JPH01137435A - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
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- JPH01137435A JPH01137435A JP62295115A JP29511587A JPH01137435A JP H01137435 A JPH01137435 A JP H01137435A JP 62295115 A JP62295115 A JP 62295115A JP 29511587 A JP29511587 A JP 29511587A JP H01137435 A JPH01137435 A JP H01137435A
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- JP
- Japan
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- light
- beam splitter
- reflected
- recording medium
- birefringence
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
この発明は、光学的記録媒体への記録および該媒体から
の再生の少なくとも一方を行なうための光学ヘッドに関
する。
の再生の少なくとも一方を行なうための光学ヘッドに関
する。
（従来の技術）
光ディスクや光カード等の光学的記録媒体は、一般に透
明基板上に記録層を設け、その土に透明保護層を形成し
た構造を有し、記録・再生は基板または保護層を通して
行なわれる。記録・再生には光学ヘッドが使用される。
明基板上に記録層を設け、その土に透明保護層を形成し
た構造を有し、記録・再生は基板または保護層を通して
行なわれる。記録・再生には光学ヘッドが使用される。
光学ヘッドは記録媒体に光を照射し、その反射光を光検
出器により検出して、再生信号やフォーカシング・トラ
ッキング等のサーボ用の制御信号を得るものである。
出器により検出して、再生信号やフォーカシング・トラ
ッキング等のサーボ用の制御信号を得るものである。
光学記録媒体における基板や保護層は一般にポリカーボ
ネート、ポリメチルメタクリ１ノート等の樹脂材料が使
用されるため、偏光方法により光の速度が異なる現象、
いわゆる複屈折が生じる。複屈折は、記録媒体からの反
射光の検出光量が変動する原因の一つとなっている。こ
れは光学ヘッドにおける媒体からの反射光の検出方法が
、複屈折の影響を受けやすいためである。特に光カード
では、安価な製造方法や、フレキシビリティが要求され
るために、基板または保護層での複屈折が大きい。
ネート、ポリメチルメタクリ１ノート等の樹脂材料が使
用されるため、偏光方法により光の速度が異なる現象、
いわゆる複屈折が生じる。複屈折は、記録媒体からの反
射光の検出光量が変動する原因の一つとなっている。こ
れは光学ヘッドにおける媒体からの反射光の検出方法が
、複屈折の影響を受けやすいためである。特に光カード
では、安価な製造方法や、フレキシビリティが要求され
るために、基板または保護層での複屈折が大きい。
従来の光学ヘッド、例えば媒体への入射光と媒体からの
反射光の分離に偏光ビームスプリッタと１／４波長板を
用いた光学ヘッドでは、媒体の複屈折によるリターデイ
ションをγとすると、検出光の強度はｃｏｓ２ （γ／
２）に比例して変動する。すなわち、複屈折によるリタ
ーデイションγが大きくなるに従って検出光の光量は小
さくなり、γ−１８０℃になると光量は零となってしま
う。
反射光の分離に偏光ビームスプリッタと１／４波長板を
用いた光学ヘッドでは、媒体の複屈折によるリターデイ
ションをγとすると、検出光の強度はｃｏｓ２ （γ／
２）に比例して変動する。すなわち、複屈折によるリタ
ーデイションγが大きくなるに従って検出光の光量は小
さくなり、γ−１８０℃になると光量は零となってしま
う。
従って、複屈折の変動が大きくなφと、再生信号やサー
ボ用制御信号が安定に得られなくなる。
ボ用制御信号が安定に得られなくなる。
（発明が解決しようとする問題点）
このように従来の光学ヘッドでは、光学記録媒体の基板
や保護層の複屈折の影響で、光検出器で検出される光量
が変動し、再生信央やサーボ制御か不安定になるという
問題があった。
や保護層の複屈折の影響で、光検出器で検出される光量
が変動し、再生信央やサーボ制御か不安定になるという
問題があった。
本発明は記録媒体の複屈折による検出光量の変動を防止
できる光学ヘッドを提供することを目的とする。
できる光学ヘッドを提供することを目的とする。
［発明の構成］
（問題点を解決するための手段）
本発明では、光の偏光方向に対する反射率の比が、逆数
となる関係をもつ２つのビームスプリッタを用い、第１
のビームスプリッタにより記録媒体からの反射光を反射
させ、第１のビームスプリッタで反射された光を第２の
ビームスプリッタによって光検出器に導く。そして、第
２のビームスプリッタを、第１のビームスプリッタによ
り反射された光を第１のビームスプリッタの入射光と反
射光のとなす平面と同一平面内で反射させるように配置
することによって、光検出器の入射面において記録媒体
での複屈折の影響を除去する。
となる関係をもつ２つのビームスプリッタを用い、第１
のビームスプリッタにより記録媒体からの反射光を反射
させ、第１のビームスプリッタで反射された光を第２の
ビームスプリッタによって光検出器に導く。そして、第
２のビームスプリッタを、第１のビームスプリッタによ
り反射された光を第１のビームスプリッタの入射光と反
射光のとなす平面と同一平面内で反射させるように配置
することによって、光検出器の入射面において記録媒体
での複屈折の影響を除去する。
（作用）
記録媒体からの反射光は記録媒体での複屈折の影響でｐ
偏光とＳ変更を含む楕円偏光となるが、複屈折の影響を
受けたｐｏｓ両偏光の強度変化は等振幅・逆位相である
ため、反射光全体としては光強度的に変化はなく複屈折
の影響を受けない。
偏光とＳ変更を含む楕円偏光となるが、複屈折の影響を
受けたｐｏｓ両偏光の強度変化は等振幅・逆位相である
ため、反射光全体としては光強度的に変化はなく複屈折
の影響を受けない。
この記録媒体からの反射光が第１のビームスプリッタで
反射されると、ｐ偏光とＳ偏光は異なる反射率および位
相シフトを受けるため、ｐ、８両偏光の各々の光強度変
化量が異なってしまうため、反射光全体としての光強度
が変化する。
反射されると、ｐ偏光とＳ偏光は異なる反射率および位
相シフトを受けるため、ｐ、８両偏光の各々の光強度変
化量が異なってしまうため、反射光全体としての光強度
が変化する。
ここで、本発明では第１のビームスプリッタで反射され
た光が第２のビームスプリフタに導かれるが、第２のビ
ームスプリッタに入射する光のｐ偏光およびＳ偏光は、
第１と第２のビームスプリッタの光のｐ偏光Ｓ偏光それ
ぞれに対する反射率の比が逆数の関係となっていること
により、第１のビームスプリッタに入射する光のＳ偏光
およびｐ偏光がそれぞれ受ける反射率と同じ反射率をそ
れぞれ受ける。従って、記録媒体からの反射光が第１お
よび第２のビームスプリッタを経て光検出器に到達する
間に、ｐ偏光とＳ偏光は同じ反射率を経験することにな
るから、光検出器の入射光の複屈折の影響を受けたｐ＋
Ｓ両偏光は、記録媒体からの反射光と同じく光強度の変
化が等振幅・逆位相となり、複屈折の影響が除去される
。
た光が第２のビームスプリフタに導かれるが、第２のビ
ームスプリッタに入射する光のｐ偏光およびＳ偏光は、
第１と第２のビームスプリッタの光のｐ偏光Ｓ偏光それ
ぞれに対する反射率の比が逆数の関係となっていること
により、第１のビームスプリッタに入射する光のＳ偏光
およびｐ偏光がそれぞれ受ける反射率と同じ反射率をそ
れぞれ受ける。従って、記録媒体からの反射光が第１お
よび第２のビームスプリッタを経て光検出器に到達する
間に、ｐ偏光とＳ偏光は同じ反射率を経験することにな
るから、光検出器の入射光の複屈折の影響を受けたｐ＋
Ｓ両偏光は、記録媒体からの反射光と同じく光強度の変
化が等振幅・逆位相となり、複屈折の影響が除去される
。
（実施例）
第１図に本発明の第１の実施例を示す。同図において、
レーザ光源１から出射された光ビームは、コリメータレ
ンズ２によりコリメートされた後、第１のビームスプリ
ッタ３を通過し、対物レンズ４で光学的記録媒体（例え
ば光カード）５の透明基板６を通して記録層７に集光さ
れる。記録層７から反射された光は、対物レンズ４を入
射光と逆方向に通り、第１のビームスプリッタ３で反射
される。
レーザ光源１から出射された光ビームは、コリメータレ
ンズ２によりコリメートされた後、第１のビームスプリ
ッタ３を通過し、対物レンズ４で光学的記録媒体（例え
ば光カード）５の透明基板６を通して記録層７に集光さ
れる。記録層７から反射された光は、対物レンズ４を入
射光と逆方向に通り、第１のビームスプリッタ３で反射
される。
第１のビームスプリッタ３で反射された光は、第２のビ
ームスプリッタ８に入射し、この第２のビームスプリッ
タ８で第１のビームスプリッタ３の入射光および反射光
がなす平面と同一平面内で反射されて、図示しない光検
出器に導かれる。光検出器の出力から、再生信号または
フォーカシングやトラッキング等のためのサーボ用信号
が生成される。
ームスプリッタ８に入射し、この第２のビームスプリッ
タ８で第１のビームスプリッタ３の入射光および反射光
がなす平面と同一平面内で反射されて、図示しない光検
出器に導かれる。光検出器の出力から、再生信号または
フォーカシングやトラッキング等のためのサーボ用信号
が生成される。
なお、第２のビームスプリッタ８で反射された光ビーム
を光路を偏光して光検出器に導く場合は、ｐ偏光と８偏
光の各々の反射率が等しいミラーを用いる必要がある。
を光路を偏光して光検出器に導く場合は、ｐ偏光と８偏
光の各々の反射率が等しいミラーを用いる必要がある。
また、記録媒体５からの反射光の光路中に挿入する全て
のミラーについて、同様にｐ偏光とＳ偏光の各々の反射
率が等しいものを用いる必要がある。
のミラーについて、同様にｐ偏光とＳ偏光の各々の反射
率が等しいものを用いる必要がある。
ここで、第１および第２のビームスプリッタ３゜８ビー
ムスプリツタにおける偏光方向に対する反射率の比が、
逆数の関係になっているものが使用される。すなわち、
第１のビームスプリッタ３のｐ、ｓ両偏光に対する透過
率および反射率を’ｒｐａ 。
ムスプリツタにおける偏光方向に対する反射率の比が、
逆数の関係になっているものが使用される。すなわち、
第１のビームスプリッタ３のｐ、ｓ両偏光に対する透過
率および反射率を’ｒｐａ 。
Ｔａ３およびａｐ３ 、 Ｒｓ３とし、第２のビームス
プリッタ８のｐ＋Ｓ両偏光に対する透過率および反射率
をＴｐ８ 、 Ｔａ２およびａｐ８ 、 Ｒｓ８とする
と、Ｒｐ３／ Ｒｓ３ ＝ Ｒｓ８ ／ ａｐ８である
。
プリッタ８のｐ＋Ｓ両偏光に対する透過率および反射率
をＴｐ８ 、 Ｔａ２およびａｐ８ 、 Ｒｓ８とする
と、Ｒｐ３／ Ｒｓ３ ＝ Ｒｓ８ ／ ａｐ８である
。
なお、第１および第２のビームスプリッタ３゜８は、ｐ
偏光成分に対して６０〜９０％の反射率を持ち、Ｓ偏光
成分に対して７０％以上の反射率を持つことが望ましい
。
偏光成分に対して６０〜９０％の反射率を持ち、Ｓ偏光
成分に対して７０％以上の反射率を持つことが望ましい
。
このような構成によると、第２のビームスプリッタ８で
反射された光、すなわち光検出器の入射光には、記録媒
体５の複屈折の影響による光量変化が生じない。この理
由を数式を用いて説明する。
反射された光、すなわち光検出器の入射光には、記録媒
体５の複屈折の影響による光量変化が生じない。この理
由を数式を用いて説明する。
なお、以下の説明では光ビームの進行経路を進行方向に
対して垂直な面で切り、その面内で一つの直交軸ｐ−ｓ
軸を基準として、光ビームを式で表わすものとする。
対して垂直な面で切り、その面内で一つの直交軸ｐ−ｓ
軸を基準として、光ビームを式で表わすものとする。
まず、レーザ光源１から出射する光ビームは一方向のみ
の偏光成分からなる直線偏光であるから、図の■而、つ
まりコリメータレンズ２の出口における光ビームのｐ
ＩＱ光およびｓ（Ｑ光を、ｐ偏光の振幅をａｐとして次
式で表わす。
の偏光成分からなる直線偏光であるから、図の■而、つ
まりコリメータレンズ２の出口における光ビームのｐ
ＩＱ光およびｓ（Ｑ光を、ｐ偏光の振幅をａｐとして次
式で表わす。
Ｅｐｌ−ａｐ ｅＯ８ωｔ
Ｅｓｌ＝０
この場合、０面における光の強度は
ｌ ＥＩ Ｉ２＝ ｌ ＥｐＨ２＋ Ｉ Ｅｓ１１２
− ａ ｐ ２ である。
− ａ ｐ ２ である。
次に、第１のビームスブリック３を通過した後の■面で
の光ビームのｐ偏光およびＳ偏光は、Ｅ ｐ２− Ａ
ｃｏｓ ωｔ （Ａ −（Ｔｉ 、ａ ｐ ）Ｅｓ２
−．０ となり、■面での光強度は Ｉ Ｒ２１２＝ ｌ Ｅｐ２１２＋ ｌ Ｅｓ２１２−
’ｒｐａ ・ａ ｐ ２ となる。
の光ビームのｐ偏光およびＳ偏光は、Ｅ ｐ２− Ａ
ｃｏｓ ωｔ （Ａ −（Ｔｉ 、ａ ｐ ）Ｅｓ２
−．０ となり、■面での光強度は Ｉ Ｒ２１２＝ ｌ Ｅｐ２１２＋ ｌ Ｅｓ２１２−
’ｒｐａ ・ａ ｐ ２ となる。
次に、光ビームは対物レンズ４および基板６を通過し、
記録層７から反射された後、再び基板６を通過して対物
レンズ４に入射する。この際、基板６には通常、複屈折
が存在するために、第２のビームスプリッタ３の反射光
入口である■面での光ビームは、第２図に示すように本
来ｐ偏光のみであった直線偏光が、ｐ偏光とＳ偏光の両
成分を持つようになり、しかもこれら両成分に位相差が
あるため、楕円偏光となる。
記録層７から反射された後、再び基板６を通過して対物
レンズ４に入射する。この際、基板６には通常、複屈折
が存在するために、第２のビームスプリッタ３の反射光
入口である■面での光ビームは、第２図に示すように本
来ｐ偏光のみであった直線偏光が、ｐ偏光とＳ偏光の両
成分を持つようになり、しかもこれら両成分に位相差が
あるため、楕円偏光となる。
複屈折は基板６の持つ光学軸（ｆ−ｇｊ！軸）において
ｆ軸方向とＳｌ軸方向の光ビームの速度に差がある特性
である。そこで、記録媒体５に入射した光が基板６を往
復で二度通過した後、ｆ軸方向に対してｓｌ軸の光の位
相がγだけ遅れるとしくこの位相遅れをリターディショ
ンという）、またｐ−ｓ軸とｆ−ｓｌ軸の偏角をαとす
る、また、記録層７はｐ、ｓ軸方向に関係しないので反
射率のみを考え、その反射率をＲ７とする。このとき■
面での光ビームのｐ偏光およびＳ偏光は、Ｅ ｐ３＝
ａｒＴｒｒＡ ｌ（ｃｏｓ２ａ ＋ｃｏｓ７ ５ｉｎ２
ａ ） ｃｏｓ（＆） ｔ−５ｉｎａ ｓｉｎ
ａ ｓｌｎωｔｌＥ ｓ３＝ ４ｎｒｆＡ １ｃｏｓ
ａ ５ｉｎａ （１−ｅｏｓａ ） ｃｏｓ ＣＩ
Ｊ ｔ＋ｓｉｎγａｏｓａ ｓｌｎ ａ ｓｉｎ
ωｔｌとなる。従って、■面でのｐ、Ｓ偏光の各々の光
強度は、 ｌ Ｅｐ３１２＝Ｒ７Ａ２（Ｌ−ｓｉｎγ／２５ｉｎ２
２（Ｚ）ｌ Ｅｓ３１２＝Ｒ７Ａ２ｓｉｎ２ｒ１２５Ｉ
ｎ２２ａとなり、複屈折の影響を受けた成分（γの項）
は互いに等振幅かつ逆位相である。従って、■面での光
ビームの強度は ｌ Ｒ３１２＝ ｌ Ｅｐ３１２− Ｉ Ｅｓ３１２−
Ｒ７Ａ”となる。すなわち、■面での光ビームには、複
屈折による影響は相殺される。
ｆ軸方向とＳｌ軸方向の光ビームの速度に差がある特性
である。そこで、記録媒体５に入射した光が基板６を往
復で二度通過した後、ｆ軸方向に対してｓｌ軸の光の位
相がγだけ遅れるとしくこの位相遅れをリターディショ
ンという）、またｐ−ｓ軸とｆ−ｓｌ軸の偏角をαとす
る、また、記録層７はｐ、ｓ軸方向に関係しないので反
射率のみを考え、その反射率をＲ７とする。このとき■
面での光ビームのｐ偏光およびＳ偏光は、Ｅ ｐ３＝
ａｒＴｒｒＡ ｌ（ｃｏｓ２ａ ＋ｃｏｓ７ ５ｉｎ２
ａ ） ｃｏｓ（＆） ｔ−５ｉｎａ ｓｉｎ
ａ ｓｌｎωｔｌＥ ｓ３＝ ４ｎｒｆＡ １ｃｏｓ
ａ ５ｉｎａ （１−ｅｏｓａ ） ｃｏｓ ＣＩ
Ｊ ｔ＋ｓｉｎγａｏｓａ ｓｌｎ ａ ｓｉｎ
ωｔｌとなる。従って、■面でのｐ、Ｓ偏光の各々の光
強度は、 ｌ Ｅｐ３１２＝Ｒ７Ａ２（Ｌ−ｓｉｎγ／２５ｉｎ２
２（Ｚ）ｌ Ｅｓ３１２＝Ｒ７Ａ２ｓｉｎ２ｒ１２５Ｉ
ｎ２２ａとなり、複屈折の影響を受けた成分（γの項）
は互いに等振幅かつ逆位相である。従って、■面での光
ビームの強度は ｌ Ｒ３１２＝ ｌ Ｅｐ３１２− Ｉ Ｅｓ３１２−
Ｒ７Ａ”となる。すなわち、■面での光ビームには、複
屈折による影響は相殺される。
次に、第１のビームスプリッタ３で反射された後の０面
での光ビームのｐ偏光および８偏光は、Ｅ ｓ４− （
’Ｆｉ”Ｅ ｒＴｔ下Ａ２１ｃｏｓα ｓｉｎα（１
−ｃｏｓγ）ＣＯ８（ωを一δｐ３）＋ ５１ｎ７
ａｏｓａｓｌｎ（ωｔ−δｐ３）） となる。ここで、δｐ３．δｓ３は第１のビームスプリ
ッタ３の反射で生じる位相シフトである。一般に、Ｒｐ
３ 、 Ｒｓ３は等しくないため、この第１のビームス
プリッタ３で反射された光ビームには、前記の複屈折の
影響を受けた成分が残る。
での光ビームのｐ偏光および８偏光は、Ｅ ｓ４− （
’Ｆｉ”Ｅ ｒＴｔ下Ａ２１ｃｏｓα ｓｉｎα（１
−ｃｏｓγ）ＣＯ８（ωを一δｐ３）＋ ５１ｎ７
ａｏｓａｓｌｎ（ωｔ−δｐ３）） となる。ここで、δｐ３．δｓ３は第１のビームスプリ
ッタ３の反射で生じる位相シフトである。一般に、Ｒｐ
３ 、 Ｒｓ３は等しくないため、この第１のビームス
プリッタ３で反射された光ビームには、前記の複屈折の
影響を受けた成分が残る。
次に、第２のビームスプリッタ８で反射された後の■而
での光ビームのｐ偏光およびＳ偏光は、Ｅ ｐ５−
ｆ］ｊ１−ｒ５”ｉ （’Ｈ了Ａ ２１（ｃｏｓ２
α＋ｃｏｓγ５ｉｎ２ａ ） ｃｏｓ（ωを一δｐ３
−δ５９）−ｓｉｎ ７ｓｉｎ（ωｔ−δｐ３−δ５９
） Ｅ ５５Ｅａ■０■４ｒＵｒＡ ２（ｃｏｓａ ５ｌ
ｎａ（１−８０８７） ｃｏｓ（ωｔ−δＳ３−δｐ９
）＋ｓｉｎγ ｃｏｓａ ５ｉｎ（ωを一δｐ３−δ−
９）となる。従って、■面でのｐ、Ｓ両偏光の光強度は
、 Ｉ Ｅ ｐ５１２−Ｒｐ８ Ｒｐ３ Ｒ７Ａ２（１−ｓ
ｌｎ２７ ／２ｓｉｎ２２α） ｌ Ｅｓ５１２＝Ｒ８８Ｒｓ３ Ｒ７Ａ２５１１１２
７／２ｓｉｎ ２α となり、光ビームの強度は ｌ Ｅ５ ｌ ２ ＝ Ｉ Ｅｐ５１２ ＋ Ｉ
Ｅｓ５１２−Ｒｐ８ Ｒｐ３ Ｒ７Ａ ＋Ｒ７Ａ
（Ｒｓ８ Ｒ５３−Ｒｐ８ Ｒ５３）ｓｉｎ２７／
２５ｉｎ２２ａとなる。
での光ビームのｐ偏光およびＳ偏光は、Ｅ ｐ５−
ｆ］ｊ１−ｒ５”ｉ （’Ｈ了Ａ ２１（ｃｏｓ２
α＋ｃｏｓγ５ｉｎ２ａ ） ｃｏｓ（ωを一δｐ３
−δ５９）−ｓｉｎ ７ｓｉｎ（ωｔ−δｐ３−δ５９
） Ｅ ５５Ｅａ■０■４ｒＵｒＡ ２（ｃｏｓａ ５ｌ
ｎａ（１−８０８７） ｃｏｓ（ωｔ−δＳ３−δｐ９
）＋ｓｉｎγ ｃｏｓａ ５ｉｎ（ωを一δｐ３−δ−
９）となる。従って、■面でのｐ、Ｓ両偏光の光強度は
、 Ｉ Ｅ ｐ５１２−Ｒｐ８ Ｒｐ３ Ｒ７Ａ２（１−ｓ
ｌｎ２７ ／２ｓｉｎ２２α） ｌ Ｅｓ５１２＝Ｒ８８Ｒｓ３ Ｒ７Ａ２５１１１２
７／２ｓｉｎ ２α となり、光ビームの強度は ｌ Ｅ５ ｌ ２ ＝ Ｉ Ｅｐ５１２ ＋ Ｉ
Ｅｓ５１２−Ｒｐ８ Ｒｐ３ Ｒ７Ａ ＋Ｒ７Ａ
（Ｒｓ８ Ｒ５３−Ｒｐ８ Ｒ５３）ｓｉｎ２７／
２５ｉｎ２２ａとなる。
ここで、第１およびｔＡ２のビームスプリッタ３゜８は
偏光方向に対する反射率の比が逆数関係であるため、第
２のビームスプリッタ８に入射する光ビームのｐ、Ｓ偏
光は、第１のビームスプリッタによりＳ、ｐ偏光がそれ
ぞれ受けた反射率と同じ反射率で反射する。すなわち、
Ｒｐ８ Ｒｐ３−Ｒｓ８Ｒｓ３より、複屈折によるリタ
ーデイションγの項、すなわち１Ｅ６１２の式の第２項
は０となる。よって、■面すなわち光検出器の入射器で
の光強度は ｌ Ｅ５ １２−Ｒ９３Ｒｐ８ Ｒ７Ａ２となり、複
屈折に関係なく一定の検出光量となる。
偏光方向に対する反射率の比が逆数関係であるため、第
２のビームスプリッタ８に入射する光ビームのｐ、Ｓ偏
光は、第１のビームスプリッタによりＳ、ｐ偏光がそれ
ぞれ受けた反射率と同じ反射率で反射する。すなわち、
Ｒｐ８ Ｒｐ３−Ｒｓ８Ｒｓ３より、複屈折によるリタ
ーデイションγの項、すなわち１Ｅ６１２の式の第２項
は０となる。よって、■面すなわち光検出器の入射器で
の光強度は ｌ Ｅ５ １２−Ｒ９３Ｒｐ８ Ｒ７Ａ２となり、複
屈折に関係なく一定の検出光量となる。
従って、光検出器の出力に基づいて得られる再生信号や
、サーボ用制御信号が安定に得ら４ｋ 、−。
、サーボ用制御信号が安定に得ら４ｋ 、−。
第３図は本発°明の第２の実施例であり、第１のビーム
スプリッタ３と対物レンズ４との間にｌ／４波長板９を
挿入している。この１／４波長板９は記録媒体５への入
射光を直線偏光から円偏光に変換し、また記録媒体５か
らの反射光を直線偏光に戻すためのものである。
スプリッタ３と対物レンズ４との間にｌ／４波長板９を
挿入している。この１／４波長板９は記録媒体５への入
射光を直線偏光から円偏光に変換し、また記録媒体５か
らの反射光を直線偏光に戻すためのものである。
この場合、第１の実施例と同様にして第２のビームスプ
リッタ８で反射された後の■面での光強度を求めると、 ｌ Ｅ ６ ｌ ２＝Ｒ７Ａ２１Ｒｓ３ Ｒ５８−（
Ｒｓ３ Ｒｓ８−Ｒｐ３Ｒｐ８） ５ｉｎ２７ ／２） となる。ここで、ビームスプリッタ３．８は同じ光学特
性を持ち、Ｒｐ８ Ｒｐ３−Ｒｓ８ Ｒｓ３であるから
、Ｉ Ｅ６ ｌ ２−Ｒ７Ｒｓ３ Ｒ５８Ａ２となり
、第１の実施例と同様に複屈折による光検出器での検出
光量の変動がなくなる。
リッタ８で反射された後の■面での光強度を求めると、 ｌ Ｅ ６ ｌ ２＝Ｒ７Ａ２１Ｒｓ３ Ｒ５８−（
Ｒｓ３ Ｒｓ８−Ｒｐ３Ｒｐ８） ５ｉｎ２７ ／２） となる。ここで、ビームスプリッタ３．８は同じ光学特
性を持ち、Ｒｐ８ Ｒｐ３−Ｒｓ８ Ｒｓ３であるから
、Ｉ Ｅ６ ｌ ２−Ｒ７Ｒｓ３ Ｒ５８Ａ２となり
、第１の実施例と同様に複屈折による光検出器での検出
光量の変動がなくなる。
第４図は本発明の第３の実施例であり、レーザ光源１か
ら出射されコリメータレンズ２を通過した光ビームを第
２のビームスプリッタ８に入射させ、該ビームスプリッ
タ８を透過させた後、第１のビームスプリッタ３およ、
び対物レンズ４を介して記録媒体５に照射する構成とし
たものである。
ら出射されコリメータレンズ２を通過した光ビームを第
２のビームスプリッタ８に入射させ、該ビームスプリッ
タ８を透過させた後、第１のビームスプリッタ３およ、
び対物レンズ４を介して記録媒体５に照射する構成とし
たものである。
第１の実施例と同様にして第２のビームスプリッタ８で
反射された後の０面での光強度を求めると、’ ｌ Ｅ
７ ｌ ２＝Ｒ７Ｒｐ３ Ｔａ２ ａｐ ［Ｒｐ
８ Ｒｐ３＋（Ｒｓ８Ｒｓ３−Ｒｐ８ Ｒｐ３）ｓｉ２
７／２５ｉｎ２２（Ｚｌとなる。ここで、ビームスプリ
ッタ３．８は同じ偏光方向に対する反射率の比が逆数関
係にあり、Ｒｐ８ Ｒｐ３−Ｒｓ８ Ｒｓ３であるから
、１Ｅ７１２−Ｒ７Ｒｐ３ Ｔａ２ ａｐ２となり、同
様に複屈折による光検出器での検出光量の変動が除去さ
れる。
反射された後の０面での光強度を求めると、’ ｌ Ｅ
７ ｌ ２＝Ｒ７Ｒｐ３ Ｔａ２ ａｐ ［Ｒｐ
８ Ｒｐ３＋（Ｒｓ８Ｒｓ３−Ｒｐ８ Ｒｐ３）ｓｉ２
７／２５ｉｎ２２（Ｚｌとなる。ここで、ビームスプリ
ッタ３．８は同じ偏光方向に対する反射率の比が逆数関
係にあり、Ｒｐ８ Ｒｐ３−Ｒｓ８ Ｒｓ３であるから
、１Ｅ７１２−Ｒ７Ｒｐ３ Ｔａ２ ａｐ２となり、同
様に複屈折による光検出器での検出光量の変動が除去さ
れる。
！５図は本発明の第４の実施例であり、第３の実施例に
第２の実施例と同様に１／４波長板９を追加したもので
ある。この場合、第２のビームスプリッタ８で反射され
た後の０面での光強度は、ｌ Ｅ８ １２−Ｒ７Ｒｐ３
Ｔａ２ ａｐ １Ｒｐ３ Ｒｐ８−（Ｒｓ３Ｒｐ
８−Ｒｓ３ Ｒ５９） ５ｉｎ２ｒ ／２）となる。ビ
ームスプリッタ３．８が偏光方向に対する反射率の比が
逆数関係にありＲｐ８ Ｒｐ３−Ｒｓ８Ｒｓ３であるこ
とにより、ｌ Ｅ８ １ −Ｒ７Ｒｐ３ Ｒｐ８ａｐ２
Ｒｐ３ Ｒｐ８となり、やはり複屈折による光検出器で
の検出光量の変動は生じない。
第２の実施例と同様に１／４波長板９を追加したもので
ある。この場合、第２のビームスプリッタ８で反射され
た後の０面での光強度は、ｌ Ｅ８ １２−Ｒ７Ｒｐ３
Ｔａ２ ａｐ １Ｒｐ３ Ｒｐ８−（Ｒｓ３Ｒｐ
８−Ｒｓ３ Ｒ５９） ５ｉｎ２ｒ ／２）となる。ビ
ームスプリッタ３．８が偏光方向に対する反射率の比が
逆数関係にありＲｐ８ Ｒｐ３−Ｒｓ８Ｒｓ３であるこ
とにより、ｌ Ｅ８ １ −Ｒ７Ｒｐ３ Ｒｐ８ａｐ２
Ｒｐ３ Ｒｐ８となり、やはり複屈折による光検出器で
の検出光量の変動は生じない。
上記の実施例では、マコのビームスプリッタを反射で使
用したが、透過の場合でも同様な効果が得られる。第１
のビームスプリッタの透過率（Ｔ、Ｔ）と第２のビーム
スプリッタの透過Ｓ 率Ｔ’ 、Ｔ’ ）の関係がＴ Ｔ ／Ｔ’、Ｔ’
でｐ Ｓｐｓ ｓ ｐ 第１と第２のビームスプリッタの入射と反射が同一平面
内で行なわれるような配置とした場合、反射の場合と同
一の効果が得られる。
用したが、透過の場合でも同様な効果が得られる。第１
のビームスプリッタの透過率（Ｔ、Ｔ）と第２のビーム
スプリッタの透過Ｓ 率Ｔ’ 、Ｔ’ ）の関係がＴ Ｔ ／Ｔ’、Ｔ’
でｐ Ｓｐｓ ｓ ｐ 第１と第２のビームスプリッタの入射と反射が同一平面
内で行なわれるような配置とした場合、反射の場合と同
一の効果が得られる。
従って第５の実施例を第６図に示す。同図において、レ
ーザ光源１から出射された光ビームは、コリメータレン
ズ２によりコリメートされた後、第１のビームスプリッ
タ３で反射され、対物レンズ４で光学的記録媒体（例え
ば光カード）５の透明基板６を通して記録層７上に集光
される。記録層７から反射された光は、対物レンズ４を
入射光と逆方向に通り、第１のビームスプリッタ３を透
過する。ここで第１のビームスプリッタ３と第２のビー
ムスプリッタ８の関係は、光の偏光方向に対する透過率
の比が逆数の関係ｉ’ｐｓ ／ Ｔａ２− Ｔｓ８／
Ｔｐａである。
ーザ光源１から出射された光ビームは、コリメータレン
ズ２によりコリメートされた後、第１のビームスプリッ
タ３で反射され、対物レンズ４で光学的記録媒体（例え
ば光カード）５の透明基板６を通して記録層７上に集光
される。記録層７から反射された光は、対物レンズ４を
入射光と逆方向に通り、第１のビームスプリッタ３を透
過する。ここで第１のビームスプリッタ３と第２のビー
ムスプリッタ８の関係は、光の偏光方向に対する透過率
の比が逆数の関係ｉ’ｐｓ ／ Ｔａ２− Ｔｓ８／
Ｔｐａである。
第１のビームスプリッタ３を透過した光は、次の第２の
ビームスプリッタ８を透過し、図示しない光検出器に導
かれる。光検出器の出力から、再生信号またはフォーカ
シングやトラッキング等のためのサーボ用信号が生成さ
れる。
ビームスプリッタ８を透過し、図示しない光検出器に導
かれる。光検出器の出力から、再生信号またはフォーカ
シングやトラッキング等のためのサーボ用信号が生成さ
れる。
第５の実施例において第１の実施例と同様に第２のビー
ムスプリッタ８を透過した後の０面での光強度を求める
。０面での光強度を求めるとｌ Ｅ ９ ｌ ２
− Ｒｐ３ ａｐ２ Ｔｐａ Ｔｐ８＋Ｒｐ３
ａｐ２ （Ｔｓ３Ｔｓ８−Ｔｐａ Ｔｐａ）ｓ１ｎ２７
／２５ｉｎ２２ａここでビームスプリッタ３．８は偏
光方向に対する透過率の比が逆数関係であるため、Ｔａ
２ Ｔａ２−Ｔｐａ Ｔｐａであるためｌ Ｅ ９ １
２−Ｒｐ３ ａｐ２Ｔｐ３Ｔｐ８となり第１の実施例と
同様に複屈折による光検出器での検出光量の変動がなく
なる。
ムスプリッタ８を透過した後の０面での光強度を求める
。０面での光強度を求めるとｌ Ｅ ９ ｌ ２
− Ｒｐ３ ａｐ２ Ｔｐａ Ｔｐ８＋Ｒｐ３
ａｐ２ （Ｔｓ３Ｔｓ８−Ｔｐａ Ｔｐａ）ｓ１ｎ２７
／２５ｉｎ２２ａここでビームスプリッタ３．８は偏
光方向に対する透過率の比が逆数関係であるため、Ｔａ
２ Ｔａ２−Ｔｐａ Ｔｐａであるためｌ Ｅ ９ １
２−Ｒｐ３ ａｐ２Ｔｐ３Ｔｐ８となり第１の実施例と
同様に複屈折による光検出器での検出光量の変動がなく
なる。
第７図は本発明の第６の実施例であり、第１のビームス
プリッタ３と対物レンズ４との間に１／４波長板９を挿
入している。この１／４波長板９は記録媒体５への入射
光を直線偏光から円偏光に変換し、また記録媒体５から
の反射光を直線偏光に戻すためのものである。
プリッタ３と対物レンズ４との間に１／４波長板９を挿
入している。この１／４波長板９は記録媒体５への入射
光を直線偏光から円偏光に変換し、また記録媒体５から
の反射光を直線偏光に戻すためのものである。
この場合、第５の実施例と同様にして第２のビームスプ
リッタ８を透過した後の［株］面での光強度を求めると
、 ｌ Ｅ １０ ｌ ２−Ｒ７Ｒｐ３ ａｐ２１Ｔｓ３
Ｔｓ９＋（Ｔｐａ Ｔａ２−Ｔａ２ Ｔａ２） ５１
ｎ２７ ／２１となる。ここでビームスプリッタ３．°
８はその偏光方向に対する透過率の比が逆数関係である
のでＴｐａ Ｔａ２−Ｔａ２ Ｔａ２であるから、ＩＥ
ＩＩＩ −Ｒ７Ｒｐ３ ａｐ２Ｔｓ３ Ｔａ２となり
、第１の実施例と同様に複屈折による光検出器での検出
光量の変動がなくなる。
リッタ８を透過した後の［株］面での光強度を求めると
、 ｌ Ｅ １０ ｌ ２−Ｒ７Ｒｐ３ ａｐ２１Ｔｓ３
Ｔｓ９＋（Ｔｐａ Ｔａ２−Ｔａ２ Ｔａ２） ５１
ｎ２７ ／２１となる。ここでビームスプリッタ３．°
８はその偏光方向に対する透過率の比が逆数関係である
のでＴｐａ Ｔａ２−Ｔａ２ Ｔａ２であるから、ＩＥ
ＩＩＩ −Ｒ７Ｒｐ３ ａｐ２Ｔｓ３ Ｔａ２となり
、第１の実施例と同様に複屈折による光検出器での検出
光量の変動がなくなる。
第８図は本発明の第７の実施例であり、レーザ光源１か
ら出射されコリメータレンズ２を通過した光ビームを第
２のビームスプリフタに入射させ、該ビームスプリッタ
８を反射し、第１のビームスプリッタ３および対物レン
ズ４を介して記録媒体５に照射する構成としたものであ
る。第５の実施例と同様にして第２のビームスプリッタ
８で反射された後の０面での光強度を求めると、Ｉ Ｅ
１１ Ｉ ２−Ｒ７Ｒｐ９ Ｔｐａ ａｐ２ｆＴｐ
３ Ｔｓ９＋（Ｔｓ３Ｔｓ９−Ｔａ２ Ｔｐａ） ５ｉ
ｎ２ｒ／２５１ｎ２２ｃｒ）となる。ここで、ビームス
プリッタ３．８はその偏光方向に対する透過率の比が逆
数関係であるのでＴａ２ Ｔａ２−Ｔａ２ Ｔｐａであ
るから、ＩＥＩＩＩ２−Ｒ７Ｒｐ９ Ｔｐａ ａｐ２
’ｒｐａ Ｔａ２となり、同様に複屈折による光検出
器での検出光量の変動が除去される。
ら出射されコリメータレンズ２を通過した光ビームを第
２のビームスプリフタに入射させ、該ビームスプリッタ
８を反射し、第１のビームスプリッタ３および対物レン
ズ４を介して記録媒体５に照射する構成としたものであ
る。第５の実施例と同様にして第２のビームスプリッタ
８で反射された後の０面での光強度を求めると、Ｉ Ｅ
１１ Ｉ ２−Ｒ７Ｒｐ９ Ｔｐａ ａｐ２ｆＴｐ
３ Ｔｓ９＋（Ｔｓ３Ｔｓ９−Ｔａ２ Ｔｐａ） ５ｉ
ｎ２ｒ／２５１ｎ２２ｃｒ）となる。ここで、ビームス
プリッタ３．８はその偏光方向に対する透過率の比が逆
数関係であるのでＴａ２ Ｔａ２−Ｔａ２ Ｔｐａであ
るから、ＩＥＩＩＩ２−Ｒ７Ｒｐ９ Ｔｐａ ａｐ２
’ｒｐａ Ｔａ２となり、同様に複屈折による光検出
器での検出光量の変動が除去される。
第９図は本発明の第８の実施例であり、第７の実施例に
第６の実施例を組合わせたものであり、ここでは説明は
省略する。
第６の実施例を組合わせたものであり、ここでは説明は
省略する。
［発明の効果］
本発明によれば、記録媒体からの反射光を第１のビーム
スプリッタにより反射させた後、これと偏光方向に対す
る反射率の比が逆数関係にある光学特性を持ったｆｆ１
２のビームスプリッタに入射させた後、第１のビームス
プリッタの入射光と反射光とのなす平面と同一平面内で
反射させることにより、第２のビームスプリッタで反射
された光ビーム、すなわち光検出器の入射光において、
記録媒体での複屈折の影響を受けた成分を除去すること
ができる。従って、複屈折の変動による検出光量の変化
がなくなり、信号再生や、フォーカシング、トラッキン
グ等のサーボ制御を安定に行なうことが可能となる。
スプリッタにより反射させた後、これと偏光方向に対す
る反射率の比が逆数関係にある光学特性を持ったｆｆ１
２のビームスプリッタに入射させた後、第１のビームス
プリッタの入射光と反射光とのなす平面と同一平面内で
反射させることにより、第２のビームスプリッタで反射
された光ビーム、すなわち光検出器の入射光において、
記録媒体での複屈折の影響を受けた成分を除去すること
ができる。従って、複屈折の変動による検出光量の変化
がなくなり、信号再生や、フォーカシング、トラッキン
グ等のサーボ制御を安定に行なうことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例に係る光学ヘッドの構成図、
第２図は光の偏光方向と記録媒体の基板の光学軸との関
係を示す図、第３図〜第９図は本発明の他の実施例に係
る光学ヘッドの構成図である。 １・・・レーザ光源、２・・・コリメータレンズ、３・
・・第１のビームスプリッタ、４・・・対物レンズ、５
・・・光学的記録媒体、６・・・基板、７・・・記録層
、８・・・第２のビームスプリッタ、９・・・１／４波
長板。
第２図は光の偏光方向と記録媒体の基板の光学軸との関
係を示す図、第３図〜第９図は本発明の他の実施例に係
る光学ヘッドの構成図である。 １・・・レーザ光源、２・・・コリメータレンズ、３・
・・第１のビームスプリッタ、４・・・対物レンズ、５
・・・光学的記録媒体、６・・・基板、７・・・記録層
、８・・・第２のビームスプリッタ、９・・・１／４波
長板。
Claims (1)
- （１）光学的記録媒体への記録および該媒体からの再生
の少なくとも一方を行なう光学ヘッドにおいて、前記記
録媒体からの反射光を反射させる第１のビームスプリッ
タと、該第１のビームスプリッタにより反射された光を
該第１のビームスプリッタの入射光と反射光とのなす平
面と同一平面内で反射させて光検出器に導く第２のビー
ムスプリッタを備え、第１のビームスプリッタの光の偏
光方向に対する反射率Ｒ＿ｐ、Ｒ＿ｓと第２のビームス
プリッタの光の偏光方法に対する反射率Ｒ′＿ｐ、Ｒ′
＿ｓの関係がＲｐ／Ｒｓ＝Ｒ′＿ｓ／Ｒ′＿ｐとなる光
学特性であることを特徴とする光学ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62295115A JPH01137435A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62295115A JPH01137435A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 光学ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01137435A true JPH01137435A (ja) | 1989-05-30 |
Family
ID=17816484
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62295115A Pending JPH01137435A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01137435A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2664394A1 (fr) * | 1990-07-09 | 1992-01-10 | Asahi Optical Co Ltd | Systeme optique utilisant une lumiere polarisee. |
| WO2012056827A1 (ja) * | 2010-10-27 | 2012-05-03 | コニカミノルタオプト株式会社 | 光ピックアップ装置 |
-
1987
- 1987-11-25 JP JP62295115A patent/JPH01137435A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2664394A1 (fr) * | 1990-07-09 | 1992-01-10 | Asahi Optical Co Ltd | Systeme optique utilisant une lumiere polarisee. |
| US5652745A (en) * | 1990-07-09 | 1997-07-29 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical system using polarized light with prevention of effect of birefringence |
| WO2012056827A1 (ja) * | 2010-10-27 | 2012-05-03 | コニカミノルタオプト株式会社 | 光ピックアップ装置 |
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