JPH01107149A - 超音波探傷試験方法 - Google Patents

超音波探傷試験方法

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JPH01107149A
JPH01107149A JP62264658A JP26465887A JPH01107149A JP H01107149 A JPH01107149 A JP H01107149A JP 62264658 A JP62264658 A JP 62264658A JP 26465887 A JP26465887 A JP 26465887A JP H01107149 A JPH01107149 A JP H01107149A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) 本発明は、セラミックス部材を斜角法によって超音波探
傷試験を行う際に使用する超音波探傷試験用標準試験片
に関する。
(従来の技術〉 従来から、セラミックス焼結体のボアや異物等の内部欠
陥を非破壊で検出する方法として超音波探傷試験法が用
いられている。
この方法は、超音波探傷装置の超音波探触子(トランス
ジューサ)をセラミックス焼結体の表面に水や油等の接
触aXを介して接触させつつ移動させて欠陥部から反射
してくる反射波により欠陥の存在、その大きさおよびそ
の位置等を検出する方法である。この超音波探傷試験に
よれば、内部の微細な欠陥まで検出可能であるなめ、非
破壊検査法として、近年急速に実用化されてきている。
この超音波探傷試験は、被検体への超音波の入射方法に
よって、垂直法と斜角法とに大別され、斜角法によれば
複雑形状部材の探傷が可能であり、また入射時のエコー
による入射面近傍の不感体の幅が狭くなり、入射面近傍
まで探傷可能となるため、厚さが極めて薄い部材まで正
確に非破壊検査が可能であることから、セラミックス部
材の超音波探傷試験にもその適用が試みられている。
このような斜角法による超音波探傷試験を行うためには
、超音波の入射角に対する屈折角や、斜角法では横波を
使用するなめ入射角に対する横波および縦波の出現状態
等を把握することが必要とされている。また、斜角法に
限らず得られる波形の時間軸が正確に設定されていなけ
れば検出した欠陥の位置を正確に知ることはできない。
ところで、現状のセラミックス部材の斜角法による超音
波探傷試験は、鋼材用の標準試験片による測定値を被検
体の密度差や被検体中の音速差から換算して、上述した
ような入射角に対する屈折角、入射角に対する横波およ
び縦波の出現状態、検出波形における時間軸の設定等の
セラミックス部材の材質によって決定される入・反射特
性や伝搬特性を求めて探傷を行っている。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、このように鋼材用の標準試験片による測
定値を#!i算した値を用いたセラミックス部材の探傷
法では、検出した欠陥の正確な位置評定ができず、超音
波探傷試験の信頼性を大幅に低下させていた。
また、超音波探触子は入射点が通常明確にされているが
、使用とともに接触媒質の摩耗等によって入射点にずれ
を生じることがあり、この入射点のずれの補正手段も確
定しな方法がないのが現状である。
本発明はこのような現状に対処すべくなされたもので、
セラミックス部材の斜角法による超音波探傷試験におけ
る欠陥の位置評定を正確化し、信頼性を向上させること
を可能にする超音波探傷試験用標準試験片を提供するこ
とを目的とする。
[発明の構成コ (問題点を解決するための手段) 本発明の超音波探傷試験用標準試験片は、所定の形状お
よび寸法を有する均質なセラミックス焼結体からなり、
超音波入射面に対して少なくとも前記セラミックス焼結
体の斜角法による超音波の入・反射特性および/または
伝搬特性を明確化するよう形成された所定の曲率半径の
曲面状反射面を有することを特徴としたセラミックス部
材用の標準試験片である。
本発明におけるセラミックス焼結体は、被検体となるセ
ラミックス部材と同一材質からなるものが最も優れてい
る。超音波の固体における入・反射特性、すなわち固体
への入射時の屈折角等や固体内における伝搬特性等は、
