JPH01109286A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
- Publication number
- JPH01109286A JPH01109286A JP26715387A JP26715387A JPH01109286A JP H01109286 A JPH01109286 A JP H01109286A JP 26715387 A JP26715387 A JP 26715387A JP 26715387 A JP26715387 A JP 26715387A JP H01109286 A JPH01109286 A JP H01109286A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、放射線のエネルギー分析を行う放射線測定
系に用いられる放射線測定装置に関する。
系に用いられる放射線測定装置に関する。
シンチレーション検出器等を用いて放射線によるパルス
信号の大きさで放射線のエネルギー分析を行う放射線測
定系では、放射線測定装置における利得変化が問題とな
る。
信号の大きさで放射線のエネルギー分析を行う放射線測
定系では、放射線測定装置における利得変化が問題とな
る。
第５図は上記問題を解決するために従来から用いられて
いる技術を実施した放射線測定装置をブロック図で示し
たもので、図において１は測定される放射線源（被測定
放射線源）、２は参照信号源である光パルサであって、
一定の大きさの光パルス（参照信号）を一定の間隔で発
生する。３はシンチレーション検出器であって、被測定
放射線源１からの放射線を光パルスに変換する。４はフ
ォトマルチアプライアであって、入力された光パルスの
光量に比例した大きさの電気パルスを作成する。５は増
幅器であって、上記電気パルスを増幅し、第６図（ａ）
に示すようなパルス列を送出する。
いる技術を実施した放射線測定装置をブロック図で示し
たもので、図において１は測定される放射線源（被測定
放射線源）、２は参照信号源である光パルサであって、
一定の大きさの光パルス（参照信号）を一定の間隔で発
生する。３はシンチレーション検出器であって、被測定
放射線源１からの放射線を光パルスに変換する。４はフ
ォトマルチアプライアであって、入力された光パルスの
光量に比例した大きさの電気パルスを作成する。５は増
幅器であって、上記電気パルスを増幅し、第６図（ａ）
に示すようなパルス列を送出する。
６ａ、６ｂは波高分析器（シングルチャンネル）、７Ａ
、７ｂは計数率計、８は差動増幅器、９は放射線測定装
置の外部制御型の電源（高圧電源）である。
、７ｂは計数率計、８は差動増幅器、９は放射線測定装
置の外部制御型の電源（高圧電源）である。
以下、この装置の動作を第６図（ａ）、山）および（Ｃ
）の波形タイムチャートを参照して説明する。
）の波形タイムチャートを参照して説明する。
第６図（ａ）は増幅器５の出力信号を示し、点線で示す
波高に等しい波高のパルスＰＡは光パルサ２の出力に対
応するパルス、他のパルスＰ−は被測定放射線源１に対
応するパルスであり、パルスＰＡはパルスＰｌと区別し
得るように、その波高がパルスＰ、の波高より高くなる
ようにしである。第６図〜）は第３図（ａｌのパルス列
の波高分布を示し、右端のピーク（波高の最も高いもの
）は参照信号に対応し、他のピークは被測定放射線源ｌ
からの放射線に対応するピークである。波高分析器６ａ
と６ｂはそれぞれ成る限られた範囲の波高のパルスのみ
に応答し、その応答範囲は、第６図（Ｃ）に示すように
、参照信号のピークの右半分Ｈ３と左半分Ｈ１に設定さ
れている。波高分析器６ａと６ｂの出力計数率Ｎ１とＮ
８は最初等しく設定されているが、上記した測定系の利
得が、例えば増大すると、出力計数率Ｎ１に比し出力計
数率Ｎｔが増加する。計数率計７ａと７ｂはそれぞれ出
力計数率Ｎ、とＮ２に比例した電圧を発生し、差動増幅
器８は計数率計７ａと７ｂの出力電圧の差に比例した電
圧を発生する。この差動増幅器８の出力は電源９を制御
し、電源９の出力を変化させてフォトマルチアプライア
４の利得を変化させる。
波高に等しい波高のパルスＰＡは光パルサ２の出力に対
応するパルス、他のパルスＰ−は被測定放射線源１に対
応するパルスであり、パルスＰＡはパルスＰｌと区別し
得るように、その波高がパルスＰ、の波高より高くなる
ようにしである。第６図〜）は第３図（ａｌのパルス列
の波高分布を示し、右端のピーク（波高の最も高いもの
）は参照信号に対応し、他のピークは被測定放射線源ｌ
からの放射線に対応するピークである。波高分析器６ａ
と６ｂはそれぞれ成る限られた範囲の波高のパルスのみ
に応答し、その応答範囲は、第６図（Ｃ）に示すように
、参照信号のピークの右半分Ｈ３と左半分Ｈ１に設定さ
れている。波高分析器６ａと６ｂの出力計数率Ｎ１とＮ
８は最初等しく設定されているが、上記した測定系の利
得が、例えば増大すると、出力計数率Ｎ１に比し出力計
数率Ｎｔが増加する。計数率計７ａと７ｂはそれぞれ出
力計数率Ｎ、とＮ２に比例した電圧を発生し、差動増幅
器８は計数率計７ａと７ｂの出力電圧の差に比例した電
圧を発生する。この差動増幅器８の出力は電源９を制御
し、電源９の出力を変化させてフォトマルチアプライア
４の利得を変化させる。
この変化の方向は、先に仮定した測定系の利得の変化の
方向と逆に作用し、波高分析器６ａと６ｂのそれぞれの
出力計数率Ｎｌ とＮ！を元に戻し、等しくする。この
結果、参照信号のパルスの大きさは常に一定に保たれ、
測定系全体の利得が一定に維持されることになる。
方向と逆に作用し、波高分析器６ａと６ｂのそれぞれの
出力計数率Ｎｌ とＮ！を元に戻し、等しくする。この
結果、参照信号のパルスの大きさは常に一定に保たれ、
測定系全体の利得が一定に維持されることになる。
しかしながら、上記従来の装置では、第６図１８）に点
線で示すように、参照信号のパルスと他のパルスとが重
なった場合、参照信号のパルスの波高分布が第６図伽）
に点線で示すように変化し、これに伴い、出力計数率Ｎ
ｒ、Ｎｔが変化し、利得制御が正確に行えなくなるとい
う問題があり、この傾向は計数率が高くなるほど顕著で
ある。
線で示すように、参照信号のパルスと他のパルスとが重
なった場合、参照信号のパルスの波高分布が第６図伽）
に点線で示すように変化し、これに伴い、出力計数率Ｎ
ｒ、Ｎｔが変化し、利得制御が正確に行えなくなるとい
う問題があり、この傾向は計数率が高くなるほど顕著で
ある。
この発明は上記問題を解決するためになされたもので、
参照信号のパルスと他のパルスとの重なりが生じたりし
ても、利得を一定に制御することができる放射線測定装
置を提供することを目的とする。
参照信号のパルスと他のパルスとの重なりが生じたりし
ても、利得を一定に制御することができる放射線測定装
置を提供することを目的とする。
この発明は上記目的を達成するため、出力されるパルス
列のうちの参照信号に対応するパルスを抽出してその参
照信号対応パルス列の上側包絡線信号を作成し、該上側
包路線信号の下側包絡線信号を作成する波高抽出回路を
設け、該波高抽出回路の出力を所定値と比較してその偏
差が零になるように上記利得を制御する構成としたもの
である。
列のうちの参照信号に対応するパルスを抽出してその参
照信号対応パルス列の上側包絡線信号を作成し、該上側
包路線信号の下側包絡線信号を作成する波高抽出回路を
設け、該波高抽出回路の出力を所定値と比較してその偏
差が零になるように上記利得を制御する構成としたもの
である。
この発明では、参照信号対応パルスと放射線対応パルス
とが重畳した重畳パルスが発生しても、参照信号対応パ
ルスのパルス列の下側包絡線信号には上記重畳パルスの
波高の影響が入ってこないので、利得を一定に制御する
ことができる。
とが重畳した重畳パルスが発生しても、参照信号対応パ
ルスのパルス列の下側包絡線信号には上記重畳パルスの
波高の影響が入ってこないので、利得を一定に制御する
ことができる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第１図において、１０は参照信号波高抽出器、１１は比
較器である。他の構成は第５図の構成と同一であるので
、同一符号を付して示しである。
較器である。他の構成は第５図の構成と同一であるので
、同一符号を付して示しである。
上記参照信号波高抽出器１０は、例えば、第２図に示す
如き構成を有している。
如き構成を有している。
第２図において、１０１は増幅器、１０２はダイオード
、１０３はコンデンサ、１０４は放電用抵抗であって、
これらは参照信号対応パルス列の上側包絡線検出回路を
構成している。１０５は増幅器、１０６はダイオード、
１０７はコンデンサ、１０８は抵抗であって、これらは
上側包絡線の下側包絡線検出回路を構成している。１０
９はバッファ増幅器である。
、１０３はコンデンサ、１０４は放電用抵抗であって、
これらは参照信号対応パルス列の上側包絡線検出回路を
構成している。１０５は増幅器、１０６はダイオード、
１０７はコンデンサ、１０８は抵抗であって、これらは
上側包絡線の下側包絡線検出回路を構成している。１０
９はバッファ増幅器である。
以下、この装置の動作を第４図の波形図を参照して説明
する。
する。
上記上側包絡線検出回路のコンデンサ１０３は増幅器５
が送出するパルス列の中の参照信号に起因するパルスの
パルスの波高電圧まで充電される。このコンデンサ１０
３の蓄積電荷は放電用抵抗１０４を通して徐々に放電さ
れ、次に到来する参照信号のパルスによって、該コンデ
ンサ１０３の充電電圧が更新される。この結果、コンデ
ンサ１０３の端子電圧の電圧履歴は、第４図に符号すで
示すように参照信号対応パルス列の上側を包絡する鋸歯
状波形（上側包絡線波形）となる、この鋸歯状波形電圧
が上記下側包絡線検出回路に入力され、コンデンサ１０
７は上側包路線波形電圧の最小電圧値まで充電される。
が送出するパルス列の中の参照信号に起因するパルスの
パルスの波高電圧まで充電される。このコンデンサ１０
３の蓄積電荷は放電用抵抗１０４を通して徐々に放電さ
れ、次に到来する参照信号のパルスによって、該コンデ
ンサ１０３の充電電圧が更新される。この結果、コンデ
ンサ１０３の端子電圧の電圧履歴は、第４図に符号すで
示すように参照信号対応パルス列の上側を包絡する鋸歯
状波形（上側包絡線波形）となる、この鋸歯状波形電圧
が上記下側包絡線検出回路に入力され、コンデンサ１０
７は上側包路線波形電圧の最小電圧値まで充電される。
このコンデンサ１０７は充電用抵抗１０８を通して正電
位側に徐々に充電され、次の上側包絡線波形電圧の最小
電圧値によって充電電圧が更新される。従って、該コン
デンサ１０７の端子電圧の電圧履歴は第４図に符号Ｃで
示すように、上側包絡線波形電圧すの下側包絡線波形と
なる。この下側包絡線波形の電圧Ｃは比較器１１に導か
れて一定の設定電圧（参照信号対応電圧）と比較される
。
位側に徐々に充電され、次の上側包絡線波形電圧の最小
電圧値によって充電電圧が更新される。従って、該コン
デンサ１０７の端子電圧の電圧履歴は第４図に符号Ｃで
示すように、上側包絡線波形電圧すの下側包絡線波形と
なる。この下側包絡線波形の電圧Ｃは比較器１１に導か
れて一定の設定電圧（参照信号対応電圧）と比較される
。
ところで、第４図に符号ｄで示すパルスのように、参照
信号対応パルスＰＡが他のパルスＰ、と重畳した場合、
このパルス重畳の影響は上記下側包絡線波形の電圧Ｃに
は表れない、即ち、重畳パルスｄによりコンデンサ１０
３の充電電圧が更新された後、該コンデンサ１０３の端
子電圧が徐々に減衰して最小電圧値ｅになるまでの間、
下側包絡線波形の電圧Ｃは上側包絡線波形の電圧すを無
視する。従って、下側包絡線波形の電圧Ｃは上記パルス
の重畳があっても、参照信号対応パルスの波高を代表す
る。
信号対応パルスＰＡが他のパルスＰ、と重畳した場合、
このパルス重畳の影響は上記下側包絡線波形の電圧Ｃに
は表れない、即ち、重畳パルスｄによりコンデンサ１０
３の充電電圧が更新された後、該コンデンサ１０３の端
子電圧が徐々に減衰して最小電圧値ｅになるまでの間、
下側包絡線波形の電圧Ｃは上側包絡線波形の電圧すを無
視する。従って、下側包絡線波形の電圧Ｃは上記パルス
の重畳があっても、参照信号対応パルスの波高を代表す
る。
比較器１１は設定電圧と下側包絡線波形の電圧Ｃとの差
電圧を出力し、この差電圧により電源９の出力が、該差
電圧を零にする方向へ制御され、下側包路線波形の電圧
Ｃは上記設定電圧と等しい値となる。即ち、フォトマル
チアプライア４の利得は一定値に維持される。
電圧を出力し、この差電圧により電源９の出力が、該差
電圧を零にする方向へ制御され、下側包路線波形の電圧
Ｃは上記設定電圧と等しい値となる。即ち、フォトマル
チアプライア４の利得は一定値に維持される。
なお、コンデンサ１０７の充電速度は、コンデンサ１０
３放電速度より小さくして、下側包絡線波形の電圧Ｃの
振幅を充分に小さくしである。
３放電速度より小さくして、下側包絡線波形の電圧Ｃの
振幅を充分に小さくしである。
第３図は参照信号波高抽出回路１０の他の例を示したも
ので、抵抗１１０を設けた点において第１図のものと相
違する。この例では、抵抗１０１があるために、コンデ
ンサ１０７の端子電圧は上側包絡線波形の電圧すの最小
値毎に更新されるのではなく、上側包絡線波形の電圧す
の複数回の最小値毎に更新されることになる。これは、
上側包絡線波形の電圧すの最小値が毎回少しづつ変化す
る場合には、更新の基準を平均値とした方が下側包絡線
波形の電圧Ｃの動揺を小さくすることができるためであ
り、上側包絡線波形の電圧すのただ１回の最小値で大幅
に更新されることを防止している。
ので、抵抗１１０を設けた点において第１図のものと相
違する。この例では、抵抗１０１があるために、コンデ
ンサ１０７の端子電圧は上側包絡線波形の電圧すの最小
値毎に更新されるのではなく、上側包絡線波形の電圧す
の複数回の最小値毎に更新されることになる。これは、
上側包絡線波形の電圧すの最小値が毎回少しづつ変化す
る場合には、更新の基準を平均値とした方が下側包絡線
波形の電圧Ｃの動揺を小さくすることができるためであ
り、上側包絡線波形の電圧すのただ１回の最小値で大幅
に更新されることを防止している。
なお、上記実施例では、参照信号源として光パルサ２を
用いているが、代わりに放射線源を用いることもできる
。また、利得の制御要素として電源９を用いているが、
これを利得制御型の増幅器としてもよい。
用いているが、代わりに放射線源を用いることもできる
。また、利得の制御要素として電源９を用いているが、
これを利得制御型の増幅器としてもよい。
この発明は以上説明した通り、参照信号対応パルスと放
射線対応パルスとが重畳した重畳パルスが発生しても、
利得の変動分を検出する回路には、１１ Ｍ 畳ハルス
の波高の影響が入ってこないので、上記利得を一定に制
御することができる他、装置の回路構成を従来に比して
簡素にすることがで。
射線対応パルスとが重畳した重畳パルスが発生しても、
利得の変動分を検出する回路には、１１ Ｍ 畳ハルス
の波高の影響が入ってこないので、上記利得を一定に制
御することができる他、装置の回路構成を従来に比して
簡素にすることがで。
きる利点がある。
第１図はこの発明の実施例を示すブロック図、第２図及
び第３図は上記実施例における参照信号波高抽出器の回
路図、第４図は上記実施例の動作を説明するための波形
図、第５図は従来の放射線測定装置のブロック図、第６
図は上記従来例の動作を説明するための波形図である。 図において、ｌ−・−放射線源、２・・・−光パルサ、
３−シンチレーション検出器、４・−・フォトマルチア
プライア、９−・電源、１０・−波高抽出器、１１−比
較器、１０１．１０５・・・−増幅器。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
び第３図は上記実施例における参照信号波高抽出器の回
路図、第４図は上記実施例の動作を説明するための波形
図、第５図は従来の放射線測定装置のブロック図、第６
図は上記従来例の動作を説明するための波形図である。 図において、ｌ−・−放射線源、２・・・−光パルサ、
３−シンチレーション検出器、４・−・フォトマルチア
プライア、９−・電源、１０・−波高抽出器、１１−比
較器、１０１．１０５・・・−増幅器。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (2)
- （１）利得指標値となる参照信号が与えられ、放射線を
パルス信号として検出する放射線検出装置において、出
力されるパルス列のうちの上記参照信号に対応するパル
スを抽出してその参照信号対応パルス列の上側包絡線信
号を作成し、該上側包絡線信号の下側包絡線信号を作成
する波高抽出回路を有し、該波高抽出回路の出力を所定
値と比較して、その偏差が零になるように上記利得が制
御されることを特徴とする放射線測定装置。 - （２）波高抽出回路が、参照信号対応パルス列から上側
包絡線信号を作成する回路と、該回路の複数の出力最小
値の平均値信号を作成する回路を有することを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26715387A JPH065284B2 (ja) | 1987-10-21 | 1987-10-21 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26715387A JPH065284B2 (ja) | 1987-10-21 | 1987-10-21 | 放射線測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01109286A true JPH01109286A (ja) | 1989-04-26 |
| JPH065284B2 JPH065284B2 (ja) | 1994-01-19 |
Family
ID=17440828
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26715387A Expired - Fee Related JPH065284B2 (ja) | 1987-10-21 | 1987-10-21 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH065284B2 (ja) |
-
1987
- 1987-10-21 JP JP26715387A patent/JPH065284B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH065284B2 (ja) | 1994-01-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |