JPH01112143A - 長尺物の異常判別装置 - Google Patents
長尺物の異常判別装置Info
- Publication number
- JPH01112143A JPH01112143A JP26984887A JP26984887A JPH01112143A JP H01112143 A JPH01112143 A JP H01112143A JP 26984887 A JP26984887 A JP 26984887A JP 26984887 A JP26984887 A JP 26984887A JP H01112143 A JPH01112143 A JP H01112143A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- long object
- abnormality
- long
- output
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 title claims abstract description 94
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 46
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 37
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 20
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 14
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 9
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 6
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 4
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000000181 anti-adherent effect Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229940035289 tobi Drugs 0.000 description 1
- NLVFBUXFDBBNBW-PBSUHMDJSA-N tobramycin Chemical compound N[C@@H]1C[C@H](O)[C@@H](CN)O[C@@H]1O[C@H]1[C@H](O)[C@@H](O[C@@H]2[C@@H]([C@@H](N)[C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)[C@H](N)C[C@@H]1N NLVFBUXFDBBNBW-PBSUHMDJSA-N 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Vehicle Interior And Exterior Ornaments, Soundproofing, And Insulation (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野]
本発明は長尺物の傷等の部分的な異常を検出する長尺物
の異常判別装置に関するもので、生産ラインに設置して
長尺物の生産を管理する場合、不良検出を行なう場合、
不良検出を行なった後、その部分を他の製品と区別して
排除する場合等に使用可能である。
の異常判別装置に関するもので、生産ラインに設置して
長尺物の生産を管理する場合、不良検出を行なう場合、
不良検出を行なった後、その部分を他の製品と区別して
排除する場合等に使用可能である。
[従来の技術]
従来のこの種の長尺物の傷等の部分的な異常を検出する
長尺物の異常判別装置としては、長尺物の周囲に4方向
から光を供給するオプティカルファイバで導かれた光源
を、その長さ方向の移送方向の2箇所に配設し、その光
源によって長尺物の周囲を照射し、その照射された長尺
物を他のオプティカルファイバで特定の枠体に垂直配列
されたオプティカルファイバ端部に導き、それを1台の
撮像手段で画像化するものが市販されている。
長尺物の異常判別装置としては、長尺物の周囲に4方向
から光を供給するオプティカルファイバで導かれた光源
を、その長さ方向の移送方向の2箇所に配設し、その光
源によって長尺物の周囲を照射し、その照射された長尺
物を他のオプティカルファイバで特定の枠体に垂直配列
されたオプティカルファイバ端部に導き、それを1台の
撮像手段で画像化するものが市販されている。
[発明が解決しようとする問題点]
しかし、上記長尺物の傷等の部分的な異常を検出する長
尺物の異常判別装置は、移送される前記長尺物から枠体
のオプティカルファイバ端部まで、画像を光学的に導く
ものであるから、前記長尺物からオプティカルファイバ
入光端部までの距離を正確に設定する必要があり、この
ために、上記装置では所定のハウジングの位置決め穴を
挿通することによって位置決めされており、長尺物の形
態に合せて位置決め穴及び焦点位置を決定する必要があ
った。
尺物の異常判別装置は、移送される前記長尺物から枠体
のオプティカルファイバ端部まで、画像を光学的に導く
ものであるから、前記長尺物からオプティカルファイバ
入光端部までの距離を正確に設定する必要があり、この
ために、上記装置では所定のハウジングの位置決め穴を
挿通することによって位置決めされており、長尺物の形
態に合せて位置決め穴及び焦点位置を決定する必要があ
った。
そして、オプティカルファイバ端部の光量で傷等の異常
を検出するものであるから、移送される長尺物の表面照
度を均一にする必要があり、そこに高度の技術が要求さ
れるという問題があった。
を検出するものであるから、移送される長尺物の表面照
度を均一にする必要があり、そこに高度の技術が要求さ
れるという問題があった。
また、移送される前記長尺物をオプティカルファイバ端
部まで導く画像は、オプティカルファイバ端部で正確に
結像させる必要があり、その精度を上げるにはオプティ
カルファイバ自体の精度を良くする必要があり、装置が
高価になる問題があった。
部まで導く画像は、オプティカルファイバ端部で正確に
結像させる必要があり、その精度を上げるにはオプティ
カルファイバ自体の精度を良くする必要があり、装置が
高価になる問題があった。
そこで、本発明は上記問題点を解消すべくなされたもの
で、長尺物の形態及びその表面照度の影響を少なくした
廉価な長尺物の異常判別装置の提供を課題とするもので
ある。
で、長尺物の形態及びその表面照度の影響を少なくした
廉価な長尺物の異常判別装置の提供を課題とするもので
ある。
[問題点を解決するための手段]
本発明にかがる長尺物の異常判別装置は、長さ方向に連
続して移送される長尺物の周囲に2台以上の撮像手段を
配設し、前記撮像手段で検出した画像情報を垂直方向に
合成して、1画面単位の2以上の画像とする画像合成手
段の出力信号から前記長尺物の部分的な異常を検出する
異常検出手段の出力で異常が検出された前記長尺物の異
常箇所を特定する異常箇所検出手段からなるものである
。
続して移送される長尺物の周囲に2台以上の撮像手段を
配設し、前記撮像手段で検出した画像情報を垂直方向に
合成して、1画面単位の2以上の画像とする画像合成手
段の出力信号から前記長尺物の部分的な異常を検出する
異常検出手段の出力で異常が検出された前記長尺物の異
常箇所を特定する異常箇所検出手段からなるものである
。
[作用]
本発明においては、長さ方向に連続して移送される長尺
物の周囲に、2台以上のlR像平手段配設し、前記撮像
手段で検出した画像情報を画像合成手段で垂直方向に合
成して、1画面単位の画像とする。そして、1画面単位
の画像を1画面単位の画像入力として異常検出手段に入
力し、そこで、前記長尺物の部分的な異常を検出し、異
常箇所検出手段でその検出した前記長尺物の異常箇所を
特定するものである。
物の周囲に、2台以上のlR像平手段配設し、前記撮像
手段で検出した画像情報を画像合成手段で垂直方向に合
成して、1画面単位の画像とする。そして、1画面単位
の画像を1画面単位の画像入力として異常検出手段に入
力し、そこで、前記長尺物の部分的な異常を検出し、異
常箇所検出手段でその検出した前記長尺物の異常箇所を
特定するものである。
[実施例]
ここで、本発明の実施例について説明する。
第1図は本発明の一実施例の長尺物の異常判別装置を構
成する異常検出装置の全体構成を示すブロック図である
。第2図は本発明の実施例の長尺物の異常判別装置を用
いた生産システムの一例である。
成する異常検出装置の全体構成を示すブロック図である
。第2図は本発明の実施例の長尺物の異常判別装置を用
いた生産システムの一例である。
図において、その長さ方向に連続して移送される長尺物
1は、ホース、ウェザストリップ、モール等の管材また
は棒材である。投光ヘッド2はオプティカルファイバ3
の端部3aを保持し、オプティカルファイバ3で導かれ
た光を長尺物1の外周面に均等に照射するもので必る。
1は、ホース、ウェザストリップ、モール等の管材また
は棒材である。投光ヘッド2はオプティカルファイバ3
の端部3aを保持し、オプティカルファイバ3で導かれ
た光を長尺物1の外周面に均等に照射するもので必る。
撮像手段4a。
4b、4Cはビデオカメラ、工業用テレビカメラ、工業
用踊影装置等に使用されるCCDイメージセンサ、MO
Sイメージセンサ、イメージオルシコン、ビジコン等の
3台の撮像手段であり、垂直・水平同期信号発生回路6
で駆動される。
用踊影装置等に使用されるCCDイメージセンサ、MO
Sイメージセンサ、イメージオルシコン、ビジコン等の
3台の撮像手段であり、垂直・水平同期信号発生回路6
で駆動される。
前記垂直・水平同期信号発生回路6で駆動された3台の
撮像手段4a、4b、4cの出力は、各々画像信号回路
5a、5b、5cで所定の走査線数の画像情報として出
力される。このとき、3台の撮像手段4a、4b、4c
の出力は、撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1
の領域、撮像手段4bが1画面単位の上3分の1から3
分の2の領域、@像手段4bが1画面単位の上3分の2
から3分の3の領域に長尺物1の像が位置するように、
3台の撮像手段4a、4b、4cを設置する。
撮像手段4a、4b、4cの出力は、各々画像信号回路
5a、5b、5cで所定の走査線数の画像情報として出
力される。このとき、3台の撮像手段4a、4b、4c
の出力は、撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1
の領域、撮像手段4bが1画面単位の上3分の1から3
分の2の領域、@像手段4bが1画面単位の上3分の2
から3分の3の領域に長尺物1の像が位置するように、
3台の撮像手段4a、4b、4cを設置する。
マルチプレクサ8は撮像手段4a、4b、4cの出力を
入力し、垂直・水平同期信号発生回路6から垂直同期信
号を起点とする水平同期信号の数を計数し、長尺物1の
像は撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1の領域
、撮像手段4bが1画面単位の上3分の1から3分の2
の領域、撮像手段4Cが1画面単位の上3分の2から3
分の3の領域にくるように、タイミング回路7で水平同
期信号を計数して画像情報の切替えタイミングを作り、
撮像手段4a、4b、4cの出力を切替える。それらの
撮像手段4a、4b、4cの出力の画像情報を、画像信
号出力回路9で1画面単位の画像情報として出力する。
入力し、垂直・水平同期信号発生回路6から垂直同期信
号を起点とする水平同期信号の数を計数し、長尺物1の
像は撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1の領域
、撮像手段4bが1画面単位の上3分の1から3分の2
の領域、撮像手段4Cが1画面単位の上3分の2から3
分の3の領域にくるように、タイミング回路7で水平同
期信号を計数して画像情報の切替えタイミングを作り、
撮像手段4a、4b、4cの出力を切替える。それらの
撮像手段4a、4b、4cの出力の画像情報を、画像信
号出力回路9で1画面単位の画像情報として出力する。
したがって、モニタ10には図示のように、長尺物1を
撮像手段4a。
撮像手段4a。
4b、4cでlfi像した長尺物画像1a、1b、1G
は撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1の領域、
撮像手段4bが1画面単位の上3分の1から3分の2の
領域、撮像手段4Cが1画面単位の上3分の2から3分
の3の領域に位置する画像となる。
は撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1の領域、
撮像手段4bが1画面単位の上3分の1から3分の2の
領域、撮像手段4Cが1画面単位の上3分の2から3分
の3の領域に位置する画像となる。
前記モニタで映像化された画像と同一画像か、同期分離
回路13に入力されている。同期分前回路13では1画
面単位の画像化された信号から、垂直同期信号及び水平
同期信号を分離し、タイミング発生回路12でアナログ
ゲート14を開閉制御するタイミング信号を得る。即ち
、タイミング発生回路12では垂直同期信号及び水平同
期信号のスタートを起点として、所定の範囲の画像情報
を抽出する。この画像情報を抽出する所定の範囲は、タ
イミング設定回路11でその抽出する所定の範囲を設定
入力しておく。それによって、1画面のいずれの範囲を
抽出するかが決定される。抽出する所定の範囲のタイミ
ング発生回路12でアナログゲート14を開閉制御し、
所定の撮像手段4a、4b、4cで撮像した長尺物画像
1a。
回路13に入力されている。同期分前回路13では1画
面単位の画像化された信号から、垂直同期信号及び水平
同期信号を分離し、タイミング発生回路12でアナログ
ゲート14を開閉制御するタイミング信号を得る。即ち
、タイミング発生回路12では垂直同期信号及び水平同
期信号のスタートを起点として、所定の範囲の画像情報
を抽出する。この画像情報を抽出する所定の範囲は、タ
イミング設定回路11でその抽出する所定の範囲を設定
入力しておく。それによって、1画面のいずれの範囲を
抽出するかが決定される。抽出する所定の範囲のタイミ
ング発生回路12でアナログゲート14を開閉制御し、
所定の撮像手段4a、4b、4cで撮像した長尺物画像
1a。
1b、1Gの要部信号のみを微分回路15に入力する。
前記微分回路15では到来信号を微分する。
このとき、長尺物画像1a、1b、1cの要部信号に傷
等の不連続部分がおると、その不連続部分は微分回路1
5の出力が大きくなり、単調な平坦な信号ではその出力
が小さくなる。前記微分回路15の出力は感度調整回路
16を介して判定回路17に入力される。判定回路17
では所定の信号レベルにある微分回路15の出力を、所
定の閾値と比較して所定の閾値以上にあるとき、その出
力を“HIIまたはL 11とするものである。
等の不連続部分がおると、その不連続部分は微分回路1
5の出力が大きくなり、単調な平坦な信号ではその出力
が小さくなる。前記微分回路15の出力は感度調整回路
16を介して判定回路17に入力される。判定回路17
では所定の信号レベルにある微分回路15の出力を、所
定の閾値と比較して所定の閾値以上にあるとき、その出
力を“HIIまたはL 11とするものである。
このように構成された上記実施例の長尺物1の異常検出
装置20は、次のように使用される。
装置20は、次のように使用される。
まず、押出成形機等の押出機21で成形された長尺物1
は、第1図に示した長尺物1の異常検出装置20でその
表面の傷等の不連続部分の検出を行なう。前記異常検出
装置20を通過した長尺物1は、印刷機22で所定の印
刷が行なわれ、マーキング装置23を通過して引取機2
4で移送される。即ち、押出機21で成形された長尺物
1は引取機24でテンションをかけられ、異常検出装置
20、印刷機22、マーキング装置23を介して送出さ
れる。引取機24で送出された長尺物1は、水冷槽25
で冷却し、防着剤塗布装置26で防着剤を塗布して長尺
物1相互が接合しないように処理し、截断機27で所定
長に切断する。そして、所定長に切断した長尺物1は、
その切断した長尺物1の所定長に表面の傷等の異常箇所
が検出されている場合には選別機28で、製品として使
用する長尺物1を製品収容器29に、製品として使用て
きない長尺物1を不良品収容器30に仕分けする。
は、第1図に示した長尺物1の異常検出装置20でその
表面の傷等の不連続部分の検出を行なう。前記異常検出
装置20を通過した長尺物1は、印刷機22で所定の印
刷が行なわれ、マーキング装置23を通過して引取機2
4で移送される。即ち、押出機21で成形された長尺物
1は引取機24でテンションをかけられ、異常検出装置
20、印刷機22、マーキング装置23を介して送出さ
れる。引取機24で送出された長尺物1は、水冷槽25
で冷却し、防着剤塗布装置26で防着剤を塗布して長尺
物1相互が接合しないように処理し、截断機27で所定
長に切断する。そして、所定長に切断した長尺物1は、
その切断した長尺物1の所定長に表面の傷等の異常箇所
が検出されている場合には選別機28で、製品として使
用する長尺物1を製品収容器29に、製品として使用て
きない長尺物1を不良品収容器30に仕分けする。
このときのタイミングは次のようになる。
押出成形機等の押出機21で成形された長尺物1は、第
1図に示した長尺物1の異常検出装置20でその表面の
傷等の不連続部分の検出を行ない、長尺物画像1a、1
b、 1cの要部信号に傷等の不連続部分があるとき、
判定回路17の出力を“′H″とする。なお、不連続部
分がない正常状態のとき、判定回路17の出力は“L
uとなる。
1図に示した長尺物1の異常検出装置20でその表面の
傷等の不連続部分の検出を行ない、長尺物画像1a、1
b、 1cの要部信号に傷等の不連続部分があるとき、
判定回路17の出力を“′H″とする。なお、不連続部
分がない正常状態のとき、判定回路17の出力は“L
uとなる。
前記異常検出装置20の出力はセット優先のフリップフ
ロップ31のセット端子Sに入力される。
ロップ31のセット端子Sに入力される。
また、長尺物1は引取機24でテンションをかけられ、
引取機24の移送速度で移送されるから、その移送速度
をロータリエンコーダ35で検出し、ロータリエンコー
ダ35が発生する信号を、パルス発生器36で波形整形
または所定のパルス幅のパルスを発生させ、そのパルス
発生器36の出力をシフトレジスタ40のクロックパル
スとして入力する。即ち、シフトレジスタ40はパルス
発生器36の出力で記憶した情報をシフトする。このシ
フトレジスタ40をシフトする速度は、引取機24の移
送速度と同一となる。
引取機24の移送速度で移送されるから、その移送速度
をロータリエンコーダ35で検出し、ロータリエンコー
ダ35が発生する信号を、パルス発生器36で波形整形
または所定のパルス幅のパルスを発生させ、そのパルス
発生器36の出力をシフトレジスタ40のクロックパル
スとして入力する。即ち、シフトレジスタ40はパルス
発生器36の出力で記憶した情報をシフトする。このシ
フトレジスタ40をシフトする速度は、引取機24の移
送速度と同一となる。
フリップフロップ31の出力端子Qは前記シフトレジス
タ40に入力されており、長尺物1の異常検出装置20
でその表面に傷等の不連続部分が検出されると、判定回
路17の出力が“′トビ′となり、それはフリップフロ
ップ31に記憶される。
タ40に入力されており、長尺物1の異常検出装置20
でその表面に傷等の不連続部分が検出されると、判定回
路17の出力が“′トビ′となり、それはフリップフロ
ップ31に記憶される。
このとき、フリップフロップ31の出力端子Qは11
Htiとなり、パルス発生器36の出力でフリップフロ
ップ31の出力がシフ1〜レジスタ40に書き込まれる
。そして、フリップフロップ31の出力の書き込みを終
えると、パルス発生器36の出力はデイレイ回路32を
介してフリップフロップ31のリセット端子Rに入力さ
れ、フリップフロップ31がリセットされる。このとき
、フリップフロップ31はリセット優先でおるから、長
尺物1の異常検出装置20の出力が<I HIIのとき
、フリップフロップ31の出力端子Qは“H″を維持す
る。また、長尺物1の異常検出装置20の出力がti
L IIのとき、フリップフロップ31の出力端子Qは
“L 11となり、それはパルス発生器36の出力でフ
リップフロップ31に記憶される。
Htiとなり、パルス発生器36の出力でフリップフロ
ップ31の出力がシフ1〜レジスタ40に書き込まれる
。そして、フリップフロップ31の出力の書き込みを終
えると、パルス発生器36の出力はデイレイ回路32を
介してフリップフロップ31のリセット端子Rに入力さ
れ、フリップフロップ31がリセットされる。このとき
、フリップフロップ31はリセット優先でおるから、長
尺物1の異常検出装置20の出力が<I HIIのとき
、フリップフロップ31の出力端子Qは“H″を維持す
る。また、長尺物1の異常検出装置20の出力がti
L IIのとき、フリップフロップ31の出力端子Qは
“L 11となり、それはパルス発生器36の出力でフ
リップフロップ31に記憶される。
このようにして、長尺物1の異常検出装置20の異常出
力はフリップフロップ31に一時記憶され、それをパル
ス発生器36の出力でシフトレジスタ40に書き込み、
長尺物1の移送速度でシフトレジスタ40内をシフトす
る。
力はフリップフロップ31に一時記憶され、それをパル
ス発生器36の出力でシフトレジスタ40に書き込み、
長尺物1の移送速度でシフトレジスタ40内をシフトす
る。
また、引取機24が移送する長尺物1の移送速度をロー
クリエンコーダ35で検出し、ロータリエンコーダ35
が発生する信号を用いて発生させられたパルス発生器3
6の出力はカウンタ38に入力され、カウンタ38はシ
フ1〜レジスタ40と同様に、カウンタ38をカウント
アツプする速度は、引取機24の移送速度と同一となる
。カウンタ38は所定の計数値でその出力を“Hl+と
し、カウンタ38の出力のL(HIIはドライバ39を
介して截断機27を作動させ、長尺物1を所定の長さに
切断する。即ち、カウンタ38の所定の計数値は引取機
24が移送する長尺物1の移送距離に相当する値とする
ことで、カウンタ3Bで切断する長尺物1の所定長を計
測する。なお、前記カウンタ38は所定の計数値までバ
4数するとクリアされる。
クリエンコーダ35で検出し、ロータリエンコーダ35
が発生する信号を用いて発生させられたパルス発生器3
6の出力はカウンタ38に入力され、カウンタ38はシ
フ1〜レジスタ40と同様に、カウンタ38をカウント
アツプする速度は、引取機24の移送速度と同一となる
。カウンタ38は所定の計数値でその出力を“Hl+と
し、カウンタ38の出力のL(HIIはドライバ39を
介して截断機27を作動させ、長尺物1を所定の長さに
切断する。即ち、カウンタ38の所定の計数値は引取機
24が移送する長尺物1の移送距離に相当する値とする
ことで、カウンタ3Bで切断する長尺物1の所定長を計
測する。なお、前記カウンタ38は所定の計数値までバ
4数するとクリアされる。
そして、前記シフ1〜レジスタ40に書ぎ込まれた長尺
物1の異常検出装置20の異常出力は、引取機24によ
って移送される長尺物1がマーキング装置23の位置に
到来する距離に相当する前後の複数のビットをオアゲー
ト等からなるロジック回路34に入力し、ロジック回路
34に入力されたピッl〜に異常検出装置20の異常出
力の11 H11が記′臘されているか否かを判断し、
ロジック回路34に入力されたピッ1〜に異常検出装置
20の異常出力のll HIIが記憶されているとぎ、
ロジック回路34の出力はドライバ33を介してマーキ
ング装置23を動作させ、長尺物1の異常箇所にマーキ
ングを付し、不良箇所を確認できるようにリる。
物1の異常検出装置20の異常出力は、引取機24によ
って移送される長尺物1がマーキング装置23の位置に
到来する距離に相当する前後の複数のビットをオアゲー
ト等からなるロジック回路34に入力し、ロジック回路
34に入力されたピッl〜に異常検出装置20の異常出
力の11 H11が記′臘されているか否かを判断し、
ロジック回路34に入力されたピッ1〜に異常検出装置
20の異常出力のll HIIが記憶されているとぎ、
ロジック回路34の出力はドライバ33を介してマーキ
ング装置23を動作させ、長尺物1の異常箇所にマーキ
ングを付し、不良箇所を確認できるようにリる。
同様に、シフトレジスタ40に書き込まれた長尺物1の
異常検出装置20の異常出力は、引取機24によって移
送される長尺物1が截断機27で切断した所定長の長尺
物1の切断された範囲内にあるかを、異常検出装置20
から截断@27と一体化された選別機28までの位置に
到来する距離に相当するビットを離し、切断された所定
長の長尺物1に相当する全ビットからオアゲート等から
なるロジック回路37に入力し、所定長の長尺物1に相
当する仝ピッ[−のうちの1以上に異常検出装置20の
異常出力の“′H″が記憶されているとき、前記ロジッ
ク回路37の出力を“H″とする。
異常検出装置20の異常出力は、引取機24によって移
送される長尺物1が截断機27で切断した所定長の長尺
物1の切断された範囲内にあるかを、異常検出装置20
から截断@27と一体化された選別機28までの位置に
到来する距離に相当するビットを離し、切断された所定
長の長尺物1に相当する全ビットからオアゲート等から
なるロジック回路37に入力し、所定長の長尺物1に相
当する仝ピッ[−のうちの1以上に異常検出装置20の
異常出力の“′H″が記憶されているとき、前記ロジッ
ク回路37の出力を“H″とする。
また、所定長の長尺物1に相当する全ビットが11 L
IIのとき、前記ロジック回路37の出力を“′L″
とする。前記ロジック回路37の出力がHIIのとき、
カウンタ3Bが所定の計数値でその出力を11 H11
とし、カウンタ3Bの出力の11 HITで截断機27
を作動させ、長尺物1を所定の長さに切断し、同時に、
アンドゲート41の出力か“H1+となり、選別機28
を駆動して、所定長に切断した長尺物1を不良品収容器
30側に排出する。なお、前記ロジック回路37の出力
が“L I+で異常箇所が含まれていない場合には、カ
ウンタ38が所定の計数値でその出力を“’ l−1”
とし、カウンタ38の出力の“H″で截断機27を作動
させ、長尺物1を所定の長さに切断しても、アンドゲー
ト41の出力が“L″となり、選別機28を駆動しない
。したがって、所定長に切断した長尺物1は通常の移送
方向である製品収容器29側に排出する。
IIのとき、前記ロジック回路37の出力を“′L″
とする。前記ロジック回路37の出力がHIIのとき、
カウンタ3Bが所定の計数値でその出力を11 H11
とし、カウンタ3Bの出力の11 HITで截断機27
を作動させ、長尺物1を所定の長さに切断し、同時に、
アンドゲート41の出力か“H1+となり、選別機28
を駆動して、所定長に切断した長尺物1を不良品収容器
30側に排出する。なお、前記ロジック回路37の出力
が“L I+で異常箇所が含まれていない場合には、カ
ウンタ38が所定の計数値でその出力を“’ l−1”
とし、カウンタ38の出力の“H″で截断機27を作動
させ、長尺物1を所定の長さに切断しても、アンドゲー
ト41の出力が“L″となり、選別機28を駆動しない
。したがって、所定長に切断した長尺物1は通常の移送
方向である製品収容器29側に排出する。
このようにして、押出機21で連続押出された長尺物1
は、異常判断装置20で画像情報から異常の検出を行な
い、長尺物1に部分的な異常箇所が検出されると、その
箇所をシフ1〜レジスタ40に記憶しておく。前記長尺
物1の異常箇所がマーキング装置23まで移送されると
き、長尺物1の移送と同期してシフトされるシフトレジ
スタ40に記憶された異常信号はロジック回路34で検
出され、ロジック回路34の出力でドライバ33を介し
てマーキング装置23を駆動して、前記長尺物1の異常
箇所にマーキングを付す。なお、ロジック回路34で検
出されるピッ1−長は前記長尺物1の異常箇所に付すマ
ーキング幅を決定する。
は、異常判断装置20で画像情報から異常の検出を行な
い、長尺物1に部分的な異常箇所が検出されると、その
箇所をシフ1〜レジスタ40に記憶しておく。前記長尺
物1の異常箇所がマーキング装置23まで移送されると
き、長尺物1の移送と同期してシフトされるシフトレジ
スタ40に記憶された異常信号はロジック回路34で検
出され、ロジック回路34の出力でドライバ33を介し
てマーキング装置23を駆動して、前記長尺物1の異常
箇所にマーキングを付す。なお、ロジック回路34で検
出されるピッ1−長は前記長尺物1の異常箇所に付すマ
ーキング幅を決定する。
また、押出機21で連続押出された長尺物1はカウンタ
38で開側され、截断機27で所定の長さ毎に繰返し切
断される。所定の長さ毎に繰返し切断された長尺物1は
、その所定長の長尺物1の単位にマーキング装置23で
マーキングを付した異常箇所が存在すると、それを長尺
物1の移送と同期してシフトされたシフトレジスタ40
の内容を、切断した所定長の長尺物1の異常情報が記憶
されているビット長をロジック回路37で検出し、切断
した所定長の長尺物1に相当するビット長に異常情報が
記憶されているとき、それをロジック回路37で検出し
、選別機28を作動させて異常箇所を有している切断し
た所定長の長尺物1を、不良品収容器30側に排出する
。また、異常箇所が検出されないときには、選別機28
を作動させない状態で切断した所定長の長尺物1を、良
品数容器となる製品収容機29側に排出する。
38で開側され、截断機27で所定の長さ毎に繰返し切
断される。所定の長さ毎に繰返し切断された長尺物1は
、その所定長の長尺物1の単位にマーキング装置23で
マーキングを付した異常箇所が存在すると、それを長尺
物1の移送と同期してシフトされたシフトレジスタ40
の内容を、切断した所定長の長尺物1の異常情報が記憶
されているビット長をロジック回路37で検出し、切断
した所定長の長尺物1に相当するビット長に異常情報が
記憶されているとき、それをロジック回路37で検出し
、選別機28を作動させて異常箇所を有している切断し
た所定長の長尺物1を、不良品収容器30側に排出する
。また、異常箇所が検出されないときには、選別機28
を作動させない状態で切断した所定長の長尺物1を、良
品数容器となる製品収容機29側に排出する。
このように、本実施例の長尺物の異常判別装置は、長尺
物1の周囲に配設された3台の撮像手段4a、4b、4
Gと、前記撮像手段4a、4b。
物1の周囲に配設された3台の撮像手段4a、4b、4
Gと、前記撮像手段4a、4b。
4Cで検出した画像情報を垂直方向に合成して、1画面
中位の3画像情報とするマルチプレクサ8等の画像合成
手段と、前記画像合成手段の出力信号から前記長尺物1
の部分的な異常を検出する同期分離回路13の出力で画
像情報のみを微分回路の入力とし、微分回路15の出力
を所定の閾値と比較する判定回路17からなる異常検出
手段と、前記異常検出手段の出力で異常が検出された前
記長尺物の異常箇所を特定する異常箇所検出手段とから
なるものでおる。
中位の3画像情報とするマルチプレクサ8等の画像合成
手段と、前記画像合成手段の出力信号から前記長尺物1
の部分的な異常を検出する同期分離回路13の出力で画
像情報のみを微分回路の入力とし、微分回路15の出力
を所定の閾値と比較する判定回路17からなる異常検出
手段と、前記異常検出手段の出力で異常が検出された前
記長尺物の異常箇所を特定する異常箇所検出手段とから
なるものでおる。
したがって、長尺物1の形態を3台の撮像手段4a、4
.b、4cで画像情報とし、それをマルチプレクサ8等
の画像合成手段によって1画面中位の3画像情報とする
ものであるから、長尺物1の形態異常を検出する場合に
は、長尺物1の形態を3台の撮像手段4a、4b、4G
で画像情報としているにもかかわらず、1画面の異常を
判断する回路、即ち、3台の撮像手段4a、4b、4c
の出力を1画面の出力とするもので必るから、撮像手段
の1台の出力を検出する回路を有しておればよいから、
その装置の構成が廉価とすることかできる。
.b、4cで画像情報とし、それをマルチプレクサ8等
の画像合成手段によって1画面中位の3画像情報とする
ものであるから、長尺物1の形態異常を検出する場合に
は、長尺物1の形態を3台の撮像手段4a、4b、4G
で画像情報としているにもかかわらず、1画面の異常を
判断する回路、即ち、3台の撮像手段4a、4b、4c
の出力を1画面の出力とするもので必るから、撮像手段
の1台の出力を検出する回路を有しておればよいから、
その装置の構成が廉価とすることかできる。
また、マルチプレクサ8等の画像合成手段で撮像手段4
a、4.b、4Gで検出した長尺物1の画像情報を垂直
方向に合成して、1画面中位の3画像情報としているか
ら、水平同期信号の検出により、水平走査線上の所定位
置の異常を検出でき、その異常を検出する位置設定の選
択により、長尺物1の表面照度の影響を少なくすること
ができる。
a、4.b、4Gで検出した長尺物1の画像情報を垂直
方向に合成して、1画面中位の3画像情報としているか
ら、水平同期信号の検出により、水平走査線上の所定位
置の異常を検出でき、その異常を検出する位置設定の選
択により、長尺物1の表面照度の影響を少なくすること
ができる。
そして、異常検出手段の出力で異常が検出さねた前記長
尺物の異常箇所を特定する異常箇所検出手段として、異
常検出手段の出力を長尺物1の移送速度に一致させたシ
フトレジスタ40に記憶し、シフトレジスタ40の移動
距離によってマーキング位置の検出及び切断距離長内の
異常検出を行なっている。したがって、人によっても異
常箇所の確認ができ、また、異常箇所が2つの切断距離
長に分れた場合に、異常箇所及びその程度を視認できる
から、その仕分は精度を向上できる。
尺物の異常箇所を特定する異常箇所検出手段として、異
常検出手段の出力を長尺物1の移送速度に一致させたシ
フトレジスタ40に記憶し、シフトレジスタ40の移動
距離によってマーキング位置の検出及び切断距離長内の
異常検出を行なっている。したがって、人によっても異
常箇所の確認ができ、また、異常箇所が2つの切断距離
長に分れた場合に、異常箇所及びその程度を視認できる
から、その仕分は精度を向上できる。
ところで、上記実施例の長尺物1の周囲に配設された3
台の撮像手段4a、4b、4Cは、長尺物1の全周囲を
判断する場合には、その面が出来るだけ垂直に撮影でき
る状態に設定することが望ましい。したがって、本発明
を実施する場合の撮像手段の数は3台以上とすることが
望ましい。勿論、長尺物1の部分的な周囲を判断する場
合にも、長尺物1の断面の形態によって3台以上の撮像
手段の設置が望ましい。
台の撮像手段4a、4b、4Cは、長尺物1の全周囲を
判断する場合には、その面が出来るだけ垂直に撮影でき
る状態に設定することが望ましい。したがって、本発明
を実施する場合の撮像手段の数は3台以上とすることが
望ましい。勿論、長尺物1の部分的な周囲を判断する場
合にも、長尺物1の断面の形態によって3台以上の撮像
手段の設置が望ましい。
また、上記実施例の撮像手段4a、4b、4Cで検出し
た画像情報を垂直方向に合成して、1画面単位の3画像
情報とするマルチプレクサ8等の画像合成手段は、予め
、長尺物1を撮像手段4a。
た画像情報を垂直方向に合成して、1画面単位の3画像
情報とするマルチプレクサ8等の画像合成手段は、予め
、長尺物1を撮像手段4a。
4b、4CTJtt像した長尺物画像1a、1b、1G
は撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1の領域、
II!像手段4bが1画面単位の上3分の1から3分の
2の領域、撮像手段4Cが1画面単位の上3分の2から
3分の3の領域に位置するようにしているが、本発明を
実施する場合には、撮像手段の画像情報を垂直方向に合
成すればよいことから、撮像手段で撮像した長尺物画像
が1画面単位の中央に位置するように撮像手段を設定し
、遅延手段を介在させて撮像手段で検出した画像情報を
垂直方向に合成してもよい。
は撮像手段4aが1画面単位の上から3分の1の領域、
II!像手段4bが1画面単位の上3分の1から3分の
2の領域、撮像手段4Cが1画面単位の上3分の2から
3分の3の領域に位置するようにしているが、本発明を
実施する場合には、撮像手段の画像情報を垂直方向に合
成すればよいことから、撮像手段で撮像した長尺物画像
が1画面単位の中央に位置するように撮像手段を設定し
、遅延手段を介在させて撮像手段で検出した画像情報を
垂直方向に合成してもよい。
そして、上記実施例の画像合成手段の出力信号から前記
長尺物1の部分的な異常を検出する同期分離回路13の
出力で画像情報のみを微分回路の入力とし、微分回路1
5の出力を所定の閾値と比較する判定回路17からなる
異常検出手段は、傷等の不連続部分の検出手段としたが
、本発明を実施する場合には、1画面単位の長尺物画像
の相互間の近似状態を比較することもできる。また、長
尺物1の性状により発生する傷等が大きくなる場合には
、微分回路15の検出は傷の端部検出となるが、フリッ
プフロップ等を用いて、その両端検出により傷の範囲を
検出することができる。
長尺物1の部分的な異常を検出する同期分離回路13の
出力で画像情報のみを微分回路の入力とし、微分回路1
5の出力を所定の閾値と比較する判定回路17からなる
異常検出手段は、傷等の不連続部分の検出手段としたが
、本発明を実施する場合には、1画面単位の長尺物画像
の相互間の近似状態を比較することもできる。また、長
尺物1の性状により発生する傷等が大きくなる場合には
、微分回路15の検出は傷の端部検出となるが、フリッ
プフロップ等を用いて、その両端検出により傷の範囲を
検出することができる。
上記実施例の異常検出手段の出力で異常が検出された長
尺物1の異常箇所を特定する異常箇所検出手段は、異常
検出手段の出力を長尺物1の移送速度に一致させたシフ
トレジスタ40に記憶し、シフトレジスタ40の移動距
離によってマーキング位置の検出、切断距離長内の異常
検出を行なっている。しかし、本発明を実施する場合に
は、長尺物1の移送速度に同期する信号によって異常検
出手段の出力を記憶した手段から読み出しをすればよい
ことでおる。即ち、例えば、記憶箇所を固定しておいて
、リングカウンタをその長尺物1の移送速度に同期する
信号で回転させ、リングカウンタの回動位置で所定の記
憶箇所を呼び出すように制御してもよい。
尺物1の異常箇所を特定する異常箇所検出手段は、異常
検出手段の出力を長尺物1の移送速度に一致させたシフ
トレジスタ40に記憶し、シフトレジスタ40の移動距
離によってマーキング位置の検出、切断距離長内の異常
検出を行なっている。しかし、本発明を実施する場合に
は、長尺物1の移送速度に同期する信号によって異常検
出手段の出力を記憶した手段から読み出しをすればよい
ことでおる。即ち、例えば、記憶箇所を固定しておいて
、リングカウンタをその長尺物1の移送速度に同期する
信号で回転させ、リングカウンタの回動位置で所定の記
憶箇所を呼び出すように制御してもよい。
なお、上記実施例では、3台以上の撮像手段で長尺物1
の全周を検出するように構成した事例について説明した
が、本発明を実施する場合には、2台の撮像手段で長尺
物1の要部を検出するように構成しても、同様の効果を
得ることができる。
の全周を検出するように構成した事例について説明した
が、本発明を実施する場合には、2台の撮像手段で長尺
物1の要部を検出するように構成しても、同様の効果を
得ることができる。
[発明の効果]
以上のように、本発明の長尺物の異常判別装置は長さ方
向に連続して移送される長尺物の周囲に配設された2台
以上の撮像手段で検出した画像情報を垂直方向に合成し
て、1画面単位の2以上の画像とする画像合成手段と、
前記画像合成手段の出力信号から前記長尺物の部分的な
異常を検出する異常検出手段と、前記異常検出手段の出
力で異常が検出された前記長尺物の異常箇所を特定する
異常箇所検出手段とを具備するものでおるから、複数画
面単位の画像を1画面単位の画像入力として異常検出手
段に入力し、そこで、前記長尺物の部分的な異常を検出
し、異常箇所検出手段でその検出した前記長尺物の異常
箇所を特定することができる。
向に連続して移送される長尺物の周囲に配設された2台
以上の撮像手段で検出した画像情報を垂直方向に合成し
て、1画面単位の2以上の画像とする画像合成手段と、
前記画像合成手段の出力信号から前記長尺物の部分的な
異常を検出する異常検出手段と、前記異常検出手段の出
力で異常が検出された前記長尺物の異常箇所を特定する
異常箇所検出手段とを具備するものでおるから、複数画
面単位の画像を1画面単位の画像入力として異常検出手
段に入力し、そこで、前記長尺物の部分的な異常を検出
し、異常箇所検出手段でその検出した前記長尺物の異常
箇所を特定することができる。
このとき、長尺物の形態を2台以上の撮像手段の各画面
の画像情報を要部抽出しで合成し、1画面の画像情報出
力として処理するものであるから、長尺物の表面の照度
を均一にする必要がない。また、この異常検出精度は撮
像手段の精度で決定されるから、装置が精度に比較して
比較的廉価に製造できる。故に、長尺物の形態及びその
表面照度の影響を少なくすることができる。
の画像情報を要部抽出しで合成し、1画面の画像情報出
力として処理するものであるから、長尺物の表面の照度
を均一にする必要がない。また、この異常検出精度は撮
像手段の精度で決定されるから、装置が精度に比較して
比較的廉価に製造できる。故に、長尺物の形態及びその
表面照度の影響を少なくすることができる。
第1図は本発明の一実施例の長尺物の異常判別装置を構
成する異常検出装置の全体構成を示すブロック図、第2
図は本発明の実施例の長尺物の異常判別装置を用いた生
産システムの一例である。 図において、 1:長尺物、 4a、4b、4C:l像手段、 8:マルチプレクサ、 13:同期分離回路、15:
微分回路、 17:判定回路、である。 なお、図中、同−符号及び同一記号は、同一または相当
部分を示す。 特許出願人 豊田合成 株式会社
成する異常検出装置の全体構成を示すブロック図、第2
図は本発明の実施例の長尺物の異常判別装置を用いた生
産システムの一例である。 図において、 1:長尺物、 4a、4b、4C:l像手段、 8:マルチプレクサ、 13:同期分離回路、15:
微分回路、 17:判定回路、である。 なお、図中、同−符号及び同一記号は、同一または相当
部分を示す。 特許出願人 豊田合成 株式会社
Claims (2)
- (1)長さ方向に連続して移送される長尺物の周囲に配
設された2台以上の撮像手段と、 前記撮像手段で検出した画像情報を垂直方向に合成して
、1画面単位の2以上の画像とする画像合成手段と、 前記画像合成手段の出力信号から前記長尺物の部分的な
異常を検出する異常検出手段と、 前記異常検出手段の出力で異常が検出された前記長尺物
の異常箇所を特定する異常箇所検出手段と、 を具備することを特徴とする長尺物の異常判別装置。 - (2)前記長尺物の周囲に配設された2台以上の撮像手
段は、同心円上に配設したことを特徴とする特許請求の
範囲第1項に記載の長尺物の異常判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26984887A JPH01112143A (ja) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | 長尺物の異常判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26984887A JPH01112143A (ja) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | 長尺物の異常判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01112143A true JPH01112143A (ja) | 1989-04-28 |
| JPH0575350B2 JPH0575350B2 (ja) | 1993-10-20 |
Family
ID=17478036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26984887A Granted JPH01112143A (ja) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | 長尺物の異常判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01112143A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0937978A1 (en) * | 1998-02-23 | 1999-08-25 | G.D S.p.A. | An electro-optical unit for scanning the entire lateral surface of articles substantially cylindrical in shape |
| JP2008026254A (ja) * | 2006-07-25 | 2008-02-07 | Seiwa Electric Mfg Co Ltd | ゴムホースの外観検査装置 |
| WO2010007693A1 (ja) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | 古河電気工業株式会社 | 線条表面検査装置 |
| JP2012026890A (ja) * | 2010-07-23 | 2012-02-09 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | 表面欠陥検査装置及びその方法 |
| CN101180032B (zh) | 2005-05-19 | 2013-02-27 | 罗蒂株式会社 | 牙釉质的再钙化促进剂和含有其的口腔用组合物及饮食品 |
| JP2018202844A (ja) * | 2017-06-09 | 2018-12-27 | コニカミノルタ株式会社 | 筒状物の製造装置、筒状物の製造装置の制御方法、および筒状物の製造装置の制御プログラム |
| EP3766658B1 (de) * | 2019-07-19 | 2024-08-28 | GTG Gummitechnik Wolfgang Bartelt GmbH & Co. KG | Verfahren und vorrichtung zur herstellung von dichtbändern |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5271263A (en) * | 1975-12-11 | 1977-06-14 | Sumitomo Metal Ind | Apparatus for automatically discriminating steel chips |
| JPS5746854U (ja) * | 1980-08-30 | 1982-03-16 |
-
1987
- 1987-10-26 JP JP26984887A patent/JPH01112143A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5271263A (en) * | 1975-12-11 | 1977-06-14 | Sumitomo Metal Ind | Apparatus for automatically discriminating steel chips |
| JPS5746854U (ja) * | 1980-08-30 | 1982-03-16 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0937978A1 (en) * | 1998-02-23 | 1999-08-25 | G.D S.p.A. | An electro-optical unit for scanning the entire lateral surface of articles substantially cylindrical in shape |
| US6516083B1 (en) | 1998-02-23 | 2003-02-04 | G. D S.P.A. | Electro-optical unit for scanning the entire lateral surface of articles substantially cylindrical in shape |
| CN101180032B (zh) | 2005-05-19 | 2013-02-27 | 罗蒂株式会社 | 牙釉质的再钙化促进剂和含有其的口腔用组合物及饮食品 |
| JP2008026254A (ja) * | 2006-07-25 | 2008-02-07 | Seiwa Electric Mfg Co Ltd | ゴムホースの外観検査装置 |
| WO2010007693A1 (ja) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | 古河電気工業株式会社 | 線条表面検査装置 |
| JP2010025642A (ja) * | 2008-07-16 | 2010-02-04 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 線条表面検査装置 |
| JP2012026890A (ja) * | 2010-07-23 | 2012-02-09 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | 表面欠陥検査装置及びその方法 |
| JP2018202844A (ja) * | 2017-06-09 | 2018-12-27 | コニカミノルタ株式会社 | 筒状物の製造装置、筒状物の製造装置の制御方法、および筒状物の製造装置の制御プログラム |
| EP3766658B1 (de) * | 2019-07-19 | 2024-08-28 | GTG Gummitechnik Wolfgang Bartelt GmbH & Co. KG | Verfahren und vorrichtung zur herstellung von dichtbändern |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0575350B2 (ja) | 1993-10-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1179427A (en) | Defect detecting method and apparatus | |
| JPS62279931A (ja) | 片面段ボ−ルの不良検出装置 | |
| JPH04166751A (ja) | びんの欠陥検査方法 | |
| JPS6396095A (ja) | 壜のねじ口部検査装置 | |
| JPH01299444A (ja) | 壜胴部の欠陥検出装置 | |
| JPH01112143A (ja) | 長尺物の異常判別装置 | |
| JPH0549181B2 (ja) | ||
| GB2417776A (en) | Automatic determination apparatus | |
| NO883633L (no) | Fremgangsmaate til videoopptak av en hurtigbevegelig gjenstand. | |
| JP2503801B2 (ja) | 長尺物の外観検査装置 | |
| CN204957063U (zh) | 小包第六面扩展条盒外观检测装置及条盒端面检测系统 | |
| EP0610956A2 (en) | Container inner surface tester | |
| US20260030736A1 (en) | Vision inspection apparatus and vision inspection method | |
| JPH08186808A (ja) | 画像処理方法及びその装置 | |
| JPH07111419B2 (ja) | 螢光磁粉探傷における画像信号処理方法および装置 | |
| JP2957744B2 (ja) | 線条体上の印刷マーク検査方法 | |
| JPH0116553B2 (ja) | ||
| JPS63106265A (ja) | 欠陥表示方法 | |
| JPS5816465B2 (ja) | 走行物体表面検査装置 | |
| JPS6252454A (ja) | 螢光磁粉探傷における疵判定方法および装置 | |
| JPS5879578A (ja) | 色彩選別方法 | |
| JPH0779471B2 (ja) | 映像判定装置 | |
| JPS5811819A (ja) | 色彩選別方法 | |
| JPH079409B2 (ja) | ガラス壜の高速検査方法および装置 | |
| EP1229722A2 (en) | A method for imaging of manufacturing processes |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |