JPH0113437Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0113437Y2 JPH0113437Y2 JP1982128827U JP12882782U JPH0113437Y2 JP H0113437 Y2 JPH0113437 Y2 JP H0113437Y2 JP 1982128827 U JP1982128827 U JP 1982128827U JP 12882782 U JP12882782 U JP 12882782U JP H0113437 Y2 JPH0113437 Y2 JP H0113437Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tray
- mounting table
- magazine box
- storage
- tray mounting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Discharge Of Articles From Conveyors (AREA)
- De-Stacking Of Articles (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(a) 考案の技術分野
本考案は半導体装置を収容したトレイをマガジ
ンボツクスに収納送り込む機構に関するものであ
る。
ンボツクスに収納送り込む機構に関するものであ
る。
(b) 技術の背景
近年半導体デバイスの用途が急速に拡大するに
つれ、パツケージの多様化が進展しているが、そ
れに伴い、パツケージを収納する多様化したトレ
イを自動搬送装置のマガジンボツクスに収納する
トレイ収納送り込み機構が要求されている。
つれ、パツケージの多様化が進展しているが、そ
れに伴い、パツケージを収納する多様化したトレ
イを自動搬送装置のマガジンボツクスに収納する
トレイ収納送り込み機構が要求されている。
(c) 従来技術と問題点
一般にメモリデバイスに代表されるような標準
デバイスにおける単一品種大量生産方式において
は、専用のマガジン使用による自動搬送化が行わ
れているが、ゲートアレイのようなカスタムデバ
イスなどの特殊パツケージ型IC等のように多様
化したデバイスにおいては、その形状に適したト
レイを用い自動搬送装置(オートハンドラー)に
よつて試験測定を行い、試験測定済のトレイのマ
ガジンボツクスへの収納は手動によつて作業が行
われている。このような人手で行う作業のため、
極めて非能率的でありかつ装置の稼動率が低下す
る問題点があつた。又かかる問題点を解消するた
め、一連の直結したたとえばベルト搬送による自
動搬送化も試みられているが自動測定機構と自動
送り込み機構の両機構に関連した微妙な位置及び
タイミング調整、その他ダミー時間の発生など極
めて難しい問題があつた。
デバイスにおける単一品種大量生産方式において
は、専用のマガジン使用による自動搬送化が行わ
れているが、ゲートアレイのようなカスタムデバ
イスなどの特殊パツケージ型IC等のように多様
化したデバイスにおいては、その形状に適したト
レイを用い自動搬送装置(オートハンドラー)に
よつて試験測定を行い、試験測定済のトレイのマ
ガジンボツクスへの収納は手動によつて作業が行
われている。このような人手で行う作業のため、
極めて非能率的でありかつ装置の稼動率が低下す
る問題点があつた。又かかる問題点を解消するた
め、一連の直結したたとえばベルト搬送による自
動搬送化も試みられているが自動測定機構と自動
送り込み機構の両機構に関連した微妙な位置及び
タイミング調整、その他ダミー時間の発生など極
めて難しい問題があつた。
(d) 考案の目的
本考案の目的はかかる問題を解消するため、試
験測定用自動搬送装置とマガジンボツクス内への
トレイ挿入装置を分離独立させ装置の稼動率の向
上を図り、かつ自動化によつて能率よくトレイを
マガジンボツクス内に自動搬送する手段を設けた
半導体装置用トレイ収納送り込み装置の提供にあ
る。
験測定用自動搬送装置とマガジンボツクス内への
トレイ挿入装置を分離独立させ装置の稼動率の向
上を図り、かつ自動化によつて能率よくトレイを
マガジンボツクス内に自動搬送する手段を設けた
半導体装置用トレイ収納送り込み装置の提供にあ
る。
(e) 考案の構成
半導体装置収容トレイの受け取り部を設けて自
動搬送装置の終端に配設されるトレイ載置台と、
該トレイ載置台を搬送方向で水平移動させる手段
と、該トレイ載置台の上部に配設して該トレイを
搬送方向に位置決めする部材と、該トレイをマガ
ジンボツクスに挿入する手段と、該マガジンボツ
クスを一定のピツチで昇降させる昇降台を備えた
昇降装置とからなり、上記収納手段と該昇降装置
を該トレイ載置台の搬送方向両側に対向させて配
設し、該トレイ載置台に搬送された該トレイを上
記駆動手段及び該位置決め部材により一定位置に
移動して、上記挿入手段により該昇降装置で昇降
する該マガジンボツクスに自動収納するよう構成
したことを特徴としている。
動搬送装置の終端に配設されるトレイ載置台と、
該トレイ載置台を搬送方向で水平移動させる手段
と、該トレイ載置台の上部に配設して該トレイを
搬送方向に位置決めする部材と、該トレイをマガ
ジンボツクスに挿入する手段と、該マガジンボツ
クスを一定のピツチで昇降させる昇降台を備えた
昇降装置とからなり、上記収納手段と該昇降装置
を該トレイ載置台の搬送方向両側に対向させて配
設し、該トレイ載置台に搬送された該トレイを上
記駆動手段及び該位置決め部材により一定位置に
移動して、上記挿入手段により該昇降装置で昇降
する該マガジンボツクスに自動収納するよう構成
したことを特徴としている。
(f) 考案の実施例
以下本考案の一実施例について図面を参照して
具体的に説明する。
具体的に説明する。
第1図は本考案による一実施例の半導体装置用
トレイ収納送り込み機構を説明するための概略斜
視図、第2図は本考案機構動作を説明するための
要部断面図であり前図と同等の部分については同
一符号を付している。
トレイ収納送り込み機構を説明するための概略斜
視図、第2図は本考案機構動作を説明するための
要部断面図であり前図と同等の部分については同
一符号を付している。
本機構は第1図に示すように、半導体装置用ト
レイを搬送する移動用ベルト1の終端部を挿入す
る切り込み3を設けて搬送されたトレイ21を受
け取るトレイ載置台4を、前記移動用ベルト1よ
り僅か低い高さでトレイ21の搬送方向と同一方
向へ揺動自在に自動搬送装置の終端側に配設し
て、前記搬送方向へ揺動させるエアシリンダ6の
連結棒5と直結するとともに、トレイ載置台4上
のトレイ21を一定位置に位置決めするストツパ
9を前記搬送方向と直交させて前記トレイ載置台
4の上部に固定している。
レイを搬送する移動用ベルト1の終端部を挿入す
る切り込み3を設けて搬送されたトレイ21を受
け取るトレイ載置台4を、前記移動用ベルト1よ
り僅か低い高さでトレイ21の搬送方向と同一方
向へ揺動自在に自動搬送装置の終端側に配設し
て、前記搬送方向へ揺動させるエアシリンダ6の
連結棒5と直結するとともに、トレイ載置台4上
のトレイ21を一定位置に位置決めするストツパ
9を前記搬送方向と直交させて前記トレイ載置台
4の上部に固定している。
そのトレイ載置台4に対して前記搬送方向と直
交する一側面側に、一定ピツチの凹部を内側で対
向させて形成したトレイ収納用のマガジンボツク
ス7を搭載する昇降台81を備えて、搭載された
そのマガジンボツクス7を前記一定のピツチで昇
降せしめる昇降装置8が配設されている。
交する一側面側に、一定ピツチの凹部を内側で対
向させて形成したトレイ収納用のマガジンボツク
ス7を搭載する昇降台81を備えて、搭載された
そのマガジンボツクス7を前記一定のピツチで昇
降せしめる昇降装置8が配設されている。
また、昇降装置8と対向するトレイ載置台4の
他側面側に、上記ストツパ9により一定の位置に
位置決めされたトレイ載置台4上のトレイ21を
昇降装置8に搭載されたマガジンボツクス7内に
挿入するための押し出し棒10と、その押し出し
棒10を駆動する駆動用シリンダ11が設けられ
ている。
他側面側に、上記ストツパ9により一定の位置に
位置決めされたトレイ載置台4上のトレイ21を
昇降装置8に搭載されたマガジンボツクス7内に
挿入するための押し出し棒10と、その押し出し
棒10を駆動する駆動用シリンダ11が設けられ
ている。
以上のように構成された収納自動搬送装置にお
いて、先ず第2図aに示すように試験測定を完了
した半導体装置(図示せず)を収納したトレイ2
1が移動用ベルト1によつて運ばれ、同図bに示
すようにトレイ21はトレイ載置台4上に載置さ
れる。次いでトレイ載置台4は同図cに示すごと
くトレイ21を載置した状態のシリンダ6(第1
図)の駆動によりそのトレイ21の搬送方向へ移
動させると、載置されたトレイ21はストツパー
9に接触した状態で停止する。正確に位置決めさ
れたトレイ21は第1図に図示した押し出し棒1
0及び駆動用シリンダー11によつてマガジンボ
ツクス7内の所定位置に挿入される。挿入完了す
れば、マガジンボツクス7を昇降装置8で次のト
レイ挿入のため所要ピツチ上昇させ押し出し棒1
0は元の位置へ返送されるとともにトレイ載置台
4は連結棒5及び駆動用シリンダ6によつて元の
位置へ移動し順次搬送されてくるトレイ21のマ
ガジンボツクス7内への収納動作を繰返す。以上
一連の動作はセンサー及び、制御装置(図示せ
ず)によつて制御されていることは勿論である。
いて、先ず第2図aに示すように試験測定を完了
した半導体装置(図示せず)を収納したトレイ2
1が移動用ベルト1によつて運ばれ、同図bに示
すようにトレイ21はトレイ載置台4上に載置さ
れる。次いでトレイ載置台4は同図cに示すごと
くトレイ21を載置した状態のシリンダ6(第1
図)の駆動によりそのトレイ21の搬送方向へ移
動させると、載置されたトレイ21はストツパー
9に接触した状態で停止する。正確に位置決めさ
れたトレイ21は第1図に図示した押し出し棒1
0及び駆動用シリンダー11によつてマガジンボ
ツクス7内の所定位置に挿入される。挿入完了す
れば、マガジンボツクス7を昇降装置8で次のト
レイ挿入のため所要ピツチ上昇させ押し出し棒1
0は元の位置へ返送されるとともにトレイ載置台
4は連結棒5及び駆動用シリンダ6によつて元の
位置へ移動し順次搬送されてくるトレイ21のマ
ガジンボツクス7内への収納動作を繰返す。以上
一連の動作はセンサー及び、制御装置(図示せ
ず)によつて制御されていることは勿論である。
以上説明したごとく本考案の一実施例による半
導体装置用トレイ収納送り込み機構によれば精度
よく容易にトレイのマガジンボツクス内への自動
搬送が可能となる。
導体装置用トレイ収納送り込み機構によれば精度
よく容易にトレイのマガジンボツクス内への自動
搬送が可能となる。
(g) 考案の効果
したがつて本考案による半導体装置用トレイ収
納送り込み機構によれば、試験測定用自動搬送装
置とマガジンボツクス内へのトレイ送り込み機構
を分離独立させることによつて装置の稼動率の向
上、かつ自動化による能率向上、コストダウンに
大きな効果を得ることができる。
納送り込み機構によれば、試験測定用自動搬送装
置とマガジンボツクス内へのトレイ送り込み機構
を分離独立させることによつて装置の稼動率の向
上、かつ自動化による能率向上、コストダウンに
大きな効果を得ることができる。
第1図は本考案による一実施例の半導体装置用
トレイ収納送り込み機構を説明するための概略斜
視図、第2図は本考案機構動作を説明するための
要部断面図である。 図において、2は自動搬送装置、4はトレイ載
置台、7はマガジンボツクス、8は昇降装置、2
1は半導体装置用トレイを示す。
トレイ収納送り込み機構を説明するための概略斜
視図、第2図は本考案機構動作を説明するための
要部断面図である。 図において、2は自動搬送装置、4はトレイ載
置台、7はマガジンボツクス、8は昇降装置、2
1は半導体装置用トレイを示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 半導体装置収容トレイ21の受け取り部3を設
けて自動搬送装置の終端に配設されるトレイ載置
台4と、 該トレイ載置台4を搬送方向で水平移動させる
手段5,6と、 該トレイ載置台4の上部に配設して該トレイ2
1を搬送方向に位置決めする部材9と、 該トレイ21をマガジンボツクス7に挿入する
手段10,11と、 該マガジンボツクス7を一定のピツチで昇降さ
せる昇降台81を備えた昇降装置8とからなり、 上記収納手段10,11と該昇降装置8を該ト
レイ載置台4の搬送方向両側に対向させて配設
し、該トレイ載置台4に搬送された該トレイ21
を上記駆動手段5,6及び該位置決め部材9によ
り一定位置に移動して、上記挿入手段10,11
により該昇降装置8で昇降する該マガジンボツク
ス7に自動収納するよう構成したことを特徴とす
る半導体装置用トレイ収納送り込み機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12882782U JPS5933251U (ja) | 1982-08-25 | 1982-08-25 | 半導体装置用トレイ収納送り込み機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12882782U JPS5933251U (ja) | 1982-08-25 | 1982-08-25 | 半導体装置用トレイ収納送り込み機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5933251U JPS5933251U (ja) | 1984-03-01 |
| JPH0113437Y2 true JPH0113437Y2 (ja) | 1989-04-19 |
Family
ID=30292111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12882782U Granted JPS5933251U (ja) | 1982-08-25 | 1982-08-25 | 半導体装置用トレイ収納送り込み機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5933251U (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5344874A (en) * | 1976-10-05 | 1978-04-22 | Tdk Electronics Co Ltd | Device for automatically supplying printed board |
-
1982
- 1982-08-25 JP JP12882782U patent/JPS5933251U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5933251U (ja) | 1984-03-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3016981B2 (ja) | 自動テストハンドラー用ピック・プレース装置 | |
| US4907701A (en) | Apparatus for inspecting the appearance of semiconductor devices | |
| US6139243A (en) | Method and system for flipping a tray of parts | |
| CN101566668B (zh) | 测试处理机、卸载/制造封装芯片和传送测试托盘的方法 | |
| CN101470168B (zh) | 测试处理机以及封装芯片装载与制造方法 | |
| KR101767663B1 (ko) | 기판 제조 설비 및 기판 제조 방법 | |
| CN212944180U (zh) | 电子元件自动测试设备 | |
| WO2001073458A1 (en) | Apparatus for processing and sorting semiconductor devices received in trays | |
| US5920192A (en) | Integrated circuit transporting apparatus including a guide with an integrated circuit positioning function | |
| CN106128987A (zh) | 基板旋转装载器 | |
| CN115557016A (zh) | 一种灌装加塞系统 | |
| US20050162151A1 (en) | Device transfer mechanism for a test handler | |
| JPH0113437Y2 (ja) | ||
| TWI816586B (zh) | 測試設備及其測試方法 | |
| CN220392571U (zh) | 芯片上料机构以及芯片检测装置 | |
| KR20140105396A (ko) | 프로브 장치 및 웨이퍼 로더 | |
| JPH04312952A (ja) | 半導体装置の製造方法及び製造装置 | |
| CN212725246U (zh) | 一种晶粒的测试设备 | |
| KR930002875B1 (ko) | QFP(Quadratic Flat Package) IC 칩의 테스트 핸들러 | |
| JP2520508Y2 (ja) | 部品整列装置 | |
| CN218805943U (zh) | 一种芯片老化测试转运机构 | |
| JPS6157251B2 (ja) | ||
| JPS6236286Y2 (ja) | ||
| CN115476475B (zh) | 一种传感器连接插座嵌件自动排序装置 | |
| CN224122713U (zh) | 一种芯片自动测试机 |