JPS60247162A - 超音波探傷器の調整用試験片 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、溶接構造物溶接部の探傷試験に用いられる
超音波探傷器において、現場作業における探傷器の時間
軸の調整および探傷感度の調整に好適な超音波探傷器の
調整用試験片に関する。

〔従来技術〕

一般に、溶接構造物の溶接部に超音波探傷試験を適用す
る場合、日本工業規格ＪＩＳＺ３０６０鋼溶接部の超音
波探傷試験方法および試験結果の等級分類　が多く用い
られている。

このなかで、超音波探傷器の時間軸の調整および原点の
修正には、第１図に示すような超音波探傷用ＡＩ形標準
試験片５ＴＢ−Ａ１（１）または第２図に示すような超
音波斜角探傷用Ａ３形標準試験片５ＴＢ−Ａ３（２）を
、また、距離振幅特性曲線によるエコー高さ区分線の作
成および探傷感度の調整には、標準試験片５ＴＢ−Ａ２
または対比試験片ＲＢ−４をそれぞれ用いることが規定
されている。

すなわち、５ＴＢ−Ａ１（１）は第１図（ａ）　、　（
ｂ）　Ｋ示すような形状２寸法になっており、溶接構造
用圧延鋼材により構成された試験片本体（１５Ｋ、垂直
探触子のための時間軸調整用幅２５ｍｍ、高さ１００ｍ
ｍｔ斜角探触子のための時間軸調整用段付部高さ９１ｍ
ｍおよび斜角探触子の入射点測定用０時間軸調整用０時
間軸原点の修正用曲面Ｒ１００ｍｍ等が形成され、また
、５ＴＢ−Ａ３（２）は＠２図（ａ）　９　（ｂ）　［
示すような形状２寸法に形成され、溶接構造用圧延鋼材
の試験片本体（２ｊに、斜角探触子のための時間軸調整
用高さ４５−５ｍｍおよび入射点測定用０時間軸調整用
曲面Ｒ５Ｑｍｍ等が形成されている。

さらに、ＲＢ−４は試験体の厚さに応じてＮｏ　、　１
〜Ｎｏ　、　７が使用され、厚さｌＱＱｍｍ以下の試験
体に対して＠３図、第４図および第５図に示すような形
状９寸法のＲＢ−４Ｎｏ、　１＜３）、ＲＢ−４Ｎｏ、
　２（４）およびＲＢ−４Ｎｏ、　３（５）が用いられ
る。このＲＢ−４Ｎｏ。

１　（３）　Ｙｃは、試験片本体（３）の平行平面の一
方の探傷面から９　、５ｍｍの位置にφ２．４ｍｍｘ　
４Ｑｍｍの探傷感度調整用標準穴（３）が形成され、Ｒ
Ｂ−４Ｎｏ、　２（４）には試験片本体（４）の探傷面
から９．５ｍｍの位置にφ３．２ｍｍＸ４０ｍｍの標準
穴（４）が、　ＲＢ−４Ｎｏ、　３（５）Ｋは黒片本体
（５）の探傷面から１８　、８ｍｍの位置にφ４．８ｍ
ｍＸ４Ｑｍｍの標準穴（５）がそれぞれ形成されている
。

一方、この種探傷試験の精密試験には、二振動子形探触
子９点集束形探触子等の特殊探触子が用いられるが、こ
の場合の探傷器の時間軸調整および探傷感度調整には、
前述の５ＴＢ−ＡＩ（１）または５ＴＢ−Ａ３（２）の
他に、ＮＤＩ２０２小委員会が指針した第６図に示すよ
うな横穴試験片（６）が使用される。

この試験片（６）は、試験片本体（６）にφ３ｍｍ　Ｘ
　３ｏｒｎｍの１０個の横穴（６）を探さ４ｍｍ　、長
手方向寸法３Ｑｍｍのピッチで形成して構成されている
。

しかし、現場作業における探傷器の時間軸調整および探
傷感度調整に際し、塔槽類等の高所作業、狭隘な場所、
現場が遠方である場合等、作業環境によっては、これら
５ＴＢ−ＡＩ（１）、　Ｓ　Ｔ　Ｂ　−Ａ　３　（２）
、ＲＢ−Ｎｏ、１〜３（３）〜（５）、横穴試験片（６
）を携帯することが重量的および数量的に困難な場合が
あり、作業性を悪化させる結果となっている。

〔発明の目的〕

この発明は、前記の点に留意してなされたものであり、
５ＴＢ−ＡＩとＲＢ−４Ｎｏ、１〜Ｎ００３との重要寸
法、標準穴が形成された試験片を開発し、現場作業にお
ける作業性の向上を図ることを目的とする。

〔発明の−ｎ成〕

この発明は、溶接構造用圧延鋼材により構成された試験
片本体に、超音波探傷用標準試験片５ＴＢ−ＡＩにおけ
る垂直探触子のための時間軸調整用幅に等しい厚みの平
行平面と、垂直探触子のための時間軸調整用高さに等し
い厚みの平行平面と、斜角探触子のための時間軸調整用
段付部高さに等しい厚みの平行平面とをそれぞれ互いに
直交して形成し、前記試験片本体の任意の平面に、対比
試験駒片ＲＢ−４Ｎｏ、　１　、　ＲＢ−４Ｎｏ、　２
　、　ＲＢ−４Ｎｏ、　３のそれぞれの探傷感度調整用
標準穴に等しい径および位置の横穴を形成したことを特
徴とする超音波探傷器の調整用試験片である。

〔発明の効果〕

したがって、この発明の超音波探傷器の調整用試験片に
よると、試験片本体１ｃｓＴＢ−、ＡＩの重要寸法およ
びＲＢ−４Ｎｏ、１〜Ｎｏ、３の標準穴がそれぞれ形成
されるため、標準探触子を使用した探傷器の調整の際に
は当該試験片と５ＴＢ−Ａ３とを、特殊探触子を使用し
た探傷器の調整の際には当該試験片と横穴試験片とをそ
れぞれ携帯することにより、現場における調整作業が行
なえるものであり、試験片の小形軽量化が図れ、作業性
の大幅り向上が期待できるものである。

〔実施例〕

つぎにこの発明を、その１実施例を示した第７図以下の
図面とともに詳細に説明する。

まず、第７図はこの発明の調整用試験片（Ｌ）を示し、
（７）は溶接構造用圧延棚材、たとえば５Ｍ５０Ａによ
り構成されたＬ形の試験片本体である。

この本体（７）の前後の平行平面には５ＴＢ−ＡＩ　（
１）の時間軸調整用幅２５ｍｍに等しい厚みを有する第
１、＠２面（７ａ）、（７ｂ）が、本体（７）の上下の
平行平面には、５ＴＢ−ＡＩ（１）の時間軸調整用段付
部高さ９１　ｍｍ　Ｋ等しい厚みの第３．第４面（７ｃ
）、（７ｄ）が、本体（７）の左右の平行平面には、５
ＴＢ−Ａ１（１）の時間軸調整用高さ１００ｍｍ　Ｋ等
しい厚みの＠５．第６面（７ｅ）、（７ｆ）がそれぞれ
形成され、また、本体（７）の右側部下面には、第３面
（７ｃ）　ＶＣ平行で該面５ｍｍ＜等しい寸法を隔てた
第７面（７ｇ）が形成されるとともに、本体（７）の下
部右側面には、第５面（７ｅ）［平行で液面（７ｅ）に
対して５０ｍｍの寸法を隔てた第８面（７ｈ）が形成さ
れている。

さらに、本体（７）の第１面（７ａ）　ＶＣは、ＲＢ−
４Ｎｏ、１（３）・；　ＮＯ，２（４）　、　Ｎｏ　、
　３（５）のそれぞれの探傷感度調整用標準穴（３）　
、　（４）　？　（５）に等しい径および位置の第１．
第２．＠３横穴（８ａ）、（８ｂ）、（８ｃ）がそれぞ
れ第２面（７ｂ）に貫通して形成されている。

すなわち、第１横穴（８ａ）は探傷面となる第３面（７
Ｃ）から９　、５ｍｍ　、第６面（７ｆ）から２０ｍｍ
の位置ＩＣφ２　、’４ｍｍ　Ｘ　２５ｍｍ　（７）大
きさで、第２横穴（８ｂ）は探傷面となる第３面（７Ｃ
）から９．５ｍｍ、第５面（７ｅ）から２０ｍｍの位置
にφ３−２ｍｍ　Ｘ　２５ｍｍの大きさで、第３横穴（
８Ｃ）は探傷面となる第５面（７ｅ）から１８．８ｍｍ
、第４面（７ｄ）から２０ｍｍの位置に、φ４　、８ｍ
ｍ　Ｘ　２５ｍｍの大きさでそれぞれ形成されている。

ここで、各横穴（８ａ）、（８ｂ）、’（’８Ｃ）ノ探
傷面以外の面からの寸法２０ｍｍは調整時に各面からの
反射超音波の影響を受けない程度に設定されている。

なお、試験片本体（７）の各面（７ａ）〜（７ｈ）はす
べてその面の粗さが富（６Ｓ）とされ、さらに、各寸法
精度が±０−０５ｍｍとされているものとする。

つぎに、前記実施例を用いて探傷器を調整する方法につ
いて説明する。

■、標準探触子による場合 ｌ−１０時間軸の測定範囲の調整 （１）垂直探触子を用いる場合、測定範囲に応じて、該
測定範囲の１／２以下となる試験片（Ｌ）の厚さ方向の
寸法２５ｍｍ　、　５０ｍｍ　、　１００ｍｍを選定し
て行なう。たとえば、測定範囲を縦波の１００ｍｍＫｍ
ｍ型る場合、第１．第２面（７ａ）、　（７ｂ）間の厚
さ２５ｍｍを使用し、第１面（７ａ）から垂直探触子に
より垂直に超音波を入射させ、探傷器のブラウン管上の
多重反射図形の２番目の底面エコーを時間軸目盛の中央
の２５目盛に、４番目の底面エコーを時間軸目盛の右端
の５０目盛にそれぞれ探傷器のパルス位置つまみおよび
音速調整つまみを用いて調整する。

（１１）斜角探触子を用いる場合、斜角探触子だけで調
整する場合と垂直探触子て予備調整後斜角探触子を使用
する場合とがあるが、いずれの場合も、５ＴＢ−Ａ３（
２）ノＲ５０ｍｍ　、高さ４５　、５ｍｍを利用して所
定の方法で行なう。この場合の測定範囲は５ＴＢ−ＡＩ
に対して限定されるが、多くの場合、５ＴＢ−Ａ３で十
分である。

■−２，探傷感度の調整 まず、試験室において、第８図（ａ）　ＶＣ示すように
、ＲＢ　−４Ｎｏ、　１　（３）を用いて斜角探触子（
９）（図では属国（ｂ）　［示すような距離振幅特性曲
線によるエコー高さ区分線、す々わちＨ線を作成し、さ
らに、標準穴（３）のエコー高さがこのＨ線（８０％）
に合うようにゲイン調整し、これを探傷感度とする。こ
のときのゲインつまみの目盛の読みＨｏ（ｄｎ）を記録
する。つぎに、ゲインつまみの目盛の読みＨｏは変化し
ないで、第９図（ａ）　ｔｉｃ示すように、試験片（Ｌ
）の第１横穴（８ａ）を第３面（７Ｃ）の探傷面から前
述の斜角探触子（９）で直射法により探傷する。このと
きのエコー高さがＨ線（８０％）に合うようにゲインつ
まみを調整し、このゲインつまみの目盛の読みＨ（ｄｎ
）を記録する。

さらに、ＲＢ−４Ｎｏ、　１（３）の標準穴（３）のエ
コー高さと試験片（７）の第１横穴（８ａ）のエコー高
さとのＨ線に対するゲインつまみの目盛の読みの差△Ｈ
（ｄｎ）−Ｈ−Ｈｏをめ、記録する。

そして、現場作業においては、試験片（７］を使用し、
この第１横穴（８ａ）のエコー高さがＨ線に合うように
ゲイン調整したのち、さらに、ゲインつまみの目盛を△
Ｈ（ｄｎ）だけ変化させ、これを探傷感度とする。すな
わち、ゲインつまみの目盛を△Ｈ（ｄｎ）だけ変化させ
たことにより、ＲＢ−４Ｎｏ、１（３）により探傷感度
の調整を行なったことと同等になる。

たとえば、表に示すように、ＲＢ−４Ｎｏ、　１（３）
Ｋよるゲインつまみの読みＨＯが一４Ｑ、５ｄｎ　、試
験片　゛（７）の第１横穴（８ａ）　Ｋよるゲインつま
みの読みＨ・が−３９，０ｄＢとなった場合、差△Ｈは
＋１．５ｄｎとなり、現場作業におけるゲインつまみの
目盛を１．５ｄｎ高めることにより探傷感度の調整が行
なえたことになる。

表 また、探傷感度のチェックは、試験片（Ｌ）の第１横穴
（８ａ）によるエコー高さがＨ線に対し−ｍＨ９すなわ
ち１．５ｄｎ高く得られているかどうかを確認すること
により行なう。

なお、探傷感度の調整およびチェックは、通常、試験開
始前とその後１時間毎および試験終了後に行なう。

また、前述のものは試験体の厚さが２５ｍｍ以下の場合
であるが、試験体の厚さが２５ｍｍ〜５Ｑｍｍ、　５０
ｍｍ〜１００ｍｍ１７）場合も前述と同様に、ＲＢ−４
Ｎｏ、　２（４）と試験片（Ｌ）の第２横穴（８ｂ）と
のゲインつまみの目盛の差△Ｈ、ＲＢ−４Ｎｏ、　３と
試験片偏）の第３横穴（８Ｃ）とのゲインつまみの目盛
の差△Ｈをそれぞれめることにより行なえ、前表にこの
場合のＨｏ　、　Ｈ、△Ｈも併記した。

■、特殊探触子による場合 破壊検査協会で認められている。ここで、Ｒは集束範囲
、Ｔは板厚である。

したがって、非破壊検査協会の指針に基づき、第１１図
に示すような現場用の横穴試験片０υを作成する。すな
わち、厚み３Ｑｍｍ　、高さ４Ｑｍｍ　、長さ１５０ｍ
ｍの試験片本体Ｑｌ）［、上面の探傷面からの探さが８
ｍｍ　、　１６ｍｍ　、　３’２ｍｍで右側面からの寸
法が４０ｍｍ　、　７０ｍｍ　１００ｍｍの位置にそれ
ぞれφ３ｍｍＸ３０ｍｍの横穴αυを形成する。

１−１．　時間軸の測定範囲の調整 （１）　垂直探触子を用いる場合、１−１．の（１）の
場合と同様に、試験片（Ｌ）の厚さ方向の寸法２５ｍｍ
５１００ｍｍを選定して行なう。

（１１）斜角探触子を用いる場合 まず、斜角探触子により横穴を探傷した場合のビーム路
程のめ方について説明する。

すなわち、第１２図に示すように、横穴試験片０ηの探
傷面のＡの位置に斜角探触子ａ功を置いて横穴（１１０
１）を探傷し、斜角探触子ａつを走査させてエコー高さ
が最大となったときに探触子ｏ２を゛、■定し、このと
きの試験片αυの右端面から探触子ａツまでの寸法Ｙ１
を測定する。つぎに、探触子αつをＢの位置に置いて横
穴（１１０２）を探傷し、エコー高さが最大ＶＣカった
ときの寸法Ｙ２を測定する。なお、この寸法Ｙｌ　、　
Ｙ２の測定は探傷面上に鋼製スケール等を固定して行な
う。

ここで、斜角探触子α壜の入射点ＰＩは、第１２図の横
穴（１１０１）、（１１０２）’の位置と探触子（１３
の位置との相似関係を用いて（１２式によりめることが
できる。なお、Ｄｏｌ、　ＤＯ２は探傷面から各横穴（
１１ｏ１５’＊（１１ｏ２）の中心までの深さ、ＹＯＩ
、ＹＯ２は試験片（６）の右端面から各横穴（１１０ｍ
）ｔ（１１０２）の中心ま傅寸法である。

つぎに、探触子αつの屈折角は、位置Ａにおける屈折角
００１と位置Ｂにおける屈折角θ０２との平均屈折角θ
でめることができるため、（２）式および（３）式によ
りそれぞれ屈折角θ０１．θ０２をめ、（４）式により
屈折角０をめる。

したがって、この屈折角θを用いることにより、斜角探
触子０つから横穴（１１０１）ｊ（１，１０２）までの
ビーム路程Ｗｏ　ｌ、ＷＯ２が（５）式および（６）式
によりまる。

そして、まず、垂直探触子による時間軸の予備調整を、
試験片（Ｌ）を用い、測定範囲に応じて厚さ方向の寸法
９１ｍｍ　、　４５．５ｍｍを選定して行なう。

たとえば、横波１２５ｍｍの調整を行なう場合、縦波（
音速５，９００ｍ／Ｓ）の９１ｍｍの伝搬時間が横波（
音速３　、２３０ｍ／ｓ　）の５０ｍｍの伝搬時間に相
当することから、試験片（Ｌ）の第３，４面（７ｃ）、
（７ｄ）間の寸法９１ｍｍを用い、第１３図（ａ）に示
すように、垂直探触子α騰を第３面（７Ｃ）から垂直探
傷する。

そして、このときの多重反射図形をブラウン管上に現出
させ、同図（ｂ）に示すように、１番目の底面エコーを
時間軸目盛の２０目盛に、２番目の底面エコーを４０目
盛にそれぞれパルス位置つまみおよび音速調整つまみを
用いて調整する。このとき、１番目の底面エコーが横波
５Ｑｍｍのビーム路程に対応するから、最大の５０目盛
が１２５ｍｍとなり、予備調整が完了する。

つぎに、前記横穴試験片αηおよび斜角探触子α埠を用
いて時間軸の零点調整を行なう。

すなわち、第１４図（ａ）に示すように、斜角探触子０
つにより試験片αυの横穴（１１０１）を探傷し、エコ
ー高さが最大となったときに探触子α埠を固定し、この
エコーの立ち上がりが（５）式でめたビーム路程Ｗｏｌ
＋ニ一致するよう時間軸の零点調整を行なう。

つぎに、探触子＠により横穴（ＮＯ２）を探傷し、エコ
ー高さが最大となったときのブラウン管上のビーム路程
Ｗｏ２ｕを測定し、（６）式でめたビーム路程Ｗｏ　２
と比較する。このときのビーム路程の差△Ｗ〇−Ｗｏ　
２ｕ　−Ｗｏ　２が＋ｌ０−５ｍｍ以内であれば、前述
の零点調整が正しく行なわれたと考え、吉Ｑ、５ｍｍを
超えたときは再度零点調整を行なう。

１−２　探傷感度の調整 この場合は、基本的にはＩ−２，の場合と同様の方法に
より行なう。

すなわち、まず、試験室で第６図に示した横穴試験片（
６）を用い、各横穴（６）を探傷してＨ線を作成し、深
さＤ　＝　３　ｍｍの横穴（６）を探傷したときのエコ
ー高さがＨ線に合うようにゲイン調整し、このときのゲ
インつまみの目盛の読み）（ｏＣｄｎ）を記録し、これ
を探傷感度とする。つぎに、現場用の横穴試験片αυの
Ｄ　＝　８ｍｍの横穴αυを探傷し、エコー高さがＨ線
に合うようにゲイン調整してゲインつまみの目盛の読み
Ｈ（ｄＢ）を記録する。そして、現場において、横穴試
験片０］）のＤ　＝　３　ｍｍの横穴αηを探傷したと
きのエコー高さをＨ線に合わせてゲイン調整し、さらに
、目盛の読みの差△Ｈ（ｄｎ）−Ｈ−ＨＯだけゲインつ
まみの目盛を変化させ、これにより探傷感度を調整する
。

また、同様にして、横穴試験片（６）のＤ＝１６ｍｍ、
３２ｍｍノ横穴（６）と横穴試験片０υのＤ−１６ｍｍ
。

３２ｍｍの横穴Ｏυとのそれぞれの探傷感度の差を用い
て試験体の板厚に応じて探傷感度の調整を行なう。

さらに、探傷感度のチェックは、横穴試験片（１１）の
横穴ａ６’　［よるエコー高さがＨ線に対して△Ｈ（ｄ
ｎ）だけ変化して得られているかどうかを確認すること
により行なう。

したがって、前記実施例によると、試験片（Ｌ）の試験
片本体（７）ニ、５ＴＢ−ＡＩ（１）の重要寸法である
幅２５ｍｍ、高さｌｏｏｍｍ？段付部高さ９１ｍｒｌ：
それぞれ等しい厚み寸法が形成され乙とともＫ、ＲＢ−
４ＮＯ，’１．ＮＯ・２　、　ＮＯ，３（３）　ｅ　（
４）　ｔ　（５）のそれぞれの標準穴（３）　ｅ　！４
）　？　（５）の径２位置に等しい横穴（８ａ）。

（８ｂ）、（８ｃ）が形成されるため、標準探触子によ
る探傷器の時間軸および探傷感度の調整を、試験片（Ｌ
）と５ＴＢ−Ａ３（２）とを携帯することにより行なえ
るものであり、試験片（Ｌ）の重量１．３Ｋｇを、５Ｔ
Ｂ−ＡＩ（、ｃ）、　５ＴＢ−Ａ３（２）およびＲＢ−
４Ｎｏ、１〜３（３）〜（５）を用いた従来に対し約１
／２０の重量とすることができ、曳場への携帯が極めて
容易となり、作業性の大幅な向上が図れるものである。

さらに、試験片（Ｌ）の試験片本体（７）ＶＣは、前述
の寸法のみならず、５ＴＢ−Ａ３（２）の重要寸法であ
る高さ４５．５ｍｍ１Ｃ等しい厚み寸法も形成されてい
るため、特殊探触子による探傷器の時間軸および探傷感
度の調整を、当該試験片（Ｌ）と横穴試験片ａυとを携
帯することにより行なえるものであり、（７かも、この
横穴試験片０υは瑣場用に新たに開発され、小形化され
ているため、現局作業がより容易となるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図、第２図、第３図、第４図、第５図および＠６図
はそれぞれ５ＴＢ−ＡＩ、５ＴＢ−Ａ３．ＲＢ　−４Ｎ
ｏ、　１　、ＲＢ−４Ｎｏ、　２　、ＲＢ−４Ｎｏ、　
３および横穴試験片をそれぞれ示し、それぞれの（ａ）
は平面図、それぞれの（ｂ）は正面図、第７図以下の図
面はこの発明の超音波探傷器の調整用試験片の１実施例
を示し、第７図（ａ）および（ｂ）は平面図および正面
図、第８図および第９図は探傷感度調整時を示し、第８
図（ａ）および（′ｂ）は’ＲＢ−４Ｎｏ、　１　’ｔ
Ｃよる探傷状況の正面図およびそのブラウン管における
ビーム路程とエコー高さとの特性図、第９図（ａ）およ
び（１））は試験片による探傷状況の正面図およびその
ブラウン管におけるビーム路程とエコー高さとの特性図
、第１０図（ａ）および（ｂ）は非破壊検査協会の指針
による横穴試験片の平面図および正面図、第１１図（ａ
）および（ｂ）は唄場用横穴試験片の平面図および正面
図、第１２図はビーム路程算出時の説明用正面図、第１
３図（ａ）および（ｂ）は時間軸予備調整時の試験片の
探傷状況の正面図およびそのブラウン管におけるビーム
路程とエコー高さとの特性図、第１４図（ａ）および（
ｂ）は時間軸の零点調整時の横穴試験片の探傷状況の正
面図およびそのブラウン管ておけ乙ビーム格程とエコー
高さとの特性図である。 （１）・・・５ＴＢ−Ａ１１（３）・・・ＲＢ−４Ｎｏ
、１、（４）・・・ＲＢ−４Ｎｏ、２、（５）・・・Ｒ
Ｂ−４Ｎｏ、３、（Ｌ）・・・調整用試験片、（７）＝
−試験片本体、（７ａ）、＋’７ｂ）、（７ｃ）、（７
ｄ）。 （７ｅ）、（７ｆ）＝・第１．＠２．第３．＠４．第５
゜第６面、（８ａ）、（８ｂ）、（８ｃ）　−＠　１　
、第２．第３横穴。 代理人　弁理士　藤田龍太部 ％　１　図 ξ 第２図 フ 第３図 第４図 ４ノ 第５図 ′Ｘ５ 第６図 ６ ｔＪＦ３図 １・−ム　路」呈（ｍｍ） ＠　Ｔｏ　ｍ　ｓ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ■　溶接構造用圧延鋼材により構成された試験片本体に
   、超音波探傷用標準試験片５ＴＢ−ＡＩにおける垂直探
   触子のための時間軸調整用幅に等しい厚みの平行平面と
   、垂直探触子のための時間軸調整用高さに等しい厚みの
   平行平面と、斜角探触子のための時間軸調整用段付部高
   さく（等しい厚みの平行平面とをそれぞれ互いに直交し
   て形成し、前記試験片本体の任意の平面に、対比試験片
   ＲＢ−４Ｎｏ、　１　、　ＲＢ−４Ｎｏ、　２　、　Ｒ
   Ｂ−４Ｎｏ、　３のそれぞれの探傷感度調整用標準穴に
   等しい径および位置の横穴を形成したことを特徴とする
   超音波探傷器の調整用試験片。