JPH01105255A - Glass mask - Google Patents
Glass maskInfo
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- JPH01105255A JPH01105255A JP62261552A JP26155287A JPH01105255A JP H01105255 A JPH01105255 A JP H01105255A JP 62261552 A JP62261552 A JP 62261552A JP 26155287 A JP26155287 A JP 26155287A JP H01105255 A JPH01105255 A JP H01105255A
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- Japan
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- pellicle
- foreign matter
- frame
- glass
- glass mask
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はべりタルを適用したガラスマスクに関するもの
である。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a glass mask to which Beritaru is applied.
ガラスマスクについては、プレスジャーナル発行月刊S
em1conductor World 1986年
12月号p、174に記載されている。For information on glass masks, please see Press Journal Publication Monthly S
It is described in em1conductor World, December 1986 issue, p. 174.
その概要について、第3図を用いて説明する。The outline will be explained using FIG. 3.
1は、平滑に研磨したガラス板で、ソーダライムガラス
、ケイホウ酸ガラスあるいは石英ガラス等が用いられて
いる。2はクロム膜をガラス板1の主表面la上に形成
し、レジストプロセスを用いてエツチングすることによ
り所望の形にバターニングしたパターンである。3は前
記パターン2の周囲に取り付けられた枠体であり、この
枠体3を介して主表面1aと平行に透明なペリクル膜が
張り付けられている。1 is a glass plate polished smooth, and soda lime glass, silicate glass, quartz glass, or the like is used. 2 is a pattern in which a chromium film is formed on the main surface la of the glass plate 1 and patterned into a desired shape by etching using a resist process. Reference numeral 3 denotes a frame attached around the pattern 2, and a transparent pellicle film is pasted through the frame 3 in parallel to the main surface 1a.
このような構成のペリクル付きのガラスマスク5は直接
主表面la上に微小なゴミが付着せずにペリクル膜上に
付着するため、露光時パターン2が形成されている面と
数闘離すことができる。そのため、異物のパターンは焦
点がぼけて、露光してもウェハ表面のレジストに投射さ
れず、欠陥にならないため、ウェハの歩留を向上するた
めの有効な手段として知られている。In the glass mask 5 with a pellicle having such a configuration, minute dust does not adhere directly to the main surface la, but instead adheres to the pellicle film, so that it is possible to separate the surface by several distances from the surface on which the pattern 2 is formed during exposure. can. Therefore, the pattern of foreign particles is out of focus and is not projected onto the resist on the wafer surface even when exposed to light, so that it does not become a defect, and is therefore known as an effective means for improving the yield of wafers.
ところが、このようなペリクル付きのガラスマスク5(
レチクル)を空輸するとき、かなりの気圧、あるいは温
度変動があり、ペリクル6内の空気が膨張、収縮し、そ
れにともないペリクル膜4が凸状態になったり、凹状態
になったりして、ガラス板1と枠体3との接着面あるい
は枠体3とペリクル膜4との接着面から異物が発生し、
ガラス板の主表面に付着して問題となることが本発明者
により明らかにされた。However, such a glass mask 5 with a pellicle (
When a reticle (reticle) is transported by air, there are considerable changes in air pressure or temperature, causing the air inside the pellicle 6 to expand and contract, causing the pellicle membrane 4 to become convex or concave, causing the glass plate to Foreign matter is generated from the adhesive surface between 1 and the frame 3 or the adhesive surface between the frame 3 and the pellicle membrane 4,
The inventor of the present invention has revealed that adhesion to the main surface of a glass plate poses a problem.
本発明の目的は、ウェハ歩留を向上するための技術を提
供するものである。An object of the present invention is to provide a technique for improving wafer yield.
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は本
明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。[Means for Solving the Problems] A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.
すなわち、ペリクル内圧と外圧とが一定であるよ5に、
ペリクル内と外部の空気′の通り道を枠体に形成するも
のである。In other words, if the pellicle internal pressure and external pressure are constant,
A passage for air inside and outside the pellicle is formed in the frame.
上記した手段によれば、ペリクル内部と外部とが同圧と
なりペリクル内の空気の膨張、収縮により、ペリクル膜
が凸状態あるいは凹状態となって異物が発生するという
問題を解決できるものである。According to the above-mentioned means, it is possible to solve the problem that the inside and outside of the pellicle have the same pressure, and the expansion and contraction of the air inside the pellicle causes the pellicle membrane to become convex or concave, causing foreign matter to occur.
〔実施例1〕
第1図は本発明の一実施例であるガラスマスクの概略断
面図である。なお、第3図で示したペリクル付きガラス
マスクと同様な構成は、同一符号を付し、その説明は省
略する。[Example 1] FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a glass mask that is an example of the present invention. Components similar to those of the pellicle-equipped glass mask shown in FIG. 3 are designated by the same reference numerals, and their explanations will be omitted.
図示するように、枠体3にはペリクル6の内部から外部
に貫通した連通孔7が形成されており、空気が自由に出
入りできるようになっている。なお、異物が前記連通孔
7を介してペリクル6内部に入り込む危険性がある場合
には、本実施例のように異物を除去するフィルター8を
取り付けておいても良い。As shown in the figure, a communication hole 7 is formed in the frame 3, penetrating from the inside of the pellicle 6 to the outside, so that air can freely enter and exit. Note that if there is a risk that foreign matter may enter the inside of the pellicle 6 through the communication hole 7, a filter 8 for removing foreign matter may be attached as in this embodiment.
〔実施例2〕
第2図は、本発明の他の実施例であるガラスマスク7の
概略断面図である。[Example 2] FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of a glass mask 7 that is another example of the present invention.
図示するように、本実施例では枠体9自体がフィルター
材で構成されており、ペリクル6a内部と外部との間で
空気が自白に出入りできるようになっている。As shown in the figure, in this embodiment, the frame body 9 itself is made of a filter material, and air can freely flow in and out between the inside and outside of the pellicle 6a.
次に本実施例の作用効果について説明する。Next, the effects of this embodiment will be explained.
(11枠体にペリクル内部と外部とを連通ずる連通孔を
設けることにより、常にペリクル内部圧と外圧とが等し
くなるので、気圧、温度等の変化により、ペリクル膜が
、凸状になったり、凹状になったりしてペリクル膜と枠
体あるいは枠体とガラス板とに圧力が加わり異物が生じ
るという問題を防止できるという効果が得られる。(11 By providing a communication hole in the frame that communicates the inside and outside of the pellicle, the pellicle internal pressure and external pressure are always equal, so changes in atmospheric pressure, temperature, etc. can cause the pellicle membrane to become convex, This has the effect of preventing the problem of foreign matter being generated due to pressure being applied to the pellicle membrane and the frame or the frame and the glass plate due to the concave shape.
(21枠体にペリクル内部と外部とを連通ずる連通孔を
設け、かつ前記連通孔にフィルターを配設することKよ
り、前記効果が得られるとともに、外部からペリクル内
部に異物が侵入する危険性を完全に防止できるという効
果が得られる。(21 By providing a communication hole in the frame body that communicates the inside of the pellicle with the outside, and arranging a filter in the communication hole, the above effect can be obtained, and the risk of foreign matter entering the inside of the pellicle from the outside can be achieved. This has the effect of completely preventing this.
(31枠体をフィルター材で構成することにより、常に
ペリクル内部圧と外圧とを等しくできるので、気圧、温
度等の外部の栄件が変化しても、ペリクル膜に圧力が加
わることがないので、ペリクル膜と枠体あるいは枠体と
ガラス板との接着面から異物が生じるのを防止できると
いう効果が得られる。(31 By constructing the frame with filter material, the internal pressure of the pellicle and the external pressure can always be equalized, so even if external conditions such as atmospheric pressure and temperature change, no pressure is applied to the pellicle membrane.) This provides the effect that foreign matter can be prevented from forming from the bonding surface between the pellicle membrane and the frame or the frame and the glass plate.
(41(1) 、 +21 、 [31により、パター
ンが形成されているガラス板主弄面に、異物が付着する
のを防止できるので、露光の際に異物がパターンとして
ウェハ表面に投射されることがないので、ウェハ歩留を
向上できるという効果が得られるものである。(41(1), +21, [31) can prevent foreign matter from adhering to the main surface of the glass plate on which a pattern is formed, so that foreign matter can be projected onto the wafer surface as a pattern during exposure. Since there are no defects, the wafer yield can be improved.
以上本発明者によってなされた発明を実施例にもとづき
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。たとえば、連通孔は1
カ所だけでなく複数カ所であっても良い。また、連通孔
を設けずペリクル内部に、不活性でかつ温度、気圧に対
して体積変化の小さいガス(例えばアルゴンetc)を
充填するようにしても良い。Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the above Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor. For example, the communication hole is 1
It may be located not only in one location but also in multiple locations. Alternatively, the pellicle may be filled with an inert gas (for example, argon, etc.) whose volume changes little with respect to temperature and pressure without providing a communication hole.
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
。A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows.
すなわち、外部の圧力、温度等の変化があってもペリク
ル内部が連通孔を介して外部と連通しているので圧力差
が生じず、各接着面(ペリクル膜と枠体、枠体とガラス
板)に力が加わることがなく、接着面から異物が発生す
ることがない。従って、異物による露光不良が発生する
のを防止できるものである。In other words, even if there are changes in external pressure, temperature, etc., the inside of the pellicle communicates with the outside through the communication hole, so there is no pressure difference, and each bonding surface (pellicle membrane and frame, frame and glass plate) ), and no foreign matter is generated from the adhesive surface. Therefore, exposure defects due to foreign matter can be prevented.
第1図は本発明の一笑施例であるガラスマスクの概略構
成図、
第2図は本発明の他の実施例であるガラスマスクの概略
構成図、
第3図は従来のガラスマスクの概略図である。
1・・・ガラス板、2・・・パターン、3・・・枠体、
4・・・ペリクル膜、5・・・ガラスマスク、6・・・
ペリクル、7・・・連通孔、8,9・・・フィルター。Fig. 1 is a schematic diagram of a glass mask which is a simple embodiment of the present invention, Fig. 2 is a schematic diagram of a glass mask which is another embodiment of the invention, and Fig. 3 is a schematic diagram of a conventional glass mask. It is. 1... Glass plate, 2... Pattern, 3... Frame,
4... Pellicle membrane, 5... Glass mask, 6...
Pellicle, 7... communicating hole, 8, 9... filter.
Claims (1)
、前記パターンを囲うように取り付けられた枠体と、主
表面に向かいあうように前記枠体に取り付けられた透明
なペリクル膜を有するガラスマスクにおいて、前記枠体
には、少なくとも1個の連通孔が形成されていることを
特徴とするガラスマスク。 2、前記連通孔には外部から異物が侵入しないようにフ
ィルターが取り付けられていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のガラスマスク。 3、前記枠体自身がフィルターで構成されていることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のガラスマスク。[Claims] 1. A glass plate with a light-shielding pattern formed on its main surface, a frame attached to surround the pattern, and a transparent glass plate attached to the frame so as to face the main surface. 1. A glass mask having a pellicle film, characterized in that the frame has at least one communication hole formed therein. 2. The glass mask according to claim 1, wherein a filter is attached to the communication hole to prevent foreign matter from entering from the outside. 3. The glass mask according to claim 1, wherein the frame itself is constituted by a filter.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62261552A JPH01105255A (en) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | Glass mask |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62261552A JPH01105255A (en) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | Glass mask |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01105255A true JPH01105255A (en) | 1989-04-21 |
Family
ID=17363481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62261552A Pending JPH01105255A (en) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | Glass mask |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01105255A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100575000B1 (en) * | 2004-12-07 | 2006-05-02 | 삼성전자주식회사 | Photomask for semiconductor device manufacturing and its manufacturing method |
| US7072438B2 (en) | 1996-05-17 | 2006-07-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Reflection type mask |
| JP2007052429A (en) * | 2005-08-15 | 2007-03-01 | Micro Lithography Inc | Optical pellicle frame |
| CN109270789A (en) * | 2018-11-13 | 2019-01-25 | 长江存储科技有限责任公司 | Photomask protective film structure and mask |
-
1987
- 1987-10-19 JP JP62261552A patent/JPH01105255A/en active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7072438B2 (en) | 1996-05-17 | 2006-07-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Reflection type mask |
| KR100575000B1 (en) * | 2004-12-07 | 2006-05-02 | 삼성전자주식회사 | Photomask for semiconductor device manufacturing and its manufacturing method |
| JP2007052429A (en) * | 2005-08-15 | 2007-03-01 | Micro Lithography Inc | Optical pellicle frame |
| CN109270789A (en) * | 2018-11-13 | 2019-01-25 | 长江存储科技有限责任公司 | Photomask protective film structure and mask |
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