JPH01128234A - 光ディスク記録方法 - Google Patents
光ディスク記録方法Info
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- JPH01128234A JPH01128234A JP62287029A JP28702987A JPH01128234A JP H01128234 A JPH01128234 A JP H01128234A JP 62287029 A JP62287029 A JP 62287029A JP 28702987 A JP28702987 A JP 28702987A JP H01128234 A JPH01128234 A JP H01128234A
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、書込可能形光ディスクに情報を記録し、再
生するための新規な光ディスク記録システムに関し、記
録後のディスクをCD(コンパクト・ディスク)、CD
−ROM、CI)−I (対話形CD)、CDV (ビ
デオ付CD)、LV(レーザディスク・ビジョン)等の
再生専用として規格化された光ディスク(本願ではこれ
を「再生専用光ディスク」という。)の再生装置を兼用
して再生できるようにして、専用の再生装置を不要とし
たものである。
生するための新規な光ディスク記録システムに関し、記
録後のディスクをCD(コンパクト・ディスク)、CD
−ROM、CI)−I (対話形CD)、CDV (ビ
デオ付CD)、LV(レーザディスク・ビジョン)等の
再生専用として規格化された光ディスク(本願ではこれ
を「再生専用光ディスク」という。)の再生装置を兼用
して再生できるようにして、専用の再生装置を不要とし
たものである。
従来、書込可能形光ディスクとして、D RAW(追記
形)、E−DR,AW(消去可能形)ディスクがあった
。DRAWディスクは1度たけ書込が可能なもので、例
えばレーザ光照射で発生した熱によって金属記録膜を焼
き切って情報ピットを形成するものかある。
形)、E−DR,AW(消去可能形)ディスクがあった
。DRAWディスクは1度たけ書込が可能なもので、例
えばレーザ光照射で発生した熱によって金属記録膜を焼
き切って情報ピットを形成するものかある。
・E−DRAWディスクは記録の書換が可能なもので、
光磁気記録を利用したものや、結晶状態とアモルファス
状態との間の相変化を利用したもの等がある。
光磁気記録を利用したものや、結晶状態とアモルファス
状態との間の相変化を利用したもの等がある。
上記従来のDRAWディスク、E−DRAWディスクで
は、再生専用光ディスク(CD、CD−ROM、CD−
I、CDV、LV等)と記録フォーマットやディスク形
状(外径等)、回転速度等が異なるため、これら再生専
用光ディスクの再生装置では再生することができなかっ
た。
は、再生専用光ディスク(CD、CD−ROM、CD−
I、CDV、LV等)と記録フォーマットやディスク形
状(外径等)、回転速度等が異なるため、これら再生専
用光ディスクの再生装置では再生することができなかっ
た。
また、記録フォーマットやディスク形状を再生専用光デ
ィスクと同じにしたとしても、光磁気や光相変化を利用
したものでは光反射率が低く(ミラ一部反射率が例えば
50%以下)、再生専用光ディスクでは再生することが
できなかった。
ィスクと同じにしたとしても、光磁気や光相変化を利用
したものでは光反射率が低く(ミラ一部反射率が例えば
50%以下)、再生専用光ディスクでは再生することが
できなかった。
また、従来のレーザ光照射で金属膜を焼き切って情報ピ
ットを形成するものでは、反射率は充分とし得るが、記
録に強力なガスレーザ等が必要であり、記録装置が大型
かつ高価になり、民生機器として利用することはできな
かった。
ットを形成するものでは、反射率は充分とし得るが、記
録に強力なガスレーザ等が必要であり、記録装置が大型
かつ高価になり、民生機器として利用することはできな
かった。
−4=
この発明は、前記従来の技術における問題点を解決して
再生に再生専用ディスクの再生装置を兼用することがで
き、かつ記録装置を小形かつ安価に構成することかでき
る光ディスク記録システムを提供しようとするものであ
る。
再生に再生専用ディスクの再生装置を兼用することがで
き、かつ記録装置を小形かつ安価に構成することかでき
る光ディスク記録システムを提供しようとするものであ
る。
この発明は、記録担体手段と、記録装置とからなるもの
であり、記録担体手段は半導体レーザで記録可能でかつ
光反射率の比較的高い判料で記録面が構成されると共に
、機械的寸法が再生専用光ディスクの規格寸法に合致す
るように構成され、さらに浅目のプリグルーブを有して
なる光ディスクからなり、記録装置は記録すべき入力信
号を前記再生専用光ディスクの規格フォーマットに合致
するマーク長記録方式のデータ信号として所定の転送速
度で出力するデータ信号出力手段と、前記再生専用光デ
ィスクの規格速度で前記記録担体手段を駆動すると共に
前記再生専用光ディスクの規格トラックピッチに合致す
るように前記記録担体手段と前記半導体レーザとの位置
を制御する駆動制御手段と、前記データ信号出力手段の
出力に応じて前記半導体レーザの照射状態を制御するレ
ーザ制御手段とを有するものであり、前記記録装置で記
録した前記記録担体手段を再生専用光ディスクの再生装
置を兼用して再生できるようにしたことを特徴とするも
のである。
であり、記録担体手段は半導体レーザで記録可能でかつ
光反射率の比較的高い判料で記録面が構成されると共に
、機械的寸法が再生専用光ディスクの規格寸法に合致す
るように構成され、さらに浅目のプリグルーブを有して
なる光ディスクからなり、記録装置は記録すべき入力信
号を前記再生専用光ディスクの規格フォーマットに合致
するマーク長記録方式のデータ信号として所定の転送速
度で出力するデータ信号出力手段と、前記再生専用光デ
ィスクの規格速度で前記記録担体手段を駆動すると共に
前記再生専用光ディスクの規格トラックピッチに合致す
るように前記記録担体手段と前記半導体レーザとの位置
を制御する駆動制御手段と、前記データ信号出力手段の
出力に応じて前記半導体レーザの照射状態を制御するレ
ーザ制御手段とを有するものであり、前記記録装置で記
録した前記記録担体手段を再生専用光ディスクの再生装
置を兼用して再生できるようにしたことを特徴とするも
のである。
この発明によれば、記録装置は再生専用光ディスクに合
致した規格フォーマット、トラックピンチ、転送速度お
よび回転数で規格寸法に合致した記録担体手段に記録を
行なうので、再生専用光ディスクの再生装置を兼用して
再生することができる。
致した規格フォーマット、トラックピンチ、転送速度お
よび回転数で規格寸法に合致した記録担体手段に記録を
行なうので、再生専用光ディスクの再生装置を兼用して
再生することができる。
しかも、記録担体は光反射率の比較的高い材料で記録面
が構成されているので、再生専用光ディスクの再生装置
に用いられている半導体レーザで十分に再生することが
できる。
が構成されているので、再生専用光ディスクの再生装置
に用いられている半導体レーザで十分に再生することが
できる。
また、記録担体手段は浅目のプリグルーブを有している
なめ、後述するように、記録装置は比較的低いレーザ光
パワーで記録担体手段に記録することができるので、半
導体レーザが利用でき、記録装置を小型かつ安価に構成
することができ、民生機器としての用途も十分実現でき
る。
なめ、後述するように、記録装置は比較的低いレーザ光
パワーで記録担体手段に記録することができるので、半
導体レーザが利用でき、記録装置を小型かつ安価に構成
することができ、民生機器としての用途も十分実現でき
る。
なお、記録装置にデータ信号をそのピット相当長および
直前ブランク相当長に応じて波形補正するデータ信号補
正手段を具えれば、高密度かつ低ジツタにて記録を行な
うことができる。
直前ブランク相当長に応じて波形補正するデータ信号補
正手段を具えれば、高密度かつ低ジツタにて記録を行な
うことができる。
この発明の一実施例を以下に説明する。
第1図はこの発明の一実施例を示すもので、記録から再
生を行なうシステム全体の概要を示したものである。
生を行なうシステム全体の概要を示したものである。
光ディスク1(記録担体手段)は、半導体レーザで記録
可能でかつ光反射率の比較的高い材料で記録面が構成さ
れると共に、機械的寸法が再生装置3で再生される再生
専用光ディスク(CD。
可能でかつ光反射率の比較的高い材料で記録面が構成さ
れると共に、機械的寸法が再生装置3で再生される再生
専用光ディスク(CD。
CD−ROM、CD−I、CDV、LV等)の規格寸法
に合致するように構成され、さらに浅目のプリグルーブ
を有してなる。
に合致するように構成され、さらに浅目のプリグルーブ
を有してなる。
゛記録装置2は、記録すべき入力信号を再生装置3で再
生される再生専用光ディスクのgAM!iフォーマット
に合致するマーク長記録方式のデータ信号として所定の
転送速度で出力し、かつ前記再生専用光ディスクの規格
速度で(CLVディスクの場合は規格線速度とデータ信
号の転送速度から決定される所定の回転数で、CAVデ
ィスクの場合は規格回転数で)光ディスク1を駆動する
と共に、前記再生専用光ディスクの規格トラックピッチ
に合致するように予め光ディスク1上に形成しであるプ
リグルーブにより該光ディスク1と半導体レーザとの位
置を制御し、前記データ信号に応じて前記半導体レーザ
の照射状態を制御して光ディスク1の記録面を破ってピ
ットを形成し、光ディスク1への記録を行なう。
生される再生専用光ディスクのgAM!iフォーマット
に合致するマーク長記録方式のデータ信号として所定の
転送速度で出力し、かつ前記再生専用光ディスクの規格
速度で(CLVディスクの場合は規格線速度とデータ信
号の転送速度から決定される所定の回転数で、CAVデ
ィスクの場合は規格回転数で)光ディスク1を駆動する
と共に、前記再生専用光ディスクの規格トラックピッチ
に合致するように予め光ディスク1上に形成しであるプ
リグルーブにより該光ディスク1と半導体レーザとの位
置を制御し、前記データ信号に応じて前記半導体レーザ
の照射状態を制御して光ディスク1の記録面を破ってピ
ットを形成し、光ディスク1への記録を行なう。
記録装置2で記録した光ディスク1はそれに適合したC
D、CD−ROM、CD−1,CDV。
D、CD−ROM、CD−1,CDV。
LV等の再生専用光ディスクの再生装置を利用して再生
される。
される。
なお、いずれの再生専用光ディスクシステムを適用する
かは、記録すべき入力データの種類に応じて定めること
ができる。例えばオーディオデータの場合はCDシステ
ムを利用することができる。
かは、記録すべき入力データの種類に応じて定めること
ができる。例えばオーディオデータの場合はCDシステ
ムを利用することができる。
この場合、光ディスク1としてCDの規格寸法に合致し
たものを使用し、記録装置2としてCDの規格フォーマ
ットおよび規格線速度でデータを光ディスク1に記録す
るものを使用し、再生装置3としてCDプレーヤあるい
はCDプレーヤとLVプレーヤ等との兼用機を使用する
ことができる。
たものを使用し、記録装置2としてCDの規格フォーマ
ットおよび規格線速度でデータを光ディスク1に記録す
るものを使用し、再生装置3としてCDプレーヤあるい
はCDプレーヤとLVプレーヤ等との兼用機を使用する
ことができる。
同様に、画像子オーディオデータの場合はLVシステム
やCDVシステム、コンピュータデータの場合はCD−
ROMシステム、コンピュータデータ、オーディオデー
タ、静止画データ等の各種ディジタルデータの場合はC
D−Iシステム等記録すべき入力データの種類に応じて
使用する再生専用光ディスクシステムの種類を定めるこ
とができる。
やCDVシステム、コンピュータデータの場合はCD−
ROMシステム、コンピュータデータ、オーディオデー
タ、静止画データ等の各種ディジタルデータの場合はC
D−Iシステム等記録すべき入力データの種類に応じて
使用する再生専用光ディスクシステムの種類を定めるこ
とができる。
次に第1図のシステムの具体例について説明する。ここ
では、再生専用光ディスクシステムとしてCDシステム
を利用して、既存のCDプレーヤで・再生できるように
記録担体手段に記録する場合について説明する。
では、再生専用光ディスクシステムとしてCDシステム
を利用して、既存のCDプレーヤで・再生できるように
記録担体手段に記録する場合について説明する。
ここでは記録担体手段の条件を第1表のように定める。
第2図に記録担体手段の一実施例を示す。
ディスク1は、ポリカーホネイトやアクリル(PM)I
A)等の透明のディスク基板10の表面にIn、Bi、
Sn等の合金(例えばIn−An−Ges合金)やTe
C系合金等からなる厚さ数1Onl′llの薄膜12を
形成し、これを、単板形式で用いたものである。
A)等の透明のディスク基板10の表面にIn、Bi、
Sn等の合金(例えばIn−An−Ges合金)やTe
C系合金等からなる厚さ数1Onl′llの薄膜12を
形成し、これを、単板形式で用いたものである。
11 一
基板10、薄膜12には、プリグルーブ(案内溝)16
′が形成され、このプリグルーブ16′上の薄M12部
分がレーザ光で焼き切られて孔か明き、この孔が情報を
記録するピット18となっている。プリグルーブ16′
の深さは20〜50nmに設定されている。また、プリ
グルーブ幅は、0.3μm〜1.3μmに設定されてい
る。
′が形成され、このプリグルーブ16′上の薄M12部
分がレーザ光で焼き切られて孔か明き、この孔が情報を
記録するピット18となっている。プリグルーブ16′
の深さは20〜50nmに設定されている。また、プリ
グルーブ幅は、0.3μm〜1.3μmに設定されてい
る。
第2図のようにプリグルーブ16′にピット18を記録
する場合はトラッキングエラー検出方法として3ビーム
法、プッシュプル法のいずれも使用できる。なお、第3
図のようにランド17にピット18を記録する場合は、
プッシュプル法は使用できず、3ビーム法が使用される
。
する場合はトラッキングエラー検出方法として3ビーム
法、プッシュプル法のいずれも使用できる。なお、第3
図のようにランド17にピット18を記録する場合は、
プッシュプル法は使用できず、3ビーム法が使用される
。
前述のようにディスク基板10の表面薄wA12をIn
、Bi、Sn等の合金(例えはIn−An−Ge s合
金)やTeC系合金等で構成すると、ミラー(プレーン
)部反射率を59〜75%に高めることができ、既存の
CD等の再生装置で再生可能となる。
、Bi、Sn等の合金(例えはIn−An−Ge s合
金)やTeC系合金等で構成すると、ミラー(プレーン
)部反射率を59〜75%に高めることができ、既存の
CD等の再生装置で再生可能となる。
また、第4図はミラ一部反射率と既存CDプレ一ヤとの
コンパチビリティ(100%を全てのCDプレーヤで再
生可能とした場合)および記録パワーとの関係を示した
ものである。プリグルーブ16′の深さをこの実施例の
ように20〜50nmとすると、ミラ一部反射率が59
%以上でコンパチビリティが約lOO%となる。これに
対し、従来のようにプリグルーブ16′の深さを深く(
例えば75nm)すると、ミラ一部反射率を75%以上
としないとコンパビリティは100%にならない。この
理由を簡単に説明する。ここで言うミラ一部反射率とは
、プリグルーブの無い部分の反射率であり、本来、プリ
グルーブを設けると、それたけで反射率かある程度下が
る。プリグルーブが浅ければ浅いほど反射率の下がる割
合が少なく、結局コンパチビリティが上がるわけである
6また、ミラ一部反射率を高めるようにA1等の金属膜
を形成すると、レーザ光照射で金属膜12を破って記録
するのに高いレーザ光パワーが必要となり、従来のよう
にミラ一部反射率を75%以上にするには強力なカスレ
ーザ等が必要となるにれに対し、この実施例のように材
料の選定とプリグルーブブ°16′を25〜35nnと
浅目にすることにより、ミラ一部反射率を59〜75%
にすると、比較的低いレーザ光パワーで記録が可能とな
り、かつ約100%のコンパチビリティが得られ、半導
体レーザによる記録が可能となり、小型かつ安価に記録
装置を構成することかできる。
コンパチビリティ(100%を全てのCDプレーヤで再
生可能とした場合)および記録パワーとの関係を示した
ものである。プリグルーブ16′の深さをこの実施例の
ように20〜50nmとすると、ミラ一部反射率が59
%以上でコンパチビリティが約lOO%となる。これに
対し、従来のようにプリグルーブ16′の深さを深く(
例えば75nm)すると、ミラ一部反射率を75%以上
としないとコンパビリティは100%にならない。この
理由を簡単に説明する。ここで言うミラ一部反射率とは
、プリグルーブの無い部分の反射率であり、本来、プリ
グルーブを設けると、それたけで反射率かある程度下が
る。プリグルーブが浅ければ浅いほど反射率の下がる割
合が少なく、結局コンパチビリティが上がるわけである
6また、ミラ一部反射率を高めるようにA1等の金属膜
を形成すると、レーザ光照射で金属膜12を破って記録
するのに高いレーザ光パワーが必要となり、従来のよう
にミラ一部反射率を75%以上にするには強力なカスレ
ーザ等が必要となるにれに対し、この実施例のように材
料の選定とプリグルーブブ°16′を25〜35nnと
浅目にすることにより、ミラ一部反射率を59〜75%
にすると、比較的低いレーザ光パワーで記録が可能とな
り、かつ約100%のコンパチビリティが得られ、半導
体レーザによる記録が可能となり、小型かつ安価に記録
装置を構成することかできる。
第1図の記録装置2の具体例を第5図に示す。
光ディスク1はCDに適合した機械的寸法に構成されて
いる。
いる。
ディスクサーボ回路26は、システムコントローラ2つ
からの指令により、ディスクモータ22を線速度一定で
制御する。この線速度一定制御は、光ヘッド23の位置
に基づく演算制御で行なわれる。
からの指令により、ディスクモータ22を線速度一定で
制御する。この線速度一定制御は、光ヘッド23の位置
に基づく演算制御で行なわれる。
フォーカスサーボ゛および′トラッキングサーホロ路2
8は、システムコントローラ29がらの指令により、光
ヘツド23内の半導体レーザから照射されるレーザ光の
フォーカスおよびトラッキングを制御する。トラッキン
グ制御はディスク1に形成されたプリグルーブを検出す
ることにより行なわれる。フィードサーボ回路27はシ
ステムコントローラ29からの指令により、フィードモ
ータ30を駆動して光ヘッド23をディスク1の径方向
に移動させる。
8は、システムコントローラ29がらの指令により、光
ヘツド23内の半導体レーザから照射されるレーザ光の
フォーカスおよびトラッキングを制御する。トラッキン
グ制御はディスク1に形成されたプリグルーブを検出す
ることにより行なわれる。フィードサーボ回路27はシ
ステムコントローラ29からの指令により、フィードモ
ータ30を駆動して光ヘッド23をディスク1の径方向
に移動させる。
光ディスク1に記録すべき入力信号はディジタル信号の
場合は直接データ信号形成回路32に入力され、アナロ
グ信号の場合はA/D変換器34を経てデータ信号形成
回路32に入力される。この入力データのサンプリング
周波数およびデータビット数はCDデータに適合したも
のとされている。データ信号形成回路32は、入力デー
タにインクリーブをかけて、エラーチエツクコードを付
与し、サブコードを形成し、EFM変調してCDに適合
したフォーマットおよび転送レートで一連のシリアルデ
ータを形成し、出力する。
場合は直接データ信号形成回路32に入力され、アナロ
グ信号の場合はA/D変換器34を経てデータ信号形成
回路32に入力される。この入力データのサンプリング
周波数およびデータビット数はCDデータに適合したも
のとされている。データ信号形成回路32は、入力デー
タにインクリーブをかけて、エラーチエツクコードを付
与し、サブコードを形成し、EFM変調してCDに適合
したフォーマットおよび転送レートで一連のシリアルデ
ータを形成し、出力する。
このデータは、ドライブインターフェイス25を介して
データ信号補正回路36で所定の補正をされてレーザ発
生回路35に入力される。レーザ発生回路35はデータ
信号に応じて光ヘッド23内の半導体レーザを駆動して
レーザ光を光ディスク1の記録面に照射し、記録を行な
う。これにより、光ディスク1にはCDに適合したフォ
ーマット、転送速度および線速度(1,2〜1.4m/
s)でデータが記録される。
データ信号補正回路36で所定の補正をされてレーザ発
生回路35に入力される。レーザ発生回路35はデータ
信号に応じて光ヘッド23内の半導体レーザを駆動して
レーザ光を光ディスク1の記録面に照射し、記録を行な
う。これにより、光ディスク1にはCDに適合したフォ
ーマット、転送速度および線速度(1,2〜1.4m/
s)でデータが記録される。
次に、データ信号補正回路36によるデータ信号補正に
ついて説明する。
ついて説明する。
データ信号補正回路36は、データ信号をそのピット相
当長および直前ブランク相当長に応じて波形補正するも
のである。すなわち、光ディスク1の記録面へのレーザ
光熱的蓄積効果によるデータ信号タイミングと記録ピッ
トおよび゛ブランクとの位置すれをデータ信号タイミン
グを増減させることにより減少させると共に、記録され
たピット幅の増大をデータ信号タイミングを分割するこ
とにより防止している。具体的には、データ信号タイミ
ングの増減について、直前のブランク長が短いピットを
形成する場合に前記レーザ光の照射時間を短目にし、か
つ直前のブランク長が長いピット・を形成する場合に前
記レーザ光の照射開始を早め、かつ長いピットを形成す
る場合に前記レーザ光の照射時間を短目にしている。ま
た、データ信号タイミングの分割について、ピット幅が
0.3〜0.9μmの間に形成されるように分割数、各
分割レーザ光パルスのパルス幅やパルス強度が定められ
ている。
当長および直前ブランク相当長に応じて波形補正するも
のである。すなわち、光ディスク1の記録面へのレーザ
光熱的蓄積効果によるデータ信号タイミングと記録ピッ
トおよび゛ブランクとの位置すれをデータ信号タイミン
グを増減させることにより減少させると共に、記録され
たピット幅の増大をデータ信号タイミングを分割するこ
とにより防止している。具体的には、データ信号タイミ
ングの増減について、直前のブランク長が短いピットを
形成する場合に前記レーザ光の照射時間を短目にし、か
つ直前のブランク長が長いピット・を形成する場合に前
記レーザ光の照射開始を早め、かつ長いピットを形成す
る場合に前記レーザ光の照射時間を短目にしている。ま
た、データ信号タイミングの分割について、ピット幅が
0.3〜0.9μmの間に形成されるように分割数、各
分割レーザ光パルスのパルス幅やパルス強度が定められ
ている。
以下、これらの補正制御について詳しく説明する。
くデータ信号タイミングの増減制御について〉従来の記
録方法は、第6図(a)に示すように形成すべきピット
長に応じた時間分(例えばCDではITあなり231n
s)レーザ光を照射するか、あるいは同図<b>に示す
ように形成すべきピット長に応じた時間からある一定時
間t。を引いた時間分レーザ光を照射するようにしてい
た。
録方法は、第6図(a)に示すように形成すべきピット
長に応じた時間分(例えばCDではITあなり231n
s)レーザ光を照射するか、あるいは同図<b>に示す
ように形成すべきピット長に応じた時間からある一定時
間t。を引いた時間分レーザ光を照射するようにしてい
た。
ピット長あるいはブランク長は記録データの” 1 ”
または0″が連続する回数によって様々な長さを取り得
るが(CDフォーマットの場合3〜IIT)、形成され
るピット長はその直前のブランク長(以下「直前ブラン
ク長」という。)によって変化する。すなわち、直前ブ
ランク長が短いほどその前のピットを形成した際の熱が
次のピットを形成する際に影響して溶融しやすくするの
で、レーザ光の照射時間が同じでも直前ブランク長が短
いほどピットか長く形成されてしまう。
または0″が連続する回数によって様々な長さを取り得
るが(CDフォーマットの場合3〜IIT)、形成され
るピット長はその直前のブランク長(以下「直前ブラン
ク長」という。)によって変化する。すなわち、直前ブ
ランク長が短いほどその前のピットを形成した際の熱が
次のピットを形成する際に影響して溶融しやすくするの
で、レーザ光の照射時間が同じでも直前ブランク長が短
いほどピットか長く形成されてしまう。
第7図は形成されるピット長が直前ブランク長によって
変化する様子を3T、7T、IITの各ピットについて
示したものであるか(ピット長と同じ長さの直前ブラン
ク長の組合せを基準として、その基準Refからのずれ
でそれぞれ表わしている。)、この図かられかるように
、直前のブランク長が短いほどその前のピットを形成し
たときの熱の影響で溶融されやすくなっているので、照
射時間が同じでもピット長が長く形成されている。
変化する様子を3T、7T、IITの各ピットについて
示したものであるか(ピット長と同じ長さの直前ブラン
ク長の組合せを基準として、その基準Refからのずれ
でそれぞれ表わしている。)、この図かられかるように
、直前のブランク長が短いほどその前のピットを形成し
たときの熱の影響で溶融されやすくなっているので、照
射時間が同じでもピット長が長く形成されている。
このため、再生信号にジッタを多く含み、エラーが多く
あるいはS/Nの悪い再生信号となっていた。
あるいはS/Nの悪い再生信号となっていた。
また、直前ブランク長が変化すると、ピット長のみなら
ず照射開始位置とこの照射により形成され・るピット始
端位置との関係にも変化が生じる。
ず照射開始位置とこの照射により形成され・るピット始
端位置との関係にも変化が生じる。
すなわち、直前ブランク長が長くなるほど照射開始位置
からピット始端までの距離が長くなる。これは、直前ブ
ランク長が長くなるほどその直前のピットからの熱の影
響が少なくなって記録膜が溶爾虫しにくくなるためであ
る。
からピット始端までの距離が長くなる。これは、直前ブ
ランク長が長くなるほどその直前のピットからの熱の影
響が少なくなって記録膜が溶爾虫しにくくなるためであ
る。
このため、直前ブランク長にかかわらず照射開始位置を
一定にすると、直前ブランク長が長いほどピット始端位
置が後方にずれてしまい、ブランク長が正しく得られな
くなる。記録データとしてはピット長もブランク長も全
く同等のデータ重みを持っているので、これではやはり
再生信号にジッタを答むことになってしまう。
一定にすると、直前ブランク長が長いほどピット始端位
置が後方にずれてしまい、ブランク長が正しく得られな
くなる。記録データとしてはピット長もブランク長も全
く同等のデータ重みを持っているので、これではやはり
再生信号にジッタを答むことになってしまう。
また、ディスクにピットを形成する場合、ピット長を長
く形成する場合はどレーザ光の照射時間か長くなるため
、記録膜の加熱の度合が著しくなり、溶融しやすくなる
。
く形成する場合はどレーザ光の照射時間か長くなるため
、記録膜の加熱の度合が著しくなり、溶融しやすくなる
。
このため、前記第6図(a)あるいは(b)のようにピ
ット長の長短にかかわらす常にピット長に応じた時間分
レーザ光を照射するものでは、直前ブランク長が同じ場
合に例えば3Tのピットで= 19 − 規定のピット長になるようにレーサパワーを調整しても
、第8図に示すように記録しようとするピット長が長く
なるほど実際に形成されるピットは規定値より長くなっ
てしまう。これを再生波形のアイパターンで見ると、例
えは3〜IITの各ピットの直後にそれぞれ3Tのブラ
ンクを形成した再生波形のアイパターンは第9図に示す
ようになり、ピット長が長くなるほど3Tのブランクの
振幅が小さくなる。つまり、ピット長が長くなるほど規
定のピット長よりも長くなる。このため、レーザ光の照
射時間自体もジッタを生じる原因となっていた。
ット長の長短にかかわらす常にピット長に応じた時間分
レーザ光を照射するものでは、直前ブランク長が同じ場
合に例えば3Tのピットで= 19 − 規定のピット長になるようにレーサパワーを調整しても
、第8図に示すように記録しようとするピット長が長く
なるほど実際に形成されるピットは規定値より長くなっ
てしまう。これを再生波形のアイパターンで見ると、例
えは3〜IITの各ピットの直後にそれぞれ3Tのブラ
ンクを形成した再生波形のアイパターンは第9図に示す
ようになり、ピット長が長くなるほど3Tのブランクの
振幅が小さくなる。つまり、ピット長が長くなるほど規
定のピット長よりも長くなる。このため、レーザ光の照
射時間自体もジッタを生じる原因となっていた。
そこで、データ信号補正回路36では、直前ブランク長
が短いピットを形成する場合にレーザ光の照射時間を短
目にするようにしている。
が短いピットを形成する場合にレーザ光の照射時間を短
目にするようにしている。
すなわち、前述したように直前ブランク長が短いピット
の場合照射時間に対してピット長が長目に形成される傾
向かあるので、直前ブランク長が短いピットを形成する
場合にレーザ光の照射時間を面目にすることにより、長
目に形成される傾向が打ち消されて規定値に近いピット
長を形成することができる。これにより、ジッタの少な
い再生信号を得ることができ、エラーが少なくあるいは
S/Nのよい再生信号が得られる。
の場合照射時間に対してピット長が長目に形成される傾
向かあるので、直前ブランク長が短いピットを形成する
場合にレーザ光の照射時間を面目にすることにより、長
目に形成される傾向が打ち消されて規定値に近いピット
長を形成することができる。これにより、ジッタの少な
い再生信号を得ることができ、エラーが少なくあるいは
S/Nのよい再生信号が得られる。
また、前述のように直前ブランク長が長いほど照射開始
位置に対してピット始端位置が後方にずれる傾向がある
ので、データ信号補正口#t36では直前ブランク長が
長いピットを形成する場合にレーザ光の照射開始を早め
るようにして、ピット始端位置を正規の位置に規定して
、規定値に近いブランク長か得られるようにしている。
位置に対してピット始端位置が後方にずれる傾向がある
ので、データ信号補正口#t36では直前ブランク長が
長いピットを形成する場合にレーザ光の照射開始を早め
るようにして、ピット始端位置を正規の位置に規定して
、規定値に近いブランク長か得られるようにしている。
さら6士、前述のようにピットはピッl−長を長く形成
する場合はど照射時間に対して長目に形成される傾向が
あるので、長いピットを形成する場合に照射時間を短目
にして、長目に形成される傾向を打ち消して、より規定
値に近いピット長を形成することができるようにしてい
る。
する場合はど照射時間に対して長目に形成される傾向が
あるので、長いピットを形成する場合に照射時間を短目
にして、長目に形成される傾向を打ち消して、より規定
値に近いピット長を形成することができるようにしてい
る。
データ信号補正回路36による照射時間および照射開始
タイミングの補正制御の具体例について説明する。
タイミングの補正制御の具体例について説明する。
(1) 直前ブランク長による照射時間の補正前述の
ように、直前ブランク長が短いほど照射時間に対してピ
ット長が長目に形成される傾向があるので、第10図に
示すように、直前ブランク長か短いほど照射時間を短目
にして、この傾向を打ち消す。
ように、直前ブランク長が短いほど照射時間に対してピ
ット長が長目に形成される傾向があるので、第10図に
示すように、直前ブランク長か短いほど照射時間を短目
にして、この傾向を打ち消す。
形成すべきピット長をNT一定(Nは3,4・・・・・
・11)とした場合の各直前ブランク長ごとの照射時間
の一例を第2表に示す。
・11)とした場合の各直前ブランク長ごとの照射時間
の一例を第2表に示す。
第2表
たたし、TO=1/4.3218 MHzt=0〜50
0ns β3.N〉β4.N >・・・β5.N ・・・β11
.N第2表のtおよびβn、Hの最適値を実験で求める
ことにより、直前ブランク長の長短にかかわらず規定値
に近いピット長を形成することかできる。
0ns β3.N〉β4.N >・・・β5.N ・・・β11
.N第2表のtおよびβn、Hの最適値を実験で求める
ことにより、直前ブランク長の長短にかかわらず規定値
に近いピット長を形成することかできる。
その結果、再生信号のジッタは減少し、エラーが少なく
なりあるいはS/Nが良好となる。
なりあるいはS/Nが良好となる。
(2) 直前ブランク長による照射開始タイミングの
補正 前述のように、直前ブランク長が長いほど照射開始位置
に対してピット始端位置が後方にすれる傾向がある。
補正 前述のように、直前ブランク長が長いほど照射開始位置
に対してピット始端位置が後方にすれる傾向がある。
このため、直前ブランク長にかかわらす照射開始位置を
一定にして、前記(1)の直前ブランク長による照射時
間の補正を第10図に(a)で示すように照射期間の後
側で行なう(すなわち、補正分を後側に付ける)ように
すると、ピット長は正しく得られるものの、ピット位置
がずれて(直前ブランク長が長くなるほど後方にずれる
。そのずれ量は直前ブランク長にほぼ比例する。)、ブ
ランク長は正しく得られなくなる。記録データとしては
ピット長もブランク長も全く同等のデータ重みを持って
いるので、これではやはり再生信号にエラーを含むこと
になってしまう。
一定にして、前記(1)の直前ブランク長による照射時
間の補正を第10図に(a)で示すように照射期間の後
側で行なう(すなわち、補正分を後側に付ける)ように
すると、ピット長は正しく得られるものの、ピット位置
がずれて(直前ブランク長が長くなるほど後方にずれる
。そのずれ量は直前ブランク長にほぼ比例する。)、ブ
ランク長は正しく得られなくなる。記録データとしては
ピット長もブランク長も全く同等のデータ重みを持って
いるので、これではやはり再生信号にエラーを含むこと
になってしまう。
そこで、ここでは直前ブランク長による照射時間の補正
を第10図に(b)で示すように照射期間の前側で行な
う(すなわち、補正分を前側に付ける)ようにする。こ
れにより、正規の位置にピットか形成されて、ブランク
長も正しく得られるようになる。
を第10図に(b)で示すように照射期間の前側で行な
う(すなわち、補正分を前側に付ける)ようにする。こ
れにより、正規の位置にピットか形成されて、ブランク
長も正しく得られるようになる。
(3) 形成すべきピット長による照射時間の補正前
述のように長いピットはど照射時間に対してピット長が
長目に形成される傾向があるのて、第11図に示すよう
に、長いピットはど照射時間を短目にして、この傾向を
打ち消すようにする。
述のように長いピットはど照射時間に対してピット長が
長目に形成される傾向があるのて、第11図に示すよう
に、長いピットはど照射時間を短目にして、この傾向を
打ち消すようにする。
直前ブランク長を3T一定とした場合の各ピット長ごと
の照射時間の一例を第3表に示す。
の照射時間の一例を第3表に示す。
−24=
第3表
ただし、To=1/4.3218 MHz1=0〜50
0ns α、−a〜100ns (n=4.5.・・・、11) α4くα5く・・・・・・くα11 第3表のtおよびα の最適値を実験で求めることによ
り、ピット長の長短にかかわらず規定値に近いピット長
を形成することができる。そのとき第12図のアイパタ
ーンに示すように3〜11Tのピットのあとの3Tブラ
ンクの振幅はほぼ一定となる。この結果記録パワーに対
するジッタの相対比は第13図に示すようになり、従来
の照射方法に比べて減少する。また、これにより記録パ
ワーに対するエラー発生率の相対比も第14図に示すよ
うに、従来の照射方法に比べて減少する。
0ns α、−a〜100ns (n=4.5.・・・、11) α4くα5く・・・・・・くα11 第3表のtおよびα の最適値を実験で求めることによ
り、ピット長の長短にかかわらず規定値に近いピット長
を形成することができる。そのとき第12図のアイパタ
ーンに示すように3〜11Tのピットのあとの3Tブラ
ンクの振幅はほぼ一定となる。この結果記録パワーに対
するジッタの相対比は第13図に示すようになり、従来
の照射方法に比べて減少する。また、これにより記録パ
ワーに対するエラー発生率の相対比も第14図に示すよ
うに、従来の照射方法に比べて減少する。
(4) 形成すべきピット長と直前ブランク長の組合
せによる照射時間および照射開始タイミングの補正 以上のように、形成されるピット長はピット長と直前ブ
ランク長によって影響されるので、その組合せによって
補正値を定めれば、規定値により近いピット長を形成す
ることができる。ピット長と直前ブランク長の様々な組
合せによる照射時間の一例を第4表に示す。
せによる照射時間および照射開始タイミングの補正 以上のように、形成されるピット長はピット長と直前ブ
ランク長によって影響されるので、その組合せによって
補正値を定めれば、規定値により近いピット長を形成す
ることができる。ピット長と直前ブランク長の様々な組
合せによる照射時間の一例を第4表に示す。
第4表
なだしT。=1/4.3218 H出
t=o〜500ns
r =O〜1OOns
111、n
(m:直前ブランク長、n:ピット長、m、H=3.4
+・・・、11) 同じピット長nに対しては、 γ 〉γ く・・・くγ11.。
+・・・、11) 同じピット長nに対しては、 γ 〉γ く・・・くγ11.。
3、n 4.n
同じ直前ブランク長mに対しては、
γm、3〉γ、4<=−<γm、17
3T−3T (直前ブランク長3T、ピット長3T)の
照射時間3−T、、−<t+γ3,3)をT 、7T
−7Tの照射時間7.To−(を十γ )をT7.1
1T−11Tの照射時間7.7 11/T −(を十γ11,11 )をT11とした
場合に、直前゛ブランク長によって照射時間を第5表の
ように補正したところ、ピット長センタ位置のずれは第
15図に示すようになった。これによれば、第7図に示
した直前ブランク長によって照射時間補正しない場合に
比べてピット長のずれが小さく第5表 なお、ここでも直前ブランク長による照射時間の補正分
を照射時間の前側で行なう(すなわち、補正分を前側に
付ける)ようにすれば、正規の位置にピットが形成され
て、ブランク長も正しく得られるようになる。
照射時間3−T、、−<t+γ3,3)をT 、7T
−7Tの照射時間7.To−(を十γ )をT7.1
1T−11Tの照射時間7.7 11/T −(を十γ11,11 )をT11とした
場合に、直前゛ブランク長によって照射時間を第5表の
ように補正したところ、ピット長センタ位置のずれは第
15図に示すようになった。これによれば、第7図に示
した直前ブランク長によって照射時間補正しない場合に
比べてピット長のずれが小さく第5表 なお、ここでも直前ブランク長による照射時間の補正分
を照射時間の前側で行なう(すなわち、補正分を前側に
付ける)ようにすれば、正規の位置にピットが形成され
て、ブランク長も正しく得られるようになる。
なお、上記の実施例では照射パワーを一定とした場合に
ついて説明したが、形成すべきピット長および直前ブラ
ンク長によって照射パワーを可変する制御(形成すべき
ピット長が長いものほど、−28= また直前ブランク長が短いものほど照射パワーを下げる
。)を併用することもできる。
ついて説明したが、形成すべきピット長および直前ブラ
ンク長によって照射パワーを可変する制御(形成すべき
ピット長が長いものほど、−28= また直前ブランク長が短いものほど照射パワーを下げる
。)を併用することもできる。
くデ〜り信号タイミングの分割制御について〉従来のよ
うにピット長に応じた時間分レーザ光をディスクに連続
的に照射して記録するものでは、第16図に示すように
、形成されるピット40は前縁部40aの溶融量が少な
く、後縁部40bに近づくほど溶融量は多くなって、涙
滴状になる。
うにピット長に応じた時間分レーザ光をディスクに連続
的に照射して記録するものでは、第16図に示すように
、形成されるピット40は前縁部40aの溶融量が少な
く、後縁部40bに近づくほど溶融量は多くなって、涙
滴状になる。
これは、レーザ光を連続的に照射するため、ディスク記
録部分がしだいに加熱されて、後縁部40bはと溶は易
くなるためである。
録部分がしだいに加熱されて、後縁部40bはと溶は易
くなるためである。
このため、ピット後縁部40bが第16図中点線40b
′で示すように溶は過ぎて、ピット後縁部40b′の位
置が不正確になることがあった。
′で示すように溶は過ぎて、ピット後縁部40b′の位
置が不正確になることがあった。
また、これを防止するために、レーザ光の強度を弱める
と、今度は第17図に示すように、ピット前縁部40a
の溶融が不足して、ピット前縁部40aの位置が不正確
になることがあった。
と、今度は第17図に示すように、ピット前縁部40a
の溶融が不足して、ピット前縁部40aの位置が不正確
になることがあった。
したがって、このように記録されたディスクまたはこの
ように記録された原盤から作られたディスフを再生する
と、再生信号はジッタ(時間軸方向の誤差)を多く含む
ようになり、S/N劣化等品位の低いものとなっていた
。
ように記録された原盤から作られたディスフを再生する
と、再生信号はジッタ(時間軸方向の誤差)を多く含む
ようになり、S/N劣化等品位の低いものとなっていた
。
また、ピット長は記録データの“′1”または“′0”
が連続する回数によって様々な長さを取り得るが(CD
フォーマットの場合3T〜11T)、ピット長が長くな
るにつれてレーザ光によるディスク記録部分の加熱の度
合か著しくなり、第18図に示すようにピット幅が広く
なる。このため、ピット長が長くなるほどジッタは更に
悪化していた。また、ピット幅が広くなるため、ディス
ク反射率か底下して再生時のトラッキング、フォーカス
サーボ回路の負担か大きくなる(ゲインを大きくする必
要がある。)とともに、記録密度を高めることができな
かった。
が連続する回数によって様々な長さを取り得るが(CD
フォーマットの場合3T〜11T)、ピット長が長くな
るにつれてレーザ光によるディスク記録部分の加熱の度
合か著しくなり、第18図に示すようにピット幅が広く
なる。このため、ピット長が長くなるほどジッタは更に
悪化していた。また、ピット幅が広くなるため、ディス
ク反射率か底下して再生時のトラッキング、フォーカス
サーボ回路の負担か大きくなる(ゲインを大きくする必
要がある。)とともに、記録密度を高めることができな
かった。
そこで、データ信号補正回路36では、前記データ信号
タイミングの増減制御とともに、信号ピットの長さに応
じた時間内でレーザ光を複数パルスに分割して照射する
ようにデータ信号タイミングの分割制御を行なっている
。
タイミングの増減制御とともに、信号ピットの長さに応
じた時間内でレーザ光を複数パルスに分割して照射する
ようにデータ信号タイミングの分割制御を行なっている
。
このように、レーザ光を分割して照射すると、ピット長
が長くても光ディスク1の加熱は間欠的に行なわれ、蓄
積されにくくなるので、連続照射の場合のようにディス
ク記録膜が高温になってピット後縁部が過剰に溶融され
ることがなくなる。
が長くても光ディスク1の加熱は間欠的に行なわれ、蓄
積されにくくなるので、連続照射の場合のようにディス
ク記録膜が高温になってピット後縁部が過剰に溶融され
ることがなくなる。
したかって、ピット後縁部の位置が正確になる。
また、ピット後縁部が過剰に溶融されなくなるので、レ
ーザ光のパワーを上げることができ、これによりピット
前縁部の位置が正確になる。したがって、ピット前縁部
、後縁部とも正確に位置を規定することができ、再生信
号のジッタを減少させて、S/Nの向上等により再生信
号の品位を高めることができる。
ーザ光のパワーを上げることができ、これによりピット
前縁部の位置が正確になる。したがって、ピット前縁部
、後縁部とも正確に位置を規定することができ、再生信
号のジッタを減少させて、S/Nの向上等により再生信
号の品位を高めることができる。
また、レーザ光によるディスク記録膜の加熱が蓄積され
にくくなるので、ピット長にかかわらずピット幅をほぼ
一定に細く形成することかできる。
にくくなるので、ピット長にかかわらずピット幅をほぼ
一定に細く形成することかできる。
したがって、反射率が増大し、再生時のトラッキングや
フォーカスサーボ回路の負担が少なくなる(ゲインを小
さくすることができる。)とともに記録密度を高めるこ
とかできる。
フォーカスサーボ回路の負担が少なくなる(ゲインを小
さくすることができる。)とともに記録密度を高めるこ
とかできる。
なお、レーザ光の分割数をピット長に応じて定めるよう
にすれば(ピット長が長いほど分割数を多くする。)、
ピット長にかかわらず常に最適なピット形状を得ること
ができる。
にすれば(ピット長が長いほど分割数を多くする。)、
ピット長にかかわらず常に最適なピット形状を得ること
ができる。
また、分割したレーザ光の先頭のパルス幅を後続のもの
よりも広くしたり、パワーを後続のものより高めたりす
ることにより、ピット前縁の溶融をより良好にすること
かでき、これによりジッタをさらに減少させることがで
きる。
よりも広くしたり、パワーを後続のものより高めたりす
ることにより、ピット前縁の溶融をより良好にすること
かでき、これによりジッタをさらに減少させることがで
きる。
データ信号補正回路36により形成される書込み用レー
ザ光の分割パルスの一例を第19図(b)に示す。第1
9図(a)はこれに対応する従来の連続レーザ光である
。第19図(c)は分割レーザ光により形成されるピッ
ト50の形状を示したものである。
ザ光の分割パルスの一例を第19図(b)に示す。第1
9図(a)はこれに対応する従来の連続レーザ光である
。第19図(c)は分割レーザ光により形成されるピッ
ト50の形状を示したものである。
分割レーザ光は、形成すべきピット長に応じた時間内で
、3分割されている、第19図(c)の点線51,52
.53は、各パルスP1〜P3を単独に照射した場合に
それぞれ形成されるピットで、これらパルスP1〜P3
を連続的に照射することにより、各ピット51,52.
53がつながって連続したピット50が形成される。
、3分割されている、第19図(c)の点線51,52
.53は、各パルスP1〜P3を単独に照射した場合に
それぞれ形成されるピットで、これらパルスP1〜P3
を連続的に照射することにより、各ピット51,52.
53がつながって連続したピット50が形成される。
これによれば、レーザ光を分割して照射するので熱の蓄
積が少なく、従来の連続照射の場合に比べてピット50
の幅の後縁部50bでの広がりが少ない。したがって、
ピット50の幅を細い幅でほぼ一定にできるので、反射
率が高くなってサーボ回路の負担が少なくなるとともに
、記録密度を高めることができる。
積が少なく、従来の連続照射の場合に比べてピット50
の幅の後縁部50bでの広がりが少ない。したがって、
ピット50の幅を細い幅でほぼ一定にできるので、反射
率が高くなってサーボ回路の負担が少なくなるとともに
、記録密度を高めることができる。
また、後縁部50bか溶融し過ぎないので、後縁部50
bの位置が正確に規定される。また、後縁部50bが溶
融し過ぎないので、レーザ光のパワーを上げることがで
き、これにより、ピット前縁部50aが溶融され易くな
り、ピット前縁部50aの位置が正確に規定される。し
たかつて、ジッタが減少して、S/Nの向上等再生信号
の品位を上げることができる。
bの位置が正確に規定される。また、後縁部50bが溶
融し過ぎないので、レーザ光のパワーを上げることがで
き、これにより、ピット前縁部50aが溶融され易くな
り、ピット前縁部50aの位置が正確に規定される。し
たかつて、ジッタが減少して、S/Nの向上等再生信号
の品位を上げることができる。
ところで、ピット50の形状は、分割レーザ光のパルス
幅T、デユーティ比T o n / T、レーザ光パワ
ー等に応じて変化する。したがって、熱の蓄積によるピ
ット幅の増大が少なく、かつピ・ント50の前縁部50
aおよび後縁部50bの位置が正確に規定され、かつピ
ット50が途中で切れないようにこれらの値を調整する
。パルス幅Tが長くなり過ぎると、1つのパルスにより
形成されるピット自体後縁部で幅が広がり、分割パルス
とした利点がなくなるので、形成すべきピット長に応じ
て分割数を変えてほぼ等しいパルス幅となるようにする
のが好ましい。また、デユーティ比T o n / T
は、大きく(パルス幅を広くする)し過ぎると、熱の蓄
積によりピット幅が広がり、小さく(去ルス幅を狭くす
る)し過ぎるとピ・ント50が途中で切れてしまうので
、ピ・ント幅があまり広がらす、かつ途中で切れないよ
うな値に調整する。また、レーザ光パワーによっても溶
融状態が変化するので、レーザ光パワーも同時に調整す
る。実験によると、従来の連続照射の場合の1.5倍程
度のレーザ光パワーにしたところ好ましい結果が得られ
た。
幅T、デユーティ比T o n / T、レーザ光パワ
ー等に応じて変化する。したがって、熱の蓄積によるピ
ット幅の増大が少なく、かつピ・ント50の前縁部50
aおよび後縁部50bの位置が正確に規定され、かつピ
ット50が途中で切れないようにこれらの値を調整する
。パルス幅Tが長くなり過ぎると、1つのパルスにより
形成されるピット自体後縁部で幅が広がり、分割パルス
とした利点がなくなるので、形成すべきピット長に応じ
て分割数を変えてほぼ等しいパルス幅となるようにする
のが好ましい。また、デユーティ比T o n / T
は、大きく(パルス幅を広くする)し過ぎると、熱の蓄
積によりピット幅が広がり、小さく(去ルス幅を狭くす
る)し過ぎるとピ・ント50が途中で切れてしまうので
、ピ・ント幅があまり広がらす、かつ途中で切れないよ
うな値に調整する。また、レーザ光パワーによっても溶
融状態が変化するので、レーザ光パワーも同時に調整す
る。実験によると、従来の連続照射の場合の1.5倍程
度のレーザ光パワーにしたところ好ましい結果が得られ
た。
以上のパルス分割を利用してCDフォーマットで光ディ
スク1にピットを形成した場合の実験例について説明す
る。
スク1にピットを形成した場合の実験例について説明す
る。
CDフォーマットのDRAWディスクでは3〜I IT
(IT=1/4.3218MHz)の9種類の長さを
有するピットの組合せでデータを記録する。各長さのピ
ットを形成するための分割レーザ光の設定例を第6表に
示す。
(IT=1/4.3218MHz)の9種類の長さを
有するピットの組合せでデータを記録する。各長さのピ
ットを形成するための分割レーザ光の設定例を第6表に
示す。
なお、Tion、T2on、T3onはそれぞれパルス
PI、P2.P3の立上り時間幅、” Ioff。
PI、P2.P3の立上り時間幅、” Ioff。
T2offはそれぞれパルスPi、P2.P3の間の立
下り時間幅である。
下り時間幅である。
上記の設定例では、3〜5Tを1分割、6〜8Tを2分
割、9〜11Tを3分割としている。なお、ピット長5
丁は2パルスとして、Tlon”300〜800nS、
Tloff−200〜600nS1T2o0=100〜
400nsとしてもよい。この分割レーザ光により形成
されるピット形状を第20図(c)に示す。レーザ光か
分割して照射されるので、熱の蓄積が少なく、ピット長
が長くなってもピット幅は細く一定幅に規定される。ま
た、ピット前縁部、後縁部の位置が正確に規定される。
割、9〜11Tを3分割としている。なお、ピット長5
丁は2パルスとして、Tlon”300〜800nS、
Tloff−200〜600nS1T2o0=100〜
400nsとしてもよい。この分割レーザ光により形成
されるピット形状を第20図(c)に示す。レーザ光か
分割して照射されるので、熱の蓄積が少なく、ピット長
が長くなってもピット幅は細く一定幅に規定される。ま
た、ピット前縁部、後縁部の位置が正確に規定される。
この分割レーザ光を用いてDRAWディスクに記録を行
なったところ、その再生信号のジッタは第21図に示す
ように、従来の連続レーザ光で記録を行なった場合に比
べて約6割も減少し、エラーが低減された。なお、第2
1図において、縦軸は記録信号に対する再生信号の時間
軸変動の標準偏差を示すものであり、横軸は再生信号の
デユーティ、すなわち、同信号中にピット相当部がどの
程度の割合を占めているかを示すものである。また、記
録後の反射率は第22図に示すように、従来の連続レー
ザ光で記録を行なった場合に比べて約1割増加し、サー
ボ回路の負担が軽減された。
なったところ、その再生信号のジッタは第21図に示す
ように、従来の連続レーザ光で記録を行なった場合に比
べて約6割も減少し、エラーが低減された。なお、第2
1図において、縦軸は記録信号に対する再生信号の時間
軸変動の標準偏差を示すものであり、横軸は再生信号の
デユーティ、すなわち、同信号中にピット相当部がどの
程度の割合を占めているかを示すものである。また、記
録後の反射率は第22図に示すように、従来の連続レー
ザ光で記録を行なった場合に比べて約1割増加し、サー
ボ回路の負担が軽減された。
なお、第22図の縦軸は、連続レーザ光で記録を行ない
、かつ再生デユーティが50%となるものの反射率を1
とする相対比を示している。
、かつ再生デユーティが50%となるものの反射率を1
とする相対比を示している。
以上の例では、分割パルスを各先頭パルスと後続のパル
スとで特に区別しなかったが(第19図(b)参゛照)
、第23図に示すように先頭のパルスP1のパルス幅を
広くしなり(P2.P3の1.1〜2倍程度)、第24
図に示すように先頭のパルスP1のパワーを上げたりす
る(P2゜P3の1.05〜1.43倍程度)ことによ
り、ピット前縁部の溶融がより確実に行なわれるように
なり、ジッタがより改善される。また、これにより後続
するパルスはパワーを下げることができ、より細いピッ
トを形成することができ、反射率が増加してサーボ回路
の負担がより軽減されるとともに、記録密度をより高め
ることかできる。
スとで特に区別しなかったが(第19図(b)参゛照)
、第23図に示すように先頭のパルスP1のパルス幅を
広くしなり(P2.P3の1.1〜2倍程度)、第24
図に示すように先頭のパルスP1のパワーを上げたりす
る(P2゜P3の1.05〜1.43倍程度)ことによ
り、ピット前縁部の溶融がより確実に行なわれるように
なり、ジッタがより改善される。また、これにより後続
するパルスはパワーを下げることができ、より細いピッ
トを形成することができ、反射率が増加してサーボ回路
の負担がより軽減されるとともに、記録密度をより高め
ることかできる。
先頭のパルス幅を広くした場合の設定例を第7表に示す
。
。
第7表
第7表の設定条件による場合の記録パワーに対するエラ
ー発生率の相対比を第25図に示す。これによれば、従
来の連続照射の場合に比べてエラーが少なくなり、記録
パワーマージンが上がることがわかる。
ー発生率の相対比を第25図に示す。これによれば、従
来の連続照射の場合に比べてエラーが少なくなり、記録
パワーマージンが上がることがわかる。
また、以上の例では、レーザ光を完全に分割(パルス立
下り部分でパフ−〇)した場合について説明したが、第
26図に示すように直流成分を含むように分割すること
もできる。
下り部分でパフ−〇)した場合について説明したが、第
26図に示すように直流成分を含むように分割すること
もできる。
また、以上の例ではピット長が長くなるほど分割数を増
やしたが、信号ピットの長さに応じた時間内でレーザ光
をその照射すべき期間の終了直前で分割させた2パルス
として付与するようにすることもできる。このようにす
れは、レーザ光のパワーがその照射すべき期間の終了直
前において一旦下げられるようになる。したかつて、前
方パルスによる熱の蓄積がその部分で遮断されて、ピッ
トの長短にかかわらす後方パルスによるピット後部の形
成に影響しにくくなり、ピット後縁の位置は後方パルス
によりほぼ正確に規定することができる。したがって、
ジッタが減少して、S/Nの向上等再生信号の品位を上
げることかできる。しかも、ピット長にかかわらすレー
ザ光を照射すべき期間の終了直前のみでレーザ光パワー
を一旦下げろだけでよいので、ピット長に応じた数に分
割する場合に比べて回路構成を簡略化することができる
。
やしたが、信号ピットの長さに応じた時間内でレーザ光
をその照射すべき期間の終了直前で分割させた2パルス
として付与するようにすることもできる。このようにす
れは、レーザ光のパワーがその照射すべき期間の終了直
前において一旦下げられるようになる。したかつて、前
方パルスによる熱の蓄積がその部分で遮断されて、ピッ
トの長短にかかわらす後方パルスによるピット後部の形
成に影響しにくくなり、ピット後縁の位置は後方パルス
によりほぼ正確に規定することができる。したがって、
ジッタが減少して、S/Nの向上等再生信号の品位を上
げることかできる。しかも、ピット長にかかわらすレー
ザ光を照射すべき期間の終了直前のみでレーザ光パワー
を一旦下げろだけでよいので、ピット長に応じた数に分
割する場合に比べて回路構成を簡略化することができる
。
第27図は記録ピット幅とジッタ、トラッキングエラー
信号振幅(3ビーム法)、反射率の関係を示したもので
あるが、記録ピットで幅を0.3〜0.9μmにすると
、ジッタ小、トラッキングエラー振幅大(トラッキング
制御のゲイン大)、反射重大となる。ピット幅0.9μ
m以上では、再生時に隣接トラックピットを読んでしま
う可能性が増し、ピット幅0,3μm以下では、実質的
にピットが良好に形成されない状態となり、いずれもジ
ッタ等が劣化する。前記データ信号補正回路36によれ
ば、このように記録ピット幅を0.3〜0.9μmで記
録することは容易である。
信号振幅(3ビーム法)、反射率の関係を示したもので
あるが、記録ピットで幅を0.3〜0.9μmにすると
、ジッタ小、トラッキングエラー振幅大(トラッキング
制御のゲイン大)、反射重大となる。ピット幅0.9μ
m以上では、再生時に隣接トラックピットを読んでしま
う可能性が増し、ピット幅0,3μm以下では、実質的
にピットが良好に形成されない状態となり、いずれもジ
ッタ等が劣化する。前記データ信号補正回路36によれ
ば、このように記録ピット幅を0.3〜0.9μmで記
録することは容易である。
なお、以上の例では、レーザ光を完全に分割した場合に
ついて説明したが、第28図に示すように直流成分を含
むように分割することしできる。
ついて説明したが、第28図に示すように直流成分を含
むように分割することしできる。
また、第29図に示すように前方のパルスP1の立上り
部分のパワーを上げることにより、ピット前縁部の溶融
がより確実に行なわれるようになり、ジッタをより改善
することができる。
部分のパワーを上げることにより、ピット前縁部の溶融
がより確実に行なわれるようになり、ジッタをより改善
することができる。
また、半導体レーザはオンしてからレーザ光が定常状態
に達するまで時間かかかり、直前ブランク長が長い場合
はど半導体レーザをオンした位置からピット前縁が形成
される位置までの長さが長くなる傾向にある。そこで、
ブランク部分でも半導体レーザに弱い電流を流しておけ
ば、オンしたときのレーザ光の立ち上がりが早くなり、
ピット前縁が正確に規定されて、ジッタをより減少させ
ることができる。
に達するまで時間かかかり、直前ブランク長が長い場合
はど半導体レーザをオンした位置からピット前縁が形成
される位置までの長さが長くなる傾向にある。そこで、
ブランク部分でも半導体レーザに弱い電流を流しておけ
ば、オンしたときのレーザ光の立ち上がりが早くなり、
ピット前縁が正確に規定されて、ジッタをより減少させ
ることができる。
なお、□データ信号タイミングの増減制御とデータ信号
タイミング分割制御を併用する場合は、データ信号タイ
ミング分割制御によりピット長や直前ブランク長の影響
は少なくなるので、データ信号タイミングの増減制御は
前述の例よりも程度を少な目にすることかできる。
タイミング分割制御を併用する場合は、データ信号タイ
ミング分割制御によりピット長や直前ブランク長の影響
は少なくなるので、データ信号タイミングの増減制御は
前述の例よりも程度を少な目にすることかできる。
前記実施例ではこの発明をCDシステムに適用した場合
について示したが、CD−ROM、CD−I、CD−V
、LV等の再生専用ディスクシステムにも適用できる。
について示したが、CD−ROM、CD−I、CD−V
、LV等の再生専用ディスクシステムにも適用できる。
また、記録装置は再生兼用形として構成することもでき
る。
る。
また、線速度一定形ディスクシステムたけでなく回転速
度一定形ディスクシステムにも適用できる。
度一定形ディスクシステムにも適用できる。
また、前記実施例ではこの発明をDRAWディスクに適
用した場合について示したが、E−DRAWディスクに
も適用することができる。
用した場合について示したが、E−DRAWディスクに
も適用することができる。
以上説明しなように、この発明によれば、記録装置は再
生専用光ディスクに合致した規格フォーマット、トラッ
クピッチ、転送速度および回転数で規格寸法に合致した
記録担体手段に記録を行なうので、再生専用光ディスク
の再生装置を兼用して再生することができる6 しかも、記録担体は光反射率の比較的高い材料で記録面
が構成されているので、再生専用光ディスクの再生装置
に用いられている半導体レーザで十分に再生することが
できる。
生専用光ディスクに合致した規格フォーマット、トラッ
クピッチ、転送速度および回転数で規格寸法に合致した
記録担体手段に記録を行なうので、再生専用光ディスク
の再生装置を兼用して再生することができる6 しかも、記録担体は光反射率の比較的高い材料で記録面
が構成されているので、再生専用光ディスクの再生装置
に用いられている半導体レーザで十分に再生することが
できる。
また、記録担体手段は浅目のプリグルーブを有している
ため、後述するように、記録装置は比較的低いレーザ光
パワーで記録担体手段に記録することができるので、半
導体レーザが利用でき、記録装置を小型かつ安価に構成
することができ、民生機器としての用途も十分実現でき
る。
ため、後述するように、記録装置は比較的低いレーザ光
パワーで記録担体手段に記録することができるので、半
導体レーザが利用でき、記録装置を小型かつ安価に構成
することができ、民生機器としての用途も十分実現でき
る。
第1図は、この発明の一実施例を示すブロック図である
。 第2図は、第1図の光ディスク1の一実施例を示す図で
ある。 第3図は、ランド記録の場合のディスク記録面の拡大図
である。 第4図は、ミラー反射率と既存C,Dプレーヤとのコン
パチビリティおよび記録に必要なレーザ光パワーとの特
性図である。 第5図は、第1図の記録装置の一実施例を示すブロック
図である。 第6図は、従来における記録用レーザ光の一例を示す図
である。 第7図は、直前ブランク長に応じて照射時間を補正しな
い場合のピット長のずれを示す線図である。 第8図は、第6図のし〜ザ光により形成されるピット長
を示す線図である。 第9図は、第6図のレーザ光により形成されたピットの
再生信号のアイパターンを示す図である。 第10図は、直前ブランク長に応じて照射時間を補正し
たこの発明による記録用レーザ光の一例を示す図゛であ
る。 第11図は、形成すべきピット長に応じて照射時間を補
正した記録用レーザ光の一実施例を示す図である。 第12図は、第11図のレーザ光により形成されたピッ
トの再生信号のアイパターンを示す図である。 第13図は、第11図のレーザ光により形成されたピッ
トの再生信号の記録パワーに対するジッ夕の相対比を示
す線図である。 第14図は、第11図のレーザ光により形成されたピッ
トの再生信号の記録パワーに対するエラー発生率の相対
比を示す線図である。 第15図は、直前ブランク長に応じて照射時間を補正し
た場合のピット長のずれを示す線図である。 第16図は、従来の連続レーザ光を用いて形成したピッ
ト形状の一例を示す図である。 第17図は、従来の連続レーザ光を用いて前縁部が溶融
不足となった状態を示す図である。 第18図は、従来の連続レーザ光で形成される各長さの
ピット形状を示す図である。 第19図は、分割レーザ光の一例およびこの分割レーザ
光により形成されるピット形状の一例を示す図である。 第20図は、分割レーザ光で形成される各長さのピット
形状の一例を示す図である。 第21図は、連続レーザ光でピットを形成した場合と、
分割レーザ光でピッI・を形成した場合のジッタ特性を
示す図である。 第22図は、連続レーザ光でピットを形成した場合と、
分割レーザ光でピットを形成した場合の再生時のディス
ク反射率特性を示す図である。 第23図、第24図、第26図は、それぞれ分割レーザ
光の他の例を示す図である。 第25図は、第7表の設定条件による場合の記録パワ一
対エラー派生率を相対比表示した線図である。 第27図は、記録ピット幅とジッタ、トラッキングエラ
ー信号振幅、反射率の関係を示す特性図である。 第28図、第29図は、それぞれ分割レーザ光の他の実
施例を示す図である。 1・・・光ディスク、2・・・記録装置、3・・・再生
装置。
。 第2図は、第1図の光ディスク1の一実施例を示す図で
ある。 第3図は、ランド記録の場合のディスク記録面の拡大図
である。 第4図は、ミラー反射率と既存C,Dプレーヤとのコン
パチビリティおよび記録に必要なレーザ光パワーとの特
性図である。 第5図は、第1図の記録装置の一実施例を示すブロック
図である。 第6図は、従来における記録用レーザ光の一例を示す図
である。 第7図は、直前ブランク長に応じて照射時間を補正しな
い場合のピット長のずれを示す線図である。 第8図は、第6図のし〜ザ光により形成されるピット長
を示す線図である。 第9図は、第6図のレーザ光により形成されたピットの
再生信号のアイパターンを示す図である。 第10図は、直前ブランク長に応じて照射時間を補正し
たこの発明による記録用レーザ光の一例を示す図゛であ
る。 第11図は、形成すべきピット長に応じて照射時間を補
正した記録用レーザ光の一実施例を示す図である。 第12図は、第11図のレーザ光により形成されたピッ
トの再生信号のアイパターンを示す図である。 第13図は、第11図のレーザ光により形成されたピッ
トの再生信号の記録パワーに対するジッ夕の相対比を示
す線図である。 第14図は、第11図のレーザ光により形成されたピッ
トの再生信号の記録パワーに対するエラー発生率の相対
比を示す線図である。 第15図は、直前ブランク長に応じて照射時間を補正し
た場合のピット長のずれを示す線図である。 第16図は、従来の連続レーザ光を用いて形成したピッ
ト形状の一例を示す図である。 第17図は、従来の連続レーザ光を用いて前縁部が溶融
不足となった状態を示す図である。 第18図は、従来の連続レーザ光で形成される各長さの
ピット形状を示す図である。 第19図は、分割レーザ光の一例およびこの分割レーザ
光により形成されるピット形状の一例を示す図である。 第20図は、分割レーザ光で形成される各長さのピット
形状の一例を示す図である。 第21図は、連続レーザ光でピットを形成した場合と、
分割レーザ光でピッI・を形成した場合のジッタ特性を
示す図である。 第22図は、連続レーザ光でピットを形成した場合と、
分割レーザ光でピットを形成した場合の再生時のディス
ク反射率特性を示す図である。 第23図、第24図、第26図は、それぞれ分割レーザ
光の他の例を示す図である。 第25図は、第7表の設定条件による場合の記録パワ一
対エラー派生率を相対比表示した線図である。 第27図は、記録ピット幅とジッタ、トラッキングエラ
ー信号振幅、反射率の関係を示す特性図である。 第28図、第29図は、それぞれ分割レーザ光の他の実
施例を示す図である。 1・・・光ディスク、2・・・記録装置、3・・・再生
装置。
Claims (6)
- (1)半導体レーザで記録可能でかつ光反射率の比較的
高い材料で記録面が構成されると共に、機械的寸法が再
生専用光ディスクの規格寸法に合致するように構成され
、さらに浅目のプリグルーブを有してなる光ディスクか
らなる記録担体手段と、 記録すべき入力信号を前記再生専用光ディスクの規格フ
ォーマットに合致するマーク長記録方式のデータ信号と
して所定の転送速度で出力するデータ信号出力手段と、
前記再生専用光ディスクの規格速度で前記記録担体手段
を駆動すると共に前記再生専用光ディスクの規格トラッ
クピッチに合致するように前記記録担体手段と前記半導
体レーザとの位置を制御する駆動制御手段と、前記デー
タ信号出力手段の出力に応じて前記半導体レーザの照射
状態を制御するレーザ制御手段とを有してなる記録装置
とからなり、 前記記録装置で記録した前記記録担体手段を再生専用光
ディスクの再生装置を兼用して再生できるようにしたこ
とを特徴とする光ディスク記録システム。 - (2)前記記録装置が、前記データ信号をそのピット相
当長および直前ブランク相当長に応じて波形補正するデ
ータ信号補正手段を有することを特徴とする特許請求の
範囲第1項に記載の光ディスク記録システム。 - (3)前記データ信号補正手段が、前記記録担体手段の
記録面へのレーザ光熱的蓄積効果によるデータ信号タイ
ミングと記録ピットおよびブランクとの位置ずれをデー
タ信号タイミングを増減することにより減少させると共
に、記録されたピット幅の増大をデータ信号タイミング
を分割することにより防止することを特徴とする特許請
求の範囲第2項に記載の光ディスク記録システム。 - (4)前記データ信号補正手段が、データ信号タイミン
グの増減について、直前のブランク長が短いピットを形
成する場合に前記レーザ光の照射時間を短目にし、かつ
直前のブランク長が長いピットを形成する場合に前記レ
ーザ光の照射開始を早め、かつ長いピットを形成する場
合に前記レーザ光の照射時間を短目にするものであり、 データ信号タイミングの分割について、ピット幅が0.
3〜0.9μmの間に形成されるように分割数、各分割
レーザ光パルスのパルス幅やパルス強度が定められてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第3項に記載の光デ
ィスク記録システム。 - (5)前記記録担体手段の素材反射率が59〜75%で
あることを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第4項
のいずれかに記載の光ディスク記録システム。 - (6)前記記録担体手段のプリグルーブ深さが20〜5
0nmであることを特徴とする特許請求の範囲第1項乃
至第5項のいずれかに記載の光ディスク記録システム。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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