JPH01138622A - 光学ヘッド構造 - Google Patents
光学ヘッド構造Info
- Publication number
- JPH01138622A JPH01138622A JP62297137A JP29713787A JPH01138622A JP H01138622 A JPH01138622 A JP H01138622A JP 62297137 A JP62297137 A JP 62297137A JP 29713787 A JP29713787 A JP 29713787A JP H01138622 A JPH01138622 A JP H01138622A
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- JP
- Japan
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- beam splitter
- light
- polarizing beam
- detecting
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 51
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 31
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/09—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
- G03F7/091—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers characterised by antireflection means or light filtering or absorbing means, e.g. anti-halation, contrast enhancement
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Structural Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は光学ヘッド構造に関し、特に小型化及び軽量化
し得る光学ヘッド構造に関する。
し得る光学ヘッド構造に関する。
〈従来の技術〉
従来、光学式記録媒体としての光ディスクの記録面に収
束光を照射すると共に、その反射光を検出することによ
り、記録及び再生を行うようにした高密度記録再生装置
があり、その装置の光学ヘッドにあっては、第５図に示
されるように構成されているものがある。
束光を照射すると共に、その反射光を検出することによ
り、記録及び再生を行うようにした高密度記録再生装置
があり、その装置の光学ヘッドにあっては、第５図に示
されるように構成されているものがある。
第５図に於て、光源としての半導体レーザ２１から発せ
られる出射光２２をコリメータレンズ２３にて平行光に
して、更に整形プリズム２４により円形断面に整形した
後、偏光ビームスプリッタ２５及びλ／４板２板金６過
させて、対物レンズ２７により収束光に変えて光ディス
ク２８の記録面に照射している。その光ディスク２８に
て反射して、対物レンズ２７を逆向きに通過した後再び
λ／４板２板金６過した反射光は、その偏光面が出射光
２２の偏光面に対して９０度異子るため、偏光ビームス
プリッタ２５内の対角方向に配設された偏光フィルム２
９により反射させられて、偏光ビームスプリッタ２５の
図に於ける左側面から検出光３０として出射する。
られる出射光２２をコリメータレンズ２３にて平行光に
して、更に整形プリズム２４により円形断面に整形した
後、偏光ビームスプリッタ２５及びλ／４板２板金６過
させて、対物レンズ２７により収束光に変えて光ディス
ク２８の記録面に照射している。その光ディスク２８に
て反射して、対物レンズ２７を逆向きに通過した後再び
λ／４板２板金６過した反射光は、その偏光面が出射光
２２の偏光面に対して９０度異子るため、偏光ビームス
プリッタ２５内の対角方向に配設された偏光フィルム２
９により反射させられて、偏光ビームスプリッタ２５の
図に於ける左側面から検出光３０として出射する。
この検出光３０が、集光レンズ３１により収束光に変え
られた後、ハーフプリズム３２により、直進してトラッ
キングエラー検出用測光センサ３３上に集光するものと
、曲折してシリンドリカルレンズ３４を介してフォーカ
スエラー検出用測光センサ３５上に集光するものとに分
けられている。
られた後、ハーフプリズム３２により、直進してトラッ
キングエラー検出用測光センサ３３上に集光するものと
、曲折してシリンドリカルレンズ３４を介してフォーカ
スエラー検出用測光センサ３５上に集光するものとに分
けられている。
これら各測光センサ３３．３５により、トラッキング及
びフォーカスの各エラー検出が行われ、それぞれのエラ
ー量に応じて対物レンズ２７を駆動して修正する。
びフォーカスの各エラー検出が行われ、それぞれのエラ
ー量に応じて対物レンズ２７を駆動して修正する。
この光学ヘッドにあっては、上記したように多くの光学
部品で構成されているため、光学ヘッドを保持す−るた
めの固定フレームも大型化しかつ重量も増大するため、
光学ヘッドの重量が増大すると云う問題があった。更に
、各部品の組付も煩雑化して、高精度な調整が困難であ
った。
部品で構成されているため、光学ヘッドを保持す−るた
めの固定フレームも大型化しかつ重量も増大するため、
光学ヘッドの重量が増大すると云う問題があった。更に
、各部品の組付も煩雑化して、高精度な調整が困難であ
った。
〈発明が解決しようとする問題点〉
このような従来技術の問題点に鑑み、本発明の主な目的
は、小型化及び軽量化し得る光学ヘッド構造を提供する
ことにある。
は、小型化及び軽量化し得る光学ヘッド構造を提供する
ことにある。
〈問題点を解決するための手段〉
このような目的は、本発明によれば、光学ヘッドのフォ
ーカス及びトラッキングの各エラー状態を光学的に検出
するためのエラー検出手段と、光学式記録媒体に向けて
光源から発する出射光の光軸に対して前記光学式記録媒
体からの反射光の光軸を変向させることにより前記エラ
ー検出手段に向けて検出光を入射するための偏光ビーム
スプリッタとを有する光学ヘッド構造に於て、前記偏光
ビームスプリッタの前記検出光を出射する面の一部にフ
ォーカスエラー検出用レンズが一体的に形成されている
ことを特徴とする光学ヘッド構造を提供することにより
達成される。
ーカス及びトラッキングの各エラー状態を光学的に検出
するためのエラー検出手段と、光学式記録媒体に向けて
光源から発する出射光の光軸に対して前記光学式記録媒
体からの反射光の光軸を変向させることにより前記エラ
ー検出手段に向けて検出光を入射するための偏光ビーム
スプリッタとを有する光学ヘッド構造に於て、前記偏光
ビームスプリッタの前記検出光を出射する面の一部にフ
ォーカスエラー検出用レンズが一体的に形成されている
ことを特徴とする光学ヘッド構造を提供することにより
達成される。
く作用〉
このように、偏光ビームスプリッタの検出光を出射する
面の一部にフォーカスエラー検出用レンズを一体的に形
成することにより、検出光をフォーカス及びトラッキン
グの各エラー検出用に分けることなく、各エラーの検出
を行うことができる。
面の一部にフォーカスエラー検出用レンズを一体的に形
成することにより、検出光をフォーカス及びトラッキン
グの各エラー検出用に分けることなく、各エラーの検出
を行うことができる。
〈実施例〉
以下、本発明の好適実施例を添付の図面について詳しく
説明する。
説明する。
第１図は本発明に基づく光学ヘッドの構成を示す模式図
である。第１図に示されるように、光源としての半導体
レーザ１の光軸上には、概ね立方体形状をなす偏光ビー
ムスプリッタ２、及び偏光ビームスプリッタ２に一体的
に固定された＾／４板３、コリメータレンズ４、そして
対物レンズ５がそれぞれこの順に配設されている。更に
、光学式記録媒体としての光ディスク６が対物レンズ５
から成る間隔をもって位置している。
である。第１図に示されるように、光源としての半導体
レーザ１の光軸上には、概ね立方体形状をなす偏光ビー
ムスプリッタ２、及び偏光ビームスプリッタ２に一体的
に固定された＾／４板３、コリメータレンズ４、そして
対物レンズ５がそれぞれこの順に配設されている。更に
、光学式記録媒体としての光ディスク６が対物レンズ５
から成る間隔をもって位置している。
半導体レーザ１から発した出射光７は、光ディスク６に
向けて図の矢印により示されるように進み、偏光ビーム
スプリッタ２及びλ／４板３を通過した後コリメータレ
ンズ４により平行光に変えられ、そして対物レンズ５に
より集光されて、直径的１μｍのスポット光にて光ディ
スク６の記録面８上に照射される。尚、半導体レーザ１
から光ディスク６まで出射光７の光軸上にそれぞれを配
設したが、ミラー等を配設することにより光軸の向きを
変更することができるため、それぞれの配置を限定する
ものではない。
向けて図の矢印により示されるように進み、偏光ビーム
スプリッタ２及びλ／４板３を通過した後コリメータレ
ンズ４により平行光に変えられ、そして対物レンズ５に
より集光されて、直径的１μｍのスポット光にて光ディ
スク６の記録面８上に照射される。尚、半導体レーザ１
から光ディスク６まで出射光７の光軸上にそれぞれを配
設したが、ミラー等を配設することにより光軸の向きを
変更することができるため、それぞれの配置を限定する
ものではない。
記録面８からの反射光りは、対物レンズ５及びコリメー
タレンズ４を逆向きに通過して、再びλ／４板３を通っ
て偏光ビームスプリッタ２内に入射されるため、偏光ビ
ームスプリッタ２内にあっては、λ／４板３を２回通過
した反射光りの偏光面が出射光７の偏光面に対して９０
度具合っている。その反射光９の光軸の向きを出射光７
の光軸に対して直交する向きに変えて、反射光９を光学
ヘッドのフォーカス及びトラッキングの各エラーを検出
するための検出光１１として偏光ビームスプリッタ２の
図に於ける右側面から出射するべく、偏光ビームスプリ
ッタ２内には対角方向に偏光フィルム１０が配設されて
いる。
タレンズ４を逆向きに通過して、再びλ／４板３を通っ
て偏光ビームスプリッタ２内に入射されるため、偏光ビ
ームスプリッタ２内にあっては、λ／４板３を２回通過
した反射光りの偏光面が出射光７の偏光面に対して９０
度具合っている。その反射光９の光軸の向きを出射光７
の光軸に対して直交する向きに変えて、反射光９を光学
ヘッドのフォーカス及びトラッキングの各エラーを検出
するための検出光１１として偏光ビームスプリッタ２の
図に於ける右側面から出射するべく、偏光ビームスプリ
ッタ２内には対角方向に偏光フィルム１０が配設されて
いる。
第２図は偏光ビームスプリッタ２の外観を示す斜視図で
あり、偏光ビームスプリッタ２には図の上方から反射光
９が入射するが、その反射光９を偏光フィルム１０によ
り向きを変えて検出光１１として出射する側面１２の上
半分には、図に良く示されるように、別体からなるシリ
ンドリカルレンズ部１３が一体的に固着されている。従
って、検出光１１の半分がシリンドリカルレンズ部１３
を通過し、残りの半分が側面１２の図の下方の平面部１
４を通過して、偏光ビームスプリッタ２の第１図に於け
る右方に配設された測光センサ１５に入射する。尚、こ
の測光センサ１５の検出面には、シリンドリカルレンズ
部１３と平面部１４とを通過して集光する各部分に対応
して、フォーカス及びトラッキングの各エラー検出用に
それぞれ２分割された公知形式の多分割フォトダイオー
ド（図示せず）が設けられている。
あり、偏光ビームスプリッタ２には図の上方から反射光
９が入射するが、その反射光９を偏光フィルム１０によ
り向きを変えて検出光１１として出射する側面１２の上
半分には、図に良く示されるように、別体からなるシリ
ンドリカルレンズ部１３が一体的に固着されている。従
って、検出光１１の半分がシリンドリカルレンズ部１３
を通過し、残りの半分が側面１２の図の下方の平面部１
４を通過して、偏光ビームスプリッタ２の第１図に於け
る右方に配設された測光センサ１５に入射する。尚、こ
の測光センサ１５の検出面には、シリンドリカルレンズ
部１３と平面部１４とを通過して集光する各部分に対応
して、フォーカス及びトラッキングの各エラー検出用に
それぞれ２分割された公知形式の多分割フォトダイオー
ド（図示せず）が設けられている。
従って、偏光ビームスプリッタ２により取り出された検
出光１１をフォーカス及びトラッキングの各エラー検出
用に分けることなく、即ち１つの測光センサ１５により
各エラー検出を行うことができる。
出光１１をフォーカス及びトラッキングの各エラー検出
用に分けることなく、即ち１つの測光センサ１５により
各エラー検出を行うことができる。
尚、本発明に基づく偏光ビームスプリッタ２にあっては
、シリンドリカルレンズ部１３を別体加工することなく
、第３図に示されるように一体加工により形成しても良
い。この場合には偏光ビームスプリッタ２とシリンドリ
カルレンズ部１３との組付工程を省略することができる
。
、シリンドリカルレンズ部１３を別体加工することなく
、第３図に示されるように一体加工により形成しても良
い。この場合には偏光ビームスプリッタ２とシリンドリ
カルレンズ部１３との組付工程を省略することができる
。
また、本発明に基づく光学ヘッドの構成にあっては、第
４図に示されるようにコリメータレンズ４を省略するこ
ともできる。この場合には、半導体レーザ１から発散す
る出射光７をそのまま対物レンズ５により光ディスク５
に向けて集光させるようにしたものであり、前記した構
成を更に簡略化することができる。
４図に示されるようにコリメータレンズ４を省略するこ
ともできる。この場合には、半導体レーザ１から発散す
る出射光７をそのまま対物レンズ５により光ディスク５
に向けて集光させるようにしたものであり、前記した構
成を更に簡略化することができる。
更に、半導体レーザ１から発せられた発散状態の出射光
７が、偏光ビームスプリッタ２と光ディスク６との間に
配設された対物レンズ５により光ディスク６に向けて集
光するように、光学ヘッドが構成されており、対物レン
ズ４に達しな状態で所要の断面積が確保されていれば良
く、偏光ビームスプリッタ２内に平行光を通す必要がな
いため、偏光ビームスプリッタ２の手前に整形プリズム
を設ける必要がないばかりでなく、偏光ビームスプリッ
タ２を通る光束が対物レンズ４に対して小断面積で良い
ため、偏光ビームスプリッタ２を小型化することができ
る。
７が、偏光ビームスプリッタ２と光ディスク６との間に
配設された対物レンズ５により光ディスク６に向けて集
光するように、光学ヘッドが構成されており、対物レン
ズ４に達しな状態で所要の断面積が確保されていれば良
く、偏光ビームスプリッタ２内に平行光を通す必要がな
いため、偏光ビームスプリッタ２の手前に整形プリズム
を設ける必要がないばかりでなく、偏光ビームスプリッ
タ２を通る光束が対物レンズ４に対して小断面積で良い
ため、偏光ビームスプリッタ２を小型化することができ
る。
〈発明の効果〉
このように本発明によれば、偏光ビームスプリッタによ
り向きを変えて取り出された検出光をフォーカス及びト
ラッキングの各エラー検出用に分けることなく、各エラ
ー検出を行うことができるため、エラー検出手段を複数
箇所に設ける必要がない。従って、光学部品を削減して
軽量化を向上することができると共に、光学部品の占有
面積の削減によりそのフレームの小型化及び軽量化を向
上し得るため、光学ヘッドの小型化及び軽量化を大幅に
向上することができ、その効果は極めて大である。
り向きを変えて取り出された検出光をフォーカス及びト
ラッキングの各エラー検出用に分けることなく、各エラ
ー検出を行うことができるため、エラー検出手段を複数
箇所に設ける必要がない。従って、光学部品を削減して
軽量化を向上することができると共に、光学部品の占有
面積の削減によりそのフレームの小型化及び軽量化を向
上し得るため、光学ヘッドの小型化及び軽量化を大幅に
向上することができ、その効果は極めて大である。
第１図は、本発明に基づく光学ヘッドの構成を示す模式
図である。 第２図は、本発明に基づく偏光ビームスプリ・フタの外
観を示す斜視図である。 第３図は、偏光ビームスプリッタの第２の実施例を示す
斜視図である。 第４図は、光学ヘッドの構成の第２の実施例を示す模式
図である。 第５図は、従来の光学ヘッドの構成を示す模式１・・・
半導体レーザ ２・・・偏光ビームスプリッタ３・・
・λ／４板 ４・・・コリメータレンズ５・・・
対物レンズ ６・・・光ディスク７・・・出射光
８・・・記録面９・・・反射光 １０
・・・偏光フィルム１１・・・検出光 １２・・
・側面１３・・・シリンドリカルレンズ部 １４・・・平面部 １５・・・測光センサ２１・
・・半導体レーザ ２２・・・出射光２３・・・コリメ
ータレンズ ２４・・・整形プリズム ２５・・・偏光ビームスプリッタ ２６・・・λ／４板 ２７・・・対物レンズ２８・
・・光ディスク ２９・・・偏光フィルム３０・・・
検出光 ３１・・・集光レンズ３２・・・ハーフ
プリズム３３・・・測光センサ３４・・・シリンドリカ
ルレンズ ３５・・・測光センサ
図である。 第２図は、本発明に基づく偏光ビームスプリ・フタの外
観を示す斜視図である。 第３図は、偏光ビームスプリッタの第２の実施例を示す
斜視図である。 第４図は、光学ヘッドの構成の第２の実施例を示す模式
図である。 第５図は、従来の光学ヘッドの構成を示す模式１・・・
半導体レーザ ２・・・偏光ビームスプリッタ３・・
・λ／４板 ４・・・コリメータレンズ５・・・
対物レンズ ６・・・光ディスク７・・・出射光
８・・・記録面９・・・反射光 １０
・・・偏光フィルム１１・・・検出光 １２・・
・側面１３・・・シリンドリカルレンズ部 １４・・・平面部 １５・・・測光センサ２１・
・・半導体レーザ ２２・・・出射光２３・・・コリメ
ータレンズ ２４・・・整形プリズム ２５・・・偏光ビームスプリッタ ２６・・・λ／４板 ２７・・・対物レンズ２８・
・・光ディスク ２９・・・偏光フィルム３０・・・
検出光 ３１・・・集光レンズ３２・・・ハーフ
プリズム３３・・・測光センサ３４・・・シリンドリカ
ルレンズ ３５・・・測光センサ
Claims (1)
- 光学ヘッドのフォーカス及びトラッキングの各エラー状
態を光学的に検出するためのエラー検出手段と、光学式
記録媒体に向けて光源から発する出射光の光軸に対して
前記光学式記録媒体からの反射光の光軸を変向させるこ
とにより前記エラー検出手段に向けて検出光を入射する
ための偏光ビームスプリッタとを有する光学ヘッド構造
に於て、前記偏光ビームスプリッタの前記検出光を出射
する面の一部にフォーカスエラー検出用レンズが一体的
に形成されていることを特徴とする光学ヘッド構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62297137A JPH01138622A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 光学ヘッド構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62297137A JPH01138622A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 光学ヘッド構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01138622A true JPH01138622A (ja) | 1989-05-31 |
Family
ID=17842689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62297137A Pending JPH01138622A (ja) | 1987-11-25 | 1987-11-25 | 光学ヘッド構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01138622A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006195362A (ja) * | 2005-01-17 | 2006-07-27 | Pentax Corp | 測光装置 |
-
1987
- 1987-11-25 JP JP62297137A patent/JPH01138622A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006195362A (ja) * | 2005-01-17 | 2006-07-27 | Pentax Corp | 測光装置 |
| US7692708B2 (en) | 2005-01-17 | 2010-04-06 | Hoya Corporation | Photometric apparatus |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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