JP6834623B2 - 光学計測装置および光学計測装置用アダプタ - Google Patents
光学計測装置および光学計測装置用アダプタ Download PDFInfo
- Publication number
- JP6834623B2 JP6834623B2 JP2017047078A JP2017047078A JP6834623B2 JP 6834623 B2 JP6834623 B2 JP 6834623B2 JP 2017047078 A JP2017047078 A JP 2017047078A JP 2017047078 A JP2017047078 A JP 2017047078A JP 6834623 B2 JP6834623 B2 JP 6834623B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adapter
- controller
- measuring device
- cable
- optical measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0218—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using optical fibers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0264—Electrical interface; User interface
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/50—Using chromatic effects to achieve wavelength-dependent depth resolution
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/444—Compensating; Calibrating, e.g. dark current, temperature drift, noise reduction or baseline correction; Adjusting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0208—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
Description
Claims (10)
- 計測対象に投光される照射光を発生させる投光部と、前記計測対象からの反射光を受光する受光部と、前記受光部の受光量に基づいて計測値を算出する制御部とを含むコントローラと、
前記照射光を前記計測対象に投光し、かつ、前記計測対象からの前記反射光を受光するための光学系と、前記コントローラの前記投光部からの前記照射光を前記光学系に伝達するとともに、前記反射光を前記光学系から前記コントローラの前記受光部に伝達するためのケーブルとを含むセンサヘッドと、
前記センサヘッドの前記ケーブルおよび前記コントローラに電気的または光学的に接続可能に構成され、かつ、前記ケーブルおよび前記コントローラに着脱可能に構成された光学計測装置用アダプタとを備え、
前記光学計測装置用アダプタは、前記センサヘッドによる計測値を補正するためのキャリブレーションデータを記憶したメモリを含む、光学計測装置。 - 前記ケーブルは、延長ケーブルの第1端に接続可能に構成され、
前記光学計測装置は、
前記延長ケーブルの第2端と前記コントローラとの間に、前記光学計測装置用アダプタとともに接続されるように構成された追加のアダプタをさらに備え、
前記追加のアダプタは、前記延長ケーブルの長さを示すデータを記憶したメモリを含む、請求項1に記載の光学計測装置。 - 前記ケーブルは、光ファイバを含み、
前記光学計測装置用アダプタは、
前記光学計測装置用アダプタに接続された前記光ファイバの端面を撮像して、前記端面の画像の情報を前記コントローラの前記制御部に出力する撮像部を含む、請求項1に記載の光学計測装置。 - 前記センサヘッドは、計測に使用されない波長を有する光を発する発光部を含み、
前記光学計測装置は、
前記センサヘッドに着脱可能なアタッチメントをさらに備え、
前記アタッチメントは、前記発光部を駆動するための電力を無線により前記発光部に供給する無線送信部を含み、
前記発光部は、前記センサヘッドの識別情報を表す光信号を、前記ケーブルおよび前記光学計測装置用アダプタを通じて前記コントローラに送信し、
前記コントローラの前記受光部は、前記光信号を光電変換して、前記識別情報を表す電気信号を前記制御部に出力する、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の光学計測装置。 - 前記光学計測装置用アダプタは、
前記メモリに記憶された前記キャリブレーションデータを、無線信号により前記コントローラに送信する無線送信部を含み、
前記コントローラは、
前記無線信号を受信することにより前記キャリブレーションデータを受信して、前記キャリブレーションデータを前記制御部に出力するデータ受信部を含む、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の光学計測装置。 - 前記ケーブルは、前記光学計測装置用アダプタに接続されるためのコネクタを含み、
前記センサヘッドの固有の情報を保持するICチップが、前記コネクタに実装される、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の光学計測装置。 - センサヘッドのケーブルおよびコントローラに電気的または光学的に接続可能に構成され、かつ、前記ケーブルおよび前記コントローラに着脱可能に構成された、光学計測装置用アダプタであって、
前記コントローラは、計測対象に投光される照射光を発生させる投光部と、前記計測対象からの反射光を受光する受光部と、前記受光部の受光量に基づいて計測値を算出する制御部とを含み、
前記センサヘッドは、前記照射光を前記計測対象に投光し、かつ、前記計測対象からの前記反射光を受光するための光学系を含み、
前記ケーブルは、前記コントローラの前記投光部からの前記照射光を前記光学系に伝達するとともに、前記反射光を前記光学系から前記コントローラの前記受光部に伝達するように構成され、
前記光学計測装置用アダプタは、前記センサヘッドによる計測値を補正するためのキャリブレーションデータを記憶したメモリを含む、光学計測装置用アダプタ。 - 前記ケーブルは、延長ケーブルの第1端に接続可能に構成され、
前記光学計測装置用アダプタは、前記延長ケーブルの第2端と前記コントローラとの間に、追加のアダプタとともに接続され、
前記追加のアダプタは、前記延長ケーブルの長さを示すデータを記憶したメモリを含む、請求項7に記載の光学計測装置用アダプタ。 - 前記ケーブルは、光ファイバを含み、
前記光学計測装置用アダプタは、
前記光学計測装置用アダプタに接続された前記光ファイバの端面を撮像して、前記端面の画像の情報を前記コントローラの前記制御部に出力する撮像部をさらに含む、請求項7に記載の光学計測装置用アダプタ。 - 前記光学計測装置用アダプタは、
前記メモリに記憶された前記キャリブレーションデータを、無線信号により前記コントローラに送信する無線送信部をさらに含む、請求項7から請求項9のいずれか1項に記載の光学計測装置用アダプタ。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017047078A JP6834623B2 (ja) | 2017-03-13 | 2017-03-13 | 光学計測装置および光学計測装置用アダプタ |
| US15/839,872 US10641654B2 (en) | 2017-03-13 | 2017-12-13 | Optical measuring apparatus and adapter for optical measuring apparatus |
| CN201711360139.7A CN108571926B (zh) | 2017-03-13 | 2017-12-15 | 光学测量装置以及光学测量装置用适配器 |
| TW106144297A TWI653429B (zh) | 2017-03-13 | 2017-12-18 | 光學測量裝置以及光學測量裝置用適配器 |
| KR1020170173951A KR102047105B1 (ko) | 2017-03-13 | 2017-12-18 | 광학 계측 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017047078A JP6834623B2 (ja) | 2017-03-13 | 2017-03-13 | 光学計測装置および光学計測装置用アダプタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2018151231A JP2018151231A (ja) | 2018-09-27 |
| JP6834623B2 true JP6834623B2 (ja) | 2021-02-24 |
Family
ID=63446384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017047078A Expired - Fee Related JP6834623B2 (ja) | 2017-03-13 | 2017-03-13 | 光学計測装置および光学計測装置用アダプタ |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10641654B2 (ja) |
| JP (1) | JP6834623B2 (ja) |
| KR (1) | KR102047105B1 (ja) |
| CN (1) | CN108571926B (ja) |
| TW (1) | TWI653429B (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102018130901A1 (de) * | 2018-12-04 | 2020-06-04 | Precitec Optronik Gmbh | Optische Messeinrichtung |
| KR20220073772A (ko) * | 2019-09-20 | 2022-06-03 | 포톤 컨트롤 인코퍼레이티드 | 광섬유 온도 프로브용 교정 시스템 |
| KR102715331B1 (ko) | 2019-12-17 | 2024-10-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | 잉크젯 프린팅 장치, 쌍극성 소자의 프린팅 방법 및 표시 장치의 제조 방법 |
Family Cites Families (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06249618A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-09 | Mitsutoyo Corp | 光学式寸法測定装置 |
| DE19713362A1 (de) | 1997-03-29 | 1998-10-01 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Konfokale mikroskopische Anordnung |
| JP2003028791A (ja) * | 2001-05-09 | 2003-01-29 | Olympus Optical Co Ltd | 光イメージング装置 |
| JP2004125528A (ja) * | 2002-09-30 | 2004-04-22 | Sunx Ltd | センサシステム及びセンサコントローラ |
| CN102749287B (zh) | 2003-06-04 | 2015-08-19 | 广东永士达医疗科技有限公司 | 利用光的传播模式测量物质中的光学不均匀性和其他属性 |
| EP1517115B1 (en) | 2003-09-19 | 2016-05-11 | Omron Corporation | Multiple sensor system |
| JP4213599B2 (ja) | 2004-01-28 | 2009-01-21 | 株式会社東芝 | 光学式計測方法および装置 |
| DE102004049541A1 (de) | 2004-10-12 | 2006-04-20 | Precitec Optronik Gmbh | Meßsystem zur Vermessung von Oberflächen sowie Kalibrierverfahren hierfür |
| DE102005000915A1 (de) | 2005-01-06 | 2006-07-20 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Vorrichtung zur multifokalen konfokalen mirkoskopischen Bestimmung der räumlichen Verteilung und zur multifokalen Fluktuationsanalyse von fluoreszenten Molekülen und Strukturen mit spektral flexibler Detektion |
| DE102005006723B3 (de) | 2005-02-03 | 2006-06-08 | Universität Stuttgart | Interferometrisches,konfokales Verfahren und interferometrische, konfokale Anordung für optische Datenspeicher, insbesondere Terabyte-Volumenspeicher |
| JP4779516B2 (ja) * | 2005-09-07 | 2011-09-28 | セイコーエプソン株式会社 | 電源供給システム、インターフェース装置、ケーブルセット、プラグ、電源供給システムの制御方法およびそのプログラム |
| JP5136747B2 (ja) * | 2007-02-01 | 2013-02-06 | 国立大学法人 名古屋工業大学 | 曲がり度合い検出装置およびそれを用いた曲がり度合い検出方法 |
| TWI403213B (zh) * | 2008-11-24 | 2013-07-21 | Young Lighting Technology Corp | 光源控制裝置與方法 |
| JP5433381B2 (ja) * | 2009-01-28 | 2014-03-05 | 合同会社IP Bridge1号 | 口腔内測定装置及び口腔内測定方法 |
| KR20110070598A (ko) | 2009-12-18 | 2011-06-24 | (주)셀런에스엔 | 광케이블의 단면 검사와 출력 측정이 동시에 가능한 휴대용 광케이블 검사장치 |
| US9225539B2 (en) * | 2010-01-15 | 2015-12-29 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Storing data relating to cables |
| US8317347B2 (en) * | 2010-12-22 | 2012-11-27 | Mitutoyo Corporation | High intensity point source system for high spectral stability |
| JP5790178B2 (ja) | 2011-03-14 | 2015-10-07 | オムロン株式会社 | 共焦点計測装置 |
| JP5870576B2 (ja) * | 2011-09-22 | 2016-03-01 | オムロン株式会社 | 光学計測装置 |
| KR101277306B1 (ko) * | 2011-11-28 | 2013-07-02 | (주)엠이엘 텔레콤 | 광송수신 어댑터의 커넥터 특성 인지 장치 |
| US8928874B2 (en) * | 2012-02-24 | 2015-01-06 | Mitutoyo Corporation | Method for identifying abnormal spectral profiles measured by a chromatic confocal range sensor |
| JP5994504B2 (ja) | 2012-09-14 | 2016-09-21 | オムロン株式会社 | 共焦点計測装置 |
| JP5966982B2 (ja) | 2013-03-15 | 2016-08-10 | オムロン株式会社 | 共焦点計測装置 |
| JP6819370B2 (ja) * | 2017-03-09 | 2021-01-27 | オムロン株式会社 | 共焦点計測装置 |
| JP6969453B2 (ja) * | 2018-03-12 | 2021-11-24 | オムロン株式会社 | 光学計測装置 |
-
2017
- 2017-03-13 JP JP2017047078A patent/JP6834623B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2017-12-13 US US15/839,872 patent/US10641654B2/en active Active
- 2017-12-15 CN CN201711360139.7A patent/CN108571926B/zh active Active
- 2017-12-18 KR KR1020170173951A patent/KR102047105B1/ko active Active
- 2017-12-18 TW TW106144297A patent/TWI653429B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TWI653429B (zh) | 2019-03-11 |
| TW201833509A (zh) | 2018-09-16 |
| US20180259392A1 (en) | 2018-09-13 |
| CN108571926A (zh) | 2018-09-25 |
| KR20180104548A (ko) | 2018-09-21 |
| CN108571926B (zh) | 2020-07-10 |
| KR102047105B1 (ko) | 2019-12-04 |
| US10641654B2 (en) | 2020-05-05 |
| JP2018151231A (ja) | 2018-09-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108474646B (zh) | 共焦位移计 | |
| JP6964592B2 (ja) | 計測支援装置、内視鏡システム、内視鏡システムのプロセッサ、及び計測支援方法 | |
| JP5305946B2 (ja) | ライトガイド及び光源装置並びに内視鏡システム | |
| JP5870576B2 (ja) | 光学計測装置 | |
| JP6834623B2 (ja) | 光学計測装置および光学計測装置用アダプタ | |
| US20110037964A1 (en) | Distance measuring apparatus and distance measuring method | |
| JP5617057B2 (ja) | 内視鏡装置 | |
| JP2022031539A (ja) | 光学センサおよび光学センサにおける異常検出方法 | |
| KR20130027671A (ko) | 깊이 정보 획득장치 및 이를 포함하는 3차원 정보 획득 시스템 | |
| US20180035109A1 (en) | Object simulation unit for testing a camera objective and diagnostic system | |
| JP6615604B2 (ja) | 共焦点変位計 | |
| JP6333518B2 (ja) | 管状システム | |
| KR102046158B1 (ko) | 변위 계측 장치 | |
| JP6738465B2 (ja) | 内視鏡システム | |
| CN117694811A (zh) | 内窥镜 | |
| JP2014222202A (ja) | 中間アダプタ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180110 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200109 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201113 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201201 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201216 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210105 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210118 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6834623 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |