JPH01100258A - 超微粒子膜 - Google Patents
超微粒子膜Info
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- JPH01100258A JPH01100258A JP25676887A JP25676887A JPH01100258A JP H01100258 A JPH01100258 A JP H01100258A JP 25676887 A JP25676887 A JP 25676887A JP 25676887 A JP25676887 A JP 25676887A JP H01100258 A JPH01100258 A JP H01100258A
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- ultrafine particle
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、超微粒子の物性を保持したまま膜として機能
し、各種デバイスに応用可能な新規な超微粒子膜に関す
る。
し、各種デバイスに応用可能な新規な超微粒子膜に関す
る。
特開昭55−27950号公報、特開昭55−2795
1号公報には、超微粒子膜をセンサーに利用することが
記載されている。
1号公報には、超微粒子膜をセンサーに利用することが
記載されている。
しかしながら、特開昭55−27950号公報及び特開
昭55−27951号公報に記載されている超微粒子膜
は、センサーとして利用するためにその表面活性度を高
(保持しなければぼらず、その為に超微粒子膜の充填率
を全体積の数十分の1〜数百分の1にしなければならば
いという制約があった。
昭55−27951号公報に記載されている超微粒子膜
は、センサーとして利用するためにその表面活性度を高
(保持しなければぼらず、その為に超微粒子膜の充填率
を全体積の数十分の1〜数百分の1にしなければならば
いという制約があった。
このように、充填率の小さな膜は、膜としての強度が小
さいために剥離しやす(、又、取扱いが難しいため、各
種デバイスへの応用には不向きであった。
さいために剥離しやす(、又、取扱いが難しいため、各
種デバイスへの応用には不向きであった。
そこで本発明の目的は、前記した従来技術の欠点を克服
すべく、超微粒子がその形状及び活性を保持したまま、
膜としての強度及び基板への密着性に優れ、各種デバイ
スへの応用が可能な新規な超微粒子膜を提供することに
°ある。
すべく、超微粒子がその形状及び活性を保持したまま、
膜としての強度及び基板への密着性に優れ、各種デバイ
スへの応用が可能な新規な超微粒子膜を提供することに
°ある。
〔問題点を解決するだめの手段及び作用〕上記の目的は
、以下の本発明によって達成される。
、以下の本発明によって達成される。
即ち本発明は、超微粒子の充填率が30%以上であり、
且つビツカス硬度が20kg/mrrr以上であること
を特徴とする超微粒子膜である。
且つビツカス硬度が20kg/mrrr以上であること
を特徴とする超微粒子膜である。
本発明に係る超微粒子は、その粒径が10〜1000人
の範囲のものであり、単結晶質、多結晶質、非晶質、あ
るいはこれらの相が混合したもののいずれの形態をとっ
ても良い。
の範囲のものであり、単結晶質、多結晶質、非晶質、あ
るいはこれらの相が混合したもののいずれの形態をとっ
ても良い。
本発明でいう超微粒子の充填率とは、下記式で求められ
る値を言う。
る値を言う。
(但し、Mは超微粒子膜の重量(g)、■は超微粒子膜
の見かけの体積(crr?)、ρは超微粒子膜の真密度
(g/cm)を表わす) 本発明の超微粒子膜は、超微粒子の上式で求まる充填率
が30%以上、好ましくは50%以上、最適には60%
以上のものであって、このように形成された膜は、超微
粒子の活性を保持したまま、しかも酸素及び湿気に対し
て極めて安定である。
の見かけの体積(crr?)、ρは超微粒子膜の真密度
(g/cm)を表わす) 本発明の超微粒子膜は、超微粒子の上式で求まる充填率
が30%以上、好ましくは50%以上、最適には60%
以上のものであって、このように形成された膜は、超微
粒子の活性を保持したまま、しかも酸素及び湿気に対し
て極めて安定である。
これに対し、超微粒子の充填率が30%未満の超微粒子
膜は、超微粒子の表面効果により空気中で極めて不安定
であり、しかも基板との密着性に劣り、剥離しやすい。
膜は、超微粒子の表面効果により空気中で極めて不安定
であり、しかも基板との密着性に劣り、剥離しやすい。
又、本発明の超微粒子膜は、そのビツカス硬度が20k
g/mrr?以上であって、膜自体の硬度に優れるため
、各種デバイスに応用する際の加工性に優れる。一方、
超微粒子膜のビツカス硬度が20kg/mrr?未満の
とき、実用上の取扱いに問題をきたす。
g/mrr?以上であって、膜自体の硬度に優れるため
、各種デバイスに応用する際の加工性に優れる。一方、
超微粒子膜のビツカス硬度が20kg/mrr?未満の
とき、実用上の取扱いに問題をきたす。
本発明の超微粒子膜は、磁気テープなどに用いられるバ
インダーを含むものとは明らかに異なり、超微粒子単独
でしかもその超微粒子が独立した形で積層されたもので
ある。
インダーを含むものとは明らかに異なり、超微粒子単独
でしかもその超微粒子が独立した形で積層されたもので
ある。
本発明で言う超微粒子が独立した形で積層されている状
態とは、SEM (走査型電子顕微鏡)もしくはTEM
(透過型電子顕微鏡)で観察したときに、超微粒子が
その形状を保ったまま積層されている状態を指す。
態とは、SEM (走査型電子顕微鏡)もしくはTEM
(透過型電子顕微鏡)で観察したときに、超微粒子が
その形状を保ったまま積層されている状態を指す。
次に、本発明の超微粒子膜を製造する方法について説明
する。
する。
第4図は、超微粒子膜形成に用いる装置の一例を示す図
である。
である。
第4図において、ノズル2を介して真空室3及び4が連
通している。真空室3には、原料物質lの蒸気を発生さ
せるための容器lOを設けである。この蒸気発生容器1
0としては、抵抗加熱、電子ビーム加熱、高周波加熱等
の加熱手段を具備したものが使用される。
通している。真空室3には、原料物質lの蒸気を発生さ
せるための容器lOを設けである。この蒸気発生容器1
0としては、抵抗加熱、電子ビーム加熱、高周波加熱等
の加熱手段を具備したものが使用される。
この装置を用いて超微粒子を形成する方法としては、ノ
ズル2よりも上流側で気相励起して上流室3内で超微粒
子を形成する方法、原料物質lの蒸気をノズル2から高
真空室4内に噴出し、断熱膨張による過冷却現象を利用
して、蒸気を構成する原料物質の原子若しくは分子、あ
るいは非常に微細な粒子等が互いに緩(結合したクラス
ターを形成する方法のいずれの方法をもとり得る。
ズル2よりも上流側で気相励起して上流室3内で超微粒
子を形成する方法、原料物質lの蒸気をノズル2から高
真空室4内に噴出し、断熱膨張による過冷却現象を利用
して、蒸気を構成する原料物質の原子若しくは分子、あ
るいは非常に微細な粒子等が互いに緩(結合したクラス
ターを形成する方法のいずれの方法をもとり得る。
クラスターにエネルギーを付与してクラスターを活性化
する手段の一例としてはイオンを作用する方法が挙げら
れる。
する手段の一例としてはイオンを作用する方法が挙げら
れる。
クラスターに電子を作用させて噴出流ビーム9中にクラ
スター・イオンを形成する。このクラスター・イオンを
加速、し、基板8に衝突させる。
スター・イオンを形成する。このクラスター・イオンを
加速、し、基板8に衝突させる。
このとき、イオン化されたクラスターは互いに反発し、
それぞれが適当な距離をおいて基板8に達する。
それぞれが適当な距離をおいて基板8に達する。
一方、イオン化されなかったクラスターは加速されない
が、ノズルからの噴出ビーム速度に応じた運動エネルギ
ーを有して、基板8の表面に到達し、イオン化されたク
ラスターとともに付着する。この場合には、イオン化さ
れたクラスターの相互反発性を利用し、分離性の良い、
均一な密度で超微粒子膜の作成が可能となる。
が、ノズルからの噴出ビーム速度に応じた運動エネルギ
ーを有して、基板8の表面に到達し、イオン化されたク
ラスターとともに付着する。この場合には、イオン化さ
れたクラスターの相互反発性を利用し、分離性の良い、
均一な密度で超微粒子膜の作成が可能となる。
本発明において超微粒子膜の作成条件は得ようとする超
微粒子の形状や大きさ、あるいは結晶性等に応じて適宜
選択し得る。
微粒子の形状や大きさ、あるいは結晶性等に応じて適宜
選択し得る。
ノズル2よりも上流側で気相励起して超微粒子を形成し
、ノズルから噴出させて成膜する方法では、気相励起に
用いた犬、μ波、高周波等の電磁波エネルギーの量(パ
ワー)及び気相励起時の圧力に応じて超微粒子の形状の
大きさ、及び結晶性等を容易に制御出来る。
、ノズルから噴出させて成膜する方法では、気相励起に
用いた犬、μ波、高周波等の電磁波エネルギーの量(パ
ワー)及び気相励起時の圧力に応じて超微粒子の形状の
大きさ、及び結晶性等を容易に制御出来る。
又、ノズルによりクラスター化し、その後、クラスター
を処理する方法では、ノズル2の内径、加速用電極7の
電圧、クラスターのイオン化の程度、基板の温度を制御
することにより超微粒子の形状、大きさ、及び結晶性等
を容易に制御できる。
を処理する方法では、ノズル2の内径、加速用電極7の
電圧、クラスターのイオン化の程度、基板の温度を制御
することにより超微粒子の形状、大きさ、及び結晶性等
を容易に制御できる。
本発明においては、各種元素から構成された種々の超微
粒子を作成する事が出来る。
粒子を作成する事が出来る。
例えば、酸化物からなる超微粒子を得る場合には元とな
る物質またはその物質の酸化物を原料として用い、ノズ
ルよりも上流側で気相励起して超微粒子を形成しノズル
から噴出させる方法では、気相励起時に酸素ガスを導入
する。又、ノズルによリフラスター化し、その後クラス
ターを処理する方法では、基板8に酸素ガスを吹付けな
がら、クラスターのイオン化操作を行なえば良い。
る物質またはその物質の酸化物を原料として用い、ノズ
ルよりも上流側で気相励起して超微粒子を形成しノズル
から噴出させる方法では、気相励起時に酸素ガスを導入
する。又、ノズルによリフラスター化し、その後クラス
ターを処理する方法では、基板8に酸素ガスを吹付けな
がら、クラスターのイオン化操作を行なえば良い。
また、作成条件をより精密にコントロールする事により
層状ペロゲスカイト型酸化物等の複雑な化合物からなる
超微粒子の作成も可能となる。
層状ペロゲスカイト型酸化物等の複雑な化合物からなる
超微粒子の作成も可能となる。
第5図は本発明の超微粒子膜の形成に用いる装置のもう
1つの例を示す図である。
1つの例を示す図である。
超微粒子の作成は第4図を用いて説明した方法によって
いる。
いる。
まず第1に、超微粒子を含むガス流、とりわけ超微粒子
を含むガスビームを作り出す方法としては、ノズルを介
して超微粒子を含むガスを噴出させる方法が有効である
。
を含むガスビームを作り出す方法としては、ノズルを介
して超微粒子を含むガスを噴出させる方法が有効である
。
ビームを発生させる手段に用いるノズルとしては、径の
小さな平行管もしくは、先細ノズル、縮少拡大ノズル等
があげられるが、その中でも縮少拡大ノズル及び先細ノ
ズルとノズルの下流室出口形状を工夫した場合には超微
粒子を含むガスをビーム化し得ると共に超音速流とする
ことが可能であるため、特に好ましいものである。
小さな平行管もしくは、先細ノズル、縮少拡大ノズル等
があげられるが、その中でも縮少拡大ノズル及び先細ノ
ズルとノズルの下流室出口形状を工夫した場合には超微
粒子を含むガスをビーム化し得ると共に超音速流とする
ことが可能であるため、特に好ましいものである。
第6図は、ビームの発生手段として縮少拡大ノズル11
を用いた場合の装置図であり、縮少拡大ノズル11を介
して上流室13と第1下流室14aを連結した構造をと
っている。
を用いた場合の装置図であり、縮少拡大ノズル11を介
して上流室13と第1下流室14aを連結した構造をと
っている。
このビーム発生手段の動作原理は以下の通りである。
まず、上流室13内に原料ガスを供給する一方、第1下
流室14aの圧力P2を一定値以下、例えばIpHL以
下に制御する。
流室14aの圧力P2を一定値以下、例えばIpHL以
下に制御する。
他方上流室13の圧力P1を一定値以上、例えばIP1
以上、好ましくは10P、以上に制御して、上流室13
とノズルのど部12の圧力比p n / p 1を下記
(1)式で与えられる臨界圧力比以下になるように設定
する。
以上、好ましくは10P、以上に制御して、上流室13
とノズルのど部12の圧力比p n / p 1を下記
(1)式で与えられる臨界圧力比以下になるように設定
する。
尚、本発明に係る臨界圧力比を以下のように定義する。
即ち、ノズルのど部で流速が音速に一致すると、上流室
13の圧力P1とノズルのど部12の圧力Pnとの圧力
比は理想的には次式で表わされる値に一致する。
13の圧力P1とノズルのど部12の圧力Pnとの圧力
比は理想的には次式で表わされる値に一致する。
ワ
このRの値を臨界圧力比と呼ぶ。ここでγは比熱比であ
る。
る。
ノズルのど部の圧力はのど部にあけられた穴(不図示)
を通して測定できる。
を通して測定できる。
供給された原料ガスは、上記圧力設定によって生じる圧
力差によって上流室13から縮少拡大ノズル11を通過
して第1下流室14aへと流入する。
力差によって上流室13から縮少拡大ノズル11を通過
して第1下流室14aへと流入する。
縮小拡大ノズル11は、単に上流側と下流側の圧力差に
応じて超微粒子を含むガスを噴出するだけでなく、噴出
される超微粒子を含むガスの進行方向を揃えてビーム化
するものであり、超微粒子を含むガスは超音速の流れと
して下流室へ最小限の拡散で噴出させることが出来、ビ
ーム化される。
応じて超微粒子を含むガスを噴出するだけでなく、噴出
される超微粒子を含むガスの進行方向を揃えてビーム化
するものであり、超微粒子を含むガスは超音速の流れと
して下流室へ最小限の拡散で噴出させることが出来、ビ
ーム化される。
この様にして超微粒子を含むガスをビーム化移送すれば
超音速下における精確な速度制御により、しかも空間的
に独立状態にあるビームとして移送することが出来、例
えば第1下流室14aの下流側に設けた第2下流室14
b中の基体16上にのみ超微粒子を含むガスを高濃度で
移送することが出来る。
超音速下における精確な速度制御により、しかも空間的
に独立状態にあるビームとして移送することが出来、例
えば第1下流室14aの下流側に設けた第2下流室14
b中の基体16上にのみ超微粒子を含むガスを高濃度で
移送することが出来る。
尚、縮小拡大ノズルを用いる場合には第1下流室14a
を設けず、縮小拡大ノズルに連結する第2下流室14b
に第1下流室14aの機能を兼備させることにより同様
の効果を得ることが出来る。
を設けず、縮小拡大ノズルに連結する第2下流室14b
に第1下流室14aの機能を兼備させることにより同様
の効果を得ることが出来る。
第7図はビームの発生手段として先細ノズルを用いた場
合の装置図であり、先細ノズルを介して上流室13と下
流室(14a、14b、14cの3室から成る)を連結
した構造をとっている。
合の装置図であり、先細ノズルを介して上流室13と下
流室(14a、14b、14cの3室から成る)を連結
した構造をとっている。
このビーム発生手段の動作原理は以下の通りである。
ノズル11’ から真空中に粘性流を噴出して断熱膨
張流を作り、この断熱膨張流からスキマー18によって
分子流を拾い出しコリメーティングスリット19によっ
てビーム20を生成する。
張流を作り、この断熱膨張流からスキマー18によって
分子流を拾い出しコリメーティングスリット19によっ
てビーム20を生成する。
ノズルから噴出された粘性流を出来るだけ自由噴流に近
い状態にするため、第1下流室14aの排° 気が重要
となる。
い状態にするため、第1下流室14aの排° 気が重要
となる。
得られるビーム強度はスキマー18で拾う断熱膨張流の
状態に存在するが、この断熱膨張流の状態はノズル11
’ に導入した源流ガスの圧力とノズルからの距離で
制御出来る。
状態に存在するが、この断熱膨張流の状態はノズル11
’ に導入した源流ガスの圧力とノズルからの距離で
制御出来る。
スキマー18は断熱膨張流からビーム軸方向に加′速さ
れた超微粒子を含むガスの分子を分子流として拾い出す
所であり、この分子流が実質的なビーム源である。スキ
マー18は粘性流から分子流に変わる中間領域で使われ
ることからスキマー形状とビーム生成を理論的に取扱う
のは難しいが、実験的には、スキマーの外角を60°位
、内角を50゜以上に設定するのが良かった。
れた超微粒子を含むガスの分子を分子流として拾い出す
所であり、この分子流が実質的なビーム源である。スキ
マー18は粘性流から分子流に変わる中間領域で使われ
ることからスキマー形状とビーム生成を理論的に取扱う
のは難しいが、実験的には、スキマーの外角を60°位
、内角を50゜以上に設定するのが良かった。
本実施例の特徴は超微粒子を含むガスビームを利用する
点にある。
点にある。
これにより超微粒子を含むガスの密度を基体16上の特
定領域に対し、高めることが出来る。
定領域に対し、高めることが出来る。
一方、本発明に係る原料ガスに対して局所的にエネルギ
ーを付与することもでき、付与するエネルギーとしてビ
ーム状に絞られたエネルギー・ビーム、あるいは高エネ
ルギーをもった荷電粒子、あるいは中性粒子のビームを
用いても良い。
ーを付与することもでき、付与するエネルギーとしてビ
ーム状に絞られたエネルギー・ビーム、あるいは高エネ
ルギーをもった荷電粒子、あるいは中性粒子のビームを
用いても良い。
ビーム状に絞られたエネルギー・ビームとしては、直接
光化学反応に寄与出来る紫外光のビーム、例えばエキシ
マ・レーザ光、あるいは熱エネルギーに転用し得るエネ
ルギー・ビームとしてCO□レーザ、N2レーザ等のレ
ーザ光・X線が用いられる。
光化学反応に寄与出来る紫外光のビーム、例えばエキシ
マ・レーザ光、あるいは熱エネルギーに転用し得るエネ
ルギー・ビームとしてCO□レーザ、N2レーザ等のレ
ーザ光・X線が用いられる。
原料ガスを直接励起し得る高エネルギーをもった荷電粒
子としては、イオンビーム、電子ビームがあり、中性粒
子としてはラジカル・ビームがあげられる。
子としては、イオンビーム、電子ビームがあり、中性粒
子としてはラジカル・ビームがあげられる。
以下、実施例により本発明を具体的に説明する。
尚、実施例では、微粒子の充填率を算出する際に必要な
超微粒子の真密度を、重液を用いた浮遊沈降法により求
めた。
超微粒子の真密度を、重液を用いた浮遊沈降法により求
めた。
実施例1
第4図に示した装置を用いて、本発明の超微粒子膜を以
下の様に作成した。
下の様に作成した。
原料物質1として純度99.9%以上の金属スズを用い
、基板8として石英ガラスを用いた。
、基板8として石英ガラスを用いた。
まず、真空室3.4内を排気装置(不図示)により排気
し、各真空室の真空度が2XIO−’P、Lになるよう
に調整した。
し、各真空室の真空度が2XIO−’P、Lになるよう
に調整した。
次に、真空室13内の金属スズiiを抵抗加熱法により
温度を調整しながら加熱蒸発させた。
温度を調整しながら加熱蒸発させた。
基板18と容器20の間には、予め2.5KVの電圧を
印加しである。
印加しである。
加熱により生じた金属スズの蒸気がノズル12(内径l
φ、長さ1 m m )を通過したところで、イオン化
フィラメント15及びグリッド16を用いてイオン化電
子を照射し、更に加速用電極17に約2.5KVを印加
して、イオン化されたクラスターを加速し、基板18に
衝突させた。このときの基板温度は50℃であった。
φ、長さ1 m m )を通過したところで、イオン化
フィラメント15及びグリッド16を用いてイオン化電
子を照射し、更に加速用電極17に約2.5KVを印加
して、イオン化されたクラスターを加速し、基板18に
衝突させた。このときの基板温度は50℃であった。
このようにして得られた超微粒子膜は、超微粒子が分離
性良く独立して、しかも均一な密度で形成されていた。
性良く独立して、しかも均一な密度で形成されていた。
得られた超微粒子膜の走査型電子顕微鏡による図面代用
写真(5万倍)を第1図に示す。
写真(5万倍)を第1図に示す。
この超微粒子膜の充填率は75%で、ビツカス硬度は1
500Kg/mrr?であり、個々の超微粒子間での電
気的導通は認められなかった。このときの超微粒子の粒
径は300人であった。
500Kg/mrr?であり、個々の超微粒子間での電
気的導通は認められなかった。このときの超微粒子の粒
径は300人であった。
又、この超微粒子膜を高エネルギー反射電子回折(RH
EED)で測定したところ、超微粒子は単結晶体であっ
た。
EED)で測定したところ、超微粒子は単結晶体であっ
た。
実施例2
ノズル12の内径を10φとした以外は実施例1と同様
にして超微粒子膜を形成した。得られた超微粒子膜の電
子顕微鏡による図面代用写真(5万倍)を第2図に示す
。
にして超微粒子膜を形成した。得られた超微粒子膜の電
子顕微鏡による図面代用写真(5万倍)を第2図に示す
。
得られた超微粒子膜の充填率は、65%であり、ビツカ
ス硬度は1200Kg/mrr?であった。このときの
超微粒子の粒径は200人であった。
ス硬度は1200Kg/mrr?であった。このときの
超微粒子の粒径は200人であった。
又、この超微粒子膜をX線回折により分析したところ、
超微粒子はバルク(多結晶体)と同一のX線回折パター
ンを示した。
超微粒子はバルク(多結晶体)と同一のX線回折パター
ンを示した。
実施例3
基板18に対して酸素を吹き付ける操作を行なった以外
は実施例1と同様にして酸化スズからなる超微粒子膜を
作成した。
は実施例1と同様にして酸化スズからなる超微粒子膜を
作成した。
得られた超微粒子膜の走査型電子顕微鏡による図面代用
写真(5万倍)を第3図に示す。
写真(5万倍)を第3図に示す。
得られた超微粒子膜の充填率は60%であり、ビツカス
硬度は1000Kg/mrr1′であり、超微粒子の粒
径は300人であった。
硬度は1000Kg/mrr1′であり、超微粒子の粒
径は300人であった。
実施例4
第5図に示した装置を用いて、本発明の超微粒子膜を作
成した。
成した。
原料ガスとしてSiH4とH2の混合ガスを用い、基体
6として石英ガラスを用いた。
6として石英ガラスを用いた。
縮小拡大ノズル1の入口1aとノズルのど部2の断面積
比を31、のど部2とノズルの出口1bの断面積比を7
.1にとり、上流室3の圧力を50P、L。
比を31、のど部2とノズルの出口1bの断面積比を7
.1にとり、上流室3の圧力を50P、L。
第1下流室4aの圧力を0.6P a、第2下流室の圧
力を0.003P aに設定した。
力を0.003P aに設定した。
臨界圧力比は近似的に約0.5である。
