JPH065284B2 - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
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- JPH065284B2 JPH065284B2 JP26715387A JP26715387A JPH065284B2 JP H065284 B2 JPH065284 B2 JP H065284B2 JP 26715387 A JP26715387 A JP 26715387A JP 26715387 A JP26715387 A JP 26715387A JP H065284 B2 JPH065284 B2 JP H065284B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、放射線のエネルギー分析を行う放射線測定
系に用いられる放射線測定装置に関する。
系に用いられる放射線測定装置に関する。
シンチレーシヨン検出器等を用いて放射線によるパルス
信号の大きさで放射線のエネルギー分析を伴う放射線測
定系では、放射線測定装置における利得変化が問題とな
る。
信号の大きさで放射線のエネルギー分析を伴う放射線測
定系では、放射線測定装置における利得変化が問題とな
る。
第５図は上記問題を解決するために従来から用いられて
いる技術を実施した放射線測定装置をブロツク図で示し
たもので、図において１は測定される放射線源（被測定
放射線源）、２は参照信号源である光パルサであつて、
一定の大きさの光パルス（参照信号）を一定の間隔で発
生する。３はシンチレーシヨン検出器であつて、被測定
放射線源１からの放射線を光パルスに変換する。４はフ
オトマルチアプライアであつて、入力された光パルスの
光量に比例した大きさの電気パルスを作成する。５は増
幅器であつて、上記電気パルスを増幅し、第６図(a)に
示すようなパルス列を送出する。
いる技術を実施した放射線測定装置をブロツク図で示し
たもので、図において１は測定される放射線源（被測定
放射線源）、２は参照信号源である光パルサであつて、
一定の大きさの光パルス（参照信号）を一定の間隔で発
生する。３はシンチレーシヨン検出器であつて、被測定
放射線源１からの放射線を光パルスに変換する。４はフ
オトマルチアプライアであつて、入力された光パルスの
光量に比例した大きさの電気パルスを作成する。５は増
幅器であつて、上記電気パルスを増幅し、第６図(a)に
示すようなパルス列を送出する。
６ａ、６ｂは波高分析器（シングルチヤンネル）、７
Ａ、７Ｂは計数率計、８は差動増幅器、９は放射線測定
装置の外部制御型の電源（高圧電源）である。
Ａ、７Ｂは計数率計、８は差動増幅器、９は放射線測定
装置の外部制御型の電源（高圧電源）である。
以下、この装置の動作を第６図(a)、(b)および(c)の波
形タイムチヤートを参照して説明する。
形タイムチヤートを参照して説明する。
第６図(a)は増幅器５の出力信号を示し、点線で示す波
高に等しい波高のパルスＰAは光パルサ２の出力に対応
するパルス、他のパルスＰBは被測定放射線源１に対応
するパルスであり、パルスＰAはパルスＰBと区別し得る
ように、その波高がパルスＰBの波高より高くなるよう
にしてある。第６図(b)は第３図(a)のパルス列の波高分
布を示し、右端のピーク（波高の最も高いもの）は参照
信号に対応し、他のピークは被測定放射線源１からの放
射線に対応するピークである。波高分析器６ａと６ｂは
それぞれ或る限られた範囲の波高のパルスのみに応答
し、その応答範囲は、第６図(c)に示すように、参照信
号のピークの左半分Ｈ1と右半分Ｈ2に設定されている。
波高分析器６ａと６ｂの出力計数率Ｎ1とＮ2は最初等し
く設定されているが、上記した測定系の利得が、例えば
増大すると、出力計数率Ｎ1に比し出力計数率Ｎ2が増加
する。計数率計７ａと７ｂはそれぞれ出力計数率Ｎ1と
Ｎ2に比例した電圧を発生し、差動増幅器８は計数率計
７ａと７ｂの出力電圧の差に比例した電圧を発生する。
この差動増幅器８の出力は電源９を制御し、電源９の出
力を変化させてフオトマルチアプライア４の利得を変化
させる。この変化の方向は、先に仮定した測定系の利得
の変化の方向と逆に作用し、波高分析器６ａと６ｂのそ
れぞれの出力計数率Ｎ1とＮ2を元に戻し、等しくする。
この結果、参照信号のパルスの大きさは常に一定に保た
れ、測定系全体の利得が一定に維持されることになる。
高に等しい波高のパルスＰAは光パルサ２の出力に対応
するパルス、他のパルスＰBは被測定放射線源１に対応
するパルスであり、パルスＰAはパルスＰBと区別し得る
ように、その波高がパルスＰBの波高より高くなるよう
にしてある。第６図(b)は第３図(a)のパルス列の波高分
布を示し、右端のピーク（波高の最も高いもの）は参照
信号に対応し、他のピークは被測定放射線源１からの放
射線に対応するピークである。波高分析器６ａと６ｂは
それぞれ或る限られた範囲の波高のパルスのみに応答
し、その応答範囲は、第６図(c)に示すように、参照信
号のピークの左半分Ｈ1と右半分Ｈ2に設定されている。
波高分析器６ａと６ｂの出力計数率Ｎ1とＮ2は最初等し
く設定されているが、上記した測定系の利得が、例えば
増大すると、出力計数率Ｎ1に比し出力計数率Ｎ2が増加
する。計数率計７ａと７ｂはそれぞれ出力計数率Ｎ1と
Ｎ2に比例した電圧を発生し、差動増幅器８は計数率計
７ａと７ｂの出力電圧の差に比例した電圧を発生する。
この差動増幅器８の出力は電源９を制御し、電源９の出
力を変化させてフオトマルチアプライア４の利得を変化
させる。この変化の方向は、先に仮定した測定系の利得
の変化の方向と逆に作用し、波高分析器６ａと６ｂのそ
れぞれの出力計数率Ｎ1とＮ2を元に戻し、等しくする。
この結果、参照信号のパルスの大きさは常に一定に保た
れ、測定系全体の利得が一定に維持されることになる。
しかしながら、上記従来の装置では、第６図(a)に点線
で示すように、参照信号のパルスと他のパルスとが重な
つた場合、参照信号のパルスの波高分布が第６図(b)に
点線で示すように変化し、これに伴い、出力計数率
Ｎ1、Ｎ2が変化し、利得制御が正確に行えなくなるとい
う問題があり、この傾向は計数率が高くなるほど顕著で
ある。
で示すように、参照信号のパルスと他のパルスとが重な
つた場合、参照信号のパルスの波高分布が第６図(b)に
点線で示すように変化し、これに伴い、出力計数率
Ｎ1、Ｎ2が変化し、利得制御が正確に行えなくなるとい
う問題があり、この傾向は計数率が高くなるほど顕著で
ある。
この発明は上記問題を解決するためになされたもので、
参照信号のパルスと他のパルスとの重なりが生じたりし
ても、利得を一定に制御することができる放射線測定装
置を提供することを目的とする。
参照信号のパルスと他のパルスとの重なりが生じたりし
ても、利得を一定に制御することができる放射線測定装
置を提供することを目的とする。
この発明は上記目的を達成するため、出力されるパルス
列のうちの参照信号に対応するパルスを抽出してその参
照信号対応パルス列の上側包絡線信号を作成し、該上側
包絡線信号の下側包絡線信号を作成する波高抽出回路を
設け、該波高抽出回路の出力を所定値と比較してその偏
差が零になるように上記利得を制御する構成としたもの
である。
列のうちの参照信号に対応するパルスを抽出してその参
照信号対応パルス列の上側包絡線信号を作成し、該上側
包絡線信号の下側包絡線信号を作成する波高抽出回路を
設け、該波高抽出回路の出力を所定値と比較してその偏
差が零になるように上記利得を制御する構成としたもの
である。
この発明では、参照信号対応パルスと放射線対応パルス
とが重畳した重畳パルスが発生しても、参照信号対応パ
ルスのパルス列の下側包絡線信号には上記重畳パルスの
波高の影響が入つてこないので、利得を一定に制御する
ことができる。
とが重畳した重畳パルスが発生しても、参照信号対応パ
ルスのパルス列の下側包絡線信号には上記重畳パルスの
波高の影響が入つてこないので、利得を一定に制御する
ことができる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第１図において、１０は参照信号波高抽出器、１１は比
較器である。他の構成は第５図の構成と同一であるの
で、同一符号を付して示してある。
較器である。他の構成は第５図の構成と同一であるの
で、同一符号を付して示してある。
上記参照信号波高抽出器１０は、例えば、第２図に示す
如き構成を有している。
如き構成を有している。
第２図において、１０１は増幅器、１０２はダイオー
ド、１０３はコンデンサ、１０４は放電用抵抗であつ
て、これらは参照信号対応パルス列の上側包絡線検出回
路を構成してある。１０５は増幅器、１０６はダイオー
ド、１０７はコンデンサ、１０８は抵抗であつて、これ
らは上側包絡線の下側包絡線検出回路を構成している。
１０９はバツフア増幅器である。
ド、１０３はコンデンサ、１０４は放電用抵抗であつ
て、これらは参照信号対応パルス列の上側包絡線検出回
路を構成してある。１０５は増幅器、１０６はダイオー
ド、１０７はコンデンサ、１０８は抵抗であつて、これ
らは上側包絡線の下側包絡線検出回路を構成している。
１０９はバツフア増幅器である。
以下、この装置の動作を第４図の波形図を参照して説明
する。
する。
上記上側包絡線検出回路のコンデンサ１０３は増幅器５
が送出するパルス列の中の参照信号（符号ａ）に起因す
るパルスのパルスの波高電圧まで充電される。このコン
デンサ１０３の蓄積電荷は放電用抵抗１０４を通して徐
々に放電され、次に到来する参照信号のパルスによつ
て、該コンデンサ１０３の充電電圧が更新される。この
結果、コンデンサ１０３の端子電圧の電圧履歴は、第４
図に符号ｂで示すように参照信号対応パルス列の上側を
包絡する鋸歯状波形（上側包絡線波形）となる。この鋸
歯状波形電圧が上記下側包絡線検出回路に入力され、コ
ンデンサ１０７は上側包絡線波形電圧の最小電圧値まで
充電される。このコンデンサ１０７は放電用抵抗１０８
を通して正電位側に徐々に放電され、次の上側包絡線波
形電圧の最小電圧値によつて充電電圧が更新される。従
つて、該コンデンサ１０７の端子電圧の電圧履歴は第４
図に符号ｃで示すように、上側包絡線波形電圧ｂの下側
包絡線波形となる。この下側包絡線波形の電圧ｃは比較
器１１に導かれて一定の設定電圧（参照信号対応電圧）
と比較される。
が送出するパルス列の中の参照信号（符号ａ）に起因す
るパルスのパルスの波高電圧まで充電される。このコン
デンサ１０３の蓄積電荷は放電用抵抗１０４を通して徐
々に放電され、次に到来する参照信号のパルスによつ
て、該コンデンサ１０３の充電電圧が更新される。この
結果、コンデンサ１０３の端子電圧の電圧履歴は、第４
図に符号ｂで示すように参照信号対応パルス列の上側を
包絡する鋸歯状波形（上側包絡線波形）となる。この鋸
歯状波形電圧が上記下側包絡線検出回路に入力され、コ
ンデンサ１０７は上側包絡線波形電圧の最小電圧値まで
充電される。このコンデンサ１０７は放電用抵抗１０８
を通して正電位側に徐々に放電され、次の上側包絡線波
形電圧の最小電圧値によつて充電電圧が更新される。従
つて、該コンデンサ１０７の端子電圧の電圧履歴は第４
図に符号ｃで示すように、上側包絡線波形電圧ｂの下側
包絡線波形となる。この下側包絡線波形の電圧ｃは比較
器１１に導かれて一定の設定電圧（参照信号対応電圧）
と比較される。
ところで、第４図に符号ｄで示すパルスのように、参照
信号対応パルスＰAが他のパルスＰBと重畳した場合、こ
のパルス重畳の影響は上記下側包絡線波形の電圧ｃには
現れない。即ち、重畳パルスｄによりコンデンサ１０３
の充電電圧が曲線ｂより高くｂ′の様に充電された後、
該コンデンサ１０３の端子電圧が徐々に減衰して曲線ｂ
の最小電圧値ｅになるまでの間、下側包絡線波形の電圧
ｃは上側包絡線波形の電圧ｂを無視する。従つて、下側
包絡線波形の電圧ｃは上記パルスの重畳があつても、参
照信号対応パルスの波高を代表する。
信号対応パルスＰAが他のパルスＰBと重畳した場合、こ
のパルス重畳の影響は上記下側包絡線波形の電圧ｃには
現れない。即ち、重畳パルスｄによりコンデンサ１０３
の充電電圧が曲線ｂより高くｂ′の様に充電された後、
該コンデンサ１０３の端子電圧が徐々に減衰して曲線ｂ
の最小電圧値ｅになるまでの間、下側包絡線波形の電圧
ｃは上側包絡線波形の電圧ｂを無視する。従つて、下側
包絡線波形の電圧ｃは上記パルスの重畳があつても、参
照信号対応パルスの波高を代表する。
比較器１１は設定電圧と下側包絡線波形の電圧ｃとの差
電圧を出力し、この差電圧により電源９の出力が、該差
電圧を零にする方向へ制御され、下側包絡線波形の電圧
ｃは上記設定電圧と等しい値となる。即ち、フオトマル
チアプライア４の利得は一定値に維持される。
電圧を出力し、この差電圧により電源９の出力が、該差
電圧を零にする方向へ制御され、下側包絡線波形の電圧
ｃは上記設定電圧と等しい値となる。即ち、フオトマル
チアプライア４の利得は一定値に維持される。
なお、コンデンサ１０７の放電速度は、コンデンサ１０
３放電速度より小さくして、下側包絡線波形の電圧ｃの
振幅を充分に小さくしてある。
３放電速度より小さくして、下側包絡線波形の電圧ｃの
振幅を充分に小さくしてある。
第３図は参照信号波高抽出回路１０の他の例を示したも
ので、抵抗１１０を設けた点において第２図のものと相
違する。この例では、抵抗１１０があるために、コンデ
ンサ１０７の端子電圧は上側包絡線波形の電圧ｂの最小
値毎に更新されるのではなく、上側包絡線波形の電圧ｂ
の複数回の最小値の平均値によつて更新されることにな
る。これは、上側包絡線波形の電圧ｂの最小値が毎回少
しづつ変化する場合には、更新の基準を平均値とした方
が下側包絡線波形の電圧ｃの動揺を小さくすることがで
きるためであり、上側包絡線波形の電圧ｂのただ１回の
最小値で大幅に更新されることを防止している。
ので、抵抗１１０を設けた点において第２図のものと相
違する。この例では、抵抗１１０があるために、コンデ
ンサ１０７の端子電圧は上側包絡線波形の電圧ｂの最小
値毎に更新されるのではなく、上側包絡線波形の電圧ｂ
の複数回の最小値の平均値によつて更新されることにな
る。これは、上側包絡線波形の電圧ｂの最小値が毎回少
しづつ変化する場合には、更新の基準を平均値とした方
が下側包絡線波形の電圧ｃの動揺を小さくすることがで
きるためであり、上側包絡線波形の電圧ｂのただ１回の
最小値で大幅に更新されることを防止している。
なお、上記実施例では、参照信号源として光パルサ２を
用いているが、代わりに放射線源を用いることもでき
る。また、利得の制御要素として電源９を用いている
が、これを利得制御型の増幅器としてもよい。
用いているが、代わりに放射線源を用いることもでき
る。また、利得の制御要素として電源９を用いている
が、これを利得制御型の増幅器としてもよい。
この発明は以上説明した通り、参照信号対応パルスと放
射線対応パルスとが重畳した重畳パルスが発生しても、
利得の変動分を検出する回路には、該重畳パルスの波高
の影響が入つてこないので、上記利得を一定に制御する
ことができる他、装置の回路構成を従来に比して簡素に
することができる利点がある。
射線対応パルスとが重畳した重畳パルスが発生しても、
利得の変動分を検出する回路には、該重畳パルスの波高
の影響が入つてこないので、上記利得を一定に制御する
ことができる他、装置の回路構成を従来に比して簡素に
することができる利点がある。
第１図はこの発明の実施例を示すブロツク図、第２図及
び第３図は上記実施例における参照信号波高抽出器の回
路図、第４図は上記実施例の動作を説明するための波形
図、第５図は従来の放射線測定装置のブロツク図、第６
図は上記従来例の動作を説明するための波形図である。 図において、１…放射線源、２…光パルサ、３…シンチ
レーシヨン検出器、４…フオトマルチアプライア、９…
電源、１０…波高抽出器、１１…比較器、１０１、１０
５…増幅器。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
び第３図は上記実施例における参照信号波高抽出器の回
路図、第４図は上記実施例の動作を説明するための波形
図、第５図は従来の放射線測定装置のブロツク図、第６
図は上記従来例の動作を説明するための波形図である。 図において、１…放射線源、２…光パルサ、３…シンチ
レーシヨン検出器、４…フオトマルチアプライア、９…
電源、１０…波高抽出器、１１…比較器、１０１、１０
５…増幅器。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (2)
- 【請求項１】利得指標値となる参照信号が与えられ、放
射線をパルス信号として検出する放射線検出装置におい
て、出力されるパルス列のうちの上記参照信号に対応す
るパルスを抽出してその参照信号対応パルス列の上側包
絡線信号を作成し、該上側包絡線信号の下側包絡線信号
を作成する波高抽出回路を有し、該波高抽出回路の出力
を所定値と比較して、その偏差が零になるように上記利
得が制御されることを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項２】波高抽出回路が、参照信号対応パルス列か
ら上側包絡線信号を作成する回路と、該回路の複数の出
力最小値の平均値信号を作成する回路を有することを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26715387A JPH065284B2 (ja) | 1987-10-21 | 1987-10-21 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26715387A JPH065284B2 (ja) | 1987-10-21 | 1987-10-21 | 放射線測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01109286A JPH01109286A (ja) | 1989-04-26 |
| JPH065284B2 true JPH065284B2 (ja) | 1994-01-19 |
Family
ID=17440828
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26715387A Expired - Fee Related JPH065284B2 (ja) | 1987-10-21 | 1987-10-21 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH065284B2 (ja) |
-
1987
- 1987-10-21 JP JP26715387A patent/JPH065284B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01109286A (ja) | 1989-04-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |