JPS6273875A - 撮像装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、不良感光素子を含む固体撮像器の欠陥修正
装置に関する。

〔発明の背景〕

固体イメージヤ（以下、固体撮像器という）は、従来の
撮像管に比べてその長寿命、低電力消費、小形という利
点があるために可視光および赤外光の領域における放射
エネルギ検知用カメラに益々その用途が拡大している。

固体撮像器は、情景からの光に感応する個々の感光性画
素（ビクセル）の配列を有する結像部を持っている。ｘ
　−ｙアドレス型ＭＯ８電界効果トランジスタ型または
自己走査ＷＣＴＤ（電荷転送装置）型のようなテレビジ
ョン・カメラ用として適した固体撮像器は、一般に最大
２００，０００個のビクセルを有している。固体撮像Ｂ
を製造するための半導体基板材料中の不規則な非均一性
、および製造工程中に導入される不純物と／または不完
全さのために、各ビクセルが許容結像応答特性を有する
固体撮像器の製造歩留シは、撮像器中のビクセル数が増
加するに従って大幅に低下する。固体撮像器における結
像応答特性（２）１つは、例えば暗電流応答である。半
導体装置が成る量の漏れ電流音生ずることはよく知られ
ている。固体撮像器では、光励起がなくても漏れ電流が
ビクセル中に電荷を集積することとなる可能性があυ、
これは暗電流応答として知られている。

固体撮像器をテレビジョン・カメラに使用する場合には
、その各ビクセルの暗電流（非画像表示）応答は、テレ
ビジョン信号が許容できる信号対雑音比で生成されるよ
うに、画像表示光応答に比べて相対的に低くなければな
らない。しかし、もし成る特定ビクセルの暗電流応答が
、その周囲のビクセルの平均暗電流レベルよシ高いと、
それは生成されるテレビジョン信号中の「ホワイト・ス
ポット」欠陥として明瞭に現われることになる。また、
撮像器の製造工程中に導入される不純物と／または不完
全さの結果として、ビクセルはテレビジョン信号中に「
ブランク・スポット」欠陥ヲ生せしめる可能性がある。

このような欠陥のため、高品質テレビジョン争カメラに
適した撮像器のような多数のビクセルを有する固体撮像
器の製造歩留は極めて低い。それ故各撮像器は慎重に試
験２行なって欠陥のあるものを選別除去せねばならず、
そのため合格と判定された比較的少数の撮は器は当然高
価格になる。

テレビジョン・カメうにこのような不完全な撮像器を使
用し、それによって使用可能な撮像器の数を増やして価
格２下げる一つの方法は、カメうの中に欠陥修正器を取
シ入れることである。例えば、ナグモ（Ｎａ、ｇｕｍｏ
）氏出願の米国特許Ｆ４１ｑ９′７Ｈ号には、ＣＯＤ　
（電荷結合装置）撮１象器と欠陥位置情報を蓄積してい
るフレーム・メモリとが同期してタロツク制御されるカ
メうが示されている。不良（欠陥）ビクセルからの信号
がＣＣＤから供給されていることを、欠陥位置メモリが
指示すると、その不良ビクセルの前のビクセルからの信
号が不良ピクセルからの信号の代りに使用される。一般
に「置換法」と呼ばれるこの型の修正法は、高品質テレ
ビジョン・カメラ用として望ましくない。

その理由は、テスト・パターンまたは非常に微細な部分
を持った情景全見たときに、この置換された信号は間違
ったものとして明瞭に観察されるからである。更に、ど
のビクセルに欠陥があるかを指定するために各ビクセル
のアドレスを記憶する大容量のメモリが必要となり、従
って欠陥修正器の大きさ、コスト、電力消費が増大する
ことになるからである。

ホフマン（Ｈｏｆｍａｎｎ　）氏の出願による米国特許
第４２００９３４号は、上記とは別の型の像欠陥修正器
を開示しておシ、固体撮像器の各ビクセルに対する暗電
流の大きさを記憶するためのフレーム・メモリを有して
層る。この撮像器とフレーム・メモリは、同期してタロ
ツク制御され、フレーム・メモリに記憶されている暗電
流の大きさが撮像器のそれぞれのビクセルにより供給さ
れる信号から差引かれる。これによって記憶されている
各暗電流の大きさがそれぞれのビクセルで発生しうルを
大の変動信号よシ小さく、かつ入射光に対し正確に応答
できるよう充分な信号容量Ｃ余裕）がある限シ、非画像
暗電流変動分を実質的に含んでいない画像表示信号が得
られる。この修正方式は、修正部分が表示された画像中
に事実土兄えないので、置換法よりも有利である。しか
し撮像器中の全ビクセルに対する暗電流の大きさを全部
記憶するために全フレームのメモリが必要である。例え
ば、ビクセル数が２００．０００で、暗電流の大きさを
記憶するため１ビクセルあたシロビットが必要と仮定す
れば、ｌ　、　０００．０００個以上の記憶位置（すな
わちビット）が必要となる。このメモリは、上記した置
換技術に比べて可成りの大きさ、コストおよび電力消費
等の負担を与える。特にそのカメうが欠陥修正器を必要
とする撮像器を複数個有する場合には、負担が重くなる
。従って、カメラの価格或は電力消費を余り増加させぬ
方法で、テレビジョン・カメうに適した撮像器の供給を
増加させるため、固体撮像器用の欠陥修正法全提供する
ことが望ましい。

〔発明の概要〕

この発明の原理によれば、撮（３）４中の全ビクセル数
より少ない数の不良ピクセルを有する固体撮像器用の欠
陥修正器において、不良ピクセルに関する欠陥修正信号
のみが生成される。これらの欠陥修正信号は、次に各不
良ビクセルが欠陥補償済の光応答信号を供給するよう、
対応する不良ピクセルからの光応答信号と組み合わされ
る。

〔詳細な説明と実施例〕

第１図のカメラにおいて、光学素子１０は、波形矢印で
示した光を情景から固体撮像器１２の感光性結像部上に
投射する。撮像器１２は、ｘ　−ｙアドレス型ＭＯＢ撮
像器或は自己走査型ＣＴＤｆ”電荷転送装置）撮像器の
ような一般に使用されている種々の固体撮像装置のうち
の任意の１つ？有するものである。図示した実施例の撮
像器１２は、ＲＣＡ社から市販されている５ＩＤ５０４
フレーム転送型Ｃ’ＣＤ　（Ｎ荷結合装置）撮像器のよ
うなフレーム転送型ＣＣＤよシ成るものである。簡単に
言えば、フレーム転送型ＣＣＤ撮像器は、基板絶縁層上
に配置された複数の電極と、情景からの入射光に応じて
電荷パターンを発生させるための感光性画素（ピクセル
）の配列を含む結像部（Ａレジスタ）、Ａレジスタで発
生した電荷パターンを記憶するため入射光から遮蔽され
た電荷転送ｒ’、Ｒ（Ｂレジスタ）、発生した電荷パタ
ーンに対応した電気信号を読み出すための読み出し′ｆ
ｒＡ（Ｃレジスタ）をそれぞれ形成するため選択的にド
ープされた諸領域とを含む一枚の半導体、基板を有する
。ドライバ段１４は、周知のようにレベル・シフト段お
よび増幅段？有し、主発振器１８からのパルスに応動１
−でタイミングおよび同期（５ｙｎｃ）回路１６で発生
する多相タロツク信号のレベル・シフトされ、増幅され
た成分を、撮像器１２のＡ、ＢおよびＣレジスタの電極
に供給する。ＣＣＤ撮像器の構造と動作はこの技術分野
の専門家にとっては周知の事柄であるから、撮像器１２
についてこれは上詳細な説明は省略する。

Ｃレジスタの出力に生成される電気信号は、撮像滲出力
信号を信号再生回路２０に供給するが、この回路は、例
えば周知の二重間１す］サンプリング回路より成るもの
である。信号再生回路２０からの信号は、差動増幅器２
２の非反転（十）信号人力に供給される。以下更に詳細
に説明するように、もし特定のピクセルに欠陥があると
、増幅器２２の非反転（＋）信号入力における電気信号
が不良ピクセルに対応している期間、欠陥修正信号が増
幅器２２の反転（−）信号入力に供給される。欠陥修正
信号は、増幅器２２の出力に生成され、信号処理回路２
４により処理されるが、この回路には、普通のテレビジ
ョン信号を発生させるためにガンマ補正、白黒バランス
、同期信号挿入等の回路を設けることができる。不良ピ
クセルの修正信号（すなわち大きさのレベル）のみ発生
させれば良いのであるから、以下の説明から明らかにな
るが、欠陥修正器で必要とする回路数と電力哨費喰の大
幅な節減が可能となる。

更に詳しく説明すると、この欠陥イ６正器は、修正すべ
き（要修正）不良ピクセルのそれぞれの位置を指定する
ためのアドレス情報が記憶された、不揮発性ＲＯＭ　（
読み出し専用メモリ）を含む欠陥位置メモリ２６を有す
る。このアドレス情報は１ブロツクのビットよシ成るも
ので良い。−例を示せばこのブロックは１８ピツトを含
むもので、第１のビットは欠陥を含むテレビジョンのフ
ィールドが奇数か偶数かを指示し、次の３ピツトは欠陥
のあるテレビジョン走査線を指示しく８ビツトは最大２
５５本のｍまで特定するに十分であり、この本数はＮＴ
Ｓ　Ｃテレビジョン方式におけるフィールド当り有効な
テレビジョン走査線２４２本に対し十分である）、最後
の９ビツトは、テレビジョン走査線に沿う欠陥の水平位
置を指示する（９ビツトは最大５１１の位置まで特定で
き、この位置数はＲ，ＣＡ裂Ｓ　ＩＤ　５０４　ＣＣＤ
撮像器により供給される１線当り！ｏ３ピクセルに対し
て十分である）。欠陥の大きさメモリ２８は、また、各
型（し正不良ビクセルにおける欠陥の大きさのレベルに
関する情報ブロック？記憶した不揮発性のＲＯＭも持っ
ている。例えば、もし要修正欠陥が、ホワイト・スポッ
ト欠陥であれば、この不良ピクセルの暗電流の大きさの
うち、その近傍にあるピクセルの平均ピクセル暗電流よ
り大きい（すなわちモ均暗電流の基準レベル音調える）
部分のレベルが、その不良ピクセルに関スる欠陥修正信
号として位置のブロック（６ビツトで十分）をなしてメ
モリ２８中に記憶される。

順次アドレス発生器３０は、欠陥位置メモリ２６と欠陥
大きさメモリ２Ｂとにアドレス指定信号を供給する。こ
のアドレス指定信号により表わされる各アドレスごとに
、１８ピツトの欠陥アドレスが欠陥位置メモリ２６の中
から読み出されバッファ・レジスタ３２に記憶され、欠
陥大きさメモリ２８の中から対応する６ビツト欠陥修正
器号が読み出されてバッファ・レジスタ３４に記憶され
る。カメラがターン・オンされる毎に、タイミングおよ
び同期回路１６はフレーム周波数信号を順次アドレス発
生器３０に供給するが、この信号は、要修正テレビジョ
ン・フレームの第１ピクセル欠陥に関する情報の第１ブ
ロツクを読み出すため、順次アドレス発生器からアドレ
ス指定信号がメモリ２６．２８に供給されるようにする
。バッファーレジスタ３４に記憶されているディジタル
欠陥修正信号は、ディジタル−アナログ（Ｄ／Ａ）変換
器３６により変換されて対応するアナログ欠陥修正信号
となる。暗電流レベルは温度と共に変化するので、温度
補償段３８が、撮像器１２と熱接触している温度センサ
４０によシ発生される温度表示信号に従って、Ｄ／Ａ変
換器３６により生成された欠陥修正信号のレベルを修正
する。

アドレス比較器４２は、バッファ・レジスタ３２カらの
欠陥アドレスを一方の入力ポートで受け、他方の入力ポ
ートでは撮像器１２から現在読み出され一〇いるピクセ
ルのアドレス全表わす現在ピクセル−アドレス発生器４
４からのアドレス指定信号２受は入れる。現在ピクセル
・アドレス発生器４４は、テレビジョン回路の専門家に
は良く知られているように、現在ピクセルのアドレスに
生成するため、タイミングおよび同期回路１６から供給
されるＦ、Ｌ、Ｐの各信号に応動するフィールド周波ｆ
ｉ　（Ｆ）、ライン周波数（Ｌ）、ピクセル周波数ＣＰ
）の各カウンタを含んでいる。現在ビクセル−アドレス
が、バッファ・レジスタ３２に記憶されている欠陥アド
レスと一致したとき、比較器４２の出力にフラッグ信号
が生成される。第１の不良ビクセルから得られた信号が
増幅器２２の非反転（＋）人力に結合されている期間中
、このフラッグ信号に応動してゲート４６は温度補償済
欠陥修正信号を増１福器２２の反転（−）入力に結合す
るように働く。増幅器２２は第１不良ピクセルから得ら
れた撮像器の供給信号から欠陥修正信号と差引くので、
残りは実質的に不良ピクセルの画像表示光応答のみに対
応した、カメラ信号処理回路２４に供給される信号とな
る。信号処理回路２４は、周知のようにゲート４６によ
り惹起されるピクセル端辺での切換信号の過渡現壕を消
去するように、欠陥修正信号を再サンプリングするため
その人力にサンプリング回路を設けることもできる。ま
たフラッグ信号は、順次アドレス発生器３０がメモリ２
６．２８に新しいアドレス指定信号を供給するようにす
るため、このアドレス発生器にも印加され、それにより
前位のピクセルの欠陥修正が完了した後、次の不良ピク
セル用の欠陥アドレス占欠陥修正信号をそれぞれバッフ
ァ３２．３４中て入力記憶させる。欠陥修正装置の実際
の構成によっては、上記した動作のタイミングが正確に
起る二つにするため、遅延回路４７．４９をそれぞれ経
由してゲート４Ｇと順次アドレス発生器３０になされる
フラッグ信号の供給を遅延させる必要のあることか判る
。

カメラの組立前、すなわちカメう製造中、欠陥位置メモ
リ２６と欠陥大きさメモリ２８には不良ピクセル用の欠
陥アドレスと欠陥大きさの各情報を入力記憶させなけれ
ばならない。第２図には、欠陥アドレスと欠陥大きさの
各情報をメモリ２６．２８に人力記憶させるための装置
が図示されているが、この図中で構成と動作が第１図て
ついて説明した諸要素と類似の要素には同じ参照番号を
Ｍ’けて示しである。初めに、こ＼には第１図の欠陥修
正器とともに使用するに適した、欠陥を有する撮像器の
みが使用されている。例えば、もし欠陥がホワイト・ス
ポットであれば、それらは十分小さく各不良ビクセルが
正しく画像表示光応答を発生させるための十分な信号容
量（ヘッドルーム）と利用できる。根本的には、第２図
の回路配首では、信号処理回路２４からのビデオ信号は
、加算器４８を経由してその信号が再生されるモニタ５
０に印加される。撮像器１２の感光性Ａレジスタの前に
は、すべての光が感光ピクセルに到達することを実質的
Ｇ′こ阻止するようにシャッタ５１が配置されているの
で、操作者は例えばモニタ５０上のホワイト・スポット
のような暗電流欠陥を見ることができる。操作者は、カ
ーソルの位置がモニタ５０上で不良ビクセルと一致する
まで、カーソルとアドレス発生器５２により生成された
カーソルの位置を調整しながらモニタ５０全見続ける。

一旦両者が一致すると、操作者はスイッチ５４を押して
カーソルとアドレス発生器５２によυ指定されるこの不
良ビクセルの１８ビツト・アドレスをメモリ２６のＲＯ
Ｍに人力記憶させ、また欠陥修正信号発生器５６によυ
生成される６ビツトのディジタル修正信号をメモリ２８
のＩ’（ＯＭに入力記憶させる。この工程は、要修正の
各欠陥について欠陥アドレスと修正信号がそれぞれメモ
リ２６．２８に順次記憶されるまで繰返し行なわれる。

更に詳細に言うと、カーソルとアドレス発生器５２は、
撮像器が生成したビデオ信号に加算器４８を介して加算
されるカーソル信号？発生させるためＰ、Ｌ、Ｐ各信号
に応答する各カウンタを有している。更にカーソルとア
ドレス発生器５２は、同時に、アドレス比ｌ咬器４２と
欠陥位置メモリ２６のデータ（［）入力とに印加される
現在のカーノル位首企表わす１８ビツトのアドレスを生
成する。操作者が、カーソルと要修正の第１の欠陥とが
一致するようにカーソルを位置決めするために、カーソ
ルとアドレス発生器５２に付属している水平（Ｉ−１）
および垂直〔Ｖ）の各制御装置を調整すると、メモリ２
６に供給される１８ビツトのカーソル・アドレス（ｄ、
不良ビクセルの１８ビツト・アドレスに一致する。史に
、　、比較器４２はカーソル・アドレス信号をアドレス
発生器４４からの現在ビクセル・アドレスと比較して、
両アドレスが一致するとと（こフラッグ信号企発生する
。このフラッグ信号は、不良ビクセルの暗電流レベルを
サンプリングするためにザンブルー保持回路５８に印加
される。サンプリングされた暗電流レベルは、差動増幅
器６０の非反転（十）人力に印加される。低域フィルタ
６２は、不良ビクセル↓り前位にある同ビクセル近辺の
諸ビクセルの平均暗電流を表わす信号をその出力に生成
するように比較的長い時定数（たとえば３０ビクセル）
を有する。サンプル−保持回路６４は、回路５８と同じ
くフラッグ信号に応動するもので、低域フィルタ６２ノ
出力をサンプリングし、その平均暗電流信号を基準レベ
ルとして増幅器６００反転（−）人力に印加する。増幅
器６０の出力に生成される差信号は欠陥修正信号に相当
し、不良ビクセル近辺の諸ビクセルの平均暗電流に対す
る不良ビクセルの暗電流の偏差を表わして贋る。この欠
陥修正信号は、次に、Ａ／Ｄ変換器６６によ如ディジタ
ル化され、メモリ２８のＤ入力に印加される６ビツトの
ディジタル信号になる。この様に、操作者がカーソルを
、修正されるべき第１の欠陥と一致するように設定する
と、以上説明してきたこの第２図の装置は、要修正の第
１の欠陥の欠陥アドレスと欠陥修正信号をメモリ２６．
２８の各り人力に供給する。

第１欠陥の１８ビツト・ビクセル・アドレスと６ビツト
のディジタル欠陥修正信号をメモリ２６．２８中の両メ
モリ位置の第１のブロックに送り込むために、順次アド
レス発生器３０は、アドレス指定信号をメモリ２６．２
８の各アドレス（Ａ）入力に供給する。順次アドレス発
生器３０によりアドレス指定されるメモリ２６．２８中
の位置の第１ブロツクに欠陥アドレスとディジタル修正
信号を人力記；意さぜる「負荷」パルスを生成するため
、操作者は、次にスイッチ５４　’ｉ　押してワンーシ
ョットーマルｆ−バイブレータ６８を可動化する。メモ
リ２６．２８に対する人力完了後、遅延回路ワＯは、ア
ドレス指定信号を増加させるために「負荷」信号を順次
アドレス発生器３０に印加する。その結果、次の要修正
欠陥用の次の情報ブロックのアドレスを表わす新しいア
ドレス指定信号がメモリ２６．２８に印、ＩＪＤされる
。

操作者は、要１ω正欠陥の谷・ケについて欠陥アドレス
と修正情報がメモリ２６．２８に記憶されるまで、上記
の手順を繰り返す。暗電流欠陥の大きさレベルは、光応
答によシ生成される電荷骨の関数として実質的に一定で
あり、それ故に、カメうのレンズ・ギャップが外されて
撮像器が入射光に応動した後でも実質［ｊ（］に不変の
ビクセル欠陥の大きさを、上記のカメラにギャップを被
せた状態で測定し記憶することが可能であることに注意
すべきである。

第３図は、第１図に示した実施例とは別の実施例で、低
速度の、従って又低電力消費の部品企使用できるように
した例を示している。修正可能な欠陥を有する撮像器中
の欠陥の数は、撮像器中の全ピクセル数より一般にはる
かに少なく、しかもこの欠陥は不規則に分布しているの
で、不良ビクセルが隣り合って存在する確率は非常に小
さい。

要修正ピクセル相互間が広い間隔、例えば２００ビクセ
ルの場合のみを対象とすることにより、第１図の実施例
の場合よりはソ２桁も長い変換時間と読み出し時間音も
つＤ／Ａ変換器とメモリ回路を使うことが可能である。

更に第３図では、欠陥大きさメモリが、新しい欠陥大き
さ情報で更新できるランダム・アクセス・メモリ（ＲＡ
Ｍ　）を含んでいる。

第３図では、第１図、第２図に関して既に説明した要素
と類似の要素には、同じ参照番号を叶けて示しである。

欠陥位置メモリ７２け、（動作速度がより遅めこと以外
は第１図、第２図の欠陥位置メモリ２６のＲＯＭに類似
の）低速度ＲＯＭを含んでおり、このＩｔ、ＯＭは順次
アドレス発生器３０からのアドレス指定信号（て応りν
ｊして要修正欠陥のアドレスをバッファ・レジスタ３２
に供給する。ＲＡＭを有する欠陥大きさメモリ７４もま
た１］＠次アドレス発生器３０からのアドレス信号に応
動して、アドレスがメモリ７２に記憶されている不良ビ
クセルに対応するディジタル欠陥大きさレベル全バッフ
ァ・レジスタ３４に順次供給する。低速Ｄ／Ａ変換器ワ
６は、第１図の場合と同様に、ディジタル欠陥大きさレ
ベルを、ゲート４６に印加されるべき対応する直流レベ
ルに変換する。しかし各不良ビクセルの発生部相互間に
は少なくとも２００個の良質ピクセルがあるので、Ｄ／
Ａ変換器７６は、はるか例遅い速度で動作することがで
きる。メモリ７２は素子３０．３２．４４および４４と
共働してフラッグ信号を発生する。このフラッグ信号は
、第１図について前述したのと同じ具合に、ゲート４６
を導通させ、また増幅器２２の（”十）人力に印加され
た撮像器供給信号の欠陥修正を行なわせる。

更に、メモリ７４に記憶された欠陥大きさ情報全周期的
に更新できるように、第２図の欠陥修正信号発生器５６
とＡ／Ｄ変換器６６とが、信号再生回路２０の出力に結
合されていて、メモリ７４のＤ入力に印加されるディジ
タル欠陥修正信号を生成する。この情報更新ゼ１作期間
中、撮像器１２は、例えばそのレンズ（図示せず）にキ
ャップを被せることにより光の入射阻止しておき、書込
み（Ｗ）信号がメモリ７４の読出し／書込み人力に印加
されてそのＤ入力に印加されたディジタル欠陥修正信号
？このメモリに記憶させる。書込み信号は、レンズにキ
ャップを被せることにより作ゼ１するスイッチによシ自
動的に発生させることができる。メモリ７４のＲＡＭは
揮発性であるから、カメうがターン・オフされそのＵ１
作電力の供給が断たれる度毎に最新の欠陥大きさ情報が
失われることがないように補助蓄電池７８が設けられて
いる。この実施例は、最新の欠陥大きさ情報全メモリ７
４に入力記憶させることができ、それによシ現在の動作
温度と多相タロツクのバイアス状ｊ！！ｉ（タロツクの
バイアス状態モまた撮像器１２中の暗電流レベルに変化
を与える）に対する正しい欠陥大きさ情報を自１肋的て
記憶するので、特に都合がよい。従って、成る用途では
温度補償回路全必要としないこともある。或いはまた、
もしなお一層正確な欠陥修正が必要な場合には、新しい
欠陥大きさ情報がメモリワ４に入力記憶される度毎に、
温度補償回路がそれに応じて欠陥大きさレベルｔ　（ｆ
Ｉ圧するように、第１図で使用された温度補償回路に類
似の回路を設けることもできる。

第１図の欠陥大きさメモリ２８はＲＯＭを有する形式と
して説明したが、欠陥大きさ信号乞アナログ値として記
憶するためにキャパシタ・アレ・イ企使用して、Ｄ／Ａ
変換器の必要性をなくすようにし得ることは明らかであ
る。更に、米国特許第４２５３１２０号に記載されてい
るように実時間で（オン・ザ・フライ）隣接するビクセ
ルのコントラスト特性？調べ乙ことにより欠陥ビクセル
の位置を検出することができる。そうすれば、第１図ま
たは第３図に示されている欠陥位置メモリ２６（または
９２）、バッファーレジスタ３２、アドレス比較器４２
、現在ピクセル・アドレス発生器４４は省略することが
できる・これらのおよびその他の改変実施例は何れも特
許請求の範囲に示された忠想の範囲に含まれるものであ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に従って構成した一例固体撮像器欠陥
修正器を含むテレビジョン・カメラのブロック図、第２
図は第１図て示す欠陥修正器とともて使用できる、固体
撮像器中の欠陥の位置と大きさレベルを決定する装置の
構成を示すブロック図、第３図はこの発明の原理に従っ
て構成した欠陥修正器の上記とは別の実施例を示すブロ
ック図である。 １２・・・固体撮像器、１４・・・ドライバ段、１６・
・・タイミングおよび同期回路、２２・・・差動増幅器
、２６・・・欠陥位置メモリ、２８・・・欠陥大きさメ
モリ、３２・・・バッファ惨レジスタ、３４・・・パン
ファーレジスタ、７２・・・欠陥位置メモリ、ワ４・・
・欠陥大きさメモリ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）感光素子の配列を有し、この配列中の感光素子の
   全数よりも少数の上記感光素子より成るグループから取
   出される非画像表示信号成分を含む画像表示信号を生成
   するための固体結像手段と、上記感光素子グループ中の
   各感光素子の上記配列中における位置を指定する素子位
   置信号を生成する手段と、 上記グループから得られる上記非画像表示信号成分のそ
   れぞれの大きさを表わす大きさを有する複数の修正信号
   を順次生成するための手段と、上記素子位置信号に応動
   してこの素子位置信号によつて指定された期間中上記修
   正信号を上記素子位置信号と加算する手段と、を具備し
   て成る撮像装置。