JP5349432B2 - 電子部品装置の製法およびそれに用いる電子部品封止用樹脂組成物シート - Google Patents
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Description
(A)上記成形温度における粘度が2000〜50000Pa・sであり、かつ、その寸法が下記の条件(1)を満たす熱硬化性樹脂組成物シート。
<条件(1)>
Ax>P+8
Ay>Q+8
〔Ax:シートAのX軸方向長さ(mm),Ay:シートAのY軸方向長さ(mm),P:電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm),Q:電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm)〕
(B)上記成形温度における粘度が20〜250Pa・sであり、かつ、その寸法が下記の条件(2)を満たす熱硬化性樹脂組成物シート。
<条件(2)>
Ax≧Bx>P×0.8
Ay≧By>Q×0.8
〔Bx:シートBのX軸方向長さ(mm),By:シートBのY軸方向長さ(mm),P:電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm),Q:電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm),Ax:シートAのX軸方向長さ(mm),Ay:シートAのY軸方向長さ(mm)〕
Ax>P+8
Ay>Q+8
〔Ax:シートAのX軸方向長さ(mm),Ay:シートAのY軸方向長さ(mm),P:電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm),Q:電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm)〕
t1+t2+40+P>Ax>t1+t2+8+P
t1+t2+40+Q>Ay>t1+t2+8+Q
(t1+0.5)−〔(n×Vc)/(P×Q)〕>Az>t1−〔(n×Vc)/(P×Q)〕
〔Ax:シートAのX軸方向長さ(mm),Ay:シートAのY軸方向長さ(mm),Az:シートAの厚み(mm),t1:電子部品の厚み(mm),t2:電子部品の接続用電極部高さ(mm),P:電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm),Q:電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm),Vc:電子部品1個あたりの体積(mm3),n:封止する電子部品の個数〕
Ax≧Bx>P×0.8
Ay≧By>Q×0.8
〔Bx:シートBのX軸方向長さ(mm),By:シートBのY軸方向長さ(mm),P:電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm),Q:電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm),Ax:シートAのX軸方向長さ(mm),Ay:シートAのY軸方向長さ(mm)〕
Ax≧Bx>P×0.8
Ay≧By>Q×0.8
{〔P×Q×(t1+t2)−n(Vc+Vb)〕/(P×Q)}+0.1>Bz>(t2×P×Q−Vb×n)/(P×Q)
〔Bx:シートBのX軸方向長さ(mm),By:シートBのY軸方向長さ(mm),Bz:シートBの厚み(mm),t1:電子部品の厚み(mm),t2:電子部品の接続用電極部高さ(mm),P:電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm),Q:電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm),Vb:電子部品1個に搭載されているバンプ(接続用電極部)の総体積(mm3),Vc:チップ1個あたりの体積(mm3),n:封止する電子部品の個数),Ax:シートAのX軸方向長さ(mm),Ay:シートAのY軸方向長さ(mm)〕
における粘度が特定の範囲であり、かつそのサイズが特定の条件を満たす熱硬化性樹脂組成物シートであれば、その材料は、特に限定はないが、好ましくは、下記(a)〜(d)成分を含有するエポキシ樹脂組成物が用いられる。
(a)25℃における粘度が1.0〜10.0Pa・sであるエポキシ樹脂。
(b)硬化剤。
(c)下記の(c1)〜(c3)成分からなり、(c2)および(c3)成分の合計含有量が、(c1)成分100重量部に対して2〜60重量部の範囲内である無機質充填剤。
(c1)平均粒径が5〜20μmの無機質充填剤。
(c2)平均粒径が1〜3μmの無機質充填剤。
(c3)平均粒径が0.3〜0.8μmの無機質充填剤。
(d)可撓性付与剤。
(e)軟化点が60〜130℃のエポキシ樹脂および液状エポキシ樹脂の混合物。
(f)硬化剤。
(g)平均粒径が0.3〜3μmの無機質充填剤。
(h)可撓性付与剤。
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(DIC社製、EXA−850CRP。25℃における粘度:4.4Pa・s、エポキシ当量:171)
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学社製、YL−980。液状、エポキシ当量:186)
トリフェニルメタン型エポキシ樹脂(日本化薬社製、EPPN−501HY。軟化点;60℃、エポキシ当量:169)
フェノールノボラック樹脂(明和化成社製、ND−564。水酸基当量:107、軟化点:65℃)
フェノールノボラック樹脂(群栄化学工業社製、GS−180。水酸基当量:105、軟化点:83℃)
フェノールアラルキル樹脂(明和化成社製、MEHC−7800S。水酸基当量:174、軟化点:76℃)
平均粒径5.8μm、最大粒径24μmの球状溶融シリカ(電気化学工業社製、FB−7SDC)
平均粒径1.5μm、最大粒径5.1μmの球状溶融シリカ(アドマテックス社製、SO−32R)
平均粒径0.5μm、最大粒径1.5μmの球状溶融シリカ(アドマテックス社製、SO−25R)
3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランで表面処理した無機質充填剤III。
テトラフェニルホスホニウム・テトラフェニルボレート
2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール(四国化成工業社製、2PHZ−PW)
アクリル系共重合体(ブチルアクリレート:アクリロニトリル:グリシジルメタクリレート=85:8:7重量%からなる共重合体。重量平均分子量80万)
上記各成分材料を、下記の表1および表2に示す割合で分散混合し、これに各成分材料の合計量と同量のメチルエチルケトンを加えて、塗工用ワニスを調整した。そして、上記ワニスを、厚み38μmのポリエステルフィルム(三菱樹脂社製、MRF−38)の剥離処理面上に、コンマコーターにより塗工し、乾燥することにより、厚みが50μmの樹脂組成物シートを得た。ついで、別途用意したポリエステルフィルムの剥離処理面を、上記樹脂組成物シートに貼り合わせて巻き取った。その後、ポリエステルフィルムを適宜剥離しながら、ロールラミネーターにより上記樹脂組成物シートを積層することにより、所望の厚みの樹脂組成物シート(樹脂シート1〜15)を得た。なお、上記のようにして得られた樹脂組成物シートの粘度を、回転型粘度計(HAKKE社製、レオストレスRS1)を用い、測定温度130℃、ギャップ100μm、回転コーン直径20mm、回転速度10s-1という条件で測定した。この測定結果も、下記の表1および表2に併せて示した。
電子部品であるSiチップ(縦10mm×横10mm×厚み(t1)0.2mm。電子部品1個あたりの体積(Vc)は20mm3)に、接続用電極部であるバンプ(直径0.5mm、高さ(t2)0.1mm)を52個設けた(電子部品1個に搭載されているバンプの総体積(Vb)は、1.0205mm3)。実装基板であるエポキシ基板上(縦70mm×横70mm)に、このバンプ付きSiチップを、1mm間隔の碁盤目状に4個配列設置した(封止する電子部品の個数(n)は4個であり、電子部品搭載エリアのX方向の長さ(P)は21mm、電子部品搭載エリアのY方向の長さ(Q)は21mmである)(図1(iii),(iv)参照)。
得られた電子部品装置集合体について、封止樹脂がエポキシ基板の端まで流れていたものを×、エポキシ基板の端まで流れていなかったものを○とした。なお、封止樹脂がエポキシ基板の端まで流れた場合は、成形装置を汚染する可能性がある。
得られた電子部品装置について、実装基板側から光を透過させた状態でマイクロスコープを用いてアンダーフィル部分を観察し、ボイドが確認されたものを×、ボイドが確認されなかったものを○とした。
Ay シートAのY軸方向長さ(mm)
Az シートAの厚み(mm)
t1 電子部品の厚み(mm)
t2 電子部品の接続用電極部高さ(mm)
P 電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm)
Q 電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm)
n 封止する電子部品の個数
Vc 電子部品1個あたりの体積(mm3)
Bx シートBのX軸方向長さ(mm)
By シートBのY軸方向長さ(mm)
Bz シートBの厚み(mm)
Vb 電子部品1個に搭載されているバンプの総体積(mm3)
1 プレス上板
2 チャンバー
3 実装基板
4 プレス下板
5 電子部品
6 電子部品の接続用電極部(バンプ)
7 シートA
8 シートB
9 封止樹脂層
Claims (10)
- 実装基板上に複数の電子部品を並べて設置した後、上記実装基板における電子部品搭載エリア上に、下記(B)に示す熱硬化性樹脂組成物シート〔シートB〕、およびその上に下記(A)に示す熱硬化性樹脂組成物シート〔シートA〕を積載し、かつ上記電子部品搭載エリアの中心および平面XY方向と、両シートA,Bの中心および平面XY方向とが略合致するよう設置する工程と、この設置状態を保持した上記実装基板を、減圧状態のチャンバー内で70〜150℃から選ばれる成形温度に加熱し、上記シートAの全周の端部を軟化により実装基板に接するまで垂れ下がらせ、シートAの全周で囲われた空間を密閉する工程と、この垂れ下がり状態においてシートBおよび電子部品を被覆した上記シートAをプレスする工程と、上記チャンバー内の圧力を開放し、上記シートAと実装基板との間に形成された密閉空間内で、シートBの溶融物による電子部品のアンダーフィルを行う工程と、上記アンダーフィルを行った後、両シートA,Bの樹脂組成物を熱硬化させ、実装基板上の複数の電子部品が樹脂封止されてなる電子部品装置集合体を得る工程と、この電子部品装置集合体をダイシングし、個々の電子部品装置を得る工程とを備えたことを特徴とする電子部品装置の製法。
(A)上記成形温度における粘度が2000〜50000Pa・sであり、かつ、その寸法が下記の条件(1)を満たす熱硬化性樹脂組成物シート。
<条件(1)>
Ax>P+8
Ay>Q+8
〔Ax:シートAのX軸方向長さ(mm),Ay:シートAのY軸方向長さ(mm),P:電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm),Q:電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm)〕
(B)上記成形温度における粘度が20〜250Pa・sであり、かつ、その寸法が下記の条件(2)を満たす熱硬化性樹脂組成物シート。
<条件(2)>
Ax≧Bx>P×0.8
Ay≧By>Q×0.8
〔Bx:シートBのX軸方向長さ(mm),By:シートBのY軸方向長さ(mm),P:電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm),Q:電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm),Ax:シートAのX軸方向長さ(mm),Ay:シートAのY軸方向長さ(mm)〕 - 上記シートAの寸法が、下記の条件(1′)を満たす請求項1記載の電子部品装置の製法。
<条件(1′)>
t1+t2+40+P>Ax>t1+t2+8+P
t1+t2+40+Q>Ay>t1+t2+8+Q
(t1+0.5)−〔(n×Vc)/(P×Q)〕>Az>t1−〔(n×Vc)/(P×Q)〕
〔Ax:シートAのX軸方向長さ(mm),Ay:シートAのY軸方向長さ(mm),Az:シートAの厚み(mm),t1:電子部品の厚み(mm),t2:電子部品の接続用電極部高さ(mm),P:電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm),Q:電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm),Vc:電子部品1個あたりの体積(mm3),n:封止する電子部品の個数〕 - 上記シートBの寸法が、下記の条件(2′)を満たす請求項1または2記載の電子部品装置の製法。
<条件(2′)>
Ax≧Bx>P×0.8
Ay≧By>Q×0.8
{〔P×Q×(t1+t2)−n(Vc+Vb)〕/(P×Q)}+0.1>Bz>(t2×P×Q−Vb×n)/(P×Q)
〔Bx:シートBのX軸方向長さ(mm),By:シートBのY軸方向長さ(mm),Bz:シートBの厚み(mm),t1:電子部品の厚み(mm),t2:電子部品の接続用電極部高さ(mm),P:電子部品搭載エリアのX方向の長さ(mm),Q:電子部品搭載エリアのY方向の長さ(mm),Vb:電子部品1個に搭載されているバンプ(接続用電極部)の総体積(mm3),Vc:チップ1個あたりの体積(mm3),n:封止する電子部品の個数),Ax:シートAのX軸方向長さ(mm),Ay:シートAのY軸方向長さ(mm)〕 - チャンバー内の減圧が、0.01〜5kPaの範囲である請求項1〜3のいずれか一項に記載の電子部品装置の製法。
- プレス工程が、50〜1000kPaの圧力で行われる請求項1〜4のいずれか一項に記載の電子部品装置の製法。
- 両シートA,Bが熱硬化する温度が、150℃を超える温度である請求項1〜5のいずれか一項に記載の電子部品装置の製法。
- 上記シートAとして、下記の(a)〜(d)成分を含有するエポキシ樹脂組成物からなる樹脂組成物シートを用いる、請求項1〜6のいずれか一項に記載の電子部品装置の製法。
(a)25℃における粘度が1.0〜10.0Pa・sであるエポキシ樹脂。
(b)硬化剤。
(c)下記の(c1)〜(c3)成分からなり、(c2)および(c3)成分の合計含有量が、(c1)成分100重量部に対して2〜60重量部の範囲内である無機質充填剤。
(c1)平均粒径が5〜20μmの無機質充填剤。
(c2)平均粒径が1〜3μmの無機質充填剤。
(c3)平均粒径が0.3〜0.8μmの無機質充填剤。
(d)可撓性付与剤。 - 上記シートBとして、下記の(e)〜(h)成分を含有するエポキシ樹脂組成物からなる樹脂組成物シートを用いる、請求項1〜7のいずれか一項に記載の電子部品装置の製法。
(e)軟化点が60〜130℃のエポキシ樹脂および液状エポキシ樹脂の混合物。
(f)硬化剤。
(g)平均粒径が0.3〜3μmの無機質充填剤。
(h)可撓性付与剤。 - 請求項1〜8のいずれか一項に記載の製法に用いられる樹脂組成物シートであって、上記シートAとシートBとからなるシートセットであることを特徴とする電子部品封止用樹脂組成物シート。
- 請求項1〜8のいずれか一項に記載の製法に用いられる樹脂組成物シートであって、上記シートAとシートBとが積層一体化されてなることを特徴とする電子部品封止用樹脂組成物シート。
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