被検体および被検体と探触子との接触媒質の密度と被検
体および接触W:、質中での音速によって決定されるも
のであるため、被検体と同一材質の標準試験片によって
上記特性を決定することが最も信頼性に優れた検査結果
が得られるが、次代に示すように各セラミックス焼結体
間の音速の差や理論密度の差は、これらの値と鋼材との
差に比べてはるかに小さいため、検査精度によっては他
のセラミックス焼結体を転用することも可能である。
(以下余白) また、使用するセラミックス焼結体は、ホットプレス法
等による均質性に優れたものが超音波の伝搬が安定する
ため好ましく、理論密度に対する相対密度が90%以上
のものが適当である。
(作 用) そして、上記手段を用いることにより、セラミックス部
材に対する斜角法における超音波の入・反射特性や伝搬
特性を明確化することができ、斜、方法によるセラミッ
クス部材の超音波探傷を行5 つな際の欠陥部の位置評
定を正確に行うことが可能となり、信頼性が大幅に向上
する。
(実施例) 次に、本発明の実施例について図面を参照しながらさら
に詳細に説明する。
第1図は、本発明の超音波探傷試験用標準試験片の一実
施例を示す斜視図であり、この超音波探傷試験用標準試
験片1は所定寸法の直方体(この実施例ではk= 10
01111. w = 171111. h = 25
1111とした。)の長手方向の一端面を、この端面の
一辺と同寸法の曲率半径を有する曲面ICとした形状の
ホットプレス法による窒化ケイ素焼結体・l5N−02
(商品名、株式会社東芝製、焼結体密度3.2a/cj
 )からなるものであり、上面1aを基本超音波入射面
とし、曲面ICを特性決定用反射面としたものである。
また、この超音波探傷試験用標準試験片1には、入射点
の決定等に使用する再反射用切欠部2が一側面1bに形
成されており、この再反射用切欠部2は矩形断面を有し
、曲面ICと対向する他方の端面と平行にかつ矩形断面
の曲面IC側の一辺が曲面ICの曲率中心と重なるよう
に形成されたものである。さらに、この超音波探傷試験
用標準試験片1には貫通孔3が一方の側面より他方の側
面へ土面1aと平行に形成されている。これら再反射用
切欠部2および貫通孔3は、第2図および第3図に示す
ように、各々定められた寸法により形成されている。
また、第4図は他の実施例の超音波探傷試験用標準試験
片を示す斜視図であり、この超音波探傷試験用標準試験
片4は、前述の実施例における超音波探傷試験用標準試
験片と同素材からなる所定寸法の直方体(この実施例で
はi==100ml、W=171111、 h = 5
01111とした。)形状のものであり、−方の側面よ
り他方の側面へ基本超音波入射面となる上面4aと端面
とに平行な断面真円状の貫通孔5が形成されている。こ
め貫通孔5は、第5図に示すように、所定の直径でかつ
所定の位置に形成されている。
次に、これら超音波探傷試験用標準試験片を用いて超音
波探傷試験を行う際に必要とされる超音波の入・反射特
性および伝搬特性の決定方法について説明する。
まず、第1(2)に示した超音波探傷試験用標準試験片
1を用いて測定を行う、なお、探触子は接触式可変角探
触子を用い、周波数108)tzにより測定を行った。
また、第2図および第3図における再反射用切欠部2の
寸法は、i =10mm、 J = 0.5nn、k=
2111とした。
(■ 時間軸の設定) 第6図に示すように、この超音波探傷試験用標準試験片
1の上ff1i i a上に探触子6を入射点が曲面1
cの曲率中心上となるように配置し、曲面1c・に対し
て直角に超音波を入射する。この入射された超音波は曲
面1cで反射して探触子6で受信されるが、その一部は
再反射用切欠部2で再反射され、この再反射波が曲面1
cで再度反射されて探触子6により再反射波のエコーと
して受信され、第7図に示すような検出波が得られる。
同図において、第1のエコー7は入射時のエコーであり
、第2のエコー8は1回目の反射波のエコーであり、第
3のエコー9は再反射波のエコーである。
同図からも明らかなように、入射時のエコー7は入射時
の抵抗によりなだらかになり、入射時間を正確に特定す
ることは不可能なため、1回目の反射波によるエコー8
と再反射波によるエコー9との時間差tと超音波探傷試
験用標準試験片1の形状によって定まる超音波の路程お
よび音速とから正確な時間軸の設定が行える。なお、再
反射用切欠部2を形成していない場合は、1回目の反射
波は上面1aで入射時の屈折角θ2と同角度で曲面とは
逆方向に反射されてしまうため、再反射波のエコーを検
出することはできない。
また、この時間軸の設定は、超音波のχ射時の屈折角の
測定後であれば、この曲面ICによる反射に限らず、他
の面、例えば上面1aより入射し、下面で反射しな超音
波を受信することによっても各々の寸法が確定されてい
るので可能である。
(■ 入射点の測定) この入射点の測定は、探触子には入射点が明確化されて
いるため通常は必要としないが、使用頻度によって接触
媒体の摩耗等によりずれが生じる場合があり、このよう
な際の補正のために行う。
上述した(0時間軸の設定)と同位置に探触子を配置し
超音波を入射する。この際、入射点が曲面ICの曲率中
心からずれていると、入射された超音波は曲面ICに直
角には当たらず、この反射波を受信できたとしても、受
信音圧が低下する。
よって、探触子6をスキャンさせながら超音波の入射お
よび受信を繰返し行い、背圧が最大となる位置を求め、
この位置が入射点となる。そして、この位置で上述しな
(0時間軸の設定)と同様な手順により、再反射用切欠
部2を利用して超音波の再反射によるエコーを検出し、
1回目の反射によるエコーとの時間差により超音波の路
程距離を測定して入射点を正確に法定する。
(■ 入射角による縦波および横波の出現状態の検出) 斜角法により超音波を入射して超音波探傷試験を行う際
には、横波を使用する。この縦波および横波の出現状態
は、超音波入射時の入射角θ1および屈折角θ2によっ
て決定するため、入射角θ1を変更しながら、(0時間
軸の設定)における再反射波を受信しないように、再反
射用切欠部2による影響が及ぼさない位置から入射する
以外は同様にして行い、得られた検出波形から縦波およ
び横波の音速の差より各々のエコーを特定して、各々の
背圧から求める。この測定結果の一例を入射角θ1と縦
波および横波の受信音圧との関係としてグラフ化し、第
8図に示す。
このグラフより明らかなように、この実施例においては
、縦波は入射角16度前後で減哀し、また横波は入射角
16度前後より安定化するなめ、この安定して横波が出
現する入射角を使用することにより正確な探傷が行える
なお、この超音波探傷試験用標準試験片1においても貫
通孔3を利用して、屈折角の測定を行うことも可能であ
るが、正確な測定にはある程度以上の曲率半径を有する
曲面が必要となるため、屈折角の測定については他の実
施例として第4図に示した超音波探傷試験用標準試験片
を用いて行う。
次に、第4図に示した超音波探傷試験用標準試験片4を
使用して測定を行う、なお、探触子は接触式固定力探触
子(入射角θi =18.6度)を使用し、超音波周波
数10 M−で測定を行った。また、貫通孔5の寸法は
直径25n11(= p >で形成し、その位置はm 
= 351o11. n = 17.51allとした
(■ 屈折角の測定) 第9図に示すように、探触子6を超音波探傷試験用標準
試験片4の上面4aに配置し、貫通孔5の長手方向に対
して直角となるように超音波を入射する。この際、一定
の屈折角θ2で入射された超音波は、貫通孔5の円周面
に対して直角に入射されないと、反射波の受信が不可能
となるか、あるいは受信できたとしても受信音圧は低下
する。
よって、このような条件で上面5aをスキャンさせなが
ら超音波の入射および受信を繰返し行うことにより、最
大音圧となる位置を検出し、この位置の端面からの距離
Xから次のようにして屈折角θ2を求める。なお、この
実施例ではx = 52.511111という測定結果
を得た。
ここで、mの値が35 +argであり、yの値はn=
17.5u+と測定結果Xより35n+nであるので、
tanθ2=35÷35=1 ・°・  θ2=45度 である。
なお、これら実施例においては接触式の探触子について
説明したが、当然ながら水浸法によって入射角を変更し
ながら行うような場合においても同様にして超音波の入
・反射特性や伝搬特性を明確化することが可能である。
このように、これら実施例によれば、セラミックス部材
の一例としての窒化ケイ素焼結体の斜角法による超音波
探傷試験を行う際の基礎データとして必要とされる、時
間軸の設定、入射角に対する屈折角、入射点、入射角に
対する縦波および横波の出現状態を明確にすることが可
能となり、これらの値によって超音波探傷試験における
欠陥位置の評定を正確に行うことが可能となゑ。
なお、本発明の超音波探傷試験用標準試験片の形状は、
これら実施例によって限定されるものではなく、同様な
効果の得られるものであれば、種々の形状が考えられる
ものである。また、上述の実施例においてはセラミック
ス焼結体として窒化ケイ素焼結体を使用した超音波探傷
試験用標準試験片について説明したが、他のセラミック
ス焼結体についても同様にして超音波探傷試験用標準試
験片を作製することにより、特性を明確化することが可
能である。  。
[発明の効果] 以上の実施例からも明らかなように、本発明の超音波探
傷試験用標準試験片によれば、セラミックス部材への斜
角法による超音波の入・反射特性および伝搬特性を測定
結果による数値として得ることが可能となり、これら数
値を用いることにより斜角法による超音波探傷試験での
欠陥位置の評定を正確に行うことが可能となり、非破壊
検査としての信頼性が大幅に向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の超音波探傷試験用標準試験
片を示す斜視図、第2図および第3図はその上面図およ
び側面図、第4図は本発明の化の実施例の超音波探傷試
験用標準試験片を示す斜視図、第5[!lはその側面図
、第6図は第1図に示した超音波探傷試験用標準試験片
を用いた特性決定方法を概略的に示す図、第7図は測定
結果の一例である検出波形を示す図、第8図は一定結果
の一例ある入射角と縦波および横波の受信背圧との関係
を示すグラフ、第9図は第4図に示した超音波探傷試験
用標準試験片を用いた特性決定方法を概略的に示す図で
ある。 1.4・・・・・・超音波探傷試験用標準試験片2・・
・・・・・・・・・・再反射用切欠部3.5・・・・・
・貫通孔 出願人      株式会社 東芝 代理人 弁理士  須 山 佐 − 第2図 第3図 第6図 時間軸− 雫7図 受イ8音圧 H(%)

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)所定の形状および寸法を有する均質なセラミック
    ス焼結体からなり、超音波入射面に対して少なくとも前
    記セラミックス焼結体の斜角法による超音波の入・反射
    特性および/または伝搬特性を明確化するよう形成され
    た所定の曲率半径の曲面状反射面を有することを特徴と
    するセラミックス部材用の超音波探傷試験用標準試験片
  2. (2)被検体となるセラミックス部材と同一の材質から
    なる特許請求の範囲第1項記載の超音波探傷試験用標準
    試験片。
  3. (3)セラミックス焼結体の理論密度に対する相対密度
    が90%以上である特許請求の範囲第1項または第2項
    記載の超音波探傷試験用標準試験片。
  4. (4)所定寸法の直方体の長手方向の一端面を、この端
    面の一辺と同寸法の曲率半径を有する反射面となる曲面
    としたセラミックス焼結体からなる特許請求の範囲第1
    項ないし第3項のいずれか1項記載の超音波探傷試験用
    標準試験片。
  5. (5)曲面と隣接する側面に矩形断面の切欠部を有し、
    この切欠部は前記曲面と対向する他方の端面と平行であ
    ってかつ矩形断面の曲面側の一辺が前記曲面の曲率中心
    と重なるよう形成されている特許請求の範囲第4項記載
    の超音波探傷試験用標準試験片。
  6. (6)曲面状反射面を形成する断面真円状の貫通孔を有
    する所定寸法の直方体形状のセラミックス焼結体からな
    り、前記貫通孔はこの貫通孔形成面を除く面に対して平
    行である特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか
    1項記載の超音波探傷試験用標準試験片。
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