JPH01107962U - - Google Patents

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JPH01107962U
JPH01107962U JP173988U JP173988U JPH01107962U JP H01107962 U JPH01107962 U JP H01107962U JP 173988 U JP173988 U JP 173988U JP 173988 U JP173988 U JP 173988U JP H01107962 U JPH01107962 U JP H01107962U
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mask
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Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案実施例の平面図、第２図はその
縦断面図、第３図は第２図のＡ―Ａ断面図、第４
図は第１図乃至第３図に示した試料ホルダーに試
料を装着する状態の一例を示した側面図、第５図
は第４図のＢ―Ｂ断面図、である。なお図におい
て、１はマスク板、２は基台板、３は支柱、４は
試料台、５はばね、６は試料、７は試料挿入口、
８は鈎、９は作業台、１０はプランジヤー、１１
は押棒である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 板状試料の前面に密着するマスク板と上記マス
    ク板に平行な基台板とをそれらの周辺に配置した
    複数の支柱で連結すると共に上記マスク板と基台
    板との中間にこれらと平行に配置した試料台を上
    記支柱に摺動自在に嵌合し、かつ上記基台板と試
    料台との間にこの試料台を前記マスク板の方向へ
    押圧するばねを設けて、前記マスク板と試料台と
    の間に試料挿入口を配置した蛍光Ｘ線分析用試料
    ホルダー。
JP173988U 1988-01-12 1988-01-12 蛍光ｘ線分析用試料ホルダー Expired - Lifetime JPH06756Y2 (ja)

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JP173988U JPH06756Y2 (ja) 1988-01-12 1988-01-12 蛍光ｘ線分析用試料ホルダー

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JP173988U JPH06756Y2 (ja) 1988-01-12 1988-01-12 蛍光ｘ線分析用試料ホルダー

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01107962U true JPH01107962U (ja) 1989-07-20
JPH06756Y2 JPH06756Y2 (ja) 1994-01-05

Family

ID=31201888

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP173988U Expired - Lifetime JPH06756Y2 (ja) 1988-01-12 1988-01-12 蛍光ｘ線分析用試料ホルダー

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06756Y2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0630754U (ja) * 1992-09-24 1994-04-22 理学電機工業株式会社 Ｘ線分析用の試料ホルダ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0630754U (ja) * 1992-09-24 1994-04-22 理学電機工業株式会社 Ｘ線分析用の試料ホルダ

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Publication number Publication date
JPH06756Y2 (ja) 1994-01-05

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