JPH01112738A - ダイボンディング装置 - Google Patents

ダイボンディング装置

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JPH01112738A
JPH01112738A JP62271537A JP27153787A JPH01112738A JP H01112738 A JPH01112738 A JP H01112738A JP 62271537 A JP62271537 A JP 62271537A JP 27153787 A JP27153787 A JP 27153787A JP H01112738 A JPH01112738 A JP H01112738A
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Japan
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collet
semiconductor die
die
bonding
semiconductor
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Hiroaki Kobayashi
弘明 小林
Kiyoto Hirase
平瀬 清人
Toshifumi Harada
原田 利文
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Toshiba Electronic Device Solutions Corp
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Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/0711Apparatus therefor
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/073Connecting or disconnecting of die-attach connectors

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  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体ダイの大きさに応じてボンディング加
圧力を変えることのできるダイボンディング装置に関す
る。
(従来の技術) 第6図と第7図を用いて従来のダイボンディング装置を
説明する。第6図において回転軸AXが回転すると、こ
の回転軸に固定された3個のカムla、lb、lcが回
転する。すると、固定ピンPaに一端が軸着されたアー
ム6aおよび固定ピンpbに一端が軸着されたアーム6
bは、それぞれを連結しているバネ5bの力によって、
カム1aおよびカム1bにそれぞれ接触しながら従動し
、それぞれのアームの他端がそれぞれピンPaおよびp
bを固定点とする往復角運動をする。したがって、一端
が、バネ5aを介してアーム6aの他端に連結されるア
ーム4は、水平方向に運動し、このアーム4の他端に設
けられるマウントヘッド10が水平動作する。
一方、カム1cが回転することにより、固定ピンPcに
一端が軸着されるアーム2は、このアーム2の中央部M
Pと固定点FPを連結するバネ5Cの力によって、カム
ICに接触しながら従動し、アーム2の他端がビンPc
を固定点とする往復角運動を行う。すると、一端がアー
ム2の他端と連結される上下方向可動アーム3が複数対
のベアリング7bに拘持されながら上下動する。なおこ
の可動アーム3の他端に配設される複数対のベアリング
7aによってアーム4が挟持されるから、可動アーム3
の上下動によって、アーム4の他端に設けられたマウン
トヘッド10は、上下動する。
したがって、カム1 a +  1 b 、1 cのプ
ロフィルを適切に選定すると、マウントヘッド10の一
端に取り付けられる吸着コレット12は、ウェハリング
18上に置かれる半導体ウェハ17のところまで移動し
て半導体ダイ14を真空を利用して吸着し、バックアッ
プホルダ16上に載置される半導体リードフレーム13
のところまで搬送することとなる。
なお、マウントヘッド10は、アーム4の他端に設けら
れる複数対のベアリング8によって上下動可能なように
拘持されている。そして、マウントヘッド10の他端に
設けられたストッパ9がアーム4の他端の上面に当るよ
うに、バネ11の引張力による下向きの力が常にマウン
トヘッド10に加わっている。
このような従来のダイボンディング装置のピックアップ
(半導体ダイ14を吸着すること)からダイボンディン
グまでの動作を第7図のタイムチャートに示す。今、時
刻10に、マウントヘッド10は半導体ウェハ17の吸
着すべき半導体ダイの真上に位置しているものとする。
この時バネ11に作用している力はfφである。マウン
トヘッド10がアーム4の他端とともに下降し、ストロ
ークZ1だけ下降すると、吸着コレット12の吸着面が
半導体ダイの上面に接触する(時刻11)。すると、吸
着コレット12、すなわちマウントヘッド10は停止す
るがアーム4の他端はまだ下降し続け、バネ11に引張
力fφ1が作用する。このバネ11の引張力fφ1の反
作用によってマウントヘッド10、すなわちコレット1
2が半導体ダイに押し付けられる。そして真空を利用し
て吸着コレット12に半導体ダイを吸着させる(時刻1
5)。時間Tl (−t5−t、>がピックアップ動作
時間となる。
次に、半導体ダイを吸着した吸着コレット12、すなわ
ちマウトヘッド10を上昇させる。この時バネ11に作
用している力はfφである。上昇途中(時刻16)に更
に水平移動をも行わせるが上昇が完了(時刻t7)して
も水平移動は終了しない。そして時刻t8になると、再
び下降し始めるが水平移動はまだ終了しない。下降途中
の時刻t9に、半導体ダイを吸着した吸着コレット12
が半導体リードフレーム13の所定位置の真上にくると
、水平移動は終了する。更にマウントヘッド10が下降
し続け、半導体ダイ14を吸むしたコレット12が半導
体リードフレーム13に接近する(時刻110)と、そ
の下降速度を遅くして半導体ダイ14を半導体リードフ
レーム13上にソフトランディングさせる。そしてこの
遅い下降速度で下降させ、時刻t12になると、コレッ
ト12に吸着された半導体ダイ14のボンディング面が
半導体リードフレーム13上の所定位置に塗着された接
合剤の上面と接触する。この時からストロークZ3だけ
、コレット12、すなわちマウントヘッド10が下降す
ると(時刻t14”マウントヘッド10は停止するが、
アーム4の他端はまだ下降し続け、バネ11に引張力f
φ2が作用する。
この引張力f  とバネ11の初期設定力fφとφ2 の差、fφ2−fφが半導体ダイ14を半導体リードフ
レーム13にボンディングするときのボンディング加圧
力となる。そして時刻t15になるまで、すなわち所定
時間T(−t15−t14)経過するまで加圧力が加え
られ、半導体ダイ14が半導体リードフレーム13上に
ボンディングされる。
次にコレット12、すなわちマウントヘッド10を上昇
させるとともに上昇途中(時刻t1□)から水平移動も
行わせる。ストロークZ2だけ上昇すると上昇は停止す
る(時刻t18)が、水平移動は停止しない。そしてコ
レット12、すなわちマウントヘッド10が半導体ウェ
ハ17の吸着すべき半導体ダイの真上にくると水平移動
は停止する(時刻t19)。そして前述の動作が繰り返
される。
(発明が解決しようとする問題点) ボンディング加圧力は、半導体ダイ14のサイズ(面積
)に応じその最適値が決まっているが、従来のボンディ
ング装置では、そのボンディング加圧力はカムICのプ
ロフィルによって決定される所定値であるため多品種生
産する場合に加圧力が大き過ぎたり、小さ過ぎたりする
場合が起こる。
この時、加圧力が大き過ぎると半導体ダイに欠けや割れ
などが発生し、小さ過ぎると接合剤に巣が発生するとと
もに接合剤が良く浸透せず半導体ダイ14と半導体リー
ドフレームとの接合力が不足するという問題が発生する
また、生産性を上げるためにコレット12の下降スピー
ドを上げると、半導体ダイ14が半導体リードフレーム
13に衝突する際の衝撃力によって半導体ダイ14に欠
け、割れが発生するという問題点があった。
本発明は、多品種生産に好適なダイボンディング装置を
提供することを目的とする。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) 第1の発明によるダイボンディング装置は、コレットと
、真空を利用して半導体ダイを前記コレットに吸着させ
る吸着手段と、コレットを水平移動させる水平移動手段
と、コレットを上下動させる上下動手段と、コレットに
吸着された半導体ダイか上下動手段によって下降させら
れているときに、所定位置に載置される半導体リードフ
レームのボンディング面と半導体ダイの下面との接触を
検出する検出手段と、半導体ダイの大きさに応じたボン
ディング加圧力を設定する設定手段と、検出手段の出力
に基づいてコレットを介して半導体ダイに設定手段によ
って設定されたボンディング加圧力を加える加圧手段と
を備えたことを特徴とする。
第2の発明によるダイボンディング装置は、コレットと
、垂直方向に動作するコレットヘッドと、このコレット
ヘッドに取付けられ、下端にコレットが取付けられたコ
