JP7501264B2 - 異常検出装置、異常検出プログラム、および異常検出システム - Google Patents
異常検出装置、異常検出プログラム、および異常検出システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP7501264B2 JP7501264B2 JP2020154964A JP2020154964A JP7501264B2 JP 7501264 B2 JP7501264 B2 JP 7501264B2 JP 2020154964 A JP2020154964 A JP 2020154964A JP 2020154964 A JP2020154964 A JP 2020154964A JP 7501264 B2 JP7501264 B2 JP 7501264B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- anomaly
- depth
- candidate
- images
- processing unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/20—Analysis of motion
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/55—Depth or shape recovery from multiple images
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/70—Determining position or orientation of objects or cameras
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/20—Special algorithmic details
- G06T2207/20081—Training; Learning
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30164—Workpiece; Machine component
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
実施形態の技術は、たとえば車両のパーツのような各種の対象の外観検査に利用される。外観検査のための技術の一つとして、従来、対象を撮像することで得られる撮像画像から算出される2次元的な特徴に基づいて、対象の異常を検出する技術が知られている。
上述した実施形態では、いわゆる1軸回転ステージとして構成されたステージ10によって固定された撮像装置20に対する対象Xの姿勢を移動させることで撮像装置20と対象Xとの相対的な姿勢の関係を変更する構成が例示されている。しかしながら、本開示の技術は、いわゆる2軸回転ステージにより対象Xの姿勢を移動させる構成にも適用可能であるし、対象Xの姿勢に加えて位置を移動させる構成にも適用可能である。さらに、本開示の技術は、いわゆる1軸直動ステージにより対象Xの位置のみを移動させる構成にも適用可能である。
30 異常検出装置
310 取得処理部
320 抽出処理部
321 抽出モデル
330 推定処理部
331 推定モデル
340 検出処理部
Claims (10)
- 対象がそれぞれ異なる位置または姿勢で写りこむように撮像装置により撮像された複数の撮像画像を、当該複数の撮像画像の各々における前記撮像装置と前記対象との相対的な位置または姿勢の関係を特定可能な態様で取得する取得処理部と、
前記複数の撮像画像から、前記対象の表面の異常に該当する可能性がある異常候補が写りこんでいる複数の異常候補画像を抽出する抽出処理部と、
前記複数の異常候補画像の間における前記異常候補の変化に基づいて、前記複数の異常候補画像の各々の前記異常候補の前記対象の表面に対する深度を推定する推定処理部と、
前記複数の異常候補画像の各々の前記異常候補の前記深度に基づいて、前記異常候補が前記異常に該当するか否かを検出する検出処理部と、
を備える、異常検出装置。 - 前記抽出処理部は、前記複数の撮像画像の入力に応じて前記複数の異常候補画像を出力するように機械学習によりトレーニングされた抽出モデルを用いて、前記複数の撮像画像から前記複数の異常候補画像を抽出し、
前記推定処理部は、前記複数の異常候補画像の入力に応じて前記複数の異常候補画像の各々の前記異常候補の前記深度を出力するように機械学習によりトレーニングされた推定モデルを用いて、前記複数の異常候補画像の各々の前記異常候補の前記深度を推定する、
請求項1に記載の異常検出装置。 - 前記推定処理部は、前記異常候補の前記深度として、前記異常候補の内側の第1領域の前記対象の表面に対する深度を示す第1深度を取得し、
前記検出処理部は、前記複数の異常候補画像の各々の前記第1深度に基づいて、前記異常候補が前記異常に該当するか否かを検出する、
請求項1または2に記載の異常検出装置。 - 前記検出処理部は、前記第1深度と所定の閾値との比較に基づいて、前記異常候補が前記異常に該当するか否かを検出する、
請求項3に記載の異常検出装置。 - 前記推定処理部は、前記異常候補の前記深度として、前記異常候補の内側の第1領域の前記対象の表面に対する深度を示す第1深度と、前記異常候補の周囲の第2領域の前記対象の表面に対する深度を示す第2深度と、を取得し、
前記検出処理部は、前記第1深度と前記第2深度とに基づいて、前記異常候補が前記異常に該当するか否かを検出する、
請求項1~4のうちいずれか1項に記載の異常検出装置。 - 前記検出処理部は、前記第1深度と前記第2深度との差分に基づいて、前記異常候補が前記異常に該当するか否かを検出する、
請求項5に記載の異常検出装置。 - 前記検出処理部は、前記第1深度と前記第2深度との差分の平均値または積分値に基づいて、前記異常候補が前記異常に該当するか否かを検出する、
請求項6に記載の異常検出装置。 - 前記取得処理部は、前記撮像装置および前記対象のうち少なくとも一方の位置または姿勢が一定の速度で連続的に変化している中で一定の時間間隔で前記対象を撮像した前記撮像装置から前記複数の撮像画像を取得する、
