JPH01108880A - 固体撮像装置用画像欠陥補正装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 以下、本発明を次の順序で説明する。

Ａ　産業上の利用分野 Ｂ　発明の概要 Ｃ従来の技術 Ｄ　発明が解決しようとする問題点 Ｅ　問題点を解決するための手段 Ｆ　作用 Ｇ　実施例 ０１本発明を適用したビデオカメラの構成（第１図、第
２図） ニーＱ、ＣＣＤイメージセンサの欠陥試験（第３図）Ｇ
３メモリマツプ（第４図） Ｇ４補正信号発生回路及びその周辺回路の具体例（第５
図） Ｇ、補正動作（第６図、第７図、第８図）Ｈ発明の効果 Ａ　産業上の利用分野 本発明は、電荷結合素子（ＣＣＤ：Ｃｈａｒｇｅ　Ｃｏ
ｕｐｌｅｄＤｅν１ｃｅ）等の固体撮像素子に含まれる
欠陥画素からの撮像出力に起因する画質劣化を信号処理
により補正する固体撮像装置用画像欠陥補正装置に関し
、特に、第１の固体撮像素子が第２および第３の固体撮
像素子に対して水平方向に１／２絵素ピッチずれた位置
に配された撮像部を有する所謂空間絵素ずらし法を採用
した固体撮像装置に適用される。

Ｂ　発明の概要 本発明は、ＣＣＤ等の固体撮像素子に含まれる欠陥画素
の位置およびその出力信号に含まれる欠陥成分レベルに
ついてのデータを記憶手段から読み出して、上記固体撮
像素子の出力信号のうち上記欠陥画素の出力信号のタイ
ミングで欠陥補正信号を形成して上記固体撮像素子の出
力信号に加算することにより欠陥補正を行う固体撮像装
置用画像欠陥補正装置において、第１の固体撮像素子が
第２および第３の固体撮像素子に対して水平方向に１／
２絵素ピッチずれた位置に配された撮像部からの撮像出
力に対して、上記各固体撮像素子にそれぞれ含まれる欠
陥画素の位置およびその出力４Ｋ　号に含まれる欠陥成
分レベルについてのデータを記憶手段に記憶し、欠陥補
正レベルについての処理と発生タイミングについての処
理を個別に行う欠陥補正信号発生手段にて上記記憶手段
から読み出したデータに基づいて上記第１．第２および
第３の固体撮像素子の出力信号のうち上記欠陥画素の出
力信号のタイミングで各固体撮像素子用の欠陥補正信号
を独立に発生することによって、所謂空間絵素ずらし法
を採用した固体撮像装置の撮像部からの撮像出力に対し
て欠陥補正処理を適正に施して、画質の良好な撮像出力
信号を得ることができるようにしたものである。

Ｃ従来の技術 一般に、ＣＣＤ等の半導体にて形成した固体撮像素子で
は、半導体の局部的な結晶欠陥等により、入射光量に応
じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算されてし
まう欠陥画素を生じ、上記欠陥画素からの撮像出力に起
因する画質劣化を生じることが知られている。上記撮像
出力に常に一定のバイアス電圧が加算されてしまう画像
欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処理されるとモニ
タ画面上に高輝度のスポットとして現れるので白傷欠陥
と呼ばれている。

従来より、上述の如き固体撮像素子に含まれる欠陥画素
からの撮像出力に起因する画質劣化を信号処理により補
正するには、例えば、上記固体撮像素子の画素毎の欠陥
の有無を示す情報をメモリに記憶しておき、上記メモリ
の情報に基づいて、欠陥画素からの撮像出力の代わりに
、該欠陥画素の隣りの画素から得られる撮像出力を用い
て補間するようにしていた。なお、このように固体撮像
素子の画素毎の欠陥のを無を示す情報をメモリに記憶す
るのでは、上記固体撮像素子の総画素数に相当する膨大
な記憶容量のメモリを用いなければならないので、本願
出願人は、画素毎に欠陥の有無を順次記憶する代わりに
、上記固体撮像素子に含まれる欠陥画素の位置を示すデ
ータとして、欠陥画素間の距離を符号化してメモリに記
憶することにより、記憶容量を削減するようにした技術
を先に提案している（特公昭６０−３４８７２号公報参
照）。

また、従来より、上記補間による補正処理では、欠陥画
素の近傍の画素にて得られる撮像出力に相関が無ければ
大きな補正誤差を生じてしまうので、固体撮像素子に含
まれる欠陥画素の位置およびその出力信号に含まれる欠
陥成分レベルについてのデータをメモリに記憶しておき
、上記メモリから読み出されるデータに基づいて、上記
固体撮像素子の出力信号のうち上記欠陥画素の出力信号
のタイミングで欠陥補正信号を形成して上記固体撮像素
子の出力信号に加算することにより欠陥補正を行うよう
にした固体撮像装置用画像欠陥補正装置も提案されてい
る（特開昭６０−５１３７８０公報参照。） さらに、一般に、固体撮像素子にて構成した撮像部を備
える固体撮像装置では、１フイ一ルド期間で全ての画素
から信号電荷を読み出すフィールド読み出しモードや１
フレ一ム期間で全ての画素から信号電荷を読み出すフレ
ーム読み出しモードにて、上記固体撮像素子から撮像出
力を得るようにしている。また、従来より、上記固体撮
像素子の有効電荷蓄積期間を制御するようにした電子シ
ャッタ機能が機械的なシャッタ機構に代えて付加されて
いる。

またさらに、カラー揚傷を行う固体カラー撮像装置では
、三枚の固体撮像逼、像素子にて描像するように撮像部
を構成して、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の三原色成
分に分解した撮像光により、それぞれ結像される三原色
の被写体像についての撮像出力に基づいて、カラービデ
オ信号を形成するようにしている。そして、従来より、
このように撮像光を色分解した各色成分の被写体像を複
数の固体撮像素子にて構成した撮像部で撮像する固体カ
ラー撮像装置における水平方向の解像度を向上させるた
めの方法として、−枚の固体撮像素子、例えば、緑（Ｇ
）色成分の被写体像を撮像する固体撮像素子を、他の赤
（Ｒ）色成分と青（Ｂ）色成分の各被写体像を撮像する
固体撮像素子に対して、水平方向に１／２絵素ピッチず
れた位置に配置するようにした所謂空間絵素ずらし法が
提案されている。

Ｄ　発明が解決しようとする問題点 ところで、半導体にて形成した固体撮像素子では、暗電
流に起因する偽信号電荷による信号レベルが大きく、上
記白傷欠陥画素による画像欠陥は比較的顕著に現れるの
であるが、上記暗電流の発生を極めて小さく抑えて画像
欠陥を観測したところ、従来より知られている温度依存
性の有る白傷欠陥画素以外に、入射光量に応じた撮像出
力に一定のバイアス電荷が減算されてしまう温度依存性
の無い黒傷欠陥画素や、さらに、温度依存性は無く入射
光量に依存する白傷欠陥や黒傷欠陥が画像欠陥となって
撮像出力に現れることが判明した。

また、電子シャッタ機能を付加した固体撮像装置では、
その撮像部を構成する固体撮像素子の電荷蓄積時間が電
子シャッタの設定スピードに応じて可変制御されること
によって、欠陥画素からの撮像出力に含まれる欠陥画素
による欠陥レベルが変化したり、信号電荷の読み出しモ
ードの切り換えによっても上記欠陥レベルが変化する。

そして、固体撮像素子に含まれる欠陥画素の位置および
その出力信号に含まれる欠陥成分レベルについてのデー
タをメモリに記憶しておき、上記メモリから読み出され
るデータに基づいて、上記固体撮像素子の出力信号のう
ち上記欠陥画素の出力信号のタイミングで欠陥補正信号
を形成して上記固体撮像素子の出力信号に加算すること
により欠陥補正を行う固体撮像装置用画像欠陥補正装置
では、上記固体撮像素子の出力信号に対する上記欠陥補
正信号の位置がずれてしまうと、欠陥補正処理による所
謂補正傷が発生して、撮像出力信号の品質を劣化させて
しまうことになり、しかも、上述の如き各種欠陥レベル
の変化を考慮した欠陥補正処理を行おうとすると、極め
て複雑な処理を特徴とする特に、空間絵素ずらし法を採
用した撮像部を有する固体撮像装置では、第１ないし第
３の固体撮像素子から得られる各撮像出力に対して移相
の合った欠陥補正信号を形成する必要がある。

そこで、本発明は、上述の如き問題点に鑑み、所謂空間
絵素ずらし法を採用した固体撮像装置の撮像部の各固体
撮像素子から得られる各撮像出力に対する欠陥補正信号
の発生位置を独立に可変調整して、欠陥補正処理を確実
に行い得るようにした新規な構成の固体撮像装置用画像
欠陥補正装置を提供するものである。

Ｅ　問題点を解決するための手段 本発明に係る固体撮像装置用画像欠陥補正装置は、上述
の如き従来の問題点を解決するために、第１の固体撮像
素子が第２および第３の固体撮像素子に対して水平方向
に１／２絵素ピッチずれた位置に配された撮像部を有す
る固体撮像装置において、上記第１．第２および第３の
固体撮像素子にそれぞれ含まれる欠陥画素の位置および
その出力信号に含まれる欠陥成分レベルについてのデー
タを記憶した記憶手段と、上記記憶手段から読み出した
データに基づいて上記第１．第２および第３の固体撮像
素子の各欠陥補正信号を独立に形成するとともに、上記
各欠陥補正信号の発生位置を独立に調整自在な欠陥補正
信号発生手段と、上記欠陥補正信号発生手段が発生する
欠陥補正信号を上記各固体撮像素子の出力信号に加算し
て欠陥補正を行う補正手段とを設け、上記欠陥補正信号
発生手段にて上記第１．第２および第３の固体撮像素子
の出力信号のうち上記欠陥画素の出力信号のタイミング
で各固体撮像素子用の欠陥補正信号を発生して、上記第
１．第２および第３の固体撮像素子の出力信号に加算す
ることにより欠陥補正を行うようにしたことを特徴とし
ている。

Ｆ　作用 本発明に係る固体撮像装置用画像欠陥補正装置では、第
１の固体撮像素子が第２および第３の固体撮像素子に対
して水平方向に１／２絵素ピッチずれた位置に配された
撮像部からの撮像出力に対して、上記各固体撮像素子に
それぞれ含まれる欠陥画素の位置およびその出力信号に
含まれる欠陥成分レベルについてのデータを記憶手段に
記憶し、欠陥補正レベルについての処理と発生タイミン
グについての処理を個別に行う欠陥補正信号発生手段に
て上記記憶手段から読み出したデータに基づ　　　・い
て上記第１．第２および第３の固体撮像素子の出力信号
のうち上記欠陥画素の出力信号のタイミングで各固体撮
像素子用の欠陥補正信号を独立に発生し、上記欠陥補正
信号を上記第１．第２および第３の固体撮像素子の出力
信号に加算することにより欠陥補正を行う。

Ｇ　実施例 以下、本発明の一実施例について、図面に従い詳細に説
明する。

ＧＩビデオカメラの構成 第１図のブロック図に示す実施例は、撮像光学系１によ
り撮像光を赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の三原色成分
に色分解した被写体像が撮像面上に結像される三枚の固
体イメージセンサにて空間絵素ずらし法を採用して構成
された三板式の撮像部２にてカラー描像を行うカラービ
デオカメラに本発明を適用したものである。

この実施例において、上記撮像部２を構成する固体イメ
ージセンサとしては、例えば、第２図Ａに示すように、
マトリクス状に配設された各々画素に対応する多数の受
光部Ｓと、この各受光部Ｓの一側に縦方向に沿って設け
られた垂直転送レジスタ部ＶＲと、各垂直転送レジスタ
部ＶＲの各終端側に設けられた水平転送レジスタ部ＨＲ
から成り、各受光部Ｓに得られる受光光量に応じた信号
電荷を１フイ一ルド期間毎あるいは１フレ一ム期間毎に
それぞれ各垂直ライン毎に対応する各垂直転送レジスタ
部ＶＲに転送し、上記各垂直転送レジスタ部ＶＲを通じ
て上記信号電荷を水平転送レジスタ部ＨＲに転送して、
この水平転送レジスタ部ＨＲより一水平ライン毎の信号
電荷を撮像出力として取り出すようした３枚のインター
ライントランスファ型のＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２
Ｇ。

２Ｂが用いられている。そして、上記撮像部２は、第２
図Ｂに示すように、空間絵素ずらし法を採用し、上記３
枚のＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ。

２Ｂのうちの緑（Ｇ）色成分の被写体像を撮像するＣＣ
Ｄイメージセンサ２Ｇが他の赤（Ｒ）色成分と青（Ｂ）
色成分の各被写体像を撮像する各ＣＣＤイメージセンサ
２Ｒ，２Ｂに対して水平方向に１／２絵素ピッチ（Ｐ／
２）ずれた位置に配置されている。

上記撮像部２の駆動回路３には、第１図に示すシンクジ
ェネレータ４にて与えられる同期信号５ＹＮＣに同期し
た垂直転送パルスφ、や水平転送パルスφ、がタイミン
グジェネレータ５から供給されているとともに、上記Ｃ
ＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂの各受光部Ｓに得
られる受光光量に応じた信号電荷を１フイ一ルド期間中
に全て読み出すフィールド読み出しモードと上記各受光
部Ｓに得られる信号電荷を１フレ一ム期間で全て読み出
すフレーム読み出しモードを指定する読み出しモードの
指定信号や、上記ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２
Ｂの電荷蓄積時間を制御して所謂電子シャッタのスピー
ドを制御するシャッタ制御信号等がシステムコントロー
ラ６から供給されている。

ここで、上記撮像部２を構成するＣＣＤイメージセンサ
２Ｒ，２Ｇ、２Ｂは、１７３０秒の電荷蓄積時間を有す
るフレーム読み出しモードに対し、電荷蓄積時間が１／
６０秒のフィールド読み出しモードでは、電荷蓄積量が
上記フレーム読み出しモードの１／２になるので、垂直
方向に隣接する２個の受光部Ｓにて得られる信号電荷を
加えて読み出すことにより、上記フレーム読み出しモー
ドと感度を同等にしている。

上記三枚のＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ。

２Ｂにて構成した撮像部２にて得られるＲＧＢ３チャン
ネルのカラー撮像出力（Ｓｃ）　、（Ｓｃ）　、（Ｓｓ
）は、前置増幅器７から補正信号加算回路８を介して信
号処理系９に供給され、上記補正信号加算回路８にて欠
陥補正処理が施されてから、上記信号処理系９にてガン
マ補正やシェーディング補正等とともにプロセス処理が
施されてＣＣＩＲ（国際無線通信諮問委員会）やＥＩＡ
（アメリカ電子工業会）で規格化された所定の標準テレ
ビジョン方式に適合するビデオ信号（ＳＯＩＩ？）に変
換して出力される。

また、この実施例では、上記ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ
，２Ｇ、２Ｂについて、予め欠陥画素の位置、欠陥の種
類および欠陥のレベル等を解析する欠陥試験を行って、
これらのデータを補正データとしてメモリ１０に記憶し
てあり、補正信号発生回路１１にて上記メモリ１０から
読み出される補正データに基づいて上記ＣＣＤイメージ
センサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂの欠陥画素の出力信号のタイミ
ングで白傷欠陥補正信号（Ｗｃｒ）、黒傷欠陥補正信号
（ＢＣＰ）、白シェーディング補正信号（ＷｓＨ）や黒
シエーデイング補正信号（Ｂ□）等を形成して、これ等
の補正信号（Ｗｃｐ）　、　（Ｂｃｒ）　、（ＷｓＪ　
、（Ｂｇ＋＋）を補正信号切換回路１２を介して上記補
正信号加算回路８や上記信号処理系９に供給することに
より、上記補正信号加算回路８や上記信号処理系９にて
画像欠陥を補正するようになっている。

さらに、上記撮像部２には温度センサ１３を設けてあり
、上記ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ。

２Ｂの温度を検出して、欠陥レベルに温度依存性のある
白傷欠陥と黒シェーデイングに対する各補正信号（Ｗｃ
ｐ）　、（Ｂｓイ）には上記温度センサ１２による検出
出力に基づいてそれぞれ温度補正回路１４゜１５にて温
度補正処理を施すようにしている。また、上記温度セン
サ１３による検出出力にて示される上記ＣＣＤイメージ
センサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂの温度は、アナログ・デジタル
（Ａ／Ｄ）変換器１６にてデジタル化してアドレスデー
タとして上記メモリ１０に供給されている。

Ｇ、ＣＣＤイメージセンサの欠陥試験 上記ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂについての
欠陥試験は、画像欠陥の現れ易い常温より高い試験温度
にて行われる。上記欠陥試験では、例えば、第３図に示
すように、上記ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂ
の白傷欠陥画素や黒傷欠陥画素等の各位置Ａ　Ｉ　、　
Ａ　！　　・・・をｔｉｉ　ＩＩして、その欠陥の種類
およびレベルＬ、ｉｔ　　・・・を検出するとともに、
各欠陥画素の位置データを次のように得るようにしてい
る。すなわち、基準点Ａ０から数えて最初の欠陥画素位
置Ａ、は上記基準点Ａｏからの距Ｎ　ｄ＋を符号化して
所定ビットのデジタルデータにて表し、また、他の欠陥
画素値ＷＡ、（ｎは任意の整数）はその１つ前の欠陥画
素値ＩＡ、、からの距１ｄ、をそれぞれ符号化して所定
ビットのデジタルデータにて表し、さらに、第３図の例
における相対距離がｄの第１の欠陥画素位置Ａ１と第２
の欠陥画素位置Ａ２との間のダミーの欠陥画素値Ｉ　Ａ
　Ｄ　Ｍ　＋　のように、任意の欠陥画素から次の欠陥
画素までの相対距離が大き過ぎて上記所定ビットのデジ
タルデータでは表すことのできない場合には、それらの
欠陥画素間にダミーの欠陥画素を設定して、上記相対距
離ｄを第１の欠陥画素位置Ａ１からダミーの欠陥画素位
置ＡＩＩＮ＋までの距離ｄ２と該ダミーの欠陥画素位置
Ａ　ｅ　Ｎ　＋から第２の欠陥画素値ｒｔｌ　Ａ　ｚま
での距離ｄ、とに分割してそれぞれ上記所定ビットのデ
ジタルデータにて表すようにする。

ここで、上記ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ。

２Ｂの欠陥画素の位置Ａｔ、Ａｔ　　・・・を２次元の
絶対アドレスにて表すと、例えば、水平方向に１０ビツ
ト、垂直方向に１０ビツトの計２０ビットのアドレスデ
ータを必要とするが、上述のように欠陥画素位置Ａ、（
ｎは任意の整数）をその１つ前の欠陥画素位置Ａ、、か
らの距ｊｌｌｄ、をそれぞれ符号化して所定ビットのデ
ジタルデータにて表す相対アドレスを採用することによ
り、上記相対アドレスの最大値を表すのに必要なピット
数にアドレスデータを圧縮することができ、例えば１２
ビツトの相対アドレスデータとして１つの欠陥画素の位
置に対して８ビツトのデータ圧縮となる。また、１２ビ
ツトの相対アドレスデータにて表すことのできる相対距
離を、例えば最大４．５ラインとして、ある欠陥画素位
置Ａ、１から次の欠陥画素値ＩＡ−１までの相対路＃ｄ
ｎが４．５ライン以上翻れている場合には、上記相対距
離ｄ７を分割して４．５ライン以内となるように、上記
欠陥画素位置Ａ、、Ａ、、。１間に１個あるいは複数個
のダミーの欠陥画素値Ｉ　Ａ　ｏ　ｎを設定することに
より、１２ビツトの相対アドレスデータにて欠陥画素値
ＷＡ−−１を表すことができる。このように、任意の欠
陥画素位置Ａ７から次の欠陥画素値ｆｆＡ、、。

までの相対距離ｄ７が大き過ぎて上記所定ビットのデジ
タルデータでは表すことのできない場合に、それらの欠
陥画素間にダミーの欠陥画素を設定して相対距離ｄ、ｌ
を分割することにより、全ての欠陥画素位置を所定ビッ
トのデジタルデータにて表すことができるようになる。

なお、上記ダミーの欠陥画素位置Ａ□、は、上記ＣＣＤ
イメージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂから読み出される撮像
出力信号のブランキング期間ＢＬＫ内に設一定すること
により、上記撮像出力信号の品質に悪影響を及ぼすこと
がないようにすることができる。

Ｇ３メモリマツプ この実施例において、上記メモリ９は、第４図のメモリ
マツプに示しであるように、０番地から４０９５番地ま
でのフィールド読み出し領域ＡＲＦＤと４０９６番地か
ら８１９１番地までのフレーム読み出し領域ＡＲＦＭに
分け、さらに、各読み出し領域ＡＲＦＤ、ＡＲＦＭをそ
れぞれ最小補正振幅データ領域ＡＲ５Ａ、補正データ領
域ＡＲＣＭ、　シャッタスピードデータ領域ＡＲ３Ｓに
分割して使用されている。

上記最小補正振幅データ領域ＡＲ５Ａには、上記ＣＣＤ
イメージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂの撮像出力に対して、
温度やシャッタ・スピード等の措像条件に応じて補正処
理を施すべき最小補正振幅を示すＮ個の最小補正振幅デ
ータ（［ｌＳへ）が書き込まれている。上記最小補正振
幅データ（ＤＳＡ）は、ＲＧＢ各チャンネルの最小補正
振幅データ（ＤＳＡＲ）　。

（［１ＳＡＧ）　、　（［１ＳＡＢ）にそれぞれ４ビツ
ト使用し、サイクル時間データに２ビツト使用し、残り
の２ビツトを未使用とした２バイトのデータにて構成さ
れている。

また、上記補正データ領域ＡＲＣＭには、上記ＣＣＤイ
メージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂについて上述の欠陥試験
を行って得られた補正データ（ＤＣＭ）が書き込まれて
いる。上記補正データ（ＤＣＭ）は、欠陥のレベルに応
じた８ビツトの振幅データ（ＤＣＭＡ）、欠陥の種類を
示す２ビツトのモードセレクトデータ（Ｄｌ’ｌＳ）　
、補正チャンネルを示す２ビツトのカラーコードデータ
（ＤＣＣ）と、次の欠陥画素位置までの距離を示す１２
ビツトの相対アドレスデータ（Ｒ＾ＤＲ）による３バイ
トのデータにて構成されている。この補正データ（ＤＣ
Ｍ）には、上述のダミーの欠陥画素についての補正デー
タ（ＤＣＭ’）も含まれている。

さらに、上記シャッタスピードデータ領域ＡＲＳＳには
、電子シャッタの設定シャッタスピードを示す４ビツト
のシャッタスピードデータを３ビツトデータに変換する
シャッタデータ（ＳＨＤ）　　と、上記補正データ領域
ＡＲＣＭの開始番地すなわち２Ｎ番地を示す１２ビツト
のファーストアドレスデータ（ＦＡＤＲ）とからなる２
バイトのデータが１５個書き込まれている。

Ｇ４補正信号発生回路及びその周辺回路の具体例この実
施例において、上記補正信号発生回路ｌｌは、その周辺
回路とともに具体例を第５図に示しであるように、上記
メモリ１０から読み出される各種データが供給される７
個のラッチ回路２１゜２２．２３，２４，２５．２６．
２７とストローブ発生回路２８を備えている。

上記補正信号発生回路１１は、上記システムコントロー
ラ６に設定される動作モードで撮像動作を行う場合に、
ｌフィールドあるいは１フレーム毎のブランキング期間
中に初期設定動作を行い、上記システムコントローラ６
に設定されたシャッタスピード等の撮像動作条件および
上述の温度センサ１３からＡ／Ｄ変換器１６を介して与
えられる温度データに応じて、上記メモリ１０の最小補
正振幅データ領域ＡＲ３Ａから読み出されるＲＧＢ各チ
ャンネルの最小補正振幅データ（ＤＳＡＲ）　、　（Ｄ
ＳＡＧ）　、　（ＤＳＡＢ）を第１ないし第３のラッチ
回路２１゜２２．２３にラッチす乞とともに、上記メモ
リ１０のシャッタスピードデータ領域ＡＲ３Ｓから読み
出されるシャッタデータ（５＋１０’）を第４のランチ
回路２４にラッチし、さらに、上記シャンクスピードデ
ータ領域ＡＲ８Ｓから読み出されるファーストアドレス
データ（ＦＡＤＲ）に基づいて上記ストローブ発生回路
２８がアドレスカウンタ４０にて上記メモリ１０の補正
データ領域ＡＲＣＭの先頭すなわち２Ｎ番地から補正デ
ータ（ＤＣＭ）　＋を読み出させて、原点Ａ０から最初
の欠陥画素位ＩＡＩ　までの距離を示す相対アドレスデ
ータ（ＲＡＤＲ）を上記ストローブ発生回路２８にラッ
チするとともに、その振幅データ（ＤＣＭＡ）、カラー
コードデータ（ＤＣＣ）およびモードセレクトデータ（
ＤＭＳ）を第５ないし第７のラッチ回路２５，２６．２
７にラッチする。

そして、上記ストローブパルス発生回路２８は、上記初
期設定動作を終了して補正動作状態に入ると、上記初期
設定動作にてラッチした相対アドレスデータ（ＲＡＤＲ
）に基づいて最初の欠陥画素位置Ａ、のタイミングでス
トローブパルスを出力して、上記アドレスカウンタ４０
をインクリメントして上記メモリｌＯの補正データ領域
ＡＲＣＭから次の補正データ（ＤＣＭ）　Ｚを読み出し
て、次の欠陥画素位置Ａ、までの距離を示す相対アドレ
スデータを該ストローブ発生回路２８にランチするとと
もに、その振幅データ（ＭＣＭＡ）、カラーコードデー
タ（［１ＣＣ）およびモードセレクトデータ（ＤＭＳ）
を上記第５ないし第７のラッチ回路２５，２６．２７に
ラッチし、各欠陥画素位置ＡＭのタイミングでストロー
ブパルスを順次に出力する動作を行う。

上記第１ないし第３のラッチ回路２１．２２゜２３は、
上記メモリＩＯの最小補正振幅データ領域ＡＲＳＡから
読み出されるＲＧＢ各チャンネルの最小補正振幅データ
（ＤＳＡＲ）　、　（ＤＳＡＧ）　、　（ＤＳＡＢ）を
ラッチし、上記最小補正振幅データ（Ｏ３ＡＩＩ）　、
　（［１ＳＡＧ）　。

（ＤＳＡＢ）をセレクタ２９を介してコンパレータ３０
に供給する。

また、上記第４のラッチ回路２４は、上記メモリ１０の
シャッタスピードデータ領域ＡＲ３Ｓから８売み出され
るシャッタデータ（ＳＩＩＤ）をラッチし、上記シャッ
クデータ（ＳＨＤ）を制御データとしてビットシフト回
路３１に供給する。

さらに、上記第５ないし第７のランチ回路２５゜２６．
２７は、上記メモリ１０の補正データ領域ＡＲＣＭから
読み出される補正データ（ＤＣＭ）のうちの振幅データ
（ＤＣＭＡ）、カラーコードデータ（ＤＣＣ）およびモ
ードセレクトデータ（ＤＭＳ）をランチするようになっ
ている。

そして、上記第５のラッチ回路２５にラッチされた振幅
データ（ＤＣＭＡ）は、上記コンパレータ３０に供給さ
れるとともに、直接および上記ビットシフト回路３１を
介して第１のスイッチ回路３２に供給され、該第１のス
イッチ回路３２からデジタル・アナログ（Ｄ／Ａ）変換
器３３に供給される。上記第６のラッチ回路２６にラッ
チされたカラーコードデータ（ＤＣＣ）は、上記セレク
タ２９に制御データとして供給されるとともに、後述す
る第１のデコーダ４３に制御データとして供給される。

さらに、上記第７のラッチ回路２７にラッチされたモー
ドセレクトデータ（ＤＭＳ）は、上記第１のスイッチ回
路３２に制御データとして供給されるとともに、後述す
る第２のスイッチ回路４１および第２のデコーダ４７に
それぞれ制御データとして供給される。

上記セレクタ２９は、上記第１ないし第３のラッチ回路
２１，２２．２３にラッチされているＲＧＢ各チャンネ
ルの最小補正振幅データ（ＤＳＡＲ）　。

（ＤＳＡＧ）　、　（ＤＳＡＢ）について、上記第６の
ラッチ回路２６から制御データとして供給されるカラー
コードデータ（ＤＣＣ）にて指定されるＲＧＢいずれか
のチャンネルの最小振幅補正データＣＤ　Ｓ　Ａ　）を
選択し・て上記コンパレータ３０に供給する。上記コン
パレータ３０は、上記セレクタ２９にて選択された最小
補正振幅データ（ＤＳＡ）と、上記第５のラッチ回路２
５にラッチされている振幅データ（ＤＣＭＡ）との比較
を行い、その比較出力を制御データとして第３のスイッ
チ回路４２に供給し、上記振幅データ（ＤＣ？ｌＡ）が
上記最小補正振幅データ（ＤＳＡ）よりも大きい場合に
上記第３のスイッチ回路４２を閉成させる。

また、上記ビットシフト回路３１は、上記第５のラッチ
回路２５から供給される振幅データ（ＤＣＭＡ）につい
て、上記第４のラッチ回路２４から制御データとして供
給されるシャッタデータ（Ｓ１１０）に応じて、例えば
第１表に示すようなビットシフト処理を施し、ビットシ
フト処理済の振幅データ（ＤＣ？ＩＡ）を上記第１のス
イッチ回路３２を介して上記Ｄ／Ａ変換器３４に供給す
る。

〔以下余白〕

第１　：ビットシフト几 上記第１のスイッチ回路３２は、上記第７のラッチ回路
２７から供給されるモードセレクトデータ（ＤＭＳ）を
制御データとして、上記モードセレクトデータ（Ｄ）Ｉ
ｓ）が白傷欠陥モードを示している場合に上記ビットシ
フト回路３１を選択し、他の欠陥モードの場合には上記
第５のラッチ回路２５を選択するように制御される。

そして、上記Ｄ／Ａ変換器３３は、上記第１のスイッチ
回路３２を介して供給される振幅データ（ＤＣＭＡ）を
アナログ化する。上記Ｄ／Ａ変換器３３にて得られるア
ナログ振幅信号は、第１および第２のレベル調整回路３
４．３５に供給されているとともに第１および第２の温
度補正回路１４．１５に供給され、これらの回路３４，
３５，１４゜１５から第１ないし第４の信号切換回路３
６，３’７．３８．３’ｌを介して各種振幅補正信号と
して選択的に出力されるようになっている。

また、上記ストローブ発生回路２８は、上記メモリ１０
のシャッタスピードデータ領域ＡＲ３Ｓから読み出され
るファーストアドレスデータ（ＦＡＤＲ）および上記メ
モリ１０の補正データ領域ＡＲＣＭから読み出される補
正データ（ＤＣＭ）のうちの相対アドレスデータ（ＲＡ
ＤＲ）に基づいて、上記撮像部２を構成している各ＣＣ
Ｄイメージセンサ２Ｒ。

２Ｇ、２Ｂの各欠陥画素位置Ａ　Ｉ、　Ａ　ｔ　　・・
・に対応するタイミングでストローブパルスを発生して
、このストローブパルスを第２のスイッチ回路４１から
直接および第３のスイッチ４２を介して第１のデコーダ
４３に供給するとともに、上記ファーストアドレスデー
タや相対アドレスデータを上記メモリｌＯのアドレスカ
ウンタ４０にプリセットするようになっている。

上記第２のスイッチ回路４１は、上記第７のラッチ回２
７から供給されるモードセレクトデータ（ＤＭＳ）を制
御データとして、上記モードセレクトデータ（ＤＭＳ）
が白傷欠陥モードを示している場合に上記第３のスイッ
チ回路４２を選択し、他の欠陥モードの場合には上記第
１のデコーダ４３を選択するように制御され、白傷欠陥
モートのストローブパルスを上記第３のスイッチ回路４
２を介して上記第１のデコーダ４３に供給し、他の欠陥
モードのストローブパルスを上記第１のデコーダ４３に
直接供給する。また、上記第３のスイッチ回路４２は、
上記コンパレータ３０の出力を制御データとして開閉制
御されることにより、上記第５のう・ノチ回路２５にラ
ッチされている振幅データ（ＤＣ？ＩＡ）が上記セレク
タ２９にて選択された最小補正振幅データ（ＤＳＡ）よ
りも大きい場合にだけ、上記第２のスイッチ回路４１を
介して供給される白傷欠陥モードのストローブパルスを
上記第１のデコーダ４３に供給する。

上記第１のデコーダ４３は、上記第６のラッチ回路２６
から制御データとして供給される２ビ。

トのカラーコードデータ（ＤＣＣ）にて、第２表に示す
ように選択指定されるＲＧＢいずれかチャンネルあるい
は全チャンネルのＤ型フリップフロップ４４．４５．４
６を介して上記ストローブパルスを上記第２のデコーダ
４７に供給する。

上記各り型フリップフロップ４４，４５．４６は、上述
のＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂにて得られる
撮像出力の各色成分すなわちＲＧＢ各チャンネルの位相
に合ったクロックパルス（φ、）、（φＧ）、（φ、Ｉ
）が上記タイミングジェネレータ５から各クロック入力
端に供給されており、上記第１のデコーダ４３から供給
されるストローブパルスについて、上記クロックパルス
（φ＊）、（φＧ）。

（φ、）にて位相合わせを行う。そして、上記撮像部２
に空間絵素ずらし法を採用したこの実施例では、上記ク
ロックパルス（φＲ）、（φＧ）１（φ、）のうちＧチ
ャンネル用のクロックパルス（φ、）を他のＲ，Ｂチャ
ンネルのクロックパルス（φＲ）、（φＢ）と逆相とす
ることによって、空間絵素ずらし法を採用して構成した
上記撮像部２の各ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２
Ｂにて得られる撮像出力の各色成分すなわちＲＧＢ各チ
ャンネルの位相に合ったストローブパルスを得るように
している。

上記第２のデコーダ４７は、上記第７のラッチ回路２７
から制御データとして供給される２ビツトのモードセレ
クトデータ（ＤＭＳ）にて、第３表に示すように指定さ
れる補正モードに応じた選択制御データを上記ストロー
ブパルスから形成して、上記第１ないし第４の補正信号
切換回路３６，３７．３８．３９の各制御入力端に与え
る。

そして、上記第１ないし第４の補正信号切換回路３６．
３７，３８．３９は、上記Ｄ／Ａ変換器３３から上記第
１あるいは第２のレベル調整回路３４．３５または上記
第１あるいは第２の温度補正回路１４．１５を介して出
力される各アナログ振幅信号を上記第２のデコーダ４７
による選択制御データに応して次のように切り換えて各
種補正信号として出力する。

すなわち、上記モードセレクトデータ（ＤＭＳ）が〔Ｌ
Ｌ）で白傷欠陥モードを示しているときには上記第３の
補正信号切換回路３８が上記り、／Ａ変換器３３から上
記第１の温度補正回路１４を介して出力されるアナログ
振幅信号を白傷欠陥補正信号（魁、）として、上記カラ
ーコードデータ（ＤＣＣ）にて示されているＲＧＢチャ
ンネルに選択的に出力する。また、上記モードセレクト
データ（ＤＭＳ）が（ＬＨ）で黒傷欠陥モードを示して
いるときには、上記第１の補正信号切換回路３６が上記
Ｄ／Ａ変換器３３から上記第１のレベル調整回路３４を
介して出力されるアナログ振幅信号を黒傷欠陥補正信号
（ＢＣＰ）として、上記カラーコードデータ（ＤＣＣ）
にて示されているＲＧＢチャンネルに選択７　　的に出
力する。さらに、上記モードセレクトデータ（ＤＭＳ）
が（ＨＬ）で黒シエーデイングモードを示しているとき
には上記第４の補正信号切換回路３９が上記Ｄ／Ａ変換
器３３から上記第２の温度補正回路１５を介して出力さ
れるアナログ振幅信号を黒シエーデイング補正信号（Ｂ
ｓ、）として、上記カラーコードデータ（ＤＣＣ）にて
示されているＲＧＢチャンネルに選択的に出力する。さ
らにまた、上記モードセレクトデータ（ＤＭＳ）が［Ｈ
）Ｔ）で白シェーディングモードを示しているときには
上記第２の補正信号切換回路３７が上記Ｄ／Ａ変換器３
３から上記第２のレベル調整回路３５を介して出力され
るアナログ振幅信号を白シェーディング補正信号（Ｗｓ
ｕ）として、上記カラーコードデータ（ＤＣＣ）にて示
されているＲＧＢチャンネルに選択的に出力する。

さらに、この実施例において、上記メモリ１０の補正デ
ータ領域ＡＲＣＭから補正データ（ＤＣＰＩ）を読み出
して、上述のように各種補正信号（ｗｃｒ）。

（ＢＣＦ）　、（Ｗｓｕ）　、（ＢｓＨ）を形成する際
に、第６図に示すように、上記撮像部２を構成している
各ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂの各欠陥画素
からの信号電荷の読み出しタイミングすなわち上記補正
データ（ＤＣＭ）の読み出しタイミング（１＋１）を含
んでその前後数１０クロックの期間（ＴＩ）以外は、上
記メモリ１０に供給する電源の遮断あるいはパワーセー
ブ制御を行う、これにより、上記メモリ１０による不要
な電力消費を防止して、低消費電力化を図るようにして
いる。

Ｇ、補正動作 そして、この実施例において、空間絵素ずらし法を採用
した上記撮像部２にて得られるＲＧＢ各チャンネルのカ
ラー撮像出力（ＳＮ）　、　（ＳＧ）　、　（ｓｓ）は
、上記Ｄ／Ａ変換器３３から出力されるアナログ振幅信
号について、上記各り形クリップフロップ４４、’４５
．４６にて移相合わせされたストローブパルスに対する
上記第２のデコーダ４７によるデコード出力を選択制御
データとして、上記補正信号切換回路１２を構成してい
る上記第１および第３の補正信号切換回路３６．３’８
にて各欠陥画素位置Ａ＋、Ａｘ　　・・・のタイミング
で欠陥モードに応じて切り換え選択することにより得ら
れる白傷欠陥補正信号（Ｗｃｙ）や黒傷欠陥補正信号（
ＢＣＰ）が、上記補正信号加算回路８にて加算されるこ
とによって、白傷欠陥および黒傷欠陥による画像欠陥の
補正処理が施される。

上記第１の補正信号切換回路３６にて選択される白傷欠
陥補正信号（Ｗｃｒ）は、第７図に示すように、上記Ｄ
／Ａ変換器３３から出力されるアナログ振幅信号の振幅
＜１．ｓ）　　について、上記撮像部２を構成している
各ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ１２Ｇ、２Ｂの温度を検出
する上記温度センサ１３による検出出力が供給されてい
る上記第１の温度補正回路１４にて温度補正処理を施す
ことによって、実際の撮像状態における動作温度で白傷
欠陥を最適補正する振幅（ｊ２ｗ’）としてから、上記
撮像部２にて得られる撮像出力に上記補正信号加算回路
８にて加算することによって、温度依存性のある白傷欠
陥を最適補正することができる。

ここで、上記温度依存性のある白傷欠陥の欠陥レベルは
、常温では極めて小さく欠陥として問題とならないレベ
ルにあり、高温になるに従って指数関数的に大きくなる
ので、上記白傷欠陥補正信号（魁、）に温度補正処理を
施す上記第１の温度補正回路１４等に補正誤差が有ると
、上記白傷欠陥補正信号（Ｗｃｒ）による白傷欠陥補正
に過補正や未補正を生じて所謂補正傷が欠陥補正処理済
の撮像出力に残ってしまうことになる。そこで、この実
施例では、上述の初期設定動作によりシャツタスビード
や動作温度等のデータをアドレスデータとして上記メモ
リ１０の最小補正振幅データ領域ＡＲ３Ａから読み出さ
れる最小補正振幅データ（ＤＳＡ）を上記補正信号発生
回路１１の第１ないし第３のランチ回路２１，２２．２
３にラッチしておき、実際の撮像動作中に上記メモリ１
０の補正データ領域ＡＲＣＭから読み出される補正振幅
データ（ＤＣＭＡ）が上記最小補正振幅データ（ＤＳＡ
）よりも小さく、白傷欠陥補正による補正傷が問題にな
るような欠陥レベルの小さな白傷欠陥に対しては補正処
理を施さないようにして、欠陥レベルの大きな白傷欠陥
だけに選択的に補正処理を施すことにより、上記白傷欠
陥補正処理をより有効なものとしている。

また、上記撮像部２を構成している各ＣＣＤイメージセ
ンサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂでは、電荷蓄積時間の制御による
電子シャッタ機能を付加した場合に、その電荷蓄積時間
すなわちシャッタスピードに応じて撮像出力に含まれる
白傷欠陥信号の信号レベルが変化する。この実施例では
、上述の初期設定動作により上記補正信号発生回路１１
の第４のラッチ回路２４にラッチされるシャッタデータ
に基づいてビットシフト回路３１にて、実際の撮像動作
中に上述の第１表に示したビットシフト処理を上記補正
振幅データ（ＤＣＭＡ）に施すことにより、設定された
シャッタスピードに白傷欠陥補正信号（魁、）のゲイン
を対応させて、常に最適な白傷欠陥補正処理を行うこと
ができる。なお、設定されたシャッタスピードに白傷欠
陥信号信号作。、）のゲインを対応させるには、上記ビ
ットシフト回路３１以外にも、例えば、シャッタスピー
ドすなわち電荷蓄積時間を係数として上記白傷欠陥補正
信号（Ｗｃｐ）にデジタル的あるいはアナログ的に乗算
処理を施す乗算器を設けるようにしても良い。

さらに、上記撮像部２の各ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，
２Ｇ、２Ｂでは、電荷蓄積時間の制御による電子シャッ
タ機能を付加した場合に、例えば、第８図に示すように
、フィールド読み出しモードにおいて電荷蓄積期間を１
／２にすると得られる信号電荷量も通常モードの１／２
になるが、フレーム読み出しモードではを効な電荷蓄積
時間が通常モードの１／４になってしまい、同じシャッ
タスピードを設定しても、信号電荷の読み出しモードに
より有効電荷蓄積時間が異なるために、撮像出力に含ま
れる白傷欠陥信号の信号レヘルも違っている。この実施
例では、上記メモリｌＯにフィールド読み出し領域ＡＲ
ＦＤとフレーム読み出し領域ＡＲＦＭを設け、各読み出
しモードにおける最小補正振幅データ（ＤＳＡ）　、補
正データ（ＤＣＭ）やシャッタデータ（ＳＨＤ）等を予
め書き込んでおいて、実際に設定された読み出しモード
に対応する上記フィールド読み出し領域ＡＲＦＤあるい
はフレーム読み出し領域ＡＲＦＭからデータを読み出し
て、上述の初期設定動作および補正動作を行うことによ
り、どちらの読み出しモードでも最適な欠陥補正処理を
行うことができる。

また、この実施例では、上述のようにして白傷欠陥およ
び黒傷欠陥による画像欠陥の補正処理を施した１最像出
力について、上記信号処理系９において上記補正信号切
換回路１２を構成している上記第２および第４の補正信
号切換回路３６．３８にて上記Ｄ／Ａ変換器３３から出
力されるアナログ振幅信号を欠陥モードに応じて切り換
え選択することによって得られる黒シエーデイング補正
信号（ＢｓＭ）や白シェーディング補正信号（ＷｓＨ）
を用いてシェーディング補正処理が施される。

上記第４の補正信号切換回路３９にて選択される黒シエ
ーデイング補正信号（ＢｉＪ　は、上記Ｄ／Ａ変換器３
３から出力されるアナログ振幅信号の振幅について、上
記温度センサ１３による検出出力が供給されている上記
第２の温度補正回路１５にて温度補正処理を施すことに
よって、実際の撮像状態における動作温度で黒シェーデ
イングを最も少ない状態に補正することができる。

従って、この実施例では、空間絵素ずらし法を採用した
上記撮像部２を構成している各ＣＣＤイメージセンサ２
Ｒ，２Ｇ、２Ｂからの各撮像出力に移相の合った欠陥補
正信号を上記補正信号発生回路１１にて形成して、上記
各ＣＣＤイメージセンサ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂの白傷欠陥や
黒傷欠陥等による画像欠陥を適正に補正することができ
、極めて画質の良好な撮像出力信号を得ることができる
。

Ｈ発明の効果 本発明に係る固体撮像装置用画像欠陥補正装置では、第
１の固体撮像素子が第２および第３の固体撮像素子に対
して水平方向に１／２絵素ピッチずれた位置に配された
撮像部からの描像出力に対して、上記各固体撮像素子に
それぞれ含まれる欠陥画素の位置およびその出力信号に
含まれる欠陥成分レベルについてのデータを記憶手段に
記憶し、欠陥補正レベルについての処理と発生タイミン
グについての処理を個別に行う欠陥補正信号発生手段に
て上記記憶手段から読み出したデータに基づいて上記第
１．第２および第３の固体撮像素子の出力信号のうち上
記欠陥画素の出力信号のタイミングで各固体撮像素子用
の欠陥補正信号を独立に発生し、上記欠陥補正信号を上
記第１．第２および第３の固体撮像素子の出力信号に加
算することにより欠陥補正を行うので、所謂空間絵素ず
らし法を採用した固体撮像装置の描像部の各固体撮像素
子から得られる解像度の高い各撮像出力に対する欠陥補
正信号の発生位置を独立に可変調整して欠陥補正処理を
確実に行うことができ、画質の極めて良好な撮像出力信
号を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を適用したビデオカメラの構成を示すブ
ロック図であり、第２図Ａおよび第２図Ｂは上記ビデオ
カメラの撮像部を構成するＣＣＤイメージセンサの構造
を示す各模式図であり、第３図は上記ＣＣＤイメージセ
ンサの画素欠陥とその描像出力を説明するための模式図
であり、第４図は上記ＣＣＤイメージセンサの画素欠陥
についてのデータを記憶するメモリのメモリマツプであ
り、第５図は上記メモリから補正データを読み出して各
種補正信号を形成する補正信号発生回路の具体的な構成
をその周辺回路とともに示すブロック図である、第６図
は補正信号発生回路による上記メモリのパワーセーブ制
御動作を示すタイミングチャートであり、第７図は上記
補正信号発生回路にて形成した補正信号を用いた欠陥補
正処理動作を説明するための波形図であり、第８図は上
記ＣＣＤイメージセンサのフィールド読み出しモードお
よびフレーム読み出しモードにおける電荷蓄積時間およ
び電荷蓄積量の関係を説明するための波形図である。 ２・・・撮像部 ２Ｒ，２Ｇ、２Ｂ・・・ＣＣＤイメージセンサ３・・・
ＣＣＤ駆動回路 ４・・・シンクジェネレータ ５・・・タイミングジェネレータ ６・・・システムコントローラ ８・・・補正信号加算回路 １０・・・メモリ １１・・・補正信号発生回路 １２・・・補正信号切換回路 ２８・・・ストローブ発生回路 ３３・・・Ｄ／Ａ変換器 ４１．４２・・・スイッチ回路 ４３．４７・・・デコーダ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 第１の固体撮像素子が第２および第３の固体撮像素子に
   対して水平方向に１／２絵素ピッチずれた位置に配され
   た撮像部を有する固体撮像装置において、 上記第１、第２および第３の固体撮像素子にそれぞれ含
   まれる欠陥画素の位置およびその出力信号に含まれる欠
   陥成分レベルについてのデータを記憶した記憶手段と、 上記記憶手段から読み出したデータに基づいて上記第１
   、第２および第３の固体撮像素子の各欠陥補正信号を独
   立に形成するとともに、上記各欠陥補正信号の発生位置
   を独立に調整自在な欠陥補正信号発生手段と、 上記欠陥補正信号発生手段が発生する欠陥補正信号を上
   記各固体撮像素子の出力信号に加算して欠陥補正を行う
   補正手段とを設け、 上記欠陥補正信号発生手段にて上記第１、第２および第
   ３の固体撮像素子の出力信号のうち上記欠陥画素の出力
   信号のタイミングで各固体撮像素子用の欠陥補正信号を
   発生して、上記第１、第２および第３の固体撮像素子の
   出力信号に加算することにより欠陥補正を行うようにし
   た固体撮像装置用画像欠陥補正装置。