JP7471978B2 - 塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法、電流効率の演算方法及び金属マグネシウムの製造方法 - Google Patents
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Description
本発明に係る塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法の一実施形態においては、塩素含有ガスの酸素ガス濃度を測定するものであって、図1に示すように、前処理ステップS101と、ガス流量測定ステップS102と、ガス分岐ステップS103と、酸素ガス濃度測定ステップS104と、ガス合流ステップS105とを含む。該酸素ガス濃度測定ステップS104においては、流動状態の分析用塩素含有ガスの酸素ガス濃度を近赤外線吸収分光法により分析し、塩素含有ガス中の酸素ガス濃度を測定する。よって、本実施形態では、流動状態の分析用塩素含有ガスに対して近赤外線を照射して酸素ガス濃度を測定する。これにより、一実施形態においては、流動状態の塩素含有ガス中の酸素ガス濃度を連続的に把握することができる。例えば、塩化マグネシウムの電気分解で生成した塩素含有ガスを塩化炉に送る際に上記測定を実施することができる。また、測定結果を長期間にわたり連続的に入手可能である。
なお、一実施形態においては、上記ステップS101~S105の順に実施することが好ましい。また、前処理ステップS101、ガス流量測定ステップS102、ガス分岐ステップS103及び、ガス合流ステップS105は好ましい態様に過ぎず、一実施形態においては、それらのうちの少なくとも1つのステップを省略してもよい。省略しても流動状態の塩素含有ガス中の酸素ガス濃度を把握することが可能な場合もあるからである。また、図1に示す実施形態では塩素含有ガスのガス流量測定が塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定の前に行われているが、該ガス流量測定は酸素ガス濃度測定後であって、かつ、ガス合流後に行うこともできる。即ち、各ステップは順序を入れ替えて実施可能なものもある。また、一実施形態において溶融塩電解槽を用いて説明しているが、これに限定されるものではない。
先述したように、塩化マグネシウムの溶融塩電解で発生し溶融塩電解槽から排出される塩素含有ガスは一般的に高塩素濃度であるから、溶融塩電解槽内への外気の流入を把握するには塩素含有ガス中の塩素濃度を測定するよりも、塩素以外のガスの濃度を検知する方が効果的である。その理由としては、以下のことが推察される。
例えば、溶融塩電解槽の操業中、塩化マグネシウムの追い注ぎ(チャージ)或いは金属マグネシウムの回収のため溶融塩電解槽の金属回収室の上方の蓋の一部を開いた際には、負圧状態の溶融塩電解槽内に外気が流入しうる。このとき、外気の流入に起因して、塩素含有ガス中の塩素濃度は若干低下すると考えられる。そして、溶融塩電解槽内からの塩素含有ガスの継続的な排出により、この外気の流入からある程度時間が経過すると、溶融塩電解槽内から排出される塩素含有ガスは塩素濃度が再び高くなり、上記塩素濃度の若干の低下が解消される。ここで、外気の流入が僅かであった場合、その塩素含有ガス中の塩素濃度の変動が微小になることから、塩素濃度を測定してもそのような外気の流入があったか否かの判断は難しい場合もありうる。また、塩素含有ガス中の塩素濃度を測定する場合、塩素含有ガス中に塩素以外の何らかの成分が含まれていることがわかったとしても、その成分が外気に含まれる成分であるか否かまでは判別できない。
上記のように流動状態の塩素ガスについてその流量と濃度から電流効率を求めれば、溶融塩電解槽内で進行する塩化マグネシウムの電気分解の状況を連続的に把握できる。金属マグネシウムの回収量に基づき電流効率を求めると、金属マグネシウムの回収時に過去の電流効率を求めることはできるが、塩化マグネシウムの電気分解状況を時間別に把握することはできない。流動状態の塩素ガスから電流効率を求めることができれば、経時的な電気分解の状況を把握できる点で有利であり、さらにリアルタイムに電気分解の状況を把握できる点でも有利である。
溶融塩電解槽の開口部を閉じる蓋の配置不良や上蓋と陽極との間の目地等のシール不良等を溶融塩電解槽の外側から作業者がすべて確認することは困難であるし、このような観点の取り組みは作業者への負担が非常に大きい。一実施形態においては、微量な酸素が溶融塩電解槽内に流入したとしても検出可能であるので溶融塩電解槽の気密不良を精度よくかつ簡便に確認でき、溶融塩電解槽の点検負荷を大幅に軽減することが可能である。
以下、本発明の一実施形態で用いられる塩素含有ガス回収機構を例示しながら各工程をそれぞれ説明する。
塩素含有ガス回収機構は、塩素含有ガスを回収する。塩素含有ガス回収機構は溶融塩電解槽に接続されてよい。塩素含有ガス回収機構により回収された塩素含有ガスは、例えば塩化炉へ供給されて酸化チタンを含む鉱石及び炭素と接触し、スポンジチタンを生成する際に原料となる四塩化チタン含有ガスの生成に用いることができる。
図2に示す塩素含有ガス回収機構500は、レーザ式酸素ガス分析装置100と、フィルタ部300と、ガス流量測定部400とを備える。溶融塩電解槽200のガス回収口222(図4参照)は、ガス供給配管221に接続される。塩化マグネシウムの電気分解で生じた塩素ガスは溶融塩電解槽200内の溶融塩浴の対流により金属回収室240にも少量入り込むため、ガス回収口223は金属回収室240側にも設けられてよい。該ガス供給配管221には、上流側の溶融塩電解槽200から下流側に向かって、フィルタ部300、ガス流量測定部400、分岐部B、合流部J1の順にそれぞれ配置されている。ガス供給配管221は、そのガス供給配管221から分岐するガス供給分岐配管221aと、分岐部B及び合流部J1で接続されている。該ガス供給分岐配管221aには、分岐部Bから合流部J1に向かって、バルブV1、レーザ式酸素ガス分析装置100、バルブV2の順にそれぞれが配置されている。
なお、ガス供給配管221は、最下流側において塩化炉(不図示)若しくは塩素含有ガス用タンク(不図示)と接続されてよいし、又は下流側に向かって塩素含有ガス用タンク、塩化炉の順に接続されてよい。
なお、図2に示す塩素含有ガス回収機構500は1つの溶融塩電解槽200に接続されているが、複数の溶融塩電解槽200、250(図5参照)に接続されていてもよい。
レーザ式酸素ガス分析装置100は、近赤外線吸収分光法により流動状態の分析用塩素含有ガス中の酸素ガス濃度を測定する。該レーザ式酸素ガス分析装置100において近赤外線吸収分光法を用いているので、塩素含有ガスの成分を変化させることなく、塩素含有ガス中の酸素ガス濃度を定量的に測定することができる。なお、一実施形態における塩化マグネシウムの溶融塩電解では、気体として塩素が発生し、また、塩素含有ガスには、その塩素及び外気以外の気体はほぼ流入されない。したがって、該塩化マグネシウムの溶融塩電解においては、塩素含有ガス中の酸素ガス濃度を測定すれば、外気の成分構成比率から、溶融塩電解槽200内に流入した外気由来の窒素等の濃度も求めることができる。
発光部110は、光管路140の端部に設けられ、測定セル130内を流動する分析用塩素含有ガスXに近赤外光を照射する。発光部110から照射される近赤外光は、酸素を吸収する波長を含む光である。なお、光管路140は、該光管路140内への汚れた空気の導入を遮断するために窒素等の浄化ガスYを導入する浄化ガス導入口142と、その浄化ガスYを導出する浄化ガス導出口144が設けられてよい。
受光部120は、光管路150の端部に設けられ、測定セル130内を流動する分析用塩素含有ガスXを透過した近赤外光を受光する。なお、光管路150は、該光管路150内への汚れた空気の導入を遮断するために窒素等の浄化ガスYを導入する浄化ガス導入口152と、その浄化ガスYを導出する浄化ガス導出口154が設けられてよい。
測定セル130は、分析用塩素含有ガスがその内部を連続的に流通しており、分岐部で分岐された分析用塩素含有ガスXを導入する塩素含有ガス導入口132と、その分析用塩素含有ガスXを導出する塩素含有ガス導出口134と、光管路140、150と接続された取付フランジ136、138とを有する。
なお、レーザ式酸素ガス分析装置100は、演算処理機構(不図示)を更に備えてよい。該演算処理機構は、例えば受信部と、演算処理部と、表示部とを有してよい。受信部は、受光部120のレーザ検出器で受光した近赤外光に応じた酸素分子の吸収量を受信する。演算処理部は、レーザ光源の近赤外光の照射量と近赤外光に応じた酸素分子の吸収量とに基づき、測定セル130内の分析用塩素含有ガスX中の酸素ガス濃度を演算する。該酸素ガス濃度は、分析用塩素含有ガスX源である塩素含有ガス中の酸素ガス濃度に相当する。表示部は、演算処理部で演算された酸素ガス濃度をモニタ等の画面に表示する。
図4に示す溶融塩電解槽200では、内部に供給された塩化マグネシウムを含む溶融塩からなる溶融塩浴が保持されており、溶融塩中の塩化マグネシウム等の特定の金属塩化物を電気分解する。例えば、塩化マグネシウムの電気分解により溶融金属マグネシウム及び塩素ガスが生成される。溶融塩電解槽200はその内側に塩化マグネシウムが含まれる溶融塩浴が形成され、上方に開口部を有する外壁210と、該外壁210の開口部を閉じる上蓋220と、流通口236を有する隔壁235で区画される電解室230および金属回収室240とを備える。該電解室230での電気分解により得られる溶融金属Mが金属回収室240に流入する。該電解室230は、電気分解に用いられる電極231(陽極231a、陰極231b)が配置されている。該上蓋220は、電解分解により発生した塩素含有ガスを回収するためのガス回収口222、223と、溶融金属Mを回収するための溶融金属回収口224と、電気分解で消費された塩化マグネシウム等の溶融塩を追い注ぎ(チャージ)するための溶融塩供給口226とを有する。図4では溶融金属回収口224と溶融塩供給口226とを別構成としているが、これらの機能を備える一つの開口を設けることとしてもよい。該ガス回収口222、223は、ガス供給配管221(図2参照)に接続されている。
フィルタ部300は、取り入れた塩素含有ガス中の微粉(金属マグネシウム、塩化マグネシウム、溶融塩浴成分、微小スラッジを含む不純物等)を捕集する。これにより、ガス流量測定部400における塩素含有ガスの流量及びレーザ式酸素ガス分析装置100における分析用塩素含有ガス中の酸素ガス濃度をより高い精度にて測定可能となる。なお、フィルタ部300としては、ダストチャンバやバグフィルタ等の除塵装置を使用すればよい。
ガス流量測定部400は、ガス供給配管221を流れる塩素含有ガスの流量を測定する。ここでは、公知の流量計を使用可能である。
前処理ステップS101においては、塩素含有ガス中の微粉をダストチャンバやバグフィルタ等の除塵装置で予め捕集する。より具体的には、溶融塩電解槽200内の塩化マグネシウムを含有する溶融塩浴で電気分解により生成された塩素含有ガスがガス供給配管221から、フィルタ部300に流入する。該フィルタ部300においては、塩素含有ガス中の微粉が、塩素含有ガスの流量の測定に先立って予め捕集される。その結果、近赤外光を遮断及び/又は反射しうる微粉が低減されるので、酸素ガス濃度測定ステップS104における分析用塩素含有ガス中の酸素ガス濃度の測定の精度をより一層高めることが可能となる。
なお、前処理ステップS101は、酸素ガス濃度測定ステップS104前に実施すればよく、すなわち先述したガス流量測定ステップS102前の他に、ガス流量測定ステップS102とガス分岐ステップS103との間、又はガス分岐ステップS103と酸素ガス濃度測定ステップS104との間に実施してもよい。
ガス流量測定ステップS102においては、ガス流量測定部400で塩素含有ガスの流量を測定する。該塩素含有ガスの流量は、溶融塩電解の電流効率を求めるためのパラメータとして使用可能である。求められた該電流効率から金属マグネシウムの生産性を推測することができる。ガス流量を測定するための流量計は特段限定されず、公知のものを適宜使用可能である。
ガス分岐ステップS103は、塩素含有ガスの一部を分析用塩素含有ガスとして分岐させて流す。より具体的には、バルブV1を開いてガス供給配管221を流れる塩素含有ガスの一部を分岐させ、その一部を分析用塩素含有ガスとしてガス供給分岐配管221aへ流す。
酸素ガス濃度測定ステップS104は、レーザ式酸素ガス分析装置100にて流動状態の分析用塩素含有ガスを近赤外線吸収分光法により分析し、分析用塩素含有ガス中の酸素ガス濃度を測定する。分析用塩素含有ガス中の酸素ガス濃度は、ガス供給配管221等を流れる塩素含有ガスの酸素ガス濃度と同程度とみなすことができる。つまり、酸素ガス濃度測定ステップS104により、塩素含有ガスの酸素ガス濃度を測定できる。
一実施形態においては、該塩素含有ガス中の酸素ガス濃度が1質量%以下と微量であっても酸素を検知できる。これにより、溶融塩電解槽200の上蓋220に設けられた開口部を閉じる蓋の配置不良、陽極目地のシール不良等を速やかに把握できる場合がある。例えば、この配置不良は金属マグネシウムの回収後や塩化マグネシウムのチャージ後に起こるため、この場合は蓋を開けて一旦高くなった酸素ガス濃度が長時間にわたり元の値に戻らないという状態になる。また、陽極目地のシール不良は金属マグネシウムの回収や塩化マグネシウムのチャージとは無関係に生じうるため、この場合は酸素ガス濃度上昇の開始時点が蓋の開放とは異なる。上記のような不具合や不良を速やかに把握できれば溶融塩電解槽200の早期の修繕が可能であり、これにより金属マグネシウムの汚染を抑制し、その結果として金属マグネシウムの製造の歩留りを高く維持することが可能となる。
ガス合流ステップS105においては、塩素含有ガスから分岐された分析用塩素含有ガスを塩素含有ガスに合流部J1にて合流させる。具体的に、ガス供給分岐配管221aに配置したレーザ式酸素ガス分析装置100で酸素ガス濃度を測定した分析用塩素含有ガスは、ガス供給配管221を流れる塩素含有ガスと合流部J1で合流する。なお、一実施形態において、レーザ式酸素ガス分析装置100では近赤外光を用いているので、塩素含有ガスと分析用塩素含有ガスとが合流しても塩素含有ガスの組成は変わらない。
そして、合流後の塩素含有ガスは、塩化炉に供給され、又は塩素含有ガス用タンクに回収される。
本発明に係る電流効率の演算方法においては、先述した塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法により、ガス流量測定ステップS102で得られた塩素含有ガスの流量と、酸素ガス濃度測定ステップS104で得られた該塩素含有ガス中の酸素ガス濃度とを用いて、塩化マグネシウムの溶融塩電解の電流効率を求めることを含む。
溶融塩電解槽を使用した塩化マグネシウム等金属塩化物の電気分解では高濃度の塩素ガスが得られる。他方、溶融塩電解槽内は外環境に対して負圧とされているため、塩素ガスは少量の外気を含みうる。そこで、塩素含有ガス中の塩素ガス濃度とその流量を得ることができれば塩素ガスの総量が求まり、MgCl2→Mg+Cl2の反応式に基づき電気分解の状況を把握できる。他方、電極に流した電流量から、塩素ガスや金属マグネシウムの理論生成量を得ることができる。よって、この理論値と上記塩素ガスの総量とから電気分解の電流効率を得ることができる。この電流効率を連続的に監視すれば、溶融塩電解槽内で電気分解が効率的に進行しているか把握可能となる。
塩素含有ガスには外気が含まれうるが、その他のガスはほぼ混入されない。そのため、上記塩素含有ガスに含まれる塩素ガス濃度は外気の濃度を差し引く方法で求めることができる。外気は酸素ガスと窒素ガスを一定の割合で含むため、酸素ガス濃度が得られれば外気の濃度を得ることができる。
本発明に係る金属マグネシウムの製造方法の一実施形態においては、溶融塩電解槽200内で塩化マグネシウムの溶融塩電解により金属マグネシウムを生成する生成工程を含む。該生成工程は、先述した塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法により、溶融塩電解槽内への外気の流入を監視することを有する。例えば、監視中、塩素含有ガス中の酸素ガス濃度が上昇したことを確認した場合、溶融塩電解槽200内に外気が流入したものと判断される。この原因としては、溶融塩電解槽200の上蓋220に設けられた開口部を閉じる蓋の配置不良及び溶融塩電解槽200の陽極231aと上蓋220の間のシール不良等が想定される。仮に溶融塩電解槽200の上蓋220に設けられた開口部を閉じる蓋が配置不良である場合、外壁の開口部から外気が混入し、塩素含有ガス中の酸素ガス濃度が高くなるので、電解効率の値が正常時と比べ低くなりうる。また、溶融塩電解槽200の陽極231aと上蓋220の間のシール不良が生じている場合、そのシールされていない陽極と上蓋の間から外気が混入し、塩素含有ガス中の酸素ガス濃度が高くなるので、電解効率の値が正常時と比べ低くなりうる。
まず、図5に示した塩素含有ガス回収機構550を設置した。塩素含有ガス回収機構550は、近赤外光の吸収を検知するためのレーザ式酸素ガス分析装置100(レーザ式ガス濃度計、NEO Monirors AS社製)、フィルタ部300、ガス流量測定部400、バルブV1、V2、合流部J1、J2、分岐部B、ガス供給配管221、271、ガス供給分岐配管221aで構成されるものとし、該ガス供給配管221は最下流側にて塩化炉(不図示)と接続した。ガス供給配管221、271はそれぞれ溶融塩電解槽200、250の各ガス回収口222、223に接続されており、溶融塩電解槽200、250はいずれも図4に示すものと同様の構成を有するものとした。ガス供給配管271は溶融塩電解槽200とフィルタ部300との間に配置した合流部J2でガス供給配管221に接続した。
また、溶融塩電解槽200、250の操業開始時から14時間経過時から約5時間、塩素含有ガス中の酸素ガス濃度が0.7質量%以上となる上昇を繰り返していた。そこで、操業中の溶融塩電解槽200、250を確認した結果、操業開始時から12時間経過時の追い注ぎではその作業後に溶融塩供給口226の蓋が完全に閉まっていなかったことが確認された。操業開始時から19時間経過時に実施した追い注ぎの作業後は蓋を完全に閉めたことで、その後酸素ガス濃度が0.1質量%以下に戻っていった。
実施例1において、塩化マグネシウムの溶融塩電解で発生した塩素含有ガス中の酸素ガス濃度の上昇を速やかに把握することで、溶融塩の追い注ぎ時における溶融塩電解槽200、250内への外気の流入と溶融塩供給口の蓋を完全に閉めていないことによる溶融塩電解槽200、250内への外気の流入とをそれぞれ検知することができた。その結果、実施例1においては、溶融塩電解槽200、250の点検負荷も大幅に軽減することができると推察される。したがって、実施例1によれば、酸素ガス濃度測定ステップにおいて流動状態の分析用塩素含有ガスを近赤外線吸収分光法により分析し、塩素含有ガス中の酸素ガス濃度を測定することが有用であるといえる。
110 発光部
120 受光部
130 測定セル
132 塩素含有ガス導入口
134 塩素含有ガス導出口
136、138 取付フランジ
140、150 光管路
142、152 浄化ガス導入口
144、154 浄化ガス導出口
200、250 溶融塩電解槽
210 外壁
220 上蓋
221、271 ガス供給配管
221a ガス供給分岐配管
222、223 ガス回収口
224 溶融金属回収口
226 溶融塩供給口
230 電解室
231 電極
231a 陽極
231b 陰極
235 隔壁
236 流通口
240 金属回収室
300 フィルタ部
400 ガス流量測定部
500、550 塩素含有ガス回収機構
B 分岐部
J1、J2 合流部
M 溶融金属
S101 前処理ステップ
S102 ガス流量測定ステップ
S103 ガス分岐ステップ
S104 酸素ガス濃度測定ステップ
S105 ガス合流ステップ
V1、V2 バルブ
X 分析用塩素含有ガス
Y 浄化ガス
Claims (8)
- 塩素含有ガス中の酸素ガス濃度を測定する塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法であって、
流動状態の分析用塩素含有ガスを近赤外線吸収分光法により分析し、塩素含有ガス中の酸素ガス濃度を測定する酸素ガス濃度測定ステップを含み、
前記塩素含有ガスは、塩化マグネシウムの溶融塩電解で生成される、塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法。 - 前記酸素ガス濃度測定ステップ前に、塩素含有ガスの一部を前記分析用塩素含有ガスとして分岐させて流すガス分岐ステップと、
前記酸素ガス濃度測定ステップ後に、前記分析用塩素含有ガスを前記塩素含有ガスに合流させるガス合流ステップを更に含む、請求項1に記載の塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法。 - 前記ガス分岐ステップ前に、前記塩素含有ガスの流量を測定するガス流量測定ステップを更に含む、請求項2に記載の塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法。
- 前記酸素ガス濃度測定ステップ前に、前記塩素含有ガス中の微粉を予め捕集する前処理ステップを更に含む、請求項1又は2に記載の塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法。
- 前記酸素ガス濃度測定ステップ前に、前記塩素含有ガス中の微粉を予め捕集する前処理ステップを更に含む、請求項3に記載の塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法。
- 前記ガス流量測定ステップ前に、前記塩素含有ガス中の微粉を予め捕集する前処理ステップを更に含む、請求項3に記載の塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法。
- 請求項3、5及び6のいずれか一項に記載の塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法により、前記ガス流量測定ステップで得られた塩素含有ガスの流量と、前記酸素ガス濃度測定ステップで得られた該塩素含有ガス中の酸素ガス濃度とを用いて、塩化マグネシウムの溶融塩電解の電流効率を求めることを含む、電流効率の演算方法。
- 溶融塩電解槽内で塩化マグネシウムの溶融塩電解により金属マグネシウムを生成する生成工程を含む金属マグネシウムの製造方法であって、
該生成工程においては、請求項1~6のいずれか一項に記載の塩素含有ガス中の酸素ガス濃度測定方法により、前記溶融塩電解槽内への外気の流入を監視することを含む、金属マグネシウムの製造方法。
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