JPS60164244A - イオン電極測定方法 - Google Patents

イオン電極測定方法

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Publication number
JPS60164244A
JPS60164244A JP59020471A JP2047184A JPS60164244A JP S60164244 A JPS60164244 A JP S60164244A JP 59020471 A JP59020471 A JP 59020471A JP 2047184 A JP2047184 A JP 2047184A JP S60164244 A JPS60164244 A JP S60164244A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
potential difference
measurement
measured
ion electrode
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59020471A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoichi Inaba
洋一 稲葉
Kiyoshi Kawashima
川嶋 潔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
NTT Inc
Original Assignee
Jeol Ltd
Nihon Denshi KK
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Jeol Ltd, Nihon Denshi KK, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP59020471A priority Critical patent/JPS60164244A/ja
Publication of JPS60164244A publication Critical patent/JPS60164244A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/416Systems
    • G01N27/4163Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus
    • G01N27/4165Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus for pH meters

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は異常測定されたものを検出するイオン電極11
i11定方法に関する。
近時、イオン電極を用いて、無機物又は有機物のイオン
濃度を測定し、これらの定量分析を行なう方法が実施さ
れている。
この様な方法の一つに、被測定溶液の収容された容器中
に、イオン電極と参照電極とを配置し、該各電極間に生
じIC電位差を測定することにより、被測定溶液中の特
定物質のイオン濃度を検出し、該特定物質の定量を行な
うイオン電極測定方法がある。
所で、一般に、前記2つの電極間に生じる電位差は理想
的には一定であるが、例えば、電極に不良があったり、
該イオン電極測定方法を化学分析装置等の流系を持つ装
置に応用した場合に、該装置の流系に気泡が出来て被測
定溶液が不足したり、該装置の温調が不良であった場合
、一定であるべき電位差が一定でなくなってしまう。従
って、この結果、誤った測定を行なってしまう。
本発明はこの様な問題を解決することを目的としたもの
である。
さて、時間に対する電位差の変化を見ると、理想的には
第1図の直線(C)に示す様に、時間に対し電位差は一
定(Vo )であるが、前記電極等の不良があると、第
1図の直線(a >或いは(b)に示す様に、時間に対
して大略直線的に電位差が変化する。従って、少くとも
或2つの時点における電位差を測定し、時間に対する電
位差の傾ぎをめ、該傾きが零でなければ、この測定は電
極の不良等の下で測定した誤った結果であると判断出来
る。但し、装置には装置特有の微小異常を発生さけるも
のがあるので、該微小異常によるものを許容量とし、該
許容量を越えた測定値を異常測定と判定すればよい。
本発明はこの様な点を考慮し、被測定溶液の収容された
容器中に、イオン電極と参照電極とを配置し、該各電極
間に生じた電位差を測定する様にした方法において、前
記測定中、電位差が理想的に一定であるべき区間におい
て時間に対する電位差の傾きをめ、該傾きの程度に基づ
いて異常測定を判別づる様にした新規なイオン電極測定
方法を提供するものである。
第2図は本発明の測定方法の一実施例として示したイオ
ン電極測定装置の概略図である。
図中、1は測定すべぎ特定物質が溶けている被測定溶液
2を収容した容器である。該容器の中には、特定物質の
イオンのみに感応する感応膜3を持ったイオン電極4と
、参照電極5が配置されている。6は該イオン電極4と
参照電極5の間に生じた電位差を測定する為の電位差計
である。7は該電位差計6の作動をコントロールし、該
電位差計からの出力(電位差)の値に基づいて、測定が
正しいか否かの信号を発する制御装置である。該制御装
置と前記電位差計の間にはAD変換器8aとDA変換器
8bが設けられている。該電位差計の出力は又該AD変
換器を介して表示装置9に送られている。
斯くの如き装置において、測定すべき特定物質の溶けた
測定溶液2中にイオン電極4と参照電極5を挿入し、或
時点t1において制御装置7からの指令により電位差計
6を作動させると、該電位外語から前記2つの電極間の
電位差を示す信号がAD変挽器8aを介して制御装置7
と表示装置9に送られて来る。続いて、前記制御装@7
は前記時点[1の適宜後の時点t2において前記電位差
計6に作動指令を送り、又、2つの電極間の電位差を示
す信号を検出する。該制御装置は、前記11時点に得ら
れた電位差信号と12時点に得られた電位差信号どの差
を取り、核外が、予め、装置が有している特有の微小異
常を許容量としてセットされた基準値より小さければ、
この測定は正しいものと判断し、何ら動作を行なわない
が、核外が基準値より大きい場合、この測定は誤ったも
のと判断し、前記表示装置9に信号を送るので、該表示
装置は表示された測定値は異常値であることを表示する
本発明によれば、電極等の不良による誤測定を検出出来
るので、不正確な測定値を排除出来る。
又、異常測定の検出により電極の不良を検知出来る。又
、本発明を化学分析装置に応用した場合、流系の被測完
溶a量の不足や温調の不良の検知が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の詳細な説明に使用した時間に対1゛る
電位差の変化を示す図、第2図は本発明の方法の実施例
として示したイオン電極測定装置の概略図である。 1:容器 2:被測定溶液 3:@応膜 4:イオン電極 5:参照電極 6:電位差計 7:制御装置 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 伊腔 −夫

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測定溶液の収容された容器中に、イオン電極と参照電
    極とを配置し、該各電極間に生じた電位差を測定する様
    にした方法において、前記測定中、電位差が理想的に一
    定であるべき区間において時間に対する電位差の傾きを
    め、該傾きの程度に基づいて異常測定を判別する様にし
    たイオン電極測定方法。
JP59020471A 1984-02-07 1984-02-07 イオン電極測定方法 Pending JPS60164244A (ja)

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JPS60164244A true JPS60164244A (ja) 1985-08-27

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5444593A (en) * 1977-09-14 1979-04-09 Hitachi Ltd Ion concentration analytical apparatus

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5444593A (en) * 1977-09-14 1979-04-09 Hitachi Ltd Ion concentration analytical apparatus

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