JPH01112143A - Abnormality deciding device for long-sized body - Google Patents
Abnormality deciding device for long-sized bodyInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野]
本発明は長尺物の傷等の部分的な異常を検出する長尺物
の異常判別装置に関するもので、生産ラインに設置して
長尺物の生産を管理する場合、不良検出を行なう場合、
不良検出を行なった後、その部分を他の製品と区別して
排除する場合等に使用可能である。Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to an abnormality determination device for long objects that detects local abnormalities such as scratches on long objects. When managing the production of products, when detecting defects,
After detecting a defect, it can be used to distinguish the defective part from other products and eliminate it.
[従来の技術]
従来のこの種の長尺物の傷等の部分的な異常を検出する
長尺物の異常判別装置としては、長尺物の周囲に4方向
から光を供給するオプティカルファイバで導かれた光源
を、その長さ方向の移送方向の2箇所に配設し、その光
源によって長尺物の周囲を照射し、その照射された長尺
物を他のオプティカルファイバで特定の枠体に垂直配列
されたオプティカルファイバ端部に導き、それを1台の
撮像手段で画像化するものが市販されている。[Prior Art] Conventional long object abnormality determination devices for detecting local abnormalities such as scratches on long objects use an optical fiber that supplies light from four directions around the long object. The guided light sources are arranged at two locations in the transport direction of the length direction, and the light source illuminates the periphery of the long object, and the irradiated long object is fixed to a specific frame using another optical fiber. There are commercially available devices that guide the ends of optical fibers arranged perpendicularly to the ends of the optical fibers and image them with a single imaging device.
[発明が解決しようとする問題点]
しかし、上記長尺物の傷等の部分的な異常を検出する長
尺物の異常判別装置は、移送される前記長尺物から枠体
のオプティカルファイバ端部まで、画像を光学的に導く
ものであるから、前記長尺物からオプティカルファイバ
入光端部までの距離を正確に設定する必要があり、この
ために、上記装置では所定のハウジングの位置決め穴を
挿通することによって位置決めされており、長尺物の形
態に合せて位置決め穴及び焦点位置を決定する必要があ
った。[Problems to be Solved by the Invention] However, the long object abnormality discriminating device that detects partial abnormalities such as scratches on the long object is capable of detecting the optical fiber end of the frame from the long object being transported. Since the image is optically guided to the end of the optical fiber, it is necessary to accurately set the distance from the long object to the optical fiber entrance end. It is necessary to determine the positioning hole and focus position according to the shape of the long object.
そして、オプティカルファイバ端部の光量で傷等の異常
を検出するものであるから、移送される長尺物の表面照
度を均一にする必要があり、そこに高度の技術が要求さ
れるという問題があった。Since abnormalities such as scratches are detected by the amount of light at the end of the optical fiber, it is necessary to make the surface illumination of the long object to be transported uniform, which requires advanced technology. there were.
また、移送される前記長尺物をオプティカルファイバ端
部まで導く画像は、オプティカルファイバ端部で正確に
結像させる必要があり、その精度を上げるにはオプティ
カルファイバ自体の精度を良くする必要があり、装置が
高価になる問題があった。In addition, the image that guides the long object to be transported to the end of the optical fiber needs to be accurately formed at the end of the optical fiber, and to improve the accuracy, it is necessary to improve the precision of the optical fiber itself. However, there was a problem that the equipment was expensive.
そこで、本発明は上記問題点を解消すべくなされたもの
で、長尺物の形態及びその表面照度の影響を少なくした
廉価な長尺物の異常判別装置の提供を課題とするもので
ある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide an inexpensive abnormality determination device for a long object that is less affected by the shape of the long object and its surface illuminance.
[問題点を解決するための手段]
本発明にかがる長尺物の異常判別装置は、長さ方向に連
続して移送される長尺物の周囲に2台以上の撮像手段を
配設し、前記撮像手段で検出した画像情報を垂直方向に
合成して、1画面単位の2以上の画像とする画像合成手
段の出力信号から前記長尺物の部分的な異常を検出する
異常検出手段の出力で異常が検出された前記長尺物の異
常箇所を特定する異常箇所検出手段からなるものである
。[Means for solving the problem] The abnormality determination device for a long object according to the present invention includes two or more imaging means disposed around the long object that is continuously transported in the length direction. and abnormality detection means for detecting a partial abnormality of the long object from the output signal of the image synthesis means for vertically synthesizing the image information detected by the imaging means to form two or more images in one screen unit. The apparatus is comprised of abnormality detection means for identifying an abnormality in the elongated object where an abnormality has been detected based on the output.
[作用]
本発明においては、長さ方向に連続して移送される長尺
物の周囲に、2台以上のlR像平手段配設し、前記撮像
手段で検出した画像情報を画像合成手段で垂直方向に合
成して、1画面単位の画像とする。そして、1画面単位
の画像を1画面単位の画像入力として異常検出手段に入
力し、そこで、前記長尺物の部分的な異常を検出し、異
常箇所検出手段でその検出した前記長尺物の異常箇所を
特定するものである。[Function] In the present invention, two or more IR image flattening means are arranged around a long object that is continuously transported in the length direction, and image information detected by the imaging means is used by an image synthesizing means. The images are combined in the vertical direction to form an image in units of one screen. Then, the image in units of one screen is input to the abnormality detection means as an image input in units of one screen, where a partial abnormality of the long object is detected, and the abnormality point detection means detects a partial abnormality of the long object detected. This is to identify abnormal locations.
[実施例] ここで、本発明の実施例について説明する。[Example] Examples of the present invention will now be described.
第1図は本発明の一実施例の長尺物の異常判別装置を構
成する異常検出装置の全体構成を示すブロック図である
。第2図は本発明の実施例の長尺物の異常判別装置を用
いた生産システムの一例である。FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of an abnormality detection device constituting an abnormality determination device for a long object according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an example of a production system using the abnormality determination device for long objects according to the embodiment of the present invention.
