JPH01105181A - 信号分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は信号を周波数領域で分析するための装置に係
り、特に広い周波数帯域にわたり掃引して信号の特性を
観測しながら、周波数領域で分析する装置において、特
性上の所望の点の周波数を精度良く測定できるようにし
た信号分析装置に関する。

また本願発明は特願昭５８−３１１５４号における発明
を改良し、信号の周波数測定を容易にした信号分析装置
に関する。

（従来の技術） 従来のスペクトラムアナライザによる周波数測定の構成
を第８図に実線で示す。第４図に従来技術及び本願発明
の信号分析装置における表示例を示す。次にその周波数
測定動作を説明する。第８図において、所望の測定周波
数情報（例えば０から１００ＭＨｚ）を受けた周波数制
御手段２２は、掃引信号発生手段２０が所望の測定周波
数情報に相当する掃引電圧を局部発振器２へ送出するよ
うに制御する０局部発振器２は、その掃引電圧に比例し
た周波数をミキサｌに出力する。ミキサ１は、局部発振
器２の出力信号と被測定入力信号（０から１００Ｍ＋１
ｚ）を混合し、中間周波信号に変換する。中間周波信号
はＩＦ回路４及び検波器５であらかじめ設定されている
分解能帯域幅で選択され、検波される。

さらに検波され信号はＡ／Ｄ変換器６でデジタル信号に
変換される。その後、被測定入力信号の周波数に対応し
てメモリ７に記憶され、表示手段８により表示される。

このような表示の１例を第４図（ａ）に示す、このよう
にして表示されたデータの所望のスペクトル点にマーカ
決定手段２４でマーカを設定しく表示上の・印）、その
ときの周波数情報ｆＩ１１（第４図（ａ）で７０ＭＨｚ
）を周波数制御手段２２に送出する。周波数制御手段２
２は、掃引信号発生手段２０に、周波数ｆｍをセンター
周波数とし、かつ表示例第４図（ａ）における周波数測
定幅（ｆ２−　ｆｌ）を零として掃引測定を行わせる。

この状態で周波数測定手段２１が局部発振器２の出力周
波数ＡとＩＦ回路４の出力周波数Ｂを加算的に測定し、
その出力信号を被測定信号の周波数情報（Ａ＋Ｂ）とし
て数値表示するために表示手段８へ出力する。ただし、
この値はミキサ１によりビートダウンして中間周波信号
を発生させる場合である。ミキサ１がビートアップ動作
のとき、この値は（Ａ−Ｂ）となる。

ところで、このような周波数測定においては、スペクト
ルの周波数分解能（ＩＦ回路４の帯域で決定される。こ
れを以下、ＲＢＷと称する）と、データ処理上の分解能
との関係が問題となる。例えば第４図（ａ）の表示例で
は周波数測定幅（以下、これをスパンと称する）は１０
０旧（ｚ　（＝　ｆ２−　ｆｌ）であり、これを横軸（
周波数軸）５００ポイントに分けてデータ処理して表示
したとすると、データ処理上の分解能は（２ＭＨｚ／１
ポイント）となる。ここで、ＲＢＷ＝５０にＨｚであれ
ば測定ポイント間に入った信号は測定されなくなる。こ
れを防ぐため局部発振器２をアナログ掃引して測定し、
検波後にポイント間に入っているデータのピーク値をと
って所定ポイントに表示している。従って第１図（ａ）
の場合、０〜１００ＭＨｚにある入力信号は洩れなく測
定されているが、その周波数には最大２　ＭＨｚの誤差
があることになる。

このため正確に周波数を測定するには周波数同調をとる
必要があり、そのためには次のような条件を満足させな
ければならない。

ＲＢＷ≧スパン×α（＝スパンのα％）ここで、αは０
．０２〜０．０５ 周波数同調したときの表示例を第４図（ａ）〜（ｄ）ま
で示す、先ず第４図（ａ）でマーカ点を所望のスペクト
ルに設定したときの周波数ｆｍ　（７０ＭＨｚ）　ラセ
ンター周波数ｆｃとし、スパンを第４図（ａ）より縮少
して１０ＭＨｚ（ｆ２−　ｆｌ）として設定し、第４図
（ｂ−１）のように拡大測定する。このとき再びマーカ
をスペクトルのピークに設定してその周波数ｒｐ（＝ｆ
ｏ＋＝７０．８５ＭＨｚ）を測定し、第４図（ｂ−２）
に示すようにｒｐをセンター周波数に設定して表示せし
める。

さらに第４図（ｃ−１）のようにスパンをＩ　ＭＨｚに
縮少したうえで、スペクトルのピーク点における周波数
ｆｐ（７０，７５ＭＨｚ）を測定し、第４図（ｃ−２）
のようにｒｐをセンター周波数にして表示せしめる。

このとき前記測定条件、つまりＲＢ　Ｗ　−５０ＫＨｚ
≧スパン×α＝　Ｉ　ＭＨｚ　Ｘ　Ｏ，０５を満足する
ため、第４図（ｄ）に示すようにスパンを零とし、この
状態で周波数測定手段２１で手動により、周波数を測定
していた。なお、このようにスパンを序々に縮少して測
定しているのは、−度にスパンを狭くすると目標のスペ
クトルが表示画面から飛び出してしまう可能性があるか
らである。

以上の操作は手動で行われていたが、上記操作の中で、
スペクトルのピーク値をサーチし、順次スパンを縮少し
ていき、所望のスパンで測定する手段としては、前記し
た特願昭５８−３１１５４号のものがあった。これは第
８図の点線で示されるピークサーチ手段２３を追加した
ものであった。

〔実施例が解決しようとする問題点〕

このような従来技術には次のような問題点があった。

（イ）先に説明したような手動操作が非常に煩雑であり
、周波数測定に時間がかかる。またスパンＲＢＷなどの
測定条件を考えながら操作するので、画面を見ていても
、誤操作を生みやすい。

なお、特願昭５８−３１１５４号の技術は上記手動操作
の一部を補助しうるが、ＲＢＷを考慮した周波数測定に
は関係ない。

（ロ）単に周波数を正確に測定するのに、従来技術のい
ずれもが表示画面を変えなければ測定できない、従って
、再び初期画面状態で次の段階の測定を行う場合は元の
初期画面を記録しておき、手動で再設定しなければなら
ない不便さがあった。

〔問題点を解決するための手段〕

このような問題点を解決するため、第１の実施例では、
先に測定したデータよりピーク点の周波数を検出し、そ
の周波数をセンター周波数又は所望のゾーン範囲に設定
し、さらに先に測定したスパンより所定幅だけ縮少した
スパンとそのスパンに対応した掃引時間を設定して測定
する。このようにスパンを次々縮小して測定する動作を
順次スパン×αがＲＢＷより小さくなるまで繰り返し、
その条件を満足したときピーク点の周波数をセンター周
波数に設定し、かつスパンを零として設定して受信する
ことにより、被測定入力信号に同調受信させることがで
きる。そして、そのときの周波数を測定する。第２の実
施例では、スパンを順次、縮小して測定する前に、初期
測定データと測定条件を記憶し、表示画面にはその記憶
したデータを表示させたまま、第１実施例と同様の動作
を行って周波数測定を行わせる。更に第３の実施例では
第２の実施例にマーカ設定手段を設け、ピーク点の周波
数のみならず被測定入力信号の任意の周波数を測定でき
るようにした。

このような目的を達成するための第Ｉの実施例から第３
の実施例までの共通手段としては、局部発振器をアナロ
グ掃引しながら受信した信号を、ＩＰ回路で所望のＲＢ
Ｗで選択、検波しそのデータをメモリに記憶して表示手
段に表示する信号分析装置において、 前記局部発振器を所望の測定周波数範囲（スパン）で測
定できるようアナログ制御する掃引信号発生手段と、前
記メモリのデータの最大値に対応した周波数値を出力す
るピークサーチ手段と、前記所望のスパンで測定してい
るとき、前記周波数掃引手段に設定されているスパンと
前記ＩＦ回路が設定されている分解能帯域幅とを比較し
、その結果を出力する判定手段と、該判定手段からの比
較結果をもとに、前記掃引信号発生手段に、前記ピーク
サーチ手段が検出した周波数をセンター周波数で、かつ
先に測定したときより縮小したスパンで掃引測定させる
周波数制御手段と、該周波数制御手段が前記掃引信号発
生手段にスパンを最小にして測定させたとき、前記判定
手段の結果に基づき′前記局部発振器の出力周波数と前
記ＩＦ回路の出力周波数から入力信号の周波数を測定す
る周波数測定手段を備えた。

〔実施例〕

第１図（ａ）、ら）及び（Ｃ）は本願の第１、第２及び
第３の実施例の構成を示す図、第２図（ａ）、■）及び
（Ｃ）は第１、第２及び第３の実施例の動作の流れを示
すフローチャート、第３図（ａ）は第１の実施例の、（
ｂ）は第２及び第３の実施例のタイミングを示すタイミ
ングチャートである。これらの図で示されるように第２
の実施例は第３の実施例の、第１の実施例は第２の実施
例の、それぞれ簡素形となっているので、実施例は第３
の実施例から説明する。

第３図（Ｃ）において符号１．２．４〜６．８は従来技
術で説明した第８図と同じ動作をする。３は掃引信号発
生手段であって、周波数制御手段１１からの指令に従っ
て指定された測定時間、スパン及びセンター周波数に応
じた出力信号を送出し局部発振器２を制御する。９は周
波数測定手段で、判定手段１０からの指令に従って指定
された時間に局部発振器２の出力周波数ＡとＩＦ回路４
の出力周波数Ｂを加算的にカーラントして得られる。（
Ａ　＋　Ｂ　）なる測定周波数情報を表示手段８に出力
して（この例では検波器５がビートダウン検出を行って
いる。）デジタル（数値）表示せしめ、同時にカウント
終了信号を初期測定スタート手段１５へ送出する。１３
ａ及び１３ｂは第１及び第２のメモリで、それぞれ被測
定入力信号の周波数に対応づけてＡ／Ｄ変換器６からの
データを記憶するが、第１のメモリ１３ａは掃引測定毎
にデータを読み込んで記憶する。また、第２のメモリ１
３ｂは制御パネル１９により設定される周波数測定モー
ドが切換情報として周波数測定モードが設定されたとき
は周波数測定モード決定手段１８からの指令により入力
信号をロックし、そのときのデータを保持して表示手段
８に表示させる。このロックの解除は初期測定スタート
手段１５からの指令、あるいは前記周波数測定モード切
換情報が周波数測定モードの解除指令であるときに行わ
れる。１４は第３のメモリであって、制御パネル１９に
より設定される測、定周波数情報および測定時間情報に
従って初期の測定条件を記憶するが、その出力は、周波
数測定モードに設定されたときは周波数測定モード決定
手段１８からの指令によりロックされ、初期測定スター
ト手段１５からの指令あるいは周波数測定モード解除指
令により読み出し可能となる。１５は初期測定スタート
手段で、周波数測定手段９からのカウント終了信号を受
け、前記したように第２及び第３のメモリ１３ｂ、１４
に対するロックを解除し、掃引測定を周波数測定前の初
期の条件で行わせるよう指示する。　１６はセンター周
波数切り換え手段で、周波数測定モードが設定された直
後の一掃引は、制御パネル１９により設定されたマーカ
周波数情報に従うマーカ決定手段１４からのマーカ周波
数をセンター周波数にして測定し、次の掃引からはピー
クサーチ手段１２が検出したピークレベル点のピーク周
波数をセンター周波数にして測定するように周波数制御
手段１１に指示する。

１０は判定手段で、ＩＦ回路４及び掃引信号発生手段３
に設定された、制御パネル１９からの分解能帯域幅情報
に従った分解能帯域幅（ＲＢＷ）と、掃引信号発生手段
３に設定されたスパンを比較し、正確な周波数測定が可
能な条件である次式、ＲＢＷ≧スパン×α を満足しているかどうか判断し、その結果を周波数制御
手段１１へ送出する。また判定手段１０は、判断結果が
条件満足のときのみ、周波数測定手段９に測定開始の指
示を与える。この判定手段ｌＯは、周波数測定モード決
定手段１８からの指令、あるいはピークサーチ手段１２
からのサーチ完了信号Ｃに基づいて動作する。１１は周
波数制御手段で、判定手段１０の判定結果が条件を満足
していないとき、前回測定時より所定幅に縮少したスパ
ンと測定時間、及びセンター周波数切り換え手段１６か
らの周波数情報をセンター周波数にして掃引するように
掃引信号発生手段３へ指示し、所定の測定を行わせる。

一方、判定手段１０の判定の結果が条件を満足していれ
ば、周波数制御手段１１は掃引信号発生手段３に、スパ
ンを零、測定時間、先に測定したときより縮小した測定
時間、及びセンター周波数切り換え手段１６からの周波
数をセンター周波数を設定して測定させる。上記、動作
中のスパン及びセンター周波数情報は周波数軸情報Ｅと
して第１及び第２のメモリ（１３ａ　、　１３ｂ　）へ
も送出される。

なお、周波数制御手段１１において徐々に縮小するため
の、スパン及び測定時間情報は例えばＲＯＭテーブル化
されているものとする。

これら各ブロックはＣＰＵ１０２で構成されていてもよ
く、その場合、一連の動作がスケ−シュリング（プログ
ラミング）されている、中でも中央制御部１０２内にお
ける、判定手段１０、周波数制御手段１１、ピークサー
チ手段１２、第３のメモリ１１、初期測定スタート手段
１５、センター周波数切り換え手段１６及び周波数測定
モード決定手段１８などＬＬＣＰＵに加えてＲＯＭ及び
ＲＡＭ等の周辺回路を含めたハードウェアに、所定のソ
フトウェアを組合せることにより実現することができる
。制御パネル１７はキーあるいはノブ等で構成され、所
望の各測定条件を外部から入力できるようにしている。

次に第２図（Ｃ）に示す動作フローをベースに、第１図
（Ｃ）の構成図、第３図（ｂ）のタイミングチャート、
及び第４図の表示例を参照しながら本願の動作を説明す
る。

（１）制御パネル１９により所望の測定条件として設定
された、測定周波数情報および測定時間情報に従って測
定周波数範囲（ｆｌ−ｆ２）　、及び測定時間Ｔ１を第
３のメモリ１４に記憶する。第３のメモリ１４からこの
条件を受けた周波数制御手段１１は、条件に沿ってセン
ター周波数として（ｆｃ＝　ｆｌ＋　ｆ２）／２、スパ
ンとして（ｆ２−　ｆｌ）及び測定時間としてＴ１なる
各情報を掃引信号発生手段３へ送出し、所望の初期測定
を行わせる。一方、分解能帯域幅ＲＢＷは直接、ＩＰ回
路４に設定されている。第４図（ａ）に示す測定例では
、センター周波数　ｆｃ＝　５０ＭＨｚ　、スパン＝　
１００ＭＨｚ、　ＲＢ　Ｗ　＝　５０ＭＨｚ　、　Ｓ　
Ｗ　Ｔ（測定時間）　−ＴＩ＝２０ｓで初期測定を行っ
た結果が表示手段８の画面に表示されている。

（ステップ５１０） （２）ここで、周波数測定モード決定手段１８は制御パ
ネル１９より周波数測定モードが設定奎れると、周波数
制御手段１１の制御情報を読み、制御パネル１９により
周波数測定モードに切り換えらねた後の一掃引は、第３
図伽）のＴＩで示されるように初期測定の一周期を続行
させる。次に、周波数測定モード決定手段１８はセンタ
ー周波数切り換え手段１６、判定手段１０、第３のメモ
リ１４及び第２のメモリ１３ｂヘモード切り換え信号を
送出する。このように−掃引遅れてモード設定するのは
、初期測定のどのような時間位置でモード切り換えが行
われても、タイミングよく周波数測定モードに切り換え
られるようにするためである。

（３）モード切り換え信号を受けた第３のメモリ１４は
制御パネル１９からの初期測定条件を記憶し、その読み
出しを禁止する。同様に、第２のメモリ１３ｂは初期測
定時のデータをホールドして表示手段８に表示させる。

このとき第２のメモリ１３ｂの書き込みは禁止される。

またセンター周波数切り換え手段１６は、マーカ設定手
段１４で設定されたマーカ周波数ｆｍを次の掃引のセン
ター周波数ｆｃとするよう周波数制御手段１１へ送出す
る。なお、第２及び第３のメモリの禁止状態は後述する
ように、判定手段１０が周波数制御手段１１及び周波数
測定手段９へ条件満足を通知し、周波数測定手段９が周
波数測定を完了するまで続く。（ステップ５１１）（４
）次に所望スペクトルのピーク点の周波数情報を制御パ
ネル１９から受けたマーカ決定手段１７は周波数情報に
応じたマーク表示を表示手段８に行わせ、同時にその周
波数ｆ＋＋＋を決定しセンター周波数切り換え手段１６
へ送出する。このマーカ設定するタイミングは周波数測
定モードが設定される前でも後でもよい、第４図（ａ）
の例ではマーカ周波数はｆｍ＝　７０ＭＨｚに設定され
ている。（ステップ５１２）（５）一方、判定手段１０
は、初期測定時の測定条件のうち、周波数制御手段１１
あるいは掃引信号発生手段３からのスパンとＩＦ回路４
に設定されているＲＢＷとを比較し、ＲＢＷ≧スパンＸ
　Ｏ，０５（この例ではα＝　０．０５とする）の条件
を判定する一０図４（ａ）の例ではＲＢ　Ｗ　＝　５０
ＫＨｚ　＜　５　ＭＨ２であるから、判定手段１０は条
件不満足の決定をして周波数Ｎ？２１１手段１１へその
旨を通知する（ステップ５１３）。この通知を受けた周
波数制御手段１１はスパンを縮少してｌＯＭＨｚにし、
測定時間もスパンに沿って縮少して第２−２Ｓにし、さ
らにセンター周波数をｆｃ−ｆｍ＝　７０ＫＨｚとして
掃引するような制御信号を発生し、掃引信号発生手段３
を制御する（ステップ３１４）。

なお判定手段１０は、判定結果を満足するときは、その
決定を同様に周波数制御手段１１に送出し、後述するス
テップ１８の動作を行わせる（ステップ５１３）。

（６）このようにスパン−１０Ｍ）ｌｘ　、測定時間Ｔ
２−２８及びセンター周波数ｆｍの条件で測定している
とき、所定のＲＢＷを有するＩＦ回路４で分析されたデ
ータは第のメモリ１３ａに入力周波数に対応づけて記憶
される〔ステップ５１４）、このときの第１のメモリ１
３ａの記憶内容は第４図（ｂ−１）に示されたものと同
じである。ただし、この記憶したデータは画面に表示は
されない。第３図（ｂ）で点線の期間は第２のメモリ１
３ｂにホールドされているデータのみ表示される。