まず、上流室3内でSiH4とH2の混合ガスをμ波プ
ラズマにより分解しくこのときのμ波の投入パワーは1
50Wであった)、この分解生成物をノズル1を介して
基体6上に膜厚が0.8μmになるように堆積した。
ラズマにより分解しくこのときのμ波の投入パワーは1
50Wであった)、この分解生成物をノズル1を介して
基体6上に膜厚が0.8μmになるように堆積した。
得られたSiからなる超微粒子膜の充填率は65%であ
り、ビツカス硬度は50Kg/mrr?であった。
り、ビツカス硬度は50Kg/mrr?であった。
微粒子径は300人であった。
超微粒子膜形成に際し、下流室4a、 4bの内壁には
超微粒子膜の付着がほとんど生じなかった。
超微粒子膜の付着がほとんど生じなかった。
実施例5
第6図に示す装置を用いて本発明の超微粒子膜を作成し
た。
た。
原料ガスとして、トリメチルアルミニウムAj7(CH
3)3を用い、基体6としてSi02膜を表面に堆積さ
せたSiウェハーを用いた。
3)3を用い、基体6としてSi02膜を表面に堆積さ
せたSiウェハーを用いた。
先細ノズル1′ の径を0.05 m m 、円錐状ス
キマーの内径を0 、65 m m、内側の角度を65
°、外側の角度を56°とした。
キマーの内径を0 、65 m m、内側の角度を65
°、外側の角度を56°とした。
これにより第2下流室4bの圧力を10−’P、以下に
保つことができた。
保つことができた。
上流室3内でAl(CH3)3を熱分解してAI!超微
粒子を作成し、一方基体6を上下に移動させてSiO2
膜上に0.5μmの厚さの超微粒子膜パターンを形成し
た。
粒子を作成し、一方基体6を上下に移動させてSiO2
膜上に0.5μmの厚さの超微粒子膜パターンを形成し
た。
得られた超微粒子膜の充填率は75%であり、ビツカス
硬度は30Kg/mrrrであった。超微粒子の粒径は
150人であった。
硬度は30Kg/mrrrであった。超微粒子の粒径は
150人であった。
超微粒子膜作成に際し、下流室4a〜4cの内壁には超
微粒子膜の付着が生じることはなかった。
微粒子膜の付着が生じることはなかった。
実施例6
原料ガスとしてSiH4とNH3の混合ガスを用い、基
体6として5iNH膜を表面に堆積したSiウェハーを
用いた他は、実施例4と同様にして、本発明の超微粒子
膜を作成した。
体6として5iNH膜を表面に堆積したSiウェハーを
用いた他は、実施例4と同様にして、本発明の超微粒子
膜を作成した。
このような操作により、5iNHからなる超微粒子膜を
0.7μmの厚さで堆積することができた。
0.7μmの厚さで堆積することができた。
得られた超微粒子膜の充填率は60%であり、ビツカス
硬度は90Kg/mrr?であった。超微粒子の粒径は
350人であった。
硬度は90Kg/mrr?であった。超微粒子の粒径は
350人であった。
下流室4a、 4bの内壁には、超微粒子膜の付着を
生じなかった。
生じなかった。
実施例7
原料ガスとしてCH3C1を用い、基体6としてSiウ
ェハーを用いた池は、実施例5と同様にして厚さ1μm
のCからなる超微粒子膜を作成した。
ェハーを用いた池は、実施例5と同様にして厚さ1μm
のCからなる超微粒子膜を作成した。
得られた超微粒子膜の充填率は70%であり、ビツカス
硬度は70Kg/mrr?lであった。超微粒子の粒径
は250人であった。
硬度は70Kg/mrr?lであった。超微粒子の粒径
は250人であった。
超微粒子膜作成に際し、下流室4a〜4Cの内壁には、
超微粒子膜の付着は生じなかった。
超微粒子膜の付着は生じなかった。
第1図〜第3図は、本発明の超微粒子膜の粒子構造を示
す図面代用写真、第4図〜第6図は、本発明の超微粒子
膜を製造するために用いる装置の例を示す図である。 2・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・ノズル5・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・イオン化用フィラメント6・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・電子の引出し用グリッド7・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・加速用電極10・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・蒸気
発生容器11.11’ ・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・ノズル13・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
上流室14 a−14c・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・第1下流室〜第3下流室16・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・基体18・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・スキマー2
0・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・微粒子ビーム流第11刃 82図 某3図
す図面代用写真、第4図〜第6図は、本発明の超微粒子
膜を製造するために用いる装置の例を示す図である。 2・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・ノズル5・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・イオン化用フィラメント6・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・電子の引出し用グリッド7・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・加速用電極10・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・蒸気
発生容器11.11’ ・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・ノズル13・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
上流室14 a−14c・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・第1下流室〜第3下流室16・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・基体18・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・スキマー2
0・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・微粒子ビーム流第11刃 82図 某3図
Claims (4)
- (1)超微粒子の充填率が30%以上であり、且つビツ
カス硬度が20kg/mm^2以上であることを特徴と
する超微粒子膜。 - (2)前記充填率が下式で求められる特許請求の範囲第
1項記載の超微粒子膜。 P(%)=M/V×1/ρ×100 (但し、Pは充填率、Mは超微粒子膜の重量(g)、V
は超微粒子膜の見かけの体積(cm^3)、ρは超微粒
子膜の真密度(g/cm^3)を表わす。) - (3)前記超微粒子の粒径が10〜1000Åの範囲に
ある特許請求の範囲第1項記載の超微粒子膜。 - (4)前記充填率が50%以上である特許請求の範囲第
1項記載の超微粒子膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25676887A JPH01100258A (ja) | 1987-10-12 | 1987-10-12 | 超微粒子膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25676887A JPH01100258A (ja) | 1987-10-12 | 1987-10-12 | 超微粒子膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01100258A true JPH01100258A (ja) | 1989-04-18 |
Family
ID=17297177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25676887A Pending JPH01100258A (ja) | 1987-10-12 | 1987-10-12 | 超微粒子膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01100258A (ja) |
-
1987
- 1987-10-12 JP JP25676887A patent/JPH01100258A/ja active Pending
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