生成期間、インク滴の飛行速度を出力する。出力装置１３０は、情報を用紙に出力するものであってもよいし、ディスプレイに表示するものであってもよい。要するに、評価に関わる情報を出力できればよい。

＜評価結果について＞
次に、図９から図１２を参照して、第１ホールド要素ｈ１の生成期間を変化させた場合の評価結果について説明する。図９は、評価に用いた吐出パルス群を説明する図である。図１０は、インク滴の飛行速度の変動量と２番目の吐出パルス（評価対象吐出パルスＰＳＹ）から３番目の吐出パルス（後行吐出パルスＰＳＺ）までの間隔との関係を、２番目の吐出パルスの種類毎に示す図である。

まず、評価に用いた吐出パルス群について説明する。図９に示すように、この吐出パルス群は、３つの吐出パルスによって構成されている。１番目の吐出パルスは先行吐出パルスＰＳＸであり、２番目の吐出パルスＰＳ２は評価対象吐出パルスＰＳＹであり、３番目の吐出パルスＰＳ２は後行吐出パルスＰＳＺである。すなわち、評価対象となる評価対象吐出パルスＰＳＹの前後に他の吐出パルスＰＳＸ，ＰＳＺを１つずつ生成し、ピエゾ素子ＰＺＴへ印加している。

先行吐出パルスＰＳＸ、評価対象吐出パルスＰＳＹ、及び、後行吐出パルスＰＳＺの何れも、図５Ａに示す各要素を有している。このため、先行吐出パルスＰＳＸが有する第１膨張要素ｃ１は、圧力室３２３内のインクに圧力振動を励起させる第１励振要素に相当し、収縮要素ｄ１は、ノズル３２４からインク滴を吐出させるための動作をピエゾ素子ＰＺＴに行わせる第１吐出要素に相当する。同様に、評価対象吐出パルスＰＳＹが有する第１膨張要素ｃ１は第２励振要素に相当し、収縮要素ｄ１は第２吐出要素に相当する。また、後行吐出パルスＰＳＺが有する第１膨張要素ｃ１は第３励振要素に相当し、収縮要素ｄ１は第３吐出要素に相当する。

加えて、先行吐出パルスＰＳＸ及び後行吐出パルスＰＳＺは、第１吐出パルスＰＳ２ａと同じ電位の変化パターンに定められている。電位の変化パターンと各要素の生成期間は既に述べているので（図５Ａ及び図５Ｂを参照）、ここでは説明を省略する。これに対し、評価対象吐出パルスＰＳＹは、前述した第１吐出パルスＰＳ２ａを基準にして電位の変化パターンが定められている。この例では、図９に模式的に示すように、第１ホールド要素ｈ１の生成期間を段階的に長くした複数種類の評価対象吐出パルスＰＳＹを評価の対象としている。具体的には、図１０の下段に示すように、第１吐出パルスＰＳ２ａと同じ電位の変化パターンを有するもの、すなわち第１ホールド要素ｈ１の生成期間が第１吐出パルスＰＳ２ａの第１ホールド要素ｈ１と同じもの（△Ｐｗｈ１＝０μｓ）から、第１ホールド要素ｈ１の生成期間が第１吐出パルスＰＳ２ａの第１ホールド要素ｈ１よりも１μｓ長いもの（△Ｐｗｈ１＝１μｓ）まで、合計で６種類の評価対象吐出パルスＰＳＹを評価の対象にしている。

そして、それぞれの評価対象吐出パルスＰＳＹについて、後行吐出パルスＰＳＺによって吐出されたインク滴の飛行速度を計測している。このとき、評価対象吐出パルスＰＳＹと後行吐出パルスＰＳＺとの間隔を段階的に長くしながら、インク滴の飛行速度を複数回計測している。具体的には、先行吐出パルスＰＳＸから後行吐出パルスＰＳＺまでの間隔が駆動信号ＣＯＭと同じ場合、すなわち所定間隔Ｗ１の場合を基準（Delay time＝０μｓ）にしている。そして、後行吐出パルスＰＳＺの生成開始タイミングを１μｓずつ、最大で９μｓまで遅らせて飛行速度を計測している。

図１０には評価結果を示す。ここでは、飛行速度の変動量のばらつき（最大値と最小値の差）を評価に用いている。図６にて説明したように、飛行速度の変動量は、収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおけるインク圧力のばらつきを意味する。このため、変動量が小さいほどインク滴の吐出を安定的に行えるといえる。すなわち、インク滴を高い周波数で吐出できるといえる。図１０の評価結果では、先行吐出パルスＰＳＸと評価対象吐出パルスＰＳＹの電位の変化パターンが、ともに第１吐出パルスＰＳ２ａにおける電位の変化パターンと同じ場合、言い換えれば第１吐出パルスＰＳ２ａを連続的に印加した場合に、そのばらつき（最大振幅）は０．５４７となる。そして、第１ホールド要素ｈ１の生成期間を長くすると、そのばらつきは小さくなる。例えば、第１ホールド要素ｈ１の生成期間を０．２μｓ長くするとばらつきは０．４６６となり、０．４μｓ長くするとばらつきは０．４９となる。同様に、第１ホールド要素ｈ１の生成期間を０．６μｓ長くするとばらつきは０．４４８となり、０．８μｓ長くするとばらつきは０．２３２となる。これは、第１ホールド要素ｈ１を長くするほど収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおけるインク圧力が小さくなっているからと考えられる。

このことは、図１１のグラフからも判る。図１１は、１つの吐出パルスＰＳ２で吐出させたインク滴の飛行速度を示す図であって、第１ホールド要素ｈ１の生成期間を段階的に長くした場合のインク滴の飛行速度を示す図である。なお、この吐出パルスＰＳ２において、第１膨張要素ｃ１（励振要素）と収縮要素ｄ１（吐出要素）は、第１吐出パルスＰＳ２ａと同じ電位差及び生成期間に定められている。従って、図１１における符号Ａで示す範囲が、図１０の評価範囲に相当する。図１１から明らかなように、符号Ａで示す範囲において、収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおけるインク圧力は、第１ホールド要素ｈ１が長くなるほど小さくなっている。このことは、第１ホールド要素ｈ１を長くするほど、インク圧力が過度に高くなってしまうことを抑制できることを意味する。言い換えれば、インク滴の飛行速度や飛行方向のばらつきを抑え安定化できることを意味する。

図１２は、先行吐出パルスＰＳＸによるインク滴、評価対象吐出パルスＰＳＹによるインク滴、及び、後行吐出パルスＰＳＺによるインク滴の飛行状態を模式的に示す図である。この図において、上部の数値は評価対象吐出パルスＰＳＹにおける第１ホールド要素ｈ１の生成期間を示す。すなわち、図１０と同様に、第１吐出パルスＰＳ２ａの生成期間との差を示している。なお、先行吐出パルスＰＳＸ、評価対象吐出パルスＰＳＹ、及び、後行吐出パルスＰＳＺの間隔は、駆動信号ＣＯＭと同じである。また、符号Ｂで示す範囲内の黒丸が、各吐出パルスＰＳＸ，ＰＳＹ，ＰＳＺで吐出されたインク滴を示す。すなわち、範囲Ｂにおいて、一番下の黒丸が先行吐出パルスＰＳＸで吐出されたインク滴を示し、一番上の黒丸が後行吐出パルスＰＳＺで吐出されたインク滴を示す。そして、上下の黒丸の間に位置する黒丸が評価対象吐出パルスＰＳＹで吐出されたインク滴を示す。

図１２から判るように、評価対象吐出パルスＰＳＹにおける第１ホールド要素ｈ１の生成期間が第１吐出パルスＰＳ２ａと同じ場合には、評価対象吐出パルスＰＳＹで吐出されたインク滴の飛行速度が、先行吐出パルスＰＳＸで吐出されたインク滴の飛行速度よりも十分に速く、追いついてしまっていることが判る。評価対象吐出パルスＰＳＹで吐出されたインク滴は、第１ホールド要素ｈ１の生成期間が長くなるほど遅くなる。この例では、０．３μｓ加算されると、言い換えれば、第１吐出パルスＰＳ２ａにおける第１ホールド要素ｈ１の生成期間（３．１μｓ）に対して１０％長く設定されると、飛行速度や飛行方向が安定する。なお、図１２の結果では、０．３μｓ以上加算すれば飛行速度や飛行方向が安定するが、インク滴の高周波吐出という観点からすれば、加算期間は０．９μｓ以下（３０％以下）であることが好ましいといえる。

次に、図１３及び図１４を参照して、第１膨張要素ｃ１の生成期間を変化させた場合の評価結果について説明する。図１３は、評価に用いた吐出パルス群を説明する図である。図１４は、インク滴の飛行速度の変動量と２番目の吐出パルス（評価対象吐出パルスＰＳＹ）から３番目の吐出パルス（後行吐出パルスＰＳＺ）までの間隔との関係を、２番目の吐出パルスの種類毎に示す図である。

まず、評価に用いた吐出パルス群について説明する。図１３に示すように、この吐出パルス群も、先行吐出パルスＰＳＸ、評価対象吐出パルスＰＳＹ、及び、後行吐出パルスＰＳＺからなる３つの吐出パルスによって構成されている。これらの吐出パルスＰＳＸ，ＰＳＹ，ＰＳＺのうち、先行吐出パルスＰＳＸ及び後行吐出パルスＰＳＺは、図９のものと同じであるので説明は省略する。

評価対象吐出パルスＰＳＹは、前述した第１吐出パルスＰＳ２ａを基準にして電位の変化パターンが定められている。この例では、図１３に模式的に示すように、第１膨張要素ｃ１の生成期間を段階的に長くした複数種類の評価対象吐出パルスＰＳＹを評価の対象としている。具体的には、図１４の下段に示すように、第１吐出パルスＰＳ２ａと同じ電位の変化パターンを有するもの、すなわち第１膨張要素ｃ１の生成期間が第１吐出パルスＰＳ２ａの第１膨張要素ｃ１と同じもの（△Ｐｗｃ１＝０μｓ）から、第１膨張要素ｃ１の生成期間が第１吐出パルスＰＳ２ａの第１膨張要素ｃ１よりも１μｓ長いもの（△Ｐｗｃ１＝１μｓ）まで、合計で６種類の評価対象吐出パルスＰＳＹを評価の対象にしている。そして、それぞれの評価対象吐出パルスＰＳＹについて、後行吐出パルスＰＳＺによって吐出されたインク滴の飛行速度を計測している。この場合も、評価対象吐出パルスＰＳＹと後行吐出パルスＰＳＺとの間隔を段階的に長くしながら、インク滴の飛行速度を複数回計測している。

図１４には評価結果を示す。ここでも、飛行速度の変動量のばらつきを評価に用いている。図１４の評価結果では、先行吐出パルスＰＳＸと評価対象吐出パルスＰＳＹの電位の変化パターンがともに第１吐出パルスＰＳ２ａにおける電位の変化パターンと同じ場合に、そのばらつきは０．５４７となる。そして、第１膨張要素ｃ１の生成期間を長くすると、そのばらつきは小さくなる。例えば、第１膨張要素ｃ１の生成期間を０．２μｓ長くするとばらつきは０．５０１となり、０．４μｓ長くするとばらつきは０．４７９となる。同様に、第１膨張要素ｃ１の生成期間を０．６μｓ長くするとばらつきは０．４９６となり、０．８μｓ長くするとばらつきは０．４５５となる。このことから、第１膨張要素ｃ１を長くするほど収縮要素ｄ１の印加開始タイミングにおけるインク圧力が小さくなることが判る。