（７）次にピークサーチ手段１２は、第１のメモリ１３
ａのデータからピークレベルをサーチし、そのピーク点
に対応した周波数ｆｐ（−８０，７８ＫＨｚ）を決定し
てセンター切り換え手段１６へ送出する。さらにビーク
サーチ手段１２は判定手段１０へ再判定を要求する。（
ステップ１５） （８）判定手段１０は、再び周波数制御手段１１あるい
は掃引信号発生手段３からのスパンとＲＢＷの設定信号
をもとに判定する。

ここでＲＢ　Ｗ　＝　５０ＫＨｚ　＜スパンＸ　０．０
５＝　５００ＫＩ（ｚであるから、判定手段１０は条件
不満足の通知を再び周波数制御手段１１へ送出する。（
ステップ５１（９）判定手段１０からの条件不満足の通
知を受けた周波数制御手段１１は、再び前記（４）と同
様、前回測定時より縮少したスパンｌ　ＭＨｚ　、測定
時間Ｔ３＝　２００ｖａＳ及び先にビークサーチ手段１
２が検出したｆｐ−７０，８５ＭＨｚをセンター周波数
ｆｃとして掃引信号発生手段３に設定して掃引測定を行
わせる（ステップ５１７）。このときの第１のメモリ１
３ａの記憶内容は第４図（ｂ−２）及び（ｃ−１）に示
すものと同じである（これも画面に表示されない）、な
お、第４図（ｂ−２）から（ｃ−１）の動作はほぼ同時
に行われ、第３図さ）の第３の間に測定される。

ＱＯ）再びビークサーチ手段１２及び判定手段１０は、
前記（７）（ステップ５１５）及び（８）（ステップ５
１６）の各項と同様の動作を行う、このとき、ビークサ
ーチ手段はピーク周波数ｆｐ−７０，７５ＭＨ２を検出
する。

一方、判定手段１０は、測定条件がＲＢ　Ｗ　＝　５０
ＫＨｚ≧スパンＸ　０．０５＝　５０ＫＨｚの関係を満
足するので、周波数制御手段１１に条件満足の通知をし
、かつ周波数測定手段９に周波数測定開始の指示を行う
。

（ステップＳ１５及びＳ　１６） （１０条件満足の通知を受けた周波数制御手段１１はス
パン−零、及び先に測定したピーク周波数ｆｐ＝７０．
７５　Ｍ　Ｈ２をセンター周波数ｆｃとして掃引信号発
生手段３に設定して測定を行わせる。　（ステップ５１
８） ０２１一方、判定手段１０から測定開始の指示を受けた
周波数測定手段９は局部発振器２の出力周波数ＡとＩＦ
回路４の出力周波数Ｂを加算的にカウントし、（Ａ＋Ｂ
）なる測定周波数情報を出力して表示手段８に数値表示
を行なわせる。このタイミングは第３図ら）に示す第４
であるが、数値表示は後述する初期測定再開後に表示さ
れる（ステップ５１９）、このときの第１のメモリ１３
ａの記憶内容は第４図（ｃ−２）及び（ｄ）に示すもの
と同じである。なお、第４図（ｃ−２）から（ｄ）への
処理はほぼ同時に移行する。（これも表示はされない）
■初期スタート手段１５は、周波数測定手段９からの測
定終了信号を受けて、第３のメモリ１４及び第２のメモ
リ１３ｂの禁止状態を解放する。これにより、再び初期
の測定条件で測定が行なわれ、そのデータを表示手段８
に表示される。

上記は第３の実施例について説明したが、第２の実施例
は第１図働）に示すように、第１図（Ｃ）の第３の実施
例に比し、マーカ決定手段１４、センター周波数切、り
換え手段１６及び周波数測定モード決定手段１８を除い
たものである。これの動作フローは第２図（ｂ）に示す
、第３の実施例に比し、第２の実る 施例動作の違いはマーカの設定に拝命動作が無いだけで
ある。つまり第２図（ｂ）のステップ、Ｓｌ、Ｓ２、Ｓ
３、Ｓ４、Ｓ５、Ｓ６、Ｓ７及びＳ８番おそれぞれ第２
図（Ｃ）のステップ、ＳＩｏ、３１１．５１２（マーカ
周波数ｆｍをピークサーチ手段１２より出力されるピー
ク周波数ｒｐに置き換える）、Ｓ１３．３１４．３１８
、Ｓ１９及びＳ２０と同一である。また、ステップＳ１
２とステップＳ１５の動作は同じである。

従って、第２の実施例のは第３の実施例のようにマーカ
で所望のスペクトルをつかまえることはできない、ただ
測定中のスペクトルのピーク点のみの周波数を測定して
いる。タイミングは第３図（ロ）と同じである。また第
１のメモリ１３ａのデータの動きも第４図と同じである
。ただし、これらの図でｆ　ｍ＝　ｆ　ｐとする。

第１の実施例は第１図（ａ）に示すように、第２の実施
例よりさらに初期測定スタート手段１５、第２のメモリ
１３及び第３のメモリ１４を除去し、表示手段８には第
４図に示すような表示を全部表示させ、周波数測定とス
ペクトルの拡大観測を行えるようにしたものである。第
１の実施例の動作フローを第２図（ａ）に、タイミング
チャートを第３図（ａｌに示す。

なお、上記説明の中で、判定手段１０が次式で示される
条件、 ＲＢＷ≧スパン×α が満足されたと判定したとき、局部発振器２の掃引スパ
ンは零に設定され、周数測定手段９はそのときの局部発
振器２の出力周波数ＡとＩＦ回路４の出力周波数Ｂを測
定していた。ところで、スパンが零の場合は局部発振器
２の出力周波数は固定である。従って掃引スパンを零に
したときは、局部発振器２としてＰ　Ｌ　Ｌ　　（Ｐｈ
ａｓｅ　Ｌｏｃｋ　Ｌｏｏｐ　）回路を有するシンセサ
イザ構成に切り換えることができる。この場合、周波数
測定手段９は局部発振器２の周波数設定値を知るだけで
よい、当然、このときの掃引信号発生手段３は周波数制
御手段１１の指示に沿ったデジタル信号を局部発振器２
へ送出する。

第５図（ａ）、伽）及び（Ｃ）はそれぞれ本発明の第４
、第５及び第６の実施例を示す構成図、第６図（ａ）、
（ｂ）及び（Ｃ）はそれぞれ第４、第５及び第６の実施
例の動作を説明するためのフローチャート、第７図（ａ
）は第４の実施例の動作を説明するためのタイミングチ
ャート及び第７図（ロ）は第５及び第６の実施例の動作
を説明するためのタイミングチャートである。

これらの図で示されるように第５の実施例は第６の実施
例の、第４の実施例は第５の実施例でのそれぞれの面素
形となっているので、第６の実施例から説明する。

第５図（Ｃ）に示した第６の実施例は前述の第３の実施
例（第１図（Ｃ））のマーカ設定部１７がゾーン設定手
段３０に、制御パネル１９のマーカ周波数情報が制御パ
ネル１９のゾーン周波数情報に変更されている以外は第
３の実施例（第１図（Ｃ））と同じである。

ここで、ゾーン設定手段３０は第４図（ａ）中に例示し
たように、表示器８の画面に表示されているスベクラル
中の所望のスペクトルを含むゾーンを、測定周波数範囲
として設定するようにセンター周波数切り換え手段１６
に指令すると共に、表示器８にそのゾーンを例えば枠状
として表示させる。

なお、ゾーン設定のテクニックに関しては本発明と同一
出願人による特許出願（特願昭６２−５１７０８号）に
開示されたテクニックがここに編入される。

すなわち、この第６の実施例は、第６図（Ｃ）、第７図
（ｂ）からも明らかなように上述した第３の実施例で行
なわれるマーカ周波数をセンター周波数にしての測定の
代りに、所望のゾーンとして設定された測定周波数範囲
による測定が、周波数測定モードへの切換直後の一掃引
期間だけ行われ、後は上述したと同期のピークサーチに
よる周波数が行なわれる。

この第６実施例の如くゾーン設定による測定は上記各実
施例の効果に加えて、近接した二つのピークのうち２番
目のピークを測定対象としてゾ−ン設定を行なうことに
より、該２番目のピークについての周波数の測定も可能
になるという効果を有する。単にピークサーチによる測
定では、このような場合、測定し得るのは一番目のピー
クについてだけであって、２番目のピークに、ついては
測定することができない。

第５及び第４の実施例は上述した第２及び第１の実施例
に上述のゾーン設定手段３０とセンター周波数切換手段
０６）とを加えたゾーン設定による測定が付加されてい
る以外はそれらと同様である。第５の実施例のフローチ
ャートは第６図伽）に示さ瓢且つタイミングチャートは
第７図中）に示されている。第４の実施例のフローチャ
ートは第６図（ａ）に示され且つタイミングチャートは
第７図（ａ）に示されている。

以上、実施例の動作は信号を直接分析するスペクトラム
アナライザを基にして説明したが、既知の信号を用いて
回路網を分析するネットワークアナライザなどにも適用
される０例えば同調回路における単峰特性のピーク点の
周波数測定に利用できる。また第３の実施例の場合はピ
ークサーチ手段１２を変曲点を含む所望の特性値サーチ
手段に置き換え、初期測定時にマーカで指定された点に
おける所望の特性値の周波数を測定できるようにするこ
とができる。

（発明の効果） このように測定中のピークレベルに対応するピーク周波
数を検出し、かつＲＢＷと測定中のスパンとを比較し、
条件ＲＢＷ≧スパン×αを満足するまで、順次、ピーク
周波数をセンター周波数とし、縮少したスパンと測定時
間を設定して測定し、上記条件を満足したところで周波
数測定を行う構成にしたことから、自動で精度よく周波
数測定ができる。それに伴い測定時間は手動操作による
場合に比して大幅に短縮される。（第１、第２及び第３
の実施例） またスペクトル観測状態から周波数測定に切り換えたと
き、表示画面をホールドし、そのときの測定条件を記憶
し、周波数測定後、再び初期のスペクトル観測状態へ戻
れるようにしく第２及び第３の実施例）、かつ周波数測
定中に表示画面を見ながら次の測定点をマーカにより指
定できる構成にしたことから、幾つものスペクトルを観
測、測定する場合においては、格別に測定スピードを上
げる効果がある。（第２及び第３の実施例）また、上記
の効果に加えピークマーカ点又はゾーンマーカを表示さ
せるので、画面上で確認できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）、ら）及び（Ｃ）は本願の第１、第２及び
第３の実施例の構成を示す図、第２図（ａ）、０））及
び（Ｃ）は第１、第２及び第３の実施例の動作の流れを
示すフローチャート、第３図（ａ）は第１の実施例の、
（ｂ）は第２及び第３の実施例のタイミングを示すタイ
ミングチャート、第４図は従来例及び本願におけるデー
タ記録の様子を示す図、第５図（ａ）は第４の実施例を
示す構成図、第５図伽）は第５の実施例を示す構成図、
第５図（Ｃ）は第６の実施例を示す構成図、第６図（ａ
）は第４の実施例の動作を説明するだめのフローチャー
ト、第６図（ｂ）は第５の実施例の動作を説明するため
のフローチャート、第６図（Ｃ）は第６の実施例の動作
を説明するためのフローチャート、第７図（ａ）↓よ第
４の実施例の動作を説明するためのタイミングチャート
、第７図（ｂ）は第５及び第６の実施例の動作を説明す
るためのタイミングチャート、第８図は従来例の構成を
示す図である。 図中の１はミキサ、２は局部発振器、３及び２゜は掃引
信号発生手段、４はＩＦ回路、５は検波法６はＡ／Ｄ変
換器、７はメモリ、８は表示手段、９及び２１は周波数
測定手段、１０は判定手段、１１及び２２は周波数制御
手段、１２及び２３はビークサーチ手段、１３ａは第１
のメモリ、１３ｂは第２のメモリ１４は第３のメモリ、
１５は初期測定スタート手段、１６はセンター周波数切
り換え手段、１７及び２４はマーカ設定手段、１８は周
波数測定モード設定手段、１９は制御パネル、　１００
〜１０２は中央制御手段、Ｓ１〜Ｓ８及び３１０−３２
０は動作フローの各段階を示す。 ０　　　　　　　　　　　　　　　１００卸セ畝）　　
　　　　　　　　（ｆｐ−Ｏ Ｊζ−シー及り肩☆ ’ｔ−１−／Ｉ跪 にｙｗ−ｒｒｙん☆ ｓｗｒ冒２Ｓ （＃−２） ｆＰｍ　７１．か倣 （Ｃ−＋）　　　　　　　　　　（ｄ＞ｆｃ−ｊｐ　−
７１−７１８／／ｌ ｓｗｒ−ｚｎａ、ｓ （Ｃ−２）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）制御された周波数で発振する局部発振器（２）と、 前記局部発振器を所望の測定周波数の範囲で掃引させる
   ための信号を発生する掃引信号発生手段（３）と、 該局部発振器の出力を受けて被測定入力信号を中間周波
   信号に変換するミキサ（１）と、 該中間周波信号を所望の分解能帯域幅で選択出力するＩ
   Ｆ回路（４）と、 該ＩＦ回路からの信号を検波する検波器（５）と、該検
   波器の出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器（６
   ）と、 該デジタル信号を前記測定周波数に対応して記憶するメ
   モリ（７）と、 該メモリからデータを読み出し前記周波数に対応して表
   示する表示手段（８）と、 前記メモリのデータの最大値に対応した周波数値を出力
   するピークサーチ手段（１２）と、前記所望の測定周波
   数範囲で測定しているとき、前記掃引信号発生手段が設
   定されている測定周波数範囲と前記ＩＦ回路が設定され
   ている分解能帯域幅とを比較し、その結果を出力する判
   定手段（１０）と、 該判定手段からの比較結果に基づき、前記掃引信号発生
   手段に、前記ピークサーチ手段が検出した周波数をセン
   ター周波数とし、かつ先に測定した前記所望の測定周波
   数範囲より縮小した測定周波数掃引幅で掃引して、その
   掃引幅で測定を行わせる掃引周波数制御手段（１１）と
   、 前記判定手段からの比較結果に基づき、前記ＩＦ回路の
   出力周波数と前記局部発振器の出力周波数とから被測定
   入力信号の周波数を測定し、その結果を出力する周波数
   測定手段（９）とを備えたことを特徴とする信号分析装
   置。 ２）制御された周波数で発振する局部発振器（２）と、 前記局部発振器を所望の測定周波数の範囲で掃引させる
   ための掃引信号発生手段（３）と、該局部発振器の出力
   を受けて被測定入力信号を中間周波信号に変換するミキ
   サ（１）と、 該中間周波信号を所望の分解能帯域幅で選択出力するＩ
   Ｆ回路（４）と、 該ＩＦ回路からの信号を検波する検波器（５）と、該検
   波器の出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器（６
   ）と、 該デジタル信号を前記測定周波数に対応して記憶する第
   １のメモリ（１３ａ）及び第２のメモリ（１３ｂ）と、 該第２のメモリからデータを読み出し周波数に対応して
   表示する表示手段（８）と、 前記所望の測定周波数範囲で測定しているときの初期測
   定条件を記憶する第３のメモリ（１４）と、前記第１の
   メモリのデータの最大値に対応した周波数値を出力する
   ピークサーチ手段（１２）と、前記所望の測定周波数範
   囲で測定しているとき、前記第３のメモリに初期測定条
   件を読み出せないよう出力をロックさせる指示と前記第
   ２のメモリに入力をロックしてデータを保持させる指示
   とを行う手段（１０ａ）と、 前記掃引信号発生手段が設定されている測定周波数範囲
   と前記ＩＦ回路が設定されている分解能帯域幅とを比較
   し、その結果を出力する判定手段（１０）と、 該判定手段からの比較結果に基づき、前記掃引信号発生
   手段に、前記ピークサーチ手段が検出した周波数をセン
   ター周波数とし、かつ先に測定した前記所望の測定周波
   数範囲より縮小した測定周波数掃引幅で掃引して、その
   掃引幅で測定を行わせる掃引周波数制御手段（１１）と
   、 前記判定手段からの比較結果に基づき、前記ＩＦ回路の
   出力周波数と前記局部発振器の出力周波数とから被測定
   入力信号の周波数を測定し、出力する周波数測定手段（
   ９）と、 該周波数測定手段からの周波数測定終了信号を受け、第
   ２のメモリと第３のメモリのロックを解除させる初期測
   定スタート手段（１５）とを備えたことを特徴とする信
   号分析装置。 ３）制御された周波数で発振する局部発振器（２）と、 前記局部発振器を所望の測定周波数の範囲で掃引測定を
   行わせる掃引信号発生手段（３）と、該局部発振器の出
   力を受けて被測定入力信号を中間周波信号に変換するミ
   キサ（１）と、 該中間周波信号を所望の分解能帯域幅で選択出力するＩ
   Ｆ回路（４）と、 該ＩＦ回路からの信号を検波する検波器（５）と、該検
   波器の出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器（６
   ）と、 該デジタル信号を前記測定周波数に対応して記憶する第
   １のメモリ（１３ａ）及び第２のメモリ（１３ｂ）と、 該第２のメモリからデータを読み出し前記測定周波数に
   対応して表示する表示手段（８）と、前記表示手段が表
   示している画像の所望のゾーンを設定し、そのゾーンの
   周波数を決定し、その値を出力するゾーン設定手段（１
   ７）と、 前記第１のメモリのデータのゾーンに対応した所望の特
   性値の周波数値を出力するサーチ手段（１２）と、 前記所望の測定周波数範囲で測定しているときの初期測
   定条件を記憶する第３のメモリ（１４）と、前記ゾーン
   設定手段で設定された所望の特性値の周波数を測定する
   ため指示を出し、前記第３のメモリに初期測定条件を読
   み出せないよう出力をロックさせ、前記第２のメモリに
   入力をロックしてデータを保持させる周波数測定モード
   決定手段（１８）と、 該周波数測定モード決定手段からの指示を受けてから、
   前記掃引信号発生手段が出力する測定周波数範囲情報と
   前記ＩＦ回路が設定されている分解能帯域幅とを比較し
   、その結果を出力する判定手段（１０）と、 該判定手段からの比較結果に基づき、前記掃引信号発生
   手段に、前記サーチ手段が出力する周波数をセンター周
   波数にし、かつ、先に測定した前記所望の測定周波数範
   囲より縮小した測定周波数幅で掃引して、同掃引幅で測
   定を行わせる掃引周波数制御手段（１１）と、 前記判定手段からの比較結果に基づき、前記ＩＦ回路の
   出力周波数と前記局部発振器の出力周波数とから被測定
   入力信号の周波数を測定し、出力する周波数測定手段（
   ９）と、 前記サーチ手段からの周波数と前記ゾーン設定手段から
   の周波数を切り換えて前記周波数制御手段に出力するセ
   ンター周波数切り換え手段（１６）と、前記周波数測定
   手段からの出力信号を受け、第２のメモリと第３のメモ
   リのロックを解除させる初期測定スタート手段（１５）
   とを備えたことを特徴とする信号分析装置。