JPH01107179A - 静電記録装置の表面電位計較正装置 - Google Patents
静電記録装置の表面電位計較正装置Info
- Publication number
- JPH01107179A JPH01107179A JP62262658A JP26265887A JPH01107179A JP H01107179 A JPH01107179 A JP H01107179A JP 62262658 A JP62262658 A JP 62262658A JP 26265887 A JP26265887 A JP 26265887A JP H01107179 A JPH01107179 A JP H01107179A
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- Japan
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- switch
- bias
- sensor
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は静電記録装置の偉担持体上の電位を検知する表
面電位計の零点合せ、ゲイン合せを行う較正装置に関す
る。
面電位計の零点合せ、ゲイン合せを行う較正装置に関す
る。
（従来技術）
従来静電記録装置の像担持体の電位を検知する表面電位
計の較正は、第５図に示す如く電位計センサー１と像担
持体２との間に基準電極３を挿入し、電位センサー１を
移動し較正電極のところまで持ってきて行っていたが、
像担持体２と基準電極３との距離が異なるため測定精度
が低く、又機構が複雑でコストアップになるという問題
点があった。
計の較正は、第５図に示す如く電位計センサー１と像担
持体２との間に基準電極３を挿入し、電位センサー１を
移動し較正電極のところまで持ってきて行っていたが、
像担持体２と基準電極３との距離が異なるため測定精度
が低く、又機構が複雑でコストアップになるという問題
点があった。
（目 的）
本発明は測定精度が高く構造が簡単な静電記録装置の表
面電位計較正装置を安価に提供し従来の問題点を解決す
ることを目的としている。
面電位計較正装置を安価に提供し従来の問題点を解決す
ることを目的としている。
（構 成）
本発明は上記目的を達成するため導電層の上に少なくと
も先導ｆｉＪｌ［ｆｆ又は誘電層を持つ静電担持体に電
荷像を記録する静電記録装置に於て、静電担持体上の電
位を検知する表面電位計を備え、導電層を接地と定めら
れたバイアス電位とに切替え得る如くしたことを特徴と
するものである。
も先導ｆｉＪｌ［ｆｆ又は誘電層を持つ静電担持体に電
荷像を記録する静電記録装置に於て、静電担持体上の電
位を検知する表面電位計を備え、導電層を接地と定めら
れたバイアス電位とに切替え得る如くしたことを特徴と
するものである。
以下、第１図乃至第４図に示した実施例に基づいて具体
的に説明する。１０は導？［ｌ１１の上に光導電Ｍ１２
を有する感光体である。１３は感光体１０の表面電位を
検知する表面電位計の電位センサー、１４は表面電位検
出回路、１５は現像電極バイアス回路、１６は現像装置
、１７は現像スリーブ、１８は出力較正回路である。
的に説明する。１０は導？［ｌ１１の上に光導電Ｍ１２
を有する感光体である。１３は感光体１０の表面電位を
検知する表面電位計の電位センサー、１４は表面電位検
出回路、１５は現像電極バイアス回路、１６は現像装置
、１７は現像スリーブ、１８は出力較正回路である。
Ｓ工は表面電位検出回路１４と現像電極バイアス回路１
５間のスイッチ、Ｓ２は導電層１１をアースと一定のバ
イアス電位とに切替えるスイッチである。
５間のスイッチ、Ｓ２は導電層１１をアースと一定のバ
イアス電位とに切替えるスイッチである。
次に作用について説明する。
通常コピーモードではスイッチＳ工は閉じ、スイッチＳ
２はアース側に倒れている。このようにして帯電・露光
された感光体１０の表面電位を電位センサー１３で検知
し、その値に応じ現像電極バイアス回路１５より現像ス
リーブ１７に最適な現像バイアスが印加され現像が行わ
れる。較正モードはサービスマンによるマニュアル切換
スイッチ（図示せず）からの信号、又は複写機のカウン
ター等によって定期的に発生される信号によって回路が
切替わる。この時は現像を行う必要がないのでスイッチ
Ｓ工は開かれる。スイッチＳ２は先ずアース側に倒れて
おり。
２はアース側に倒れている。このようにして帯電・露光
された感光体１０の表面電位を電位センサー１３で検知
し、その値に応じ現像電極バイアス回路１５より現像ス
リーブ１７に最適な現像バイアスが印加され現像が行わ
れる。較正モードはサービスマンによるマニュアル切換
スイッチ（図示せず）からの信号、又は複写機のカウン
ター等によって定期的に発生される信号によって回路が
切替わる。この時は現像を行う必要がないのでスイッチ
Ｓ工は開かれる。スイッチＳ２は先ずアース側に倒れて
おり。
その時の感光体１０の電位（１光体は回転する必要はな
い）を電位センサー１３で測定し、表面電位検出回路１
４の出力が零となるよう零点が較正される。
い）を電位センサー１３で測定し、表面電位検出回路１
４の出力が零となるよう零点が較正される。
次にスイッチＳ２をバイアス側に倒し、その時の感光体
１０の電位を電位センサー１３で測定し、その出力がそ
のバイアス電位に応じた値となるようゲイン（傾き）が
較正される（第３図参照）。この較正は表面電位検出回
路１４の出力を電圧計等でチエツクし乍ら手動でパリオ
ーム等の回転によって行ってもよいし、公知の自動ゲイ
ン調整回路で行ってもよい。又表面電位検出回路１４の
出力をＡ／Ｄ変換し、マイクロコンピュータ−等でデジ
タル的に補正をかけてもよい。較正用のバイアス電圧は
制御状態にある電子写真装置で使われる最高電位（例え
ばセレン感光体等では８００〜９００Ｖ）に略等しい値
が好ましい。例えば暗部電位を検知し、その値に帯電装
置を制御するシステムにおいてはその狙いの値であるａ
ｏｏ ｖで較正するのがよい。第４図のＡ点では精度が
低く、０点でも電位計の直線性が悪い場合は精度が低く
なると共に過大な較正ｉｔ源を要するのでＢ点で較正す
るのがよい。又較正を行う時は感光体表面の電荷が十分
落ちている時に行う必要がある。
１０の電位を電位センサー１３で測定し、その出力がそ
のバイアス電位に応じた値となるようゲイン（傾き）が
較正される（第３図参照）。この較正は表面電位検出回
路１４の出力を電圧計等でチエツクし乍ら手動でパリオ
ーム等の回転によって行ってもよいし、公知の自動ゲイ
ン調整回路で行ってもよい。又表面電位検出回路１４の
出力をＡ／Ｄ変換し、マイクロコンピュータ−等でデジ
タル的に補正をかけてもよい。較正用のバイアス電圧は
制御状態にある電子写真装置で使われる最高電位（例え
ばセレン感光体等では８００〜９００Ｖ）に略等しい値
が好ましい。例えば暗部電位を検知し、その値に帯電装
置を制御するシステムにおいてはその狙いの値であるａ
ｏｏ ｖで較正するのがよい。第４図のＡ点では精度が
低く、０点でも電位計の直線性が悪い場合は精度が低く
なると共に過大な較正ｉｔ源を要するのでＢ点で較正す
るのがよい。又較正を行う時は感光体表面の電荷が十分
落ちている時に行う必要がある。
誘電体フィルム等を記録体とする静電記録装置等に用い
る場合には十分電位が落ちた状態で較正を行わなければ
ならない。そのためには導電性のブラシ等による強制的
な除電後又は電位が十分リークしている長時間放置後に
行う。
る場合には十分電位が落ちた状態で較正を行わなければ
ならない。そのためには導電性のブラシ等による強制的
な除電後又は電位が十分リークしている長時間放置後に
行う。
（効 果）
本発明によると導電層の上に少なくとも光導電層又は誘
電層を持つ静電担持体に電荷像を記録する静電記録装置
に於て、静電担持体上の電位を検知する表面電位計を備
え、導電層を接地と定められたバイアス電位とに切替え
得る如くしであるので、容易に表面電位計の零点及びゲ
インの較正を行うことができ、又実際の作像状態と機械
的には全く同じ条件で較正を行うので高い精度が得られ
、構造が簡単なので安価に提供できる。
電層を持つ静電担持体に電荷像を記録する静電記録装置
に於て、静電担持体上の電位を検知する表面電位計を備
え、導電層を接地と定められたバイアス電位とに切替え
得る如くしであるので、容易に表面電位計の零点及びゲ
インの較正を行うことができ、又実際の作像状態と機械
的には全く同じ条件で較正を行うので高い精度が得られ
、構造が簡単なので安価に提供できる。
第１図は本発明の一実施例の構成と回路図、第２図は第
１図の要部拡大説明図、第３図、第４図は較正説明図、
第５図は従来装置の要部正面図である。 １０・・・感光体 １１・・・導電層１２・・・
光導電Ｍ １３・・・電位センサー１４・・・表面
電位検出回路 １５・・・現像電極バイアス回路 Ｓ、・・・表面電位検出回路と現像電極バイアス回路間
のスイッチ Ｓ２・・・導電層をアースと一定のバイアス電位とに切
替えるスイッチ
１図の要部拡大説明図、第３図、第４図は較正説明図、
第５図は従来装置の要部正面図である。 １０・・・感光体 １１・・・導電層１２・・・
光導電Ｍ １３・・・電位センサー１４・・・表面
電位検出回路 １５・・・現像電極バイアス回路 Ｓ、・・・表面電位検出回路と現像電極バイアス回路間
のスイッチ Ｓ２・・・導電層をアースと一定のバイアス電位とに切
替えるスイッチ
Claims (1)
- 導電層の上に少なくとも光導電層又は誘電層を持つ静電
担持体に電荷像を記録する静電記録装置に於て、静電担
持体上の電位を検知する表面電位計を備え、導電層を接
地と定められたバイアス電位とに切替え得る如くした静
電記録装置の表面電位計較正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62262658A JPH01107179A (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | 静電記録装置の表面電位計較正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62262658A JPH01107179A (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | 静電記録装置の表面電位計較正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01107179A true JPH01107179A (ja) | 1989-04-25 |
Family
ID=17378829
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62262658A Pending JPH01107179A (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | 静電記録装置の表面電位計較正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01107179A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4124404A1 (de) * | 1990-07-23 | 1992-02-06 | Ricoh Kk | Bilderzeugungseinrichtung |
| JP2003090852A (ja) * | 2001-09-19 | 2003-03-28 | Tdk Corp | プローブ、及び表面電位検出装置 |
| CN103472421A (zh) * | 2013-06-27 | 2013-12-25 | 北京东方计量测试研究所 | 一种静电电荷分析仪校准装置及静电电容器测量方法 |
| CN110988782A (zh) * | 2019-12-19 | 2020-04-10 | 上海贝岭股份有限公司 | 校准电路及系统、电能计量芯片及计量设备 |
-
1987
- 1987-10-20 JP JP62262658A patent/JPH01107179A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4124404A1 (de) * | 1990-07-23 | 1992-02-06 | Ricoh Kk | Bilderzeugungseinrichtung |
| JP2003090852A (ja) * | 2001-09-19 | 2003-03-28 | Tdk Corp | プローブ、及び表面電位検出装置 |
| CN103472421A (zh) * | 2013-06-27 | 2013-12-25 | 北京东方计量测试研究所 | 一种静电电荷分析仪校准装置及静电电容器测量方法 |
| CN103472421B (zh) * | 2013-06-27 | 2016-02-10 | 北京东方计量测试研究所 | 一种静电电荷分析仪校准装置及静电电容器测量方法 |
| CN110988782A (zh) * | 2019-12-19 | 2020-04-10 | 上海贝岭股份有限公司 | 校准电路及系统、电能计量芯片及计量设备 |
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