請求項1~7のうちいずれか1項に記載の異常検出装置。 - 対象がそれぞれ異なる位置または姿勢で写りこむように撮像装置により撮像された複数の撮像画像を、当該複数の撮像画像の各々における前記撮像装置と前記対象との相対的な位置または姿勢の関係を特定可能な態様で取得する取得ステップと、
前記複数の撮像画像から、前記対象の表面の異常に該当する可能性がある異常候補が写りこんでいる複数の異常候補画像を抽出する抽出ステップと、
前記複数の異常候補画像の間における前記異常候補の変化に基づいて、前記複数の異常候補画像の各々の前記異常候補の前記対象の表面に対する深度を推定する推定ステップと、
前記複数の異常候補画像の各々の前記異常候補の前記深度に基づいて、前記異常候補が前記異常に該当するか否かを検出する検出ステップと、
をコンピュータに実行させるための、異常検出プログラム。 - 対象を撮像する撮像装置と、
前記対象がそれぞれ異なる位置または姿勢で写りこむように前記撮像装置により撮像された複数の撮像画像を、当該複数の撮像画像の各々における前記撮像装置と前記対象との相対的な位置または姿勢の関係を特定可能な態様で取得する取得処理部と、前記複数の撮像画像から、前記対象の表面の異常に該当する可能性がある異常候補が写りこんでいる複数の異常候補画像を抽出する抽出処理部と、前記複数の異常候補画像の間における前記異常候補の変化に基づいて、前記複数の異常候補画像の各々の前記異常候補の前記対象の表面に対する深度を推定する推定処理部と、前記複数の異常候補画像の各々の前記異常候補の前記深度に基づいて、前記異常候補が前記異常に該当するか否かを検出する検出処理部と、を含む異常検出装置と、
を備える、異常検出システム。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020154964A JP7501264B2 (ja) | 2020-09-15 | 2020-09-15 | 異常検出装置、異常検出プログラム、および異常検出システム |
| US17/402,925 US12051184B2 (en) | 2020-09-15 | 2021-08-16 | Abnormality detection device, abnormality detection computer program product, and abnormality detection system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020154964A JP7501264B2 (ja) | 2020-09-15 | 2020-09-15 | 異常検出装置、異常検出プログラム、および異常検出システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2022048904A JP2022048904A (ja) | 2022-03-28 |
| JP7501264B2 true JP7501264B2 (ja) | 2024-06-18 |
Family
ID=80626904
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2020154964A Active JP7501264B2 (ja) | 2020-09-15 | 2020-09-15 | 異常検出装置、異常検出プログラム、および異常検出システム |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12051184B2 (ja) |
| JP (1) | JP7501264B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023210745A1 (ja) * | 2022-04-27 | 2023-11-02 | 旭化成株式会社 | 検査システム、検査方法、学習方法、及びプログラム |
| WO2025140608A1 (en) * | 2023-12-27 | 2025-07-03 | Shanghai United Imaging Healthcare Co., Ltd. | Medical imaging methods and systems |
| JP2025145429A (ja) * | 2024-03-21 | 2025-10-03 | 株式会社東京精密 | 自己位置推定装置及び自己位置推定方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001296252A (ja) | 2000-04-11 | 2001-10-26 | Matsushita Electric Works Ltd | 物体表面の欠陥検出方法およびその装置 |
| JP2014025809A (ja) | 2012-07-26 | 2014-02-06 | Jfe Steel Corp | 疵検出方法および疵検出装置 |
| JP2020008501A (ja) | 2018-07-11 | 2020-01-16 | 日本製鉄株式会社 | 表面欠陥検出装置及び表面欠陥検出方法 |
| CN111598877A (zh) | 2020-05-18 | 2020-08-28 | 河北工业大学 | 一种基于生成对抗网络的锂电池表面缺陷检测方法 |
Family Cites Families (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11326580A (ja) * | 1998-05-15 | 1999-11-26 | Toshiba Corp | シュラウド自動検査装置 |
| JP2002168793A (ja) * | 2000-11-30 | 2002-06-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | 表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法 |
| JP4905707B2 (ja) * | 2007-07-06 | 2012-03-28 | 東洋製罐株式会社 | シート状物の検査方法及び検査装置 |
| US8615125B2 (en) * | 2010-10-08 | 2013-12-24 | Omron Corporation | Apparatus and method for inspecting surface state |
| US20150302594A1 (en) * | 2013-07-12 | 2015-10-22 | Richard H. Moore | System and Method For Object Detection Using Structured Light |
| DE102013109915B4 (de) * | 2013-09-10 | 2015-04-02 | Thyssenkrupp Steel Europe Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung eines Inspektionssystems zur Erkennung von Oberflächendefekten |
| CA3013438C (en) * | 2013-12-27 | 2020-07-14 | Jfe Steel Corporation | Surface defect detecting method and surface defect detecting apparatus |
| JP6287248B2 (ja) * | 2014-01-22 | 2018-03-07 | 大日本印刷株式会社 | 外観検査装置、外観検査方法、及び、プログラム |
| JP2017040559A (ja) | 2015-08-20 | 2017-02-23 | 株式会社カネカ | 表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法 |
| WO2017171651A1 (en) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | Agency For Science, Technology And Research | System and method for imaging a surface defect on an object |
| DE102016114190A1 (de) * | 2016-08-01 | 2018-02-01 | Schott Schweiz Ag | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung transparenter Körper |
| US20180122060A1 (en) * | 2016-11-02 | 2018-05-03 | Rolls-Royce Corporation | Automated inspection protocol for composite components |
| JP6997541B2 (ja) * | 2017-05-31 | 2022-01-17 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置、画像検査プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 |
| JP6967373B2 (ja) * | 2017-05-31 | 2021-11-17 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置 |
| JP6922539B2 (ja) * | 2017-08-09 | 2021-08-18 | 日立金属株式会社 | 表面欠陥判定方法および表面欠陥検査装置 |
| JP2019082452A (ja) * | 2017-10-31 | 2019-05-30 | キヤノン株式会社 | 画像生成方法、画像生成装置、及びそれらを用いた欠陥判定方法 |
| US10346969B1 (en) * | 2018-01-02 | 2019-07-09 | Amazon Technologies, Inc. | Detecting surface flaws using computer vision |
| WO2019177539A1 (en) * | 2018-03-14 | 2019-09-19 | Agency For Science, Technology And Research | Method for visual inspection and apparatus thereof |
| US11049233B2 (en) * | 2019-01-14 | 2021-06-29 | Ford Global Technologies, Llc | Systems and methods for detecting and reporting vehicle damage events |
| US11669947B2 (en) * | 2019-02-12 | 2023-06-06 | Toyota Motor North America, Inc. | Machine learning assisted image analysis |
| JP2020187657A (ja) * | 2019-05-16 | 2020-11-19 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置 |
| US11222418B2 (en) * | 2019-07-25 | 2022-01-11 | Palo Alto Research Center Incorporated | System and method for automated surface assessment |
| WO2021178645A1 (en) * | 2020-03-05 | 2021-09-10 | Crc-Evans Pipeline International, Inc. | System and method for detection of anomalies in welded structures |
| KR102148884B1 (ko) * | 2020-04-02 | 2020-08-27 | 주식회사 애자일소다 | 차량의 손상 분석 시스템 및 방법 |
| KR102268909B1 (ko) * | 2020-04-10 | 2021-06-23 | 코그넥스코오포레이션 | Edge Field와 딥러닝 기반 검사 방법 |
-
2020
- 2020-09-15 JP JP2020154964A patent/JP7501264B2/ja active Active
-
2021
- 2021-08-16 US US17/402,925 patent/US12051184B2/en active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001296252A (ja) | 2000-04-11 | 2001-10-26 | Matsushita Electric Works Ltd | 物体表面の欠陥検出方法およびその装置 |
| JP2014025809A (ja) | 2012-07-26 | 2014-02-06 | Jfe Steel Corp | 疵検出方法および疵検出装置 |
| JP2020008501A (ja) | 2018-07-11 | 2020-01-16 | 日本製鉄株式会社 | 表面欠陥検出装置及び表面欠陥検出方法 |
| CN111598877A (zh) | 2020-05-18 | 2020-08-28 | 河北工业大学 | 一种基于生成对抗网络的锂电池表面缺陷检测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US12051184B2 (en) | 2024-07-30 |
| JP2022048904A (ja) | 2022-03-28 |
| US20220084190A1 (en) | 2022-03-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP7501264B2 (ja) | 異常検出装置、異常検出プログラム、および異常検出システム | |
| JP2018018489A (ja) | 顔検出追跡方法、顔検出追跡装置、ロボット頭部の回動制御方法及びロボット頭部の回動制御システム | |
| JP6217635B2 (ja) | 転倒検知装置および転倒検知方法、転倒検知カメラ、並びにコンピュータ・プログラム | |
| US20150116543A1 (en) | Information processing apparatus, information processing method, and storage medium | |
| JPWO2020044725A1 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
| KR20170064652A (ko) | 에고모션 추정 시스템 및 방법 | |
| JP6813025B2 (ja) | 状態判定装置、状態判定方法、及びプログラム | |
| JPWO2010109831A1 (ja) | ドライブレコーダ | |
| KR100944094B1 (ko) | 품질 검사 로봇 및 방법 | |
| JP6777150B2 (ja) | 劣化検出装置、劣化検出方法、及びプログラム | |
| JP2023008416A (ja) | 異常検知システムおよび異常検知方法 | |
| JP2020102245A (ja) | 異常作業検出システムおよび異常作業検出方法 | |
| JP7608997B2 (ja) | 異常検査システム、異常検査方法及びプログラム | |
| CN112775961A (zh) | 控制装置、控制装置的控制方法以及控制系统 | |
| JP2010025597A (ja) | 欠陥検出装置、欠陥検出方法およびプログラム | |
| US11188053B2 (en) | Computer system, operation verification method, and program | |
| JP4627711B2 (ja) | 動き領域検出システム、動き領域検出方法、及び動き領域検出プログラム | |
| JPWO2023170912A5 (ja) | 情報処理装置、生成方法、情報処理方法、及びプログラム | |
| KR20240024634A (ko) | 로봇의 위치 추정 방법 및 장치 | |
| JP5419925B2 (ja) | 通過物体数計測方法、通過物体数計測装置、及びプログラム | |
| JP7827844B2 (ja) | 対象領域抽出装置、方法、及びシステム | |
| KR101087863B1 (ko) | 구조 광 패턴을 이용한 영상의 경계를 결정하는 방법, 이러한 방법이 기록된 기록매체 및 구조 광 패턴을 이용한 영상의 경계 인식 시스템 | |
| JPWO2020255645A1 (ja) | 3次元データ更新装置、顔向き推定装置、3次元データ更新方法およびプログラム | |
| JP2007249743A (ja) | 移動物体の識別方法、移動物体の識別装置、及び移動物体の識別処理を実行させるプログラム | |
| US20240302182A1 (en) | Mapping system and method of using |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230712 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240422 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240507 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240520 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7501264 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |