JPH01107146A

JPH01107146A - 電解質濃度測定方法

Info

Publication number: JPH01107146A
Application number: JP62263579A
Authority: JP
Inventors: Toshio Takiguchi; 瀧口　登志夫; Akiko Tanaka; 晶子田中
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1987-10-19
Filing date: 1987-10-19
Publication date: 1989-04-25
Anticipated expiration: 2010-05-31
Also published as: JPH0750056B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）本発明は例えば、医療検査の分野で用いられる自動化学
分析装置における電解質濃度測定方法の改良、特にその
校正液電位レベルの異常を検出することのできる電解質
濃度測定方法に関するものである。

（従来の技術）自動化学分析装置を用いた電解質濃度測定方法において
は、連続的または非連続的に行われる被測定液（以下、
サンプルという）の測定に関連してその時々の校正液の
電位を測定し、両者の測定信号を演算器に入力すること
によりサンプル中の電＃ｉ′貿濃度を測定する。この場
合、校正液の測定電位を常に所定の電位レベルに保つこ
とが正確な測定を行う上での前提条件となる。

（発明が解決しようとする問題点）しかしながら、特にはこの条件を維持することができな
いケースも生じていた。この場合、従来の自動化学分析
装置では、校正液電位に係る自己管理機能が儒えられて
いないために、測定値に表れた誤差を見落としたり、あ
るいは、たとえ見分けることができたとしても、その原
因を追及し且つそれに対して適切な処置をするのに多大
の手間を必要とする不具合があった。そのため、これの
改善策の出現が望まれていた。

本発明は、この事情に鑑みてなされたもので、測定中の
校正液の電位に係る異常状態を簡単に検出し、且つ、早
期にその対策を講じることのできる新規な電解質濃度測
定方法を提供することを目的とする。

［発明の構成］（問題点を解決するための手段）この目的を達成するための本発明の構成は、陽イオン電
極と陰イオン電極とを用いサンプル測定と併Ｖて校正液
の測定をも行う電解質濃度測定方法において、正常時に
前記陽イオン電極及び陰イオン電極から出力される校正
液の電位レベルを記憶し、測定中の校正液電位に変動が
生じた際に、両イオン電極からの出力電位レベルと正常
時の電位レベルとを比較することにより両電位レベル間
に生じるズレのパターンを検出して、測定中の異常状態
を解析する如くなしたものでおる。

（作　用）この構成に基づく本発明の作用は、測定中の陽イオン電
極及び陰イオン電極から出力される各々の校正液の電位
レベルと正常の電位レベルとを比較し、両電位レベル間
に生じるズレのパターンを識別することにより、測定中
の異常状態を解析するようになしたことにある。

（実施例）以下、図示の一実施例に基づいて本発明を詳述する。第
１図は本発明に係る電解質淵１宴測定方法を用いた自動
化学分析装置の概略構成図である。

図中、１は内部にサンプルを有する反応管、２及び３は
各々の目的イオンに対応した起電ツノを発生する陽イオ
ン電極及び陰イオン電極で、図示のように上下に配置さ
れている。４はこれらの電極群２，３の内部に反応管１
内のサンプルを導入するための吸引ノズルで、吸引時に
はその先端部が必要最だけ下降するように構成される。

５は該吸引ノズル４に連通する適宜のサクションポンプ
、６は前記陽イオン電極２と陰イオン電極３とにそれぞ
れ接続したプリアンプで、適宜のＡ／Ｄ変換器７を介し
てｃｐｕ　＜演算器）８に接続される。

９はｃｐｕａに接続されたメモリで、前記プリアンプ６
、Ａ／Ｄ変換器７を経てｃｐｕｓに入力された前記両方
のイオン電極２，３からの測定情報を蓄え、且つ、必要
に応じてＣＰＵ８に出力する。

そして、この構成から成る自動化学分析装置においては
、該装置が正常に作動している時には、陽イオン電極２
と陰イオン電極３とで測定される校正液のそれぞれ電位
Ｅ”、Ｅ″″が、所定の電圧レベル例えば第２図（Ａ＞
及び（Ｂ）に示す破線のレベルＥｏ　＊　Ｅｉ５に保た
れるように、予め構成してあくものとする。このような
校正液電位レベルの基準値Ｅｇ、Ｅδは前記メモリ９に
記憶されている。

前記基準値と測定電位との関係において前記ＣＰＵ８が
正常か異常かを判断することになるが、これは次の関係
式（１）によって行われる。

１Ｆ±−Ｅ古　１≦八Ｅ　　　　　・・・　（１）上記
へＥは例えば０．１ｍＶである。

次にこのような構成の自動化学分析装置を使用した電解
質Ｓ度測定時の校正液電位レベルの異常検出の方法を第
３図のフローチャートをも参照してで１明する。

先ず、適宜の恒温槽内を移動してきた反応管１が吸引ノ
ズル４の位置で停止すると、該ノズル４の先端部が下降
し且つサンクションポンプ５が作動して、反応管１内の
サンプルを陽イオン電極２と陰イオン電極３とに導入す
る。そして、両方のイオン電極２，３で測定されたサン
プルのイオン測定電圧は、プリアンプ６で増幅され且つ
Ａ／Ｄ変換器７を経てＣＰＵ８に入力され、更に、メ［
す９内に記憶される。一方、校正液の測定は、例えばこ
のサンプル測定の前段過程または後段過程で、前述のサ
ンプル測定の場合と同様な経過で行われる。

理論式（ネルンストの式）により、陽イオン電極ではサ
ンプル濃度が高くなると電位が高くなり、陰イオン電極
では逆に低くなる。つまり、常に一定であるべき校正液
の濃度に変動を生じた場合、陽イオン電極と陰イオン電
極の電位レベルは逆の方向に動く。

また、陽イオン電極と陰イオン電極は、同一のＲｅｆｅ
ｒｅｎＣｅ電極を用いており、それらの出力電圧は、共
通のグランドを持った複数のプリアンプで増幅される。

このような構成において、例えば電気的に陽イオン電極
と陰イオン電極で共通な部分、すなわち＋ｔｅｒｅｒｅ
ｎｃｅ電極及び回路のグランドに変動が生じた場合、こ
れらの性質上、陽イオン電極の出力電圧と陰イオン電極
の出力電圧は同一の方向に動く。

［校正液の電圧が正常である場合］この場合には、陽イオン電極２及び陰イオン電極３から
それぞれ出力された校正液の測定電圧の波形は、共に前
記破線で示す所定レベル上に表れることになる。従って
、この時の状態を例えばＣＰＵ８で前記（１）式に従っ
て判別し、デイスプレィを用いて表示するようにすれば
、装置が正常に作動していることを確認することが可能
となる。

［校正液の電圧に変動が生じた場合］゛さて、校正液の
測定電圧に変動が生じると、その電圧の波形は、例えば
第２図（Ａ）、（Ｂ）に示す■線または■線のレベル上
に「ズレ」だ形で表われることになる。

しかして、この「ズレ」のパターンを陽イオン電極２と
陰イオン電極３毎に児てみと、「ズレ」のパターンが例
えば■線のような形に出た場合には、陽極イオン電極２
の校正液電位が正常のレベル（破線のレベル）より・ｂ
高くなり、陰イオン電極３の校正液電位が正常レベルよ
りも低く出る。

そして、このような現象が表われた場合には異常の原因
がサンプル側にあるという予想が立つ。

一方、前記「ズレ」のパターンが例えば■線のような形
に出るケースでは、陽イオン電極２の校正液電位と陰イ
オン電極３の校正液電位とが共に正常のレベルよりも低
くでることから、異常の原因が電気系にあるという予想
が立てられる。

そのため、前述した異常時に示される画電極２゜３の「
ズレ」のパターンを、例えばｃｐｕｓの内部において判
断し、デイスプレィを用いて表示することによって、故
障（異常）モードの性質を解析・し且つその出力を監視
用信号として利用することが可能となる。尚、校正液の
測定電位の変動が正常レベルに対して±０．１ｍＶ以上
ある時には、測定結果に対して無視し得ない影響を与え
るため、これを異常状態と認識して故障モードの解析作
業を行う必要がある（以上第３図のフローチＶ−トＸ以
上説明したように、本発明では、測定中の陽イオン電極
及び陰イオン電極から出力される各々の校正液の電位レ
ベルと正常の電位レベルとを比較し、両電位レベル間に
生じる「ズレ」のパターンを識別することによって故障
モードの性質を解析し得る。従って、例えばその出力を
監視用信号として利用すれば、簡単且つ早期に測定作業
中異常を検知することができる。

以上一実施例について説明したが、本発明はこれに限定
されるものではなく、その要旨を変更せざる範囲内で、
種々に変形実施することが可能である。例えば「ズレ」
のパターンの読取り及び検出手段については、図示例に
限らず適宜の回路を用いることが可能であり、また、そ
の検出結果を監視に利用する場合の警報手段または測定
作業の強制停止手段等についても、適宜の方法及び回路
構成を採用することができる。

し発明の効果］以上述べた通り本発明を用いる時は、測定中の校正液の
電位に係る異常状態を簡単に検出し且つ早期にその対策
を講じることのできる新規な電解質濃度測定方法を実現
することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る電解質＆１度測定方法を適用した
自動化学分析装置の概略構成図、第２図（Ａ＞及び（Ｂ
）は第１図示の自動化学分析装置における陽極イオン電
極及び陰イオン電極が出力する電位波形を示すそれぞれ
の波形図、第３図は動作説明のためのフローチャートで
ある。２・・・陽イオン電極、３・・・陰イオン電極、４・・
・吸引ノズル、６・・・プリアンプ、７・・・Ａ／Ｄ変
換器、８・・・ＣＰＵ、９・・・メー破線・・・所定の
電圧レベル。代理人　弁理士　三　　澤　　正しり、

Claims

【特許請求の範囲】

（１）陽イオン電極と陰イオン電極とを用いサンプル測
定と併せて校正液の測定をも行う電解質濃度測定方法に
おいて、正常時に前記陽イオン電極及び陰イオン電極か
ら出力される校正液の電位レベルを記憶し、測定中の校
正液電位に変動が生じた際に、両イオン電極からの出力
電位レベルと正常時の電位レベルとを比較することによ
り両電位レベル間に生じるズレのパターンを検出して、
測定中の異常状態を解析する如くなしたことを特徴とす
る電解質濃度測定方法。
（２）前記測定中の異常状態は、両イオン電極からの出
力電位レベルと正常時の電位レベルとの間に±０．１ｍ
Ｖ以上の電位差が生じた状態である特許請求の範囲第１
項に記載の電解質濃度測定方法。