JP6734193B2 - ディテクタアレイ及び方法 - Google Patents
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- イメージングシステムのためのディテクタアレイであって:
複数のシンチレータ結晶を配列したアレイであって、各々のシンチレータ結晶は、複数の側面を有し、各シンチレータ結晶は、前記複数の側面のうち少なくとも1つの側面の少なくとも一部分に形成された、光を拡散反射するためのマイクロフラクチャのパターンを有する、アレイ;及び
シンチレータ結晶の前記アレイに光学的に結合されたフォトディテクタのアレイ;
を有し、前記マイクロフラクチャのパターンを有する側面において、マイクロフラクチャが形成された部分は、マイクロフラクチャが形成されていない部分に隣接している、ディテクタアレイ。 - 前記パターンを有する側面において、前記マイクロフラクチャが形成された部分と前記マイクロフラクチャが形成されていない部分とが交互に配置されている、請求項1に記載のディテクタアレイ。
- 前記シンチレータ結晶のうち前記パターンを有する側面が前記シンチレータ結晶のうちの長い面であり、前記長い面は、前記シンチレータ結晶の一方端と前記フォトディテクタに光学的に結合される前記シンチレータ結晶の他方端との間に伸びる、請求項1又は2に記載のディテクタアレイ。
- 各々のシンチレータ結晶のうち単独の側面のみが前記パターンを有する、請求項1ないし3のうち何れか1項に記載のディテクタアレイ。
- 前記シンチレータ結晶の少なくとも1つの側面が、漸進的なパターン、斜交パターン、斜線パターン、ハニカムパターン又はグラデーションパターンのうちの何れかのパターンを有する、請求項1ないし4のうちの何れか1項に記載のディテクタアレイ。
- 前記少なくとも1つの側面が、前記シンチレータ結晶の一方端の近くでは多くのマイクロフラクチャが形成されたパターンを有し及び前記シンチレータ結晶の他方端の近くでは少ないマイクロフラクチャが形成されたパターンを有する、請求項1ないし5のうちの何れか1項に記載のディテクタアレイ。
- 各々のシンチレータ結晶は拡散反射コーティングでカバーされている、請求項1ないし6のうちの何れか1項に記載のディテクタアレイ。
- 前記フォトディテクタはシリコンフォトダイオード(SiPM)を含む、請求項1ないし7のうちの何れか1項に記載のディテクタアレイ。
- 請求項1ないし8のうち何れか1項に記載のディテクタアレイ複数個;
前記フォトディテクタからの出力信号を画像に再構築する再構築プロセッサ;及び
再構築された画像を表示するディスプレイ装置;
を有する核スキャナ。 - 研磨された複数のシンチレータ結晶各々の少なくとも1つの側面の少なくとも一部分をレーザエッチングするステップ;
前記複数のシンチレータ結晶に複数のフォトディテクタを光学的に結合するステップ;
を有し、前記レーザエッチングされたパターンを有する側面において、光を拡散反射するためのマイクロフラクチャが形成された部分は、マイクロフラクチャが形成されていない部分に隣接している、方法。 - 前記レーザエッチングするステップは、前記シンチレータ結晶の表面直下にマイクロフラクチャを作成する、請求項10に記載の方法。
- 前記シンチレータ結晶各々のレーザエッチングは、前記シンチレータ結晶の一方端と前記フォトディテクタに光学的に結合される前記シンチレータ結晶の他方端との間に伸びる長い側面をレーザエッチングすることを含む、請求項10又は11に記載の方法。
- 前記シンチレータ結晶各々の側面が、当該側面における、漸進的なパターン、斜交パターン、斜線パターン、ハニカムパターン又はグラデーションパターンをエッチングすることを含む、請求項10ないし12のうちの何れか1項に記載の方法。
- 拡散反射層で各々のシンチレータ結晶をカバーするステップ;及び
前記拡散反射層でカバーされたシンチレータ結晶をアレイに構成するステップ;
を更に含む、請求項11ないし13のうち何れか1項に記載の方法。 - 各々のシンチレータ結晶の単独の側面をレーザエッチングするステップを更に含む、請求項10ないし14のうち何れか1項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US201361879269P | 2013-09-18 | 2013-09-18 | |
| US61/879,269 | 2013-09-18 | ||
| PCT/IB2014/064388 WO2015040527A1 (en) | 2013-09-18 | 2014-09-10 | Laser etched scintillation crystals for increased performance |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2016534369A JP2016534369A (ja) | 2016-11-04 |
| JP6734193B2 true JP6734193B2 (ja) | 2020-08-05 |
Family
ID=51626566
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016543474A Expired - Fee Related JP6734193B2 (ja) | 2013-09-18 | 2014-09-10 | ディテクタアレイ及び方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10101470B2 (ja) |
| EP (1) | EP3047308B1 (ja) |
| JP (1) | JP6734193B2 (ja) |
| CN (1) | CN105556341B (ja) |
| RU (1) | RU2676798C2 (ja) |
| WO (1) | WO2015040527A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9709684B2 (en) * | 2014-12-15 | 2017-07-18 | General Electric Company | Systems and methods for scintillators having micro-crack surfaces |
| US9475149B1 (en) * | 2015-04-24 | 2016-10-25 | Testrake Aviation, Inc. | Optical device and method of making same |
| EP3351970A4 (en) * | 2015-09-17 | 2019-06-26 | Shimadzu Corporation | INFORMATION PROCESSING DEVICE, RADIATION DETECTOR, RADIATION IMAGING APPARATUS AND PROGRAM |
| US10823875B2 (en) * | 2015-11-24 | 2020-11-03 | Schlumberger Technology Corporation | Scintillator packaging for oilfield use |
| EP4080249B1 (en) * | 2016-04-15 | 2025-01-01 | Luxium Solutions, LLC | Photosensors arranged on a surface of a scintillator |
| CN107080551B (zh) * | 2017-05-25 | 2023-08-22 | 苏州瑞派宁科技有限公司 | 一种三维异质pet系统 |
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| CN110007332B (zh) * | 2019-04-28 | 2023-11-28 | 沈阳智核医疗科技有限公司 | 晶体阵列、探测器、医疗检测设备及晶体阵列的制造方法 |
| JP7310015B2 (ja) | 2019-09-20 | 2023-07-18 | シーメンス メディカル ソリューションズ ユーエスエー インコーポレイテッド | ハイブリッドのレーザー/空気結合petブロック型検出器 |
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| CN114910946B (zh) * | 2022-04-11 | 2026-03-24 | 苏州瑞派宁科技有限公司 | 空间编码晶体阵列、探测器、方法、装置以及存储介质 |
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| JP5138104B2 (ja) * | 2011-03-30 | 2013-02-06 | キヤノン株式会社 | 多孔質シンチレータ結晶体 |
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| JP6289142B2 (ja) | 2014-02-07 | 2018-03-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、プログラムおよび記憶媒体 |
| US9709684B2 (en) * | 2014-12-15 | 2017-07-18 | General Electric Company | Systems and methods for scintillators having micro-crack surfaces |
-
2014
- 2014-09-10 JP JP2016543474A patent/JP6734193B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2014-09-10 WO PCT/IB2014/064388 patent/WO2015040527A1/en not_active Ceased
- 2014-09-10 US US14/915,405 patent/US10101470B2/en active Active
- 2014-09-10 EP EP14776908.7A patent/EP3047308B1/en not_active Not-in-force
- 2014-09-10 RU RU2016114519A patent/RU2676798C2/ru active
- 2014-09-10 CN CN201480051712.4A patent/CN105556341B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2016534369A (ja) | 2016-11-04 |
| RU2016114519A3 (ja) | 2018-03-14 |
| RU2676798C2 (ru) | 2019-01-11 |
| CN105556341A (zh) | 2016-05-04 |
| RU2016114519A (ru) | 2017-10-20 |
| EP3047308B1 (en) | 2020-11-11 |
| US10101470B2 (en) | 2018-10-16 |
| EP3047308A1 (en) | 2016-07-27 |
| WO2015040527A1 (en) | 2015-03-26 |
| US20160209517A1 (en) | 2016-07-21 |
| CN105556341B (zh) | 2019-12-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160322 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170907 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180711 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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| A601 | Written request for extension of time |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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| R250 | Receipt of annual fees |
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