JPH01100052A - 強誘電性磁器組成物及びそれを利用した圧電素子 - Google Patents
強誘電性磁器組成物及びそれを利用した圧電素子Info
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- JPH01100052A JPH01100052A JP63165274A JP16527488A JPH01100052A JP H01100052 A JPH01100052 A JP H01100052A JP 63165274 A JP63165274 A JP 63165274A JP 16527488 A JP16527488 A JP 16527488A JP H01100052 A JPH01100052 A JP H01100052A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は強誘電性磁器組成物、特に、電気機械結合係数
が大きく、低温焼結可能な強誘電性磁器組成物およびそ
れを利用した圧電素子に関する。
が大きく、低温焼結可能な強誘電性磁器組成物およびそ
れを利用した圧電素子に関する。
(従来の技術)
一般に、磁器圧電材料は加工性、量産性および特性に優
れていることから、フィルター、圧電ブザー、バイモル
フなど圧電素子に応用されているが、この種の圧電材料
としては、チタン酸鉛系強誘電性磁器およびチタン酸ジ
ルコン酸鉛系強誘電性磁器が実用に供されている。
れていることから、フィルター、圧電ブザー、バイモル
フなど圧電素子に応用されているが、この種の圧電材料
としては、チタン酸鉛系強誘電性磁器およびチタン酸ジ
ルコン酸鉛系強誘電性磁器が実用に供されている。
しかし、これらの強誘電性磁器は、その成分として揮発
性のPbを含むためζ焼成時にPbOの一部が組成から
失われ易く、特性の再現性および均一性を図ることが困
難であった。しかも、焼結温度が1100℃以上と高い
ことから金属板等の基板と一体化した複合体を得ること
ができず、また電気機械結合係数が大きいためフィルタ
ーの帯域幅が広くなく、使用に際し一部安定性に欠ける
という問題があった。
性のPbを含むためζ焼成時にPbOの一部が組成から
失われ易く、特性の再現性および均一性を図ることが困
難であった。しかも、焼結温度が1100℃以上と高い
ことから金属板等の基板と一体化した複合体を得ること
ができず、また電気機械結合係数が大きいためフィルタ
ーの帯域幅が広くなく、使用に際し一部安定性に欠ける
という問題があった。
このため特開昭58−204579号公報にて、圧電セ
ラミックにケイ酸ガラス化合物、ソーダガラス化合物、
あるいは鉛ガラス化合物を1〜30wt%添加させるこ
とにより、フィルターの帯域幅を狭くし、安定度を向上
させた化合物入り圧電磁器が提案されている。
ラミックにケイ酸ガラス化合物、ソーダガラス化合物、
あるいは鉛ガラス化合物を1〜30wt%添加させるこ
とにより、フィルターの帯域幅を狭くし、安定度を向上
させた化合物入り圧電磁器が提案されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、前記ガラス化合物入り圧電磁器は、ガラ
ス化合物の添加により電気機械結合係数が著しく低下す
るため、エネルギー変換効率が低下するという問題があ
った。また、従来の強誘電性磁器組成物を広がり振動モ
ードのセラミック共振子に適用した場合、厚み縦振動で
あるスプリアス振動に起因する異常発振を生ずるという
間層もあった。
ス化合物の添加により電気機械結合係数が著しく低下す
るため、エネルギー変換効率が低下するという問題があ
った。また、従来の強誘電性磁器組成物を広がり振動モ
ードのセラミック共振子に適用した場合、厚み縦振動で
あるスプリアス振動に起因する異常発振を生ずるという
間層もあった。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、前記問題点を解決する手段として、鉛酸化物
含有強誘電性磁器組成物を主成分とし、副成分として一
般式:xPbO・yGeO2(x=1〜6゜y=t〜3
)で示されるガラス化合物を0.01〜30重量%含有
してなる強誘電性磁器組成物を提供するものである。
含有強誘電性磁器組成物を主成分とし、副成分として一
般式:xPbO・yGeO2(x=1〜6゜y=t〜3
)で示されるガラス化合物を0.01〜30重量%含有
してなる強誘電性磁器組成物を提供するものである。
主成分である鉛酸化物含有強誘電性磁器組成物としては
、チタン酸鉛系強誘電性磁器組成物、チタン酸ジルコン
酸鉛系強誘電性磁器組成物、メタニオブ酸鉛系強誘電性
磁器組成物および鉛含有複合ペロブスカイト系磁器組成
物が代表的なものとして挙げられるが、これらに限定さ
れるものではない。
、チタン酸鉛系強誘電性磁器組成物、チタン酸ジルコン
酸鉛系強誘電性磁器組成物、メタニオブ酸鉛系強誘電性
磁器組成物および鉛含有複合ペロブスカイト系磁器組成
物が代表的なものとして挙げられるが、これらに限定さ
れるものではない。
チタン酸鉛系強誘電性磁器組成物とは、真性および変性
チタン酸鉛を意味し、変性チタン酸鉛には、単純酸化物
であるCr1.Os、Nb*Os、Taxes、B i
t Os、MnO,など遷移元素酸化物を添加したも
の、pbサイトをMg、Ca、Sr、Ba等のアルカリ
土類金属やLa*Os、Nd、O,、YtO3等の希土
類で置・換したもの、およびPbTiOsの一部を後述
の一般式(1)〜(VI)で示される少なくとも一種の
複合ペロブスカイト化合物で置換した2成分系、3成分
系その他の多成分系磁器組成物あるいはこれらの組合わ
せたものが含まれる。
チタン酸鉛を意味し、変性チタン酸鉛には、単純酸化物
であるCr1.Os、Nb*Os、Taxes、B i
t Os、MnO,など遷移元素酸化物を添加したも
の、pbサイトをMg、Ca、Sr、Ba等のアルカリ
土類金属やLa*Os、Nd、O,、YtO3等の希土
類で置・換したもの、およびPbTiOsの一部を後述
の一般式(1)〜(VI)で示される少なくとも一種の
複合ペロブスカイト化合物で置換した2成分系、3成分
系その他の多成分系磁器組成物あるいはこれらの組合わ
せたものが含まれる。
また、チタン酸ジルコン酸鉛系強誘電性磁器組成物とは
、真性および変性チタン酸ジルコン酸鉛を意味し、変性
チタン酸ジルコン酸鉛には、Pb(Ti、Zr)Osに
CrtOs、Nb、05、Ta5ks、Bi。
、真性および変性チタン酸ジルコン酸鉛を意味し、変性
チタン酸ジルコン酸鉛には、Pb(Ti、Zr)Osに
CrtOs、Nb、05、Ta5ks、Bi。
01、M n Otなど金属酸化物を添加したもの、P
bサイトをMg、CB、Sr、Ba等のアルカリ土類金
属やI、atos、NdtOs、Y、03等の希土類で
置換したもの、およびPb(Ti、Zr)Osの一部を
下記−数式(I)〜(W)で示される少なくとも一種の
複合ペロブスカイト形化合物で置換した3成分系、4成
分系その他の多成分系磁器組成物あるいはこれらの組合
わせたものが含まれる。
bサイトをMg、CB、Sr、Ba等のアルカリ土類金
属やI、atos、NdtOs、Y、03等の希土類で
置換したもの、およびPb(Ti、Zr)Osの一部を
下記−数式(I)〜(W)で示される少なくとも一種の
複合ペロブスカイト形化合物で置換した3成分系、4成
分系その他の多成分系磁器組成物あるいはこれらの組合
わせたものが含まれる。
さらに、メタニオブ酸鉛系強誘電性磁器組成物とは、真
性および変性メタニオブ酸鉛を意味し、変性メタニオブ
酸鉛には、単純酸化物であるCrtOl、Nb*Os、
Taxes、Bit’s、M n Oxなど遷移元素酸
化物を添加したもの、Pbの一部をMg。
性および変性メタニオブ酸鉛を意味し、変性メタニオブ
酸鉛には、単純酸化物であるCrtOl、Nb*Os、
Taxes、Bit’s、M n Oxなど遷移元素酸
化物を添加したもの、Pbの一部をMg。
Ca、Sr、Ba等のアルカリ土類金属やLaw’s、
NdtOs、Y、03等の希土類で置換したもの、およ
びメタニオブ酸鉛に後述の一般式(I)〜(VI)で示
される少なくとも一種の複合ペロブスカイト化合物を添
加した2成分系、3成分系その他の多成分系のものが含
まれる。
NdtOs、Y、03等の希土類で置換したもの、およ
びメタニオブ酸鉛に後述の一般式(I)〜(VI)で示
される少なくとも一種の複合ペロブスカイト化合物を添
加した2成分系、3成分系その他の多成分系のものが含
まれる。
前記鉛含有複合ペロブスカイト系磁器組成物には、後述
の一般式(I)〜(’Vl)で示される鉛含有複合ペロ
ブスカイト化合物の他、それらの2種以上もしくはそれ
らの少なくとも一種と他の複合ペロブスカイト化合物と
からなる2成分系、3成分系その他の多成分系磁器組成
物が含まれる。例えば、P b(F et/ 3W l
/ 3)03、Pb(F er/lNb+/1)Osな
どの1成分系、Pb(Pe17 tNb+/ t)C)
+−Pb(F e、73W l/ 3) Oaなどの2
成分系、P b(Mn+/3Nbx/3)03− P
b(F e+/ tNbly1)03 Pb(Fet
/3W+/ 3)0!l、P b(Z n+/ 5Nb
ty 5)03−Pb(Fe+/lNb+/1)03−
Pb(Fe*/。
の一般式(I)〜(’Vl)で示される鉛含有複合ペロ
ブスカイト化合物の他、それらの2種以上もしくはそれ
らの少なくとも一種と他の複合ペロブスカイト化合物と
からなる2成分系、3成分系その他の多成分系磁器組成
物が含まれる。例えば、P b(F et/ 3W l
/ 3)03、Pb(F er/lNb+/1)Osな
どの1成分系、Pb(Pe17 tNb+/ t)C)
+−Pb(F e、73W l/ 3) Oaなどの2
成分系、P b(Mn+/3Nbx/3)03− P
b(F e+/ tNbly1)03 Pb(Fet
/3W+/ 3)0!l、P b(Z n+/ 5Nb
ty 5)03−Pb(Fe+/lNb+/1)03−
Pb(Fe*/。
W+/3)03などの3成分系複合ペロブスカイト化合
物などが挙げられる。
物などが挙げられる。
前記複合ペロブスカイト形化合物の代表的なものとして
は、 一般式(1): A”″(B″“l/ sB” !/
3)03で示される化合物、例えば、 Ba(Zr+1/5Nbti 5hos、Ba(Cd+
/3Nbt/3)03、Ba(Mg+/3Nbt/3)
03、S r(CaI25Nbt/3)Os、Pb(M
g+/3Nbt/3)03、Pb(Nit/5Nbt/
5)03、Pb(Mn+/aNt)t/5)Os、P
b(Mg+/1Tat/5)Os、Pb(Ni+/3T
at/JOs、Pb(CdI/3Nb、/、)0.;−
数式(It): A″“(B”l、1B”+/1)0
3で示される化合物、例えば、 Ba(Fe+/ tNb+/*)Os、BaCSc+y
tNbly *)Os、Ca(Cr+/ tNbly
1)Os、Pb(Fe+/ tNbly1)03、P
b(Fel/1TaI/*)03、Pb(Set/lN
b+/1)03、PbC3cl/1TaI/1)Os、
Pb(Yb+7 tNbly1)03、Pb(Yb+/
*Ta+7 *)Os、Pb(Lu+、z tNb1
7 *)03、Pb(I n+/1Ntl+/ *)O
s;−数式(III): A″4(B2″″t/lB
”“l/り03で示される化合物、例えば、 Pb(Cd+/xVL/り03、Pb(Mn+72wl
/1)03、Pb(Zn+/lWl/り03、P b(
Mg+/lWl/l)o s、Pb(Got/lWI/
*)03、Pb(Ni+/lWI/1)Os、P b(
ML/yTe+/1)Os、Pb(Mn+/lTe+/
1)03、Pb(Co+/*Tet/*)Os; −数式(IV): A” (B” t/sB” I/
*)03で示される化合物、例えば、Pb(Fet/
3Wl/ 3)03;−数式(■)’ ”+(B””
I/ tB44″l/1)03で示される化合物、例
えば、 Pb(Sn+/1sbt/1)Os、 La(Mg+/
*Ti+/*)03%Nd(Mg+/lTi+/*)O
s;及び、−数式(VI): (A“I/ *A”
I/ z)B’”03で示される化合物、例えば、 (Na+/lLa+/ t)TiOs、(Kl/ =L
a、7 *)TiOs、(Nap/ tcely t)
TiOs、CNa17 tNd+z *)Ti03、(
Nd+/lB i+/ りT io s、(Kl/ *
B1l1 t)TiOs、などが挙げられる。
は、 一般式(1): A”″(B″“l/ sB” !/
3)03で示される化合物、例えば、 Ba(Zr+1/5Nbti 5hos、Ba(Cd+
/3Nbt/3)03、Ba(Mg+/3Nbt/3)
03、S r(CaI25Nbt/3)Os、Pb(M
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5)03、Pb(Mn+/aNt)t/5)Os、P
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at/JOs、Pb(CdI/3Nb、/、)0.;−
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3で示される化合物、例えば、 Ba(Fe+/ tNb+/*)Os、BaCSc+y
tNbly *)Os、Ca(Cr+/ tNbly
1)Os、Pb(Fe+/ tNbly1)03、P
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b+/1)03、PbC3cl/1TaI/1)Os、
Pb(Yb+7 tNbly1)03、Pb(Yb+/
*Ta+7 *)Os、Pb(Lu+、z tNb1
7 *)03、Pb(I n+/1Ntl+/ *)O
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”“l/り03で示される化合物、例えば、 Pb(Cd+/xVL/り03、Pb(Mn+72wl
/1)03、Pb(Zn+/lWl/り03、P b(
Mg+/lWl/l)o s、Pb(Got/lWI/
*)03、Pb(Ni+/lWI/1)Os、P b(
ML/yTe+/1)Os、Pb(Mn+/lTe+/
1)03、Pb(Co+/*Tet/*)Os; −数式(IV): A” (B” t/sB” I/
*)03で示される化合物、例えば、Pb(Fet/
3Wl/ 3)03;−数式(■)’ ”+(B””
I/ tB44″l/1)03で示される化合物、例
えば、 Pb(Sn+/1sbt/1)Os、 La(Mg+/
*Ti+/*)03%Nd(Mg+/lTi+/*)O
s;及び、−数式(VI): (A“I/ *A”
I/ z)B’”03で示される化合物、例えば、 (Na+/lLa+/ t)TiOs、(Kl/ =L
a、7 *)TiOs、(Nap/ tcely t)
TiOs、CNa17 tNd+z *)Ti03、(
Nd+/lB i+/ りT io s、(Kl/ *
B1l1 t)TiOs、などが挙げられる。
副成分である一般式xPbO・yGeOzで示されるガ
ラス化合物としては、x=l〜e、y=t〜3の範囲か
ら選ばれた種々のものがあるが、例えば、PbO−Ge
O7、Pb5Gepa+、3PbO−GeOt、÷←←
→→÷−6PbO−Ge0tなどが挙げられる。
ラス化合物としては、x=l〜e、y=t〜3の範囲か
ら選ばれた種々のものがあるが、例えば、PbO−Ge
O7、Pb5Gepa+、3PbO−GeOt、÷←←
→→÷−6PbO−Ge0tなどが挙げられる。
(作用)
本発明は、主成分のチタン酸鉛系、チタン酸ジルコン酸
鉛系またはメタニオブ酸鉛系などの鉛酸化物を含む強誘
電性磁器組成物に、低融点で強誘電体性挙動を示す性質
を有する一般式:xPbO・yGeOz(x=1〜6.
y=1〜3)で示されるガラス化合物を添加し、液相焼
結により異相セラミックバルクを生成させることによっ
て、チタン酸鉛系、チタン酸ジルコン酸鉛系またはメタ
ニオブ酸鉛系磁器組成物が本来有する電気機械結合係数
を低下させることなく850〜1000℃の低温で焼結
させることを可能にし、それによって、従来、不可能で
あった金属板との一体焼結を可能にしたものである。
鉛系またはメタニオブ酸鉛系などの鉛酸化物を含む強誘
電性磁器組成物に、低融点で強誘電体性挙動を示す性質
を有する一般式:xPbO・yGeOz(x=1〜6.
y=1〜3)で示されるガラス化合物を添加し、液相焼
結により異相セラミックバルクを生成させることによっ
て、チタン酸鉛系、チタン酸ジルコン酸鉛系またはメタ
ニオブ酸鉛系磁器組成物が本来有する電気機械結合係数
を低下させることなく850〜1000℃の低温で焼結
させることを可能にし、それによって、従来、不可能で
あった金属板との一体焼結を可能にしたものである。
また、本発明に係る強誘電性磁器組成物は、スクリーン
印刷法、塗布法、プレス成形法、押出し成形法、シート
成形法、ホットプレス法など任意の方法で成形あるいは
加工でき、例えば、厚膜ペーストをスクリーン印刷法に
より金属板の表面に印刷し、焼結させることにより、一
体焼結型の圧電素子を得ることができる。
印刷法、塗布法、プレス成形法、押出し成形法、シート
成形法、ホットプレス法など任意の方法で成形あるいは
加工でき、例えば、厚膜ペーストをスクリーン印刷法に
より金属板の表面に印刷し、焼結させることにより、一
体焼結型の圧電素子を得ることができる。
副成分である一般式:xPbO−yGeo、で示される
化合物は、焼結温度を低下させるが、その含有量を0.
01〜30重量%としたのは、0.01重量%未満では
その効果がさほど期待できず、また、30重量%を越え
ると、焼結温度は低くなるが、電気機械結合係数の低下
が目立つようになるからである。特に、xPbO・yG
eo、(x=1〜6.y=1〜3)の含有量をo、t−
to重量%にすると、焼結温度が低く、かつ、電気機械
結合係数が大きな強誘電性磁器組成物が得られる。また
、x、yの値をx=1〜6.y=1〜3としたのは、低
温で溶融できてガラス化できるとともに、このガラス化
合物を熱処理して再結晶さ任ると強誘電体的性質を示す
からである。さらに、本発明に係る強誘電性磁器組成物
は、高抗折強度を示す。これは主成分中の酸化鉛とガラ
ス化合物中の酸化鉛との間に化学的結合力を生じ、粒界
での機械的強度が高められるからであると考えられる。
化合物は、焼結温度を低下させるが、その含有量を0.
01〜30重量%としたのは、0.01重量%未満では
その効果がさほど期待できず、また、30重量%を越え
ると、焼結温度は低くなるが、電気機械結合係数の低下
が目立つようになるからである。特に、xPbO・yG
eo、(x=1〜6.y=1〜3)の含有量をo、t−
to重量%にすると、焼結温度が低く、かつ、電気機械
結合係数が大きな強誘電性磁器組成物が得られる。また
、x、yの値をx=1〜6.y=1〜3としたのは、低
温で溶融できてガラス化できるとともに、このガラス化
合物を熱処理して再結晶さ任ると強誘電体的性質を示す
からである。さらに、本発明に係る強誘電性磁器組成物
は、高抗折強度を示す。これは主成分中の酸化鉛とガラ
ス化合物中の酸化鉛との間に化学的結合力を生じ、粒界
での機械的強度が高められるからであると考えられる。
以下、本発明の実施例について説明する。
(実施例1)
原料としてPbjO,、Tie、、Zr(L、およびN
btOsを用い、これらをPbTio、4aZro、5
tOs−1,Owt%NbtOsの組成を有する強誘電
性磁器が得られるように秤量し、その混合物を20時時
間式混合する。この混合物を脱水、乾燥し、850℃で
2時間仮焼した後、粉砕し、その仮焼粉末に有機バイン
ダを2〜5重量%加えて20時間混合して造粒する。こ
れをプレス成形にて厚さl〜1.5mmの薄板に成形し
た後、この薄板を1200℃で2時間焼成して強誘電性
磁器を得、これを粉砕した後、325メツシユのふるい
を通してPbTlo、4sZro、5tC)+−1、O
wt%NbtO5からなる強誘電性磁器粉末を調製する
。
btOsを用い、これらをPbTio、4aZro、5
tOs−1,Owt%NbtOsの組成を有する強誘電
性磁器が得られるように秤量し、その混合物を20時時
間式混合する。この混合物を脱水、乾燥し、850℃で
2時間仮焼した後、粉砕し、その仮焼粉末に有機バイン
ダを2〜5重量%加えて20時間混合して造粒する。こ
れをプレス成形にて厚さl〜1.5mmの薄板に成形し
た後、この薄板を1200℃で2時間焼成して強誘電性
磁器を得、これを粉砕した後、325メツシユのふるい
を通してPbTlo、4sZro、5tC)+−1、O
wt%NbtO5からなる強誘電性磁器粉末を調製する
。
また、これとは別に、原料としてPb3O4およびGe
Oxを用い、これらをxPbO−yGeoz(x=1
〜6,y= 1〜3)の組成となるように秤量し、その
混合物を16〜20時間湿式混合する。この混合物を脱
水、乾燥し、650℃で3時間仮焼した後、これを高純
度アルミするつぼに入れて875℃にて熔融させる。こ
の熔融物を純水中に投入し、急冷破砕して一般入:xP
bO・yGeos(x= 1〜6 。
Oxを用い、これらをxPbO−yGeoz(x=1
〜6,y= 1〜3)の組成となるように秤量し、その
混合物を16〜20時間湿式混合する。この混合物を脱
水、乾燥し、650℃で3時間仮焼した後、これを高純
度アルミするつぼに入れて875℃にて熔融させる。こ
の熔融物を純水中に投入し、急冷破砕して一般入:xP
bO・yGeos(x= 1〜6 。
y=t〜3)で示される組成のガラス化合物を得る。
このガラス化合物を乳鉢と乳棒で粉砕し、325メツシ
ユ以下の粉末を得る。これを650℃で3時間加熱して
再結晶化させた後、再び325メツシユのふるいを通し
てxPbO−yGeot(X= 1〜6、y=1〜3)
粉末を得る。
ユ以下の粉末を得る。これを650℃で3時間加熱して
再結晶化させた後、再び325メツシユのふるいを通し
てxPbO−yGeot(X= 1〜6、y=1〜3)
粉末を得る。
前記強誘電性磁器粉末をxPbO−yGeO2(x=1
〜6.F=1〜3)粉末と第1表に示す組成比で混合し
、その混合物に樹脂と溶剤からなる有機バインダを10
重量%混合して厚膜ペーストを調製した。この厚膜ペー
ストを直径20mm厚さ0.1mmの耐熱性金属、例え
ば、Ni−Cr系金属板の上に直径18IIII11の
円としてスクリーン印刷した後、第1表に示す温度で焼
成して50μ厚の一体焼結型の複合体を得た。゛ このセラミック表面に焼付法により銀電極を形成し、銀
電極と金属板の間に80℃で3〜4 kv/mmの直流
電圧を印加して30分間分極処理を行い、磁器圧電体の
試料とした。
〜6.F=1〜3)粉末と第1表に示す組成比で混合し
、その混合物に樹脂と溶剤からなる有機バインダを10
重量%混合して厚膜ペーストを調製した。この厚膜ペー
ストを直径20mm厚さ0.1mmの耐熱性金属、例え
ば、Ni−Cr系金属板の上に直径18IIII11の
円としてスクリーン印刷した後、第1表に示す温度で焼
成して50μ厚の一体焼結型の複合体を得た。゛ このセラミック表面に焼付法により銀電極を形成し、銀
電極と金属板の間に80℃で3〜4 kv/mmの直流
電圧を印加して30分間分極処理を行い、磁器圧電体の
試料とした。
各試料について、比誘電率(Cr)、円板の屈曲振動の
電気機械結合係数(Kv)を測定した。その結果を第1
表に示す。なお、第1表には、比較例として前記強誘電
性磁器粉末に副成分としてPb0−BtOi・5iOe
系ガラメガラス化 、 I wt%(比較例1)または
NatO’BtO3’5iOt系ガラス化合物5wt%
(比較例2)を添加して調製した厚膜ペーストを用いて
作成した試料についての結果も合わせて示しである。
電気機械結合係数(Kv)を測定した。その結果を第1
表に示す。なお、第1表には、比較例として前記強誘電
性磁器粉末に副成分としてPb0−BtOi・5iOe
系ガラメガラス化 、 I wt%(比較例1)または
NatO’BtO3’5iOt系ガラス化合物5wt%
(比較例2)を添加して調製した厚膜ペーストを用いて
作成した試料についての結果も合わせて示しである。
(実施例2)
実施例1でそれぞれ調製した強誘電性磁器粉末(P b
T io、4sZro、s*Os−1、Owt%Nbt
Os)をガラス化合物(5Pb0・3GeOt)の粉末
と第2表に示す組成比で配合し、これに有機バインダを
2〜3重量%加え20時間混合して造粒し、プレス成型
して1〜1.5mmX10nmX20+n+nの角板を
形成し、該角板を第2表に示す温度で2時間焼成して磁
器角板を得た。この磁器角板について3点曲げ試験法(
支持点間距離:11mm)により抗折強度を測定した。
T io、4sZro、s*Os−1、Owt%Nbt
Os)をガラス化合物(5Pb0・3GeOt)の粉末
と第2表に示す組成比で配合し、これに有機バインダを
2〜3重量%加え20時間混合して造粒し、プレス成型
して1〜1.5mmX10nmX20+n+nの角板を
形成し、該角板を第2表に示す温度で2時間焼成して磁
器角板を得た。この磁器角板について3点曲げ試験法(
支持点間距離:11mm)により抗折強度を測定した。
その結果も第2表に示す。
(実施例3)
原料としてPb5O4、Ti0t、ZrO,,5nOz
、5btOsおよびM n Otを用い、仮焼温度を9
00℃とした以外は実施例1と同様にして0.05Pb
(Sn、/lsb、/1)03−0.47PbTiO1
−0,48PbZrOs−〇、7wt%MnO,の組成
を有する強誘電性磁器粉末を調製した。
、5btOsおよびM n Otを用い、仮焼温度を9
00℃とした以外は実施例1と同様にして0.05Pb
(Sn、/lsb、/1)03−0.47PbTiO1
−0,48PbZrOs−〇、7wt%MnO,の組成
を有する強誘電性磁器粉末を調製した。
この強誘電性磁器粉末に、実施例1で調製したxPbc
lyGeo2(x=1〜6.y=1〜3)を第3表に示
す割合で添加すると共に、有機バインダを6〜7wt%
加えて20時間混合した後、ドクターブレード法により
シート成形し、パンチングして直径IQmm厚さ0 、
1 mmの円板を形成し、該円板を第3表に示す温度で
2時間焼成して磁器円板を得る。得られた磁器円板の両
面に銀電極を焼き付け、両電極間に80℃で3〜4kv
/mmの直流電圧を印加して30分間分極処理を行い磁
器圧電体の試料とした。
lyGeo2(x=1〜6.y=1〜3)を第3表に示
す割合で添加すると共に、有機バインダを6〜7wt%
加えて20時間混合した後、ドクターブレード法により
シート成形し、パンチングして直径IQmm厚さ0 、
1 mmの円板を形成し、該円板を第3表に示す温度で
2時間焼成して磁器円板を得る。得られた磁器円板の両
面に銀電極を焼き付け、両電極間に80℃で3〜4kv
/mmの直流電圧を印加して30分間分極処理を行い磁
器圧電体の試料とした。
(比較例3.4)
実施例3において、副成分としてxPbO−yGeo
2(X= 1〜6 、’l= 1〜3 )の代わりに、
5wt%のpbo・B = 03・S i Oを系ガラ
ス化合物または0.1wt%のNato−BtOi−S
iot系ガラス化合物を用いた以外は、実施例3と同様
にして磁器圧電体の試料を得た。
2(X= 1〜6 、’l= 1〜3 )の代わりに、
5wt%のpbo・B = 03・S i Oを系ガラ
ス化合物または0.1wt%のNato−BtOi−S
iot系ガラス化合物を用いた以外は、実施例3と同様
にして磁器圧電体の試料を得た。
各試料について、比誘電率(εr)、円板の拡がり振動
の電気機械結合係数(Kp)を測定した。その結果を第
3表に示す。
の電気機械結合係数(Kp)を測定した。その結果を第
3表に示す。
(実施例4)
実施例3で調製した強誘電性磁器粉末(0,0,5Pb
(Sn+/!sb1/y)Os−〇、47PbTiO3
0゜48PbZrO*−0,7wt%Mn0Jと実施例
1で調製したガラス化合物(5Pb0・3GeO7)の
粉末とを用い、実施例2と同様にして磁器角板を得、そ
の抗折強度を測定した。その結果を、主成分とガラス化
合物との配合比および焼成温度と共に、第4表に示す。
(Sn+/!sb1/y)Os−〇、47PbTiO3
0゜48PbZrO*−0,7wt%Mn0Jと実施例
1で調製したガラス化合物(5Pb0・3GeO7)の
粉末とを用い、実施例2と同様にして磁器角板を得、そ
の抗折強度を測定した。その結果を、主成分とガラス化
合物との配合比および焼成温度と共に、第4表に示す。
(実施例5)
原料としてPb30.、TiO*、ZrO2、M n
Ot、およびNbzOsを用い、実施例3と同様にして
、0.05 Pb(Mr++/5Nbt/3)03−0
.45 PbTi0+−0,50PbZrOiの組成を
有する強誘電性磁器粉末を調製した。
Ot、およびNbzOsを用い、実施例3と同様にして
、0.05 Pb(Mr++/5Nbt/3)03−0
.45 PbTi0+−0,50PbZrOiの組成を
有する強誘電性磁器粉末を調製した。
この強誘電性磁器粉末に実施例!で調製したXPbO・
yGeOt(x= I 〜6.y= 1〜3)を第5表
に示す割合で配合し、有機バインダを2〜3wt%加え
て20時間混合した後、造粒し、プレス成形して直径1
5關厚さ!開の円板を形成し、該円板を第5表に示す温
度で2時間焼成して磁器円板を得る。得られた磁器円板
の両面に銀電極を焼き付け、80℃中で両電極間に3〜
4kv/mmの直流電圧を印加して30分間分極処理を
行い、磁器圧電体の試料とした。
yGeOt(x= I 〜6.y= 1〜3)を第5表
に示す割合で配合し、有機バインダを2〜3wt%加え
て20時間混合した後、造粒し、プレス成形して直径1
5關厚さ!開の円板を形成し、該円板を第5表に示す温
度で2時間焼成して磁器円板を得る。得られた磁器円板
の両面に銀電極を焼き付け、80℃中で両電極間に3〜
4kv/mmの直流電圧を印加して30分間分極処理を
行い、磁器圧電体の試料とした。
(比較例5.6)
実施例5の組成において、副成分としてxP b。
・yGeOt(x=1〜6.y= 1〜3)代わりに、
pb。
pb。
・B、03・5iOt系ガラメガラス化添加量0 、1
wt%)またはNa*O’BtOs”5iOt系ガラ
メガラス化添加115wt%)を用いた以外は、実施例
5と同様にして磁器圧電体の試料を得た。
wt%)またはNa*O’BtOs”5iOt系ガラ
メガラス化添加115wt%)を用いた以外は、実施例
5と同様にして磁器圧電体の試料を得た。
各試料について、測定した比誘電率(εr)および円板
の拡がり振動の電気機械結合係数(Kp)の結果を第5
表に示す。
の拡がり振動の電気機械結合係数(Kp)の結果を第5
表に示す。
(実施例6)
実施例5で調製した強誘電性磁器粉末(0,05Pb(
Mn、/3Nb、/3)03−0.45 PbT iO
,−0、50PbZrOs)と実施例1で調製したガラ
ス化合物(5PbO・3GeO1)の粉末とを用い、実
施例2と同様にして磁器角板を得、その抗折強度を測定
した。その結果を、主成分とガラス化合物との配合比お
よび焼成温度と共に、第6表に示す。
Mn、/3Nb、/3)03−0.45 PbT iO
,−0、50PbZrOs)と実施例1で調製したガラ
ス化合物(5PbO・3GeO1)の粉末とを用い、実
施例2と同様にして磁器角板を得、その抗折強度を測定
した。その結果を、主成分とガラス化合物との配合比お
よび焼成温度と共に、第6表に示す。
(実施例7)
原料としてPb30.、Tie、、Lat、s、および
M n Otを用い、仮焼温度を950℃とした以外は
実施例1と同様にしてPbo、esLao、+aTiO
s−0゜7wt%M n O!の組成を有する強誘電性
磁器粉末を調製した。
M n Otを用い、仮焼温度を950℃とした以外は
実施例1と同様にしてPbo、esLao、+aTiO
s−0゜7wt%M n O!の組成を有する強誘電性
磁器粉末を調製した。
この強誘電性磁器粉末に実施例Iで調製したXPbO・
yGeOt(x= 1〜6.y=1〜3)を第7表に示
す割合で配合し、有機バインダを4〜5wt%加えて2
0時間混練した後、押出し成形してグリーンシートを得
、これをパンチングして直径10mm厚さ0.51の円
板を形成し、該円板を第7表に示す温度で2時間焼成し
て磁器円板を得た。各磁器円板の両面に銀電極を焼き付
け、両電極間に80℃で3〜4kv/mmの直流電圧を
印加して30分間分極処理を行い磁器圧電体の試料とし
た。
yGeOt(x= 1〜6.y=1〜3)を第7表に示
す割合で配合し、有機バインダを4〜5wt%加えて2
0時間混練した後、押出し成形してグリーンシートを得
、これをパンチングして直径10mm厚さ0.51の円
板を形成し、該円板を第7表に示す温度で2時間焼成し
て磁器円板を得た。各磁器円板の両面に銀電極を焼き付
け、両電極間に80℃で3〜4kv/mmの直流電圧を
印加して30分間分極処理を行い磁器圧電体の試料とし
た。
(比較例7.8)
実施例7の組成において、副成分として、xPbC1y
GeO7(x=1〜6.y=1〜3)の代わりに、lψ
t%のpbo・B、03・5iot系ガラス化合物また
は10wt%のNatO・BtOa・5tOt系ガラメ
ガラス化用いた以外は、実施例7と同様にして磁器圧電
体の試料を得た。
GeO7(x=1〜6.y=1〜3)の代わりに、lψ
t%のpbo・B、03・5iot系ガラス化合物また
は10wt%のNatO・BtOa・5tOt系ガラメ
ガラス化用いた以外は、実施例7と同様にして磁器圧電
体の試料を得た。
各試料について、測定した比誘電率(εr)および円板
の厚み方向の振動の電気機械結合係数(K t)! の結果を第7表に示す。
の厚み方向の振動の電気機械結合係数(K t)! の結果を第7表に示す。
(実施例8)
実施例7で調製した強誘電性磁器粉末(Pba、ssL
ao、 +oT io 3−0 、7 wt%Mn0
2)と実施例1で調製したガラス化合物(5Pb0・3
GeO*)の粉末とを用い、実施例2と同様にして磁器
角板を得、その抗折強度を測定した。その結果を、主成
分とガラス化合物との配合比および焼成温度と共に、第
8表に示す。
ao、 +oT io 3−0 、7 wt%Mn0
2)と実施例1で調製したガラス化合物(5Pb0・3
GeO*)の粉末とを用い、実施例2と同様にして磁器
角板を得、その抗折強度を測定した。その結果を、主成
分とガラス化合物との配合比および焼成温度と共に、第
8表に示す。
(以 下 余 白)
第1表〜第8表の結果から明らかなように、本発明に係
る強誘電性磁器組成物は、副成分を含まない強誘電性磁
器よりも100〜400℃低い焼結温度を有し、かつ、
それとほぼ同程度のKpおよび比誘電率を示す。また、
本発明に係る強誘電性磁器組成物は、xPbO−yGe
Ot(x=1〜6.y=1〜3)の含有量の増加と共に
電気機械結合係数および比誘電率が徐々に低下するが、
その度合は、P bo −B to s・S iOを系
ガラスやNatO’BtO3’S r Oを系ガラスを
含有させた場合に比べ著しく少ない。
る強誘電性磁器組成物は、副成分を含まない強誘電性磁
器よりも100〜400℃低い焼結温度を有し、かつ、
それとほぼ同程度のKpおよび比誘電率を示す。また、
本発明に係る強誘電性磁器組成物は、xPbO−yGe
Ot(x=1〜6.y=1〜3)の含有量の増加と共に
電気機械結合係数および比誘電率が徐々に低下するが、
その度合は、P bo −B to s・S iOを系
ガラスやNatO’BtO3’S r Oを系ガラスを
含有させた場合に比べ著しく少ない。
(実施例9)
実施例5と同じ原料および方法により0.lPb(Mn
、/3Nb、/3)0.−0 、52 PbT iO,
−0、38P bZ ro、の組成を有する強誘電性磁
器粉末を調製した。
、/3Nb、/3)0.−0 、52 PbT iO,
−0、38P bZ ro、の組成を有する強誘電性磁
器粉末を調製した。
この強誘電性磁器粉末に実施例!で調製したXPb0−
yGeOt(x=5.y=3)を第9表に示す割合で配
合し、有機バインダを2〜3wt%加えて20時間混合
して造粒した後、プレス成形して角板を形成し、これを
第9表に示す温度で2時間焼成して一辺が51+1ff
lで厚さ0 、5 mmの磁器角板を得た。
yGeOt(x=5.y=3)を第9表に示す割合で配
合し、有機バインダを2〜3wt%加えて20時間混合
して造粒した後、プレス成形して角板を形成し、これを
第9表に示す温度で2時間焼成して一辺が51+1ff
lで厚さ0 、5 mmの磁器角板を得た。
この磁器角板の両面に銀電極を焼き付け、80℃中で両
電極間に3〜4kv/+n+nの直流電圧を印加して3
0分間分極処理を行い、面内に垂直方向に分極された発
振子(共振子)とした。
電極間に3〜4kv/+n+nの直流電圧を印加して3
0分間分極処理を行い、面内に垂直方向に分極された発
振子(共振子)とした。
前記発振子を第1図の発振回路にそれぞれ接続し、発振
周波数455KHzで発振させた。図中、1は発振子、
IC+は反転増幅器、R1は抵抗、CL、、CL tは
コンデンサである。前記発振回路で100回動作させた
とき、発振周波数455KHzから4.5MHzへの異
常発振が発生したときの回数を第9表に示す。
周波数455KHzで発振させた。図中、1は発振子、
IC+は反転増幅器、R1は抵抗、CL、、CL tは
コンデンサである。前記発振回路で100回動作させた
とき、発振周波数455KHzから4.5MHzへの異
常発振が発生したときの回数を第9表に示す。
(以 下 余 白)
第9表
番号 組成(wt%) 焼成温度 異常発振主成
分 ガラス (’C) 回数(回)57* 1
00 0 1200 7059* 100
0 1100 8061* 100 0 1
000 9063* 100 0 900
100第9表の結果から明らかなように、本発明に係る
強誘電性磁器組成物を用い、た発振子では異常発振は全
く認められなかったが、ガラス化合物(5PbO・3G
eO,)を含まない比較例のものでは、第2図に示され
るように、厚み縦振動のスプリアスが生じ4.5MHz
付近での異常発振が認められた。
分 ガラス (’C) 回数(回)57* 1
00 0 1200 7059* 100
0 1100 8061* 100 0 1
000 9063* 100 0 900
100第9表の結果から明らかなように、本発明に係る
強誘電性磁器組成物を用い、た発振子では異常発振は全
く認められなかったが、ガラス化合物(5PbO・3G
eO,)を含まない比較例のものでは、第2図に示され
るように、厚み縦振動のスプリアスが生じ4.5MHz
付近での異常発振が認められた。
これは、強誘電性磁器に添加したガラス化合物XPb0
−yGeo2が結晶粒界の強度を高めるだけでなく、発
振子として利用した場合、主振動に悪影響を与えること
なく、厚み縦振動のスプリアスを低下させるためである
と考えられる。従って、本発明に係る強誘電性磁器組成
物は、基本発振周波数より高い振動の減衰に有利である
。なお、このような効果は、拡がり振動を利用した発振
子だけでなく、辺振動を利用する発振子等の材料として
の強誘電性磁器組成物についても認められた。
−yGeo2が結晶粒界の強度を高めるだけでなく、発
振子として利用した場合、主振動に悪影響を与えること
なく、厚み縦振動のスプリアスを低下させるためである
と考えられる。従って、本発明に係る強誘電性磁器組成
物は、基本発振周波数より高い振動の減衰に有利である
。なお、このような効果は、拡がり振動を利用した発振
子だけでなく、辺振動を利用する発振子等の材料として
の強誘電性磁器組成物についても認められた。
(実施例10)
実施例3と同様にして0 、70 P b(F e+/
*NbI/z)03−0.30 Pb(Fet/*W+
/3)C)+の組成を有する強誘電性磁器粉末を調製し
た。
*NbI/z)03−0.30 Pb(Fet/*W+
/3)C)+の組成を有する強誘電性磁器粉末を調製し
た。
この強誘電性磁器粉末に実施例1で調製したXPb0−
yGeO!(x=5.y=3)を第1O表に示す割合で
配合し、有機バインダを2〜3wt%加えて20時間混
合して造粒した後、プレス成形して円板を形成し、これ
を第10表に示す温度で2時間焼成して直径10am、
厚さ1 、 Ommの磁器円板を得た。
yGeO!(x=5.y=3)を第1O表に示す割合で
配合し、有機バインダを2〜3wt%加えて20時間混
合して造粒した後、プレス成形して円板を形成し、これ
を第10表に示す温度で2時間焼成して直径10am、
厚さ1 、 Ommの磁器円板を得た。
この磁器円板の両面に銀電極を焼き付けてコンデンサを
得、その比誘電率を測定した。その結果を第10表に示
す。なお、これらの試料の抗折強度についての測定結果
も同表に示す。
得、その比誘電率を測定した。その結果を第10表に示
す。なお、これらの試料の抗折強度についての測定結果
も同表に示す。
第1θ表
番号 組成(wt%) 焼成温度 比誘電率 抗折
強度主成分 ガラス (’C) (k
g/amす65* 100 0 1000 27
500 160067* 100 0 950
22500 110069* 100 0
800 10000 500(実施例11) 実施例3と同様にして0.16 Pb(Zn、/3Nb
、ム)o3−048Pb(Pe、八Nb+/1)03−
0.36 Pb(Pet/’+W+/3)0、の組成を
有する強誘電性磁器粉末を調製した。
強度主成分 ガラス (’C) (k
g/amす65* 100 0 1000 27
500 160067* 100 0 950
22500 110069* 100 0
800 10000 500(実施例11) 実施例3と同様にして0.16 Pb(Zn、/3Nb
、ム)o3−048Pb(Pe、八Nb+/1)03−
0.36 Pb(Pet/’+W+/3)0、の組成を
有する強誘電性磁器粉末を調製した。
この強誘電性磁器粉末に実施例1で調製したXPb0−
yGeo 、(z= 5 、y= 3 )を第11表に
示す割合で配合し、実施例10と同様にして直径10m
m1厚さ1.0曲の磁器円板を得た。この磁器円板の両
面に銀電極を焼き付けてコンデンサを得、その比誘電率
を測定した。その結果を第11表にそれらの試料の抗折
強度についての測定結果と共に示す。
yGeo 、(z= 5 、y= 3 )を第11表に
示す割合で配合し、実施例10と同様にして直径10m
m1厚さ1.0曲の磁器円板を得た。この磁器円板の両
面に銀電極を焼き付けてコンデンサを得、その比誘電率
を測定した。その結果を第11表にそれらの試料の抗折
強度についての測定結果と共に示す。
11表
番号 −11fj2(wt%σ−焼成温度 比誘電率
抗折強度主成分 ガラス ℃) (k
g/cmす71* 100 0 850 14
000 150073* 100 0 700
7000 700第1θ表および第11表の結果
から明らかなように、酸化鉛を含む複合ペロブスカイト
系のコンデンサ材料についてもxPbO・yGeotを
含有さ仕ることにより、誘電率および抗折強度を向上さ
仕ることができる。
抗折強度主成分 ガラス ℃) (k
g/cmす71* 100 0 850 14
000 150073* 100 0 700
7000 700第1θ表および第11表の結果
から明らかなように、酸化鉛を含む複合ペロブスカイト
系のコンデンサ材料についてもxPbO・yGeotを
含有さ仕ることにより、誘電率および抗折強度を向上さ
仕ることができる。
(効果)
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、85
0〜1000℃の低い温度で焼結し、しかも、電気機械
結合係数が大きく、比誘電率が大きい強誘電性磁器が得
られるので、エネルギー変換効率が高い圧電素子を製造
できる。また、焼結温度が低いため、金属板との一体焼
結が可能となり、一体焼結型のブザーやバイモルフなど
の電歪素子を製造できるだけでなく、焼成時、PbO雰
囲気調節が不要となり、さやや焼成炉の延命化、および
省エネルギ化を図ることができるなど、優れた効果が得
られる。さらに、抗折強度を低下させることがなく、シ
かも、発振子に利用した場合に、スプリアスの発生を防
止することができる。
0〜1000℃の低い温度で焼結し、しかも、電気機械
結合係数が大きく、比誘電率が大きい強誘電性磁器が得
られるので、エネルギー変換効率が高い圧電素子を製造
できる。また、焼結温度が低いため、金属板との一体焼
結が可能となり、一体焼結型のブザーやバイモルフなど
の電歪素子を製造できるだけでなく、焼成時、PbO雰
囲気調節が不要となり、さやや焼成炉の延命化、および
省エネルギ化を図ることができるなど、優れた効果が得
られる。さらに、抗折強度を低下させることがなく、シ
かも、発振子に利用した場合に、スプリアスの発生を防
止することができる。
第1図はセラミック発振子を含む発振回路を示す回路図
、第2図は第1図の発振回路での主振動である拡がり振
動とスプリアス振動の厚み縦振動を示す図である。 1〜セラミック発振子、IC,〜反転増幅器、R1〜抵
抗、CL + 、 CL *〜コンデンサ。
、第2図は第1図の発振回路での主振動である拡がり振
動とスプリアス振動の厚み縦振動を示す図である。 1〜セラミック発振子、IC,〜反転増幅器、R1〜抵
抗、CL + 、 CL *〜コンデンサ。
Claims (4)
- (1)鉛酸化物含有強誘電性磁器組成物を主成分とし、
副成分として一般式:xPbO・yGeO_2(x=1
〜6,y=1〜3)で示されるガラス化合物を0.01
〜30重量%含有してなる強誘電性磁器組成物。 - (2)前記主成分である鉛酸化物含有強誘電性磁器組成
物が、チタン酸鉛系磁器組成物、チタン酸ジルコン酸鉛
系磁器組成物、メタニオブ酸鉛系磁器組成物および鉛含
有複合ペロブスカイト系磁器組成物からなる群から選ば
れた少なくとも一種である請求項1〜5のいづれか一項
記載の強誘電性磁器組成物。 - (3)強誘電性磁器板と、その表面に形成された少なく
とも一つの電極からなり、前記強誘電性磁器板が、鉛酸
化物含有強誘電性磁器組成物を主成分とし、副成分とし
て一般式:xPbO・yGeO_2(x=1〜6,y=
1〜3)で示されるガラス化合物を0.01〜30重量
%含有してなる強誘電性磁器組成物からなることを特徴
とする圧電素子。 - (4)金属製基板と、該基板上に一体的に積層、焼結さ
れた強誘電性磁器層からなり、該強誘電性磁器層が、鉛
酸化物含有強誘電性磁器組成物を主成分とし、副成分と
して一般式:xPbO・yGeO_2(x=1〜6,y
=1〜3)で示されるガラス化合物を0.01〜30重
量%含有してなる強誘電性磁器組成物であることを特徴
とする圧電素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63165274A JP2682022B2 (ja) | 1987-07-02 | 1988-07-01 | 強誘電性磁器組成物及びそれを利用した圧電素子 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16758487 | 1987-07-02 | ||
| JP62-167584 | 1987-07-02 | ||
| JP63165274A JP2682022B2 (ja) | 1987-07-02 | 1988-07-01 | 強誘電性磁器組成物及びそれを利用した圧電素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01100052A true JPH01100052A (ja) | 1989-04-18 |
| JP2682022B2 JP2682022B2 (ja) | 1997-11-26 |
Family
ID=26490073
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63165274A Expired - Fee Related JP2682022B2 (ja) | 1987-07-02 | 1988-07-01 | 強誘電性磁器組成物及びそれを利用した圧電素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2682022B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005303282A (ja) * | 2004-03-16 | 2005-10-27 | E I Du Pont De Nemours & Co | 厚膜誘電性組成物および厚膜導電性組成物 |
| US7309949B2 (en) | 2004-03-03 | 2007-12-18 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive porcelain composition, piezoelectric/electrostrictive ceramic and piezoelectric/electrostrictive film type device |
| US7425790B2 (en) | 2005-01-11 | 2008-09-16 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive porcelain composition, piezoelectric/electrostrictive device, and method of piezoelectric/electrostrictive device |
| JP2011195383A (ja) * | 2010-03-19 | 2011-10-06 | Kyocera Corp | 圧電体およびそれを用いた圧電素子 |
-
1988
- 1988-07-01 JP JP63165274A patent/JP2682022B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7309949B2 (en) | 2004-03-03 | 2007-12-18 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive porcelain composition, piezoelectric/electrostrictive ceramic and piezoelectric/electrostrictive film type device |
| JP2005303282A (ja) * | 2004-03-16 | 2005-10-27 | E I Du Pont De Nemours & Co | 厚膜誘電性組成物および厚膜導電性組成物 |
| US7425790B2 (en) | 2005-01-11 | 2008-09-16 | Ngk Insulators, Ltd. | Piezoelectric/electrostrictive porcelain composition, piezoelectric/electrostrictive device, and method of piezoelectric/electrostrictive device |
| US7901729B2 (en) | 2005-01-11 | 2011-03-08 | Ngk Insulators, Ltd. | Method of manufacturing a piezoelectric/electrostrictive device |
| JP2011195383A (ja) * | 2010-03-19 | 2011-10-06 | Kyocera Corp | 圧電体およびそれを用いた圧電素子 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2682022B2 (ja) | 1997-11-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |