JPH01140734A - 加熱装置 - Google Patents
加熱装置Info
- Publication number
- JPH01140734A JPH01140734A JP30051787A JP30051787A JPH01140734A JP H01140734 A JPH01140734 A JP H01140734A JP 30051787 A JP30051787 A JP 30051787A JP 30051787 A JP30051787 A JP 30051787A JP H01140734 A JPH01140734 A JP H01140734A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heater
- disconnection
- heaters
- heating
- operator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 abstract description 5
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 1
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- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は半導体装置の組立工程等に使用される加熱装置
に関する。
に関する。
(ロ)従来の技術
半導体はレットをリードフレーム上へ取り付ける半導体
装置の組立工程においては、通常リードフレームを送り
ながら、所定の位置でリードフレームのベレット取付位
置に金、半田等の箔を圧着し、その後、半導体ベレット
を熱圧着するようにして匹た。こうした、組立装置は例
えば特開昭60−213036号に示されている。そし
て、このようなリードフレームの輸送時、リードフレー
ム下面からヒータ等から成る加熱装置で熱を与えて箔の
圧着やベレットの圧着がより確実になるようにしている
。
装置の組立工程においては、通常リードフレームを送り
ながら、所定の位置でリードフレームのベレット取付位
置に金、半田等の箔を圧着し、その後、半導体ベレット
を熱圧着するようにして匹た。こうした、組立装置は例
えば特開昭60−213036号に示されている。そし
て、このようなリードフレームの輸送時、リードフレー
ム下面からヒータ等から成る加熱装置で熱を与えて箔の
圧着やベレットの圧着がより確実になるようにしている
。
(ハ)発明が解決しようとする問題点
ところで、こうした半導体の組立工程での被加熱体であ
るリードフレームは箔や半導体ベレットを付与する以n
tfから予め加熱しておかなければならず加熱領域は長
くなり一本のヒータでは対応出来ず複数のヒータを利用
するようにしている。
るリードフレームは箔や半導体ベレットを付与する以n
tfから予め加熱しておかなければならず加熱領域は長
くなり一本のヒータでは対応出来ず複数のヒータを利用
するようにしている。
このため、複数のヒータの内−本のヒータでも折線する
とリードフレームの加熱特性が変わり、ベレット圧着時
に所望の温度を得ることが出来ないと云う問題があった
。
とリードフレームの加熱特性が変わり、ベレット圧着時
に所望の温度を得ることが出来ないと云う問題があった
。
に)問題点を解決するための手段
本発明はこのような点に濫みて為されたものであって、
複数のヒータが設けられた加熱頭載に披加熱体を送りな
がら、この彼MJ熱体を加熱する加熱装置において、上
記各ヒータ毎の断線を検出する複数の断線検出手段と、
これ等の断線検出手段でのvtr1f8検出により各ヒ
ータ毎の断線報知を行う報知手段と、t−設けている。
複数のヒータが設けられた加熱頭載に披加熱体を送りな
がら、この彼MJ熱体を加熱する加熱装置において、上
記各ヒータ毎の断線を検出する複数の断線検出手段と、
これ等の断線検出手段でのvtr1f8検出により各ヒ
ータ毎の断線報知を行う報知手段と、t−設けている。
(ホ)作 用
本発明では、複数のヒータの内、各ヒータ毎にltr線
状@を報知するようにしているので、1つでもヒータが
断線すると、確実に検知されて使用者に正確に報知され
る。
状@を報知するようにしているので、1つでもヒータが
断線すると、確実に検知されて使用者に正確に報知され
る。
(へ)実施例
第1図は本発明を利用したベレットボンディング装置の
正面模式図、第2図は第1図におけるA方向からの矢視
図、第3図はこうしたボンディング装置の要部を示すブ
ロック図である。これ等の図において、(1)はリード
フレーム(2)の供給を行う供給シュートであり、送り
爪(3)の前作によりリードフレーム(2)が供給され
る。(4)は複数のヒータt51 +51・・・や温度
セ/す16)が設けられた第1のヒータブロック、(7
)は上記温度センサ(6)の検出温度に応じて上記第1
のヒータブロック(4)内のヒータ151t51・・・
のON、OFF制御を行う温調回路、f81+81・・
・は上記ヒータ+51 tel・・・に対応して設けら
れ、これらのヒータ15+151・・・が前作している
かどうかを検知する前作検知器であり、動作検知時に夫
々対応するランプ191 ;91・・・を発光表示する
。叫は上記第1のヒータブロック(4)に隣接して設け
られた第2のヒータブロックを示し、?ji[&のヒー
タ(+ 11 (Iす・・・や温度センサI12が設け
られている。++3)は上記温度センサ(1匂の検出温
度に応じて上記第2のヒータブロック(10)内のヒー
タ[+ 11 (111・・・のON、OFF制御を行
う温調回路、UN・・・は上記弓−夕tllllll)
・・・に対応して設けられ、これ等のヒータ[+ 1)
flす・・・が動作しているかどうかを検知する前作検
知器であり、動作検知時に夫々対応するランプ115)
+151・・・を発光表示する。(!■は上記第1のヒ
ータブロック(4)上に設けられた箔供給具を示し、金
、半田等の箔片(17)を吸着によりitのヒータブロ
ック(4)上に運搬されて来たリードフレーム(2)の
所定箇所に供給する。(国は上記第2のヒータブロック
(10)上に設けられたボンディングヘッドであ、うて
、′箔片a力が配置されたリードフレーム(2)上に半
導体ペレット0湧を供給する。翰はペレツHI9+が装
着されたリードフレーム(2)を排出する排出シュート
、2υは上記動作検出器+81 +81・・・及び(1
41(I4)・・・から夫々ヒータf5115+・・・
及び(川(+1)・・・が動作しているかどうかの検出
・信号を受ける制御回路であって、温調回路(7)でヒ
ータt51t51・・・に加熱動作指示中に加熱してい
ないヒータ(5)が検出されたときや、温調回路α3)
でヒータ(1す(11)・・・に加熱動作指示中に加熱
していないヒータ(川が検出されたとき、上記送り爪(
3)、箔供給具(!眠ボンディングヘッド州及びヒータ
の動作を停止させるとともに、ブザー(四等で警報を行
う。
正面模式図、第2図は第1図におけるA方向からの矢視
図、第3図はこうしたボンディング装置の要部を示すブ
ロック図である。これ等の図において、(1)はリード
フレーム(2)の供給を行う供給シュートであり、送り
爪(3)の前作によりリードフレーム(2)が供給され
る。(4)は複数のヒータt51 +51・・・や温度
セ/す16)が設けられた第1のヒータブロック、(7
)は上記温度センサ(6)の検出温度に応じて上記第1
のヒータブロック(4)内のヒータ151t51・・・
のON、OFF制御を行う温調回路、f81+81・・
・は上記ヒータ+51 tel・・・に対応して設けら
れ、これらのヒータ15+151・・・が前作している
かどうかを検知する前作検知器であり、動作検知時に夫
々対応するランプ191 ;91・・・を発光表示する
。叫は上記第1のヒータブロック(4)に隣接して設け
られた第2のヒータブロックを示し、?ji[&のヒー
タ(+ 11 (Iす・・・や温度センサI12が設け
られている。++3)は上記温度センサ(1匂の検出温
度に応じて上記第2のヒータブロック(10)内のヒー
タ[+ 11 (111・・・のON、OFF制御を行
う温調回路、UN・・・は上記弓−夕tllllll)
・・・に対応して設けられ、これ等のヒータ[+ 1)
flす・・・が動作しているかどうかを検知する前作検
知器であり、動作検知時に夫々対応するランプ115)
+151・・・を発光表示する。(!■は上記第1のヒ
ータブロック(4)上に設けられた箔供給具を示し、金
、半田等の箔片(17)を吸着によりitのヒータブロ
ック(4)上に運搬されて来たリードフレーム(2)の
所定箇所に供給する。(国は上記第2のヒータブロック
(10)上に設けられたボンディングヘッドであ、うて
、′箔片a力が配置されたリードフレーム(2)上に半
導体ペレット0湧を供給する。翰はペレツHI9+が装
着されたリードフレーム(2)を排出する排出シュート
、2υは上記動作検出器+81 +81・・・及び(1
41(I4)・・・から夫々ヒータf5115+・・・
及び(川(+1)・・・が動作しているかどうかの検出
・信号を受ける制御回路であって、温調回路(7)でヒ
ータt51t51・・・に加熱動作指示中に加熱してい
ないヒータ(5)が検出されたときや、温調回路α3)
でヒータ(1す(11)・・・に加熱動作指示中に加熱
していないヒータ(川が検出されたとき、上記送り爪(
3)、箔供給具(!眠ボンディングヘッド州及びヒータ
の動作を停止させるとともに、ブザー(四等で警報を行
う。
従って、このようなボンディング装置ではヒータt51
tfil・・・又はヒータ(1111す・・・の内の
いずれかが断線すると制御回t11r!211は送り爪
(3)、箔供給具(1眠ボンデイングヘツドα樽等の動
作が停止されるとともにブザー(22で鳴動が為される
。これにより、使用者は断線を知らされ、表示ランプ1
91i91・・・及び(1句(16)・・・を見ること
で清澄し続けているランプを探して断線しているヒータ
を見つけ出し、そのヒータの疹理又は交換を行う。これ
により、ボンディングの不良発生が防止されるとともに
ボンディング装置の稼動率の同上が望める。
tfil・・・又はヒータ(1111す・・・の内の
いずれかが断線すると制御回t11r!211は送り爪
(3)、箔供給具(1眠ボンデイングヘツドα樽等の動
作が停止されるとともにブザー(22で鳴動が為される
。これにより、使用者は断線を知らされ、表示ランプ1
91i91・・・及び(1句(16)・・・を見ること
で清澄し続けているランプを探して断線しているヒータ
を見つけ出し、そのヒータの疹理又は交換を行う。これ
