JPH01120534A - 強誘電性液晶素子 - Google Patents
強誘電性液晶素子Info
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- JPH01120534A JPH01120534A JP27730787A JP27730787A JPH01120534A JP H01120534 A JPH01120534 A JP H01120534A JP 27730787 A JP27730787 A JP 27730787A JP 27730787 A JP27730787 A JP 27730787A JP H01120534 A JPH01120534 A JP H01120534A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は強誘電性液晶素子に関し、特に強誘電性液晶分
子の配向をコントロールすることによって、明、暗部を
形成する液晶表示素子に関するものである。
子の配向をコントロールすることによって、明、暗部を
形成する液晶表示素子に関するものである。
[従来の技術]
従来、強誘電性液晶素子における強誘電性液晶の配向方
法としては、セル内において温度勾配を形成して相転移
に伴い順次的な配向形成をさせる方法(温度勾配法)や
、上下基板を一定方向に摺動させて配向させる方法(シ
アリング法)等が行なわれていたが、これらの方法は量
産性、安定性に乏しく、工業的には不適当な方法である
。
法としては、セル内において温度勾配を形成して相転移
に伴い順次的な配向形成をさせる方法(温度勾配法)や
、上下基板を一定方向に摺動させて配向させる方法(シ
アリング法)等が行なわれていたが、これらの方法は量
産性、安定性に乏しく、工業的には不適当な方法である
。
他方、工業的に有利な方法としては、従来、TN(ツィ
ステッド ネマチック: Twisted Nes+a
tic)方式の液晶セルに使用されている方法であるラ
ビング法および斜方蒸着法が有用である。
ステッド ネマチック: Twisted Nes+a
tic)方式の液晶セルに使用されている方法であるラ
ビング法および斜方蒸着法が有用である。
ラビング法は、一般にはrTO(インジウム チン オ
キサイド)′等の透明電極上にPI(ポリイミド)、P
VA(ポリビニルアルコール)等の有機薄膜(400〜
2000人)を形成し、その上をナイロン、アセテート
、コツトン等の植毛布(毛足の長さが0.11〜2.0
+u+ )で均一にこする(ラビング: Rub’bi
ng )ことによってネマチック液晶の分子長軸をラビ
ング方向に平均的にそろえようとする方法であり、TN
、 SBE等の液晶素子では実績がある。
キサイド)′等の透明電極上にPI(ポリイミド)、P
VA(ポリビニルアルコール)等の有機薄膜(400〜
2000人)を形成し、その上をナイロン、アセテート
、コツトン等の植毛布(毛足の長さが0.11〜2.0
+u+ )で均一にこする(ラビング: Rub’bi
ng )ことによってネマチック液晶の分子長軸をラビ
ング方向に平均的にそろえようとする方法であり、TN
、 SBE等の液晶素子では実績がある。
ところが、この方法をそのまま強誘電性液晶の配向に適
用しようとすると、上下の基板間で分子(ダイレクタ)
の方向をねじる必要がないので。
用しようとすると、上下の基板間で分子(ダイレクタ)
の方向をねじる必要がないので。
TN素子の配向の場合と異なり、上下同方向もしくは相
反する方向にラビング処理を行なう。
反する方向にラビング処理を行なう。
このような配向処理方法で強誘電性液晶分子を配向させ
た場合には、Sac”相でスプレィ(SPLAY)配向
を取り易い、このスプレィ配向では、セル厚方向におい
て分子の方向がねじれているために、見かけのチルト角
θaが小さく、透過光量が少なくなり、TN素子では3
0%を越えるのに対して5%程度になってしまい、コン
トラストが低下し、さらにジグザグ欠陥等の欠陥が多く
発生し、その制御が困難であるなど、デイスプレィとし
ては望ましくない配向状態となる。
た場合には、Sac”相でスプレィ(SPLAY)配向
を取り易い、このスプレィ配向では、セル厚方向におい
て分子の方向がねじれているために、見かけのチルト角
θaが小さく、透過光量が少なくなり、TN素子では3
0%を越えるのに対して5%程度になってしまい、コン
トラストが低下し、さらにジグザグ欠陥等の欠陥が多く
発生し、その制御が困難であるなど、デイスプレィとし
ては望ましくない配向状態となる。
また、SiOの斜方蒸着膜を配向膜として用いる場合は
、−船釣にスイッチングの閾値を上げたり、その他にも
安定状態が多数存在することや、平均的に層方向に消光
位をもつ配向状態が優勢になり、マトリックス駆動し難
いなどの問題があった。
、−船釣にスイッチングの閾値を上げたり、その他にも
安定状態が多数存在することや、平均的に層方向に消光
位をもつ配向状態が優勢になり、マトリックス駆動し難
いなどの問題があった。
[発明が解決しようとする問題点]
以上述べてた様に、対向して設けられた2極の電極基板
の両面に設けた有機膜のラビング処理もしくは両面に設
けたSiOの斜方蒸着などの方法を用いて配向処理を施
した場合には、■見かけのチルト角θaが小さく、透過
光量が少ない、■消光位でのもれ光が大きく、コントラ
ストが低い、■その他のジグザグ欠陥等の欠陥が多く生
じ、表示品質が悪い等の欠点があった。
の両面に設けた有機膜のラビング処理もしくは両面に設
けたSiOの斜方蒸着などの方法を用いて配向処理を施
した場合には、■見かけのチルト角θaが小さく、透過
光量が少ない、■消光位でのもれ光が大きく、コントラ
ストが低い、■その他のジグザグ欠陥等の欠陥が多く生
じ、表示品質が悪い等の欠点があった。
本発明は、この様な従来技術の欠点を改善するためにな
されたものであり、見かけのチルト角θaが大きく、透
過光量が多く、消光位での光学品質を向上した強誘電性
液晶素子を提供することを目的とするものである。
されたものであり、見かけのチルト角θaが大きく、透
過光量が多く、消光位での光学品質を向上した強誘電性
液晶素子を提供することを目的とするものである。
[問題点を解決するための手段]
即ち、本発明は、対向して設けられた2極の電極基板間
に強誘電性液晶を挟持してなる液晶素子において、一方
の電極基板上に、有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成した配
向膜を設けてなることを特徴とする強誘電性液晶素子で
ある。
に強誘電性液晶を挟持してなる液晶素子において、一方
の電極基板上に、有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成した配
向膜を設けてなることを特徴とする強誘電性液晶素子で
ある。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の強誘電性液晶素子は、対向して設けられた2極
の電極基板の一方の電極基板上に、有機g膜上にSiO
またはWolの斜方蒸着膜を形成した配向膜を設け、前
記2極の電極基板間に強誘電性液晶を挟持してなるもの
である。
の電極基板の一方の電極基板上に、有機g膜上にSiO
またはWolの斜方蒸着膜を形成した配向膜を設け、前
記2極の電極基板間に強誘電性液晶を挟持してなるもの
である。
前記2極の電極基板上には配向膜が設けられているが、
その一方には上記の様に有機薄膜上にSiOまたはWO
3の斜方蒸着膜を形成してなるものであるが、他方の配
向膜は特に限定はないが、好ましくは下記に示す様に、 ■ラビング処理またはイオンビームエツチング処理等の
一軸性処理を施した有機薄膜上にSiOまたはWO3の
斜方蒸着膜を形成してなるもの■有機薄膜上にSiOま
たはWO3の斜方蒸着膜を形成してなるもの ■無機膜上にSiOまたはWO3の斜方蒸着膜を形成し
てなるもの ■無a膜からなるもの ■SiOまたはWO3の斜方蒸着膜の上に有機薄膜を形
成してなるもの ■無方向性の有機薄膜からなるもの ■有機薄膜上をラビング処理もしくはイオンビームエツ
チング処理を施したもの ■ITOまたはNESA (酸化インジウム In2
0a−x)等の透明導電体からなるもの ■SiOまたはWO3の斜方蒸着股上に有機薄膜を形成
し、該有機薄膜にラビング処理もしくはイオンビームエ
ツチング処理を施したもの 等が挙げられる。
その一方には上記の様に有機薄膜上にSiOまたはWO
3の斜方蒸着膜を形成してなるものであるが、他方の配
向膜は特に限定はないが、好ましくは下記に示す様に、 ■ラビング処理またはイオンビームエツチング処理等の
一軸性処理を施した有機薄膜上にSiOまたはWO3の
斜方蒸着膜を形成してなるもの■有機薄膜上にSiOま
たはWO3の斜方蒸着膜を形成してなるもの ■無機膜上にSiOまたはWO3の斜方蒸着膜を形成し
てなるもの ■無a膜からなるもの ■SiOまたはWO3の斜方蒸着膜の上に有機薄膜を形
成してなるもの ■無方向性の有機薄膜からなるもの ■有機薄膜上をラビング処理もしくはイオンビームエツ
チング処理を施したもの ■ITOまたはNESA (酸化インジウム In2
0a−x)等の透明導電体からなるもの ■SiOまたはWO3の斜方蒸着股上に有機薄膜を形成
し、該有機薄膜にラビング処理もしくはイオンビームエ
ツチング処理を施したもの 等が挙げられる。
本発明において、配向膜の有機薄膜上に形成したSiO
またはWO3の斜方蒸着膜の膜厚は通常100〜600
0人、好ましく 1000〜2000人が望ましい。
またはWO3の斜方蒸着膜の膜厚は通常100〜600
0人、好ましく 1000〜2000人が望ましい。
本発明における有機薄膜には、ポリイミド、ポリビニル
アルコール、ポリアクリロニトリル等が用いられ、その
膜厚は通常20〜2000人、好ましく20〜500人
が望ましい。また、有機薄膜に施すラビング処理もしく
はイオンビームエツチング処理は、特に限定することは
なく通常の方法で行なうことができる。なお、イオンビ
ームエツチング処理としては、例えば、ミラトロン社(
MILLATORN社)製のイオンビーム発生装置を用
い、3 X 10−’torrの真空度にした後に、A
rガスを導入して、2.1 X 10−’torrに安
定させ、イオン密度に関係するイオンソース電流を20
0mA 、イオン速度と関係するアウト プツト(OU
T PUT )電圧を1kVに設定して、イオンビーム
な20m5ecだけ照射することによ゛り形成すること
ができる。イオンビームの基板法線に対する入射角は8
0.0°とする。
アルコール、ポリアクリロニトリル等が用いられ、その
膜厚は通常20〜2000人、好ましく20〜500人
が望ましい。また、有機薄膜に施すラビング処理もしく
はイオンビームエツチング処理は、特に限定することは
なく通常の方法で行なうことができる。なお、イオンビ
ームエツチング処理としては、例えば、ミラトロン社(
MILLATORN社)製のイオンビーム発生装置を用
い、3 X 10−’torrの真空度にした後に、A
rガスを導入して、2.1 X 10−’torrに安
定させ、イオン密度に関係するイオンソース電流を20
0mA 、イオン速度と関係するアウト プツト(OU
T PUT )電圧を1kVに設定して、イオンビーム
な20m5ecだけ照射することによ゛り形成すること
ができる。イオンビームの基板法線に対する入射角は8
0.0°とする。
また、無aSにはSiO*、 Tj02. Ta20g
、 wOzまたはAR203が用いられ、その膜厚は通
常400〜2000人、好ましく500〜1000人が
望ましい。
、 wOzまたはAR203が用いられ、その膜厚は通
常400〜2000人、好ましく500〜1000人が
望ましい。
本発明において、2極の電極基板の一方の電極基板上に
設ける配向膜は、電極基板上に、有機薄膜を塗布して形
成した後、SiOまたはWO3を斜方蒸着することによ
り容易に形成することができる。
設ける配向膜は、電極基板上に、有機薄膜を塗布して形
成した後、SiOまたはWO3を斜方蒸着することによ
り容易に形成することができる。
[作用]
本発明の強誘電性液晶素子は、対向して設けられた2極
の電極基板間に強誘電性液晶を挟持してなる液晶素子に
おいて、一方の電極基板上に、有機薄膜上にSiOまた
は10−Jの斜方蒸着膜を形成した配向膜を設けてなる
ので、その詳細は不明であるが、斜方蒸着膜の下の層の
特性により、見かけのチルト角Oaが大きく、透過光量
が多く、消光位でのもれ光を少なく、コントラストを高
くし、光学品質を向上することができる。
の電極基板間に強誘電性液晶を挟持してなる液晶素子に
おいて、一方の電極基板上に、有機薄膜上にSiOまた
は10−Jの斜方蒸着膜を形成した配向膜を設けてなる
ので、その詳細は不明であるが、斜方蒸着膜の下の層の
特性により、見かけのチルト角Oaが大きく、透過光量
が多く、消光位でのもれ光を少なく、コントラストを高
くし、光学品質を向上することができる。
[実施例]
以下、実施例を示し本発明をさらに具体的に説明する。
実施例1および比較例1
第1図は本発明の強誘電性液晶素子の一実施例を示す断
面図である。同図に示す素子を下記の方法により作成し
た。
面図である。同図に示す素子を下記の方法により作成し
た。
先ず、液晶を支持するガラス基板lの上に、 EB蒸着
法により膜厚約1000人のITO電極2をパターン形
成した0次いで、該ITO電極2上にスパッタ法によっ
て膜厚約1000人の5i02[3を形成した。
法により膜厚約1000人のITO電極2をパターン形
成した0次いで、該ITO電極2上にスパッタ法によっ
て膜厚約1000人の5i02[3を形成した。
次に、前記SiO□膜3上に、ポリイミド(5P−71
0:東し社製)を2%DMAC溶液としてスピンナー塗
布した後、300℃にて焼成し、膜厚約500人の有機
薄膜4を形成した。該有機膜[4の上にSiOの斜方蒸
着gsを、4 x 1G−’torr(7)圧力で、入
射角度82° (基板法線に対して)で、垂直方向の厚
み1200人に蒸着して形成した。
0:東し社製)を2%DMAC溶液としてスピンナー塗
布した後、300℃にて焼成し、膜厚約500人の有機
薄膜4を形成した。該有機膜[4の上にSiOの斜方蒸
着gsを、4 x 1G−’torr(7)圧力で、入
射角度82° (基板法線に対して)で、垂直方向の厚
み1200人に蒸着して形成した。
この様にして得られた2枚の基板を基板への入射方向と
反対方向となる様に対向せしめて、シーリング部材6と
して、チッソ社製LIXON BOND1002ABを
使用し、セルギャップをコントロールする目的で、直径
的1pmのSin、の粒子をセル内に均一に散布し、上
下基板間隔を約1.1 gtaになる様に貼り合せた0
強誘電性液晶7として、チッソ社製C5−1014をセ
ルに注入した。
反対方向となる様に対向せしめて、シーリング部材6と
して、チッソ社製LIXON BOND1002ABを
使用し、セルギャップをコントロールする目的で、直径
的1pmのSin、の粒子をセル内に均一に散布し、上
下基板間隔を約1.1 gtaになる様に貼り合せた0
強誘電性液晶7として、チッソ社製C5−1014をセ
ルに注入した。
このようにして作成したセルを等吉相まで昇温した後、
ch相→S■A相→S■C1′相への相転移時に適度な
(〜lO℃/hr )徐冷を行なうことによって、均一
な配向がセル全体において得られた。
ch相→S■A相→S■C1′相への相転移時に適度な
(〜lO℃/hr )徐冷を行なうことによって、均一
な配向がセル全体において得られた。
この様にして得られた強誘電性液晶素子の配向状態を偏
光顕微鏡で観察した結果1通常のラビングセルで生じる
ようなジグザグ欠陥は生じなかった。また、SiOの斜
め蒸着により見られるような消光位方向のばらつきも認
められなかった。見かけのチルト角は12.5@であっ
た。
光顕微鏡で観察した結果1通常のラビングセルで生じる
ようなジグザグ欠陥は生じなかった。また、SiOの斜
め蒸着により見られるような消光位方向のばらつきも認
められなかった。見かけのチルト角は12.5@であっ
た。
比較例1として、前記5in2膜3上に形成した有機薄
膜4のポリイミド(5P−710:東し社製)をラビン
グ処理してからSiOの斜方蒸着を行なったところ、ご
く細い5〜30終■位のピッチで周期的な細い欠陥が認
められた。このようなごく細いピッチで形成される細い
欠陥は、ラビング処理の上にSiOの斜め蒸着を行った
ために生じたものと思われる。
膜4のポリイミド(5P−710:東し社製)をラビン
グ処理してからSiOの斜方蒸着を行なったところ、ご
く細い5〜30終■位のピッチで周期的な細い欠陥が認
められた。このようなごく細いピッチで形成される細い
欠陥は、ラビング処理の上にSiOの斜め蒸着を行った
ために生じたものと思われる。
実施例1においては、上記の様な周期的な細い欠陥は無
くなっていた。なお、以下の実施例においても同様に欠
陥は無くなっていた。
くなっていた。なお、以下の実施例においても同様に欠
陥は無くなっていた。
なお、SiOの斜方蒸着膜として、膜厚600〜120
0人、入射角度は75@〜88@で形成したものを用い
ても、上記とほぼ同様の結果が得られた。
0人、入射角度は75@〜88@で形成したものを用い
ても、上記とほぼ同様の結果が得られた。
実施例2
実施例1における他方の配向膜の構成において、有機薄
膜をラビング等の処理による表面形状の処理を行ない、
SiOの斜方蒸着を行うことによって、より双安定な動
作を行なわせることがてきた。
膜をラビング等の処理による表面形状の処理を行ない、
SiOの斜方蒸着を行うことによって、より双安定な動
作を行なわせることがてきた。
これも、ラビングセルにおける欠陥、斜方蒸着セルにお
けるばらつきに関しては実施例1と同様に改善されてい
た。また、見かけのチルト角は15@であった。
けるばらつきに関しては実施例1と同様に改善されてい
た。また、見かけのチルト角は15@であった。
実施例3
実施例1において、他方の配向膜の構成を有機膜に替え
て、無機[SiO,上にSiOの斜方蒸着を行ったもの
は、均一性は劣るが見かけのチルト角が15°と大きく
なり、透過光量が増加した。
て、無機[SiO,上にSiOの斜方蒸着を行ったもの
は、均一性は劣るが見かけのチルト角が15°と大きく
なり、透過光量が増加した。
実施例4
実施例1において、他方の配向膜を次のように形成した
。
。
ITO電極上にSiO□膜を形成し、その上にSiOの
斜方蒸着膜を法線角度=75°で蒸着を行い、カラム長
約2000人に形成し、その上層にポリイミド(5P−
710)の0.5%溶液DMACをスピンナーで300
0rpmで塗布した。
斜方蒸着膜を法線角度=75°で蒸着を行い、カラム長
約2000人に形成し、その上層にポリイミド(5P−
710)の0.5%溶液DMACをスピンナーで300
0rpmで塗布した。
不規則な欠陥のない配向が得られた。
実施例5
実施例1において他方の配向膜を次のように形成した。
ITO電極上に5iOzの1000人のスパッタ膜を形
成し、その上にポリイミド(SP−710)の1000
人の薄膜を形成した。
成し、その上にポリイミド(SP−710)の1000
人の薄膜を形成した。
欠陥は存在するが、双安定性の良い配向が得られた。
実施例6
実施例1において、基板の他方の配向膜を次のように形
成した。
成した。
ITO電極上に5in2の1000人のスパッタ膜を形
成し、その上にSin、 Wo、の斜方蒸着膜を形成し
、さらにその上にポリイミド(5P−710)の100
0人の薄膜を形成し、その上をアセテート布でラビング
処理した。
成し、その上にSin、 Wo、の斜方蒸着膜を形成し
、さらにその上にポリイミド(5P−710)の100
0人の薄膜を形成し、その上をアセテート布でラビング
処理した。
その結果は均一配向が得られた。
実施例7
実施例5において、ポリイミド(SP−710)上をラ
ビング処理(アセテート布)を行ったものを使用した。
ビング処理(アセテート布)を行ったものを使用した。
双安定性がやや劣るが、均一配向性が増大した。
実施例8
実施例1において、他方の配向膜を、配向処理を行わず
に、ITO,NESA等の透明電極基板で構成する場合
や、Sin、、 Tie、等の無機膜で構成した場合で
は欠陥は多いが、双安定性を有する配向状態であった。
に、ITO,NESA等の透明電極基板で構成する場合
や、Sin、、 Tie、等の無機膜で構成した場合で
は欠陥は多いが、双安定性を有する配向状態であった。
上記の各実施例に示す様に、一方の電極基板上に形成し
た有機薄膜上にSiOまたはWOiの斜方蒸着膜に対し
て、他方の配向膜に用いる物質及びその処理の仕方によ
って、いずれのメリットが強調されるかが異なっている
ことが認められる。
た有機薄膜上にSiOまたはWOiの斜方蒸着膜に対し
て、他方の配向膜に用いる物質及びその処理の仕方によ
って、いずれのメリットが強調されるかが異なっている
ことが認められる。
[発明の効果]
本発明によれば、強誘電性液晶配向膜として、一方の配
向膜にSiOまたはWO3等の斜方蒸着膜を用いて、他
方に有機、無機膜もしくはそのラビング膜等を用いるこ
とにより、見かけのチルト角θaが大きく、透過光量が
多く、消光位での光学品質を向上した強誘電性液晶素子
を得ることができる。
向膜にSiOまたはWO3等の斜方蒸着膜を用いて、他
方に有機、無機膜もしくはそのラビング膜等を用いるこ
とにより、見かけのチルト角θaが大きく、透過光量が
多く、消光位での光学品質を向上した強誘電性液晶素子
を得ることができる。
第1図は本発明の強誘電性液晶素子の一実施例を示す断
面図である。 l・・・ガラス基板 2−ITO電極3・”5i
ft膜 4・・・有機薄膜5−−−3iOの
斜方蒸着膜 6・・・シーリング部材7・・・強誘電性
液晶
面図である。 l・・・ガラス基板 2−ITO電極3・”5i
ft膜 4・・・有機薄膜5−−−3iOの
斜方蒸着膜 6・・・シーリング部材7・・・強誘電性
液晶
Claims (15)
- (1)対向して設けられた2極の電極基板間に強誘電性
液晶を挟持してなる液晶素子において、一方の電極基板
上に、有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成した配向膜を設け
てなることを特徴とする強誘電性液晶素子。 - (2)対向して設けられた電極基板上の配向膜が、一方
は有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものであり、
他方はラビング処理またはイオンビームエッチング処理
の一軸性処理を施した有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成し
てなるものである特許請求の範囲第1項記載の強誘電性
液晶素子。 - (3)対向して設けられた電極基板上の配向膜が、一方
は有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものであり、
他方も有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものであ
る特許請求の範囲第1項記載の強誘電性液晶素子。 - (4)対向して設けられた電極基板上の配向膜が、一方
は有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものであり、
他方は無機膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものである
特許請求の範囲第1項記載の強誘電性液晶素子。 - (5)対向して設けられた電極基板上の配向膜が、一方
は有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものであり、
他方は無機膜である特許請求の範囲第1項記載の強誘電
性液晶素子。 - (6)対向して設けられた電極基板上の配向膜が、一方
は有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものであり、
他方は斜方蒸着膜の上に有機薄膜を形成してなるもので
ある特許請求の範囲第1項記載の強誘電性液晶素子。 - (7)対向して設けられた電極基板上の配向膜が、一方
は有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものであり、
他方は無方向性の有機薄膜である特許請求の範囲第1項
記載の強誘電性液晶素子。 - (8)対向して設けられた電極基板上の配向膜が、一方
は有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものであり、
他方は有機薄膜上をラビング処理もしくはイオンビーム
エッチング処理を施したものである特許請求の範囲第1
項記載の強誘電性液晶素子。 - (9)対向して設けられた電極基板上の配向膜が、一方
は有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものであり、
他方は透明導電体である特許請求の範囲第1項記載の強
誘電性液晶素子。 - (10)対向して設けられた電極基板上の配向膜が、一
方は有機薄膜上に斜方蒸着膜を形成してなるものであり
、他方は斜方蒸着膜上に有機薄膜を形成し、該有機薄膜
にラビング処理もしくはイオンビームエッチング処理を
施したものである特許請求の範囲第1項記載の強誘電性
液晶素子。 - (11)有機薄膜が、ポリイミド、ポリビニルアルコー
ル、ポリアクリロニトリルである特許請求の範囲第1項
乃至第10項のいずれかの項記載の強誘電性液晶素子。 - (12)無機膜がSiO_2、TiO_2、Ta_2O
_5、WO_3またはAl_2O_3である特許請求の
範囲第4項または第5項記載の強誘電性液晶素子。 - (13)前記一方の斜方蒸着膜がSiOまたはWO_3
の斜方蒸着膜である特許請求の範囲第1項乃至第10項
のいずれかの項記載の強誘電性液晶素子。 - (14)前記他方の斜方蒸着膜がSiOまたはWO_3
の斜方蒸着膜である特許請求の範囲第2項、第3項、第
4項、第6項又は第10項記載の強誘電性液晶素子。 - (15)前記透明導電体がITOまたはNESAである
特許請求の範囲第9項記載の強誘電性液晶素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27730787A JPH01120534A (ja) | 1987-11-04 | 1987-11-04 | 強誘電性液晶素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27730787A JPH01120534A (ja) | 1987-11-04 | 1987-11-04 | 強誘電性液晶素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01120534A true JPH01120534A (ja) | 1989-05-12 |
Family
ID=17581714
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27730787A Pending JPH01120534A (ja) | 1987-11-04 | 1987-11-04 | 強誘電性液晶素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01120534A (ja) |
-
1987
- 1987-11-04 JP JP27730787A patent/JPH01120534A/ja active Pending
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