JPH01127228U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH01127228U JPH01127228U JP1988022105U JP2210588U JPH01127228U JP H01127228 U JPH01127228 U JP H01127228U JP 1988022105 U JP1988022105 U JP 1988022105U JP 2210588 U JP2210588 U JP 2210588U JP H01127228 U JPH01127228 U JP H01127228U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- type electronic
- electronic component
- electrodes
- test electrodes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例を示す拡大斜視図
、第２図はこの考案のチツプ型電子部品を基板に
実装した状態を表わす平面図、第３図は従来のチ
ツプ型電子部品の拡大斜視図、第４図は従来のチ
ツプ型電子部品を基板に実装した状態を表わす平
面図である。 １……チツプ型電子部品、２，２……電極、３
……テスト用電極部。
、第２図はこの考案のチツプ型電子部品を基板に
実装した状態を表わす平面図、第３図は従来のチ
ツプ型電子部品の拡大斜視図、第４図は従来のチ
ツプ型電子部品を基板に実装した状態を表わす平
面図である。 １……チツプ型電子部品、２，２……電極、３
……テスト用電極部。
Claims (1)
- 基板に実装されるチツプ型電子部品において、
このチツプ型電子部品の両側端部に設けられた電
極の夫々の内側に延設してテスト用電極部を形成
し、このテスト用電極部によつて実装基板のテス
トをするようにしたことを特徴とするチツプ型電
子部品の構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988022105U JPH01127228U (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988022105U JPH01127228U (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01127228U true JPH01127228U (ja) | 1989-08-31 |
Family
ID=31239921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988022105U Pending JPH01127228U (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01127228U (ja) |
-
1988
- 1988-02-22 JP JP1988022105U patent/JPH01127228U/ja active Pending