図１４の評価結果を図１０の評価結果と対比して考察すると、評価対象吐出パルスＰＳＹにおける第１膨張要素ｃ１の生成期間を、第１吐出パルスＰＳ２ａにおける第１膨張要素ｃ１の生成期間よりも０．２μｓ以上長くすることにより、インク滴の吐出が安定化すると考えられる。これは、図１０の評価結果において、第１ホールド要素ｈ１の生成期間を、第１吐出パルスＰＳ２ａにおける第１ホールド要素ｈ１の生成期間よりも１μｓ以上長くした場合のばらつきが０．５１３であり、かつ、インク滴の吐出が安定していたことによる。この例において、第１吐出パルスＰＳ２ａにおける第１膨張要素ｃ１の生成期間は２．７μｓであるため、この生成期間を少なくとも１０％長く設定することで、飛行速度や飛行方向が安定すると考えられる。なお、インク滴の高周波吐出という観点からすれば、第１ホールド要素ｈ１と同様に、加算期間は０．９μｓ以下（１／３以下）であることが好ましいといえる。

そして、評価対象吐出パルスＰＳＹにおける第１膨張要素ｃ１及び第１ホールド要素ｈ１の生成期間の組み合わせを適宜変えて、後行吐出パルスＰＳＺによるインク滴の飛行速度を計測し、飛行速度のばらつきが小さい組み合わせを選ぶことで、評価対象吐出パルスＰＳＹにおける電位の変化パターンを最適化できる。

＜まとめ＞
以上説明したように、この実施形態では、第１吐出パルスＰＳ２ａと第２吐出パルスＰＳ２ｂとを連続的にピエゾ素子ＰＺＴへ印加することにより、目標吐出量が等しい２つのインク滴（第１液体滴，第２液体滴）を連続的に吐出させている。言い換えれば、第１吐出パルスＰＳ２ａの第１膨張要素ｃ１（第１励振要素）をピエゾ素子ＰＺＴへ印加することで、圧力室３２３内のインクに圧力振動を励起させている。そして、第１ホールド要素ｈ１（第１定電位要素）でタイミングを調整し、圧力室３２３内のインクが所定圧力になったタイミングで、収縮要素ｄ１（第１吐出要素）を印加している。その後、第２吐出パルスＰＳ２ｂの第１膨張要素ｃ１（第２励振要素）をピエゾ素子ＰＺＴへ印加することで圧力室３２３内のインクに圧力振動を励起させ、第１ホールド要素ｈ１（第２定電位要素）でタイミングを調整する。そして、圧力室３２３内のインク圧力が所定圧力も低くなっている期間の或るタイミングで、収縮要素ｄ１（第２吐出要素）を印加している。これにより、２番目のインク滴を吐出させるべくピエゾ素子ＰＺＴを伸張させる際において、圧力室３２３内のインク圧力が過度に高くなってしまうことを抑制できる。その結果、１番目のインク滴と２番目のインク滴の吐出間隔を短くしても、２番目のインク滴を安定的に吐出させることができ、インク滴の吐出周波数を高めることができる。

また、この実施形態では、先行吐出パルスＰＳＸ、評価対象吐出パルスＰＳＹ、及び、後行吐出パルスＰＳＺの３つの吐出パルスを用いて評価対象吐出パルスＰＳＹにおける電位の変化パターンを評価している。すなわち、評価対象吐出パルスＰＳＹから後行吐出パルスＰＳＺまでの間隔を変えながら、後行吐出パルスＰＳＺで吐出されたインク滴の飛行速度の変動量を計測し、この変動量のばらつきの大きさを評価している。このような評価方法を採ることで、評価対象吐出パルスＰＳＹによってインク滴が吐出された後の、圧力室３２３内のインク圧力の変化を認識することができる。このため、先行吐出パルスＰＳＸに基づく液体滴と評価対象吐出パルスＰＳＹに基づくインク滴の吐出間隔が短くても、すなわち吐出周波数を高めた場合であっても、評価対象吐出パルスＰＳＹを適正に評価できる。また、或る電位の変化パターンを有する先行吐出パルスＰＳＸに対して、異なる電位の変化パターンを有する評価対象吐出パルスＰＳＹであっても、その電位の変化パターンを最適化できる。

＝＝＝その他の実施形態＝＝＝
以上説明した発明の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に、本発明にはその等価物が含まれることは勿論である。
また、上記の実施形態では、液体吐出装置の一例として水性インクや油性インクを噴射するプリンタを例に挙げた。ここで、吐出対象となる液体は、液体状のインクに限られるものではない。例えば、インク以外の他の液体（液体以外にも、機能材料の粒子が分散されている液状体、ジェルのような流状体を含む）であってもよい。

具体例を挙げると、液晶ディスプレイ、ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）ディスプレイ及び面発光ディスプレイの製造などに用いられる電極材や色材などの材料が分散または溶解した状態で含まれた液状体を吐出する液状体吐出装置、バイオチップ製造に用いられる生体有機物を吐出する液体吐出装置、精密ピペットとして用いられ試料となる液体を吐出する液体吐出装置であってもよい。さらに、時計やカメラ等の精密機械にピンポイントで潤滑油を吐出する液体吐出装置、光通信素子等に用いられる微小半球レンズ（光学レンズ）などを形成するために紫外線硬化樹脂等の透明樹脂液を基板上に吐出する液体吐出装置、基板などをエッチングするために酸又はアルカリ等のエッチング液を吐出する液体吐出装置、ジェルを吐出する流状体吐出装置であってもよい。

＜吐出パルスについて＞
先に説明した吐出パルスにおいて、その電位の変化パターンは、基準電位としての中間電位から最高電位まで電位を上昇させた後、最高電位から最低電位まで電位を下降し、さらに中間電位まで電位を上昇させるものであった。ここで、吐出パルスにおける電位の変化パターンは、種々定めることができる。例えば、台形波状や矩形波状の電位の変化パターンを有する吐出パルスでもよい。この吐出パルスでは、基準電位としての最低電位から最高電位まで電位を上昇させた後、最高電位を所定時間維持する。そして、最低電位まで電位を下降させる。要するに、吐出パルスは、圧力室の液体に圧力振動を励起させる要素と、ノズルから液体滴を吐出させるための動作を素子に行わせる要素とを有していればよい。

＜液体を吐出させるための動作をする素子について＞
上記の実施形態では、液体を吐出させるための動作をする素子としてピエゾ素子ＰＺＴを例示した。ここで、液体を吐出するヘッドに用いられるピエゾ素子ＰＺＴには、電位が高くなるほど圧力室を膨張させるものと、電位が高くなるほど圧力室を収縮させるものがある。何れのピエゾ素子ＰＺＴであっても、本発明を適用できる。なお、後者のピエゾ素子を用いた場合には、吐出パルスの波形は電位の高低方向に対して反転する。
加えて、この素子は、ピエゾ素子ＰＺＴに限定されるものではない。すなわち、励振要素の印加に伴って圧力室内の液体に圧力振動を励起し、吐出要素の印加に伴ってノズルから液体滴を吐出させるものであればよい。例えば、磁歪素子であってもよい。

図１Ａは、プリンタの構成を説明するブロック図である。図１Ｂは、メモリの記憶領域を説明する概念図である。 図２Ａは、ヘッドの断面図である。図２Ｂは、流路ユニットをノズル側から見た図である。 駆動信号生成回路等の構成を説明するブロック図である。 駆動信号を説明する図である。 図５Ａは、吐出パルスにおける電位の変化パターンを示す図である。図５Ｂは、吐出パルスを構成する各要素の生成期間を説明する図である。 評価結果を説明する図であり、インク滴の規定飛行速度からの変動量を示す。 評価に用いた吐出パルス群を説明する図である。 図８Ａは、吐出パルスの評価装置を説明する図である。図８Ｂは、インク滴とレーザ光線との関係を説明する図である。図８Ｃは、受光部の出力レベルの変化を説明する図である。 第１ホールド要素の生成期間を異ならせる場合の評価に用いた吐出パルス群を説明する図である。 インク滴の飛行速度の変動量と評価対象吐出パルスから後行吐出パルスまでの間隔との関係を示す図である。 第１ホールド要素の生成期間を段階的に長くした場合のインク滴の飛行速度を示す図である。 先行吐出パルスによるインク滴、評価対象吐出パルスによるインク滴、及び、後行吐出パルスによるインク滴の飛行状態を模式的に示す図である。 第１膨張要素の生成期間を異ならせる場合の評価に用いた吐出パルス群を説明する図である。 インク滴の飛行速度の変動量と評価対象吐出パルスから後行吐出パルスまでの間隔との関係を示す図である。

符号の説明

１ プリンタ，１０ 用紙搬送機構，２０ キャリッジ移動機構，
３０ ヘッドユニット，３１ ケース，３２ 流路ユニット，
３２１ 共通インク室，３２２ インク供給路，３２３ 圧力室，
３２４ ノズル，３２５ ダイヤフラム部，３２５ａ 弾性体膜，
３２５ｂ 島部，３２６Ａ 第１スイッチ，３２６Ｂ 第２スイッチ，
３３ ピエゾ素子ユニット，３３１ ピエゾ素子群，
３３２ 接着用基板，３３３ ヘッド側配線部材，
４０ 駆動信号生成回路，４０Ａ 第１駆動信号生成回路，
４１Ａ 第１波形生成回路，４１１Ａ 第１デジタルアナログ変換器，
４１２Ａ 第１プリアンプ，４２Ａ 第１電流増幅回路，
４０Ｂ 第２駆動信号生成回路，４１Ｂ 第２波形生成回路，
４１１Ｂ 第２デジタルアナログ変換器，４１２Ｂ 第２プリアンプ，
４２Ｂ 第２電流増幅回路，５０ 検出器群，
６０ プリンタ側コントローラ，６１ インタフェース部，
６２ ＣＰＵ，６３ メモリ，１００ 評価装置，
１１０ 駆動信号生成回路，１２０ インク滴検出部，
１２１ 発光部，１２２ 受光部，１３０ 出力装置，
１４０ コントローラ，１４１ ＣＰＵ，１４２ メモリ，
ＣＰ コンピュータ，ＨＤ ヘッド，ＰＺＴ ピエゾ素子，
ＨＣ ヘッド制御部，Ｔ 繰り返し期間，Ｔ１ 前半期間，
Ｔ２ 後半期間，ＣＯＭ_Ａ 第１駆動信号，
ＣＯＭ_Ｂ 第２駆動信号，ＰＳ１ 微振動パルス，
ｖｃ 微振動膨張要素，ｖｈ 微振動ホールド要素，
ｖｄ 微振動収縮要素，ＰＳ２ 吐出パルス，
ＰＳ２ａ 第１吐出パルス，ＰＳ２ｂ 第２吐出パルス，
ＰＳＸ 先行吐出パルス，ＰＳＹ 評価対象吐出パルス，
ＰＳＺ 後行吐出パルス，ｃ１ 第１膨張要素，
ｈ１ 第１ホールド要素，ｄ１ 収縮要素，ｈ２ 第２ホールド要素，
ｃ２ 第２膨張要素，ｈ３ 第３ホールド要素，ｃ３ 第３膨張要素，
ＶＨ 最高電位，ＶＶ 微振動電位，ＶＢ 中間電位，ＶＮ 制振電位，
ＶＬ 最低電位

Claims (7)

1. ノズルに連通された圧力室と、
   前記圧力室内の液体に圧力変化を与える動作を、電位の変化に応じて行う素子と、
   前記電位の変化パターンが定められた吐出パルスを生成する吐出パルス生成部であって、第１液体滴を前記ノズルから吐出させる際に前記素子へ印加される第１吐出パルス、及び、前記第１液体滴に続いて第２液体滴を前記ノズルから吐出させる際に吐出量が前記第１液体滴と等しくなるように前記素子へ印加される第２吐出パルスを生成する吐出パルス生成部と、
   を有する液体吐出装置であって、
   前記第１吐出パルスは、
   前記圧力室内の液体に圧力振動を励起させる第１励振要素と、
   前記第１励振要素よりも後に生成され、前記圧力室内の液体が所定圧力になったタイミングで、前記ノズルから液体滴を吐出させるための動作を前記素子に行わせる第１吐出要素とを有し、
   前記第２吐出パルスは、
   前記圧力室内の液体に圧力振動を励起させる第２励振要素と、
   前記第２励振要素よりも後に生成され、前記圧力室内の液体が前記所定圧力よりも低くなっている期間の或るタイミングで、前記ノズルから前記液体滴を吐出させるための動作を前記素子に行わせる第２吐出要素とを有し、
   前記第１励振要素は、
   基準電位から最高電位と最低電位の一方まで電位を変化させるものであり、
   前記第１吐出要素は、
   前記最高電位と前記最低電位の一方から他方まで電位を変化させるものであり、
   前記第２励振要素は、
   前記基準電位から前記最高電位と前記最低電位の一方まで電位を変化させるものであり、
   前記第２吐出要素は、
   前記最高電位と前記最低電位の一方から他方まで電位を変化させるものである、液体吐出装置。
2. 請求項１に記載の液体吐出装置であって、
   前記第２励振要素は、
   単位時間あたりの電位変化量が前記第１励振要素における単位時間あたりの電位変化量よりも小さい、液体吐出装置。
3. 請求項１に記載の液体吐出装置であって、
   前記第１励振要素と前記第２励振要素は、単位時間あたりの電位変化量が等しく、
   前記第１吐出パルスは、
   前記第１励振要素の終端と前記第１吐出要素の始端とを一定の電位で接続する第１定電位要素を有し、
   前記第２吐出パルスは、
   前記第２励振要素の終端と前記第２吐出要素の始端とを一定の電位で接続する第２定電位要素であって、生成期間が前記第１定電位要素の生成期間よりも長い第２定電位要素を有する、液体吐出装置。
4. 請求項１から請求項３の何れか１項に記載の液体吐出装置であって、
   前記第１吐出パルスは、
   前記第１吐出要素よりも後に生成され、前記最高電位と前記最低電位の他方から前記基準電位まで電位を復帰させることで、前記圧力室内の液体の圧力変化を抑制する第１復帰部分を有し、
   前記第２吐出パルスは、
   前記第２吐出要素よりも後に生成され、前記最高電位と前記最低電位の他方から前記基準電位まで電位を復帰させることで、前記圧力室内の液体の圧力変化を抑制する第２復帰部分を有する、液体吐出装置。
5. 請求項４に記載の液体吐出装置であって、
   前記第２復帰部分の電位の変化パターンは、
   前記第１復帰部分の電位の変化パターンと同じである、液体吐出装置。
6. 請求項１から請求項５の何れか１項に記載の液体吐出装置であって、
   前記素子は、
   前記第１吐出パルス及び前記第２吐出パルスによって定まる電位に応じて変形し、前記圧力室の容積を変化させるものである、液体吐出装置。
7. 圧力室内の液体に圧力変化を与える動作を電位の変化に応じて行う素子に、基準電位から最高電位と最低電位の一方まで電位を変化させる第１励振要素を印加して前記圧力室内の液体に圧力振動を励起させるステップと、
   前記第１励振要素が前記素子へ印加された後、前記圧力室内の液体が所定圧力になったタイミングで前記最高電位と前記最低電位の一方から他方まで電位を変化させる第１吐出要素を前記素子に印加して、前記圧力室に連通されたノズルから第１液体滴を吐出させるための動作を前記素子に行わせるステップと、
   前記ノズルから前記第１液体滴が吐出された後、前記基準電位から前記最高電位と前記最低電位の一方まで電位を変化させる第２励振要素を前記素子に印加して前記圧力室内の液体に圧力振動を励起させるステップと、
   前記第２励振要素が前記素子へ印加された後、前記圧力室内の液体が前記所定圧力よりも低くなっている期間の或るタイミングで前記最高電位と前記最低電位の一方から他方まで電位を変化させる第２吐出要素を前記素子に印加して、吐出量が前記第１液体滴と等しくなるように前記ノズルから第２液体滴を吐出させるための動作を前記素子に行わせるステップと、
   を有する液体吐出方法。

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