により、ボンディングの不良発生が防止されるとともに
ボンディング装置の稼動率の同上が望める。
(ト)発明の効果
以上述べた如く、本発明加熱装置は複数のヒータが凌け
られた加熱領域に彼加熱体を送りながら、この岐加熱体
を加熱する加熱装置において、上4各ヒータ毎のvRP
Aを検出する複数の折線検出手段と、これ等の折線検出
手段で折線検出により各ヒータ毎の断線報知を行う報知
手段と、を有しているので、各ヒータ毎の断線を確実に
検知出来、使用者に正確な報知が行える。
られた加熱領域に彼加熱体を送りながら、この岐加熱体
を加熱する加熱装置において、上4各ヒータ毎のvRP
Aを検出する複数の折線検出手段と、これ等の折線検出
手段で折線検出により各ヒータ毎の断線報知を行う報知
手段と、を有しているので、各ヒータ毎の断線を確実に
検知出来、使用者に正確な報知が行える。
4、図面のWIIlltな説明
第1図は本発明加熱装置を用いたベレットボンディング
装置の正面模式図、第2図は第1図におけるA方向から
の矢視図、第3図は本発明を用いたベレットボンディン
グ装置の要部を示すブロック図である。
装置の正面模式図、第2図は第1図におけるA方向から
の矢視図、第3図は本発明を用いたベレットボンディン
グ装置の要部を示すブロック図である。
(1)−(0Mシュー)、(2)・・・リードフレーム
、(3)・・・送り爪、+4+1101・・・ヒータブ
ロック、tlsl +51 (川(!l)・・・ヒータ
、!610匂・・・温度センサ、+7)031・・・温
調回路、[81t8+ 1j4)I・・・動作検出器、
+91 +91 (15)(151・・・表示ランプ、
αQ・・・箔供給具、07)・・・箔、(11・・・ボ
ンディングヘッド、0句・・・半導体ペレット、彌・・
・排出シュート、!υ・・・制御回路、;四・・・ブザ
ー。
、(3)・・・送り爪、+4+1101・・・ヒータブ
ロック、tlsl +51 (川(!l)・・・ヒータ
、!610匂・・・温度センサ、+7)031・・・温
調回路、[81t8+ 1j4)I・・・動作検出器、
+91 +91 (15)(151・・・表示ランプ、
αQ・・・箔供給具、07)・・・箔、(11・・・ボ
ンディングヘッド、0句・・・半導体ペレット、彌・・
・排出シュート、!υ・・・制御回路、;四・・・ブザ
ー。
Claims (2)
- (1)複数のヒータが設けられた加熱領域に被加熱体を
送りながら、この被加熱体を加熱する加熱装置において
、上記各ヒータ毎の断線を検出する複数の断線検出手段
と、これ等の断線検出手段での断線検出により各ヒータ
毎の断線報知を行う報知手段と、を有して成る加熱装置
。 - (2)上記断線検出手段での断線検出によりヒータの加
熱動作を停止させて成る特許請求の範囲第1項記載の加
熱装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30051787A JPH01140734A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 加熱装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30051787A JPH01140734A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 加熱装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01140734A true JPH01140734A (ja) | 1989-06-01 |
Family
ID=17885771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30051787A Pending JPH01140734A (ja) | 1987-11-27 | 1987-11-27 | 加熱装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01140734A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57206038A (en) * | 1981-06-12 | 1982-12-17 | Shinkawa Ltd | Bonding device |
| JPS60115236A (ja) * | 1983-11-28 | 1985-06-21 | Toshiba Seiki Kk | 半導体組立装置における検出装置の動作確認方法及び装置 |
-
1987
- 1987-11-27 JP JP30051787A patent/JPH01140734A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57206038A (en) * | 1981-06-12 | 1982-12-17 | Shinkawa Ltd | Bonding device |
| JPS60115236A (ja) * | 1983-11-28 | 1985-06-21 | Toshiba Seiki Kk | 半導体組立装置における検出装置の動作確認方法及び装置 |
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