JPH01111819A - シャドウマスクの製造方法 - Google Patents

シャドウマスクの製造方法

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Publication number
JPH01111819A
JPH01111819A JP26626687A JP26626687A JPH01111819A JP H01111819 A JPH01111819 A JP H01111819A JP 26626687 A JP26626687 A JP 26626687A JP 26626687 A JP26626687 A JP 26626687A JP H01111819 A JPH01111819 A JP H01111819A
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JP
Japan
Prior art keywords
shadow mask
coercive force
heat treatment
tension
base alloy
Prior art date
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Pending
Application number
JP26626687A
Other languages
English (en)
Inventor
Morinori Kamio
守則 神尾
Norio Yuki
典夫 結城
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の分野〕 本発明は、特にカラー受像管に張力をかけた状態で組み
込まれるシャドウマスクの製造方法に関する。
〔発明の背景〕
カラー受像管の色選別電極としてシャドウマスクが用い
られているが、その中には張力をかけない状態のシャド
ウマスクを用いる形式のものと。
張力をかけた状態で用いる形式のものがある。−方、カ
ラー受像管を作動させると電子ビームの約60%は色選
別電極であるシャドウマスクに射突するために時として
シャドウマスクは60℃以上にまで加熱される。この場
合、張力をかけていない状態のシャドウマスクではシャ
ドウマスクが熱膨張し、いわゆるドーミング現象を生じ
るために電子ビームが適正な蛍光体にあたらず、その結
果、問題として色純度の低下が生じる。
張力をかけた状態のシャドウマスクでは、張力がある故
に熱膨張がおさえられるため、ドーミングによる色純度
の低下を防ぐためには有利である。
この張力をかけた状態のシャドウマスクは一般にテンシ
ョンマスクと呼ばれ、円柱の側面の様に曲率をもった状
態で固定されているものが多いが。
カラー受像管前面パネルの平面化に伴い平面状態のテン
ションマスクも使用されている。
〔従来の技術〕
このテンションマスクの材料としては従来、リムド鋼や
A1キルド鋼といった軟鋼材料が用いられてきた。これ
らの材料は安価に入手でき、冷延状態では60kg/I
In”以上の耐力も期待できるため。
張力にも耐えることができ、長年使用されてきている。
しかし、冷延状態で使用する場合、軟鋼材では保磁力H
cが5〜70eと高いという問題がある。
保磁力が高い場合、地磁気やスピーカー内部の磁石とい
った外部磁場の影響でシャドウマスク自体が磁気を帯び
てしまい、その結果、電子ビームの軌道が適正に制御さ
れず1色純度の低下やムラの発生を引き起こしてしまう
のである。
軟鋼材の保磁力は700℃以上の熱処理を施し、再結晶
をさせてやればHaで1.0〜2.0程度まで低下し、
帯磁の問題は生じなくなるが、この場合、耐力が20k
g/m”以下にまで低下するため、実際上張力をかける
ことができなくなってしまうのである。
〔発明の概要〕
上記の状況に鑑み、本発明者らはこの問題の根本的解決
には、新たな材料の開発が不可欠との結論に至り、特1
[62−196241等に示すシャドウマスク用Ni−
Fe基合金を開発し、さらにこの材料を用いたテンショ
ンマスクの製造方法の開発に取り組んだものである。そ
の要旨とするところは、重量パーセントでNi60〜9
0%、MO1〜8%、C001%以下、M n 0 、
1〜3 、0%、Si0.01〜1.0%、残部Fe及
び不可避的不純物からなるNi−Fe基合金を冷間圧延
後350〜650℃で5分以上2時間以内の熱処理を施
すことを特徴とするシャドウマスクの製造方法並びに上
記熱処理を非酸化性雰囲気中で行うことを特徴とする前
述のシャドウマスクの製造方法にある。
〔発明の詳細な説明〕
はNiの成分制御が重要であり、60%未満では全てを
満足することができない、90%を超えて含有すると強
度の上昇が著しく、50μm以下の冷延板を製造するこ
とが難しくなる。よってその成分範囲を60〜90%と
する。
Mo;Moも強度改善及び磁性向上の目的で添加する。
1%より少ないとその効果なく、8%を超えて含有して
も効果は飽和し、加工性を害するうえにエツチング性も
害する。よってその成分範囲を1〜8%とする。
C;Ctco、1%を超えて含有すると炭化物の生成が
著しく、シャドウマスクを製造する際のエツチング穿孔
時の不良原因となるうえに磁性上も有害である。よって
その成分範囲を0.1%以下とする。
M n ; M nは脱酸目的及び加工性を付与する目
的で添加する。又、磁性改善にも効果がある。特にエツ
チング穿孔時の不良防止のためには脱酸は重要であり、
0.1%より少ないと効果がなく、3.0%を超えて含
有すると硬さの上昇のため加工性を害する。よってその
成分範囲をO61〜3.0%とする。
Si ;Siも脱酸目的で添加するが0.01%より少
ないと効果がなく、1.0%を超えて含有すると磁性に
有害であり、又加工性も劣化する。
よってその成分範囲を0.01〜1.0%とする。
上記成分からなる材料をテンションマスク用として板厚
0.1〜0.25on程度の板厚に、または平面パネル
用として板厚0.050℃m以下の板厚にまで冷間圧延
を行う。次にこのような冷間圧延上りでは保磁力が高い
ために350〜650℃の熱処理を施すのであるが、こ
の際温度が350℃より低い場合には、保磁力の低下が
あまり期待できず、また650℃を超えた場合、強度の
低下が著しくなるため、張力に耐えることができない。
時間は2時間を超えて熱処理を行ってもいたずらに強度
の低下をまねくのみで効率も悪くなり有効でなく、5分
未満の場合は、温度が低い場合と同様に保磁力の低下が
あまり期待できない。一方、熱処理を非酸化性雰囲気で
行うことにより特に極薄材の場合1粒界酸化による高保
磁力化を防止するのに効果がある。また、この熱処理は
冷間圧延材に電子ビーム透過用の所定の孔をエツチング
穿孔した後に行っても、エツチング穿孔前の冷間圧延材
に行ってもどちらでも良いが、エツチング時の取扱い等
による傷、折れの発生を考えた場合、前者の方が有利で
ある。
その後、これらのテンションマスクは張力をかけた状態
でフレーム等に固定され、黒化処理等を経てカラーテレ
ビ受像管やデイスプレィに組み込まれる。
次に実施例について説明する。
〔実施例〕
真空溶解炉にて溶解・鋳造後、鍛造→熱間圧延→酸洗→
冷間圧延→焼鈍→冷間圧延なる工程で板厚25μmの冷
延板を製造した。この冷延板の成分を第1表に示す。比
較例として従来材であるA1キルド鋼を第1表に掲げた
これら冷延板に第2表に示す各種の熱処理を施し、0.
2%耐力、保磁力、透磁率を測定し第2表に併記した。
第2表より明らかな様に本発明例1〜7は0゜2%耐力
が高く十分張力に酎えうる上に、保磁力が低く透磁率が
高いので、帯磁の問題の生じない良好なテンションマス
クを得ることができる。その中でも本発明例1,2,4
,5,7及び8は本発明例3,6にくらべ熱処理時の雰
囲気を非酸化性としたために保磁力が更に低くなってお
り、よりすぐれた製造方法であることが分かる。
一方、比較例9は温度が低いために保磁力が高く、比較
例10は温度が高いために0.2%耐力が低下してしま
い張力をかけることができない。比較例11は時間が短
いため保磁力が高い。また比較例12,13はAtキル
ド鋼の例であるが、比較例12は保磁力が高く、比較例
13は0.2%耐力が低く。
どの様な熱処理によっても良好なテンションマス−王り
を得ることはできない。
J〔発明の効果〕 以上の様に本発明の製造方法により帯磁の心配のない、
ひいては色純度のより高精細度カラー受像管に好適なシ
ャドウマスクが得られる。
以下余白 第  1  表 第2表 200e反転で測定

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)重量パーセントでNi60〜90%、Mo1〜8
    %、C0.1%以下、Mn0.1〜3.0%、Si0.
    01〜1.0%、残部Fe及び不可避的不純物からなる
    Ni−Fe基合金を冷間圧延後350〜650℃で5分
    以上2時間以内の熱処理を施すことを特徴とするシャド
    ウマスクの製造方法。
  2. (2)上記、熱処理を非酸化性雰囲気中で行うことを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載のシャドウマスクの
    製造方法。
JP26626687A 1987-10-23 1987-10-23 シャドウマスクの製造方法 Pending JPH01111819A (ja)

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