JPH01132924A - 相変化感材評価装置 - Google Patents
相変化感材評価装置Info
- Publication number
- JPH01132924A JPH01132924A JP62289285A JP28928587A JPH01132924A JP H01132924 A JPH01132924 A JP H01132924A JP 62289285 A JP62289285 A JP 62289285A JP 28928587 A JP28928587 A JP 28928587A JP H01132924 A JPH01132924 A JP H01132924A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser beam
- circuit
- writing
- pulse
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光ディスクのような高密度、高速度記録の可
能な相変化タイプの光記録材料に対する光学的記録、消
去特性及びその繰り返し安定性の評価装置に関する。
能な相変化タイプの光記録材料に対する光学的記録、消
去特性及びその繰り返し安定性の評価装置に関する。
（従来の技術）
従来、光ディスクに代表される高密度、高速度記録の可
能な光記録材料の評価は、例えば、金属板上に測定サン
プルである記録材の膜を付けたものを置き、金属板を加
熱し、記録材の温度と温度によって変化する記録材の反
射率を測定することによって、書込に必要なレーザーパ
ワーを推定していた。
能な光記録材料の評価は、例えば、金属板上に測定サン
プルである記録材の膜を付けたものを置き、金属板を加
熱し、記録材の温度と温度によって変化する記録材の反
射率を測定することによって、書込に必要なレーザーパ
ワーを推定していた。
（発明が解決しようとする問題点）
実際に光ディスクに情報を書込む箇所は、レーザースフ
ホトによる約１μｍの照射部分であり、その反射率変化
が起こる速度も数百ｎ５ｅｃのオーダーであるので、従
来の方法では、記録可能なレーザーパワーの推定はでき
ても、反射率の変化速度については、はとんど解明でき
なかった。
ホトによる約１μｍの照射部分であり、その反射率変化
が起こる速度も数百ｎ５ｅｃのオーダーであるので、従
来の方法では、記録可能なレーザーパワーの推定はでき
ても、反射率の変化速度については、はとんど解明でき
なかった。
また、書換型光ディスクの記録材を評価するには、書き
込み、消去の繰り返し安定性の評価も必要であるが、そ
の手段がなかった。
込み、消去の繰り返し安定性の評価も必要であるが、そ
の手段がなかった。
（問題点を解決するための手段）
本発明は、波射゛体に、読取レーザー光、書込レーザー
光、消去レーザー光を照射するレーザー光照射手段と、
読取レーザー光、書込レーザー光、消去レーザー光の照
射条件の設定手段と、被射体からの反射レーザー光を測
定し、反射率を算出する反射率測定手段と、からなる相
変化感材評価装置である。
光、消去レーザー光を照射するレーザー光照射手段と、
読取レーザー光、書込レーザー光、消去レーザー光の照
射条件の設定手段と、被射体からの反射レーザー光を測
定し、反射率を算出する反射率測定手段と、からなる相
変化感材評価装置である。
（実施例）
本発明の一実施例を第１図に示す０本装置は、被射体３
に、レーザー光を照射する手段とその焦点をあわせる手
段と被射体からの反射光を検知する手段とからなる光学
ピックアップ１と、被射体３へのレーザー光の焦点をコ
ントロールするための信号を光学ピンクアップ１へ出力
するフォーカスサーボ回路９と、レーザー光のパワー変
動を検知し、その変動信号をパワー制御回路１１へ出力
するＬＤ（レーザーダイオード）制御回路１０と、必要
に応じたレーザーパワーを発生させ、かつそのレーザー
パワーが一定であるようにコントロールするためにＬＤ
制御回路ｌＯから変動信号を受は取り、それに応じ必要
な電流をＬＤｉ＃Ｊ？１回路１０に供給するパワー制御
回路１１と、特定のレーザーパルス光のパルス中をコン
トロールする信号をＬＤ＊Ｉ？１１回路１０へ出力する
パルス巾制御回路１２と、特定のレーザーパルス光の発
生のタイミング信号と反射率測定のタイミング信号をパ
ルス制御回路１２とパワー制御回路１１に出力するパル
スタイミング回路１３と、基本クロックをパルスタイミ
ング回路１３に出力するパルス発生器１４と、特定のレ
ーザーパルス光の照射回数をカウントし、その終了信号
をパルスタイミング回路１３に出力するパルスカウント
回路１５と、フォーカスサーボ回路９から被射体３の反
射率の情報信号を受は取り、受は取り終了の信号をパル
スタイミング回路１３に出力するディジタルマルチメー
ター１６と、デジタルマルチメーター１６から受は取っ
た情報を保存したり、情報をＣＲＴ上に表示したりする
パーソナルコンピューター１７と、光学ピックアップｌ
から受は取る被射体３の反射率変化を表示するオシロス
コープ１９と、読取レーザー光、書込レーザー光、消去
レーザー光の各レーザー光の照射条件を設定するための
操作パネル１８と、からなる。
に、レーザー光を照射する手段とその焦点をあわせる手
段と被射体からの反射光を検知する手段とからなる光学
ピックアップ１と、被射体３へのレーザー光の焦点をコ
ントロールするための信号を光学ピンクアップ１へ出力
するフォーカスサーボ回路９と、レーザー光のパワー変
動を検知し、その変動信号をパワー制御回路１１へ出力
するＬＤ（レーザーダイオード）制御回路１０と、必要
に応じたレーザーパワーを発生させ、かつそのレーザー
パワーが一定であるようにコントロールするためにＬＤ
制御回路ｌＯから変動信号を受は取り、それに応じ必要
な電流をＬＤｉ＃Ｊ？１回路１０に供給するパワー制御
回路１１と、特定のレーザーパルス光のパルス中をコン
トロールする信号をＬＤ＊Ｉ？１１回路１０へ出力する
パルス巾制御回路１２と、特定のレーザーパルス光の発
生のタイミング信号と反射率測定のタイミング信号をパ
ルス制御回路１２とパワー制御回路１１に出力するパル
スタイミング回路１３と、基本クロックをパルスタイミ
ング回路１３に出力するパルス発生器１４と、特定のレ
ーザーパルス光の照射回数をカウントし、その終了信号
をパルスタイミング回路１３に出力するパルスカウント
回路１５と、フォーカスサーボ回路９から被射体３の反
射率の情報信号を受は取り、受は取り終了の信号をパル
スタイミング回路１３に出力するディジタルマルチメー
ター１６と、デジタルマルチメーター１６から受は取っ
た情報を保存したり、情報をＣＲＴ上に表示したりする
パーソナルコンピューター１７と、光学ピックアップｌ
から受は取る被射体３の反射率変化を表示するオシロス
コープ１９と、読取レーザー光、書込レーザー光、消去
レーザー光の各レーザー光の照射条件を設定するための
操作パネル１８と、からなる。
装置の作動を説明する。まず、書込動作と消去動作をＮ
回繰り返し行い、その後、被射体３の反射率を測定する
、これを１サイクルとして、Ｍサイクル行う場合につい
て説明する。
回繰り返し行い、その後、被射体３の反射率を測定する
、これを１サイクルとして、Ｍサイクル行う場合につい
て説明する。
まず、操作パネル１８において、つぎの設定を行う。書
込、消去、読み取りの各レーザー光のパワー。書込、消
去の各レーザー光のパルス巾、Ｎ回の繰り返し回数。Ｍ
回の繰り返しサイクル数。
込、消去、読み取りの各レーザー光のパワー。書込、消
去の各レーザー光のパルス巾、Ｎ回の繰り返し回数。Ｍ
回の繰り返しサイクル数。
また、パルス発生器１４において、書込動作から次の書
込動作までの時間の設定を行う。
込動作までの時間の設定を行う。
次に、操作パネル１８のメインスイッチを入れると読取
レーザー光のパワーの設定信号が操作パネル１８からパ
ワー制御回路１１に出力され、パワー制御回路１１によ
り電流増幅され、さらに、ＬＤ！Ｉｍ回路１０によりパ
ワーの安定化がなされ、光学ピックアップ１内の半導体
レーザー８から読取レーザー光が照射される。次に操作
パネル１８上のフォーカスサーボスインチを入れるとフ
ォーカスサーボ回路９が働き、光学ピックアップ１内の
アクチューエータ−４を動かし、対物レンズ７を動かす
ことによって被射体３に焦点が合わされる。
レーザー光のパワーの設定信号が操作パネル１８からパ
ワー制御回路１１に出力され、パワー制御回路１１によ
り電流増幅され、さらに、ＬＤ！Ｉｍ回路１０によりパ
ワーの安定化がなされ、光学ピックアップ１内の半導体
レーザー８から読取レーザー光が照射される。次に操作
パネル１８上のフォーカスサーボスインチを入れるとフ
ォーカスサーボ回路９が働き、光学ピックアップ１内の
アクチューエータ−４を動かし、対物レンズ７を動かす
ことによって被射体３に焦点が合わされる。
次に、操作パネル１日上の測定スタートスイッチを入れ
る操作パネル１８からパルスタイミング回路１３ヘスタ
ート信号が出力される。スタート信号を受けるとパルス
タイミング回路１３から書込、消去タイミング信号が先
に決めた時間間隅を置いて、順次、パワー制御回路１１
とパルス巾制御回路１２とに同時に出力される。その信
号に応じ、パワー制御回路１１では、所定のレーザーパ
ワー発生のための供給電流の切り替えが行うなわれ、パ
ルス巾制御回路１２では、パルス中の切り換えが行われ
る。所定のレーザーパルス光発生のための電流とパルス
中の情報信号を各々パワー制御回路１１とパルス巾制御
回路１２とから受けたＬＤ制御回路１０は、所定のレー
ザーパルス光を半導体レーザー８から照射させる。それ
で、パルス焦点の合った被射体３の感材の同一個所に対
して、書込、消去動作が、順次繰り返される。この繰り
返し回数は、カウンター回路１５によりカウントされ、
設定回数Ｎ回に達するとカウンター回路１５より繰り返
し回数カウント終了の信号がパルスタイミング回路１３
に出力され、書込、消去動作が終了する。次に、被射体
の反射率の測定を行なわれる。書込、消去動作が終了す
ると、レーザー光は、また、読取レーザー光の照射に戻
る。
る操作パネル１８からパルスタイミング回路１３ヘスタ
ート信号が出力される。スタート信号を受けるとパルス
タイミング回路１３から書込、消去タイミング信号が先
に決めた時間間隅を置いて、順次、パワー制御回路１１
とパルス巾制御回路１２とに同時に出力される。その信
号に応じ、パワー制御回路１１では、所定のレーザーパ
ワー発生のための供給電流の切り替えが行うなわれ、パ
ルス巾制御回路１２では、パルス中の切り換えが行われ
る。所定のレーザーパルス光発生のための電流とパルス
中の情報信号を各々パワー制御回路１１とパルス巾制御
回路１２とから受けたＬＤ制御回路１０は、所定のレー
ザーパルス光を半導体レーザー８から照射させる。それ
で、パルス焦点の合った被射体３の感材の同一個所に対
して、書込、消去動作が、順次繰り返される。この繰り
返し回数は、カウンター回路１５によりカウントされ、
設定回数Ｎ回に達するとカウンター回路１５より繰り返
し回数カウント終了の信号がパルスタイミング回路１３
に出力され、書込、消去動作が終了する。次に、被射体
の反射率の測定を行なわれる。書込、消去動作が終了す
ると、レーザー光は、また、読取レーザー光の照射に戻
る。
それで、先にカウンター回路１５からの繰り返し回数カ
ウント終了信号を受けているパルスタイミング回路１３
から反射率測定の要求信号が、ディジタルマルチメータ
ー１６に出力されると、反射率の測定データーであるフ
ォーカスサーボ回路９からの出力がディジタルマルチメ
ーター１６のデータバッファに収納される。これで、ｌ
サイクルが終了する。
ウント終了信号を受けているパルスタイミング回路１３
から反射率測定の要求信号が、ディジタルマルチメータ
ー１６に出力されると、反射率の測定データーであるフ
ォーカスサーボ回路９からの出力がディジタルマルチメ
ーター１６のデータバッファに収納される。これで、ｌ
サイクルが終了する。
データバッファへの収納が終わるとディジタルマルチメ
ーター１６から測定終了信号がパルスタイミング回路１
３を経て、パルスカウント回路１５に出力される。そし
て、パルスカウント回路１５において、繰り返しサイク
ル数がＭ回に達していないことが、判断されると、Ｎ回
の繰り返し回数がクリアされるとともに、続行の信号が
パルスタイミング回路１３に出力され、再び、書込、消
去動作が始まる。この一連の動作がＭサイクル繰り返さ
れ、設定サイクル数のＭ回に達するとカウント回路１５
から出力される繰り返しサイクル数カラン日冬了信号に
よりディジタルマルチメーター１６のデータバッファに
対して転送要求がなされ、パーソナルコンピュータ１７
のフロンピーディスクにデータの転送がなされる。以上
の一連の動作を図示したのが、第２図である。
ーター１６から測定終了信号がパルスタイミング回路１
３を経て、パルスカウント回路１５に出力される。そし
て、パルスカウント回路１５において、繰り返しサイク
ル数がＭ回に達していないことが、判断されると、Ｎ回
の繰り返し回数がクリアされるとともに、続行の信号が
パルスタイミング回路１３に出力され、再び、書込、消
去動作が始まる。この一連の動作がＭサイクル繰り返さ
れ、設定サイクル数のＭ回に達するとカウント回路１５
から出力される繰り返しサイクル数カラン日冬了信号に
よりディジタルマルチメーター１６のデータバッファに
対して転送要求がなされ、パーソナルコンピュータ１７
のフロンピーディスクにデータの転送がなされる。以上
の一連の動作を図示したのが、第２図である。
次に、フロッピーディスクに収納されたデータをもとに
、パーソナルコンピュータ１７のＣＲＴ上に第３図の書
込、消去後の反射レベル測定グラフが表示され、これに
よって書込、消去の繰り返し安定性が評価できる。
、パーソナルコンピュータ１７のＣＲＴ上に第３図の書
込、消去後の反射レベル測定グラフが表示され、これに
よって書込、消去の繰り返し安定性が評価できる。
また、書込、消去の変化速度は、書込、消去、動作時の
読取ディテクター５の出力をオシロスコープ１９により
観察することで、わかる。観察される、書込、消去、動
作時の反射率変化を図示したのが、各々、第４図、第５
図である。
読取ディテクター５の出力をオシロスコープ１９により
観察することで、わかる。観察される、書込、消去、動
作時の反射率変化を図示したのが、各々、第４図、第５
図である。
（発明の効果）
本発明によれば、従来、測定できなかった書込、消去時
の記録材の反射率の速度変化が測定でき、書込、消去の
繰り返し安定性の評価も出来るようになった。
の記録材の反射率の速度変化が測定でき、書込、消去の
繰り返し安定性の評価も出来るようになった。
第１図は、本発明の一実施例の構成図、第２図は、実施
例による書込、消去、読み取りの各動作のタイミングを
説明するための説明図、第３図は、書込、消去の繰り返
しに対する反射率の安定性を評価するためＣＲＴ上に表
示されるグラフ、第４図、第５図は、各々、書込、消去
時にオシロスコープ上で表示される反射率変化の図であ
る。 １、光学ピンクアップ ２、被射体の固定ステージ ３、被射体 ４、アクチューエータ ５、読取り用ディテクター ６、サーボディテクタ ７、対物レンズ ８、半導体レーザー 第１図 ス
例による書込、消去、読み取りの各動作のタイミングを
説明するための説明図、第３図は、書込、消去の繰り返
しに対する反射率の安定性を評価するためＣＲＴ上に表
示されるグラフ、第４図、第５図は、各々、書込、消去
時にオシロスコープ上で表示される反射率変化の図であ
る。 １、光学ピンクアップ ２、被射体の固定ステージ ３、被射体 ４、アクチューエータ ５、読取り用ディテクター ６、サーボディテクタ ７、対物レンズ ８、半導体レーザー 第１図 ス
Claims (1)
- 被射体に、読取レーザー光、書込レーザー光、消去レ
ーザー光を照射するレーザー光照射手段と、読取レーザ
ー光、書込レーザー光、消去レーザー光の照射条件の設
定手段と、被射体からの反射レーザー光を測定し、反射
率を算出する反射率測定手段と、からなる相変化感材評
価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62289285A JPH01132924A (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 | 相変化感材評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62289285A JPH01132924A (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 | 相変化感材評価装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01132924A true JPH01132924A (ja) | 1989-05-25 |
Family
ID=17741194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62289285A Pending JPH01132924A (ja) | 1987-11-18 | 1987-11-18 | 相変化感材評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01132924A (ja) |
-
1987
- 1987-11-18 JP JP62289285A patent/JPH01132924A/ja active Pending
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