JP6801846B2 - 3dホログラフィックイメージングフローサイトメトリ - Google Patents
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Description
[関連出願への参照]
本出願は、2013年2月5日に出願された米国仮特許出願第61/761、079号に関連し、それに基づく優先権を主張する。当該出願の全開示は、本明細書に参照により全体として組み込まれる。
本発明は、アメリカ国立衛生研究所により授けられた、付与第EB015871号の下、政府のサポートとともになされた。政府は、本発明において複数の特定の権利を有する。
[背景技術]
式中、被積分関数は、複素振幅P(λfp)および波ベクトル(p,0,w(p))を備えた平面波を表す。ここで、関数w(p)は、w(p)=((1/λ)2−p2)1/2と定義され、変数λおよびfは、それぞれ照明光の波長および円筒形レンズの焦点距離である。瞳孔関数P(x)は、円筒形レンズの光学収差、または該当する場合はアポディゼーションを表す。定量的位相イメージングでは、瞳孔関数は直接測定され得、複数のイメージから差し引かれ得る。従って、我々は以降の式において、瞳孔関数を省略する。
ここで、
ここで、
ここで、
式(5)は、測定された、標本からの散乱された複数の角スペクトルを、空間周波数領域内の標本の散乱ポテンシャルにマッピングする方法を提供する。
ここで、Is(x,y)およびIRは、それぞれ試料ビームおよび参照ビームの放射照度であり、Δφ(x,y)は、当該2つのビームの間の位相差である。ベクトル(p,q)は、参照ビームの角度に対する、検出面上の試料ビームの入射角を示す。ベクトルの大きさおよび角度は、未処理の干渉における、複数のフリンジ(図2の(i)の挿絵を参照)の間隔および向きをそれぞれ示す。図2の(ii)は、図2の(i)のフーリエ変換の大きさ、または対数尺度(底10)の式(7)を示す。点線の円内の領域は、次によって記述され得る。
ここで、
本明細書によれば、以下の各項目に記載の構成もまた開示される。
[項目1]
軸外ホログラフィのためのイメージングシステムであって、
試料ビーム経路と、参照ビーム経路と、に分割される光を放出する照明源と、
検出において、検出された参照光は、検出された散乱光に対して角度オフセットするように、前記試料ビーム経路に沿って収集された前記散乱光と、前記参照ビーム経路に沿って前記参照光と、の両方を検出する検出システムと、を備え、
前記試料ビーム経路は、
試料を直線集束ビームで照明すべく、前記試料ビーム経路に沿って、前記光の焦点を合わせる試料照明オプティクスと、
前記試料ビーム経路に沿って、試料から散乱された光を収集する収集オプティクスと、を含んでいる、イメージングシステム。
[項目2]
前記照明源は、コリメートされた照明源である、請求項1に記載のシステム。
[項目3]
前記照明源は、多波長の照明源である、請求項1に記載のシステム。
[項目4]
前記照明源から放出される前記光を、前記試料ビーム経路と、前記参照ビーム経路とに分割するためのスプリッタをさらに備える、請求項1に記載のシステム。
[項目5]
前記参照ビーム経路は、検出された前記参照光を、検出された前記散乱光に対して角度オフセットする、オフセットオプティクスを含む、請求項1に記載のシステム。
[項目6]
前記オフセットオプティクスは、傾斜ミラーを含む、請求項5に記載のシステム。
[項目7]
前記試料および前記直線集束ビームを互いに相対的に並進させる、スキャンシステムをさらに備える、請求項1に記載のシステム。
[項目8]
前記スキャンシステムは、前記試料を、前記直線集束ビームを横断して並進させる、請求項7に記載のシステム。
[項目9]
前記スキャンシステムは、懸濁培地に懸濁された試料を、直線集束ビームを横断して流す、基板で定義されたフローチャネルを含む、請求項8に記載のシステム。
[項目10]
前記試料は細胞である、請求項9に記載のシステム。
[項目11]
前記フローチャネルは、前記試料の推定された幅サイズの150〜200%の間の断面直径を含む、請求項9に記載のシステム。
[項目12]
前記断面直径は、前記フローチャネルの断面高さである、請求項11に記載のシステム。
[項目13]
(i)前記フローチャネル内の前記試料の回転を低減させる、および(ii)前記フローチャネル内の前記試料の安定性を増大させることのうち少なくとも1つのために、前記フローチャネルの(i)断面高さ、および(ii)断面幅のうち少なくとも1つが、選択される、請求項9に記載のシステム。
[項目14]
前記フローチャネルの前記断面高さは、前記フローチャネルの前記断面幅とほぼ同じであり、前記フローチャネルの前記断面高さおよび前記断面幅を選択すべく、前記フローチャネルの前記断面高さおよび前記断面幅に基づく回転推定値が使用される、請求項13に記載のシステム。
[項目15]
前記フローチャネルの(i)前記断面高さおよび(ii)前記断面幅のうち少なくとも1つが、経験データに基づいて選択される、請求項13に記載のシステム。
[項目16]
前記経験データは、複数のテストされたフローチャネルの各々の中を流れる参照物質のイメージングに基づいて、複数のテストされたフローチャネルに対する複数の回転推定値を含む、請求項15に記載のシステム。
[項目17]
前記フローチャネルの中心線と、前記収集オプティクス近傍の表面との間の前記基板の厚みは、200μm未満である、請求項9に記載のシステム。
[項目18]
前記フローチャネルの中心線と、前記収集オプティクス近傍の表面との間の前記基板の厚みは、100μm未満である、請求項9に記載のシステム。
[項目19]
当該システムはマルチモードシステムである、請求項1に記載のシステム。
[項目20]
前記マルチモードシステムは、前記試料の推定されたまたは実際の試料の回転を検出する、回転検出システムを含む、請求項19に記載のシステム。
[項目21]
前記マルチモードシステムは、共焦点顕微鏡システムを含む、請求項19に記載のシステム。
[項目22]
前記共焦点顕微鏡システムは、前記試料のための複数の体積の測定を検出する、請求項21に記載のシステム。
[項目23]
前記マルチモードシステムは、それぞれが異なる波長範囲のための複数のイメージングシステムを含む、請求項19に記載のシステム。
[項目24]
前記マルチモードシステムは、それぞれがフローチャネル沿いの異なるポイントにおける、複数の開口を含む、請求項19に記載のシステム。
[項目25]
前記マルチモードシステムは、共有された開口を含む、請求項19に記載のシステム。
[項目26]
検出された前記参照光と、検出された前記散乱光との間の前記角度オフセットは、検出された前記参照光のビーム軸と、検出された前記散乱光のビーム軸との間の角度オフセットである、請求項1に記載のシステム。
[項目27]
検出された前記参照光と、検出された前記散乱光との間の前記角度オフセットは、2.5〜4ピクセルの間の、複数の未処理の干渉イメージにおけるフリンジ周期によって特徴付けられる、請求項1に記載のシステム。
[項目28]
前記試料照明オプティクスは、円筒形レンズおよび集光レンズを含み、
前記円筒形レンズは、照明経路沿いの光の焦点を、前記集光レンズの後焦点面の線に合わせ、
前記集光レンズは、前記線の焦点を試料平面上に再度合わせる、請求項1に記載のシステム。
[項目29]
前記集光レンズは、高開口数のレンズである、請求項28に記載のシステム。
[項目30]
前記集光レンズは、0.5より多い開口数を含む、請求項29に記載のシステム。
[項目31]
前記集光レンズは、1.0より多い開口数を含む、請求項29に記載のシステム。
[項目32]
前記集光レンズは、1.3より多い開口数を含む、請求項29に記載のシステム。
[項目33]
前記収集オプティクスは、高開口数対物レンズを含む、請求項1に記載のシステム。
[項目34]
前記対物レンズは、0.5より多い開口数を含む、請求項33に記載のシステム。
[項目35]
前記対物レンズは、1.0より多い開口数を含む、請求項33に記載のシステム。
[項目36]
前記対物レンズは、1.3より多い開口数を含む、請求項33に記載のシステム。
[項目37]
前記収集オプティクスはさらに、前記対物レンズの下流側に、収集された前記散乱光の焦点を合わせるための管形レンズを含む、請求項33に記載のシステム。
[項目38]
前記収集オプティクスはさらに、前記管形レンズの下流側に、円筒形レンズを含む、請求項37に記載のシステム。
[項目39]
前記収集オプティクスはさらに、前記管形レンズの下流側に、非焦点軸に沿い4f構成を実装するための、一連の円筒形レンズを含む、請求項37に記載のシステム。
[項目40]
検出された前記散乱光は、前記試料から散乱された複数の角スペクトルを含む、請求項1に記載のシステム。
[項目41]
前記検出システムは、試料ごとに少なくとも30イメージのスキャン解像度を使用する、請求項1に記載のシステム。
[項目42]
前記検出システムは、試料ごとに少なくとも100イメージのスキャン解像度を使用する、請求項1に記載のシステム。
[項目43]
前記検出システムは、試料ごとに少なくとも200イメージのスキャン解像度を使用する、請求項1に記載のシステム。
[項目44]
少なくとも−30度から30度の検出された角度範囲で特徴付けられる、請求項1に記載のシステム。
[項目45]
少なくとも−45度から45度の検出された角度範囲で特徴付けられる、請求項1に記載のシステム。
[項目46]
少なくとも−60度から60度の検出された角度範囲で特徴付けられる、請求項1に記載のシステム。
[項目47]
少なくとも2度の検出された角解像度で特徴付けられる、請求項1に記載のシステム。
[項目48]
少なくとも1度の検出された角解像度で特徴付けられる、請求項1に記載のシステム。
[項目49]
前記試料の様々な位置ηに対する複数の角スペクトルを含む、複数の未処理の干渉イメージを取得すべく、検出された前記参照光と、検出された前記散乱光とが使用される、請求項1に記載のシステム。
[項目50]
前記検出システムは、kx(空間座標xに対応する空間周波数)方向およびη方向に沿って、フーリエ変換を計算してそれにより、サイノグラムを提供し、さらに前記サイノグラムのx空間座標とy空間座標に対するフーリエ変換を計算し、それを、フーリエ回折定理を使用して、3D空間周波数領域にマッピングする、請求項49に記載のシステム。
[項目51]
前記検出システムは、データプロセッサに接続される、請求項1に記載のシステム。
[項目52]
フローサイトメトリの方法であって、
試料を、チャネルを通して移動させる段階と、
前記チャネル内で、移動する前記試料を収束光で照明する段階と、
照明光に応答して、前記試料からの光を検出する段階と、
前記試料のイメージを形成する段階と、を備える、方法。
[項目53]
前記試料の複数の位相イメージを生成する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目54]
前記チャネルを横断して延びる線上の前記チャネルを照明する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目55]
イメージデータをデータプロセッサで処理する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目56]
前記試料の3次元(3D)イメージを生成する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目57]
前記試料は、生物物質を含む、請求項52に記載の方法。
[項目58]
前記試料は、生物流体を含む、請求項52に記載の方法。
[項目59]
前記試料は、細胞を含む、請求項52に記載の方法。
[項目60]
前記試料は、癌性細胞を含む、請求項52に記載の方法。
[項目61]
前記試料の屈折率を決定する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目62]
前記試料のイメージを電子ディスプレイ上に表示する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目63]
制御システムを前記試料上で光をスキャンする複数のスキャンパラメータでプログラミングする段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目64]
収束円筒形光学要素で、光の焦点を前記チャネル上に合わせる、請求項52に記載の方法。
[項目65]
前記チャネル内の流体の流速を調整する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目66]
前記試料の干渉イメージを生成する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目67]
前記イメージからの位相データを生成する段階をさらに備える、請求項52から66のいずれか一項に記載の方法。
[項目68]
前記イメージからの振幅データを生成する段階をさらに備える、請求項52から67のいずれか一項に記載の方法。
[項目69]
位相データおよび振幅データを3次元表示にマッピングする段階をさらに備える、請求項52から68のいずれか一項に記載の方法。
[項目70]
3次元表示は、サイノグラムである、請求項52に記載の方法。
[項目71]
マッピングされたデータの2次元フーリエ変換を形成する段階をさらに備える、請求項52から70のいずれか一項に記載の方法。
[項目72]
フーリエ変化された角スペクトルを、空間周波数領域内の前記試料の散乱ポテンシャルにマッピングする段階をさらに備える、請求項71に記載の方法。
[項目73]
計算された散乱ポテンシャルを提供すべく、反復計算を実行する段階をさらに備える、請求項72に記載の方法。
[項目74]
3次元散乱ポテンシャルを決定すべく、逆フーリエ変換を実行する段階をさらに備える、請求項71から73のいずれか一項に記載の方法。
[項目75]
前記試料の屈折率を決定する段階をさらに備える、請求項52から74のいずれか一項に記載の方法。
[項目76]
前記試料の屈折率分布を決定する段階をさらに備える、請求項52から75のいずれか一項に記載の方法。
[項目77]
照明光を前記チャネルの視野に供給する段階をさらに備える、請求項52から76のいずれか一項に記載の方法。
[項目78]
検出器において、参照光ビーム経路を、試料光ビーム経路に対し傾斜させる段階をさらに備える、請求項52から77のいずれか一項に記載の方法。
[項目79]
前記参照光ビーム経路および前記試料光ビーム経路は、ゼロより大きい角度で傾斜されている、請求項78に記載の方法。
[項目80]
検出器で干渉パターンを検出する段階をさらに備える、請求項52から79のいずれか一項に記載の方法。
[項目81]
供給オプティクスで、光源からの光を前記試料に連結する段階をさらに備える、請求項52から80のいずれか一項に記載の方法。
[項目82]
収集オプティクスで、前記試料からの光を検出器に連結する段階をさらに備える、請求項52から81のいずれか一項に記載の方法。
[項目83]
照明ビームを作動された光学素子に移動する段階をさらに備える、請求項52から82のいずれか一項に記載の方法。
[項目84]
前記作動された光学素子は、可動ミラーを含む、請求項83に記載の方法。
[項目85]
前記作動された光学素子は、スキャナを含む、請求項83に記載の方法。
[項目86]
イメージデータを平滑化制約で処理する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目87]
イメージデータを正制約で処理する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目88]
周波数空間の領域に入力するデータを生成する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目89]
前記試料を第1の波長および第2の波長で照明する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目90]
データを正規化する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目91]
前記チャネル内の前記試料の領域の回転を測定する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目92]
前記チャネル内の前記試料の共焦点イメージを取得する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
[項目93]
前記試料内の蛍光を検出する段階をさらに備える、請求項52に記載の方法。
Claims (27)
- 軸外ホログラフィのためのイメージングシステムであって、
試料ビーム経路と、参照ビーム経路と、に分割される光を放出する照明源と、
検出において、検出された参照光は、検出された散乱光に対して角度オフセットして試料の角スペクトルが生成されるように、前記試料ビーム経路に沿って収集された前記散乱光と、前記参照ビーム経路に沿って収集された前記参照光と、の両方を検出する検出システムと、
前記検出システムに接続されるデータプロセッサと、を備え、
前記試料ビーム経路は、
前記試料を直線集束ビームで照明すべく、前記試料ビーム経路に沿って、前記光の焦点を合わせる照明オプティクスと、
懸濁培地に懸濁された細胞を含む試料を、前記直線集束ビームを横断して連続して流す基板で画定されたフローチャネルであり、前記フローチャネルは、前記試料ビーム経路内の前記細胞の回転を抑制する大きさを有する、フローチャネルと、
前記試料ビーム経路に沿って、試料から散乱された光を収集する収集オプティクスと、を含み、
前記データプロセッサは、検出された前記参照光と検出された前記散乱光とを使用して、前記フローチャネル内の前記試料の様々な位置ηに対する干渉イメージを取得し、前記干渉イメージを処理して前記角スペクトルの位相データおよび振幅データを3次元表示にマッピングし、前記マッピングされたデータを2次元フーリエ変換することができ、処理された前記角スペクトルを空間周波数領域内の前記試料の散乱ポテンシャルにさらにマッピングすることができる、イメージングシステム。 - 前記照明源は、コリメートされた照明源または多波長の照明源である、請求項1に記載のイメージングシステム。
- 前記照明源から放出される前記光を、前記試料ビーム経路と前記参照ビーム経路とに分割するためのスプリッタをさらに備え、
前記参照ビーム経路は、検出された前記参照光を検出された前記散乱光に対して角度オフセットする傾斜ミラーを含むオフセットオプティックスを含む、請求項1または2に記載のイメージングシステム。 - 前記試料および前記直線集束ビームを互いに相対的に並進させるスキャンシステムまたは前記試料を前記直線集束ビームを横断して並進させるスキャンシステムをさらに備え、
前記細胞は、生分解性である、請求項1から3のいずれか一項に記載のイメージングシステム。 - 前記フローチャネルは、前記試料の推定された幅サイズの150〜200%の間の断面直径を含み、前記断面直径は、前記フローチャネルの断面高さである、請求項4に記載のイメージングシステム。
- (i)前記フローチャネル内の前記試料の回転を低減させる、および(ii)前記フローチャネル内の前記試料の安定性を増大させることのうち少なくとも1つのために、前記フローチャネルの(i)断面高さ、および(ii)断面幅のうち少なくとも1つが、選択され、
任意で、前記フローチャネルの前記断面高さは、前記フローチャネルの前記断面幅とほぼ同じであり、前記フローチャネルの前記断面高さおよび前記断面幅を選択すべく、前記フローチャネルの前記断面高さおよび前記断面幅に基づく回転推定値が使用される、請求項5に記載のイメージングシステム。 - 前記フローチャネルの(i)断面高さおよび(ii)断面幅のうち少なくとも1つが、経験データに基づいて選択され、
前記経験データは、複数のテストされたフローチャネルの各々の中を流れる参照物質のイメージングに基づいて、複数のテストされた前記フローチャネルに対する複数の回転推定値を含む、請求項5または6に記載のイメージングシステム。 - 前記フローチャネルの中心線と前記収集オプティクス近傍の表面との間の前記基板の厚みは、200μm未満である、または、前記フローチャネルの中心線と前記収集オプティクス近傍の表面との間の前記基板の厚みは、100μm未満である、請求項4から7のいずれか一項に記載のイメージングシステム。
- 当該システムはマルチモードシステムであり、前記マルチモードシステムは、前記試料の推定されたまたは実際の試料の回転を検出する、回転検出システムを含む、または、前記マルチモードシステムは、前記試料のための複数の体積の測定を検出する共焦点顕微鏡システムを含む、請求項1から8のいずれか一項に記載のイメージングシステム。
- 前記マルチモードシステムは、それぞれが異なる波長範囲のための複数のイメージングシステムを含み、前記マルチモードシステムは、それぞれがフローチャネル沿いの異なるポイントにおける、複数の開口を含む、または任意で、前記マルチモードシステムは、共有された開口を含む、請求項9に記載のイメージングシステム。
- 検出された前記参照光と、検出された前記散乱光との間の前記角度オフセットは、検出された前記参照光のビーム軸と、検出された前記散乱光のビーム軸との間の角度オフセットである、または、検出された前記参照光と、検出された前記散乱光との間の前記角度オフセットは、2.5〜4ピクセルの間の、複数の未処理の干渉イメージにおけるフリンジ周期によって特徴付けられる、請求項1から10のいずれか一項に記載のイメージングシステム。
- 前記照明オプティクスは、円筒形レンズおよび集光レンズを含み、
前記円筒形レンズは、照明経路沿いの光の焦点を、前記集光レンズの後焦点面の線に合わせ、
前記集光レンズは、前記線の焦点を試料平面上に再度合わせる、請求項1から11のいずれか一項に記載のイメージングシステム。 - 前記集光レンズは、高開口数のレンズであり、開口数は0.5より大きい、または、前記開口数は1.0より大きい、または、前記開口数は1.3より大きい、請求項12に記載のイメージングシステム。
- 前記収集オプティクスは、高開口数対物レンズを含み、前記高開口数対物レンズは、0.5より大きい開口数、または、1.0より大きい前記開口数、または、1.3より大きい前記開口数を含む、請求項1から13のいずれか一項に記載のイメージングシステム。
- 前記収集オプティクスは、さらに、前記高開口数対物レンズの下流側に、収集された前記散乱光の焦点を合わせるための管形レンズを含み、前記収集オプティクスは、さらに、前記管形レンズの下流側に、円筒形レンズを含む、請求項14に記載のイメージングシステム。
- 前記検出システムは、試料ごとに少なくとも30イメージのスキャン解像度を使用し、任意で、前記検出システムは、試料ごとに少なくとも100イメージのスキャン解像度を使用する、請求項1から15のいずれか一項に記載のイメージングシステム。
- 少なくとも2度の検出された角解像度とともに、少なくとも−30度から30度の検出された角度範囲、または、少なくとも−45度から45度の検出された角度範囲、または、少なくとも−60度から60度の検出された角度範囲で特徴付けられる、請求項1から16のいずれか一項に記載のイメージングシステム。
- 前記データプロセッサは、kx(空間座標xに対応する空間周波数)方向およびη方向に沿って、フーリエ変換を計算し、それにより、サイノグラムを提供し、さらに前記サイノグラムのx空間座標とy空間座標に対するフーリエ変換を計算し、それを、フーリエ回折定理を使用して3D空間周波数領域にマッピングする、請求項1から17のいずれか一項に記載のイメージングシステム。
- 軸外ホログラフィシステムを使用するフローサイトメトリの方法であって、
試料を、基板のチャネルを通して移動させる段階であり、前記チャネルは前記試料の回転を抑制する大きさを有する、段階と、
前記チャネル内で、移動する前記試料を収束光で照明する段階と、
検出器を用いて、前記試料からの散乱光及び前記試料からの前記散乱光から角度オフセットされた参照光を検出する段階であり、前記試料からの前記散乱光及び前記参照光は光源からの照明光に応答する、段階と、
検出された前記参照光と検出された前記散乱光とを使用して、前記チャネル内の前記試料の様々な位置ηに対する干渉イメージを形成する段階と、
前記干渉イメージを処理して角スペクトルの位相データおよび振幅データを3次元表示にマッピングし、前記マッピングされたデータを2次元フーリエ変換し、処理された前記角スペクトルを空間周波数空間内の前記試料の散乱ポテンシャルにマッピングする段階と、
を備える、方法。 - イメージデータをデータプロセッサで処理する段階と、前記試料の複数の位相イメージを生成する段階と、をさらに備える、請求項19に記載の方法。
- 前記試料の3次元(3D)イメージを生成する段階をさらに備え、
前記試料は、生物流体または細胞を含む生物物質を含む、請求項19または20に記載の方法。 - 前記試料の屈折率を決定する段階と、前記試料のイメージを電子ディスプレイ上に表示する段階と、をさらに備える、請求項19から21のいずれか一項に記載の方法。
- 制御システムを前記試料上で光をスキャンする複数のスキャンパラメータでプログラミングする段階をさらに備える、請求項19から22のいずれか一項に記載の方法。
- 集束円筒形光学要素で、光の焦点を前記チャネル上に合わせる段階と、前記チャネル内の流体の流速を調整する段階をさらに備える、請求項19から23のいずれか一項に記載の方法。
- 前記干渉イメージからの位相データを生成する段階、および、前記干渉イメージからの振幅データを生成する段階をさらに備える、請求項19から24のいずれか一項に記載の方法。
- 計算された散乱ポテンシャルを提供すべく、反復計算を実行する段階をさらに備える、請求項19から25のいずれか一項に記載の方法。
- 前記試料の屈折率を決定する段階、または、前記試料の屈折率分布を決定する段階をさらに備える、請求項19から26のいずれか一項に記載の方法。
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