図において、その長さ方向に連続して移送される長尺物
1は、ホース、ウェザストリップ、モール等の管材また
は棒材である。投光ヘッド2はオプティカルファイバ3
の端部3aを保持し、オプティカルファイバ3で導かれ
た光を長尺物1の外周面に均等に照射するもので必る。In the figure, a long object 1 that is continuously transported in the length direction is a tube or bar such as a hose, weather strip, or molding. The light projection head 2 is an optical fiber 3
The optical fiber 3 holds the end 3a of the long object 1, and irradiates the light guided by the optical fiber 3 evenly onto the outer peripheral surface of the long object 1.
撮像手段4a。Imaging means 4a.
4b、4Cはビデオカメラ、工業用テレビカメラ、工業
用踊影装置等に使用されるCCDイメージセンサ、MO
Sイメージセンサ、イメージオルシコン、ビジコン等の
3台の撮像手段であり、垂直・水平同期信号発生回路6
で駆動される。4b and 4C are CCD image sensors and MOs used in video cameras, industrial television cameras, industrial video equipment, etc.
There are three imaging means such as an S image sensor, an image orthicon, and a vidicon, and a vertical/horizontal synchronization signal generation circuit 6.
is driven by.
前記垂直・水平同期信号発生回路6で駆動された3台の
撮像手段4a、4b、4cの出力は、各々画像信号回路
5a、5b、5cで所定の走査線数の画像情報として出
力される。このとき、3台の撮像手段4a、4b、4c
の出力は、撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1
の領域、撮像手段4bが1画面単位の上3分の1から3
分の2の領域、@像手段4bが1画面単位の上3分の2
から3分の3の領域に長尺物1の像が位置するように、
3台の撮像手段4a、4b、4cを設置する。The outputs of the three imaging means 4a, 4b, 4c driven by the vertical/horizontal synchronizing signal generation circuit 6 are output as image information of a predetermined number of scanning lines by image signal circuits 5a, 5b, 5c, respectively. At this time, three imaging means 4a, 4b, 4c
The output of the imaging means 4a is one-third from the top of one screen.
area, the imaging means 4b is from the upper third to the third of one screen unit.
2/2 area, @image means 4b is the upper two-thirds of one screen unit
In such a way that the image of the long object 1 is located in an area of 3/3 from
Three imaging means 4a, 4b, and 4c are installed.
マルチプレクサ8は撮像手段4a、4b、4cの出力を
入力し、垂直・水平同期信号発生回路6から垂直同期信
号を起点とする水平同期信号の数を計数し、長尺物1の
像は撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1の領域
、撮像手段4bが1画面単位の上3分の1から3分の2
の領域、撮像手段4Cが1画面単位の上3分の2から3
分の3の領域にくるように、タイミング回路7で水平同
期信号を計数して画像情報の切替えタイミングを作り、
撮像手段4a、4b、4cの出力を切替える。それらの
撮像手段4a、4b、4cの出力の画像情報を、画像信
号出力回路9で1画面単位の画像情報として出力する。The multiplexer 8 inputs the outputs of the imaging means 4a, 4b, and 4c, counts the number of horizontal synchronization signals starting from the vertical synchronization signal from the vertical/horizontal synchronization signal generation circuit 6, and outputs the image of the long object 1 to the imaging means. 4a is an area from the top one-third of one screen unit, and imaging means 4b is an area from the top one-third to two-thirds of one screen unit.
area, the imaging means 4C is from the upper two-thirds to the upper third of one screen unit.
The timing circuit 7 counts the horizontal synchronization signals to create the image information switching timing so that the image information is in the 3/3 area.
The outputs of the imaging means 4a, 4b, and 4c are switched. The image information output from these imaging means 4a, 4b, and 4c is outputted as image information for one screen by an image signal output circuit 9.
したがって、モニタ10には図示のように、長尺物1を
撮像手段4a。Therefore, as shown in the figure, the monitor 10 has an imaging means 4a for capturing the elongated object 1.
4b、4cでlfi像した長尺物画像1a、1b、1G
は撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1の領域、
撮像手段4bが1画面単位の上3分の1から3分の2の
領域、撮像手段4Cが1画面単位の上3分の2から3分
の3の領域に位置する画像となる。Long object images 1a, 1b, 1G obtained by lfi imaging in 4b and 4c
The imaging means 4a covers the top one-third area of one screen unit,
The image capturing means 4b takes an image located in the upper one-third to two-thirds of the screen, and the image capturing means 4C takes the image located in the upper two-thirds to three-thirds of the screen.
前記モニタで映像化された画像と同一画像か、同期分離
回路13に入力されている。同期分前回路13では1画
面単位の画像化された信号から、垂直同期信号及び水平
同期信号を分離し、タイミング発生回路12でアナログ
ゲート14を開閉制御するタイミング信号を得る。即ち
、タイミング発生回路12では垂直同期信号及び水平同
期信号のスタートを起点として、所定の範囲の画像情報
を抽出する。この画像情報を抽出する所定の範囲は、タ
イミング設定回路11でその抽出する所定の範囲を設定
入力しておく。それによって、1画面のいずれの範囲を
抽出するかが決定される。抽出する所定の範囲のタイミ
ング発生回路12でアナログゲート14を開閉制御し、
所定の撮像手段4a、4b、4cで撮像した長尺物画像
1a。The same image as the image visualized on the monitor is input to the synchronization separation circuit 13. The synchronization pre-circuit 13 separates a vertical synchronization signal and a horizontal synchronization signal from the imaged signal of one screen, and the timing generation circuit 12 obtains a timing signal for controlling the opening and closing of the analog gate 14. That is, the timing generation circuit 12 extracts image information in a predetermined range starting from the start of the vertical synchronization signal and the horizontal synchronization signal. The predetermined range for extracting this image information is set and inputted in the timing setting circuit 11. This determines which range of one screen is to be extracted. Controlling the opening and closing of the analog gate 14 by the timing generation circuit 12 within a predetermined range to be extracted,
A long object image 1a captured by predetermined imaging means 4a, 4b, and 4c.
1b、1Gの要部信号のみを微分回路15に入力する。Only the essential signals of 1b and 1G are input to the differentiating circuit 15.
前記微分回路15では到来信号を微分する。The differentiating circuit 15 differentiates the incoming signal.
このとき、長尺物画像1a、1b、1cの要部信号に傷
等の不連続部分がおると、その不連続部分は微分回路1
5の出力が大きくなり、単調な平坦な信号ではその出力
が小さくなる。前記微分回路15の出力は感度調整回路
16を介して判定回路17に入力される。判定回路17
では所定の信号レベルにある微分回路15の出力を、所
定の閾値と比較して所定の閾値以上にあるとき、その出
力を“HIIまたはL 11とするものである。At this time, if there is a discontinuous part such as a scratch in the main part signals of the long object images 1a, 1b, 1c, the discontinuous part is
5 will have a large output, and a monotonous flat signal will have a small output. The output of the differentiating circuit 15 is input to a determination circuit 17 via a sensitivity adjustment circuit 16. Judgment circuit 17
Then, the output of the differentiating circuit 15 at a predetermined signal level is compared with a predetermined threshold value, and when the output is equal to or higher than the predetermined threshold value, the output is designated as "HII or L11".
このように構成された上記実施例の長尺物1の異常検出
装置20は、次のように使用される。The abnormality detection device 20 for the elongated object 1 of the above embodiment configured in this manner is used as follows.
まず、押出成形機等の押出機21で成形された長尺物1
は、第1図に示した長尺物1の異常検出装置20でその
表面の傷等の不連続部分の検出を行なう。前記異常検出
装置20を通過した長尺物1は、印刷機22で所定の印
刷が行なわれ、マーキング装置23を通過して引取機2
4で移送される。即ち、押出機21で成形された長尺物
1は引取機24でテンションをかけられ、異常検出装置
20、印刷機22、マーキング装置23を介して送出さ
れる。引取機24で送出された長尺物1は、水冷槽25
で冷却し、防着剤塗布装置26で防着剤を塗布して長尺
物1相互が接合しないように処理し、截断機27で所定
長に切断する。そして、所定長に切断した長尺物1は、
その切断した長尺物1の所定長に表面の傷等の異常箇所
が検出されている場合には選別機28で、製品として使
用する長尺物1を製品収容器29に、製品として使用て
きない長尺物1を不良品収容器30に仕分けする。First, a long object 1 formed by an extruder 21 such as an extrusion molding machine
The abnormality detection device 20 for the elongated object 1 shown in FIG. 1 detects discontinuous portions such as scratches on the surface of the elongated object. The long object 1 that has passed through the abnormality detection device 20 is subjected to predetermined printing in a printing machine 22, passes through a marking device 23, and is sent to a take-up machine 2.
Transferred at 4. That is, the long object 1 formed by the extruder 21 is tensioned by the take-up machine 24 and sent out via the abnormality detection device 20, the printing machine 22, and the marking device 23. The long object 1 sent out by the take-up machine 24 is transferred to a water cooling tank 25.
The long object 1 is cooled, an anti-adhesive agent is applied by an anti-adhesive agent applicator 26 to prevent the long objects 1 from joining each other, and the long object 1 is cut into a predetermined length by a cutting machine 27. The long object 1 cut into a predetermined length is
If an abnormality such as a scratch on the surface is detected on the predetermined length of the cut long object 1, the sorter 28 transfers the long object 1 to be used as a product to the product container 29. The long articles 1 that are not found are sorted into a defective article container 30.
このときのタイミングは次のようになる。The timing at this time is as follows.
押出成形機等の押出機21で成形された長尺物1は、第
1図に示した長尺物1の異常検出装置20でその表面の
傷等の不連続部分の検出を行ない、長尺物画像1a、1
b、 1cの要部信号に傷等の不連続部分があるとき、
判定回路17の出力を“′H″とする。なお、不連続部
分がない正常状態のとき、判定回路17の出力は“L
uとなる。A long object 1 formed by an extruder 21 such as an extrusion molding machine is detected by an abnormality detection device 20 for the long object 1 shown in FIG. 1 to detect discontinuous parts such as scratches on the surface. Object image 1a, 1
When there is a discontinuous part such as a scratch in the main signal of b or 1c,
The output of the determination circuit 17 is set to "'H". Note that in a normal state with no discontinuous portion, the output of the determination circuit 17 is “L”.
It becomes u.
前記異常検出装置20の出力はセット優先のフリップフ
ロップ31のセット端子Sに入力される。The output of the abnormality detection device 20 is input to a set terminal S of a flip-flop 31 with set priority.
また、長尺物1は引取機24でテンションをかけられ、
引取機24の移送速度で移送されるから、その移送速度
をロータリエンコーダ35で検出し、ロータリエンコー
ダ35が発生する信号を、パルス発生器36で波形整形
または所定のパルス幅のパルスを発生させ、そのパルス
発生器36の出力をシフトレジスタ40のクロックパル
スとして入力する。即ち、シフトレジスタ40はパルス
発生器36の出力で記憶した情報をシフトする。このシ
フトレジスタ40をシフトする速度は、引取機24の移
送速度と同一となる。Further, the long object 1 is tensioned by the take-up machine 24,
Since it is transferred at the transfer speed of the take-up machine 24, the transfer speed is detected by the rotary encoder 35, and the signal generated by the rotary encoder 35 is waveform-shaped by the pulse generator 36 or a pulse with a predetermined pulse width is generated. The output of the pulse generator 36 is inputted as a clock pulse to the shift register 40. That is, the shift register 40 shifts the stored information at the output of the pulse generator 36. The speed at which this shift register 40 is shifted is the same as the transfer speed of the take-up machine 24.
フリップフロップ31の出力端子Qは前記シフトレジス
タ40に入力されており、長尺物1の異常検出装置20
でその表面に傷等の不連続部分が検出されると、判定回
路17の出力が“′トビ′となり、それはフリップフロ
ップ31に記憶される。The output terminal Q of the flip-flop 31 is input to the shift register 40, and the abnormality detection device 20 for the long object 1 is inputted to the shift register 40.
When a discontinuous portion such as a scratch is detected on the surface, the output of the determination circuit 17 becomes "'tobi'", which is stored in the flip-flop 31.
このとき、フリップフロップ31の出力端子Qは11
Htiとなり、パルス発生器36の出力でフリップフロ
ップ31の出力がシフ1〜レジスタ40に書き込まれる
。そして、フリップフロップ31の出力の書き込みを終
えると、パルス発生器36の出力はデイレイ回路32を
介してフリップフロップ31のリセット端子Rに入力さ
れ、フリップフロップ31がリセットされる。このとき
、フリップフロップ31はリセット優先でおるから、長
尺物1の異常検出装置20の出力が<I HIIのとき
、フリップフロップ31の出力端子Qは“H″を維持す
る。また、長尺物1の異常検出装置20の出力がti
L IIのとき、フリップフロップ31の出力端子Qは
“L 11となり、それはパルス発生器36の出力でフ
リップフロップ31に記憶される。At this time, the output terminal Q of the flip-flop 31 is 11
Hti, and the output of the flip-flop 31 is written to the shift 1 to register 40 by the output of the pulse generator 36. After writing the output of the flip-flop 31, the output of the pulse generator 36 is input to the reset terminal R of the flip-flop 31 via the delay circuit 32, and the flip-flop 31 is reset. At this time, since the flip-flop 31 has reset priority, when the output of the abnormality detection device 20 for the long object 1 is <IHII, the output terminal Q of the flip-flop 31 maintains "H". Further, the output of the abnormality detection device 20 for the long object 1 is ti
When L II, the output terminal Q of the flip-flop 31 becomes "L 11," which is the output of the pulse generator 36 and stored in the flip-flop 31.
このようにして、長尺物1の異常検出装置20の異常出
力はフリップフロップ31に一時記憶され、それをパル
ス発生器36の出力でシフトレジスタ40に書き込み、
長尺物1の移送速度でシフトレジスタ40内をシフトす
る。In this way, the abnormal output of the abnormality detection device 20 for the long object 1 is temporarily stored in the flip-flop 31, and is written into the shift register 40 using the output of the pulse generator 36.
The long object 1 is shifted in the shift register 40 at the transport speed.
また、引取機24が移送する長尺物1の移送速度をロー
クリエンコーダ35で検出し、ロータリエンコーダ35
が発生する信号を用いて発生させられたパルス発生器3
6の出力はカウンタ38に入力され、カウンタ38はシ
フ1〜レジスタ40と同様に、カウンタ38をカウント
アツプする速度は、引取機24の移送速度と同一となる
。カウンタ38は所定の計数値でその出力を“Hl+と
し、カウンタ38の出力のL(HIIはドライバ39を
介して截断機27を作動させ、長尺物1を所定の長さに
切断する。即ち、カウンタ38の所定の計数値は引取機
24が移送する長尺物1の移送距離に相当する値とする
ことで、カウンタ3Bで切断する長尺物1の所定長を計
測する。なお、前記カウンタ38は所定の計数値までバ
4数するとクリアされる。Further, the transfer speed of the long object 1 transferred by the take-up machine 24 is detected by the rotary encoder 35,
A pulse generator 3 generated using a signal generated by
The output of 6 is input to the counter 38, and the counter 38 counts up the counter 38 in the same manner as the shift 1 to the register 40, and the speed at which the counter 38 is counted up is the same as the transfer speed of the take-up machine 24. The counter 38 sets its output to "Hl+" at a predetermined count value, and the output L (HII) of the counter 38 operates the cutting machine 27 via the driver 39 to cut the long object 1 into a predetermined length. By setting the predetermined count value of the counter 38 to a value corresponding to the transfer distance of the long object 1 transferred by the take-up machine 24, the predetermined length of the long object 1 to be cut by the counter 3B is measured. The counter 38 is cleared when it reaches a predetermined count value.
そして、前記シフ1〜レジスタ40に書ぎ込まれた長尺
物1の異常検出装置20の異常出力は、引取機24によ
って移送される長尺物1がマーキング装置23の位置に
到来する距離に相当する前後の複数のビットをオアゲー
ト等からなるロジック回路34に入力し、ロジック回路
34に入力されたピッl〜に異常検出装置20の異常出
力の11 H11が記′臘されているか否かを判断し、
ロジック回路34に入力されたピッ1〜に異常検出装置
20の異常出力のll HIIが記憶されているとぎ、
ロジック回路34の出力はドライバ33を介してマーキ
ング装置23を動作させ、長尺物1の異常箇所にマーキ
ングを付し、不良箇所を確認できるようにリる。The abnormality output of the abnormality detection device 20 for the long object 1 written in the shift 1 to the register 40 corresponds to the distance at which the long object 1 transported by the take-up machine 24 reaches the position of the marking device 23. A plurality of corresponding bits before and after are input to a logic circuit 34 consisting of an OR gate, etc., and it is determined whether or not 11H11 of the abnormal output of the abnormality detection device 20 is recorded in the pins input to the logic circuit 34. judge,
When the abnormal output llHII of the abnormality detection device 20 is stored in the pins 1 to 1 inputted to the logic circuit 34,
The output of the logic circuit 34 operates the marking device 23 via the driver 33 to mark the abnormal part of the long object 1 so that the defective part can be confirmed.
同様に、シフトレジスタ40に書き込まれた長尺物1の
異常検出装置20の異常出力は、引取機24によって移
送される長尺物1が截断機27で切断した所定長の長尺
物1の切断された範囲内にあるかを、異常検出装置20
から截断@27と一体化された選別機28までの位置に
到来する距離に相当するビットを離し、切断された所定
長の長尺物1に相当する全ビットからオアゲート等から
なるロジック回路37に入力し、所定長の長尺物1に相
当する仝ピッ[−のうちの1以上に異常検出装置20の
異常出力の“′H″が記憶されているとき、前記ロジッ
ク回路37の出力を“H″とする。Similarly, the abnormal output of the abnormality detection device 20 of the long object 1 written in the shift register 40 indicates that the long object 1 of a predetermined length cut by the cutting machine 27 is transferred by the take-up machine 24. The abnormality detection device 20 determines whether the
A logic circuit 37 consisting of an OR gate etc. is separated from all the bits corresponding to the cut long object 1 of a predetermined length by separating the bits corresponding to the distance from the cutting @ 27 to the position of the integrated sorting machine 28. When the abnormal output of the abnormality detection device 20 is "'H" is stored in one or more of the input signals corresponding to the elongated object 1 of a predetermined length, the output of the logic circuit 37 is set as "'H". H''.
また、所定長の長尺物1に相当する全ビットが11 L
IIのとき、前記ロジック回路37の出力を“′L″
とする。前記ロジック回路37の出力がHIIのとき、
カウンタ3Bが所定の計数値でその出力を11 H11
とし、カウンタ3Bの出力の11 HITで截断機27
を作動させ、長尺物1を所定の長さに切断し、同時に、
アンドゲート41の出力か“H1+となり、選別機28
を駆動して、所定長に切断した長尺物1を不良品収容器
30側に排出する。なお、前記ロジック回路37の出力
が“L I+で異常箇所が含まれていない場合には、カ
ウンタ38が所定の計数値でその出力を“’ l−1”
とし、カウンタ38の出力の“H″で截断機27を作動
させ、長尺物1を所定の長さに切断しても、アンドゲー
ト41の出力が“L″となり、選別機28を駆動しない
。したがって、所定長に切断した長尺物1は通常の移送
方向である製品収容器29側に排出する。In addition, all bits corresponding to a long object 1 of a predetermined length are 11 L
When II, the output of the logic circuit 37 is set to "'L".
shall be. When the output of the logic circuit 37 is HII,
Counter 3B outputs 11 H11 with a predetermined count value.
Then, at 11 HIT of the output of counter 3B, the cutting machine 27
to cut the long object 1 to a predetermined length, and at the same time,
The output of the AND gate 41 becomes "H1+", and the sorting machine 28
is driven to discharge the long object 1 cut into a predetermined length to the defective product container 30 side. Note that when the output of the logic circuit 37 is "LI+" and does not contain any abnormality, the counter 38 converts the output to "'l-1" with a predetermined count value.
Even if the cutting machine 27 is operated by the "H" output of the counter 38 and the long object 1 is cut into a predetermined length, the output of the AND gate 41 becomes "L" and the sorting machine 28 is not driven. . Therefore, the long object 1 cut into a predetermined length is discharged to the product container 29 side, which is the normal transport direction.
このようにして、押出機21で連続押出された長尺物1
は、異常判断装置20で画像情報から異常の検出を行な
い、長尺物1に部分的な異常箇所が検出されると、その
箇所をシフ1〜レジスタ40に記憶しておく。前記長尺
物1の異常箇所がマーキング装置23まで移送されると
き、長尺物1の移送と同期してシフトされるシフトレジ
スタ40に記憶された異常信号はロジック回路34で検
出され、ロジック回路34の出力でドライバ33を介し
てマーキング装置23を駆動して、前記長尺物1の異常
箇所にマーキングを付す。なお、ロジック回路34で検
出されるピッ1−長は前記長尺物1の異常箇所に付すマ
ーキング幅を決定する。In this way, the long object 1 continuously extruded by the extruder 21
The abnormality determination device 20 detects an abnormality from image information, and when a partial abnormality is detected in the long object 1, the abnormality is stored in the shifter 1 to the register 40. When the abnormal part of the long object 1 is transferred to the marking device 23, the abnormal signal stored in the shift register 40, which is shifted in synchronization with the transfer of the long object 1, is detected by the logic circuit 34, and the abnormality signal is detected by the logic circuit 34. 34 drives the marking device 23 via the driver 33 to mark the abnormal location on the long object 1. Note that the pitch 1-length detected by the logic circuit 34 determines the marking width to be attached to the abnormal location on the elongated object 1.
また、押出機21で連続押出された長尺物1はカウンタ
38で開側され、截断機27で所定の長さ毎に繰返し切
断される。所定の長さ毎に繰返し切断された長尺物1は
、その所定長の長尺物1の単位にマーキング装置23で
マーキングを付した異常箇所が存在すると、それを長尺
物1の移送と同期してシフトされたシフトレジスタ40
の内容を、切断した所定長の長尺物1の異常情報が記憶
されているビット長をロジック回路37で検出し、切断
した所定長の長尺物1に相当するビット長に異常情報が
記憶されているとき、それをロジック回路37で検出し
、選別機28を作動させて異常箇所を有している切断し
た所定長の長尺物1を、不良品収容器30側に排出する
。また、異常箇所が検出されないときには、選別機28
を作動させない状態で切断した所定長の長尺物1を、良
品数容器となる製品収容機29側に排出する。Further, the long object 1 continuously extruded by the extruder 21 is opened by a counter 38, and is repeatedly cut into predetermined lengths by a cutting device 27. If a long object 1 that has been repeatedly cut to a predetermined length has an abnormal spot marked by the marking device 23 in each unit of the long object 1 of a predetermined length, the abnormal part is marked when the long object 1 is transferred. Shift register 40 shifted synchronously
The logic circuit 37 detects the bit length in which the abnormality information of the cut long object 1 of a predetermined length is stored, and the abnormality information is stored in the bit length corresponding to the cut long object 1 of the predetermined length. When this is detected by the logic circuit 37, the sorting machine 28 is operated to discharge the cut long objects 1 of a predetermined length having abnormal parts to the defective product storage container 30 side. In addition, if no abnormality is detected, the sorting machine 28
A long object 1 of a predetermined length that has been cut while not operating is discharged to the side of the product storage machine 29 which serves as a container for the number of non-defective products.
このように、本実施例の長尺物の異常判別装置は、長尺
物1の周囲に配設された3台の撮像手段4a、4b、4
Gと、前記撮像手段4a、4b。In this way, the long object abnormality determination device of this embodiment uses the three imaging means 4a, 4b, 4 arranged around the long object 1.
G, and the imaging means 4a, 4b.
4Cで検出した画像情報を垂直方向に合成して、1画面
中位の3画像情報とするマルチプレクサ8等の画像合成
手段と、前記画像合成手段の出力信号から前記長尺物1
の部分的な異常を検出する同期分離回路13の出力で画
像情報のみを微分回路の入力とし、微分回路15の出力
を所定の閾値と比較する判定回路17からなる異常検出
手段と、前記異常検出手段の出力で異常が検出された前
記長尺物の異常箇所を特定する異常箇所検出手段とから
なるものでおる。An image synthesizing means such as a multiplexer 8 which vertically synthesizes the image information detected by the 4C to form three image information in the middle of one screen, and an image synthesizing means such as a multiplexer 8 which combines the image information detected by the 4C in the vertical direction, and the long object 1 from the output signal of the image synthesizing means.
an abnormality detecting means comprising a determination circuit 17 that inputs only image information from the output of the synchronization separation circuit 13 to a differentiating circuit and compares the output of the differentiating circuit 15 with a predetermined threshold; and abnormality detection means for identifying an abnormality in the long object where an abnormality is detected based on the output of the means.
したがって、長尺物1の形態を3台の撮像手段4a、4
.b、4cで画像情報とし、それをマルチプレクサ8等
の画像合成手段によって1画面中位の3画像情報とする
ものであるから、長尺物1の形態異常を検出する場合に
は、長尺物1の形態を3台の撮像手段4a、4b、4G
で画像情報としているにもかかわらず、1画面の異常を
判断する回路、即ち、3台の撮像手段4a、4b、4c
の出力を1画面の出力とするもので必るから、撮像手段
の1台の出力を検出する回路を有しておればよいから、
その装置の構成が廉価とすることかできる。Therefore, the shape of the long object 1 is determined by the three imaging means 4a, 4.
.. b and 4c are used as image information, and the image synthesis means such as the multiplexer 8 converts the images into three image information in the middle of one screen. 1 form with three imaging means 4a, 4b, 4G
Although the image information is image information, the circuit for determining abnormality in one screen, that is, the three imaging means 4a, 4b, 4c.
It is necessary to output the output of one screen, so it is sufficient to have a circuit to detect the output of one imaging means.
The configuration of the device can be made inexpensive.
また、マルチプレクサ8等の画像合成手段で撮像手段4
a、4.b、4Gで検出した長尺物1の画像情報を垂直
方向に合成して、1画面中位の3画像情報としているか
ら、水平同期信号の検出により、水平走査線上の所定位
置の異常を検出でき、その異常を検出する位置設定の選
択により、長尺物1の表面照度の影響を少なくすること
ができる。In addition, the image capturing means 4 can be
a, 4. b. Since the image information of the long object 1 detected by 4G is vertically combined to create 3 image information in the middle of one screen, an abnormality at a predetermined position on the horizontal scanning line can be detected by detecting the horizontal synchronization signal. By selecting the position setting for detecting the abnormality, the influence of the surface illuminance of the long object 1 can be reduced.
そして、異常検出手段の出力で異常が検出さねた前記長
尺物の異常箇所を特定する異常箇所検出手段として、異
常検出手段の出力を長尺物1の移送速度に一致させたシ
フトレジスタ40に記憶し、シフトレジスタ40の移動
距離によってマーキング位置の検出及び切断距離長内の
異常検出を行なっている。したがって、人によっても異
常箇所の確認ができ、また、異常箇所が2つの切断距離
長に分れた場合に、異常箇所及びその程度を視認できる
から、その仕分は精度を向上できる。A shift register 40 serves as an abnormality detection means for identifying an abnormality part of the long object in which an abnormality has not been detected by the output of the abnormality detection means. The marking position is detected and an abnormality within the cutting distance is detected based on the moving distance of the shift register 40. Therefore, the abnormal location can be confirmed by a person, and when the abnormal location is divided into two cutting distance lengths, the abnormal location and its degree can be visually recognized, so that the accuracy of sorting can be improved.
ところで、上記実施例の長尺物1の周囲に配設された3
台の撮像手段4a、4b、4Cは、長尺物1の全周囲を
判断する場合には、その面が出来るだけ垂直に撮影でき
る状態に設定することが望ましい。したがって、本発明
を実施する場合の撮像手段の数は3台以上とすることが
望ましい。勿論、長尺物1の部分的な周囲を判断する場
合にも、長尺物1の断面の形態によって3台以上の撮像
手段の設置が望ましい。By the way, 3 arranged around the elongated object 1 of the above embodiment
When determining the entire circumference of the elongated object 1, the imaging means 4a, 4b, and 4C on the stand are desirably set in a state where the surface thereof can be photographed as perpendicularly as possible. Therefore, when implementing the present invention, it is desirable that the number of imaging means be three or more. Of course, even when determining the partial circumference of the elongated object 1, it is desirable to install three or more imaging means depending on the form of the cross section of the elongated object 1.
また、上記実施例の撮像手段4a、4b、4Cで検出し
た画像情報を垂直方向に合成して、1画面単位の3画像
情報とするマルチプレクサ8等の画像合成手段は、予め
、長尺物1を撮像手段4a。Further, the image synthesizing means such as the multiplexer 8 which vertically synthesizes the image information detected by the image capturing means 4a, 4b, and 4C of the above embodiment to produce three image information in units of one screen, is configured to combine the image information detected by the image pickup means 4a, 4b, and 4C in the above embodiment in advance. The imaging means 4a.
4b、4CTJtt像した長尺物画像1a、1b、1G
は撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1の領域、
II!像手段4bが1画面単位の上3分の1から3分の
2の領域、撮像手段4Cが1画面単位の上3分の2から
3分の3の領域に位置するようにしているが、本発明を
実施する場合には、撮像手段の画像情報を垂直方向に合
成すればよいことから、撮像手段で撮像した長尺物画像
が1画面単位の中央に位置するように撮像手段を設定し
、遅延手段を介在させて撮像手段で検出した画像情報を
垂直方向に合成してもよい。4b, 4CTJtt image of long object 1a, 1b, 1G
The imaging means 4a covers the top one-third area of one screen unit,
II! The imaging means 4b is located in the upper one-third to two-thirds of the screen, and the imaging means 4C is located in the upper two-thirds to three-thirds of the screen. When carrying out the present invention, since it is sufficient to combine the image information of the imaging means in the vertical direction, the imaging means is set so that the long object image taken by the imaging means is located at the center of one screen unit. , image information detected by the imaging means may be combined in the vertical direction with a delay means interposed.
そして、上記実施例の画像合成手段の出力信号から前記
長尺物1の部分的な異常を検出する同期分離回路13の
出力で画像情報のみを微分回路の入力とし、微分回路1
5の出力を所定の閾値と比較する判定回路17からなる
異常検出手段は、傷等の不連続部分の検出手段としたが
、本発明を実施する場合には、1画面単位の長尺物画像
の相互間の近似状態を比較することもできる。また、長
尺物1の性状により発生する傷等が大きくなる場合には
、微分回路15の検出は傷の端部検出となるが、フリッ
プフロップ等を用いて、その両端検出により傷の範囲を
検出することができる。Then, only the image information from the output of the synchronization separation circuit 13 which detects a partial abnormality of the long object 1 from the output signal of the image synthesis means of the above embodiment is input to the differentiating circuit, and the differentiating circuit 1
The abnormality detecting means consisting of the determination circuit 17 that compares the output of No. 5 with a predetermined threshold value is a means for detecting discontinuous parts such as scratches. It is also possible to compare the approximate states of each other. In addition, when the scratches etc. that occur due to the properties of the long object 1 become large, the detection by the differential circuit 15 is to detect the ends of the scratches, but the range of the scratches can be determined by detecting both ends using a flip-flop or the like. can be detected.
上記実施例の異常検出手段の出力で異常が検出された長
尺物1の異常箇所を特定する異常箇所検出手段は、異常
検出手段の出力を長尺物1の移送速度に一致させたシフ
トレジスタ40に記憶し、シフトレジスタ40の移動距
離によってマーキング位置の検出、切断距離長内の異常
検出を行なっている。しかし、本発明を実施する場合に
は、長尺物1の移送速度に同期する信号によって異常検
出手段の出力を記憶した手段から読み出しをすればよい
ことでおる。即ち、例えば、記憶箇所を固定しておいて
、リングカウンタをその長尺物1の移送速度に同期する
信号で回転させ、リングカウンタの回動位置で所定の記
憶箇所を呼び出すように制御してもよい。The abnormality detection means for identifying the abnormality part of the long object 1 where an abnormality is detected by the output of the abnormality detection means of the above embodiment is a shift register that matches the output of the abnormality detection means with the transport speed of the long object 1. 40, and the marking position is detected and an abnormality within the cutting distance is detected based on the moving distance of the shift register 40. However, when carrying out the present invention, it is sufficient to read out the output of the abnormality detection means from the stored means using a signal synchronized with the transport speed of the long object 1. That is, for example, the storage location is fixed, the ring counter is rotated with a signal synchronized with the transport speed of the long object 1, and the predetermined storage location is controlled to be called at the rotating position of the ring counter. Good too.
なお、上記実施例では、3台以上の撮像手段で長尺物1
の全周を検出するように構成した事例について説明した
が、本発明を実施する場合には、2台の撮像手段で長尺
物1の要部を検出するように構成しても、同様の効果を
得ることができる。In the above embodiment, three or more imaging means are used to capture the long object 1.
Although an example has been described in which the configuration is configured to detect the entire circumference of the elongated object 1, when implementing the present invention, even if the configuration is configured to detect the main part of the elongated object 1 using two imaging means, the same result can be obtained. effect can be obtained.
[発明の効果]
以上のように、本発明の長尺物の異常判別装置は長さ方
向に連続して移送される長尺物の周囲に配設された2台
以上の撮像手段で検出した画像情報を垂直方向に合成し
て、1画面単位の2以上の画像とする画像合成手段と、
前記画像合成手段の出力信号から前記長尺物の部分的な
異常を検出する異常検出手段と、前記異常検出手段の出
力で異常が検出された前記長尺物の異常箇所を特定する
異常箇所検出手段とを具備するものでおるから、複数画
面単位の画像を1画面単位の画像入力として異常検出手
段に入力し、そこで、前記長尺物の部分的な異常を検出
し、異常箇所検出手段でその検出した前記長尺物の異常
箇所を特定することができる。[Effects of the Invention] As described above, the long object abnormality determination device of the present invention detects abnormalities using two or more imaging means arranged around the long object that is continuously transported in the length direction. image compositing means for compositing image information in the vertical direction to create two or more images in one screen unit;
abnormality detection means for detecting a partial abnormality of the long object from the output signal of the image synthesis means; and abnormality point detection for identifying an abnormality point of the long object where an abnormality is detected by the output of the abnormality detection means. Since it is equipped with means, the image of multiple screens is input to the abnormality detection means as an image input of one screen, and there, the partial abnormality of the long object is detected, and the abnormality point detection means The abnormal location of the detected long object can be specified.
このとき、長尺物の形態を2台以上の撮像手段の各画面
の画像情報を要部抽出しで合成し、1画面の画像情報出
力として処理するものであるから、長尺物の表面の照度
を均一にする必要がない。また、この異常検出精度は撮
像手段の精度で決定されるから、装置が精度に比較して
比較的廉価に製造できる。故に、長尺物の形態及びその
表面照度の影響を少なくすることができる。At this time, the image information of each screen of two or more imaging means is extracted and synthesized to determine the form of the long object, and the image information is processed as one screen of image information output. There is no need to make the illuminance uniform. Furthermore, since the abnormality detection accuracy is determined by the accuracy of the imaging means, the device can be manufactured at a relatively low cost compared to its accuracy. Therefore, the influence of the shape of the long object and its surface illuminance can be reduced.
第1図は本発明の一実施例の長尺物の異常判別装置を構
成する異常検出装置の全体構成を示すブロック図、第2
図は本発明の実施例の長尺物の異常判別装置を用いた生
産システムの一例である。
図において、
1:長尺物、
4a、4b、4C:l像手段、
8:マルチプレクサ、 13:同期分離回路、15:
微分回路、 17:判定回路、である。
なお、図中、同−符号及び同一記号は、同一または相当
部分を示す。
特許出願人 豊田合成 株式会社FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of an abnormality detection device constituting an abnormality determination device for a long object according to an embodiment of the present invention, and FIG.
The figure shows an example of a production system using an abnormality determination device for long objects according to an embodiment of the present invention. In the figure, 1: long object, 4a, 4b, 4C: image means, 8: multiplexer, 13: synchronous separation circuit, 15:
17: Determination circuit. In addition, in the figures, the same reference numerals and the same symbols indicate the same or equivalent parts. Patent applicant Toyoda Gosei Co., Ltd.
Claims (2)
設された2台以上の撮像手段と、 前記撮像手段で検出した画像情報を垂直方向に合成して
、1画面単位の2以上の画像とする画像合成手段と、 前記画像合成手段の出力信号から前記長尺物の部分的な
異常を検出する異常検出手段と、 前記異常検出手段の出力で異常が検出された前記長尺物
の異常箇所を特定する異常箇所検出手段と、 を具備することを特徴とする長尺物の異常判別装置。(1) Two or more imaging means arranged around a long object that is continuously transported in the length direction, and the image information detected by the imaging means are vertically synthesized, one screen at a time. an abnormality detecting means for detecting a partial abnormality of the elongated object from an output signal of the image combining means; An abnormality determination device for a long object, comprising: an abnormality detection means for identifying an abnormality point of the long object.
段は、同心円上に配設したことを特徴とする特許請求の
範囲第1項に記載の長尺物の異常判別装置。(2) The abnormality determination device for a long object according to claim 1, wherein the two or more imaging means arranged around the long object are arranged concentrically. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26984887A JPH01112143A (en) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | Abnormality deciding device for long-sized body |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26984887A JPH01112143A (en) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | Abnormality deciding device for long-sized body |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01112143A true JPH01112143A (en) | 1989-04-28 |
| JPH0575350B2 JPH0575350B2 (en) | 1993-10-20 |
Family
ID=17478036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26984887A Granted JPH01112143A (en) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | Abnormality deciding device for long-sized body |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01112143A (en) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0937978A1 (en) * | 1998-02-23 | 1999-08-25 | G.D S.p.A. | An electro-optical unit for scanning the entire lateral surface of articles substantially cylindrical in shape |
| JP2008026254A (en) * | 2006-07-25 | 2008-02-07 | Seiwa Electric Mfg Co Ltd | Rubber hose appearance inspection device |
| WO2010007693A1 (en) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | 古河電気工業株式会社 | Streak surface inspection device |
| JP2012026890A (en) * | 2010-07-23 | 2012-02-09 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | Surface defect inspection device and method thereof |
| CN101180032B (en) | 2005-05-19 | 2013-02-27 | 罗蒂株式会社 | Dental enamel recalcification accelerator and containing the same, oral composition and food or beverage |
| JP2018202844A (en) * | 2017-06-09 | 2018-12-27 | コニカミノルタ株式会社 | Manufacturing apparatus of cylindrical body, control method of manufacturing apparatus of cylindrical body, and control program of manufacturing apparatus of cylindrical body |
| EP3766658B1 (en) * | 2019-07-19 | 2024-08-28 | GTG Gummitechnik Wolfgang Bartelt GmbH & Co. KG | Method and device for producing seal strips |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5271263A (en) * | 1975-12-11 | 1977-06-14 | Sumitomo Metal Ind | Apparatus for automatically discriminating steel chips |
| JPS5746854U (en) * | 1980-08-30 | 1982-03-16 |
-
1987
- 1987-10-26 JP JP26984887A patent/JPH01112143A/en active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5271263A (en) * | 1975-12-11 | 1977-06-14 | Sumitomo Metal Ind | Apparatus for automatically discriminating steel chips |
| JPS5746854U (en) * | 1980-08-30 | 1982-03-16 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0937978A1 (en) * | 1998-02-23 | 1999-08-25 | G.D S.p.A. | An electro-optical unit for scanning the entire lateral surface of articles substantially cylindrical in shape |
| US6516083B1 (en) | 1998-02-23 | 2003-02-04 | G. D S.P.A. | Electro-optical unit for scanning the entire lateral surface of articles substantially cylindrical in shape |
| CN101180032B (en) | 2005-05-19 | 2013-02-27 | 罗蒂株式会社 | Dental enamel recalcification accelerator and containing the same, oral composition and food or beverage |
| JP2008026254A (en) * | 2006-07-25 | 2008-02-07 | Seiwa Electric Mfg Co Ltd | Rubber hose appearance inspection device |
| WO2010007693A1 (en) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | 古河電気工業株式会社 | Streak surface inspection device |
| JP2010025642A (en) * | 2008-07-16 | 2010-02-04 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Streak surface inspection device |
| JP2012026890A (en) * | 2010-07-23 | 2012-02-09 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | Surface defect inspection device and method thereof |
| JP2018202844A (en) * | 2017-06-09 | 2018-12-27 | コニカミノルタ株式会社 | Manufacturing apparatus of cylindrical body, control method of manufacturing apparatus of cylindrical body, and control program of manufacturing apparatus of cylindrical body |
| EP3766658B1 (en) * | 2019-07-19 | 2024-08-28 | GTG Gummitechnik Wolfgang Bartelt GmbH & Co. KG | Method and device for producing seal strips |
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