JP6815513B2 - 検査装置 - Google Patents
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Description
図1に、本発明の第1の実施形態に係る検査装置の構成を示す。検査装置100は、被検査物10を移動速度vで搬送する搬送路101と、被検査物10の内部または近傍にある磁性異物の磁気を検知する第1磁気検出器111および第2磁気検出器112と、第1磁気検出器111および第2磁気検出器112の検出信号をそれぞれ増幅する増幅部120と、第1磁気検出器111の検出信号を遅延させた信号と第2磁気検出器112の検出信号を乗算処理する演算処理部130とを備える。
図9に、本発明の第2の実施形態に係る検査装置の構成を示す。第2の実施形態では、搬送路101の幅方向および搬送路101の垂直方向の磁性異物の検知精度を向上させる構成を示す。検査装置200は、被検査物10を移動速度vで搬送する搬送路101と、被検査物10の内部または近傍にある磁性異物の磁気を検知する第1磁気検出器211および第2磁気検出器212と、第1磁気検出器211および第2磁気検出器212の検出信号をそれぞれ増幅する増幅部220と、第1磁気検出器211の検出信号を遅延させた信号と第2磁気検出器212の検出信号を乗算処理する演算処理部230とを備える。
第3の実施形態は、第1の実施形態および第2の実施形態の磁性異物の検知精度をさらに高精度にするための検査装置の構成について記す。なお、第1の実施形態および第2の実施形態と共通する項目については、説明を省略する。
図12(a)に、本発明の第4の実施形態に係る検査装置の構成を示す。検査装置300は、演算部330の前段に差動処理部325を配置し、搬送方向の前後に配置される一対の第1磁気検出器311と第2磁気検出器312からの検出タイミングが一致する検出信号に対して差動処理を行うことにより、同相ノイズの影響をさらに除去することができる。
図13に、本発明の第5の実施形態に係る検査装置の構成を示す。検査装置400は、被検査物10を任意の移動速度vで搬送する搬送路101と、被検査物10を所定の方向に着磁する着磁手段450とを備える。
図18に本発明の第6の実施形態に係る検査装置500の構成を示す。第6の実施形態では、搬送路の幅方向の検出精度を向上させる構成を示す。第5の実施形態と共通する内容については省略する。
図20に本発明の第7の実施形態に係る検査装置600の構成を示す。第7の実施形態では、搬送路101の幅方向の両端に一対の磁気検出器である右側磁気検出器611と左側磁気検出器612とを配置する構成を示す。本実施形態で示す右側磁気検出器611と左側磁気検出器612は、上述した各実施形態における上側磁気検出器511と下側磁気検出器512に相当するものの配置を変更したものである。第5の実施形態および第6の実施形態と共通する内容については省略する。
ここまでは、磁性異物の着磁方向と第1磁気検出器および第2磁気検出器を構成する磁気センサの磁界検出方向が一致する場合について説明してきた。しかしながら、磁性異物を着磁したときに、磁性異物の着磁方向が磁気センサの磁界検出方向に対して傾き、磁性異物の着磁方向と磁気センサの磁界検出方向が一致しない場合がある。例えば、磁性異物の着磁方向が磁界検出方向と一致する方向となるように着磁手段を配置した場合であっても、着磁手段が発生する磁界を抜ける際に磁性異物にかかる磁界の方向が傾き、実質的な着磁方向が磁界検出方向に対し傾くことがある。この状態で磁気センサMSとしてフラックスゲートセンサを使用した場合の検出信号の波形は、図22(a)に示すように位相が回って磁気センサMS直下で極性が反転し、上下にピークを持つ。この影響により、検出信号としてのS/N比は低下する。
100 検査装置
101 搬送路
111、112 磁気検出器
120 増幅部
130 演算部
131 AD変換器
132 乗算処理部
133 判定部
140 磁気遮蔽手段
150 着磁手段
Claims (24)
- 被検査物を搬送路に沿って搬送する搬送手段と、
前記被検査物に含まれる磁性異物の残留磁気による磁界を検出する複数の磁気検出器と、
複数の前記磁気検出器の検出信号を乗算処理する演算部であって、前記搬送手段によって搬送された同一の前記被検査物に対する前記検出信号同士を乗算処理する演算部と、
を備え、
前記演算部は、搬送方向における前記被検査物と複数の前記磁気検出器との相対位置とが略一致すると見做せる時刻の前記検出信号同士を乗算することで、乗算波形を算出し、前記乗算波形の値に基づいて前記磁性異物を検出することを特徴とする検査装置。 - 前記演算部は、乗算処理する前に、前記検出信号をレベル補正することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記演算部は、磁性異物を含む被検査物が前記搬送路上にないときの前記検出信号の平均値がゼロとなるように、レベル補正することを特徴とする請求項2に記載の検査装置。
- 被検査物を搬送路に沿って搬送する搬送手段と、
前記被検査物に含まれる磁性異物の残留磁気による磁界を検出する複数の磁気検出器と、
複数の前記磁気検出器の検出信号を乗算処理する演算部であって、前記搬送手段によって搬送された同一の前記被検査物に対する前記検出信号同士を乗算処理する演算部と、
を備え、
複数の前記磁気検出器は、前記被検査物が通過する空間に磁界検出方向が向き、前記搬送手段の搬送方向に所定の間隔を有して配置され、
前記演算部は、複数の前記磁気検出器のそれぞれと前記被検査物とが最接近したタイミングが略一致するように前記検出信号を時間補正して、前記検出信号同士を乗算することを特徴とする検査装置。 - 前記演算部は、前記所定の間隔を前記搬送手段によって前記被検査物が搬送される時間に相当する時間差分だけ遅らせるように、前記検出信号を時間補正することを特徴とする請求項4に記載の検査装置。
- 複数の前記磁気検出器が検出するノイズ信号の内、所定の周波数成分を有する外来ノイズ信号に対して、複数の前記磁気検出器のそれぞれで検知されるときの位相が逆相となるように、前記所定の間隔および前記搬送手段の搬送速度が設定されていることを特徴とする請求項4又は5に記載の検査装置。
- 前記所定の間隔は、前記外来ノイズ信号の半周期を奇数倍した値に前記搬送速度を乗算した値とすることを特徴とする請求項6に記載の検査装置。
- 前記所定の周波数成分は、前記搬送速度により規定される前記被検査物に含まれる磁性異物を検知した信号成分の周波数と異なる周波数であることを特徴とする請求項6又は7に記載の検査装置。
- 複数の前記磁気検出器は、前記搬送路を挟んで対向して配置され、前記残留磁気による磁界のうち前記搬送路の搬送面と垂直な方向の成分を検出することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の検査装置。
- 複数の前記磁気検出器の少なくとも1つは、前記搬送路の幅方向に並べられた複数の磁気センサを備えたことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記演算部の乗算処理結果から、磁性異物の有無および磁性異物が通過した前記搬送路の幅方向の位置を判定することを特徴とする請求項10に記載の検査装置。
- 複数の前記磁気検出器は、前記搬送路の幅方向の両端に前記搬送路を挟んで対向し、前記残留磁気による磁界のうち前記搬送路の幅方向の成分を検出することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の検査装置。
- 複数の前記磁気検出器は、前記搬送路の搬送面と垂直な方向に並べられた複数の磁気センサを備えたことを特徴とする請求項12に記載の検査装置。
- 複数の前記磁気検出器は、互いに平行な磁界検出方向を持つ磁気センサを有することを特徴とする請求項1から13のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記演算部は、検出されたタイミングが同じ検出信号に対して差動処理された信号を前記検出信号として乗算処理することを特徴とする請求項1から14のいずれか1項に記載の検査装置。
- 複数の前記磁気検出器の端部に配置された位相調整手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1から15のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記位相調整手段は、高透磁率材料を含むことを特徴とする請求項16に記載の検査装置。
- 前記位相調整手段は、前記位相調整手段の長手方向が前記搬送手段の搬送方向となるよう配置されたことを特徴とする請求項16又は17に記載の検査装置。
- 各前記磁気検出器の磁界検出方向と前記位相調整手段の長手方向との間のなす角は、90度から180度であることを特徴とする請求項16から18のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記搬送手段の搬送方向における複数の前記磁気検出器の上流側に、前記被検査物に含まれる磁性異物に対して着磁させる着磁手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1から19のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記搬送手段と対向する面を開口して、複数の前記磁気検出器のそれぞれを覆う磁気遮蔽手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1から20のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記演算部で算出された乗算結果が所定の値以上のときに前記被検査物に磁性異物が含まれていると判定する判定部をさらに備えたことを特徴とする請求項1から21のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記判定部は、少なくとも前記磁性異物を検出した信号成分と逆位相となる信号成分を、外乱磁界によるノイズ成分と判定することを特徴とする請求項22に記載の検査装置。
- 前記演算部の乗算処理の結果に基づき、前記被検査物に対し磁性異物を検知した信号成分は所定の値以上の正の値を有し、ノイズのみを検知した信号成分は負の値を有する波形として表示する表示部とを備えたことを特徴とする請求項1から23のいずれか1項に記載の検査装置。
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