レットシャフトと、このコレットシャフトに設けられ、
コレットシャフトの落下を防止するストッパと、真空を
利用して半導体ダイをコレットに吸着させる吸着手段と
、コレットヘッドを水平移動させる水平移動手段と、コ
レットヘッドを上下動させる上下動手段と、電磁力を用
いてコレットに下向きの力を印加する印加手段と、この
印加手段によって印加される下向きの力の大きさおよび
印加のタイミングを制御する制御手段とを備えたことを
特徴とする。
(作 用) このように構成された第1の発明によるダイボンディン
グ装置において、コレットを水平移動手段および上下動
手段によって半導体ダイが載置されている所定位置まで
移動させる。そして、上下動手段によってコレットを下
降させ、コレットの吸着面を半導体ダイの上面と接触さ
せる。次に真空を利用して吸着手段によって半導体ダイ
をコレットに吸着させ、上下動手段および水平移動手段
によって半導体ダイを吸着したコレットが所定位置に載
置される半導体リードフレームのボンディング面の真上
に位置するようにする。そして、上下動手段によって半
導体ダイを吸着したコレットを下降させ、半導体リード
フレームのボンディング面と半導体ダイの下面(接合面
)を接触させる。
この接触は検出手段によって検出される。
一方、半導体ダイの大きさに応じたボンディング加圧力
が設定手段によって設定される。そして、検出手段の出
力に基づいて、設定手段によって設定されたボンディン
グ加圧力がコレットを介して上記半導体ダイに加えられ
る。加圧力が印加されて所定時間経過すると半導体ダイ
か半導体リードフレーム上に接合される。そしてコレッ
トを上下動手段によって上昇させ、吸着すべき次の半導
体ダイが載置されている所定の位置まで水平移動手段に
よって移動させ、前述の動作を繰り返す。
本発明のダイボンディング装置は二手導体ダイの大きさ
、すなわち品種に応じてダイボンディング加圧力を変え
てダイボンディングを行うことができ、これにより多品
種生産に好適なものとなる。
また、このように構成された第2の発明によるダイボン
ディング装置において、コレットを介して半導体ダイに
下向きの力、すなわちポンデイグ加圧力が印加手段によ
って印加される。そしてこのボンディング加圧力の大き
さおよび印加のタイミングが制御手段によって制御され
ることにより本発明のダイボンディング装置は、半導体
ダイの大きさ、すなわち品種に応じてダイボンディング
加圧力を変えてダイボンディングを行うことができ、こ
れにより多品種生産に好適なものとなる。
(実施例) 第1図と第2図を用いて第1の発明によるダイボンディ
ング装置の実施例を説明する。第1図においてアーム4
の先端部に設けられる台4aにモータ22が取り付けら
れている。このモータ22の回転軸22aにねじ23が
直結され、回転軸22aと一体となって回転する。この
ねじ23にはコレットヘッド26がねじ結合され、ねじ
23の回動によってアーム4の先端部に設けられるガイ
ド軸4bに沿って上下動するように設けられている。そ
して、このコレットヘッド26の本体部26aに垂直方
向に貫通穴が設けられ、この貫通穴に、エアベアリング
21が取り付けられている。
このエアベアリング21に、コレットシャフト27が上
下方向に滑動できるように貫入されている。なお、この
エアベアリング21には、コレットヘッド26の本体部
26aの中央部の外側に取り付けられる配管46を介し
て空気が供給される。
このコレットシャフト27の上部にストッパ9が設けら
れ、下部には半導体ダイ14を吸着するコレット12が
取り付けられている。また、コレットシャフト27の下
部近傍にバネ受は部27aが設けられている。そしてこ
のバネ受は部27aとコレットヘッド26の本体部26
aの下面との間に、コレット12に吸着された半導体ダ
イ14にボンディング加圧力を印加できるようにバネ2
0が設けられている。なお、コレットヘッド26の上部
にギャップセンサ24が設けられ、コレット12に吸着
された半導体ダイ14の接着面(下面)と、半導体リー
ドフレーム13の所定位置に塗着されたペースト19の
上面との接触を検出する。
そして、ボンディング時以外はギャップセンサ24の上
面(検知部)とストッパ9が接触した状態となっている
次に実施例の作用を説明する。アーム4が上下動および
水平移動させられて、コレット12が所定位置に載置さ
れている半導体ウェハ(図示していない)上の吸着すべ
き半導体ダイ14の真上に位置しているものとする。こ
の時アーム4を下降させて行くとコレット12が半導体
ダイ14に近づいて、コレット12の吸着面(下面)と
半導体ダイ14の上面が接触し、コレット12、すなわ
ちコレットシャフト27は停止する。しかしアーム4が
停止しないため、コレットヘッド26の上部に設けられ
たギャップセンサ24も停止せス下降する。すると、ス
トッパ9とギャップセンサ24との間に隙間が生じ、ギ
ャップセンサ24はOFF信号を発する。OFF信号が
発せられるとアーム4は停止する。そしてコレットシャ
フト27の内部に軸方向に沿って設けられた貫通穴部の
空気を抜いて真空にすると、半導体ダイ14がコレット
12に吸着される。つぎにアーム4を上昇および水平移
動させ、コレット12に吸着された半導体ダイ14がバ
ックアップホルダ16上に載置されている半導体リード
フレーム13上の所定位置に塗着されたペースト19の
真上に位置するようにする。そしてアーム4を下降させ
て行くと、コレット12に吸着された半導体ダイ14の
下面(接着面)が半導体リードフレーム13上に塗着さ
れたペースト19の上面と接触する。そして更にアーム
4が下降すると前述したと同様にギャップセンサ24と
ストッパ9が接触しなくなり、OFF信号がギャップセ
ンサ24から発せられ、アーム4が停止する。この時、
モータ22を回転させると、ねじ23も回転し、コレッ
トヘッド26がアーム4の先端部のガイド軸4bに沿っ
て下降し、バネ20が圧縮され、バネ20に圧縮力が作
用する。この圧縮力の反作用によって半導体ダイ14が
コレット12を介して半導体リードフレーム13上に加
圧され、ボンディングが行われる。この時の加圧力はコ
レットヘッド26の下降ストローク、すなわちモータ2
2の回転角度によって決まる。したがって、半導体ダイ
14の品種、あるいは大きさに応じてボンディング加圧
力を予め設定しておき、この設定されたボンディング加
圧力に基づいて、モータ22の回転角度を制御すれば、
設定されたボンディング加圧力が半導体ダイ14に加え
られることになる。これらの加圧制御工程を第2図にブ
ロックで示す。半導体ダイ14の品種データ、および加
圧力データを予め入力機構30に入力しておく。一方ギ
ヤップセンサ24からなる接触検出機構40によって、
コレット12に吸着された半導体ダイ14の接着面(下
面)と半導体リードフレーム13上の所定位置に塗着さ
れたペースト19の上面との接触が検出される。そして
この接触検出機構40の出力41と、データ入力機構3
0の出力、すなわち品種データ35および加圧データ3
6に基づいて、演算装置31によってコレットヘッド2
6の下降ストローク、あるいはモータ22の回転角度3
7が演算され、この演算された下降ストローク、あるい
は回転角度37に基づいて、バネ20からなるボンディ
ング加圧機構32によって半導体ダイ14に所定のボン
ディング加圧力が加えられる。
なお、加圧制御は、第3図に示すように行っても良い。
すなわち、バックアップホルダ16に載置される半導体
リードフレーム13の側面近傍に置かれたカメラ25か
ら出力される映像信号38を画像処理装置33において
処理し、処理したデータ39を演算装置31に送ること
によって、現在のペースト19の厚さを割り出す。そし
てこのペースト19の厚さと、データ入力機構30出力
、すなわち品種データ35および加圧力データ36に基
づいて、コレットヘッド26の下降ストローク、あるい
はモータ22の回転角度37が演算装置31によって演
算され、ボンディング加圧機構32に送られてボンディ
ング加圧力の制御が行われる。
以上述べたことにより本実施例のダイボンディング装置
は、半導体ダイの品種、あるいは大きさに応じたボンデ
ィング加圧力を半導体ダイに加えることができ、これに
より多品種生産に好適なものとなる。
次に第4図および第5図を用いて第2の発明によるダイ
ボンディング装置の実施例を説明する。
第4図において、アーム4の先端にコレットヘッド26
の一端が取り付けられているコレットヘッド26の本体
部26aには垂直方向に貫通穴が設けられ、この貫通穴
にエアベアリング21が嵌入されている。そしてこのエ
アベアリング21に上下方向に滑動できるようにコレッ
トシャフト27が貫入されている。なお、エアベアリン
グ21には、コレットヘッド26の本体部26aの中央
部の外側に取り付けられる配管46より空気が供給され
る。またコレットシャフト27の下部には、半導体ダイ
14を吸着するコレット12が取り付けられ、上部には
ストッパ9が取り付けられている。そしてコレットヘッ
ド26の上面に設けられた四部に、ボイスコイルモータ
のマグネット43が納置されている。一方、ストッパ9
の下面の中央部には、コレットシャフト27を取り囲ん
で、かつマグネット43の内側に配置されるようにボイ
スコイルモータのコイル44が設けられている。
また、ストッパ9は、コレットヘッド26の本体部26
aの下部の外側に設けられたバネ支え60aおよび60
bとそれぞればね20aおよび20bによって連結され
ている。なお、コレットヘッド26の本体部26aの上
部には、コレット12に吸着される半導体ダイ14と半
導体リードフレーム13上に塗着されたペースト19と
の接触を検知するためにギャップセンサ24が設けられ
、通常の状態ではストッパ9と接触している。
そして、コイル44に適切な電流を流すことによって電
磁力を発生させコレットシャフト27、すなわちコレッ
ト12を上下動させる。
次に第5図のタイムチャートを参照して実施例の作用を
説明する。コイル43に適切な電流を流して電磁力f1
を発生させ、コレットシャフト27を下降させてストッ
パ9がギャップセンサ24に接触するようにしておく。
そして、今(時刻to)、コレット12が所定位置に置
かれた半導体ウェハ(図示していない)上の吸着すべき
半導体ダイの真上の位置にあるものとする。この時、ア
ーム4を21だけ下降させるとコレットヘッド26およ
びコレットシャフト27も一緒に下降し、コレット12
が吸着すべき半導体ダイ14と接触する(時刻11)。
次にコイル43に働く電磁力Fをf  (<f、)まで
減少させ(時刻t2)、l コレット12が半導体ダイ14に衝突するときの衝撃力
を小さくする。そしてコレットシャフト27の上部に接
続される配管45を通してコレットシャフト27の貫通
穴の空気を抜くとともに、半導体ダイ14を下から押し
てやる(時刻t3)。
すると半導体ダイ14がコレット12の吸着面に吸着さ
れる。この時、半導体ダイ14が下から押されるとコレ
ットシャフト27は上向きに押されて、若干上昇し、ス
トッパ9がギャップセンサ24と接触しなくなり、ギャ
ップセンサ24はOFFされる。次に所定時間T  (
−t4−t2)■ 経過すると、電磁力Fを増加させる。そして電磁力Fが
設定値f、になる(時刻15)と、コレラト12、すな
わちアーム4を上昇させる。この時ギャップセンサ24
は、ストッパ9と接触し、ON状態となっている。上昇
途中(時刻t6)でアーム4を水平移動させる。更に上
昇させて所定の高さまで上昇しても水平移動は停止しな
い(時刻t )。そして時刻t8になると再び下降し始
める。そして、半導体ダイ14を吸着したコレット12
が所定位置に載置される半導体リードフレーム13上の
ボンディング面に塗着されるペースト19の真上にくる
と、アーム4の水平移動が停止する(時刻t9)。この
時、アーム4は下降し続けているが、コレット12に吸
着された半導体ダイ14が半導体リードフレーム13上
のボンディング面に接近すると(時刻t1o)、アーム
4の下降速度を減少させるとともにコイル43に作用す
る電磁力Fもf、からf2 (<f、)に減少さ■ せる(時刻t1□)。そして、更にアーム4が下降する
と半導体ダイ14の下面(接着面)がペースト19の上
面に接触し、(時刻t12)、ストッパ9とギャップセ
ンサ24との間に隙間が生じ、ギャップセンサ24がO
FFされる(時刻t12)。この時、コイル43に作用
する電磁力はf2から所定のボンディング加圧力f3に
変化させられる。
この加圧力f3は半導体ダイ14の品種、あるいは大き
さに応じて予め設定した値である。そして、更にストロ
ークZ3だけアーム4が下降すると、アーム4は停止し
、ボンディング加圧力f3がコレット12を介して半導
体ダイ14に所定時間T2印加され、半導体ダイ14が
半導体リードフレーム13上にボンディングされる。所
定時間T が経過すると(時刻t15)、コレット12
すなわちアーム4は上昇させられるとともに、コイル4
3に作用する電磁力Fが設定値f1に戻される(時刻t
IG)。するとギャップセンサ24はストッパ9と接触
し、ON状態となる。そして上昇途中(時刻t1□)で
再びアーム4は水平移動させられる。ストロークz2だ
け上昇すると(時刻t18)、アーム4の上昇動作は停
止するが水平移動は停止せず、次に吸着すべき半導体ダ
イの真上にコレット12が移動したときに水平移動を停
止する(時刻t19)。そして、前述の動作が繰り返さ
れる。
本実施例のダイボンディング装置によれば半導体ダイ1
4の品種、あるいは大きさに応じたボンディング加圧力
を半導体ダイに加えることができ、これにより多品種生
産に好適なものとなる。また、半導体ダイ14を吸着す
るときに、電磁力Fを加減することによりコレット12
と半導体ダイ14との衝突による衝撃力を小さくするこ
とができ、これにより吸桁時の半導体ダイ14の欠け、
割れの発生を防止することができるとともに生産性を上
げることができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば多品種生産に好適なダイボンディング装
置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるダイボンディング装置の第1の実
施例の要部の構造図、第2図は第1図に示す第1の実施
例の加圧力制御の一例を示すブロック図、第3図は第1
図に示す第1の実施例の加圧力制御の他の例を示すブロ
ック図、第4図は本発明によるダイボンディング装置の
第2の実施例の要部の構造図、第5図は第4図に示す第
2の実施例の作用を説明するタイムチャート、第6図は
従来のダイボンディング装置の構造図、第7図は従来の
ダイボンディング装置の作用を説明するタイムチャート
である。 4・・・アーム、9・・・ストッパ、12・・・コレッ
ト、13・・・半導体リードフレーム、14・・・半導
体ダイ、19・・・ペースト、20・・・バネ、21・
・・エアベアリング、22・・・モータ、23・・・ね
じ、24・・・ギャップセンサ、25・・・カメラ、2
6・・・コレットヘッド、27・・・コレットシャフト
、32・・・ボンディング加圧機構。 出願人代理人  佐  藤  −雄 u 第2図 第3図 第4図 輔鴨1−N 条斗唾−馴X ゛く$に

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、コレットと、真空を利用して半導体ダイを前記コレ
    ットに吸着させる吸着手段と、前記コレットを水平移動
    させる水平移動手段と、前記コレットを上下動させる上
    下動手段と、前記コレットに吸着された半導体ダイが前
    記上下動手段によって下降させられているときに、所定
    位置に載置される半導体リードフレームのボンディング
    面と前記半導体ダイの下面との接触を検出する検出手段
    と、前記半導体ダイの大きさに応じたボンディング加圧
    力を設定する設定手段と、前記検出手段の出力に基づい
    て前記コレットを介して前記半導体ダイに前記設定手段
    によって設定されたボンディング加圧力を加える加圧手
    段とを備えたことを特徴とするダイボンディング装置。 2、コレットと、垂直方向に動作するコレットヘッドと
    、このコレットヘッドに取付けられ、下端に前記コレッ
    トが取付けられたコレットシャフトと、このコレットシ
    ャフトに設けられ、前記コレットシャフトの落下を防止
    するストッパと、真空を利用して半導体ダイを前記コレ
    ットに吸着させる吸着手段と、前記コレットヘッドを水
    平移動させる水平移動手段と、前記コレットヘッドを上
    下動させる上下動手段と、電磁力を用いて前記コレット
    に下向きの力を印加する印加手段と、この印加手段によ
    って印加される下向きの力の大きさおよび印加のタイミ
    ングを制御する制御手段とを備えたことを特徴とするダ
    イボンディング装置。 3、前記制御手段は、前記コレットに吸着された半導体
    ダイの下面が半導体リードフレームのボンディング面と
    接触したことの検知結果に基づいて前記下向きの力の大
    きさを変えることを特徴とする特許請求の範囲第2項記
    載のダイボンディング装置。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6021533A (ja) * 1983-07-15 1985-02-02 Toshiba Corp 回路素子の圧着方法およびその装置
JPS60178637A (ja) * 1984-02-27 1985-09-12 Toshiba Seiki Kk ペレツトボンデイング装置
JPS61131847A (ja) * 1984-11-30 1986-06-19 Nec Kansai Ltd ワ−ク供給方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6021533A (ja) * 1983-07-15 1985-02-02 Toshiba Corp 回路素子の圧着方法およびその装置
JPS60178637A (ja) * 1984-02-27 1985-09-12 Toshiba Seiki Kk ペレツトボンデイング装置
JPS61131847A (ja) * 1984-11-30 1986-06-19 Nec Kansai Ltd ワ−ク供給方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001156085A (ja) * 1999-11-30 2001-06-08 Nec Corp 搭載方法、搭載装置及び搭載処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体

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