JP6592104B2 - フレキシブル表示装置 - Google Patents

Description

本発明は、表示装置に関し、特に、屈曲可能な画面を有するフレキシブル表示装置に関する。

近年、薄型、低消費電力、高速応答可能な表示装置として、有機ＥＬ（Electro Luminescence）表示装置が注目されている。有機ＥＬ表示装置は、プラスチック基板などを用いて、画面を任意の位置で屈曲可能に構成することができる（図１４を参照）。以下、屈曲可能な画面を有する表示装置を「フレキシブル表示装置」という。

フレキシブル表示装置については、以下の技術が知られている。特許文献１には、図１５に示す相補型回路を含むセンサーデバイスが記載されている。図１５に示す相補型回路では、４個のトランジスタＴｒ１〜Ｔｒ４のうち少なくとも１つが有機ＴＦＴ（Thin Film Transistor）である。有機ＴＦＴの電気的特性は物理的変化に応じて変化するので、有機ＴＦＴはセンサー素子として機能する。

特許文献２には、図１６に示す画素回路を含む表示装置が記載されている。図１６に示す画素回路は、駆動素子として、相補型のトランジスタＴｐ、Ｔｎを含んでいる。画面が屈曲したときに、トランジスタＴｐ、Ｔｎの特性は逆方向に変化する。一方のトランジスタを流れる電流は増加し、他方のトランジスタを流れる電流は減少するので、画素回路全体として電流の変動を抑制することができる。

日本国特開２０１４−１９０６９９号公報 国際公開第２００５／１０９３９０号

フレキシブル表示装置では、画面が屈曲したときに、画素回路内の駆動素子の特性（閾値電圧やＩ−Ｖ特性など）が変化し、駆動素子を通過して発光素子を流れる電流の量が変化する。このため、フレキシブル表示装置には、画面屈曲時に輝度や色が変化するという問題がある。

従来のフレキシブル表示装置は、この問題を好適に解決することができない。例えば、特許文献１に記載された、センサー素子として有機ＴＦＴを用いる方法には、画面屈曲に起因するＴＦＴの特性変化と、他の要因によるＴＦＴの特性変化とを区別できないという問題がある。また、この方法には、検出される電流量が大きいという問題もある。

それ故に、本発明は、画面の屈曲状態を検出し、画面屈曲時の輝度や色の変化を防止できる表示装置を提供することを目的とする。

本発明の第１の局面は、フレキシブル表示装置であって、
複数の走査線と、複数のデータ線と、それぞれが発光素子および駆動素子を有する複数の画素回路とを含む屈曲可能な表示パネルと、
前記走査線を駆動することにより、前記画素回路を選択する走査線駆動回路と、
前記データ線を駆動することにより、前記走査線駆動回路によって選択された画素回路について、前記駆動素子の制御端子に電圧を書き込む動作、および、前記駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路と、
屈曲検出部とを備え、
前記画素回路は、表示用画素回路と測定用画素回路とに分類され、
前記屈曲検出部は、前記測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出し、
前記測定用画素回路の配置間隔は、前記表示用画素回路の配置間隔よりも狭いことを特徴とする。

本発明の第２の局面は、フレキシブル表示装置であって、
複数の走査線と、複数のデータ線と、それぞれが駆動素子を有する複数の画素回路とを含む屈曲可能な表示パネルと、
前記走査線を駆動することにより、前記画素回路を選択する走査線駆動回路と、
前記データ線を駆動することにより、前記走査線駆動回路によって選択された画素回路について、前記駆動素子の制御端子に電圧を書き込む動作、および、前記駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路と、
屈曲検出部とを備え、
前記画素回路は、複数の表示用画素回路と複数の測定用画素回路とに分類され、
前記屈曲検出部は、前記測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出し、
前記表示パネルは、複数の前記表示用画素回路が形成された層と、複数の前記測定用画素回路が形成された層とを含む多層構造を有し、
複数の前記測定用画素回路は、それぞれ、前記複数の走査線のうち対応する走査線に接続され、
少なくとも一つの前記表示用画素回路に接続された走査線と、少なくとも一つの前記測定用画素回路に接続された対応する走査線とは、電気的に接続されていることを特徴とする。

本発明の第３の局面は、フレキシブル表示装置であって、
複数の走査線と、複数のデータ線と、それぞれが発光素子および駆動素子を有する複数の画素回路とを含む屈曲可能な表示パネルと、
前記走査線を駆動することにより、前記画素回路を選択する走査線駆動回路と、
前記データ線を駆動することにより、前記走査線駆動回路によって選択された画素回路について、前記駆動素子の制御端子に電圧を書き込む動作、および、前記駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路と、
前記駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出する屈曲検出部と、
前記屈曲検出部で検出された屈曲状態に基づき、前記駆動素子を流れる電流量の屈曲による変化を補償するように映像信号を補正する補正部とを備え、
前記データ線駆動回路は、前記補正部で補正された映像信号に基づく電圧を前記データ線に印加し、
前記屈曲検出部は、前記駆動素子の電気的特性の初期値との差に対応して前記表示パネルの曲率を記憶した第１テーブルを内蔵し、求めた前記駆動素子の電気的特性の初期値との差を用いて前記第１テーブルを参照することにより、前記表示パネルの屈曲状態として前記表示パネルの曲率を検出し、
前記補正部は、前記表示パネルの曲率に対応して前記駆動素子の電気的特性の補正量を記憶した第２テーブルを内蔵し、前記屈曲検出部で求めた曲率を用いて前記第２テーブルを参照することにより、前記駆動素子の電気的特性の補正量を求め、求めた補正量を用いて前記映像信号を補正することを特徴とする。

本発明の第４の局面は、フレキシブル表示装置であって、
複数の走査線と、複数のデータ線と、それぞれが発光素子および駆動素子を有する複数の画素回路とを含む屈曲可能な表示パネルと、
前記走査線を駆動することにより、前記画素回路を選択する走査線駆動回路と、
前記データ線を駆動することにより、前記走査線駆動回路によって選択された画素回路について、前記駆動素子の制御端子に電圧を書き込む動作、および、前記駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路と、
前記駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出する屈曲検出部と、
前記屈曲検出部で検出された屈曲状態に基づき、前記駆動素子を流れる電流量の屈曲による変化を補償するように映像信号を補正する補正部とを備え、
前記データ線駆動回路は、前記補正部で補正された映像信号に基づく電圧を前記データ線に印加し、
前記補正部は、前記駆動素子の電気的特性である第１特性と前記発光素子の電気的特性である第２特性とを求め、
前記屈曲検出部は、前記第２特性に基づき前記表示パネルが屈曲していないときの前記駆動素子の電気的特性である第３特性を推定し、前記第１特性と前記第３特性とを比較することにより、前記表示パネルの屈曲状態を検出することを特徴とする。

本発明の第５の局面は、フレキシブル表示装置であって、
複数の走査線と、複数のデータ線と、それぞれが発光素子および駆動素子を有する複数の画素回路とを含む屈曲可能な表示パネルと、
前記走査線を駆動することにより、前記画素回路を選択する走査線駆動回路と、
前記データ線を駆動することにより、前記走査線駆動回路によって選択された画素回路について、前記駆動素子の制御端子に電圧を書き込む動作、および、前記駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路と、
前記駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出する屈曲検出部と、
前記屈曲検出部で検出された屈曲状態に基づき映像信号を補正する補正部とを備え、
前記データ線駆動回路は、前記補正部で補正された映像信号に基づく電圧を前記データ線に印加し、
前記補正部は、屈曲部分に対応した映像信号を非表示レベルに補正することを特徴とする。
本発明の第６の局面は、本発明の第３または第５の局面において、
前記画素回路は、複数の表示用画素回路と複数の測定用画素回路とに分類され、
前記屈曲検出部は、前記測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出することを特徴とする。
本発明の第７の局面は、本発明の第１または第６の局面において、
少なくとも一つの前記表示用画素回路と、少なくとも一つの前記測定用画素回路とは、同じ走査線に接続されていることを特徴とする。
本発明の第８の局面は、本発明の第１または第６の局面において、
少なくとも一つの前記表示用画素回路と、少なくとも一つの前記測定用画素回路とは、同じデータ線に接続されていることを特徴とする。
本発明の第９の局面は、本発明の第７または第８の局面において、
前記測定用画素回路の配置態様は、前記表示用画素回路の配置態様と異なることを特徴とする。
本発明の第１０の局面は、本発明の第９の局面において、
前記測定用画素回路の配置間隔は、前記表示用画素回路の配置間隔と異なることを特徴とする。
本発明の第１１の局面は、本発明の第６〜第８のいずれかの局面において、
複数の前記測定用画素回路は、表示領域の内部に複数の前記表示用画素回路と混在して設けられていることを特徴とする。
本発明の第１２の局面は、本発明の第１および第６〜第１０のいずれかの局面において、
前記測定用画素回路は、矩形形状を有する表示領域の隣接する２辺に沿って配置されていることを特徴とする。
本発明の第１３の局面は、本発明の第１〜第１２のいずれかの局面において、
前記測定用画素回路内の駆動素子の電気的特性は、前記表示用画素回路内の駆動素子の電気的特性と異なることを特徴とする。

本発明の第１〜第１２の局面によれば、画面屈曲時に駆動素子の電気的特性が変化するので、駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき画面の屈曲状態を検出することができる。また、検出した屈曲状態に基づき映像信号を補正することにより、画面屈曲時の輝度や色の変化を防止することができる。

本発明の第１の局面によれば、表示用画素回路とは別に測定用画素回路を設け、測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき画面の屈曲状態を検出することができる。特に、表示用画素回路よりも狭い間隔で測定用画素回路を配置することにより、画面の屈曲状態を高い精度で検出することができる。

本発明の第２の局面によれば、表示用画素回路とは別に測定用画素回路を設け、測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき画面の屈曲状態を検出することができる。特に、表示用画素回路と測定用画素回路を異なる層に形成することにより、２種類の画素回路を同じ層に形成するときの問題を解決することができる。

本発明の第３の局面によれば、映像信号を補正して駆動素子を流れる電流量の屈曲による変化を補償することにより、画面屈曲時の輝度や色の変化を防止することができる。特に、第１テーブルを参照して表示パネルの曲率を検出し、第２テーブルを用いて駆動素子の電気的特性の補正量を求めることができる。したがって、求めた補正量に基づき映像信号を補正し、画面屈曲時の輝度や色の変化を防止することができる。

本発明の第４の局面によれば、映像信号を補正して駆動素子を流れる電流量の屈曲による変化を補償することにより、画面屈曲時の輝度や色の変化を防止することができる。特に、発光素子の電気的特性に基づき表示パネルが屈曲していないときの駆動素子の電気的特性を推定し、求めた駆動素子の電気的特性と推定した駆動素子の電気的特定とを比較することにより、表示パネルの屈曲状態を検出することができる。したがって、検出した屈曲状態に基づき映像信号を補正し、画面屈曲時の輝度や色の変化を防止することができる。

本発明の第５の局面によれば、映像信号を補正して屈曲部分を非表示にすることにより、画面屈曲時の輝度や色の変化を隠すことができる。
本発明の第６の局面によれば、表示用画素回路とは別に測定用画素回路を設け、測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき画面の屈曲状態を検出することができる。
本発明の第７または第８の局面によれば、測定用画素回路を所定の方向に沿って配置することにより、測定用画素回路が並ぶ方向に画面が屈曲したときに画面の屈曲状態を検出することができる。
本発明の第９または第１０の局面によれば、表示用画素回路と測定用画素回路を異なる態様（異なる間隔）で配置することにより、画面の屈曲状態を高い精度で検出することができる。
本発明の第１１の局面によれば、表示用画素回路と測定用画素回路を混在して配置することにより、画面の局所的な屈曲状態を検出することができる。
本発明の第１２の局面によれば、測定用画素回路を直交する２方向に沿って配置することにより、画面がいずれの方向に屈曲したときでも画面の屈曲状態を検出することができる。
本発明の第１３の局面によれば、表示用画素回路と測定用画素回路の間で駆動素子の電気的特性を異ならせることにより、画面の屈曲状態を高い精度で検出することができる。

本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。 図１に示す有機ＥＬ表示装置の有機ＥＬパネルの概略構成を示す図である。 図２に示す有機ＥＬパネルを屈曲した状態で示す図である。 図１に示す有機ＥＬ表示装置の画素回路と出力／測定回路の回路図である。 図１に示す有機ＥＬ表示装置のタイミングチャートである。 図４に示す回路の動作を示す図である。 図４に示す回路の動作を示す図である。 図４に示す回路の動作を示す図である。 図４に示す回路の動作を示す図である。 図４に示す回路の動作を示す図である。 図１に示す有機ＥＬ表示装置の補正部における補正処理を説明するための図である。 本発明の第１の実施形態の変形例に係る有機ＥＬ表示装置の有機ＥＬパネルの概略構成を示す図である。 本発明の第２の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第３の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第４の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。 図１１に示す有機ＥＬ表示装置の有機ＥＬパネルの構成を示す図である。 本発明の第５の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。 フレキシブル表示装置の画面を屈曲した状態で示す図である。 従来のセンサーデバイスに含まれる相補型回路の回路図である。 従来の表示装置に含まれる画素回路の回路図である。

（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。図１に示す有機ＥＬ表示装置１は、有機ＥＬパネル１０、表示制御回路１３、走査線駆動回路１４、データ線駆動回路１５、および、補正データ記憶部１６を備えている。有機ＥＬ表示装置１は、屈曲可能な画面を有するフレキシブル表示装置であり、画面の屈曲状態を検出する機能を有する。以下、ｍおよびｎは２以上の整数、ｉは１以上ｎ以下の整数、ｊは１以上ｍ以下の整数であるとする。

図１に示すように、有機ＥＬパネル１０は、２ｎ本の走査線ＧＡ１〜ＧＡｎ、ＧＢ１〜ＧＢｎ、ｍ本のデータ線Ｓ１〜Ｓｍ、および、（ｍ×ｎ）個の画素回路６０を含んでいる。走査線ＧＡ１〜ＧＡｎ、ＧＢ１〜ＧＢｎは、互いに平行に配置される。データ線Ｓ１〜Ｓｍは、互いに平行に、走査線ＧＡ１〜ＧＡｎ、ＧＢ１〜ＧＢｎと直交するように配置される。走査線ＧＡ１〜ＧＡｎとデータ線Ｓ１〜Ｓｍは、（ｍ×ｎ）箇所で交差する。（ｍ×ｎ）個の画素回路６０は、（ｍ×ｎ）個の交差点に対応して配置される。各画素回路６０は、１本の走査線と１本のデータ線とに接続される。以下、走査線ＧＡ１〜ＧＡｎ、ＧＢ１〜ＧＢｎの延伸方向を行方向、データ線Ｓ１〜Ｓｍの延伸方向を列方向という。

表示制御回路１３は、有機ＥＬ表示装置１の制御回路であり、補正部８０および屈曲検出部９０を含んでいる。表示制御回路１３には、有機ＥＬ表示装置１の外部から映像信号ＶＳ１が入力される。表示制御回路１３は、走査線駆動回路１４に対して制御信号ＣＳ１を出力し、データ線駆動回路１５に対して制御信号ＣＳ２と映像信号ＶＳ２を出力する。制御信号ＣＳ１には、例えば、ゲートスタートパルスやゲートクロックなどが含まれる。制御信号ＣＳ２には、例えば、ソーススタートパルスやソースクロックなどが含まれる。映像信号ＶＳ２は、補正部８０において映像信号ＶＳ１に対して補正処理を施すことにより得られる。補正部８０と屈曲検出部９０の詳細は後述する。

走査線駆動回路１４は、走査線ＧＡ１〜ＧＡｎ、ＧＢ１〜ＧＢｎを駆動することにより、画素回路６０を選択する。より詳細には、走査線駆動回路１４は、制御信号ＣＳ１に基づき走査線ＧＡ１〜ＧＡｎの中から１本の走査線を選択し、選択した走査線にオンレベル電圧（ここでは、ハイレベル電圧）を印加する。これにより、選択された走査線に接続されたｍ個の画素回路６０が一括して選択される。データ線駆動回路１５は、制御信号ＣＳ２と映像信号ＶＳ２に基づき、データ線Ｓ１〜Ｓｍを駆動する。より詳細には、データ線駆動回路１５は、制御信号ＣＳ２に従い、映像信号ＶＳ２に応じたｍ個の電圧（以下、データ電圧という）をデータ線Ｓ１〜Ｓｍにそれぞれ印加する。これにより、選択されたｍ個の画素回路６０にｍ個のデータ電圧がそれぞれ書き込まれる。

データ線駆動回路１５は、駆動信号生成回路１７、階調信号生成回路１８、および、ｍ個の出力／測定回路（出力回路と測定回路の兼用回路）７０を含んでいる。各出力／測定回路７０は、データ線Ｓ１〜Ｓｍのいずれかに対応する。駆動信号生成回路１７は、データ線Ｓ１〜Ｓｍを駆動するための制御信号を生成する。階調信号生成回路１８は、階調信号として、データ線Ｓ１〜Ｓｍに印加されるデータ電圧を生成する。出力／測定回路７０は、対応するデータ線にデータ電圧を印加する機能と、対応するデータ線を流れる電流を測定する機能とを有する。データ線に印加されたデータ電圧は、画素回路６０内の駆動素子のゲート端子に書き込まれる。データ線を流れる電流は、画素回路６０内の駆動素子を流れた電流である。データ線駆動回路１５は、データ線を流れる電流（すなわち、画素回路６０内の駆動素子を流れた電流）を測定した結果を示すモニタ信号ＭＳを表示制御回路１３に対して出力する。このようにデータ線駆動回路１５は、データ線Ｓ１〜Ｓｍを駆動することにより、走査線駆動回路１４によって選択された画素回路６０について、駆動素子のゲート端子に電圧を書き込む動作、および、駆動素子を流れる電流を測定する動作を行う。

補正部８０は、モニタ信号ＭＳに基づき画素回路６０内の駆動素子と有機ＥＬ素子の特性を求め、求めた特性を用いて映像信号ＶＳ１を補正することにより映像信号ＶＳ２を求める。補正データ記憶部１６は、補正部８０の作業用メモリである。補正データ記憶部１６は、ＴＦＴオフセット記憶部１６ａ、ＴＦＴゲイン記憶部１６ｂ、ＯＬＥＤオフセット記憶部１６ｃ、および、ＯＬＥＤゲイン記憶部１６ｄを含んでいる。ＴＦＴオフセット記憶部１６ａは、各画素回路６０について駆動素子の閾値電圧を記憶する。ＴＦＴゲイン記憶部１６ｂは、各画素回路６０について駆動素子のゲインを記憶する。ＯＬＥＤオフセット記憶部１６ｃは、各画素回路６０について有機ＥＬ素子の閾値電圧を記憶する。ＯＬＥＤゲイン記憶部１６ｄは、各画素回路６０について有機ＥＬ素子のゲインを記憶する。

図２は、有機ＥＬパネル１０の概略構成を示す図である。図２に示すように、有機ＥＬパネル１０は、表示部１１と検出部１２を有する。表示部１１には２〜ｎ行目かつ１〜（ｍ−１）列目の画素回路６０が含まれ、検出部１２には１行目またはｍ列目の画素回路６０が含まれる（図１を参照）。表示部１１は矩形形状を有し、検出部１２は表示部１１の隣接する２辺（図２では上辺と右辺）に沿って設けられる。

以下、表示部１１に含まれる画素回路を「表示用画素回路」、検出部１２に含まれる画素回路を「測定用画素回路」という。（ｍ×ｎ）個の画素回路６０は、表示用画素回路と測定用画素回路とに分類される。本実施形態では、表示用画素回路は表示領域の内部に配置され、測定用画素回路は表示領域の外部に配置される。より詳細には、表示領域は矩形形状を有し、測定用画素回路は表示領域の隣接する２辺に沿って配置される。

有機ＥＬパネル１０は、プラスチック基板などを用いて、行方向および列方向に任意の位置で屈曲可能に構成される。図３は、有機ＥＬパネル１０を屈曲した状態で示す図である。図３では、有機ＥＬパネル１０は、行方向に３回屈曲している。

図１に示す有機ＥＬパネル１０上には、走査線ＧＡ１〜ＧＡｎ、ＧＢ１〜ＧＢｎ、データ線Ｓ１〜Ｓｍ、および、（ｍ×ｎ）個の画素回路６０が形成されている。これに加えて、有機ＥＬ表示装置１に含まれる他の回路（表示制御回路１３、走査線駆動回路１４、データ線駆動回路１５、および、補正データ記憶部１６）の全部または一部を有機ＥＬパネル１０上に形成してもよい。後述する各実施形態においても、これと同様である。

図４は、画素回路６０と出力／測定回路７０の回路図である。図４には、ｉ行ｊ列目の画素回路６０と、データ線Ｓｊに対応した出力／測定回路７０とが記載されている。画素回路６０は、トランジスタ６１〜６３、有機ＥＬ素子６４、および、コンデンサ６５を含んでいる。トランジスタ６１〜６３は、Ｎチャネル型ＴＦＴである。トランジスタ６１のドレイン端子は、ハイレベル電源電位ＥＬＶＤＤを有するハイレベル電源線に接続される。トランジスタ６１のゲート端子は、トランジスタ６２の一方の導通端子（図４では右側の導通端子）に接続される。トランジスタ６１のソース端子は、有機ＥＬ素子６４のアノード端子とトランジスタ６３の一方の導通端子（図４では右側の導通端子）とに接続される。有機ＥＬ素子６４のカソード端子は、ローレベル電源電位ＥＬＶＳＳを有するローレベル電源線に接続される。トランジスタ６２、６３の他方の導通端子は、データ線Ｓｊに接続される。トランジスタ６２のゲート端子は走査線ＧＡｉに接続され、トランジスタ６３のゲート端子は走査線ＧＢｉに接続される。コンデンサ６５は、トランジスタ６１のドレイン端子とゲート端子の間に設けられる。トランジスタ６１は駆動素子として機能し、有機ＥＬ素子６４は発光素子として機能する。

出力／測定回路７０は、オペアンプ７１、コンデンサ７２、および、スイッチ７３を含んでいる。オペアンプ７１の非反転入力端子には、階調信号生成回路１８に含まれるＤ／Ａ変換回路（図示せず）から出力されたデータ電圧ＤＶｊが印加される。オペアンプ７１の反転入力端子は、データ線Ｓｊに接続される。コンデンサ７２の一端はオペアンプ７１の反転入力端子に接続され、コンデンサ７２の他端はオペアンプ７１の出力端子に接続される。同様に、スイッチ７３の一端はオペアンプ７１の反転入力端子に接続され、スイッチ７３の他端はオペアンプ７１の出力端子に接続される。このようにコンデンサ７２とスイッチ７３は、オペアンプ７１の反転入力端子と出力端子との間に並列に設けられる。

スイッチ７３がオン状態のときには、オペアンプ７１はバッファアンプとして機能する。このとき、オペアンプ７１の非反転入力端子と反転入力端子は仮想短絡され、データ線Ｓｊにはオペアンプ７１の非反転入力端子に印加されたデータ電圧ＤＶｊが印加される。スイッチ７３がオフ状態のときには、オペアンプ７１とコンデンサ７２は積分アンプとして機能する。このとき、オペアンプ７１の出力電圧は、データ線Ｓｊを流れる電流の量に応じて変化する。このように出力／測定回路７０は、スイッチ７３の状態に応じて、データ電圧をデータ線Ｓｊに印加する動作と、データ線Ｓｊを流れる電流を測定する動作とを選択的に行う。

有機ＥＬ表示装置１は、１フレーム期間に１行の画素回路６０について電流を測定する。以下、あるフレーム期間において電流測定の対象となる行を測定対象行、それ以外の行を通常行という。測定対象行は、フレーム期間ごとに切り替えられる。ｉ行目が通常行である場合、走査線駆動回路１４は走査線ＧＡｉにオンレベル電圧を印加し、データ線駆動回路１５はｉ行目の画素回路６０に書き込むべきｍ個のデータ電圧をデータ線Ｓ１〜Ｓｍに印加する。ｉ行目が測定対象行である場合、走査線駆動回路１４とデータ線駆動回路１５は、図５に示すように走査線ＧＡｉ、ＧＢｉとデータ線Ｓ１〜Ｓｍを駆動する。

図５は、有機ＥＬ表示装置１のタイミングチャートである。図５には、ｉ行目が測定対象行である場合について、走査線ＧＡｉ、ＧＢｉとデータ線Ｓｊの電位の変化が記載されている。図５において、期間Ｔ１〜Ｔ３はｉ行目の画素回路６０の電流測定期間であり、期間Ｔ４はｉ行目の画素回路６０の電流測定期間後の電圧書き込み期間である。図６Ａ〜図６Ｅは、図４に示す回路の動作を示す図である。以下、図５および図６Ａ〜図６Ｅを参照して、図４に示す回路の動作を説明する。

期間Ｔ１より前では、走査線ＧＡｉ、ＧＢｉの電位はローレベルである。このとき、トランジスタ６２、６３はオフ状態にある（図６Ａを参照）。トランジスタ６１のゲート電圧は、コンデンサ６５の作用によって、前回書き込まれたデータ電圧ｐｒｅｖ＿ＤＶ（ｉ，ｊ）に保たれる。トランジスタ６１はオン状態であり、トランジスタ６１と有機ＥＬ素子６４にはトランジスタ６１のゲート−ソース間電圧に応じた電流Ｉｐが流れる。有機ＥＬ素子６４は、前回のデータ電圧ｐｒｅｖ＿ＤＶ（ｉ，ｊ）に応じた輝度で発光する。

期間Ｔ１では、走査線ＧＡｉの電位はハイレベルになる。このため、トランジスタ６２はオン状態になる（図６Ｂを参照）。また、期間Ｔ１では、スイッチ７３はオン状態になり、オペアンプ７１の非反転入力端子にはリファレンス電圧Ｖｍｇが印加される。オペアンプ７１はバッファアンプとして機能するので、データ線Ｓｊにはリファレンス電圧Ｖｍｇが印加され、トランジスタ６１のゲート電圧はＶｍｇになる。

期間Ｔ２では、走査線ＧＡｉの電位はローレベルになり、走査線ＧＢｉの電位はハイレベルになる。このため、トランジスタ６２はオフ状態になり、トランジスタ６３はオン状態になる（図６Ｃを参照）。また、期間Ｔ２では、スイッチ７３はオフ状態になり、オペアンプ７１の非反転入力端子にはトランジスタ６１の特性を求めるための第１測定用電圧Ｖｍ＿ＴＦＴが印加される。第１測定用電圧Ｖｍ＿ＴＦＴは、このときにハイレベル電源線からトランジスタ６１とトランジスタ６３を経由して出力／測定回路７０に電流Ｉａが流れるように決定される。オペアンプ７１とコンデンサ７２は積分アンプとして機能し、オペアンプ７１は電流Ｉａに応じた電圧Ｖｍａを出力する。電圧Ｖｍａを電流値に変換することにより、期間Ｔ２にトランジスタ６１を流れる電流Ｉａを測定することができる。

期間Ｔ３では、オペアンプ７１の非反転入力端子には有機ＥＬ素子６４の特性を求めるための第２測定用電圧Ｖｍ＿ＯＬＥＤが印加される（図６Ｄを参照）。第２測定用電圧Ｖｍ＿ＯＬＥＤは、このときに出力／測定回路７０からトランジスタ６３と有機ＥＬ素子６４を通過してローレベル電源線に電流Ｉｂが流れるように決定される。オペアンプ７１とコンデンサ７２は積分アンプとして機能し、オペアンプ７１は電流Ｉｂに応じた電圧Ｖｍｂを出力する。電圧Ｖｍｂを電流値に変換することにより、期間Ｔ３に有機ＥＬ素子６４を流れる電流Ｉｂを測定することができる。

期間Ｔ４では、走査線ＧＡｉの電位はハイレベルになり、走査線ＧＢｉの電位はローレベルになる。このため、トランジスタ６２はオン状態になり、トランジスタ６３はオフ状態になる（図６Ｅを参照）。また、期間Ｔ４では、スイッチ７３はオン状態になり、オペアンプ７１の非反転入力端子には新たなデータ電圧ＤＶ（ｉ，ｊ）が印加される。オペアンプ７１はバッファアンプとして機能するので、データ線Ｓｊにはデータ電圧ＤＶ（ｉ，ｊ）が印加され、トランジスタ６２のゲート電圧はＤＶ（ｉ，ｊ）になる。

期間Ｔ４以降、走査線ＧＡｉ、ＧＢｉの電位はローレベルになる。したがって、期間Ｔ１より前と同様に、有機ＥＬ素子６４にはトランジスタ６１のゲート−ソース間電圧に応じた電流Ｉｃが流れる。有機ＥＬ素子６４は、期間Ｔ４で書き込まれたデータ電圧ＤＶ（ｉ，ｊ）に応じた輝度で発光する。

期間Ｔ２では、トランジスタ６１のゲート端子にリファレンス電圧Ｖｍｇを印加し、トランジスタ６１のソース端子に第１測定用電圧Ｖｍ＿ＴＦＴを印加したときに、トランジスタ６１を流れる電流Ｉａが測定される。期間Ｔ３では、有機ＥＬ素子６４のアノード端子に第２測定用電圧Ｖｍ＿ＯＬＥＤを印加したときに、有機ＥＬ素子６４を流れる電流Ｉｂが測定される。

なお、図５に示すタイミングチャートでは、電流測定期間Ｔ１〜Ｔ３の後に電圧書き込み期間Ｔ４を設け、有機ＥＬ素子６４は、期間Ｔ４以降において発光することとした。これに代えて、電流測定期間Ｔ１〜Ｔ３の後に黒書き込み期間を設け、有機ＥＬ素子６４は期間Ｔ４以降において発光しないこととしてもよい。

以下、補正部８０について説明する。上述したように、データ線駆動回路１５は、データ線を流れる電流を測定した結果を示すモニタ信号ＭＳを表示制御回路１３に対して出力する。補正部８０は、各画素回路６０について、トランジスタ６１を流れる電流Ｉａを測定した結果（具体的には、期間Ｔ２におけるオペアンプ７１の出力電圧Ｖｍａを測定した結果を電流値に変換した結果）に基づき、トランジスタ６１の閾値電圧とゲインを求める。求めた閾値電圧とゲインは、それぞれ、ＴＦＴオフセット記憶部１６ａとＴＦＴゲイン記憶部１６ｂに記憶される。また、補正部８０は、各画素回路６０について、有機ＥＬ素子６４を流れる電流Ｉｂを測定した結果（具体的には、期間Ｔ３におけるオペアンプ７１の出力電圧Ｖｍｂを測定した結果を電流値に変換した結果）に基づき、有機ＥＬ素子６４の閾値電圧とゲインを求める。求めた閾値電圧とゲインは、それぞれ、ＯＬＥＤオフセット記憶部１６ｃとＯＬＥＤゲイン記憶部１６ｄに記憶される。

補正部８０は、電流Ｉａの測定結果に基づき、任意の方法でトランジスタ６１の閾値電圧とゲインを求めてもよく、電流Ｉｂの測定結果に基づき、任意の方法で有機ＥＬ素子６４の閾値電圧とゲインを求めてもよい。例えば、補正部８０は、各画素回路６０について、相対的に低い第１測定用電圧を印加したときの電流Ｉａと、相対的に高い第１測定用電圧を印加したときの電流Ｉａとを測定し、閾値電圧とゲインを未知数とした方程式を解くことにより、トランジスタ６１の閾値電圧とゲインを求めてもよい。あるいは、補正部８０は、各画素回路６０について、相対的に低い第１測定用電圧を印加したときの電流Ｉａの測定結果と電流Ｉａの理想値との比較結果に応じてＴＦＴオフセット記憶部１６ａに記憶されたトランジスタ６１の閾値電圧を更新し、相対的に高い第１測定用電圧を印加したときの電流Ｉａの測定結果と電流Ｉａの理想値との比較結果に応じてＴＦＴゲイン記憶部１６ｂに記憶されたトランジスタ６１のゲインを更新してもよい。

図７は、補正部８０における補正処理を説明するための図である。図７に示すように、補正部８０は、ルックアップテーブル（Look Up Table ：以下、ＬＵＴという）８１、乗算器８２、８３、８６、および、加算器８４、８５を含んでいる。以下、映像信号ＶＳ１に含まれる、ある画素の階調データＰ１に対する処理を説明する。ここでは、この画素に対応する画素回路をＰＸという。

ＬＵＴ８１は、階調データＰ１に対してガンマ補正を行う。乗算器８２は、ガンマ補正後の階調データに、ＴＦＴゲイン記憶部１６ｂから読み出された、画素回路ＰＸ内のトランジスタ６１のゲインを乗算する。乗算器８３は、乗算器８２の出力に、ＯＬＥＤゲイン記憶部１６ｄから読み出された、画素回路ＰＸ内の有機ＥＬ素子６４のゲインを乗算する。加算器８４は、乗算器８３の出力に、ＴＦＴオフセット記憶部１６ａから読み出された、画素回路ＰＸ内のトランジスタ６１の閾値電圧を加算する。加算器８５は、加算器８４の出力に、ＯＬＥＤオフセット記憶部１６ｃから読み出された、画素回路ＰＸ内の有機ＥＬ素子６４の閾値電圧を加算する。乗算器８６は、加算器８５の出力に、データ電圧の減衰を補償するための係数Ｚを乗算する。乗算器８６の出力は、階調データＰ１に対して補正処理を施した補正後の階調データＰ２となる。表示制御回路１３から出力される映像信号ＶＳ２には、補正後の階調データＰ２が含まれる。

以下、屈曲検出部９０について説明する。上述したように、補正部８０は、有機ＥＬパネル１０に含まれる画素回路６０について、トランジスタ６１の閾値電圧とゲインを求める。この処理は、表示部１１に含まれる表示用画素回路だけでなく、検出部１２に含まれる測定用画素回路についても行われる。有機ＥＬパネル１０が屈曲したとき、測定用画素回路内のトランジスタ６１のチャネル領域（ドレイン／ソース電極とゲート電極が平面視で重なる領域）は変形する。これに伴い、測定用画素回路内のトランジスタ６１の電気的特性（閾値電圧やＩ−Ｖ特性）は変化し、測定用画素回路内のトランジスタ６１を流れる電流の量は変化する。そこで、屈曲検出部９０は、測定用画素回路内のトランジスタ６１を流れる電流量の変化に基づき、有機ＥＬパネル１０の屈曲状態を検出する。

屈曲検出部９０は、各測定用画素回路について、トランジスタ６１の閾値電圧の初期値Ｖｔｈ０とゲインの初期値β０とを記憶している。ここで、初期値とは、有機ＥＬ表示装置１に電源が投入された後に最初に求められた値をいう。補正部８０は、測定用画素回路内のトランジスタ６１の閾値電圧Ｖｔｈとゲインβを求めたときに、これらの値を屈曲検出部９０に対して出力する。屈曲検出部９０は、閾値電圧の初期値Ｖｔｈ０と新たに求められた閾値電圧Ｖｔｈとの差ΔＶｔｈ（＝Ｖｔｈ−Ｖｔｈ０）、および、ゲインの初期値β０と新たに求められたゲインβとの差Δβ（＝β−β０）を求める。屈曲検出部９０は、求めた差ΔＶｔｈ、Δβに基づき、測定用画素回路の位置における有機ＥＬパネル１０の屈曲状態を求める。屈曲検出部９０は、有機ＥＬパネル１０が屈曲しているか否かを求めてもよく、有機ＥＬパネル１０が屈曲している程度を段階的に示す値を求めてもよく、有機ＥＬパネル１０の屈曲量を数値として求めてもよい。屈曲検出部９０は、検出した屈曲状態を補正部８０に対して出力する。

補正部８０は、屈曲検出部９０で検出された屈曲状態に基づき、映像信号ＶＳ１を補正する。より詳細には、補正部８０は、屈曲検出部９０で検出された屈曲状態に基づき、表示用画素回路内のトランジスタ６１を流れる電流量の屈曲による変化を補償するように映像信号ＶＳ１を補正する。例えば、屈曲検出部９０は、差ΔＶｔｈ、Δβの値の組合せに対応して有機ＥＬパネル１０の曲率を記憶した曲率ＬＵＴを内蔵しており、求めた差ΔＶｔｈ、Δβを用いて曲率ＬＵＴを参照することにより、測定用画素回路の位置における有機ＥＬパネル１０の曲率を求める。補正部８０は、曲率に対応してトランジスタ６１の閾値電圧とゲインの補正量を記憶した補正ＬＵＴを内蔵しており、補正部８０で求めた曲率を用いて補正ＬＵＴを参照することにより、トランジスタ６１の閾値電圧とゲインの補正量を求め、求めた補正量を用いて映像信号ＶＳ１を補正する。このようにして映像信号ＶＳ１を補正することにより、画面屈曲時の輝度や色の変化を防止することができる。あるいは、補正部８０は、屈曲検出部９０で検出された屈曲状態に基づき、屈曲部分に対応した映像信号ＶＳ１を非表示レベル（例えば、黒レベル）に補正してもよい。これにより、画面屈曲時の輝度や色の変化を隠すことができる。

屈曲検出部９０で検出された屈曲状態は、上記以外にも利用することができる。例えば、有機ＥＬパネルがタッチパネル機能を有する場合、表示制御回路は、有機ＥＬパネルが屈曲していることを検出したときに、タッチパネル機能を停止してもよい。

以上に示すように、本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置１は、複数の走査線ＧＡ１〜ＧＡｎ、ＧＢ１〜ＧＢｎと、複数のデータ線Ｓ１〜Ｓｍと、それぞれが発光素子（有機ＥＬ素子６４）および駆動素子（トランジスタ６１）を有する複数の画素回路６０とを含む屈曲可能な表示パネル（有機ＥＬパネル１０）と、走査線ＧＡ１〜ＧＡｎ、ＧＢ１〜ＧＢｎを駆動することにより、画素回路６０を選択する走査線駆動回路１４と、データ線Ｓ１〜Ｓｍを駆動することにより、走査線駆動回路１４によって選択された画素回路６０について、駆動素子の制御端子（トランジスタ６１のゲート端子）に電圧を書き込む動作、および、駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路１５と、駆動素子を流れる電流Ｉａを測定した結果に基づき、表示パネルの屈曲状態を検出する屈曲検出部９０とを備えている。本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置１によれば、画面屈曲時に駆動素子の電気的特性が変化するので、駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき画面の屈曲状態を検出することができる。

また、画素回路６０は、表示用画素回路（表示部１１に含まれる画素回路）と測定用画素回路（検出部１２に含まれる画素回路）とに分類され、屈曲検出部９０は、測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、表示パネルの屈曲状態を検出する。このように表示用画素回路とは別に測定用画素回路を設け、測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき画面の屈曲状態を検出することができる。また、表示用画素回路は表示領域の内部に配置され、測定用画素回路は表示領域の外部に配置されている。このように表示用画素回路を配置した表示領域の外部に測定用画素回路を配置することにより、表示に影響を与えることなく画面の屈曲状態を検出することができる。また、表示領域は矩形形状を有し、測定用画素回路は表示領域の隣接する２辺に沿って配置されている。これにより、画面がいずれの方向に屈曲したときでも画面の屈曲状態を検出することができる。

また、有機ＥＬ表示装置１は屈曲検出部９０で検出された屈曲状態に基づき映像信号ＶＳ１を補正する補正部８０を備え、データ線駆動回路１５は補正部８０で補正された映像信号ＶＳ２に基づく電圧をデータ線Ｓ１〜Ｓｍに印加する。このように検出した屈曲状態に基づき映像信号ＶＳ１を補正することにより、画面屈曲時の輝度や色の変化を防止することができる。補正部８０は、駆動素子を流れる電流量の屈曲による変化を補償するように映像信号ＶＳ１を補正してもよい。映像信号を補正して駆動素子を流れる電流量の屈曲による変化を補償することにより、画面屈曲時の輝度や色の変化を防止することができる。また、補正部８０は、屈曲部分に対応した映像信号ＶＳ１を非表示レベルに補正してもよい。このように映像信号ＶＳ１を補正して屈曲部分を非表示にすることにより、画面屈曲時の輝度や色の変化を隠すことができる。

なお、有機ＥＬ表示装置１では、表示領域の２辺に沿って測定用画素回路を配置することとした。これに代えて、図８に示すように、表示領域の１辺に沿って測定用画素回路を配置してもよい。図８に示す有機ＥＬパネル１００では、表示部１０１は矩形形状を有し、検出部１０２は表示部１０１の１辺（図８では上辺）に沿って設けられる。表示部１０１には２〜ｎ行目の画素回路が含まれ、検出部１２には１行目の画素回路が含まれる。このように測定用画素回路を１方向に沿って配置することにより、測定用画素回路が並ぶ方向に画面が屈曲したときに画面の屈曲状態を検出することができる。

（第２の実施形態）
図９は、本発明の第２の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。図９に示す有機ＥＬ表示装置２は、第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置１において、有機ＥＬパネル１０を有機ＥＬパネル２０に置換したものである。以下、各実施形態の構成要素のうち、第１の実施形態と同一の要素については、同一の参照符号を付して説明を省略する。

有機ＥＬパネル２０は、以下の点で、有機ＥＬパネル１０と相違する。有機ＥＬパネル２０は、表示部２１と検出部２２を有する。表示部２１には２〜ｎ行目かつ１〜（ｍ−２）列目の画素回路６０が含まれ、検出部２２には１行目または（ｍ−１）〜ｍ列目の画素回路６０が含まれる。ｍ列目の画素回路６０は、（ｍ−１）列目の画素回路６０から１／２行だけずれた位置（図９では下方向にずれた位置）に配置される。このように有機ＥＬ表示装置２では、測定用画素回路の配置態様は、表示用画素回路の配置態様と異なる。また、測定用画素回路の配置間隔は、表示用画素回路の配置間隔と異なり、表示用画素回路の配置間隔の半分である。

第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置１では、測定用画素回路は表示用画素回路と同じ態様に配置されている。具体的には、有機ＥＬ表示装置１では、測定用画素回路は１列に表示用画素回路と同じ配置間隔で配置されている。有機ＥＬ表示装置１によれば、表示用画素回路の配置間隔の精度で有機ＥＬパネル１０の屈曲状態を求めることができる。

これに対して有機ＥＬ表示装置２では、測定用画素回路は２列に配置され、２列の測定用画素回路は表示用画素回路の配置間隔の１／２行だけずれた位置に配置されている。具体的には、（ｍ−１）列目の画素回路６０は表示用画素回路と同じ態様に配置され、ｍ列目の画素回路６０は表示用画素回路から１／２行だけずれた位置に配置されている。したがって、有機ＥＬ表示装置２によれば、有機ＥＬ表示装置１よりも高い精度で（表示用画素回路の配置間隔の１／２の精度で）、有機ＥＬパネル２０の屈曲状態を求めることができる。

以上に示すように、本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置２では、測定用画素回路の配置態様（配置間隔）は、表示用画素回路の配置態様と異なる。有機ＥＬ表示装置２によれば、表示用画素回路と測定用画素回路を異なる態様（異なる間隔）で配置することにより、画面の屈曲状態を高い精度で検出することができる。

なお、有機ＥＬパネル２０は、１行の測定用画素回路と２列の測定用画素回路とを含むこととした。これに代えて、有機ＥＬパネルは、任意の数の行の測定用画素回路を含んでもよく、任意の数の列の測定用画素回路を含んでもよい。有機ＥＬパネルがｐ行（ｐは２以上の整数）の測定用画素回路を含む場合、ｐ行の測定用画素回路は行ごとに１／ｐ列だけずれた位置に配置される。有機ＥＬパネルがｑ列（ｑは２以上の整数）の測定用画素回路を含む場合、ｑ列の測定用画素回路は列ごとに１／ｑ行だけずれた位置に配置される。測定用画素回路の行数や列数が多いほど、有機ＥＬパネルの屈曲状態を高い精度で検出することができる。

（第３の実施形態）
図１０は、本発明の第３の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。図１０に示す有機ＥＬ表示装置３は、第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置１において、有機ＥＬパネル１０を有機ＥＬパネル３０に置換したものである。

有機ＥＬパネル３０は、以下の点で、有機ＥＬパネル１０と相違する。有機ＥＬパネル３０は、表示部３１と検出部３２を有する。表示部３１には奇数列目の画素回路６０が含まれ、検出部３２には偶数列目の画素回路６０が含まれる。このように本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置３では、表示領域は矩形形状を有し、表示用画素回路と測定用画素回路とは表示領域の内部に混在して配置されている。言い換えると、測定用画素回路は、表示用画素回路と共に、矩形形状を有する表示領域の内部に配置されている。有機ＥＬ表示装置３によれば、画面の局所的な屈曲を検出することができる。

なお、有機ＥＬパネル３０では、１列の画素回路６０を含む表示部３１と１列の画素回路６０を含む検出部３２とが行方向に交互に配置されている。これに代えて、任意の数の列の画素回路６０を含む表示部と任意の数の列の画素回路６０を含む検出部とを行方向に交互に配置してもよい。また、任意の数の行の画素回路６０を含む表示部と任意の数の行の画素回路６０を含む検出部とを列方向に交互に配置してもよい。

（第４の実施形態）
図１１は、本発明の第４の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。図１１に示す有機ＥＬ表示装置４は、第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置１において、有機ＥＬパネル１０を有機ＥＬパネル４０に置換したものである。

有機ＥＬパネル４０は、以下の点で、有機ＥＬパネル１０と相違する。図１２は、有機ＥＬパネル４０の概略構成を示す図である。図１１および図１２に示すように、有機ＥＬパネル４０は、表示部４１が形成された層（以下、表示層４３という）と、検出部４２が形成された層（以下、検出層４４という）とを含む多層構造（２層構造）を有する。有機ＥＬパネル３０と同様に、表示部４１には奇数列目の画素回路６０が含まれ、検出部４２には偶数列目の画素回路６０が含まれる。表示層４３と検出層４４は別々に形成され、有機ＥＬパネル４０は表示層４３と検出層４４を張り合わせることにより形成される。

後述する第５の実施形態のように、表示用画素回路と測定用画素回路の間で駆動素子のサイズや種類を異ならせる場合に、２種類の画素回路を同じ層に形成すると、画素回路の形成に用いる材料が混じるなどの問題が発生することがある。有機ＥＬ表示装置４では、表示用画素回路と測定用画素回路が異なる層に形成されるので、２種類の画素回路を同じ層に形成するときの問題が発生しない。また、一方の層に不良が発生した場合に、不良が発生した層だけを変更することにより、有機ＥＬパネル４０の歩留まりを向上させ、有機ＥＬ表示装置４のコストを低減することができる。

以上に示すように、本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置４では、表示パネル（有機ＥＬパネル４０）は、表示用画素回路が形成された層（表示層４３）と、測定用画素回路が形成された層（検出層４４）とを含む多層構造を有する。有機ＥＬ表示装置４によれば、表示用画素回路と測定用画素回路を異なる層に形成することにより、２種類の画素回路を同じ層に形成するときの問題を解決することができる。

（第５の実施形態）
本発明の第５の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置は、第１〜第４の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置１〜４のいずれかと同じ構成を有する。本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置は、測定用画素回路内の駆動素子の電気的特性が、表示用画素回路内の駆動素子の電気的特性と異なることを特徴とする。

本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置では、表示用画素回路内の駆動素子には、画面屈曲時に電流量の変化が小さい（より好ましくは、電流量が変化しない）トランジスタが使用される。一方、測定用画素回路内の駆動素子には、画面屈曲時に電流量の変化が大きいトランジスタが使用される。

例えば、測定用画素回路内の駆動素子として、表示用画素回路内の駆動素子とは異なるサイズのトランジスタ（表示用画素回路内の駆動素子よりも大きいトランジスタ）を用いてもよい。具体的には、測定用画素回路内の駆動素子として、表示用画素回路内の駆動素子よりもチャネル長が短いトランジスタや、表示用画素回路内の駆動素子よりもチャネル幅が長いトランジスタを用いることができる。あるいは、測定用画素回路内の駆動素子として、表示用画素回路内の駆動素子とは異なる種類のトランジスタ（例えば、有機ＴＦＴ）を用いてもよい。具体的には、表示用画素回路内の駆動素子をアモルファスシリコンや結晶型シリコンを用いて形成し、測定用画素回路内の駆動素子をオフ電流の小さい酸化物半導体を用いて形成することができる。

以上に示すように、本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置では、測定用画素回路内の駆動素子の電気的特性（サイズ、種類）は、表示用画素回路内の駆動素子の電気的特性（サイズ、種類）と異なる。したがって、画面の屈曲状態を高い精度で検出することができる。

（第６の実施形態）
図１３は、本発明の第６の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。図１３に示す有機ＥＬ表示装置５は、第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置１において、有機ＥＬパネル１０と表示制御回路１３を、それぞれ、有機ＥＬパネル５０と表示制御回路１９に置換したものである。表示制御回路１９は、表示制御回路１３において、補正部８０と屈曲検出部９０を、それぞれ、補正部８９と屈曲検出部９９に置換したものである。

有機ＥＬパネル５０は、表示部５１を有し、検出部を有しない点で、有機ＥＬパネル１０と相違する。表示部５１には、有機ＥＬパネル５０に含まれるすべての画素回路６０が含まれる。

補正部８９は、各表示用画素回路について、トランジスタ６１の閾値電圧とゲインを求める。屈曲検出部９９は、各表示用画素回路について、トランジスタ６１の閾値電圧の初期値Ｖｔｈ０とゲインの初期値β０とを記憶している。補正部８９は、表示用画素回路内のトランジスタ６１の閾値電圧Ｖｔｈとゲインβを求めたときに、これらの値を屈曲検出部９９に対して出力する。屈曲検出部９９は、閾値電圧の初期値Ｖｔｈ０と新たに求められた閾値電圧Ｖｔｈとの差ΔＶｔｈ、および、ゲインの初期値β０と新たに求められたゲインβとの差Δβを求める。屈曲検出部９９は、求めた差ΔＶｔｈ、Δβが大きいときに、表示用画素回路の位置における有機ＥＬパネル５０の屈曲状態を求める。補正部８９は、第１の実施形態に係る補正部８０と同様に、屈曲検出部９０で検出された屈曲状態に基づき、映像信号ＶＳ１を補正する。

あるいは、補正部８９は、トランジスタ６１の電気的特性（以下、第１特性という）と有機ＥＬ素子６４の電気的特性（以下、第２特性という）とを求め、屈曲検出部９９は、第２特性に基づき有機ＥＬパネル５０が屈曲していないときのトランジスタ６１の電気的特性（以下、第３特性という）を推定し、第１特性と第３特性とを比較することにより、有機ＥＬパネル５０の屈曲状態を検出してもよい。

具体的には、屈曲検出部９９は、上述した曲率ＬＵＴに加えて、２種類のエージングＬＵＴ（トランジスタのエージングＬＵＴと有機ＥＬ素子のエージングＬＵＴ）を内蔵する。有機ＥＬ素子のエージングＬＵＴは、期間Ｔ３におけるオペアンプ７１の出力電圧Ｖｍｂに対応してエージング時間を記憶している。トランジスタのエージングＬＵＴは、エージング時間に対応してトランジスタの閾値電圧とゲインを記憶している。屈曲検出部９９は、まず、期間Ｔ３で測定された電圧Ｖｍｂを用いて有機ＥＬ素子のエージングＬＵＴを参照することによりエージング時間を求める。次に、屈曲検出部９９は、求めたエージング時間を用いてトランジスタのエージングＬＵＴを参照することにより、有機ＥＬパネル５０が屈曲していないときのトランジスタ６１の閾値電圧とゲインを推定する。さらに、屈曲検出部９９は、期間Ｔ２で測定された電圧Ｖｍａに基づくトランジスタ６１の閾値電圧およびゲインと、２種類のエージングＬＵＴを用いて推定したトランジスタ６１の閾値電圧およびゲインとを比較することにより、有機ＥＬパネル５０の屈曲状態を検出する。この場合も、補正部８９は、屈曲検出部９０で検出された屈曲状態に基づき、映像信号ＶＳ１を補正する。

以上に示すように、本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置５では、有機ＥＬパネル５０は表示用画素回路（表示部５１に含まれる画素回路）だけを含み、屈曲検出部９０は、表示用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、表示パネルの屈曲状態を検出する。有機ＥＬ表示装置５によれば、表示用画素回路を測定用画素回路としても用いることにより、有機ＥＬパネル５０の歩留まりを向上させ、有機ＥＬ表示装置のコストを低減することができる。

なお、第１〜第６の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置は、１フレーム期間に１行の画素回路６０について電流を測定することとした。これに代えて、本発明の有機ＥＬ表示装置は、１フレーム期間に複数行の画素回路６０について、電流を行ごとに順に測定してもよい。また、本発明の有機ＥＬ表示装置は、複数行の画素回路６０を一括して選択し、複数の画素回路６０からデータ線に流れる電流を測定してもよい。また、第１〜第６の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置では、表示領域は矩形形状を有することとした。これに代えて、本発明の有機ＥＬ表示装置では、表示領域は矩形以外の形状（例えば、楕円形状やひし形形状）を有していてもよい。

また、第１〜第６の実施形態では、例として、画素回路６０と出力／測定回路７０とを含む有機ＥＬ表示装置について説明した。本発明は、他の画素回路と他の電流測定回路とを含む有機ＥＬ表示装置にも適用することができる。また、本発明は、有機ＥＬ表示装置以外のフレキシブル表示装置にも適用することができる。

なお、本願は、２０１５年１２月２日に出願された「フレキシブル表示装置およびその屈曲状態検出方法」という名称の日本国特願２０１５−２３５３８８号に基づく優先権を主張する出願であり、この出願の内容は引用することによって本願の中に含まれる。

本発明の表示装置は、画面の屈曲状態を検出し、画面屈曲時の輝度や色の変化を防止できるという特徴を有するので、有機ＥＬ表示装置を始め、各種のフレキシブル表示装置に利用することができる。

１、２、３、４、５…有機ＥＬ表示装置
１０、２０、３０、４０、５０、１００…有機ＥＬパネル
１１、２１、３１、４１、５１、１０１…表示部
１２、２２、３２、４２、１０２…検出部
１３、１９…表示制御回路
１４…走査線駆動回路
１５…データ線駆動回路
１６…補正データ記憶部
４３…表示層
４４…検出層
６０…画素回路
６１…トランジスタ（駆動素子）
６４…有機ＥＬ素子（発光素子）
７０…出力／測定回路
８０、８９…補正部
９０、９９…屈曲検出部

Claims (13)

1. 複数の走査線と、複数のデータ線と、それぞれが発光素子および駆動素子を有する複数の画素回路とを含む屈曲可能な表示パネルと、
   前記走査線を駆動することにより、前記画素回路を選択する走査線駆動回路と、
   前記データ線を駆動することにより、前記走査線駆動回路によって選択された画素回路について、前記駆動素子の制御端子に電圧を書き込む動作、および、前記駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路と、
   屈曲検出部とを備え、
   前記画素回路は、表示用画素回路と測定用画素回路とに分類され、
   前記屈曲検出部は、前記測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出し、
   前記測定用画素回路の配置間隔は、前記表示用画素回路の配置間隔よりも狭いことを特徴とする、フレキシブル表示装置。
2. 複数の走査線と、複数のデータ線と、それぞれが駆動素子を有する複数の画素回路とを含む屈曲可能な表示パネルと、
   前記走査線を駆動することにより、前記画素回路を選択する走査線駆動回路と、
   前記データ線を駆動することにより、前記走査線駆動回路によって選択された画素回路について、前記駆動素子の制御端子に電圧を書き込む動作、および、前記駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路と、
   屈曲検出部とを備え、
   前記画素回路は、複数の表示用画素回路と複数の測定用画素回路とに分類され、
   前記屈曲検出部は、前記測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出し、
   前記表示パネルは、複数の前記表示用画素回路が形成された層と、複数の前記測定用画素回路が形成された層とを含む多層構造を有し、
   複数の前記測定用画素回路は、それぞれ、前記複数の走査線のうち対応する走査線に接続され、
   少なくとも一つの前記表示用画素回路に接続された走査線と、少なくとも一つの前記測定用画素回路に接続された対応する走査線とは、電気的に接続されていることを特徴とする、フレキシブル表示装置。
3. 複数の走査線と、複数のデータ線と、それぞれが発光素子および駆動素子を有する複数の画素回路とを含む屈曲可能な表示パネルと、
   前記走査線を駆動することにより、前記画素回路を選択する走査線駆動回路と、
   前記データ線を駆動することにより、前記走査線駆動回路によって選択された画素回路について、前記駆動素子の制御端子に電圧を書き込む動作、および、前記駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路と、
   前記駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出する屈曲検出部と、
   前記屈曲検出部で検出された屈曲状態に基づき、前記駆動素子を流れる電流量の屈曲による変化を補償するように映像信号を補正する補正部とを備え、
   前記データ線駆動回路は、前記補正部で補正された映像信号に基づく電圧を前記データ線に印加し、
   前記屈曲検出部は、前記駆動素子の電気的特性の初期値との差に対応して前記表示パネルの曲率を記憶した第１テーブルを内蔵し、求めた前記駆動素子の電気的特性の初期値との差を用いて前記第１テーブルを参照することにより、前記表示パネルの屈曲状態として前記表示パネルの曲率を検出し、
   前記補正部は、前記表示パネルの曲率に対応して前記駆動素子の電気的特性の補正量を記憶した第２テーブルを内蔵し、前記屈曲検出部で求めた曲率を用いて前記第２テーブルを参照することにより、前記駆動素子の電気的特性の補正量を求め、求めた補正量を用いて前記映像信号を補正することを特徴とする、フレキシブル表示装置。
4. 複数の走査線と、複数のデータ線と、それぞれが発光素子および駆動素子を有する複数の画素回路とを含む屈曲可能な表示パネルと、
   前記走査線を駆動することにより、前記画素回路を選択する走査線駆動回路と、
   前記データ線を駆動することにより、前記走査線駆動回路によって選択された画素回路について、前記駆動素子の制御端子に電圧を書き込む動作、および、前記駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路と、
   前記駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出する屈曲検出部と、
   前記屈曲検出部で検出された屈曲状態に基づき、前記駆動素子を流れる電流量の屈曲による変化を補償するように映像信号を補正する補正部とを備え、
   前記データ線駆動回路は、前記補正部で補正された映像信号に基づく電圧を前記データ線に印加し、
   前記補正部は、前記駆動素子の電気的特性である第１特性と前記発光素子の電気的特性である第２特性とを求め、
   前記屈曲検出部は、前記第２特性に基づき前記表示パネルが屈曲していないときの前記駆動素子の電気的特性である第３特性を推定し、前記第１特性と前記第３特性とを比較することにより、前記表示パネルの屈曲状態を検出することを特徴とする、フレキシブル表示装置。
5. 複数の走査線と、複数のデータ線と、それぞれが発光素子および駆動素子を有する複数の画素回路とを含む屈曲可能な表示パネルと、
   前記走査線を駆動することにより、前記画素回路を選択する走査線駆動回路と、
   前記データ線を駆動することにより、前記走査線駆動回路によって選択された画素回路について、前記駆動素子の制御端子に電圧を書き込む動作、および、前記駆動素子を流れる電流を測定する動作を行うデータ線駆動回路と、
   前記駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出する屈曲検出部と、
   前記屈曲検出部で検出された屈曲状態に基づき映像信号を補正する補正部とを備え、
   前記データ線駆動回路は、前記補正部で補正された映像信号に基づく電圧を前記データ線に印加し、
   前記補正部は、屈曲部分に対応した映像信号を非表示レベルに補正することを特徴とする、フレキシブル表示装置。
6. 前記画素回路は、複数の表示用画素回路と複数の測定用画素回路とに分類され、
   前記屈曲検出部は、前記測定用画素回路内の駆動素子を流れる電流を測定した結果に基づき、前記表示パネルの屈曲状態を検出することを特徴とする、請求項３または５に記載のフレキシブル表示装置。
7. 少なくとも一つの前記表示用画素回路と、少なくとも一つの前記測定用画素回路とは、同じ走査線に接続されていることを特徴とする、請求項１または６に記載のフレキシブル表示装置。
8. 少なくとも一つの前記表示用画素回路と、少なくとも一つの前記測定用画素回路とは、同じデータ線に接続されていることを特徴とする、請求項１または６に記載のフレキシブル表示装置。
9. 前記測定用画素回路の配置態様は、前記表示用画素回路の配置態様と異なることを特徴とする、請求項７または８に記載のフレキシブル表示装置。
10. 前記測定用画素回路の配置間隔は、前記表示用画素回路の配置間隔と異なることを特徴とする、請求項９に記載のフレキシブル表示装置。
11. 複数の前記測定用画素回路は、表示領域の内部に複数の前記表示用画素回路と混在して設けられていることを特徴とする、請求項６〜８のいずれかに記載のフレキシブル表示装置。
12. 前記測定用画素回路は、矩形形状を有する表示領域の隣接する２辺に沿って配置されていることを特徴とする、請求項１および６〜１０のいずれかに記載のフレキシブル表示装置。
13. 前記測定用画素回路内の駆動素子の電気的特性は、前記表示用画素回路内の駆動素子の電気的特性と異なることを特徴とする、請求項１〜１２のいずれかに記載のフレキシブル表示装置。

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